KR20070105771A - Memory module - Google Patents

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임상준
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Abstract

A memory module is provided to check rapidly a coupling state between each semiconductor package and a heat spreader irrespective of the number of semiconductor packages mounted on a memory module. A semiconductor package(110) includes a semiconductor chip(120), a sealing part(130), and input/output terminals. A plurality of semiconductor packages are mounted on a module printed circuit board(150). A plurality of adhesive members(160) are attached to upper surfaces of the semiconductor packages mounted on the module printed circuit board. A detection unit(200) has a length and a width to cover the semiconductor packages. The detection unit is attached to the semiconductor packages by using the adhesive members. The detection unit includes connective terminals(230) formed on a first surface(113) to connect electrically the adhesive members to each other and insertion holes(240,245) for exposing the connective terminals to the outside. A heat spreader(250) is disposed on a second surface(115) of the detection unit facing the first surface in order to radiate the heat of the semiconductor packages to the outside.

Description

메모리 모듈{MEMORY MODULE}Memory modules {MEMORY MODULE}

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 의한 메모리 모듈을 도시한 단면도.1 is a cross-sectional view showing a memory module according to a first embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 검출 장치의 평면도.2 is a plan view of a detection device according to a first embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 일실시예에 의하여 모듈 인쇄회로기판에 실장된 BGA 패키지에 접착부재을 부착한 도면.3 is a view showing an adhesive member attached to a BGA package mounted on a module printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 일실시예에 의하여 히트 스프레더의 부착 여부를 검출하기 위한 도면.4 is a view for detecting whether the heat spreader is attached according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 메모리 모듈에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 반도체 패키지들의 상부면에 부착되는 열방출부의 접합 상태를 확인하는데 걸리는 시간을 절감하기 위해 메모리 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a memory module, and more particularly, to a memory module to reduce the time taken to check the bonding state of the heat dissipation portion attached to the upper surface of the semiconductor package.

일반적으로 메모리는 컴퓨터, 통신시스템, 화상처리시스템 등에서 사용되는 데이타나 명령 등을 일시적 또는 영구적으로 저장하기 위하여 사용되는 것을 총칭하는 것으로써 대표적으로 반도체, 테이프, 디스크, 광학방식 등이 있는데 현재 반도체 메모리가 대부분을 차지하고 있다. 이런 반도체 메모리는 데이타 저장방식의 전기적 특성 등에 따라 구분되는 DRAM, SRAM, Flash Memory, ROM 등의 여러 종류가 있다.In general, memory is a general term used to temporarily or permanently store data or instructions used in computers, communication systems, image processing systems, and the like, and is typically a semiconductor, tape, disk, or optical method. Accounted for the majority. There are many kinds of such semiconductor memories, such as DRAM, SRAM, Flash Memory, and ROM, which are classified according to electrical characteristics of a data storage method.

상술한 여러 종류의 메모리를 실제적으로 시스템에 사용할 때는 모듈로 만들어서 생산하는데 모듈(module)이라는 것은 하나의 기능을 가진 반도체 소자의 집합으로 모듈 인쇄회로기판(PCB)상에 복수개의 반도체 패키지들을 실장하여 형성한다.When the various types of memory described above are actually used in a system, a module is manufactured and produced. A module is a set of semiconductor devices having a single function, and a plurality of semiconductor packages are mounted on a printed circuit board (PCB). Form.

한편, 반도체 패키지란 미세회로가 설계된 반도체 칩을 전자기기에 실장하여 사용할 수 있도록 몰드 수지나 세라믹 등으로 밀봉한 형태를 말한다. 이와 같이 패키지화된 반도체 칩이 동작하게 되면 필연적으로 열이 발생되며, 발생된 열이 패키지의 외부로 신속하게 빠져나가지 못할 경우 반도체 칩은 심각한 손상을 받게 된다.On the other hand, the semiconductor package refers to a form in which a semiconductor chip designed with a microcircuit is sealed with a mold resin or a ceramic so as to be used by being mounted on an electronic device. When the semiconductor chip packaged as described above is operated, heat is inevitably generated, and the semiconductor chip is seriously damaged if the generated heat does not quickly escape to the outside of the package.

따라서, 열방출 장치, 예를 들어 히트 스프레더(heat spreader)를 반도체 패키지의 상부면에 부착시켜 반도체 칩에서 발생된 열을 반도체 패키지의 외부로 신속하게 방출시키고 있다.Therefore, a heat dissipation device, for example, a heat spreader, is attached to the upper surface of the semiconductor package to quickly release heat generated in the semiconductor chip to the outside of the semiconductor package.

