KR20070038727A - Tape mount and peeling apparatus for wafer - Google Patents

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KR20070038727A
KR20070038727A KR1020050093972A KR20050093972A KR20070038727A KR 20070038727 A KR20070038727 A KR 20070038727A KR 1020050093972 A KR1020050093972 A KR 1020050093972A KR 20050093972 A KR20050093972 A KR 20050093972A KR 20070038727 A KR20070038727 A KR 20070038727A
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한동철
양희상
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삼성전자주식회사
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Abstract

본 발명은 테이프 부착 및 제거 장치에 관한 것이다. 다이싱 테이프의 부착과 보호 테이프의 제거가 서로 다른 장치에서 이루어짐으로 인하여 발생되는 핸들링(handling) 불량이나 웨이퍼 파손 등을 개선하기 위하여, 본 발명은 다이싱 테이프의 부착을 위한 마운트 테이블(mount table)과 테이프 부착기, 보호 테이프의 제거를 위한 필링 테이블(peeling table)과 테이프 제거기, 웨이퍼 링 또는 웨이퍼가 고정된 웨이퍼 링의 이송 및 상하 위치 반전을 담당하는 제1,2 이송수단, 및 웨이퍼의 이송을 담당하는 웨이퍼 이송 로봇을 구비하는 테이프 부착 및 제거 장치를 제공한다. 이에 의하면, 다이싱 테이프의 부착과 보호 테이프의 제거가 연속적으로 이루어지기 때문에 웨이퍼의 이동 경로가 최소화되고 이동 시간이 단축된다. 따라서, 취급 과정에서의 핸들링 불량 또는 웨이퍼 손상 등을 방지하며 생산성 및 공정 수율을 향상시킬 수 있다. 또한, 독립적인 설비의 구축이 필요하지 않아 설비비용이 감소될 수 있다.The present invention relates to a tape attachment and removal device. The present invention provides a mount table for attaching a dicing tape in order to improve handling failure or wafer breakage caused by the attachment of the dicing tape and the removal of the protective tape from different devices. And a tape table for removing the protective tape and a tape attacher, a tape remover, first and second transfer means for transferring the wafer ring or the wafer ring to which the wafer is fixed and reversing the vertical position, and the wafer transfer. A tape attaching and removing device having a wafer transfer robot in charge is provided. According to this, since the attachment of the dicing tape and the removal of the protective tape are continuously performed, the movement path of the wafer is minimized and the movement time is shortened. Accordingly, poor handling or wafer damage during handling can be prevented and productivity and process yield can be improved. In addition, it is not necessary to build an independent facility can reduce the cost of the facility.

테이프 부착, 테이프 제거, 보호 테이프, 다이싱 테이프, 인라인 Tape Attachment, Tape Removal, Protection Tape, Dicing Tape, Inline

Description

웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치{TAPE MOUNT AND PEELING APPARATUS FOR WAFER}Tape attaching and removing device for wafers {TAPE MOUNT AND PEELING APPARATUS FOR WAFER}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치의 구조를 보여주는 사시도,1 is a perspective view showing the structure of a tape attaching and removing device for a wafer according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치에서 테이프 부착기의 개략적인 구성도,2 is a schematic configuration diagram of a tape attaching device in a tape attaching and removing device according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치에서 테이프 제거기의 개략적인 구성도,3 is a schematic configuration diagram of a tape remover in the tape attaching and removing device according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치의 클리닝 바의 개략적인 단면도,4 is a schematic cross-sectional view of a cleaning bar of the tape attaching and removing device according to the present invention;

도 5는 본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에서 바코드 라벨러의 결합 구조를 보여주는 사시도,5 is a perspective view showing a coupling structure of a barcode labeler in a tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention;

도 6a와 도 6b는 바코드 라벨러의 결합 동작을 보여주는 동작 상태도,6a and 6b is an operation state diagram showing the coupling operation of the barcode labeler,

도 7a 내지 도 7i는 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치의 동작을 보여주는 평면도, 및7A to 7I are plan views showing the operation of the tape attaching and removing device for a wafer according to the embodiment of the present invention, and

도 8a와 도 8b는 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치의 다이싱 테이프 부착 동작을 개략적으로 보여주는 단면도이다.8A and 8B are cross-sectional views schematically showing the dicing tape attaching operation of the tape attaching and removing device according to the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10; 웨이퍼 20; 웨이퍼 링10; Wafer 20; Wafer ring

30; 보호 테이프 40; 다이싱 테이프30; Protective tape 40; Dicing tape

41; 라이너 필름(liner film) 50; 카세트41; Liner film 50; cassette

100; 테이프 부착 및 제거 장치 110; 하부 프레임부100; Tape attachment and removal device 110; Lower frame part

111; 웨이퍼 이송 로봇 115; 자외선 조사기111; Wafer transfer robot 115; Ultraviolet irradiator

117; 웨이퍼 링 적재기 119; 제1 이송수단117; Wafer ring loader 119; First transfer means

121; 제2 이송수단 125; 가이드 레일121; Second conveying means 125; Guide rail

130; 마운트 테이블 150; 필링 테이블130; Mount table 150; Peeling table

160; 테이블 클리너 161; 클리닝 바160; Table cleaner 161; Cleaning bar

163; 공기 분사구 165; 진공 흡입구163; Air nozzle 165; Vacuum inlet

170; 바코드 라벨러 180; 카세트 적재기170; Barcode labeler 180; Cassette loader

185; 푸셔 190; 결합 가이드185; Pusher 190; Joining guide

193; 결합 축 194; 단차 홈193; Coupling axis 194; Step groove

195; 축 고정 실린더 유닛 196; 고정 블록195; Axial fixed cylinder unit 196; Fixed block

210; 상부 프레임부 230; 테이프 부착기210; Upper frame portion 230; Tape attacher

231; 테이프 공급 롤 233; 라이너 필름 회수 롤231; Tape feed roll 233; Liner film recovery roll

235; 보조 롤러 유닛 237; 프레스 롤러 유닛235; Auxiliary roller unit 237; Press roller unit

239; 테이프 수거 롤 241; 절단기(cutter)239; Tape collection roll 241; Cutter

243; 절단 날243; Cutting blade

245; 보조 롤 250; 테이프 제거기245; Secondary roll 250; Tape remover

251; 테이프 공급 롤 253; 필링 바251; Tape feed roll 253; Peeling bar

255; 핀치 롤 257; 테이프 수거 롤255; Pinch roll 257; Tape collection rolls

261; 히팅 블로우 유닛 300; 웨이퍼 배면 연삭 장치261; Heating blow unit 300; Wafer back grinding device

330; 스핀 테이블330; Spin table

본 발명은 반도체 제조 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 다이싱 테이프를 부착하고 보호 테이프를 제거하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and more particularly, to a tape attaching and removing device for a wafer for attaching a dicing tape and removing a protective tape.

최근 웨이퍼의 다이 수율 증가를 통한 생산성 향상 및 제조 원가 절감, 패키지 경량화 및 소형화 추세가 가속되어 가고 있다. 이를 만족시키기 위하여 웨이퍼 대구경화 및 박형화의 구현이 필수적이다. 배면 연삭(back grinding)은 박형화 구현을 위한 기술의 하나로서 웨이퍼 조립 공정(fabrication)이 완료되어 집적회로가 형성된 웨이퍼에서 집적회로가 형성된 활성면의 반대쪽 면인 배면(背面)을 집적회로에 영향을 주지 않을 정도의 두께만큼 연삭하여 웨이퍼의 두께를 줄이는 기술이다.In recent years, the increase in die yield of wafers has led to an increase in productivity, manufacturing cost reduction, package weight reduction, and miniaturization. In order to satisfy this, it is essential to realize wafer large diameter and thinning. Back grinding is one of the technologies for thinning, and it does not affect the integrated circuit, which is the opposite side of the active surface where the integrated circuit is formed on the wafer where the fabrication process is completed and the integrated circuit is formed. It is a technology to reduce the thickness of the wafer by grinding as much as the thickness.

