KR20070117181A - Apparatus for inspection of display panel - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 일반적인 액정 표시 패널을 나타낸 평면도.1 is a plan view illustrating a general liquid crystal display panel.
도 2는 일반적인 ZIF 커넥터를 나타낸 사시도.2 is a perspective view showing a general ZIF connector.
도 3은 일반적인 ZIF 커넥터를 나타낸 단면도.3 is a cross-sectional view showing a general ZIF connector.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 구성도.4 is a block diagram showing an inspection apparatus of a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 작업대를 나타낸 평면도.5 is a plan view showing a work table of the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to the first embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 작업대에 마련된 와이퍼를 나타낸 단면도.6 is a cross-sectional view showing a wiper provided on a work table of the inspection apparatus for a liquid crystal display panel according to the first embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 동작도.7 is an operation diagram for explaining the operation of the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to the first embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 작업대를 나타낸 평면도. 8 is a plan view showing a work table of the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to the second embodiment of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
100,700: 액정 표시 패널 200: 인쇄회로기판100,700 liquid crystal display panel 200: printed circuit board
210,710: ZIF 커넥터 211: 하우징210,710: ZIF connector 211: housing
212: 터미널 213: 잠금부212: terminal 213: locking portion
230: 연성인쇄회로 300: 작업대230: flexible printed circuit 300: worktable
310: 안착 영역 320: 입광 영역310: seating area 320: light receiving area
330: 와이퍼 331: 와이퍼 몸체330: wiper 331: wiper body
332: 브러쉬 333: 모터332:
400: 프로브 유니트 500: 프레임 400: probe unit 500: frame
600: 신호부600: signal part
본 발명은 표시 패널의 검사 장치에 관한 것으로, 특히, 표시 패널의 육안 검사에 사용되는 표시 패널의 검사 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to an inspection apparatus for a display panel, and more particularly, to an inspection apparatus for a display panel used for visual inspection of a display panel.
표시 패널의 하나인 액정 표시 패널(Liquid Crystal Display Panel)은 액정분자의 광학적 이방성 및 편광판의 편광 특성을 이용하여 광원에서 입사되는 빛의 투과량을 조절하여 화상을 구현하는 디스플레이 소자로서, 경량박형, 고해상도, 대화면화를 실현할 수 있고, 소비전력이 작아 최근 그 응용범위가 급속도로 확대되고 있다.Liquid crystal display panel (Liquid Crystal Display Panel) is one of the display panel is a display element that realizes the image by adjusting the amount of light incident from the light source by using the optical anisotropy of the liquid crystal molecules and the polarization characteristics of the polarizing plate. As a result, large screens can be realized and power consumption is small.
상기 액정 표시 패널은 투명 기판 상에 화소 전극 및 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정과 다른 투명 기판 상에 블랙 매트릭스, 컬러필터 및 공통 전극을 형성하는 컬러필터 공정 및 상기 두 기판을 합착시켜 그 사이에 액정 층을 형성하는 셀 공정을 거쳐 제작된다.The liquid crystal display panel includes a thin film transistor process of forming a pixel electrode and a thin film transistor on a transparent substrate, a color filter process of forming a black matrix, a color filter, and a common electrode on another transparent substrate, and bonding the two substrates therebetween. It is produced through a cell process of forming a liquid crystal layer.
액정 표시 패널이 제작되면 검사 장치를 이용하여 완성품과 동일한 조건으로 액정 표시 패널의 불량 여부를 육안으로 검사하게 된다. 이때는, 액정 표시 패널의 외측 영역에 마련된 접속 패드에 검사 장치의 프로브 유니트(Probe Unit)를 접촉시키고, 프로브 유니트를 통해 검사 신호를 액정 표시 패널에 인가하여 이의 불량 유무를 육안으로 판단한다. When the liquid crystal display panel is manufactured, the inspection device is used to visually inspect whether the liquid crystal display panel is defective under the same conditions as the finished product. In this case, a probe unit of the inspection apparatus is brought into contact with a connection pad provided in an outer region of the liquid crystal display panel, and a test signal is applied to the liquid crystal display panel through the probe unit to visually determine whether there is any defect.