메모리 모듈에서는 모듈 인쇄회로기판에 복수개의 반도체 패키지를 실장하고, 각 반도체 패키지의 상부면에 접착제를 도포한 다음 히트 스프레더를 부착한다. 여기서, 메모리 모듈에 실장된 반도체 패키지들의 높이는 제조에서 약간씩 차이가 나기때문에 다를 수 있다. 이로 인해 어느 패키지에서는 히트 스프레더가 반도체 패키지의 상부면에 완전히 밀착되어 부착되고, 어느 패키지에서는 히트 스프레더가 반도체 패키지의 상부면에서 들뜨는 경우가 종종 발생된다. In the memory module, a plurality of semiconductor packages are mounted on a module printed circuit board, an adhesive is applied to the upper surface of each semiconductor package, and then a heat spreader is attached. Here, the heights of the semiconductor packages mounted in the memory module may be different because they differ slightly in manufacturing. As a result, in some packages, the heat spreader adheres completely to the top surface of the semiconductor package, and in some packages, the heat spreader is often lifted off the top surface of the semiconductor package.

따라서, 각 반도체 패키지의 상부면에 히트 스프레더를 부착시킨 후에 초음 파 또는 적외선을 이용하여 히트 스프레더의 부착 상태를 확인하는 공정이 수반된다. Therefore, after attaching the heat spreader to the upper surface of each semiconductor package, a process of confirming the attachment state of the heat spreader using ultrasonic waves or infrared rays is involved.

그러나, 종래에서와 같이 초음파 또는 적외선을 이용하여 히트 스프레더의 부착상태를 확인하는 경우 메모리 모듈에 실장된 각각의 반도체 패키지에 초음파 또는 적외선을 조사해야기 때문에 히트 스프레더의 부착 여부를 확인하는데 많은 시간이 소요되는 문제점을 갖는다.However, when checking the attachment state of the heat spreader using ultrasonic waves or infrared rays as in the related art, it takes a lot of time to check whether the heat spreader is attached because ultrasonic or infrared rays must be irradiated to each semiconductor package mounted in the memory module. Has the problem.

또한, 히트 스프레더의 부착 여부를 확인하기 위해서는 초음파 발생 장치 또는 적외선 발생장치를 별도로 설치해야하기 때문에 설비 투자 비용이 증가되는 문제점을 갖는다. In addition, since it is necessary to separately install an ultrasonic wave generator or an infrared ray generator in order to confirm whether the heat spreader is attached, a facility investment cost increases.

따라서, 본 발명은 이와 같은 종래 문제점을 감안한 것으로서, 본 발명의 목적은 히트 스프레더가 각각의 반도체 패키지에 완전히 밀착되어 부착되었는 지의 여부를 확인하데 소요되는 시간을 절감시킨 메모리 모듈을 제공함에 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of such a conventional problem, and an object of the present invention is to provide a memory module which reduces the time required to check whether or not the heat spreader is completely adhered to each semiconductor package.

이와 같은 목적을 구현하기 위하여, 본 발명은, 반도체 칩과 밀봉부 및 입출력 단자를 구비한 반도체 패키지, 반도체 패키지들이 복수개 실장되는 모듈 인쇄회로기판, 모듈 인쇄회로기판에 실장된 반도체 패키지들의 상부면 각각에 부착되며 전기적으로 도통되는 접착부재, 반도체 패키지들을 전부 덮는 길이와 폭을 가지고, 접착부재에 의해 반도체 패키지에 부착되며, 반도체 패키지와 마주보는 제 1면에 형성되어 접착부재들을 전기적으로 연결시키는 연결단자들 및 전원을 인가하는 프 로브가 연결단자에 접촉되도록 연결단자를 외부로 노출시키는 삽입홀을 포함하는 검출 장치 및 반도체 패키지들에서 발생되는 열을 분산시켜 외부로 방출시키기 위해 제 1면과 대향되는 검출 장치의 제 2면에 배치되며, 삽입홀과 대응되는 부분이 개구된 히트 스프레더를 포함하는 메모리 모듈을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a semiconductor package including a semiconductor chip, a sealing part and an input / output terminal, a module printed circuit board on which a plurality of semiconductor packages are mounted, and upper surfaces of semiconductor packages mounted on a module printed circuit board, respectively. An adhesive member attached to and electrically conductive to the semiconductor package, the connecting member having a length and width covering all of the semiconductor packages and attached to the semiconductor package by the adhesive member and formed on a first surface facing the semiconductor package to electrically connect the adhesive members. A detection device comprising an insertion hole for exposing the connection terminal to the outside so that the terminals and the probe for applying the power are in contact with the connection terminal, and the first surface to dissipate heat generated in the semiconductor packages to be discharged to the outside. The heat soup is disposed on the second surface of the detection device, the portion corresponding to the insertion hole is opened It provides a memory module containing more.