웨이퍼의 집적회로가 형성된 활성면에는 배면 연삭 과정의 진행 중에 집적회로 손상을 방지하기 위하여 보호 테이프가 부착된다. 배면 연삭이 완료되면, 보호 테이프는 웨이퍼의 활성면에서 제거된다. 그리고, 웨이퍼 소잉(wafer sawing) 과정에서의 칩 이탈 방지를 위하여 웨이퍼의 배면에는 다이싱 테이프가 부착된다. 이때, 웨이퍼는 웨이퍼 링(wafer ring)과 함께 다이싱 테이프(dicing tape)가 부착된다.A protective tape is attached to the active surface on which the integrated circuit of the wafer is formed to prevent damage to the integrated circuit during the back grinding process. When back grinding is complete, the protective tape is removed from the active side of the wafer. A dicing tape is attached to the back surface of the wafer to prevent chip detachment during wafer sawing. In this case, the wafer is attached with a dicing tape together with a wafer ring.

웨이퍼 배면 연삭에 의해 8인치(200㎜), 12인치(300㎜) 또는 그 이상의 대구경 웨이퍼의 두께를 얇게 할 수 있다. 그러나, 웨이퍼 구경이 커질수록 그리고 웨이퍼 두께가 얇아질수록 배면 연삭 과정 및 그 후에 웨이퍼 휨(wafer warpage)이 심하게 발생되고 웨이퍼 자체 무게로 인한 쳐짐이 발생된다.Wafer back grinding allows thinning of large diameter wafers of 8 inches (200 mm), 12 inches (300 mm) or more. However, larger wafer apertures and thinner wafer thicknesses result in severe back grinding and subsequent wafer warpage and sag due to the wafer's own weight.

이에 따라, 배면 연삭 공정 후 웨이퍼 카세트(wafer cassette)에 웨이퍼를 적재하는 작업, 웨이퍼 카세트로부터 웨이퍼를 픽업(pickup)하여 보호 테이프를 제거하는 작업, 웨이퍼 배면에 다이싱 테이프를 부착하는 작업, 다이싱 테이프에 일련의 웨이퍼 조립 공정의 내력을 확인할 수 있도록 바코드 라벨(bar code label)을 부착하는 라벨링(labeling) 작업 등 일련의 작업 과정에서 핸들링(handling) 불량이나 웨이퍼 오염 및 파손 등이 발생되어, 생산성 저하 및 수율 저하를 초래한다.Accordingly, after the back grinding process, the wafer is loaded into a wafer cassette, the wafer is picked up from the wafer cassette to remove the protective tape, the dicing tape is attached to the wafer back surface, and dicing. During the series of operations, such as labeling to attach a bar code label to the tape to verify the history of the wafer assembly process, handling failure, wafer contamination and breakage may occur. Results in lowering and lowering yield.

본 발명의 목적은 장치간 웨이퍼의 이동 경로를 최소화하여 웨이퍼 취급 과정에서 핸들링 불량이나 웨이퍼 오염 및 파손의 발생을 방지하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치를 제공하는 데에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an apparatus for attaching and removing a tape for a wafer which minimizes a movement path of the wafer between devices to prevent the occurrence of poor handling or wafer contamination and breakage during wafer handling.

본 발명의 다른 목적은 다이싱 테이프의 부착과 보호 테이프의 제거가 하나의 장치에서 이루어질 수 있도록 하여 설비 비용을 감소시킬 수 있는 웨이퍼용 테 이프 부착 및 제거 장치를 제공하는 데에 있다.Another object of the present invention is to provide a tape attachment and removal device for a wafer that can reduce the installation cost by allowing the attachment of the dicing tape and removal of the protective tape to be performed in one device.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 웨이퍼 링이 적재되는 웨이퍼 링 적재기(wafer ring stacker); 웨이퍼와 웨이퍼 링이 안착되어 고정되는 마운트 테이블과(tape mount table); 다이싱 테이프를 상기 웨이퍼의 배면과 상기 웨이퍼 링에 부착시키는 다이싱 테이프 부착기; 웨이퍼의 활성면에 부착된 보호 테이프에 자외선을 조사하는 자외선 조사기; 웨이퍼 로딩 위치에서 웨이퍼를 픽업하여 자외선 조사기로 공급하고, 자외선 조사가 완료된 테이프를 마운트 테이블로 이송시키는 웨이퍼 이송 로봇; 웨이퍼 링 적재기에서 웨이퍼 링을 마운트 테이블로 이송하는 제1 이송수단; 보호 테이프가 부착된 웨이퍼와 웨이퍼 링이 안착되어 고정되는 필링 테이블(tape peeling table); 마운트 테이블에서 웨이퍼와 웨이퍼 링을 상하 반전시켜 필링 테이블로 이송하는 제2 이송수단; 필링 테이블에 탑재된 웨이퍼의 활성면에 부착된 보호 테이프를 분리시키는 보호 테이프 제거기; 웨이퍼와 웨이퍼 링 수납용 카세트가 적재되는 카세트 적재기; 및 다이싱 테이프가 부착된 웨이퍼와 웨이퍼 링을 상기 카세트 적재기의 카세트에 수납하는 제3 이송수단;을 포함하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention is a wafer ring stacker (wafer ring stacker) is loaded; A mount table to which the wafer and the wafer ring are seated and fixed; A dicing tape attacher attaching a dicing tape to the back side of the wafer and the wafer ring; An ultraviolet irradiator for irradiating ultraviolet rays to the protective tape attached to the active surface of the wafer; A wafer transfer robot that picks up a wafer at a wafer loading position and supplies the wafer to an ultraviolet irradiator and transfers the tape on which the ultraviolet irradiation is completed to a mount table; First transfer means for transferring the wafer ring from the wafer ring loader to the mounting table; A peeling table to which the wafer with the protection tape is attached and the wafer ring are seated and fixed; Second transfer means for transferring the wafer and the wafer ring up and down from the mounting table to the filling table; A protective tape remover separating the protective tape attached to the active surface of the wafer mounted on the filling table; A cassette stacker on which a wafer and a wafer ring storage cassette are stacked; And third transfer means for accommodating the wafer and the wafer ring to which the dicing tape is attached to the cassette of the cassette stacker.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치는 웨이퍼 링 적재기, 웨이퍼 이송 로봇, 마운트 테이블, 필링 테이블, 카세트 적재기로 하부 프레임부가 구성되고, 테이프 부착기와 테이프 제거기로 상부 프레임부가 구성되며, 하부 프레임과 상부 프레임이 2층 구조를 갖는 것이 바람직하다.Tape attaching and removing device for wafers according to the present invention comprises a lower frame portion consisting of a wafer ring loader, a wafer transfer robot, a mounting table, a filling table, a cassette loader, and an upper frame portion composed of a tape attacher and a tape remover, It is preferable that the upper frame has a two-layer structure.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치는 웨이퍼 표면의 아이디를 읽어 웨이퍼와 웨이퍼 링 사이의 다이싱 테이프 상에 바코드 라벨을 부착시키는 바코드 라벨러(bar code labeller)를 더 포함할 수 있다.The tape attachment and removal device for a wafer according to the present invention may further include a bar code labeler for reading the ID of the wafer surface and attaching the barcode label on the dicing tape between the wafer and the wafer ring.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 웨이퍼 이송 로봇은 이웃하는 웨이퍼 배면 연삭 장치에서 배면 연삭 완료된 웨이퍼를 픽업하여 자외선 조사기로 이송하도록 구성된 것이 바람직하다.In the tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention, the wafer transfer robot is preferably configured to pick up the back ground wafer from a neighboring wafer back grinding device and transfer the wafer to the ultraviolet irradiator.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 공기를 분사하고 진공으로 파티클(particle)을 흡입하여 마운트 테이블과 필링 테이블 상의 파티클을 제거하는 테이블 클리너(table cleaner)를 포함하는 것이 바람직하다.In the tape attaching and removing device for wafers according to the present invention, it is preferable to include a table cleaner which blows air and sucks particles in a vacuum to remove particles on the mounting table and the filling table.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 자외선 조사기, 웨이퍼 링 적재기 및 바코드 라벨러의 장착과 탈착을 안내하는 가이드를 갖는 것이 바람직하다. 더욱 바람직하게는 어느 한 쪽 부분에 결합 축을 설치하고 다른 쪽 부분에 결합 축을 고정시키는 축 고정 실린더 고정 유닛이 설치되도록 한다.In the tape attaching and removing device for wafers according to the present invention, it is preferable to have a guide for guiding the attachment and detachment of the ultraviolet irradiator, the wafer ring loader and the barcode labeler. More preferably, the shaft fixing cylinder fixing unit for installing the coupling shaft in one portion and fixing the coupling shaft in the other portion is provided.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 테이프 부착기는 다이싱 테이프를 공급하는 공급 롤과 다이싱 테이프를 회수하는 수거 롤, 그리고 압력을 가해 테이프를 접착하기 위한 프레스 롤러 유닛(press roller unit), 다이싱 테이프 이송을 위한 보조 롤을 포함할 수 있다. 바람직하게는 라이너 필름(liner film)을 회수하는 라이너 필름 회수 롤을 더 포함한다. 또한, 말단이 라운드 처리된 프리컷 테이프(pre-cut tape)용 필링 바(peeling bar)를 포함한다.In the tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention, the tape attaching unit is a supply roll for supplying a dicing tape, a collection roll for recovering the dicing tape, and a press roller unit for applying pressure to adhere the tape. unit), and an auxiliary roll for dicing tape transfer. Preferably further comprises a liner film recovery roll for recovering the liner film (liner film). It also includes a peeling bar for pre-cut tape that is rounded at the end.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 테이프 제거 기는 테이프 제거용 테이프를 공급하는 공급 롤과 테이프 제거용 테이프에 접착되어 제거되는 보호 테이프를 수거하는 수거 롤을 포함할 수 있다. 여기서, 테이프 제거기는 제거하고자 하는 보호 테이프의 표면에 테이프 제거 테이프를 접착하는 필링 바 또는 제거 롤 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 필링 바는 말단이 라운드 처리된 것이 바람직하다.In the tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention, the tape remover may include a supply roll for supplying the tape for removing the tape and a collection roll for collecting the protective tape adhered to and removed from the tape for removing the tape. Here, the tape remover may include at least one of a peeling bar or a removal roll that adheres the tape removing tape to the surface of the protective tape to be removed. The peeling bar is preferably rounded at its ends.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 테이프 제거기에 인접 설치되어 분리되기 전의 보호 테이프에 가열 공기를 분사하는 히팅 블로우 유닛(heating blow unit)을 더 포함하는 것이 바람직하다.In the tape attaching and removing device for wafers according to the present invention, it is preferable to further include a heating blow unit for injecting heating air to the protective tape before being detached and detached from the tape remover.