휴대용 기기에 사용되는 액정 표시 패널 또는 이에 연결된 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)에는 외부 회로 예를 들어, 통신 모듈, 라디오 모듈 등과 연결하기 위한 ZIF 커넥터(Zero Insertion Force Connector)가 장착되는 경우가 있다. 통상적으로, ZIF 커넥터와 외부 회로는 절곡이 자유로운 연성인쇄회로를 통해 전기적으로 연결되고, ZIF 커넥터에 구비된 잠금부는 ZIF 커넥터에 끼워진 연성인쇄회로(Flexible Printed Circuit;FPC)가 이탈되지 않도록 고정하는 역할을 한다.A liquid crystal display panel used in a portable device or a printed circuit board connected thereto may be equipped with a ZIF connector for connecting an external circuit, for example, a communication module or a radio module. In general, the ZIF connector and the external circuit are electrically connected to each other through a flexible printed circuit that is free to bend, and the locking portion provided in the ZIF connector serves to fix the flexible printed circuit (FPC) inserted in the ZIF connector so as not to be separated. Do it.
그러나, 상기 ZIF 커넥터의 잠금부는 연성인쇄회로가 끼워지지 않은 상태에서 자유롭게 개폐될 수 있기 때문에 육안 검사시 프로브 유니트의 이동을 방해하는 문제점이 있었다. 즉, ZIF 커넥터의 잠금부가 열리면 상부 영역으로 소정 높이만큼 돌출되는데 프로브 유니트가 소정의 접촉 지점으로 이동하는 과정에서 상기 잠금부에 걸려 휘어지는 손상이 간헐적으로 발생한다. 따라서, 손상된 프로브 유니트를 교체하고 검사를 다시 진행해야 하므로 별도의 교체 비용이 소요되고, 검사 시간이 지연되는 문제점이 있었다.However, since the locking part of the ZIF connector can be freely opened and closed in a state where the flexible printed circuit is not inserted, there is a problem of obstructing the movement of the probe unit during visual inspection. That is, when the locking part of the ZIF connector is opened, it protrudes to an upper region by a predetermined height, and damage to the locking part intermittently occurs while the probe unit moves to a predetermined contact point. Therefore, since the damaged probe unit needs to be replaced and the test is performed again, a separate replacement cost is required and the test time is delayed.
따라서, 본 발명은 와이퍼(wiper)를 동작시켜 ZIF 커넥터를 잠금 상태로 유지한 후에 프로브 유니트가 접촉 지점으로 이동되게 함으로써 돌출된 ZIF 커넥터의 잠금부에 의해 프로브 유니트가 손상되는 것을 방지할 수 있는 새로운 구조의 표시 패널의 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention provides a new method which can prevent the probe unit from being damaged by the locking portion of the protruding ZIF connector by operating the wiper to keep the ZIF connector locked and then moving the probe unit to the contact point. Its purpose is to provide an inspection apparatus for a display panel of a structure.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 표시 패널의 검사 장치는, 검사를 수행할 표시 패널이 위치되는 안착 영역이 마련되는 작업대와, 상기 안착 영역의 외곽에 배치되며 상기 표시 패널의 표면을 따라 일측에서 타측으로 진행되는 와이퍼와, 상기 표시 패널의 접속 패드에 접촉하여 검사 신호를 인가하는 프로브 유니트를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a display panel according to an embodiment of the present invention. And a probe unit configured to contact the connection pad of the display panel to apply a test signal to the wiper running from one side to the other side.
상기 표시 패널은 외부 회로와 연결을 위해 장착된 적어도 하나의 ZIF 커넥터를 포함하는 것을 특징으로 한다.The display panel may include at least one ZIF connector mounted for connection with an external circuit.
