KR20070105771A - Memory module - Google Patents
Memory module Download PDFInfo
- Publication number
- KR20070105771A KR20070105771A KR1020060038354A KR20060038354A KR20070105771A KR 20070105771 A KR20070105771 A KR 20070105771A KR 1020060038354 A KR1020060038354 A KR 1020060038354A KR 20060038354 A KR20060038354 A KR 20060038354A KR 20070105771 A KR20070105771 A KR 20070105771A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- adhesive
- semiconductor
- semiconductor packages
- memory module
- attached
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3736—Metallic materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/27—Manufacturing methods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Abstract
Description
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 의한 메모리 모듈을 도시한 단면도.1 is a cross-sectional view showing a memory module according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 검출 장치의 평면도.2 is a plan view of a detection device according to a first embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 일실시예에 의하여 모듈 인쇄회로기판에 실장된 BGA 패키지에 접착부재을 부착한 도면.3 is a view showing an adhesive member attached to a BGA package mounted on a module printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 일실시예에 의하여 히트 스프레더의 부착 여부를 검출하기 위한 도면.4 is a view for detecting whether the heat spreader is attached according to an embodiment of the present invention.
본 발명은 메모리 모듈에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 반도체 패키지들의 상부면에 부착되는 열방출부의 접합 상태를 확인하는데 걸리는 시간을 절감하기 위해 메모리 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a memory module, and more particularly, to a memory module to reduce the time taken to check the bonding state of the heat dissipation portion attached to the upper surface of the semiconductor package.
일반적으로 메모리는 컴퓨터, 통신시스템, 화상처리시스템 등에서 사용되는 데이타나 명령 등을 일시적 또는 영구적으로 저장하기 위하여 사용되는 것을 총칭하는 것으로써 대표적으로 반도체, 테이프, 디스크, 광학방식 등이 있는데 현재 반도체 메모리가 대부분을 차지하고 있다. 이런 반도체 메모리는 데이타 저장방식의 전기적 특성 등에 따라 구분되는 DRAM, SRAM, Flash Memory, ROM 등의 여러 종류가 있다.In general, memory is a general term used to temporarily or permanently store data or instructions used in computers, communication systems, image processing systems, and the like, and is typically a semiconductor, tape, disk, or optical method. Accounted for the majority. There are many kinds of such semiconductor memories, such as DRAM, SRAM, Flash Memory, and ROM, which are classified according to electrical characteristics of a data storage method.
상술한 여러 종류의 메모리를 실제적으로 시스템에 사용할 때는 모듈로 만들어서 생산하는데 모듈(module)이라는 것은 하나의 기능을 가진 반도체 소자의 집합으로 모듈 인쇄회로기판(PCB)상에 복수개의 반도체 패키지들을 실장하여 형성한다.When the various types of memory described above are actually used in a system, a module is manufactured and produced. A module is a set of semiconductor devices having a single function, and a plurality of semiconductor packages are mounted on a printed circuit board (PCB). Form.
한편, 반도체 패키지란 미세회로가 설계된 반도체 칩을 전자기기에 실장하여 사용할 수 있도록 몰드 수지나 세라믹 등으로 밀봉한 형태를 말한다. 이와 같이 패키지화된 반도체 칩이 동작하게 되면 필연적으로 열이 발생되며, 발생된 열이 패키지의 외부로 신속하게 빠져나가지 못할 경우 반도체 칩은 심각한 손상을 받게 된다.On the other hand, the semiconductor package refers to a form in which a semiconductor chip designed with a microcircuit is sealed with a mold resin or a ceramic so as to be used by being mounted on an electronic device. When the semiconductor chip packaged as described above is operated, heat is inevitably generated, and the semiconductor chip is seriously damaged if the generated heat does not quickly escape to the outside of the package.