본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 있어서, 제3 이송수단은 다이싱 테이프가 부착되고 보호 테이프가 제거된 웨이퍼와 웨이퍼 링이 놓여지는 가이드 레일과, 상기 가이드 레일 상의 웨이퍼와 웨이퍼 링을 카세트에 수납하는 푸셔(pusher)를 포함할 수 있다.In the tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention, the third conveying means comprises a guide rail on which a wafer ring with a dicing tape attached and a protective tape is removed and a wafer ring are placed, and a wafer and a wafer ring on the guide rail. It may include a pusher for storing in the cassette.

이하 첨부 도면을 참조하여 본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치의 실시예를 상세하게 설명하고자 한다. 단, 배면 연삭 장치와 인-라인으로 구성된 예로 설명한다. 그러나 본 발명의 장치는 필수적으로 배면 연삭 장치와 인-라인으로 구성될 필요는 없다는 것을 밝혀 둔다.Hereinafter, embodiments of a tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, it demonstrates as an example which consists of a back grinding apparatus and an in-line. However, it should be noted that the apparatus of the present invention does not necessarily need to consist of a back grinding apparatus and an in-line.

실시예Example

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치의 구조를 보여주는 사시도이다.1 is a perspective view showing the structure of a tape attaching and removing device for a wafer according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치(100)는 다이싱 테이프(40)의 부착과 보호 테이프(30)의 제거 등 주 작업이 수행되는 상부 프레임부(210)와 작업을 위한 이동과 대기 및 작업이 완료 후 언로딩 등 보조 작업이 이루어지는 하부 프레임부(110)를 포함하며, 하부 프레임부(110)와 상부 프레임부(210)가 2층으로 배치된 구조이다.Referring to FIG. 1, the tape attaching and removing device 100 according to the present invention works with the upper frame portion 210 in which main operations such as attaching the dicing tape 40 and removing the protective tape 30 are performed. It includes a lower frame unit 110, the lower frame unit 110 and the auxiliary frame, such as unloading after the movement and waiting for the work is completed, the lower frame unit 110 and the upper frame unit 210 is arranged in two layers.

하부 프레임부(110)는 웨이퍼 이송 로봇(111), 자외선 조사기(115), 웨이퍼 링 적재기(117), 마운트 테이블(130), 필링 테이블(150), 테이블 클리너(160), 카세트 적재기(180) 등을 포함한다. 상부 프레임부(210)는 테이프 부착기(230)와 테이프 제거기(250), 바코드 라벨러(170)를 포함한다. 그리고, 웨이퍼 링(20) 또는 웨이퍼(10)가 고정된 웨이퍼 링(20)의 이송을 담당하는 제1,2 이송수단(119,121), 가이드 레일(125) 및 푸셔(185)를 포함한다.The lower frame part 110 includes a wafer transfer robot 111, an ultraviolet irradiator 115, a wafer ring loader 117, a mounting table 130, a peeling table 150, a table cleaner 160, and a cassette loader 180. And the like. The upper frame portion 210 includes a tape attacher 230, a tape remover 250, and a barcode labeler 170. The first and second transfer means 119 and 121, the guide rail 125, and the pusher 185, which are responsible for the transfer of the wafer ring 20 or the wafer ring 20 to which the wafer 10 is fixed, are included.

마운트 테이블(130)은 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)이 탑재 및 고정되는 유닛으로서 다이싱 테이프(40)의 부착을 위해 제공된다. 마운트 테이블(130)은 진공에 의해 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)을 고정하며, 공압 실린더, 유압 실린더, 모터 등에 의해 수직 운동이 가능하도록 구성된다.The mount table 130 is provided for attachment of the dicing tape 40 as a unit on which the wafer 10 and the wafer ring 20 are mounted and fixed. The mount table 130 fixes the wafer 10 and the wafer ring 20 by vacuum, and is configured to enable vertical movement by a pneumatic cylinder, a hydraulic cylinder, a motor, and the like.

필링 테이블(150)은 다이싱 테이프(40)의 부착이 완료된 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)이 탑재 및 고정되는 유닛으로서, 보호 테이프(30) 제거를 위해 제공된다. 필링 테이블(150)은 마운트 테이블(130)과 마찬가지로 공압 실린더, 유압 실린더, 모터 등에 의해 수직 운동이 가능하도록 구성된다. 필링 테이블(150)은 예를 들어, 원판 형태의 다공성(porous) 테이블로 구성되어 진공에 의해 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)을 고정한다. 필링 테이블(150)은 마운트 테이블(130)과 열을 이룬다.The peeling table 150 is a unit on which the wafer 10 and the wafer ring 20 on which the dicing tape 40 is attached are mounted and fixed, and are provided for removing the protective tape 30. The peeling table 150 is configured to enable vertical movement by a pneumatic cylinder, a hydraulic cylinder, a motor, and the like as the mount table 130. The filling table 150 may be, for example, a porous table in the form of a disc to fix the wafer 10 and the wafer ring 20 by vacuum. The filling table 150 forms a column with the mounting table 130.

테이블 클리너(160)는 마운트 테이블(130)과 필링 테이블(150) 상의 파티클을 제거하는 유닛으로서, 테이블(130,150)을 가로지르는 클리닝 바(161)를 포함한다. 마운트 테이블(130)과 필링 테이블(150)의 소정 높이에서 주기적으로 수평 구동한다. 테이블 클리너(160)는 마운트 테이블(130)과 필링 테이블(150)간 클리닝 바(161)가 이동하면서 공기와 진공으로 파티클을 제거하는 기능을 수행한다.The table cleaner 160 is a unit for removing particles on the mounting table 130 and the peeling table 150, and includes a cleaning bar 161 crossing the tables 130 and 150. At a predetermined height of the mounting table 130 and the filling table 150, the horizontal driving is performed periodically. The table cleaner 160 removes particles by air and vacuum while the cleaning bar 161 moves between the mount table 130 and the peeling table 150.