상기 표시 패널의 검사 장치는 표시 패널의 반입 및 반출을 위한 반송부를 더 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the inspection apparatus of the said display panel further includes a conveyance part for carrying in and out of a display panel.
상기 표시 패널의 검사 장치는 상기 표시 패널에 검사 신호를 공급하는 신호부를 더 포함하는 것이 바람직하다.The inspection apparatus of the display panel may further include a signal unit which supplies an inspection signal to the display panel.
상기 표시 패널의 검사 장치는 상기 작업대의 상측에 배치되는 카메라를 더 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the inspection apparatus of the display panel further includes a camera disposed above the work table.
상기 표시 패널의 검사 장치는 상기 작업대의 상측에 배치되며 상기 프로브 유니트를 지지하는 프레임을 더 포함하는 것이 바람직하다.The inspection apparatus of the display panel may further include a frame disposed above the work table and supporting the probe unit.
상기 프로브 유니트는, 검사를 수행할 액정 표시 패널의 접속 패드에 접촉하는 다수의 프로브 니들과, 다수의 프로브 니들이 집속되는 프로브 블럭 및 프로브 블럭을 지지하는 프로브 지지부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The probe unit may include a plurality of probe needles in contact with a connection pad of a liquid crystal display panel to be inspected, a probe block to which the plurality of probe needles are focused, and a probe support unit supporting the probe block.
상기 프로브 니들로는 신축이 가능한 포고 핀을 사용하는 것이 효과적이다.It is effective to use a flexible pogo pin as the probe needle.
상기 와이퍼는 길다란 막대 형상의 와이퍼 몸체와, 와이퍼 몸체의 하부에 부착된 브러쉬 및 와이퍼 몸체의 일단에 결합되는 구동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다. 여기서, 상기 구동 수단은 회전 운동이 가능한 모터를 포함하는 것이 바람직하다.The wiper may include a long rod-shaped wiper body, a brush attached to a lower portion of the wiper body, and a driving means coupled to one end of the wiper body. Here, the drive means preferably includes a motor capable of rotating movement.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 표시 패널의 검사 장치는, 중앙에 배치되며 소정의 회전 범위를 갖는 적어도 하나의 와이퍼와, 상기 와이퍼의 주위에 배치되며, 검사를 수행할 표시 패널이 위치되는 안착 영역이 마련되는 다수의 작업대와, 상기 표시 패널의 접속 패드에 접촉하여 검사 신호를 인가하는 프로브 유니트를 포함하는 것을 특징으로 한다.An apparatus for inspecting a display panel according to the present invention for achieving the above object includes at least one wiper disposed at the center and having a predetermined rotation range, and a display panel disposed around the wiper and performing an inspection. And a probe unit configured to contact the connection pads of the display panel to apply a test signal.
상기 표시 패널의 검사 장치는 상기 작업대의 상측에 배치되며 상기 프로브 유니트를 지지하는 프레임을 더 포함하는 것이 바람직하다.The inspection apparatus of the display panel may further include a frame disposed above the work table and supporting the probe unit.
상기 와이퍼는 길다란 막대 형상의 와이퍼 몸체와, 와이퍼 몸체의 하부에 부착된 브러쉬 및 상기 와이퍼 몸체의 일단에 결합되는 구동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The wiper may include a long rod-shaped wiper body, a brush attached to a lower portion of the wiper body, and a driving means coupled to one end of the wiper body.
상기 프로브 유니트는 검사를 수행할 표시 패널의 접속 패드에 접촉하는 다 수의 프로브 니들과, 다수의 프로브 니들이 집속되는 프로브 블럭 및 프로브 블럭을 지지하는 프로브 지지부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The probe unit may include a plurality of probe needles contacting the connection pads of the display panel to be inspected, a probe block to which the plurality of probe needles are focused, and a probe support unit supporting the probe blocks.