따라서, 열방출 장치, 예를 들어 히트 스프레더(heat spreader)를 반도체 패키지의 상부면에 부착시켜 반도체 칩에서 발생된 열을 반도체 패키지의 외부로 신속하게 방출시키고 있다.Therefore, a heat dissipation device, for example, a heat spreader, is attached to the upper surface of the semiconductor package to quickly release heat generated in the semiconductor chip to the outside of the semiconductor package.
메모리 모듈에서는 모듈 인쇄회로기판에 복수개의 반도체 패키지를 실장하고, 각 반도체 패키지의 상부면에 접착제를 도포한 다음 히트 스프레더를 부착한다. 여기서, 메모리 모듈에 실장된 반도체 패키지들의 높이는 제조에서 약간씩 차이가 나기때문에 다를 수 있다. 이로 인해 어느 패키지에서는 히트 스프레더가 반도체 패키지의 상부면에 완전히 밀착되어 부착되고, 어느 패키지에서는 히트 스프레더가 반도체 패키지의 상부면에서 들뜨는 경우가 종종 발생된다. In the memory module, a plurality of semiconductor packages are mounted on a module printed circuit board, an adhesive is applied to the upper surface of each semiconductor package, and then a heat spreader is attached. Here, the heights of the semiconductor packages mounted in the memory module may be different because they differ slightly in manufacturing. As a result, in some packages, the heat spreader adheres completely to the top surface of the semiconductor package, and in some packages, the heat spreader is often lifted off the top surface of the semiconductor package.
따라서, 각 반도체 패키지의 상부면에 히트 스프레더를 부착시킨 후에 초음 파 또는 적외선을 이용하여 히트 스프레더의 부착 상태를 확인하는 공정이 수반된다. Therefore, after attaching the heat spreader to the upper surface of each semiconductor package, a process of confirming the attachment state of the heat spreader using ultrasonic waves or infrared rays is involved.
그러나, 종래에서와 같이 초음파 또는 적외선을 이용하여 히트 스프레더의 부착상태를 확인하는 경우 메모리 모듈에 실장된 각각의 반도체 패키지에 초음파 또는 적외선을 조사해야기 때문에 히트 스프레더의 부착 여부를 확인하는데 많은 시간이 소요되는 문제점을 갖는다.However, when checking the attachment state of the heat spreader using ultrasonic waves or infrared rays as in the related art, it takes a lot of time to check whether the heat spreader is attached because ultrasonic or infrared rays must be irradiated to each semiconductor package mounted in the memory module. Has the problem.
또한, 히트 스프레더의 부착 여부를 확인하기 위해서는 초음파 발생 장치 또는 적외선 발생장치를 별도로 설치해야하기 때문에 설비 투자 비용이 증가되는 문제점을 갖는다. In addition, since it is necessary to separately install an ultrasonic wave generator or an infrared ray generator in order to confirm whether the heat spreader is attached, a facility investment cost increases.
따라서, 본 발명은 이와 같은 종래 문제점을 감안한 것으로서, 본 발명의 목적은 히트 스프레더가 각각의 반도체 패키지에 완전히 밀착되어 부착되었는 지의 여부를 확인하데 소요되는 시간을 절감시킨 메모리 모듈을 제공함에 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of such a conventional problem, and an object of the present invention is to provide a memory module which reduces the time required to check whether or not the heat spreader is completely adhered to each semiconductor package.