웨이퍼 링 적재기(117)는 웨이퍼 링(20)이 적재되는 유닛이며, 웨이퍼 링(20)이 승강 가능하게 구성된다. 자외선 조사기(115)는 웨이퍼(10)에 부착된 보호 테이프(30)에 자외선을 조사하여 보호 테이프(30)의 접착력을 약화시키는 유닛이다.The wafer ring loader 117 is a unit on which the wafer ring 20 is loaded, and the wafer ring 20 is configured to be liftable. The ultraviolet irradiator 115 irradiates ultraviolet rays to the protective tape 30 attached to the wafer 10 to weaken the adhesive force of the protective tape 30.

웨이퍼 이송 로봇(111)은 웨이퍼(10)를 이송하는 유닛이다. 웨이퍼 이송 로봇(111)을 중심으로 자외선 조사기(115)와 웨이퍼 링 적재기(117)가 양쪽에 배치된다. 그리고, 웨이퍼 이송 로봇(111)은 웨이퍼 배면 연삭 장치(300)의 스핀 테이블(330)에 인접한다. 자외선 조사기(115)와 웨이퍼 이송 로봇(111) 및 웨이퍼 링 적재기(117)는 마운트 테이블(130)과 필링 테이블(150)이 이루는 열과 평행하게 일렬로 배치된다.The wafer transfer robot 111 is a unit for transferring the wafer 10. The ultraviolet irradiator 115 and the wafer ring loader 117 are disposed on both sides of the wafer transfer robot 111. The wafer transfer robot 111 is adjacent to the spin table 330 of the wafer back grinding device 300. The ultraviolet irradiator 115, the wafer transfer robot 111, and the wafer ring loader 117 are arranged in a line in parallel with the rows formed by the mount table 130 and the peeling table 150.

바코드 라벨러(170)는 웨이퍼(10) 표면의 아이디를 읽고 그 정보에 대응되는 바코드 라벨을 부착시키는 유닛이다. 바코드 라벨러(170)는 필링 테이블(150)과 이웃하는 위치에 설치되어 보호 테이프(30)의 제거가 완료된 웨이퍼(10)에 부착된 다 이싱 테이프(40)에 라벨링을 실시하도록 구성된다. 이 바코드 라벨러(170)는 모듈로 구성되어 필요시에만 장착하여 사용할 수 있게 구성된다.The barcode labeler 170 is a unit that reads an ID of the surface of the wafer 10 and attaches a barcode label corresponding to the information. The barcode labeler 170 is configured to label the dicing tape 40 installed at the position adjacent to the peeling table 150 and attached to the wafer 10 on which the protection tape 30 has been removed. The barcode labeler 170 is configured as a module so that it can be mounted and used only when necessary.

테이프 부착기(230)는 마운트 테이블(130)에 놓여진 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)에 다이싱 테이프(40)를 부착하는 유닛으로서, 마운트 테이블(130) 상부에 설치된다. 테이프 제거기(250)는 필링 테이블(150)에 놓여진 웨이퍼(10)의 보호 테이프(30)를 제거하는 유닛으로서, 필링 테이블(150) 상부에 위치한다.The tape attacher 230 is a unit attaching the dicing tape 40 to the wafer 10 and the wafer ring 20 placed on the mount table 130, and is installed on the mount table 130. The tape remover 250 is a unit for removing the protective tape 30 of the wafer 10 placed on the peeling table 150 and is positioned above the peeling table 150.

제1 이송수단(119)과 제2 이송수단(121)은 웨이퍼 링(20)을 진공으로 픽업하는 흡착 유닛(120)을 포함하며, 수직 운동 및 회전 운동이 가능하도록 구성된다. 제1 이송수단(119)은 웨이퍼 링 적재기(117)에 적재된 웨이퍼 링(20)을 픽업하여 마운트 테이블(130)로 이송하는 기능을 수행한다. 또한, 다이싱 테이프(40)가 부착된 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)을 마운트 테이블(130)에서 필링 테이블(150)로 이송하기 전에 일시 픽업하는 기능을 수행한다. 제2 이송수단(121)은 제1 이송수단(119)에서 일시 픽업된 다이싱 테이프(40) 부착이 완료된 웨이퍼(10)를 전달받아 상하 위치 반전시켜 필링 테이블(150)로 이송하는 기능을 수행한다.The first transfer means 119 and the second transfer means 121 include an adsorption unit 120 for picking up the wafer ring 20 in a vacuum, and configured to enable vertical movement and rotational movement. The first transfer means 119 picks up the wafer ring 20 loaded on the wafer ring loader 117 and transfers the wafer ring 20 to the mount table 130. In addition, the wafer 10 and the wafer ring 20 to which the dicing tape 40 is attached are temporarily picked up before being transferred from the mounting table 130 to the filling table 150. The second transfer means 121 receives the wafer 10 on which the dicing tape 40 is temporarily picked up from the first transfer means 119 and receives the wafer 10 and inverts the up and down positions to transfer the filling table 150 to the filling table 150. do.

가이드 레일(125)은 필링 테이블(150)의 주변에 설치되어 보호 테이프 제거가 완료된 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)이 놓여질 수 있도록 구성된다. 푸셔(185)는 가이드 레일(125)에 놓여진 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)을 밀어 후술되는 카세트 적재기(180)에 대기중인 카세트(50)에 수납시키는 기능을 수행한다.The guide rail 125 is installed around the peeling table 150 and configured to place the wafer 10 and the wafer ring 20 on which the protective tape is removed. The pusher 185 pushes the wafer 10 and the wafer ring 20 placed on the guide rail 125 to accommodate the cassette 50 in the cassette stacker 180 which will be described later.

카세트 적재기(180)는 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)을 수납하는 카세트(50)가 적재되며 승강 가능하도록 구성된다.The cassette stacker 180 is configured such that the cassette 50 for accommodating the wafer 10 and the wafer ring 20 is loaded and liftable.

주요 구성 유닛에 대하여 이하에서 좀 더 상세하게 설명하기로 한다.The main structural unit will be described in more detail below.

도 2는 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치에서 테이프 부착기의 개략적인 구성도이다.2 is a schematic configuration diagram of a tape attaching machine in a tape attaching and removing device according to the present invention.

도 2를 참조하면, 테이프 부착기(230)는 테이프 공급 롤(231)과 프레스 롤러 유닛(237), 보조 롤러 유닛(235), 필링 바(249), 절단기(cutter; 241), 테이프 수거 롤(239), 라이너 수거 롤(233), 핀치 롤(pinch roll; 255) 등을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 2, the tape attacher 230 includes a tape feed roll 231, a press roller unit 237, an auxiliary roller unit 235, a peeling bar 249, a cutter 241, and a tape collection roll ( 239), a liner collection roll 233, a pinch roll 255, and the like.

테이프 공급 롤(231)은 다이싱 테이프(40)를 공급한다. 테이프 수거 롤(239)은 절단 후 불필요한 잔여 테이프 부분이 감겨진다. 테이프 공급 롤(231)과 테이프 수거 롤(239)은 모터를 이용하여 미리 설정한 폭으로 자동으로 조정되도록 구성될 수 있다.The tape feed roll 231 supplies the dicing tape 40. The tape collection roll 239 is wound with unnecessary residual tape portions after cutting. The tape feed roll 231 and the tape collection roll 239 may be configured to automatically adjust to a preset width using a motor.

프레스 롤러 유닛(237)은 다이싱 테이프(40)를 웨이퍼(10) 및 웨이퍼 링(20)에 압착시키는 역할을 수행한다. 보조 롤러 유닛(235)에 의해 웨이퍼(10)에 부착되지 않은 다이싱 테이프(40) 부분이 분리된다. 프레스 롤러 유닛(237)과 보조 롤러유닛(235)은 마운트 테이블(130)의 상부를 이동하며 작업을 수행한다.The press roller unit 237 compresses the dicing tape 40 to the wafer 10 and the wafer ring 20. A portion of the dicing tape 40 not attached to the wafer 10 is separated by the auxiliary roller unit 235. The press roller unit 237 and the auxiliary roller unit 235 move the upper part of the mount table 130 to perform a job.

라이너 필름 회수 롤(233)은 다이싱 테이프(40)에서 분리된 라이너 필름(41)을 감는 역할을 수행한다. 여기서, 라이너 필름 회수 롤(233)은 선택적으로 동작되도록 구성되어, 필요할 경우에만 동작을 수행한다. 이에 따라, 라이너 필름이 없는 다이싱 테이프, 라이너 필름을 가진 다이싱 테이프, 웨이퍼 링에 맞게 미리 절단된 프리컷 다이싱 테이프 등 다양한 종류의 다이싱 테이프(40)의 사용이 모두 가능하 다.The liner film recovery roll 233 serves to wind the liner film 41 separated from the dicing tape 40. Here, the liner film recovery roll 233 is configured to be selectively operated to perform the operation only when necessary. Accordingly, various types of dicing tapes 40 can be used, such as a dicing tape without a liner film, a dicing tape with a liner film, and a precut dicing tape precut to fit the wafer ring.

핀치 롤(255)은 보조 롤러 유닛(235)과 수거 롤(239) 사이에 잔여 테이프가 경유한다. 프리컷 테이프용 필링 바(249)는 프리컷 다이싱 테이프를 사용할 때 테이프 분리를 위하여 제공된다. 프리컷 테이프용 필링 바(249)는 말단이 라운드 처리된다.The pinch roll 255 passes through the remaining tape between the auxiliary roller unit 235 and the collection roll 239. Filling bars 249 for precut tape are provided for tape separation when using precut dicing tape. The peeling bar 249 for precut tape is rounded at the end.

절단기(241)는 절단 날(243)과 그에 180°대칭 위치의 보조 롤(245)을 가지며 절단 날(243)과 보조 롤(245)이 회전 가능하도록 구성된다. 절단 날(243)의 회전으로 접착된 다이싱 테이프(40)가 절단된다. 원형으로 절단 날(243)과 180°대칭 위치에 있는 보조 롤(245)이 동반 회전하여 다이싱 테이프(40)의 들뜸을 방지하는 역할을 수행한다. 웨이퍼의 직경 변화에 대응하여 절단 날(243)과 보조 롤(245)의 위치가 조절될 수 있도록 구성될 수 있다.The cutter 241 has a cutting blade 243 and an auxiliary roll 245 in a 180 ° symmetrical position, and is configured such that the cutting blade 243 and the auxiliary roll 245 are rotatable. The dicing tape 40 adhered by the rotation of the cutting blade 243 is cut. The auxiliary roll 245 at the 180 ° symmetrical position with the cutting blade 243 in a circular shape rotates together to prevent the lifting of the dicing tape 40. The cutting edge 243 and the auxiliary roll 245 may be adjusted to correspond to the diameter change of the wafer.

도 3은 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치에서 테이프 제거기의 개략적인 구성도이다.3 is a schematic configuration diagram of a tape remover in the tape attaching and removing device according to the present invention.

도 3을 참조하면, 테이프 제거기(250)는 테이프 제거용 테이프(70)를 공급하는 테이프 공급 롤(251)과 테이프 제거용 테이프(70)에 접착되어 제거되는 보호 테이프를 수거하는 수거 롤(257), 보호 테이프(30)를 제거하는 필링 바(253), 필링 바(253)와 수거 롤(257) 사이에 보호 테이프(30)가 부착된 테이프 제거용 테이프(70)가 경유하는 핀치 롤(275)을 포함하여 구성된다. 여기서, 필링 바(253)는 끝이 부드럽고 라운딩 처리된 필링 바(253)가 이용될 수 있다. 필링 바(253)는 소형의 미니 롤러로 대체될 수 있다.Referring to FIG. 3, the tape remover 250 collects a tape supply roll 251 for supplying a tape removal tape 70 and a collection roll 257 for collecting a protective tape adhered to and removed from the tape removal tape 70. ), A pinch roll via a peeling bar 253 for removing the protective tape 30, a tape removing tape 70 having a protective tape 30 attached between the peeling bar 253 and the collection roll 257 ( 275). In this case, the peeling bar 253 may have a smooth rounded peeling bar 253. The peeling bar 253 may be replaced by a miniature mini roller.

필링 바(253)는 테이프 제거용 테이프(70)를 보호 테이프(30)에 가압하여 부착시키고 서서히 이동된다. 이 과정에서 보호 테이프(30)가 테이프 제거 테이프(70)와 함께 수거 롤(257)에 감겨져 웨이퍼(10)의 활성면에 부착된 보호 테이프(30)가 제거된다.The peeling bar 253 presses and attaches the tape removing tape 70 to the protective tape 30 and moves slowly. In this process, the protective tape 30 is wound on the collection roll 257 together with the tape removing tape 70 to remove the protective tape 30 attached to the active surface of the wafer 10.

한편, 테이프 제거기(250)에 인접하여 가열 공기를 분사하는 히팅 블로우 유닛(261)이 설치된다. 가열 공기에 의해 보호 테이프(30)의 접착성이 약화되고 유연성이 증가되어 분리가 용이하게 이루어질 수 있으며, 보호 테이프(30)의 제거 과정에서 보호 테이프(30)로부터 전달되는 충격이 최소화된다. 이에 따라, 테이프 제거용 테이프(70)로서 고가의 전용 테이프를 사용하지 않고 일반 보급용 테이프를 사용하여 보호 테이프(30)의 제거가 용이하게 이루어질 수 있다.On the other hand, the heating blow unit 261 which injects heating air adjacent to the tape remover 250 is provided. The adhesion of the protective tape 30 is weakened and the flexibility is increased by the heating air, so that the separation can be easily performed, and the impact transmitted from the protective tape 30 is minimized during the removal of the protective tape 30. Accordingly, the protection tape 30 can be easily removed by using a general replenishment tape without using an expensive dedicated tape as the tape removal tape 70.

도 4는 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치의 클리닝 바의 개략적인 단면도이다.4 is a schematic cross-sectional view of a cleaning bar of the tape attaching and removing device according to the present invention.

도 4를 참조하면, 클리닝 바(161)는 공기 공급원(도시안됨)과 연결된 공기 분사구(163)와 진공 펌프(도시안됨)와 연결된 진공 흡입구(165)를 갖는다. 마운트 테이블(130)과 필링 테이블(150)에 공기를 분사하고 진공 흡입한다. 이에 의해 테이블(130,150) 상의 파티클이 제거된다. 다이싱 테이프 부착과 보호 테이프 제거 과정에서 파티클로 인한 웨이퍼 크랙이나 깨짐 등이 방지된다.Referring to FIG. 4, the cleaning bar 161 has an air inlet 163 connected to an air source (not shown) and a vacuum inlet 165 connected to a vacuum pump (not shown). Air is injected into the mount table 130 and the peeling table 150 and sucked under vacuum. As a result, particles on the tables 130 and 150 are removed. Particles are protected from wafer cracking and cracking during dicing and protective tape removal.

도 5는 본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에서 바코드 라벨러의 결합 구조를 보여주는 사시도이고, 도 6a와 도 6b는 바코드 라벨러의 결합 동작을 보여주는 동작 상태도이다.5 is a perspective view showing a coupling structure of a barcode labeler in a tape attaching and removing device for a wafer according to the present invention, Figures 6a and 6b is an operating state diagram showing the coupling operation of the barcode labeler.

도 5와 도 6a 및 도 6b를 참조하면, 바코드 라벨러(170)가 설치되는 부분에 결합 가이드(190a)를 설치되고 바코드 라벨러(170)에 그에 대응되는 결합 가이드(190b)가 설치된다. 결합 가이드들(190a,190b)의 정합에 의해 설치 위치가 안내되며, 설치가 용이하게 이루어질 수 있다.5, 6A, and 6B, a coupling guide 190a is installed at a portion at which the barcode labeler 170 is installed, and a coupling guide 190b corresponding thereto is installed at the barcode labeler 170. The installation position is guided by the matching of the coupling guides 190a and 190b, and the installation may be easily performed.

바코드 라벨러(170)에는 단차 홈(194)이 형성된 결합 축(193)이 설치되고, 바코드 라벨러(170)가 결합되는 부분에는 결합 축(193)이 끼워지는 삽입 구멍(105)이 형성되고, 단차 홈(194)이 끼워지는 고정 블록(196)을 갖는 축 고정 실린더 유닛(195)이 설치된다. 도 6a와 같이 축 고정 실린더 유닛(195)의 고정 블록(196)이 결합 축(193)의 단차 홈(194)에 끼워져 바코드 라벨러(170)의 설치 상태가 견고하게 고정된다. 도 6b와 같이 고정 블록(196)의 고정 상태 해제에 의해 바코드 라벨러(170)의 분리가 이루어질 수 있다.The bar code labeler 170 is provided with a coupling shaft 193 having a stepped groove 194 formed therein, and a portion into which the bar code labeler 170 is coupled is formed with an insertion hole 105 into which the coupling shaft 193 is fitted. A shaft fixed cylinder unit 195 having a fixing block 196 into which the groove 194 is fitted is installed. As shown in FIG. 6A, the fixing block 196 of the shaft fixing cylinder unit 195 is fitted into the step groove 194 of the coupling shaft 193, thereby firmly fixing the installation state of the barcode labeler 170. As illustrated in FIG. 6B, the barcode labeler 170 may be separated by releasing the fixed state of the fixing block 196.