이후, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described embodiments of the present invention;
그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상의 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various forms, and only the embodiments are intended to complete the disclosure of the present invention, and to those skilled in the art the scope of the invention. It is provided for complete information. Like reference numerals in the drawings refer to like elements.
먼저, 본 발명에 따른 검사 장치에 있어서, 프로브 유니트에 접촉되는 검사 패드가 형성되고 ZIF 커넥터가 장착되는 피검사체에 대하여 설명한다. 상기 피검사체는 다양하게 구성될 수 있지만 그 중의 하나로 외부로부터 구동 신호를 인가받기 위한 접속 패드가 형성되며, ZIF 커넥터가 장착된 액정 표시 패널을 예시한다.First, in the inspection apparatus according to the present invention, an inspection object in which an inspection pad in contact with the probe unit is formed and a ZIF connector is mounted will be described. Although the object under test may be configured in various ways, one of them includes a connection pad for receiving a driving signal from the outside, and illustrates a liquid crystal display panel equipped with a ZIF connector.
도 1은 일반적인 액정 표시 패널을 나타낸 평면도이다.1 is a plan view illustrating a general liquid crystal display panel.
도 1을 참조하면, 상기 액정 표시 패널(100)은 화상이 출력되는 표시부(110) 및 신호 인가용 회로가 형성되는 실장부(120)를 포함한다. 상기 표시부(110)에는 화상을 구현하는 단위 화소가 매트릭스 형태로 형성되며, 상기 실장부(120)에는 단위 화소의 제어를 위하여 구동칩이 실장되는 접속 패드 및 인쇄회로기판(Printed Circuit Board;PCB)과 연결되는 접속 패드가 형성된다.Referring to FIG. 1, the liquid
상기 액정 표시 패널(100)은 연성인쇄회로(220)를 통해 인쇄회로기판(200)에 연결된다. 인쇄회로기판(200)은 구동용 신호 즉, RGB(Read, Green, Blue) 신호, SSC(Shift Start Clock) 신호, LP(Latch Pulse) 신호, 감마 아날로그 접지 신호, 디지털 접지 신호, 디지털 전원, 아날로그 전원 공통 전압, 축적 전압 등을 생성하여 이를 상기 액정 표시 패널(100)에 전송한다.The liquid
한편, 상기 인쇄회로기판(200)에는 외부 회로 예를 들어, 휴대용 단말기의 경우 통신 모듈, 라디오 모듈 등과 연결하기 위한 ZIF 커넥터(210)가 장착되어 있다.On the other hand, the printed
도 2는 일반적인 ZIF 커넥터를 나타낸 사시도이다. 또한, 도 3은 일반적인 ZIF 커넥터를 나타낸 단면도로서, ZIF 커넥터에 연성인쇄회로가 연결되는 과정을 나타낸 것이다.2 is a perspective view showing a general ZIF connector. 3 is a cross-sectional view illustrating a general ZIF connector and illustrates a process in which a flexible printed circuit is connected to the ZIF connector.