바람직하게, 제 1면 중 상기 반도체 패키지들과 대응되는 부분에는 접착영역들이 마련되고, 연결단자들은 접착영역들 사이에 형성되어 직렬 연결 방식으로 접착영역들을 상호 연결시킨다.Preferably, adhesive regions are provided at portions of the first surface corresponding to the semiconductor packages, and connection terminals are formed between the adhesive regions to interconnect the adhesive regions in a series connection manner.

또한, 연결단자들은 접착영역에서 대각선 방향으로 마주보는 모서리부분에 각각 형성되고 직렬 연결 방식으로 접착영역들을 서로 연결시킨다.In addition, the connecting terminals are formed at the corner portions facing in the diagonal direction in the bonding region, respectively, and connect the bonding regions to each other in a series connection manner.

한편, 삽입홀은 제 1면의 첫번째에 위치한 접착영역을 연결하는 연결단자 및 제 1면의 마지막에 위치한 접착영역을 연결하는 연결단자에 대응하여 형성된다.On the other hand, the insertion hole is formed corresponding to the connecting terminal for connecting the adhesive region located on the first side of the first surface and the connecting terminal for connecting the adhesive region located on the end of the first surface.

바람직하게, 연결단자들은 구리로 형성된다.Preferably, the connecting terminals are formed of copper.

(실시예)(Example)

이하, 본 발명에 의한 메모리 모듈 및 히트 스프레더의 부착 상태 여부를 확인하는 하는 방법에 대해 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of checking whether the memory module and the heat spreader are attached according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 의한 메모리 모듈을 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a memory module according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 메모리 모듈(100)은 반도체 패키지(110), 모듈 인쇄회로기판(150), 접착부재(160), 검출 장치(200) 및 히트 스프레더(250)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the memory module 100 includes a semiconductor package 110, a module printed circuit board 150, an adhesive member 160, a detection device 200, and a heat spreader 250.

반도체 패키지, 예를 들어 BGA 패키지(110)는 베이스 기판(111), 반도체 칩(120), 와이어(125), 밀봉부(130) 및 솔더볼(135)들을 포함한다.The semiconductor package, for example, the BGA package 110, includes a base substrate 111, a semiconductor chip 120, a wire 125, a seal 130, and solder balls 135.

베이스 기판(111)은 사각형상을 가지며, 제 1면(113), 제 2면(115) 및 측면(117)들로 구성된다. 제 1면(113)에는 도전성 패드(114)들이 인쇄되고, 제 1면(113)의 중앙에는 접착제(123)를 매개로 반도체 칩(120)이 부착된다. 제 2면(115)에는 솔더 패드(116)들이 인쇄되는데, 솔더 패드(116)들은 제 1면(113)과 제 2면(115)을 관통하고 관통면에 도전성 물질이 도포된 비아홀(도시 안됨)에 의해 도전성 패드(114)들과 전기적으로 연결된다. 이와 같이 형성된 솔더 패드(114)들 각각에는 납땜에 의해 솔더볼(135)들이 접합된다. 그리고, 측면(11)들은 4개로 구성되며 제 1면(113)과 제 2면(115)을 연결시킨다. The base substrate 111 has a quadrangular shape and includes a first surface 113, a second surface 115, and side surfaces 117. The conductive pads 114 are printed on the first surface 113, and the semiconductor chip 120 is attached to the center of the first surface 113 via the adhesive 123. Solder pads 116 are printed on the second surface 115, and the solder pads 116 penetrate through the first surface 113 and the second surface 115 and have a conductive material coated on the through surface (not shown). Is electrically connected to the conductive pads 114. Solder balls 135 are bonded to each of the solder pads 114 formed as described above by soldering. In addition, the side surfaces 11 are formed of four and connect the first surface 113 and the second surface 115.

와이어(125)는 베이스 기판(111)과 반도체 칩(120)을 전기적으로 연결시키는 매개체로, 와이어(125)의 일측단부는 반도체 칩(120)에 연결되고, 와이어(125)의 타측단부는 도전성 패드(114)에 연결된다.The wire 125 is a medium for electrically connecting the base substrate 111 and the semiconductor chip 120. One end of the wire 125 is connected to the semiconductor chip 120, and the other end of the wire 125 is conductive. Is connected to the pad 114.

밀봉부(130)는 베이스 기판(111)의 제 1면(113)을 감싸 반도체 칩(120)를 보호한다.The encapsulation part 130 covers the first surface 113 of the base substrate 111 to protect the semiconductor chip 120.