이와 같은 목적을 구현하기 위하여, 본 발명은, 반도체 칩과 밀봉부 및 입출력 단자를 구비한 반도체 패키지, 반도체 패키지들이 복수개 실장되는 모듈 인쇄회로기판, 모듈 인쇄회로기판에 실장된 반도체 패키지들의 상부면 각각에 부착되며 전기적으로 도통되는 접착부재, 반도체 패키지들을 전부 덮는 길이와 폭을 가지고, 접착부재에 의해 반도체 패키지에 부착되며, 반도체 패키지와 마주보는 제 1면에 형성되어 접착부재들을 전기적으로 연결시키는 연결단자들 및 전원을 인가하는 프 로브가 연결단자에 접촉되도록 연결단자를 외부로 노출시키는 삽입홀을 포함하는 검출 장치 및 반도체 패키지들에서 발생되는 열을 분산시켜 외부로 방출시키기 위해 제 1면과 대향되는 검출 장치의 제 2면에 배치되며, 삽입홀과 대응되는 부분이 개구된 히트 스프레더를 포함하는 메모리 모듈을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a semiconductor package including a semiconductor chip, a sealing part and an input / output terminal, a module printed circuit board on which a plurality of semiconductor packages are mounted, and upper surfaces of semiconductor packages mounted on a module printed circuit board, respectively. An adhesive member attached to and electrically conductive to the semiconductor package, the connecting member having a length and width covering all of the semiconductor packages and attached to the semiconductor package by the adhesive member and formed on a first surface facing the semiconductor package to electrically connect the adhesive members. A detection device comprising an insertion hole for exposing the connection terminal to the outside so that the terminals and the probe for applying the power are in contact with the connection terminal, and the first surface to dissipate heat generated in the semiconductor packages to be discharged to the outside. The heat soup is disposed on the second surface of the detection device, the portion corresponding to the insertion hole is opened It provides a memory module containing more.
바람직하게, 제 1면 중 상기 반도체 패키지들과 대응되는 부분에는 접착영역들이 마련되고, 연결단자들은 접착영역들 사이에 형성되어 직렬 연결 방식으로 접착영역들을 상호 연결시킨다.Preferably, adhesive regions are provided at portions of the first surface corresponding to the semiconductor packages, and connection terminals are formed between the adhesive regions to interconnect the adhesive regions in a series connection manner.
또한, 연결단자들은 접착영역에서 대각선 방향으로 마주보는 모서리부분에 각각 형성되고 직렬 연결 방식으로 접착영역들을 서로 연결시킨다.In addition, the connecting terminals are formed at the corner portions facing in the diagonal direction in the bonding region, respectively, and connect the bonding regions to each other in a series connection manner.
한편, 삽입홀은 제 1면의 첫번째에 위치한 접착영역을 연결하는 연결단자 및 제 1면의 마지막에 위치한 접착영역을 연결하는 연결단자에 대응하여 형성된다.On the other hand, the insertion hole is formed corresponding to the connecting terminal for connecting the adhesive region located on the first side of the first surface and the connecting terminal for connecting the adhesive region located on the end of the first surface.