한편, 배면 연삭 장치와 인-라인(in-line) 구성될 때 정비를 위한 접근이 용이하도록 웨이퍼 링 적재기(도 1의 111)와 자외선 조사기(도 1의 115)는 바코드 라벨러(170)와 마찬가지로 모듈로 구성되어 필요한 경우 탈착이 가능하게 구성된다. 그리고, 결합 가이드(190a,190b)가 설치되어 장착 과정에서 항상 동일한 위치에 부착될 수 있도록 구성된다.On the other hand, the wafer ring loader (111 in FIG. 1) and the ultraviolet irradiator (115 in FIG. 1) are similar to the barcode labeler 170 to facilitate access for maintenance when the back grinding device is configured in-line. It is composed of modules so that it can be detached if necessary. In addition, the coupling guides 190a and 190b are installed to be always attached to the same position during the mounting process.

이하에서 본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the tape attaching and removing device for wafers according to the present invention will be described.

도 7a 내지 도 7i는 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치의 동작을 보여주는 평면도이다.7A to 7I are plan views showing the operation of the tape attaching and removing device for a wafer according to the embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 웨이퍼 이송 로봇(111)이 웨이퍼 배면 연삭 장치(300)의 스핀 테이블(330)에서 웨이퍼(10)를 픽업하여 자외선 조사기(115)로 이송한다. 이는 웨이퍼 배면 연삭 장치(300)의 스핀 테이블(330)에서 웨이퍼 배면 세정과 드라이 동작이 완료된 웨이퍼(10)를 배면 연삭 장치(300)의 언로딩 유닛(350)에 탑재된 카세트(55)로 이송하는 것과 다르다.Referring to FIG. 1, the wafer transfer robot 111 picks up the wafer 10 from the spin table 330 of the wafer back grinding apparatus 300 and transfers the wafer 10 to the ultraviolet irradiator 115. The wafer 10 is transferred from the spin table 330 of the wafer back grinding device 300 to the cassette 55 mounted on the unloading unit 350 of the back grinding device 300. It's not like that.

자외선 조사기(115)는 보호 테이프(30)에 자외선을 조사하여 보호 테이프(30)의 접착력을 약화시킨다. 자외선 조사가 완료된 웨이퍼(10)는 웨이퍼 이송 로봇(111)에 의해 마운트 테이블(130) 위에 올려진다.The ultraviolet irradiator 115 irradiates the protective tape 30 with ultraviolet rays to weaken the adhesive force of the protective tape 30. The wafer 10 on which the ultraviolet irradiation is completed is mounted on the mount table 130 by the wafer transfer robot 111.

도 1과 도 7a를 참조하면, 웨이퍼 이송 동작과는 별도로 제1 이송수단(119)이 웨이퍼 링 적재기(117)에 적재된 웨이퍼 링(20)을 마운트 테이블(130)로 이송한다. 이때, 테이블 클리너(160)의 클리닝 바(161)가 필링 테이블(150)을 클리닝한다. 제1 이송수단(119)의 흡착 유닛(120)이 웨이퍼 링 적재기(117) 상부로 이동된다. 흡착 유닛(120)이 하강하여 웨이퍼 링(20)을 픽업하고 다시 상승한다.1 and 7A, in addition to the wafer transfer operation, the first transfer means 119 transfers the wafer ring 20 loaded on the wafer ring loader 117 to the mount table 130. At this time, the cleaning bar 161 of the table cleaner 160 cleans the filling table 150. The adsorption unit 120 of the first transfer means 119 is moved above the wafer ring loader 117. The adsorption unit 120 descends to pick up the wafer ring 20 and to rise again.

도 1과 도 7b를 참조하면, 제1 이송수단(119)의 흡착 유닛(120)이 마운트 테이블(130) 전방으로 이동하고, 지면에 대하여 수평하게 180°회전한다. 그리고 흡착 유닛(120)이 마운트 테이블(130) 상부로 이동 및 하강하여 웨이퍼 링(20)을 마운트 테이블(130)에 올려놓는다. 이때 마운트 테이블(130)은 초기 위치에서 미리 웨이퍼 링(20) 탑재 위치까지 상승하여 대기하는 상태이다. 그리고나서 흡착 유닛(120)은 다시 180°회전되어 도 7c와 같은 상태가 된다.1 and 7B, the adsorption unit 120 of the first transfer means 119 moves forward of the mount table 130 and rotates 180 ° horizontally with respect to the ground. The adsorption unit 120 moves and descends to the upper portion of the mount table 130 to place the wafer ring 20 on the mount table 130. At this time, the mount table 130 is in a state of rising from the initial position to the mounting position of the wafer ring 20 and waiting. Then, the adsorption unit 120 is rotated 180 ° again to be in a state as shown in FIG. 7C.

여기서, 웨이퍼 링(20)을 마운트 테이블(130)로 이송하는 동작이 웨이퍼(10)를 마운트 테이블(130)로 이송하는 동작보다 선행된다. 이는 웨이퍼 링(20)의 이송 중 낙하 등에 의해 웨이퍼가 손상되는 것을 방지하기 위함이다.Here, the operation of transferring the wafer ring 20 to the mount table 130 is preceded by the operation of transferring the wafer 10 to the mount table 130. This is to prevent the wafer from being damaged by falling during the transfer of the wafer ring 20.

도 1과 도 7d를 참조하면, 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)이 놓여진 마운트 테이블(130)이 대기 위치에서 상승하여 작업 위치까지 상승한다. 그리고 테이프 부착기(230)에 의해 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)에 다이싱 테이프(40) 부착 작업이 진행된다. 다이싱 테이프(40)의 부착이 완료되면, 마운트 테이블(130)이 다시 하강한다.1 and 7D, the mount table 130 on which the wafer 10 and the wafer ring 20 are placed is lifted from the standby position to the working position. The dicing tape 40 is attached to the wafer 10 and the wafer ring 20 by the tape attacher 230. When the dicing tape 40 is attached, the mount table 130 is lowered again.

도 1과 도 7e를 참조하면, 다음으로 제1 이송수단(119)이 마운트 테이블(130) 상의 웨이퍼(10)가 다이싱 테이프(40)로 고정된 웨이퍼 링(20)을 픽업한다. 마운트 테이블(130)은 초기 위치로 하강한다. 제2 이송수단(121)의 흡착 유닛(122)이 제1 이송수단(119)의 흡착 유닛(120) 하부로 이동된다. 도 7f와 같이 제1 이송수단(119)의 흡착 유닛(120)이 하강하여 제2 이송수단(121)의 흡착 유닛(122)에 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20)을 올려놓는다. 제2 이송수단(121)의 흡착 유닛(122)이 웨이퍼(10)가 고정된 웨이퍼 링(20)을 흡착 고정한 상태에서 도 7g와 같이 360°회전하여 상하 반전이 이루어진다. 웨이퍼(10)는 활성면 위를 향하게 된다. 이 상태로 도 7h와 같이 제2 이송수단(121)이 웨이퍼(10)가 고정된 웨이퍼 링(20)을 필링 테이블(150) 상부로 이송한 후 복귀된다.1 and 7E, the first transfer means 119 then picks up the wafer ring 20 on which the wafer 10 on the mount table 130 is fixed with the dicing tape 40. The mount table 130 is lowered to the initial position. The adsorption unit 122 of the second transport means 121 is moved below the adsorption unit 120 of the first transport means 119. As shown in FIG. 7F, the adsorption unit 120 of the first transport means 119 is lowered to place the wafer 10 and the wafer ring 20 on the adsorption unit 122 of the second transport means 121. The suction unit 122 of the second transfer unit 121 rotates 360 ° as shown in FIG. 7G in a state in which the wafer ring 20 on which the wafer 10 is fixed is sucked and fixed, thereby being vertically inverted. Wafer 10 is directed onto the active surface. In this state, as shown in FIG. 7H, the second transfer unit 121 returns the wafer ring 20 on which the wafer 10 is fixed to the top of the filling table 150, and then returns.

이어서, 필링 테이블(150)이 상승하여 대기 위치로 이동된 상태에서 제2 이송수단(121)이 웨이퍼(10)가 고정된 웨이퍼 링(20)을 필링 테이블(150)에 올려놓는 다. 제2 이송수단(121)이 필링 테이블(150)의 상부에서 벗어나고, 필링 테이블(150)이 대기 위치에서 작업 위치로 상승한다.Subsequently, in the state where the peeling table 150 is raised and moved to the standby position, the second transfer unit 121 places the wafer ring 20 on which the wafer 10 is fixed on the peeling table 150. The second conveying means 121 is out of the top of the peeling table 150, the peeling table 150 is raised from the standby position to the working position.

이후, 테이프 제거기(250)가 자외선 조사에 의해 접착력이 상실된 보호 테이프(30)를 분리시킨다. 보호 테이프(30)의 제거가 완료되면, 필링 테이블(150)이 하강하여 대기 위치로 이동한다. 대기 위치의 필링 테이블(150)에서 제3 이송수단(125)에 의해 웨이퍼(10)가 고정된 웨이퍼 링(20)이 언로딩 테이블(177)로 이송된다. 그리고 보호 테이프(30)의 제거까지 완료된 웨이퍼(10)가 고정된 웨이퍼 링(20)은 도 7i와 같이 푸셔(185)에 의해 카세트 적재기(180)에 있는 카세트(50)에 수납된다.Thereafter, the tape remover 250 separates the protective tape 30 whose adhesive strength is lost by ultraviolet irradiation. When the removal of the protective tape 30 is completed, the peeling table 150 descends and moves to the standby position. In the filling table 150 at the standby position, the wafer ring 20 to which the wafer 10 is fixed is transferred to the unloading table 177 by the third transfer means 125. The wafer ring 20 to which the wafer 10 completed until the removal of the protective tape 30 is fixed is received in the cassette 50 in the cassette stacker 180 by the pusher 185 as shown in FIG. 7I.

보호 테이프(30)가 제거된 후 웨이퍼(10)가 카세트(50)에 수납되기 전에, 바코드 라벨러(170)가 언로딩 테이블(177) 상에 놓여진 웨이퍼(10)의 아이디를 읽고 바코드 라벨을 웨이퍼(10)와 웨이퍼 링(20) 사이의 다이싱 테이프(40) 부분에 부착시킨다.After the protective tape 30 is removed and before the wafer 10 is stored in the cassette 50, the barcode labeler 170 reads the ID of the wafer 10 placed on the unloading table 177 and reads the barcode label. It adheres to the dicing tape 40 part between 10 and the wafer ring 20.

한편, 테이블 클리너(160)는 마운트 테이블(130)과 필링 테이블(150)을 주기적으로 이동하며 공기와 진공을 이용하여 각각의 테이블(130,150)에서 파티클을 제거한다.Meanwhile, the table cleaner 160 periodically moves the mount table 130 and the filling table 150, and removes particles from each of the tables 130 and 150 using air and vacuum.

다이싱 테이프 부착 동작을 좀 더 상세히 설명하기로 한다. 다이싱 테이프로서 프리컷 다이싱 테이프를 사용하는 경우와 라이너 필름이 부착된 다이싱 테이프를 사용하는 경우로 나누어 설명한다.The dicing tape attaching operation will be described in more detail. It demonstrates dividing into the case of using a precut dicing tape as a dicing tape, and the case of using the dicing tape with a liner film.

도 8a와 도 8b는 본 발명에 따른 테이프 부착 및 제거 장치의 다이싱 테이프 부착 동작을 개략적으로 보여주는 단면도이다.8A and 8B are cross-sectional views schematically showing the dicing tape attaching operation of the tape attaching and removing device according to the present invention.

도 8a를 참조하면, 먼저 라이너 필름(41)이 부착된 범용 다이싱 테이프(40)를 사용하는 경우, 다이싱 테이프(40)는 테이프 공급 롤(231)로부터 테이프 수거 롤(239)로 공급이 이루어지며, 라이너 필름 회수 롤(233)에 라이너 필름(41)이 감겨진다. 보조 롤러 유닛(235)과 프레스 롤러 유닛(237)이 이동하여 마운트 테이블(130) 상부에서 일정 길이만큼 준비된다. 마운트 테이블(130)이 상승하여 다이싱 테이프(40)와 밀착된다. 테이프 부착기(130)의 보조 롤러 유닛(235)이 이동하면서 다이싱 테이프(40)를 밀착시킨다. 이때 프레스 롤러 유닛(237)이 보조 롤러(235) 유닛의 이동과 더불어 다이싱 테이프(40)를 가압하여 밀착시키고, 프레스 롤러 유닛(237)이 후진하여 복귀된다.Referring to FIG. 8A, when using the general-purpose dicing tape 40 with the liner film 41 attached thereto, the dicing tape 40 is supplied from the tape supply roll 231 to the tape collection roll 239. The liner film 41 is wound around the liner film recovery roll 233. The auxiliary roller unit 235 and the press roller unit 237 are moved to prepare a predetermined length on the mount table 130. The mount table 130 is raised to be in close contact with the dicing tape 40. The dicing tape 40 is brought into close contact with the auxiliary roller unit 235 of the tape attaching machine 130. At this time, the press roller unit 237 presses the dicing tape 40 in close contact with the movement of the auxiliary roller 235 unit, and the press roller unit 237 moves backward.

이어서, 절단기(241)가 하강하고 360°회전을 2회 반복하여 다이싱 테이프(40)를 자른다. 절단기(241)의 절단 날(243) 부분과 180°대칭 위치에 있는 보조 롤(245)이 동반 회전하여 잘라진 부분을 누른다. 절단이 완료되면 절단기(241)가 상승하고, 보조 롤러 유닛(235)이 복귀하면서 웨이퍼 링(20)과 웨이퍼(10)에 부착된 원형의 다이싱 테이프(40)를 제외한 나머지 부분을 분리한다. 분리가 완료되면, 마운트 테이블(130)은 하강된다.Subsequently, the cutter 241 is lowered and the dicing tape 40 is cut by repeating the 360 ° rotation twice. A portion of the cutting blade 243 of the cutter 241 and the auxiliary roll 245 at a 180 ° symmetry position are pressed together to press the cut portion. When the cutting is completed, the cutter 241 is raised, and the auxiliary roller unit 235 returns to separate the remaining portions except the circular ring dicing tape 40 attached to the wafer ring 20 and the wafer 10. When the detachment is completed, the mount table 130 is lowered.

도 8b를 참조하면, 이면지가 없는 프리컷 다이싱 테이프(45)의 경우, 전술한 범용 다이싱 테이프(41)의 제거와 유사하게 제거된다. 단, 끝이 미세하게 라운드 처리된 필링 바(249)에 의해 프리컷 다이싱 테이프(45)의 박리가 이루어진다.Referring to FIG. 8B, in the case of the precut dicing tape 45 without backing paper, it is removed similarly to the removal of the general-purpose dicing tape 41 described above. However, peeling of the precut dicing tape 45 is performed by the peeling bar 249 in which the tip was rounded finely.

한편, 본 발명은 전술한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 기술적 중심 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 이는 본 발명이 속하는 기술분야에 종사하는 자라면 쉽게 알 수 있다.In addition, this invention is not limited to the above-mentioned embodiment. Various modifications may be made without departing from the spirit of the present invention. This can be easily understood by those skilled in the art.

이상과 같은 본 발명에 따른 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치에 의하면, 웨이퍼 배면 연삭과 테이프 부착 및 제거 과정이 연속적으로 이루어질 수 있기 때문에 웨이퍼의 이동 경로 및 이동 시간이 최소화된다. 더욱이, 웨이퍼 배면 연삭 장치와 인라인 설치되어 웨이퍼 배면 연마와 테이프 부착 및 제거가 연속적으로 이루어지도록 함으로써 웨이퍼의 이동 경로 및 이동 시간이 최소화될 수 있다. 따라서, 취급 과정에서 웨이퍼 휨 및 웨이퍼 쳐짐 등의 발생을 방지하여 공정 진행시 핸들링 불량 또는 웨이퍼 깨짐 등 생산성 및 공정 수율을 향상시킬 수 있다. 이에 따라, 자동화 설비 구축이 가능하다.According to the tape attachment and removal device for a wafer according to the present invention as described above, since the wafer back grinding and the tape attachment and removal process can be performed continuously, the movement path and travel time of the wafer are minimized. Furthermore, the wafer's travel path and travel time can be minimized by being installed in-line with the wafer back grinding device to continuously perform wafer back polishing and tape attachment and removal. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of wafer warpage and wafer sag during handling, thereby improving productivity and process yield such as poor handling or wafer breakage during the process. Accordingly, it is possible to build an automated facility.