모듈 인쇄회로기판(150)은 적어도 1개 이상의 층을 갖는 경질의 인쇄회로기판이다. 모듈 기판(150) 중 BGA 패키지(110)가 실장되는 면에는 솔더볼(135)들이 접합되는 볼 랜드(155)들 및 볼 랜드(155)들을 전기적으로 연결시키는 회로패턴들(도시 안됨)이 인쇄된다. 이와 같이 형성된 모듈 인쇄회로기판(150)에는 상술한 BGA 패키지(110)들이 복수개 실장되어 전자기기에 장착되는 메모리 모듈(100)을 형성한다. 도 1에서는 4개의 BGA 패키지(110)가 모듈 인쇄회로기판에 실장된 것을 도시하였다. The module printed circuit board 150 is a rigid printed circuit board having at least one layer. The ball lands 155 to which the solder balls 135 are bonded and circuit patterns (not shown) for electrically connecting the ball lands 155 are printed on the surface of the module substrate 150 on which the BGA package 110 is mounted. . In the module printed circuit board 150 formed as described above, a plurality of the above-described BGA packages 110 are mounted to form a memory module 100 mounted on an electronic device. In FIG. 1, four BGA packages 110 are mounted on a module printed circuit board.

접착부재(160)는 접착성을 가지고 있어 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장된 BGA 패키지들(110)의 상부면 각각에 부착된다. 그리고, 접착부재(160)는 전기 전도성을 가지고 있어 검출장치(200) 및 히트 스프레더(250)가 접착부재(160)들의 상부면에 부착되면 검출장치(200)에 의해 각각의 접착부재(160)들은 전기적으로 서로 연결된다.The adhesive member 160 has adhesiveness and is attached to each of the upper surfaces of the BGA packages 110 mounted on the module printed circuit board 150. In addition, the adhesive members 160 have electrical conductivity, so that when the detector 200 and the heat spreader 250 are attached to the upper surfaces of the adhesive members 160, the adhesive members 160 may be attached to the adhesive members 160 by the detection apparatus 200. Are electrically connected to each other.

도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 검출 장치의 평면도이다.2 is a plan view of a detection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

도 1 및 도 2를 참조하면, 검출장치(200)는 검출기판(210), 접착영역들(220), 연결단자(230)들 및 프로브 삽입홀들(240, 245)을 포함한다. 검출장치(200)는 접착부재(160)들을 전기적으로 연결시켜 히트 스프레더(250)가 BGA 패키지(110)에 완전히 밀착된 상태로 부착되었는지의 여부를 확인하는 장치이기 때문에, 검출기판(210)은 적어도 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장된 BGA 패키지(110)들을 전부 덮는 길이와 폭을 갖도록 제작되어야 한다. 이러한, 크기를 갖는 검출기판(210)은 접착부재(160)에 부착되는 제 1면(211), 히트 스프레더(250)가 부착되는 제 2면(213) 및 제 1면(211)과 제 2면(213)을 연결시키는 복수개의 측면(215)을 갖는다.1 and 2, the detection apparatus 200 includes a detector plate 210, adhesive regions 220, connection terminals 230, and probe insertion holes 240 and 245. Since the detection apparatus 200 is an apparatus for electrically connecting the adhesive members 160 to check whether the heat spreader 250 is attached to the BGA package 110 in close contact with the BGA package 110, the detector plate 210 may be used. It should be manufactured to have a length and a width covering at least the BGA packages 110 mounted on the module printed circuit board 150. The detector plate 210 having the size includes a first surface 211 attached to the adhesive member 160, a second surface 213 on which the heat spreader 250 is attached, and a first surface 211 and a second surface. It has a plurality of side surfaces 215 connecting the surfaces 213.

도 2를 참조하면, 제 1면(211)에는 접착영역(220)들 및 연결단자(230)들이 마련된다. 접착영역(220)은 접착부재(160)에 의해 BGA 패키지(110)의 상부면에 부착되는 영역으로, 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장된 BGA 패키지들(110)과 대응되는 부분에 각각 한개씩 마련된다. 앞에서 설명한 바와 같이 4개의 BGA 패키지(110)가 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장되므로, 제 1면(211)에도 4개의 접착영역(220)들이 마련된다. 설명의 편의상 검출기판(210)의 왼쪽 가장자리에서부터 길이방향으로 제 1 접착영역(221), 제 2 접착영역(223), 제 3접착영역(225) 및 제 4접착영역(227)이라 한다.Referring to FIG. 2, adhesive regions 220 and connection terminals 230 are provided on the first surface 211. The adhesive region 220 is an area attached to the top surface of the BGA package 110 by the adhesive member 160, and each of the adhesive regions 220 corresponds to the BGA packages 110 mounted on the module printed circuit board 150. Prepared. As described above, since the four BGA packages 110 are mounted on the module printed circuit board 150, four adhesive regions 220 are also provided on the first surface 211. For convenience of description, the first bonding region 221, the second bonding region 223, the third bonding region 225, and the fourth bonding region 227 are disposed in the longitudinal direction from the left edge of the detector plate 210.