바람직하게, 연결단자들은 구리로 형성된다.Preferably, the connecting terminals are formed of copper.
(실시예)(Example)
이하, 본 발명에 의한 메모리 모듈 및 히트 스프레더의 부착 상태 여부를 확인하는 하는 방법에 대해 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of checking whether the memory module and the heat spreader are attached according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 의한 메모리 모듈을 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a memory module according to a first embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 메모리 모듈(100)은 반도체 패키지(110), 모듈 인쇄회로기판(150), 접착부재(160), 검출 장치(200) 및 히트 스프레더(250)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the
반도체 패키지, 예를 들어 BGA 패키지(110)는 베이스 기판(111), 반도체 칩(120), 와이어(125), 밀봉부(130) 및 솔더볼(135)들을 포함한다.The semiconductor package, for example, the BGA
베이스 기판(111)은 사각형상을 가지며, 제 1면(113), 제 2면(115) 및 측면(117)들로 구성된다. 제 1면(113)에는 도전성 패드(114)들이 인쇄되고, 제 1면(113)의 중앙에는 접착제(123)를 매개로 반도체 칩(120)이 부착된다. 제 2면(115)에는 솔더 패드(116)들이 인쇄되는데, 솔더 패드(116)들은 제 1면(113)과 제 2면(115)을 관통하고 관통면에 도전성 물질이 도포된 비아홀(도시 안됨)에 의해 도전성 패드(114)들과 전기적으로 연결된다. 이와 같이 형성된 솔더 패드(114)들 각각에는 납땜에 의해 솔더볼(135)들이 접합된다. 그리고, 측면(11)들은 4개로 구성되며 제 1면(113)과 제 2면(115)을 연결시킨다. The
와이어(125)는 베이스 기판(111)과 반도체 칩(120)을 전기적으로 연결시키는 매개체로, 와이어(125)의 일측단부는 반도체 칩(120)에 연결되고, 와이어(125)의 타측단부는 도전성 패드(114)에 연결된다.The
밀봉부(130)는 베이스 기판(111)의 제 1면(113)을 감싸 반도체 칩(120)를 보호한다.The
모듈 인쇄회로기판(150)은 적어도 1개 이상의 층을 갖는 경질의 인쇄회로기판이다. 모듈 기판(150) 중 BGA 패키지(110)가 실장되는 면에는 솔더볼(135)들이 접합되는 볼 랜드(155)들 및 볼 랜드(155)들을 전기적으로 연결시키는 회로패턴들(도시 안됨)이 인쇄된다. 이와 같이 형성된 모듈 인쇄회로기판(150)에는 상술한 BGA 패키지(110)들이 복수개 실장되어 전자기기에 장착되는 메모리 모듈(100)을 형성한다. 도 1에서는 4개의 BGA 패키지(110)가 모듈 인쇄회로기판에 실장된 것을 도시하였다. The module printed
접착부재(160)는 접착성을 가지고 있어 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장된 BGA 패키지들(110)의 상부면 각각에 부착된다. 그리고, 접착부재(160)는 전기 전도성을 가지고 있어 검출장치(200) 및 히트 스프레더(250)가 접착부재(160)들의 상부면에 부착되면 검출장치(200)에 의해 각각의 접착부재(160)들은 전기적으로 서로 연결된다.The
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 검출 장치의 평면도이다.2 is a plan view of a detection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
도 1 및 도 2를 참조하면, 검출장치(200)는 검출기판(210), 접착영역들(220), 연결단자(230)들 및 프로브 삽입홀들(240, 245)을 포함한다. 검출장치(200)는 접착부재(160)들을 전기적으로 연결시켜 히트 스프레더(250)가 BGA 패키지(110)에 완전히 밀착된 상태로 부착되었는지의 여부를 확인하는 장치이기 때문에, 검출기판(210)은 적어도 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장된 BGA 패키지(110)들을 전부 덮는 길이와 폭을 갖도록 제작되어야 한다. 이러한, 크기를 갖는 검출기판(210)은 접착부재(160)에 부착되는 제 1면(211), 히트 스프레더(250)가 부착되는 제 2면(213) 및 제 1면(211)과 제 2면(213)을 연결시키는 복수개의 측면(215)을 갖는다.1 and 2, the