도 2를 참조하면, 상기 ZIF 커넥터(210)는 플라스틱을 사출하여 형성한 하우징(210)과 상기 하우징(210)에 배치된 다수의 터미널(terminal;212) 및 상기 터미널이 수용된 영역을 개폐하는 잠금부(213)를 포함한다. 이때, 상기 터미널(212)의 일부는 하우징(210)의 외측으로 돌출되어 상기 인쇄회로기판(200)에 납땜되는 접합부(212a)를 이룬다.Referring to FIG. 2, the
도 3의 (a)를 참조하면, 상기 ZIF 커넥터(210)의 하우징(211)에는 일단이 외부 회로에 연결된 연성인쇄회로(230)의 타단이 끼워진다. 이때, 연성인쇄회로(230)의 타단에 형성된 접속 패드(미도시)가 커넥터의 각 터미널(212)에 접촉된다.Referring to FIG. 3A, the other end of the flexible printed
도 3의 (b)를 참조하면, 상기 ZIF 커넥터(210)의 잠금부(213)를 눌러주면 하우징(211)에 끼워진 연성인쇄회로(230)의 상측에 하향 가압력이 발생되고, 이 가압력에 의해 연성인쇄회로(230)의 접속 패드가 커넥터의 터미널(212)에 안정적으로 접촉되어, 이후 유동에 의한 연성인쇄회로(230)의 이탈이 방지된다.Referring to FIG. 3B, when the locking
<제 1 실시예><First Embodiment>
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치를 나타낸 구성도이고, 도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 작업대를 나타낸 평면도이다. 또한, 도 6은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 작업대에 마련된 와이퍼를 나타낸 단면도이다.4 is a configuration diagram illustrating a test apparatus for a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a plan view illustrating a work table of the test apparatus for a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention. 6 is a cross-sectional view showing a wiper provided on a work table of an inspection apparatus for a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention.
도 4를 참조하면, 상기 액정 표시 패널의 검사 장치는, 검사를 수행할 액정 표시 패널이 위치되는 안착 영역(310)이 마련되는 작업대(300)와, 상기 안착 영역(300)의 외곽에 배치되며 상기 액정 표시 패널의 표면을 따라 일측에서 타측으로 진행되는 와이퍼(330) 및 상기 액정 표시 패널의 접속 패드에 접촉하여 검사 신호를 인가하는 프로브 유니트(400) 및 상기 프로브 유니트(400)를 지지하는 프레임(500)을 포함한다. Referring to FIG. 4, the inspection apparatus of the liquid crystal display panel may include a work table 300 provided with a
도 5를 참조하면, 상기 작업대(300)는 사각 테이블 형태의 몸체와, 몸체의 상부에 마련된 안착 영역(310)을 포함하며, 안착 영역(310)의 내측에는 하측으로부터 광이 입사되는 입광 영역(320)이 마련되고, 입광 영역(320)의 하측에는 백라이트(미도시)가 배치된다.Referring to FIG. 5, the work table 300 includes a body having a rectangular table shape and a
상기 입광 영역(320)은 상기 몸체의 일부를 제거하여 형성한 수납 홈 또는 관통 공 형상으로 형성되며, 상부에 안착되는 액정 표시 패널에 대응하는 형상으로 제작되는 것이 효과적이다. 물론 이때 입광 영역(320)의 상부는 투광성 물질 예를 들어 유리로 덥혀 있을 수 있다. 본 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치는 다양한 크기의 액정 표시 패널을 검사하기 때문에 상기 입광 영역(320)의 크기는 본 검사 장치로 육안 검사를 수행할 수 있는 최대 액정 표시 패널의 크기와 동일하게 제작하는 것이 바람직하다. 물론 이보다 더 크게 제작할 수도 있다.The
상기 백라이트(미도시)는 수납 홈 또는 관통 공 형태로 형성된 입광 영역(320)의 하측에 설치된다. 백라이트는 적어도 광원를 포함하며, 광원에 결합되는 도광판과, 도광판의 하부에 설치되는 반사판과, 도광판의 상부에 설치된 다수의 광학 시트를 더 포함할 수 있다. 백라이트에서 생성된 빛은 입광 영역(320)을 통해 출사되어 상부의 액정 표시 패널에 조사된다.The backlight (not shown) is provided below the