연결단자(230)들은 접착부재(160)들 및 전원을 인가하는 프로브(300;도 4참조)에 연결되어 각각의 접착부재(160)들을 전기적으로 도통시키며, 접착부재(160)들 및 프로프(300)를 직렬 연결(Dasiy chain) 방식으로 연결시킨다. 이러한, 연결단자(230)들은 하나의 접착영역(220)에 2개씩 연결된다. 이를 좀더 상세히 설명하면, 제 1 및 제 2 접착영역(221)(223), 제 2 및 제 3접착영역(223)(225), 제 3 및 제 4 접착영역(225)(227)들의 사이에 한개씩의 연결단자(230)들이 형성되어 이들을 상호 연결시킨다. 그리고, 제 1면(211)의 왼쪽 가장자리에서 제 1 접착영역(221)의 가장자리 쪽으로 한개의 연결단자(231)가 연장 형성되고, 제 1면(211)의 오른쪽 가장자리에서 제 4접착영역(227)의 가장자리 쪽으로 한개의 연결단자(233)가 연장 형성된다. 따라서, 제 1면(211)에 4개의 접착영역(220)이 존재할 경우 연결단자(230)들은 5개가 형성된다. The connection terminals 230 are connected to the adhesive members 160 and the probe 300 (see FIG. 4) for applying power to electrically connect the adhesive members 160 to each other, and to the adhesive members 160 and the probes. (300) is connected in a series chain (Dasiy chain) method. The connection terminals 230 are connected to each of the adhesive regions 220 two by one. In more detail, between the first and second adhesive regions 221 and 223, the second and third adhesive regions 223 and 225, and the third and fourth adhesive regions 225 and 227. Connection terminals 230 are formed one by one to interconnect them. Then, one connection terminal 231 extends from the left edge of the first surface 211 toward the edge of the first adhesive region 221, and the fourth adhesion region 227 at the right edge of the first surface 211. One connecting terminal 233 is extended toward the edge of the). Therefore, when four adhesive regions 220 are present on the first surface 211, five connection terminals 230 are formed.

일예로, 5개의 연결단자(230)들은 제 1면(211)의 동일선상에서 일렬로 배열되고, 각 접착영역(220)들의 가장자리와 오버랩된다. 다른 예로, 도 2에 도시된 바와 같이 5개의 연결단자(230)들이 제 1면(211)에서 지그재그 형태로 배열되고, 각 접착영역(220)들의 모서리부분과 오버랩된다. 즉, 한개의 접착영역(220)에서 2개의 연결단자(230)들은 대각선 방향에 위치한 양쪽 모서리 부근에 각각 형성된다. 여기서, 접착영역(220)의 가장자리 또는 모서리 부근에 연결단자(230)들을 오버랩시키 는 이유는, 검출장치(200)와 함께 히트 스프레더(250)를 BGA 패키지(110)의 상부면에 부착시킬 때 BGA 패키지(110)의 가장자리부분에서 히트 스프레더(250)의 들뜸이 가장 빈번하게 발생되기 때문이다. 이는 BGA 패키지(110)의 중앙부분을 중점적으로 눌러 히트 스프레더(250)를 BGA 패키지(110)의 상부면에 부착시키기 때문이다. For example, the five connection terminals 230 may be arranged in a line on the same line of the first surface 211 and overlap the edges of the adhesive regions 220. As another example, as shown in FIG. 2, five connection terminals 230 are arranged in a zigzag shape on the first surface 211 and overlap the corner portions of the respective adhesive regions 220. That is, two connection terminals 230 are formed in each adhesive region 220 near each corner positioned in the diagonal direction. Here, the reason for overlapping the connection terminals 230 near the edge or the edge of the adhesive region 220, when attaching the heat spreader 250 to the upper surface of the BGA package 110 together with the detection device 200 This is because lifting of the heat spreader 250 occurs most frequently at the edge of the BGA package 110. This is because the heat spreader 250 is attached to the upper surface of the BGA package 110 by intensively pressing the center portion of the BGA package 110.

상술한 연결단자(230)들은 전기 전도율이 우수한 구리를 이용하여 형성한다.The connection terminals 230 are formed by using copper having excellent electrical conductivity.

도 1을 참조하면, 프로브 삽입홀(240,245))은 연결단자(230)들 중 제 1면(211)의 길이방향 양단부에 위치한 2개의 연결단자(231)(233)를 검출장치(200)의 외부로 노출시킨다. 즉, 제 1접착영역(221)에서 제 1면(211)의 왼쪽 가장자리로 연장된 연결단자(231)에 대응하여 제 1 프로브 삽입홀(240)이 형성되고, 제 4접착영역(227)에서 제 1면(211)의 오른쪽 가장자리로 연장된 연결단자(233)에 대응하여 제 2프로브 삽입홀(245)이 형성된다.Referring to FIG. 1, the probe insertion holes 240 and 245 may include two connection terminals 231 and 233 located at both ends in the longitudinal direction of the first surface 211 among the connection terminals 230 of the detection apparatus 200. Expose to the outside. That is, the first probe insertion hole 240 is formed to correspond to the connection terminal 231 extending from the first adhesive region 221 to the left edge of the first surface 211, and in the fourth adhesive region 227. The second probe insertion hole 245 is formed to correspond to the connection terminal 233 extending to the right edge of the first surface 211.

히트 스프레더(250)는 검출기판(210)의 제 2면(213)에 고정되어 각각의 BGA 패키지(110))에서 발생된 열을 신속하게 외부로 방출시킨다. 히트 스프레더(250) 중 제 1프로브 삽입홀(240) 및 제 2프로브 삽입홀(245)과 대응되는 부분은 개구되어 프로브(300)와 접속되는 연결단자(230)들을 히트 스프레더(250)의 외부로 노출시킨다.The heat spreader 250 is fixed to the second surface 213 of the detector plate 210 to quickly release heat generated in each BGA package 110 to the outside. Portions of the heat spreader 250 corresponding to the first probe insertion hole 240 and the second probe insertion hole 245 are opened to connect the connection terminals 230 connected to the probe 300 to the outside of the heat spreader 250. Expose

도 3은 본 발명의 일실시예에 의하여 모듈 인쇄회로기판에 실장된 BGA 패키지에 접착부재을 부착한 도면이다. 3 is a view showing an adhesive member attached to a BGA package mounted on a module printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 모듈 인쇄회로기판(150)에 복수개, 예를 들어 4개의 BGA 패키지(110)들이 실장되면, BGA 패키지(110)들의 상부면 각각에 접착성 및 도전성을 갖는 접착부재(160)를 부착시킨다.As shown in FIG. 3, when a plurality of, for example, four BGA packages 110 are mounted on the module printed circuit board 150, adhesive members having adhesiveness and conductivity to each of the upper surfaces of the BGA packages 110 are provided. Attach 160.

도 4는 본 발명의 일실시예에 의하여 히트 스프레더의 부착 여부를 검출하기 위한 도면이다.4 is a diagram for detecting whether a heat spreader is attached according to an embodiment of the present invention.

각 BGA 패키지(110)에 접착부재(160)들이 부착되면, 도 4에 도시된 바와 같이 히트 스프레더(250)가 고정된 검출장치(200)를 접착부재(160)들 위에 위치시킨다. 이때, 검출장치(200)의 제 1면(211)이 접착부재(160)에 마주보아야 하고, 제 1면(211)에 마련된 접착영역(220)들은 각각의 BGA 패키지(110)들과 대응되는 부분에 위치하여야 한다. 이와 같은 상태로 검출장치(200)를 BGA 패키지(110)들 위에 올려놓으면, 5개의 연결단자(230)들이 각각의 접착부재(160)들을 직렬 연결 방식으로 연결시킨다.When the adhesive members 160 are attached to each BGA package 110, as illustrated in FIG. 4, the detection device 200 having the heat spreader 250 fixed thereon is positioned on the adhesive members 160. In this case, the first surface 211 of the detection apparatus 200 should face the adhesive member 160, and the adhesive regions 220 provided on the first surface 211 correspond to the respective BGA packages 110. It must be located in the part. When the detection apparatus 200 is placed on the BGA packages 110 in this state, the five connection terminals 230 connect the respective adhesive members 160 in a series connection method.

히트 스프레더(250)가 고정된 검출장치(200)가 접착부재(160)들의 상부면에 올려지면, 히트 스프레더(250)의 상부면에서 압력을 가하여 검출장치(200)의 제 1면(211)을 접착부재(160)에 부착시킨다.When the detection device 200 having the heat spreader 250 fixed thereon is placed on the top surface of the adhesive members 160, the first surface 211 of the detection device 200 is applied by applying pressure from the top surface of the heat spreader 250. To the adhesive member 160.

이후, 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)가 접착부재(160)들에 완전히 부착되었는지의 여부를 확인하기 위해서, 검출기(310)와 전기적으로 연결되어 있는 프로브(300)들을 제 1프로브 삽입홀(240)과 제 2 프로브 삽입홀(245)에 삽입한다. 그러면, 제 1 및 제 2프로브 삽입홀(240,245)과 히트 스프레더(250)의 개구를 통해 외부로 노출된 각각의 연결단자(231,233)에 프로브(300)가 접속된다.Thereafter, in order to confirm whether the heat spreader 250 and the detection apparatus 200 are completely attached to the adhesive members 160, the probes 300 electrically connected to the detector 310 are inserted into the first probe. It is inserted into the hole 240 and the second probe insertion hole 245. Then, the probe 300 is connected to the connection terminals 231 and 233 exposed to the outside through the openings of the first and second probe insertion holes 240 and 245 and the heat spreader 250.

이 상태에서 각각의 프로브(300)에 전원을 인가한다. 그러면, 프로브(300), 접착부재(160)들을 연결시키는 각각의 연결단자(230)들 및 접착부재(160)들에 의해 서 검출 장치(200)는 폐루프 상태가 된다.In this state, power is applied to each probe 300. Then, the detection device 200 is in the closed loop state by the connection terminals 230 and the adhesive members 160 connecting the probe 300, the adhesive members 160.

만약, BGA 패키지(110)의 상부면에 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)를 부착시키는 과정에서 BGA 패키지(110)에 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)가 완전히 부착되지 않았으면, 부착되지 않은 부분에서 연결단자(230)가 접착부재(160)에 접촉되지 않게 된다. 그러면, 검출 장치(200)가 개루프 상태가 되며 검출기(310)는 히트 스프레더(250)가 모든 BGA 패키지(110)의 상부면에 완전히 부착되지 않았다고 판단한다. If the heat spreader 250 and the detection device 200 are not completely attached to the BGA package 110 in the process of attaching the heat spreader 250 and the detection device 200 to the upper surface of the BGA package 110. In the non-attached portion, the connection terminal 230 is not in contact with the adhesive member 160. Then, the detection apparatus 200 is in an open loop state and the detector 310 determines that the heat spreader 250 is not completely attached to the top surfaces of all the BGA packages 110.

이와 반대로, BGA 패키지(110)의 상부면에 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)가 완전히 부착되었으면, 각각의 연결단자(230)들이 접착부재(160)에 완전히 접촉된다. 따라서, 프로브(300)를 통해 인가된 전원은 연결단자(230)들를 통해 각각의 접착부재(160)에 전달되므로 검출 장치(200)는 폐루프 상태가 된다. 따라서, 검출기(310)는 히트 스프레더(250)가 모든 BGA 패키지(110)의 상부면에 완전히 부착되었다고 판단한다.On the contrary, if the heat spreader 250 and the detection device 200 are completely attached to the top surface of the BGA package 110, the respective connection terminals 230 may be in full contact with the adhesive member 160. Therefore, since the power applied through the probe 300 is transferred to each adhesive member 160 through the connection terminals 230, the detection device 200 is in a closed loop state. Accordingly, the detector 310 determines that the heat spreader 250 is completely attached to the top surfaces of all the BGA packages 110.

앞에서 설명한 바와 같이 메모리 모듈(100)에 실장된 각각의 BGA 패키지(110)들의 상부면에 도전성을 갖는 접착부재(160)를 부착하고, 접착부재(160)들 위에 히트 스프레더(250)가 고정된 검출 장치(200)를 부착한 상태에서 검출장치(200)에 전원을 인가하면, 접착부재(160)들 및 이들을 전기적으로 도통시키는 연결단자(230)들에 의해 히트 스프레더(250)가 모든 BGA 패키지(110)에 완전히 부착되었는 지의 여부를 빠른 시간 내에 쉽게 확인할 수 있다. As described above, the conductive adhesive member 160 is attached to the upper surfaces of the respective BGA packages 110 mounted on the memory module 100, and the heat spreader 250 is fixed on the adhesive members 160. When power is applied to the detection device 200 while the detection device 200 is attached, the heat spreader 250 is connected to all the BGA packages by the adhesive members 160 and the connection terminals 230 electrically connecting them. Whether it is completely attached to the 110 can be easily confirmed in a short time.

이상, 여기에서는 본 발명을 특정 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지 만, 본 발명이 그에 한정되는 것은 아니며, 이하의 특허청구의 범위는 본 발명의 정신과 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변형될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 알 수 있다. Hereinbefore, the present invention has been illustrated and described with reference to specific embodiments, but the present invention is not limited thereto, and the scope of the following claims is not limited to the spirit and scope of the present invention. It will be readily apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made.

본 발명에서와 같이 반도체 패키지들의 상부면 각각에 도전성을 갖는 접착부재를 부착하고, 접착부재 위에 히트 스프레더가 고정된 검출 장치를 부착한 상태에서 전원을 인가할 경우, 메모리 모듈에 많은 개수의 반도체 패키지들이 실장되어도 각각의 반도체 패키지들의 상부면에 히트 스프레더가 완전히 부착되었는지의 여부를 빠른 시간 내에 쉽게 확인할 수 있어 검출 시간을 크게 줄일 수 있는 효과가 있다.As in the present invention, when a conductive adhesive member is attached to each of the upper surfaces of the semiconductor packages, and power is applied while a detection device having a heat spreader fixed thereto is attached to the adhesive member, a large number of semiconductor packages are attached to the memory module. Even if they are mounted, it is possible to easily check whether or not the heat spreader is completely attached to the upper surfaces of the respective semiconductor packages in a short time, thereby reducing the detection time.

Claims (5)

반도체 칩과 밀봉부 및 입출력 단자를 구비한 반도체 패키지;A semiconductor package having a semiconductor chip, a sealing part, and an input / output terminal; 상기 반도체 패키지들이 복수개 실장되는 모듈 인쇄회로기판;A module printed circuit board having a plurality of semiconductor packages mounted thereon; 상기 모듈 인쇄회로기판에 실장된 상기 반도체 패키지들의 상부면 각각에 부착되며, 전기적으로 도통되는 접착부재;An adhesive member attached to each of the upper surfaces of the semiconductor packages mounted on the module printed circuit board and electrically conductive; 상기 반도체 패키지들을 전부 덮는 길이와 폭을 가지고, 상기 접착부재에 의해 상기 반도체 패키지에 부착되며, 상기 반도체 패키지와 마주보는 제 1면에 형성되어 상기 접착부재들을 전기적으로 연결시키는 연결단자들과, 전원을 인가하는 프로브가 상기 연결단자에 접촉되도록 상기 연결단자를 외부로 노출시키는 삽입홀을 포함하는 검출 장치; 및A connection terminal having a length and a width covering all of the semiconductor packages and attached to the semiconductor package by the adhesive member and formed on a first surface facing the semiconductor package to electrically connect the adhesive members; A detection device including an insertion hole for exposing the connection terminal to the outside such that a probe for applying a contact thereof is in contact with the connection terminal; And 상기 반도체 패키지들에서 발생되는 열을 분산시켜 외부로 방출시키기 위해 상기 제 1면과 대향되는 상기 검출 장치의 제 2면에 배치되며, 상기 삽입홀과 대응되는 부분이 개구된 히트 스프레더를 포함하는 메모리 모듈.A memory including a heat spreader disposed on a second surface of the detection device opposite to the first surface to dissipate heat generated in the semiconductor packages to be discharged to the outside, and a portion corresponding to the insertion hole is opened; module. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1면 중 상기 반도체 패키지들과 대응되는 부분에는 접착영역들이 마련되고, 상기 연결단자들은 상기 접착영역들 사이에 형성되어 직렬 연결 방식에 의해 상기 접착영역들을 상호 연결시키는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.The method of claim 1, wherein adhesive regions are provided at portions of the first surface corresponding to the semiconductor packages, and the connection terminals are formed between the adhesive regions to interconnect the adhesive regions by a series connection method. Memory module, characterized in that. 제 2 항에 있어서, 상기 연결단자들은 상기 접착영역에서 대각선 방향으로 마주보는 모서리부분에 각각 형성되어 직렬 연결 방식으로 상기 접착영역들을 서로 연결시키는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.The memory module of claim 2, wherein the connection terminals are formed at edge portions facing in the diagonal direction from the adhesion region to connect the adhesion regions to each other in a series connection manner. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 삽입홀은 상기 제 1면의 첫번째에 위치한 접착영역을 연결하는 연결단자 및 상기 제 1면의 마지막에 위치한 접착영역을 연결하는 연결단자에 대응하여 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈. According to claim 2 or 3, wherein the insertion hole is formed corresponding to the connecting terminal for connecting the adhesive region located on the first side of the first surface and the connecting terminal for connecting the adhesive region located on the end of the first surface Memory module, characterized in that. 제 1 항에 있어서, 상기 연결단자는 구리로 형성되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.The memory module of claim 1, wherein the connection terminal is formed of copper.
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