또한, 단일 설비 내에서 테이프 부착 및 제거가 이루어질 수 있기 때문에 독립적인 설비의 구축이 필요하지 않다. 따라서, 설비비용이 감소될 수 있다.In addition, since tape attachment and removal can be performed in a single facility, no independent facility is required. Therefore, the installation cost can be reduced.

Claims (13)

웨이퍼 링이 적재되는 웨이퍼 링 적재기(wafer ring stacker); 웨이퍼와 웨이퍼 링이 안착되어 고정되는 마운트 테이블과(tape mount table); 다이싱 테이프를 상기 웨이퍼의 배면과 상기 웨이퍼 링에 부착시키는 다이싱 테이프 부착기; 웨이퍼의 활성면에 부착된 보호 테이프에 자외선을 조사하는 자외선 조사기; 웨이퍼 로딩 위치에서 웨이퍼를 픽업하여 자외선 조사기로 공급하고, 자외선 조사가 완료된 테이프를 마운트 테이블로 이송시키는 웨이퍼 이송 로봇; 웨이퍼 링 적재기에서 웨이퍼 링을 마운트 테이블로 이송하는 제1 이송수단; 보호 테이프가 부착된 웨이퍼와 웨이퍼 링이 안착되어 고정되는 필링 테이블(tape peeling table); 마운트 테이블에서 웨이퍼와 웨이퍼 링을 상하 반전시켜 필링 테이블로 이송하는 제2 이송수단; 필링 테이블에 탑재된 웨이퍼의 활성면에 부착된 보호 테이프를 분리시키는 보호 테이프 제거기; 웨이퍼와 웨이퍼 링 수납용 카세트가 적재되는 카세트 적재기; 및 다이싱 테이프가 부착된 웨이퍼와 웨이퍼 링을 상기 카세트 적재기의 카세트에 수납하는 제3 이송수단;을 포함하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.A wafer ring stacker on which a wafer ring is loaded; A mount table to which the wafer and the wafer ring are seated and fixed; A dicing tape attacher attaching a dicing tape to the back side of the wafer and the wafer ring; An ultraviolet irradiator for irradiating ultraviolet rays to the protective tape attached to the active surface of the wafer; A wafer transfer robot that picks up a wafer at a wafer loading position and supplies the wafer to an ultraviolet irradiator and transfers the tape on which the ultraviolet irradiation is completed to a mount table; First transfer means for transferring the wafer ring from the wafer ring loader to the mounting table; A peeling table to which the wafer with the protection tape is attached and the wafer ring are seated and fixed; Second transfer means for transferring the wafer and the wafer ring up and down from the mounting table to the filling table; A protective tape remover separating the protective tape attached to the active surface of the wafer mounted on the filling table; A cassette stacker on which a wafer and a wafer ring storage cassette are stacked; And third transfer means for receiving the wafer and the wafer ring to which the dicing tape is attached to the cassette of the cassette stacker. 제1 항에 있어서, According to claim 1, 상기 웨이퍼 링 적재기, 상기 웨이퍼 이송 로봇, 상기 마운트 테이블, 상기 필링 테이블, 상기 카세트 적재기로 하부 프레임부가 구성되고, 상기 테이프 부착기와 상기 테이프 제거기로 상부 프레임부가 구성되며, 상기 하부 프레임과 상기 상부 프레임이 2층 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.The wafer frame stacker, the wafer transfer robot, the mount table, the peeling table, the cassette stacker comprises a lower frame portion, the tape attacher and the tape remover comprises an upper frame portion, the lower frame and the upper frame Tape mounting and removal apparatus for a wafer, characterized by having a two-layer structure. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 웨이퍼 표면의 아이디를 읽어 웨이퍼와 웨이퍼 링 사이의 다이싱 테이프 상에 바코드 라벨을 부착시키는 바코드 라벨러(bar code labeller)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.And a bar code labeler for reading the ID of the wafer surface and attaching the bar code label on the dicing tape between the wafer and the wafer ring. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 웨이퍼 이송 로봇은 웨이퍼 배면 연삭 장치에서 배면 연삭이 완료된 웨이퍼를 픽업하여 자외선 조사기로 이송하도록 구성된 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.The wafer transfer robot is configured to pick up the wafer having completed the back grinding from the wafer back grinding device and transfer the wafer to the ultraviolet irradiator. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 공기를 분사하고 진공으로 파티클(particle)을 흡입하여 마운트 테이블과 필링 테이블 상의 파티클을 제거하는 테이블 클리너(table cleaner)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.And a table cleaner which blows air and sucks particles into the vacuum to remove particles on the mounting table and the peeling table. 제1 또는 제 3항에 있어서,The method according to claim 1 or 3, 상기 자외선 조사기, 상기 웨이퍼 링 적재기 및 상기 바코드 라벨러는 실린 더 고정 장치로 장착과 탈착이 가능하게 구성된 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.And the ultraviolet irradiator, the wafer ring loader, and the barcode labeler are configured to be attached and detached by a cylinder fixing device. 제6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 자외선 조사기, 상기 웨이퍼 링 적재기 및 상기 바코드 라벨러의 장착과 탈착을 안내하는 가이드를 갖는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.And a guide for guiding attachment and detachment of the ultraviolet irradiator, the wafer ring loader, and the barcode labeler. 제6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 자외선 조사기, 상기 웨이퍼 링 적재기 및 상기 바코드 라벨러와 그 장착 부분 중 어느 한 쪽에 결합 축이 설치되고 다른 쪽에 결합 축을 고정시키는 축 고정 실린더 고정 유닛이 설치된 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.A device for attaching and removing a tape for wafers, characterized in that a coupling shaft is installed on one of the ultraviolet irradiator, the wafer ring loader, and the barcode labeler, and a mounting portion thereof, and a shaft fixing cylinder fixing unit for fixing the coupling shaft on the other side. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 테이프 부착기는 다이싱 테이프를 공급하는 공급 롤과 다이싱 테이프를 회수하는 수거 롤, 압력을 가해 다이싱 테이프를 접착하는 프레스 롤러 유닛, 다이싱 테이프 이송을 위한 보조 롤러 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.The tape attacher includes a supply roll for supplying a dicing tape, a collection roll for recovering the dicing tape, a press roller unit for applying pressure to adhere the dicing tape, and an auxiliary roller unit for dicing tape transportation. Tape attaching and removing device for wafers. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 테이프 부착기는 라이너 필름(liner film)을 회수하는 라이너 필름 회수 롤을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.And said tape attacher further comprises a liner film recovery roll for recovering a liner film. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 말단이 라운드 처리된 프리컷 테이프용 필링 바를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.A tape attaching and removing device for a wafer, characterized in that it comprises a peeling bar for precut tape rounded at its ends. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 테이프 제거기에 인접 설치되어 분리되기 전의 보호 테이프에 가열 공기를 분사하는 히팅 블로우 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.And a heating blow unit for injecting heating air to the protective tape before the tape remover is installed adjacent to the tape remover. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 제3 이송수단은 다이싱 테이프가 부착되고 보호 테이프가 제거된 웨이퍼와 웨이퍼 링이 놓여지는 가이드 레일과, 상기 가이드 레일 상의 웨이퍼와 웨이퍼 링을 카세트에 수납하는 푸셔(pusher)를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼용 테이프 부착 및 제거 장치.The third transfer means includes a guide rail on which a wafer ring and a wafer ring on which a dicing tape is attached and a protective tape is removed, and a pusher for receiving the wafer and the wafer ring on the guide rail into a cassette. Tape attachment and removal device for wafer.
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WO2021241935A1 (en) * 2020-05-25 2021-12-02 (주) 엔지온 Semiconductor chip delamination device and control method therefor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210142982A (en) * 2020-05-19 2021-11-26 주식회사 에이엘티 A Remove device and remove method for taiko wafer ring
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