도 6을 참조하면, 상기 와이퍼(320)는 길다란 막대 형상의 와이퍼 몸체(331)와 와이퍼 몸체(331)의 하부에 부착된 브러쉬(brush,332) 및 와이퍼 몸체(331)의 일단에 결합되는 구동 수단(333)을 포함한다. 상기 구동 수단(333)으로는 회전 운동이 용이한 모터(motor)를 사용하는 것이 효과적이다. 소정의 시점 영역에 위치하는 와이퍼(330)는 모터(333)의 정회전 구동에 의해 소정의 종점 영역에 도달하고, 모터(333)의 역회전 구동의 의해 초기의 시점 영역으로 복귀한다. 상기 정회전 구동 과정에서 와이퍼(330)의 브러쉬(332)는 안착 영역(310)에 놓인 액정 표시 패널의 표면을 접촉하면서 회전하므로 열려진 ZIF 커넥터의 잠금부는 브러쉬(332)에 걸려 잠기게 된다.Referring to FIG. 6, the
상기 프로브 유니트(400)는 검사를 수행할 액정 표시 패널의 접속 패드에 접촉하는 다수의 프로브 니들과, 다수의 프로브 니들이 집속되는 프로브 블럭 및 프로브 블럭을 지지하는 프로브 지지부를 포함한다. 상기 프로브 니들은 신축이 자유로운 포고 핀(Pogo Pin)을 사용하는 것이 효과적이다. 포고 핀은 스프링과 같은 탄 성 부재의 양단에 결합된 한 쌍의 탐침으로 구성된다. 이때, 일측 탐침은 액정 표시 패널의 접속 패드에 접촉하고, 타측 탐침은 후술하는 신호부(600)와 연결된다.The
상기 신호부(600)는 액정 표시 패널의 검사를 위한 각종 전기적 신호를 생성하여 이를 프로브 유니트(400)를 통해 액정 표시 패널에 전송한다. The
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치는, 도시하지는 않았지만, 액정 표시 패널의 반입 및 반출을 위한 반송부를 더 포함할 수 있고, 상기 작업대(300) 상부에 배치된 카메라를 더 포함할 수 있다.In addition, the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to an embodiment of the present invention, although not shown, may further include a transport unit for carrying in and out of the liquid crystal display panel, the camera disposed on the work table 300 It may further include.
상기 반송부는 일측 카세트에 적재된 액정 표시 패널을 하나씩 취출하여 작업대(300)에 반입시키고, 검사가 끝난 액정 표시 패널을 작업대(300)에서 반출시켜 타측 카세트에 하나씩 적재한다.The conveying unit takes out the liquid crystal display panels loaded on one cassette one by one and brings them into the
상기 카메라는 액정 표시 패널의 검사가 이루어지는 작업대(300) 내부를 촬영하여, 촬영된 이미지를 화면으로 제공한다. 검사자는 화면을 보면서 프로브 유니트의 위치를 조정할 수 있고, 액정 표시 패널에 발생된 미세 불량을 검출할 수 있다.The camera photographs the inside of the work table 300 where the liquid crystal display panel is inspected, and provides the captured image to the screen. The inspector may adjust the position of the probe unit while looking at the screen, and detect the fine defect generated in the liquid crystal display panel.
다음으로, 상기 구성을 갖는 액정 표시 패널의 검사 장치의 동작에 대하여 도 4 및 도 7을 참조하여 설명한다.Next, operation | movement of the inspection apparatus of the liquid crystal display panel which has the said structure is demonstrated with reference to FIG. 4 and FIG.
도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 동작을 설명하기 위한 동작도이다.7 is an operation diagram for explaining the operation of the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to the first embodiment of the present invention.
먼저, 도 7a를 참조하면, 반송부는 카세트에 적재된 다수의 액정 표시 패널 중 하나를 취출하여 상기 작업대(300)의 안착 영역(310) 상에 위치시켜 정렬한다. 이때는 액정 표시 패널(700)의 반입시 방해가 되지 않도록 프로브 유니트(400)가 설치된 프레임(500)을 상승시키는 것이 바람직하다.First, referring to FIG. 7A, the transfer unit takes out one of a plurality of liquid crystal display panels loaded in a cassette, and arranges it on the
이어, 도 7b를 참조하면, 상기 와이퍼(330)를 구동하여 액정 표시 패널(700)에 장착된 ZIF 커넥터의 잠금부가 잠겨지도록 한다. 이때 시점에서 출발한 와이퍼(330)는 안착 영역(310)을 경유한 후 종점으로 이동되어 대기된다. Subsequently, referring to FIG. 7B, the
이어, 프로브 유니트(400)를 이동시켜 프로브 니들이 대향하는 액정 표시 패널(700)의 접속 패드에 대응되도록 미세 조정을 실시한다. 상기 미세 조정이 끝나면 프로브 니들과 액정 표시 패널(700)의 검사 패드가 접촉되도록 프로브 유니트(400)가 설치된 프레임(500)을 하강시킨다. Next, the
이후, 상기 안착 영역(310) 하측의 백라이트를 구동하여 광을 액정 표시 패널(700)에 조사하고, 프로브 유니트(400)를 통해 액정 표시 패널(700)의 접속 패드에 검사 신호를 인가하여 액정 표시 패널(700)의 동작을 검사한다. 이때 검사자는 카메라를 통해 촬영된 화면을 보면서 단선 여부, 얼룩 발생, 화소 불량 등 각종 불량을 검사하게 된다.Thereafter, the backlight under the
이어, 도 7c를 참조하면, 검사가 끝나면 와이퍼(330)는 초기 위치로 복귀되고, 액정 표시 패널(700)은 반송부에 의해 작업대(300)에서 반출되어 카세트에 적재된다. 이후에는, 새로운 액정 표시 패널을 작업대(300)에 반입하여 상기와 같은 검사를 반복하여 수행한다.Subsequently, referring to FIG. 7C, after the inspection is completed, the
한편, 본 실시예에 따른 검사 장치는 액정 표시 패널(700)의 접속 패드 뿐만 아니라 이에 장착된 ZIF 커넥터(700)의 터미널에 검사 신호를 인가하여 각종 검사 를 수행할 수 있다. 즉, 상기 동작 설명에서는 프로브 유니트(400)가 액정 표시 패널(700)의 접속 패드에 접촉되는 과정을 예시하였지만, 만일 상기 프로브 유니트(400)를 통하여 ZIF 커넥터(710)에 신호를 인가하고자 한다면, 상기 프로브 유니트(400)가 ZIF 커넥터(710)의 터미널(도 2의 212a 참조)에 대응되도록 미세 조정을 실시하고, 상기 ZIF 커넥터(710)의 터미널에 검사 신호를 인가하여 액정 표시 패널(700)의 동작을 검사하게 된다.Meanwhile, the inspection apparatus according to the present exemplary embodiment may perform various inspections by applying inspection signals to terminals of the
한편, 상기 작업대(300)의 상측에는 전후, 좌우 및 상하로 이동하는 카메라가 마련되어 있으므로, 상기 검사 과정을 육안으로 확인할 수 있다.On the other hand, since the camera is provided on the upper side of the work table 300 to move back and forth, left and right and up and down, the inspection process can be visually confirmed.
이와 같은 본 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치는 와이퍼를 동작시켜 액정 표시 패널에 장착된 커넥터를 잠금 상태로 유지한 후에 프로브 유니트의 프로브 니들과 액정 표시 패널의 접속 패드에 접촉시켜 주므로 열려진 커넥터의 잠금부에 의해 프로브 니들이 손상되는 것을 미연에 방지할 수 있다.Since the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to the present embodiment maintains the connector mounted on the liquid crystal display panel by operating the wiper, it contacts the probe needle of the probe unit and the connection pad of the liquid crystal display panel. The locking portion of the probe needle can be prevented from being damaged.
<제 2 실시예>Second Embodiment
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치의 작업대를 나타낸 평면도이다. 8 is a plan view illustrating a work table of an inspection apparatus for a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention.
도 8을 참조하면, 상기 액정 표시 패널의 검사 장치는, 중앙에 와이퍼(330)가 배치되며, 상기 와이퍼(330)의 주위에 다수의 작업대(A,B,C,D)가 배치된다. 또한, 액정 표시 패널에 접촉하여 검사 신호를 인가하는 프로브 유니트(미도시) 및 상기 프로브 유니트를 지지하는 프레임(미도시)을 포함한다.Referring to FIG. 8, in the inspection apparatus of the liquid crystal display panel, a
상기 와이퍼(330)는 다수의 작업대(A,B,C,D)에 마련된 모든 안착 영역을 지 나가도록 회전 범위가 조절되며, 다수로 구성될 수도 있다. 예를 들어, 도 8과 같이, 중앙에 하나의 와이퍼(330)가 배치되는 경우는 360도의 회전 범위를 가지는 것이 바람직하고, 도시하지는 않았지만, 중앙에 180도의 각도를 갖는 두 개의 와이퍼가 배치되는 경우는 각각의 와이퍼가 180도의 회전 범위를 갖는 것이 바람직하다.The
상기 프로브 유니트 및 프레임은 다수의 작업대(A,B,C,D)에 대하여 분리되어 다수로 마련될 수도 있지만, 통합되어 하나로 마련될 수도 있다.The probe unit and the frame may be provided separately from a plurality of working tables (A, B, C, D), but may be integrated into one.
이와 같은 본 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 장치는 동시에 다수의 액정 표시 패널을 검사할 수 있으므로 검사 시간을 단축할 수 있고, 다수의 액정 표시 패널을 비교하면서 검사할 수 있으므로 검사 결과의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한, 중앙에 와이퍼가 설치되어 있으므로 다수의 작업대에 대하여 각각의 와이퍼를 설치하는 경우에 비하여 공간 활용도를 높일 수 있고, 제작 비용을 절약할 수 있는 장점이 있다.Since the inspection apparatus of the liquid crystal display panel according to the present embodiment can inspect a plurality of liquid crystal display panels at the same time, the inspection time can be shortened, and the inspection can be performed while comparing the plurality of liquid crystal display panels. Can be improved. In addition, since the wiper is installed in the center, the space utilization can be increased and the manufacturing cost can be reduced as compared with the case of installing each wiper for a plurality of work benches.
이상, 전술한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면 본 발명의 기술적 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경, 개량, 대체 및 부가 등의 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 첨부되는 특허청구범위에 의하여 정하여진다.As described above, the above embodiments are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art will appreciate that various modifications, improvements, substitutions, and additions may be made without departing from the spirit of the present invention. Accordingly, the technical scope of the present invention is defined by the appended claims.
이와 같은 본 발명은, 프로브 유니트의 프로브 니들과 표시 패널의 접속 패드를 접촉시키기 전에 와이퍼를 동작시켜 표시 패널에 장착된 ZIF 커넥터를 잠금 상태로 유지시켜 주므로 상부 영역으로 돌출된 ZIF 커넥터의 잠금부에 의해 프로브 니들이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 와이퍼는 표시 패널의 표면을 지나면서 이에 부착된 이물질을 제거해주므로 이물질에 의해 유발되는 표시 패널의 불량을 효과적으로 방지할 수 있다.The present invention maintains the ZIF connector mounted on the display panel in a locked state by operating the wiper before contacting the probe needle of the probe unit with the connection pad of the display panel. This can prevent the probe needle from being damaged. In addition, since the wiper removes foreign matters attached to the display panel while passing through the surface of the display panel, the wiper may effectively prevent a defect of the display panel caused by the foreign matters.
Claims (14)
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KR1020060051048A KR20070117181A (en) | 2006-06-07 | 2006-06-07 | Apparatus for inspection of display panel |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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CN112730250A (en) * | 2020-12-29 | 2021-04-30 | 业成科技(成都)有限公司 | Detection jig and detection method |
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