도 2를 참조하면, 제 1면(211)에는 접착영역(220)들 및 연결단자(230)들이 마련된다. 접착영역(220)은 접착부재(160)에 의해 BGA 패키지(110)의 상부면에 부착되는 영역으로, 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장된 BGA 패키지들(110)과 대응되는 부분에 각각 한개씩 마련된다. 앞에서 설명한 바와 같이 4개의 BGA 패키지(110)가 모듈 인쇄회로기판(150)에 실장되므로, 제 1면(211)에도 4개의 접착영역(220)들이 마련된다. 설명의 편의상 검출기판(210)의 왼쪽 가장자리에서부터 길이방향으로 제 1 접착영역(221), 제 2 접착영역(223), 제 3접착영역(225) 및 제 4접착영역(227)이라 한다.Referring to FIG. 2,
연결단자(230)들은 접착부재(160)들 및 전원을 인가하는 프로브(300;도 4참조)에 연결되어 각각의 접착부재(160)들을 전기적으로 도통시키며, 접착부재(160)들 및 프로프(300)를 직렬 연결(Dasiy chain) 방식으로 연결시킨다. 이러한, 연결단자(230)들은 하나의 접착영역(220)에 2개씩 연결된다. 이를 좀더 상세히 설명하면, 제 1 및 제 2 접착영역(221)(223), 제 2 및 제 3접착영역(223)(225), 제 3 및 제 4 접착영역(225)(227)들의 사이에 한개씩의 연결단자(230)들이 형성되어 이들을 상호 연결시킨다. 그리고, 제 1면(211)의 왼쪽 가장자리에서 제 1 접착영역(221)의 가장자리 쪽으로 한개의 연결단자(231)가 연장 형성되고, 제 1면(211)의 오른쪽 가장자리에서 제 4접착영역(227)의 가장자리 쪽으로 한개의 연결단자(233)가 연장 형성된다. 따라서, 제 1면(211)에 4개의 접착영역(220)이 존재할 경우 연결단자(230)들은 5개가 형성된다. The
일예로, 5개의 연결단자(230)들은 제 1면(211)의 동일선상에서 일렬로 배열되고, 각 접착영역(220)들의 가장자리와 오버랩된다. 다른 예로, 도 2에 도시된 바와 같이 5개의 연결단자(230)들이 제 1면(211)에서 지그재그 형태로 배열되고, 각 접착영역(220)들의 모서리부분과 오버랩된다. 즉, 한개의 접착영역(220)에서 2개의 연결단자(230)들은 대각선 방향에 위치한 양쪽 모서리 부근에 각각 형성된다. 여기서, 접착영역(220)의 가장자리 또는 모서리 부근에 연결단자(230)들을 오버랩시키 는 이유는, 검출장치(200)와 함께 히트 스프레더(250)를 BGA 패키지(110)의 상부면에 부착시킬 때 BGA 패키지(110)의 가장자리부분에서 히트 스프레더(250)의 들뜸이 가장 빈번하게 발생되기 때문이다. 이는 BGA 패키지(110)의 중앙부분을 중점적으로 눌러 히트 스프레더(250)를 BGA 패키지(110)의 상부면에 부착시키기 때문이다. For example, the five
상술한 연결단자(230)들은 전기 전도율이 우수한 구리를 이용하여 형성한다.The
도 1을 참조하면, 프로브 삽입홀(240,245))은 연결단자(230)들 중 제 1면(211)의 길이방향 양단부에 위치한 2개의 연결단자(231)(233)를 검출장치(200)의 외부로 노출시킨다. 즉, 제 1접착영역(221)에서 제 1면(211)의 왼쪽 가장자리로 연장된 연결단자(231)에 대응하여 제 1 프로브 삽입홀(240)이 형성되고, 제 4접착영역(227)에서 제 1면(211)의 오른쪽 가장자리로 연장된 연결단자(233)에 대응하여 제 2프로브 삽입홀(245)이 형성된다.Referring to FIG. 1, the probe insertion holes 240 and 245 may include two
히트 스프레더(250)는 검출기판(210)의 제 2면(213)에 고정되어 각각의 BGA 패키지(110))에서 발생된 열을 신속하게 외부로 방출시킨다. 히트 스프레더(250) 중 제 1프로브 삽입홀(240) 및 제 2프로브 삽입홀(245)과 대응되는 부분은 개구되어 프로브(300)와 접속되는 연결단자(230)들을 히트 스프레더(250)의 외부로 노출시킨다.The
도 3은 본 발명의 일실시예에 의하여 모듈 인쇄회로기판에 실장된 BGA 패키지에 접착부재을 부착한 도면이다. 3 is a view showing an adhesive member attached to a BGA package mounted on a module printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
도 3에 도시된 바와 같이, 모듈 인쇄회로기판(150)에 복수개, 예를 들어 4개의 BGA 패키지(110)들이 실장되면, BGA 패키지(110)들의 상부면 각각에 접착성 및 도전성을 갖는 접착부재(160)를 부착시킨다.As shown in FIG. 3, when a plurality of, for example, four
도 4는 본 발명의 일실시예에 의하여 히트 스프레더의 부착 여부를 검출하기 위한 도면이다.4 is a diagram for detecting whether a heat spreader is attached according to an embodiment of the present invention.
각 BGA 패키지(110)에 접착부재(160)들이 부착되면, 도 4에 도시된 바와 같이 히트 스프레더(250)가 고정된 검출장치(200)를 접착부재(160)들 위에 위치시킨다. 이때, 검출장치(200)의 제 1면(211)이 접착부재(160)에 마주보아야 하고, 제 1면(211)에 마련된 접착영역(220)들은 각각의 BGA 패키지(110)들과 대응되는 부분에 위치하여야 한다. 이와 같은 상태로 검출장치(200)를 BGA 패키지(110)들 위에 올려놓으면, 5개의 연결단자(230)들이 각각의 접착부재(160)들을 직렬 연결 방식으로 연결시킨다.When the
히트 스프레더(250)가 고정된 검출장치(200)가 접착부재(160)들의 상부면에 올려지면, 히트 스프레더(250)의 상부면에서 압력을 가하여 검출장치(200)의 제 1면(211)을 접착부재(160)에 부착시킨다.When the
이후, 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)가 접착부재(160)들에 완전히 부착되었는지의 여부를 확인하기 위해서, 검출기(310)와 전기적으로 연결되어 있는 프로브(300)들을 제 1프로브 삽입홀(240)과 제 2 프로브 삽입홀(245)에 삽입한다. 그러면, 제 1 및 제 2프로브 삽입홀(240,245)과 히트 스프레더(250)의 개구를 통해 외부로 노출된 각각의 연결단자(231,233)에 프로브(300)가 접속된다.Thereafter, in order to confirm whether the
이 상태에서 각각의 프로브(300)에 전원을 인가한다. 그러면, 프로브(300), 접착부재(160)들을 연결시키는 각각의 연결단자(230)들 및 접착부재(160)들에 의해 서 검출 장치(200)는 폐루프 상태가 된다.In this state, power is applied to each
만약, BGA 패키지(110)의 상부면에 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)를 부착시키는 과정에서 BGA 패키지(110)에 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)가 완전히 부착되지 않았으면, 부착되지 않은 부분에서 연결단자(230)가 접착부재(160)에 접촉되지 않게 된다. 그러면, 검출 장치(200)가 개루프 상태가 되며 검출기(310)는 히트 스프레더(250)가 모든 BGA 패키지(110)의 상부면에 완전히 부착되지 않았다고 판단한다. If the
이와 반대로, BGA 패키지(110)의 상부면에 히트 스프레더(250) 및 검출장치(200)가 완전히 부착되었으면, 각각의 연결단자(230)들이 접착부재(160)에 완전히 접촉된다. 따라서, 프로브(300)를 통해 인가된 전원은 연결단자(230)들를 통해 각각의 접착부재(160)에 전달되므로 검출 장치(200)는 폐루프 상태가 된다. 따라서, 검출기(310)는 히트 스프레더(250)가 모든 BGA 패키지(110)의 상부면에 완전히 부착되었다고 판단한다.On the contrary, if the
앞에서 설명한 바와 같이 메모리 모듈(100)에 실장된 각각의 BGA 패키지(110)들의 상부면에 도전성을 갖는 접착부재(160)를 부착하고, 접착부재(160)들 위에 히트 스프레더(250)가 고정된 검출 장치(200)를 부착한 상태에서 검출장치(200)에 전원을 인가하면, 접착부재(160)들 및 이들을 전기적으로 도통시키는 연결단자(230)들에 의해 히트 스프레더(250)가 모든 BGA 패키지(110)에 완전히 부착되었는 지의 여부를 빠른 시간 내에 쉽게 확인할 수 있다. As described above, the conductive
이상, 여기에서는 본 발명을 특정 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지 만, 본 발명이 그에 한정되는 것은 아니며, 이하의 특허청구의 범위는 본 발명의 정신과 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변형될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 알 수 있다. Hereinbefore, the present invention has been illustrated and described with reference to specific embodiments, but the present invention is not limited thereto, and the scope of the following claims is not limited to the spirit and scope of the present invention. It will be readily apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made.
본 발명에서와 같이 반도체 패키지들의 상부면 각각에 도전성을 갖는 접착부재를 부착하고, 접착부재 위에 히트 스프레더가 고정된 검출 장치를 부착한 상태에서 전원을 인가할 경우, 메모리 모듈에 많은 개수의 반도체 패키지들이 실장되어도 각각의 반도체 패키지들의 상부면에 히트 스프레더가 완전히 부착되었는지의 여부를 빠른 시간 내에 쉽게 확인할 수 있어 검출 시간을 크게 줄일 수 있는 효과가 있다.As in the present invention, when a conductive adhesive member is attached to each of the upper surfaces of the semiconductor packages, and power is applied while a detection device having a heat spreader fixed thereto is attached to the adhesive member, a large number of semiconductor packages are attached to the memory module. Even if they are mounted, it is possible to easily check whether or not the heat spreader is completely attached to the upper surfaces of the respective semiconductor packages in a short time, thereby reducing the detection time.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060038354A KR20070105771A (en) | 2006-04-27 | 2006-04-27 | Memory module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060038354A KR20070105771A (en) | 2006-04-27 | 2006-04-27 | Memory module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070105771A true KR20070105771A (en) | 2007-10-31 |
Family
ID=38819184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060038354A KR20070105771A (en) | 2006-04-27 | 2006-04-27 | Memory module |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20070105771A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9684345B2 (en) | 2012-11-26 | 2017-06-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Secondary memory device |
-
2006
- 2006-04-27 KR KR1020060038354A patent/KR20070105771A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9684345B2 (en) | 2012-11-26 | 2017-06-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Secondary memory device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6198162B1 (en) | Method and apparatus for a chip-on-board semiconductor module | |
JP4295585B2 (en) | Semiconductor chip package with adhesive tape attached to bonding wire | |
KR100260997B1 (en) | Semiconductor package | |
US9253894B2 (en) | Electronic assembly with detachable components | |
US7018871B2 (en) | Solder masks for use on carrier substrates, carrier substrates and semiconductor device assemblies including such solder masks, and methods | |
US6577004B1 (en) | Solder ball landpad design to improve laminate performance | |
KR101933364B1 (en) | Semiconductor device including independent film layer for embedding and/or spacing semiconductor die | |
KR101177925B1 (en) | Low profile wire bonded usb device | |
US6072700A (en) | Ball grid array package | |
US7368391B2 (en) | Methods for designing carrier substrates with raised terminals | |
US6903464B2 (en) | Semiconductor die package | |
KR100236016B1 (en) | Stacked type semiconductor package and assembly method thereof | |
US7030487B1 (en) | Chip scale packaging with improved heat dissipation capability | |
US5396032A (en) | Method and apparatus for providing electrical access to devices in a multi-chip module | |
US20110222252A1 (en) | Electronic assembly with detachable components | |
US11562948B2 (en) | Semiconductor package having step cut sawn into molding compound along perimeter of the semiconductor package | |
US7054161B1 (en) | Slotted adhesive for die-attach in BOC and LOC packages | |
US20110223695A1 (en) | Electronic assembly with detachable components | |
KR20070105771A (en) | Memory module | |
US7652383B2 (en) | Semiconductor package module without a solder ball and method of manufacturing the semiconductor package module | |
JP2001344587A (en) | Printed wiring board and module for ic card using the same and method for manufacturing the same | |
KR100533761B1 (en) | semi-conduSSor package | |
US20080087999A1 (en) | Micro BGA package having multi-chip stack | |
KR102068162B1 (en) | Terminal structure of chip package | |
KR20110137060A (en) | Semiconductor package |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |