KR20070036576A - Semiconductor memory device and driving method thereof - Google Patents
Semiconductor memory device and driving method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20070036576A KR20070036576A KR1020050134012A KR20050134012A KR20070036576A KR 20070036576 A KR20070036576 A KR 20070036576A KR 1020050134012 A KR1020050134012 A KR 1020050134012A KR 20050134012 A KR20050134012 A KR 20050134012A KR 20070036576 A KR20070036576 A KR 20070036576A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- voltage
- signal
- equalization signal
- equalization
- cell block
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 14
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 6
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 claims description 2
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims 1
- 230000002779 inactivation Effects 0.000 claims 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 8
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4072—Circuits for initialization, powering up or down, clearing memory or presetting
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4094—Bit-line management or control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
본 발명은 반도체 설계 기술에 관한 것으로 특히, 반도체 메모리 소자의 비트라인 프리차지부를 인에이블 시키는 균등화 신호의 중계시, 비트라인의 프리차지 동작 성능이 향상되도록 상기 균등화 신호의 전압 레벨을 조절하는 반도체 메모리 장치 및 균등화 신호 중계 방법에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명은, 균등화 신호 중계기에 의해 상기 균등화 신호가 중계될 때, 균등화 신호의 전압 레벨이 소정의 시간 동안은 승압 전압(VPP)을 갖고, 이후에는 외부전원 전압(VDD)을 갖게끔 제어한다. 즉, 균등화 신호에 의해 인에이블 되는 비트라인 프리차지부의 비트라인 프리차지 동작 성능을 향상시키기 위해 상기 승압 전압(VPP)으로 균등화 신호의 라이징 구간을 활성화시킨다. 또한, 결과적으로는 소정의 시간 이후에는 외부전원 전압(VDD)으로 프리차지 동작을 수행하는 것이기 때문에 균등화 신호가 입력되는 비트라인 프리차지부의 트랜지스터의 게이트 절연막을 얇게 형성할 수 있는 반도체 메모리 장치 및 균등화 신호 중계 방법을 제공한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor design technology, and more particularly, to a semiconductor memory for adjusting the voltage level of the equalization signal to improve the precharge operation performance of the bit line during relaying of the equalization signal enabling the bit line precharge portion of the semiconductor memory device. A device and equalization signal relay method. To this end, according to the present invention, when the equalization signal is relayed by an equalization signal repeater, the voltage level of the equalization signal is controlled to have a boost voltage VPP for a predetermined time, and then to have an external power supply voltage VDD. do. That is, the rising period of the equalization signal is activated by the boost voltage VPP in order to improve the bit line precharge operation performance of the bit line precharge unit enabled by the equalization signal. Further, as a result, since the precharge operation is performed by the external power supply voltage VDD after a predetermined time, the semiconductor memory device and the equalization device capable of forming a thin gate insulating film of the transistor of the bit line precharge unit to which the equalization signal is input. Provides a signal relay method.
비트라인 프리차지부, 균등화 신호, 트랜지스터, 게이트 절연막, 중계기 Bit line precharge part, equalization signal, transistor, gate insulating film, repeater
Description
도 1은 종래 기술에 따른 반도체 메모리 소자의 셀코어 영역을 나타낸 블록도.1 is a block diagram illustrating a cell core region of a semiconductor memory device according to the related art.
도 2는 종래기술에 따른 균등화 신호 생성 회로 및 중계기를 나타낸 회로도.2 is a circuit diagram showing an equalization signal generation circuit and a repeater according to the prior art.
도 3는 다른 종래기술에 따른 균등화 신호 생성 회로 및 중계기를 나타낸 회로도.3 is a circuit diagram illustrating another equalization signal generation circuit and a repeater.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 균등화 신호 생성 회로 및 중계기를 나타낸 회로도.4 is a circuit diagram illustrating an equalization signal generation circuit and a repeater according to an embodiment of the present invention.
도 5는 도 4의 균등화 신호 생성 회로 및 중계기의 타이밍 다이어그램.5 is a timing diagram of the equalization signal generation circuit and repeater of FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
401 : 신호생성부 403 : 중계기 풀원전원부401: signal generator 403: repeater full source power supply
405 : 중계기 407 : 펄스 생성부405: repeater 407: pulse generator
409 : 오버드라이버부 411 : 노멀드라이버부409: over-driver section 411: normal driver section
본 발명은 반도체 설계 기술에 관한 것으로, 특히 반도체 메모리 소자의 균등화 신호의 중계 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to semiconductor design techniques, and more particularly to a method of relaying an equalization signal of a semiconductor memory device.
현재 반도체 메모리 장치는 대용량화 및 동작속도의 고속화가 그 개발방향으로 되어 있다. 그리고 이러한 요건들 외에도 저전원전압 환경에서 신뢰성있는 동작을 확보하기 위한 저전압(Low Voltage 또는 Low Power) 메모리도 또 하나의 개발방향으로 되고 있음은 주지의 사실이다. 특히, 휴대형 시스템, 예컨대 이동통신용 휴대폰(mobile phone)이나 노트북 컴퓨터(note-book computer) 등 사무실용이 아닌 휴대형 시스템에 장착되는 메모리는 가급적이면 최소한의 전력만을 소비하도록 그 개발 추세가 이루어지고 있다.At present, semiconductor memory devices have been developed in terms of their capacity and speed. In addition to these requirements, it is well known that low voltage (Low Voltage or Low Power) memories are also being developed to secure reliable operation in a low power supply environment. In particular, a memory system installed in a portable system, for example, a mobile system other than an office such as a mobile phone or a notebook computer, has been developed to consume minimal power whenever possible.
이러한 노력 중의 하나가 메모리의 셀코어 영역에서의 전류소비를 최소한으로 하는 기술이다. 메모리 셀(memory cell)과 비트라인(Bit Line) 그리고 워드라인(Word Line)들로 구성되는 셀코어 영역은 극미세화된 디자인-룰(design-rule)에 따라 설계된다. 그래서 메모리 셀들은 크기가 매우 작으면서 아울러 저전력을 사용하게 된다.One such effort is to minimize current consumption in the cell core area of memory. The cell core region, which is composed of memory cells, bit lines, and word lines, is designed according to ultra-fine design-rules. Thus, memory cells are very small in size and use low power.
반도체 메모리 소자인 디램에는 비트라인 프리차지(Bit Line Precharge) 동작을 채용하고 있는 바, 비트라인 프리차지는 데이터의 액세스 이전에 미리 비트라인을 소정의 전압레벨로 프리차지하여, 저장된 데이터의 논리상태를 판단하는 센스 앰프의 입력 범위로 레벨을 맞추는 동작으로서, 데이터의 리드 또는 라이트 동작 전에 수행된다. The DRAM, a semiconductor memory device, employs a bit line precharge operation. The bit line precharge precharges the bit line to a predetermined voltage level before accessing the data, thereby preserving the logic state of the stored data. An operation of adjusting a level to an input range of a sense amplifier, which is determined, is performed before a read or write operation of data.
그리고, 디램은 프리차지 상태에서 비트라인과 데이터 전송 라인인 세그먼트 입/출력 라인을 일정한 전위 레벨을 유지하기 위한 균등화 신호(BLEQ)를 입력으로 하는 이퀄라이저를 구비한다.In addition, the DRAM includes an equalizer for inputting an equalization signal (BLEQ) for maintaining a constant potential level of the segment input / output line, which is a bit line and a data transmission line, in a precharge state.
균등화 신호(BLEQ)는 액티브 커맨드가 입력되면 프리차지 상태에 있던 비트라인과 세그먼트 입/출력 라인의 전위를 유동(floating) 상태로 만들어 디램이 센싱할 수 있는 상태로 만들고, 프리차지 커맨드가 입력되면 비트라인과 세그먼트 입/출력 라인을 특정한 전위 레벨로 만드는 역할을 한다.The equalization signal BLEQ makes the potential of the DRAM senseable by floating the potential of the bit line and the segment input / output line in the precharge state when the active command is input, and when the precharge command is input, It serves to bring bit lines and segment input / output lines to specific potential levels.
도 1은 종래 기술에 따른 반도체 메모리 소자의 셀코어 영역을 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a cell core region of a semiconductor memory device according to the related art.
도 1을 참조하면, 셀코어 영역은 셀어레이(108, cell array), 비트라인쌍(BL, /BL), 감지증폭기 드라이버(107), 감지증폭기(105), 비트라인쌍(BL, /BL)을 동전위로 만드는 이퀄라이저(101) 및 비트라인쌍(BL, /BL) 및 감지증폭기 드라이버(107)의 풀업전원 라인(RTO)을 프리차지 전압(VBLP) 프리차지 시키는 비트라인 프리차지부(103)를 구비한다.Referring to FIG. 1, a cell core region includes a
여기서, 이퀄라이저(101)와 비트라인 프리차지부(103)는 앞서 설명한 균등화 신호(BLEQ)에 의해 구동된다. Here, the
그런데, 도 1은 하나의 비트라인쌍(BL, /BL)에 대한 이퀄라이저(101)와 비트라인 프리차지부(103)에 대해 도시되어 있으나, 셀코어 영역에는 메모리 용량에 비 례하는 셀어레이(107)가 존재하고 이에 따라 이퀄라이저(101)와 비트라인 프리차지부(103)도 메모리 용량에 비례하는 수만큼 존재한다.1 illustrates the
따라서, 균등화 신호(BLEQ)는 메모리 용량에 비례하는 수만큼 존재하는 이퀄라이저(101)와 비트라인 프리차지부(103)를 인에이블 시켜야 하기 때문에 신호의 전압 레벨이 낮아지는 결함을 방지하기 위해 중계기를 구비하여 중계 과정을 통해 신호의 전압 레벨을 유지한다. Therefore, the equalization signal BLEQ needs to enable the
도 2는 종래기술에 따른 균등화 신호 생성 회로 및 중계기를 나타낸 회로도이다.2 is a circuit diagram illustrating an equalization signal generation circuit and a repeater according to the prior art.
도 2를 참조하면, 균등화 신호 생성 회로 및 중계기는 액티브 커맨드를 입력 받으면 논리레벨이 하이가 되고, 프리차지 커맨드를 입력 받으면 논리레벨이 로우가 되는상부 블록 선택신호(LAX9A)와 하부 블록 선택신호(LAXBC)를 입력으로 하여 균등화 신호(BLEQ)를 생성하는 신호생성부(201), 신호생성부(201)의 출력 신호를 버퍼링하는 버퍼부(203) 및 버퍼부(203)의 출력 신호인 균등화 신호(BLEQ)를 중계하는 중계기(205)로 구비된다.Referring to FIG. 2, the equalization signal generation circuit and the repeater have an upper block select signal LAX9A and a lower block select signal (which have a logic level high when an active command is input and a logic level low when a precharge command is input). An equalization signal that is an output signal of the
이와 같은 종래의 균등화 신호 생성 회로 및 중계기는 외부전원 전압(VDD)의 전압 레벨을 갖는 균등화 신호(BLEQ) 생성 및 중계하는데, 이퀄라이저의 인에이블에 대한 결함은 없으나, 상기 균등화 신호(BLEQ)를 입력 받아 비트라인쌍(BL, /BL)을 프리차지 시키는 비트라인 프리차지부를 인에이블 시킬 경우, 전압 레벨이 낮은 균등화 신호(BLEQ)가 논리레벨 하이로 활성화되는 시간이 오래 걸리고, 이에 따라 비트라인 프리차지부의 동작이 느려지게 되어 프리차지 동작이 느려지는 문제점이 발생된다.The conventional equalization signal generation circuit and the repeater generates and relays an equalization signal BLEQ having a voltage level of the external power supply voltage VDD, but there is no defect in the enable of the equalizer, but the equalization signal BLEQ is inputted. When enabling the bit line precharge unit for precharging the bit line pairs BL and / BL, it takes a long time for the equalization signal BLEQ having a low voltage level to be activated to a logic level high. The operation of the charging unit is slowed down, which causes a problem of slowing the precharge operation.
도 3는 다른 종래기술에 따른 균등화 신호 생성 회로 및 중계기를 나타낸 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating another equalization signal generation circuit and a repeater.
도 3을 참조하면, 균등화 신호 생성 회로 및 중계기는 액티브 커맨드를 입력 받으면 논리레벨이 하이가 되고, 프리차지 커맨드를 입력 받으면 논리레벨이 로우가 되는 상부 블록 선택신호(LAX9A)와 하부 블록 선택신호(LAXBC)를 입력으로 하여 균등화 신호(BLEQ)를 생성하는 신호생성부(301), 전압 레벨이 외부전원 전압(VDD)인 신호생성부(301)의 출력 신호(BLEQ)를 승압 전압(VPP)으로 레벨 시프트 하는 레벨 시프트부(303) 및 전압 레벨이 승압 전압(VPP)인 균등화 신호(BLEQ)를 중계 하는 중계기(305)로 구비된다.Referring to FIG. 3, the equalization signal generation circuit and the repeater have an upper block select signal LAX9A and a lower block select signal (which have a logic level high when an active command is input and a logic level low when a precharge command is input). Input signal BLEQ of the
이와 같은 종래의 다른 실시예의 균등화 신호 생성 회로 및 중계기는 승압 전압(VPP)의 전압 레벨을 갖는 균등화 신호(BLEQ)를 중계하데, 이퀄라이저의 인에이블에 대한 결함은 없으나, 상기 균등화 신호(BLEQ)를 입력 받아 비트라인쌍(BL, /BL)을 프리차지 시키는 비트라인 프리차지부를 인에이블 시킬 경우, 트랜지스터로 구현되는 비트라인 프리차지부이기 때문에 상기 트랜지스터의 게이트 절연막의 두께가 두꺼워야 한다. 이것은 게이트 절연막의 신뢰성 때문인 것으로써, 이것으로 인하여 문턱 전압(Vt)의 전압 레벨이 높아지고 전류 도통 능력은 떨어지며, 프리차지 성능이 떨어지는 문제점이 발생된다. 그리고, 레벨 시프트부(303) 때문에 균등화 바신호(BLEQb)의 생성이 늦어지게 되어 결론적으로 균등화 신호(BLEQ)의 생성이 늦어지는 문제점이 된다.The equalization signal generating circuit and the repeater according to another conventional embodiment relays an equalization signal BLEQ having a voltage level of the boosted voltage VPP, but there is no defect in the enable of the equalizer, but the equalization signal BLEQ is transmitted. When the bit line precharge unit for precharging the bit line pairs BL and / BL is input, the thickness of the gate insulating layer of the transistor must be thick because the bit line precharge unit is implemented as a transistor. This is because of the reliability of the gate insulating film, which causes a problem that the voltage level of the threshold voltage Vt is high, the current conduction ability is low, and the precharge performance is low. In addition, the
본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 비트라인 프리차지부를 인에이블 시키는 균등화 신호의 중계시, 비트라인의 프리차지 동작 성능이 향상되도록 상기 균등화 신호의 전압 레벨을 조절하는 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.The present invention has been proposed to solve the problems of the prior art as described above, and during the relaying of the equalization signal enabling the bit line precharge unit, the voltage level of the equalization signal is adjusted to improve the precharge operation performance of the bit line. It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device and a driving method thereof.
상기의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일측면에 따르면, 균등화 신호 중계기에 의해 상기 균등화 신호가 중계될 때, 균등화 신호의 전압 레벨이 소정의 시간 동안은 승압 전압(VPP)을 갖고, 이후에는 외부전원 전압(VDD)을 갖게끔 제어한다. 즉, 균등화 신호에 의해 인에이블 되는 비트라인 프리차지부의 비트라인 프리차지 동작 성능을 향상시키기 위해 상기 승압 전압(VPP)으로 균등화 신호의 라이징 구간을 활성화시킨다. 또한, 결과적으로는 소정의 시간 이후에는 외부전원 전압(VDD)으로 프리차지 동작을 수행하는 것이기 때문에 균등화 신호가 입력되는 비트라인 프리차지부의 트랜지스터의 게이트 절연막을 얇게 형성할 수 있는 반도체 메모리 장치 및 균등화 신호 중계 방법을 제공한다.According to an aspect of the present invention for achieving the above technical problem, when the equalization signal is relayed by an equalization signal repeater, the voltage level of the equalization signal has a boosted voltage (VPP) for a predetermined time, and then Control to have external power supply voltage (VDD). That is, the rising period of the equalization signal is activated by the boost voltage VPP in order to improve the bit line precharge operation performance of the bit line precharge unit enabled by the equalization signal. Further, as a result, since the precharge operation is performed by the external power supply voltage VDD after a predetermined time, the semiconductor memory device and the equalization device capable of forming a thin gate insulating film of the transistor of the bit line precharge unit to which the equalization signal is input. Provides a signal relay method.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, the preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. .
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 균등화 신호 생성 회로 및 중계기를 나타낸 회로도이다.4 is a circuit diagram illustrating an equalization signal generation circuit and a repeater according to an embodiment of the present invention.
도 4를 참조하면, 균등화 신호 생성 회로 및 중계기는 액티브 커맨드를 입력 받으면 논리레벨이 하이가 되고, 프리차지 커맨드를 입력 받으면 논리레벨이 로우가 되는 상부 블록 선택신호(LAX9A)와 하부 블록 선택신호(LAXBC)를 입력으로 하여 균등화 신호(BLEQ)를 생성하는 신호생성부(401), 균등화 신호(BLEQ)의 전압 레벨이 최초에는 승압 전압(VPP)이 되었다가 일정 시간이 지난 후에 외부전원 전압(VDD)이 되도록 제어하는 중계기 풀업전원부(403) 및 신호생성부(401)의 출력 신호인 균등화 신호(BLEQ)를 입력으로 하여 풀업전원부(403)의 출력 신호의 전압 레벨에 대응하는 균등화 신호(BLEQ)를 중계하는 중계기(405)로 구비된다.Referring to FIG. 4, the equalization signal generation circuit and the repeater have an upper block select signal LAX9A and a lower block select signal (which have a logic level high when an active command is input and a logic level low when a precharge command is input). The voltage level of the
이때, 신호생성부(401)는 상기 상부 블록 선택신호(LAX9A)와 하부 블록 선택신호(LAXBC)를 입력으로 하여 균등화 신호(BLEQ)를 출력하는 낸드 게이트(NAND1)와 낸드 게이트(NAND1)의 출력 신호를 반전시키는 제1 인버터(INV1)로 구현할 수 있다.In this case, the
그리고, 중계기 풀업전원부(403)은 신호생성부(401)의 출력 신호(BLEQ)에 응답하여 프리차지 시점으로부터 일정 기간 동안 활성화되는 드라이버 제어 펄스(A)를 생성하기 위한 펄스 생성부(407), 상기 드라이버 제어 펄스(A)에 응답하여 프리차지 시점으로부터 일정 기간 동안 상기 중계기의 풀업전압부(403)를 승압전압으로 구동하기 위한 오버 드라이버(409) 및 상기 드라이버 제어 펄스(A)에 응답하여 상 기 드라이버 제어 펄스(A)의 비활성화 시점으로부터 다음 액티브 시점까지 상기 중계기의 풀업전압부(403)를 전원전압 - 상기 승압전압보다 낮은 레벨임 - 으로 구동하기 위한 노말 드라이버(411)로 구현할 수 있다.In addition, the repeater pull-up
이때, 펄스 생성부(407)는 신호생성부(401)의 출력 신호(BLEQ)를 반전시키는 제5 인버터(INV5), 제5 인버터(INV5)의 출력 신호를 지연 시키는 딜레이(DELAY), 딜레이의 출력 신호를 반전 시키는 제4 인버터(INV4), 입력부(401)의 출력 신호와 제4 인버터(INV4)의 출력 신호를 입력으로 하는 제2 낸드 게이트(NAND2)로 구현할 수 있다.In this case, the
그리고, 오버드라이버부(409)는 제2 낸드 게이트(NAND2)의 출력 신호를 게이트 입력으로 하여 승압 전압단과 접속된 제1 피모스 트랜지스터(P1)로 구현할 수 있다.The
또한, 노멀드라이버부(411)는 앞단에서 반전된 드라이버 제어 펄스(A)를 게이트 입력으로 하고 전원전압단과 접속된 피모스 트랜지스터(P3)로 구현할 수 있다.In addition, the
이어서, 중계기(405)는 신호생성부(401)의 출력 신호를 버퍼링하는 제2 인버터(INV2)와 제3 인버터(INV3), 제3 인버터(INV3)의 출력 신호인 균등화 신호(BLEQb)를 게이트 입력으로 하는 제4 피모스 트랜지스터(P4)와 제2 엔모스 트랜지스터(N2)로 구현할 수 있다. Subsequently, the
도 5는 도 4의 균등화 신호 생성 회로 및 중계기의 타이밍 다이어그램으로써, 도 4의 도면부호를 인용하여 설명한다.FIG. 5 is a timing diagram of the equalization signal generation circuit and the repeater of FIG. 4, and will be described with reference to FIG. 4.
도 5를 참조하면, 상기 상부 블록 선택신호(LAX9A)와 하부 블록 선택신호(LAXBC)에 의해 신호생성부(401)의 출력 신호인 균등화 신호(BLEQb)는 상부 블록 선택신호(LAX9A)와 하부 블록 선택신호(LAXBC)와 같은 논리 레벨을 갖는다.Referring to FIG. 5, the equalization signal BLEQb, which is an output signal of the
계속해서, 펄스 생성부(407)의 출력 신호인 드라이버 제어 펄스(A)는 균등화 신호(BLEQb)가 딜레이(DELAY)의 지연 정보만큼 지연되어 출력되는데, 상기 균등화 신호(BLEQb)의 폴링 엣지에 대응하여 논리레벨 로우로 활성화된다.Subsequently, the driver control pulse A, which is an output signal of the
즉, 신호생성부(401)의 출력 신호인 균등화 신호(BLEQb)에 의해 균등화 신호(BLEQ)가 라이징, 즉 중계되기 시작하는데, 이때 펄스 생성부(407)의 출력 신호(A)에 의해 오버드라이버부(409)의 제1 피모스 트랜지스터(P1)가 턴온되어 승압 전압(VPP)으로 균등화 신호(BLEQ)는 라이징된다.That is, the equalization signal BLEQ is started to rise, that is, relayed by the equalization signal BLEQb, which is an output signal of the
이어서, 펄스 생성부(407)의 출력 신호(A)가 논리레벨 하이로 비활성화 되고, 동시에 제3 피모스 트랜지스터(P3)에 입력되는 신호(B)가 논리레벨 로우로 활성화됨에 대응하여 균등화 신호(BLEQ)의 전압 레벨은 외부전원 전압(VDD)이 된다. Subsequently, the output signal A of the
즉, 균등화 신호(BLEQ)를 중계하여 비트라인 프리차지부를 인에이블 시킬 경우, 초기 일정 시간 동안에는 비트라인 프리차지부의 균등화 신호(BLEQ) 입력 트랜지스터를 승압 전압(VPP)으로 오버드라이빙 동작시키고, 이후에는 외부전원 전압(VDD)으로 노멀드라이빙 동작시키는 것이다. 이때의 일정 시간은 지연부(407)의 딜레이(DELAY)의 지연 정보에 의해 결정된다.That is, when the bit line precharge unit is enabled by relaying the equalization signal BLEQ, the equalization signal BLEQ input transistor of the bit line precharge unit is overdriven by a boosted voltage VPP for an initial predetermined time. The normal driving operation is performed by the external power supply voltage VDD. The predetermined time at this time is determined by the delay information of the delay DELAY of the
이것은 균등화 신호(BLEQ)의 논리레벨을 보면 더욱 명확하게 알 수 있다. 그리고, 종래(도 1)의 균등화 신호(BLEQ_OLD)와 비교하면 논리레벨 하이로의 라이징 타임이 극명하게 차이가 남을 확인할 수 있다.This can be seen more clearly by looking at the logic level of the equalization signal BLEQ. As compared with the conventional equalization signal BLEQ_OLD, the rising time of the logic level high is clearly different.
전술한 바와 같이, 균등화 신호(BLEQ)가 종래의 중계기에서 중계되어 비트라인 프리차지부의 균등화 신호(BLEQ) 입력 트랜지스터 구동시 전압 레벨이 낮은 균등화 신호(BLEQ)로 인해 상기 트랜지스터의 턴온 시간이 오래 걸리는 문제점과 전압 레벨이 높은 균등화 신호(BLEQ)로 인한 상기 트랜지스터의 두꺼운 게이트 절연막의 문제점을 본 발명에서는 비트라인 프리차지부의 균등화 신호(BLEQ) 입력 트랜지스터가 얇은 게이트 절연막을 포함하고, 균등화 신호(BLEQ)로 구동시 본 발명의 중계기에서 중계된 균등화 신호(BLEQ)의 전압 레벨의 오버드라이빙 동작으로 인해 프리차지 동작 속도를 향상시킨다. 즉, 균등화 신호(BLEQ)의 논리레벨 하이로의 라이징시, 승압 전압(VPP)의 전압 레벨을 갖게 하고, 이후에는 외부전원 전압(VDD)의 전압 레벨을 갖게 하여 라이징 시간을 줄이는 것이다.As described above, the equalization signal BLEQ is relayed in a conventional repeater, and the turn-on time of the transistor is long due to the equalization signal BLEQ having a low voltage level when driving the equalization signal BLEQ input transistor of the bit line precharge unit. The problem of the thick gate insulating film of the transistor due to the equalization signal (BLEQ) and the high voltage level is high in the present invention, the equalization signal (BLEQ) input transistor of the bit line precharge part includes a thin gate insulating film, the equalization signal (BLEQ) The precharge operation speed is improved due to the overdriving operation of the voltage level of the equalization signal BLEQ relayed in the repeater of the present invention during the low driving. That is, when the equalization signal BLEQ rises to the logic level high, the voltage level of the boosted voltage VPP is provided, and the voltage level of the external power supply voltage VDD is subsequently reduced to reduce the rising time.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes can be made in the art without departing from the technical spirit of the present invention. It will be clear to those of ordinary knowledge.
예컨대, 전술한 실시예에서 사용된 로직의 종류 및 배치는 입력신호 및 출력 신호가 모두 하이 액티브 신호인 경우를 일례로 들어 구현한 것이므로, 신호의 액티브 극성이 바뀌면 로직의 구현예 역시 변화될 수 밖에 없으며, 이러한 구현예는 경우의 수가 너무나 방대하고, 또한 그 구현예의 변화가 본 발명이 속하는 기술분 아에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 기술적으로 쉽게 유추될 수 있는 사항이므로 각각의 경우에 대해 직접적으로 언급하지는 않기로 한다.For example, since the type and arrangement of the logic used in the above-described embodiment is implemented as an example in which both the input signal and the output signal are high active signals, the implementation of the logic may also change when the active polarity of the signal is changed. This embodiment is not directly related to each case because the number of cases is too large, and the change of the embodiment is a matter that can be easily technically inferred to those skilled in the art belonging to the present invention. It will not be mentioned.
또한, 전술한 실시예에서 신호생성부(401), 중계기 풀업전원부(403) 및 중계기(405)는 복수의 논리회로로 구현하는 경우를 일례로 들어 설명하였으나, 이 역시 하나의 구현예에 지나지 않는다.In addition, in the above-described embodiment, the
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 균등화 신호 중계기에 의해 상기 균등화 신호가 중계될 때, 균등화 신호의 전압 레벨이 소정의 시간 동안은 승압 전압(VPP)을 갖고, 이후에는 외부전원 전압(VDD)을 갖게끔 제어하여, 균등화 신호가 입력되는 비트라인 프리차지부의 균등화 신호 입력 트랜지스터가 얇은 게이트 절연막을 포함하도록하고, 상기 승압 전압(VPP)으로 균등화 신호의 라이징 구간을 활성화시킴으로써 프리차지 속도가 빨라져 결과적으로 프리차지 시간(tRP)의 성능을 개선시킬 수 있다.As described above, in the present invention, when the equalization signal is relayed by an equalization signal repeater, the voltage level of the equalization signal has a boosted voltage VPP for a predetermined time, and then the external power supply voltage VDD is applied. Control to have the equalization signal input transistor of the bit line precharge part into which the equalization signal is input includes a thin gate insulating film, and the precharge speed is increased by activating the rising interval of the equalization signal with the boost voltage VPP. It is possible to improve the performance of the precharge time tRP.
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/477,392 US7564728B2 (en) | 2005-09-29 | 2006-06-30 | Semiconductor memory device and its driving method |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050091675 | 2005-09-29 | ||
KR20050091675 | 2005-09-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070036576A true KR20070036576A (en) | 2007-04-03 |
KR100733408B1 KR100733408B1 (en) | 2007-06-29 |
Family
ID=38158728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050134012A KR100733408B1 (en) | 2005-09-29 | 2005-12-29 | Semiconductor memory device and method for driving the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100733408B1 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100764384B1 (en) * | 2006-06-12 | 2007-10-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | Bitline Equalizing Drive |
KR100954112B1 (en) * | 2008-07-09 | 2010-04-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor memory device |
KR101043738B1 (en) * | 2008-06-04 | 2011-06-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor device and driving method thereof |
KR101053532B1 (en) * | 2009-09-30 | 2011-08-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | Method of driving semiconductor memory device and bit line detection amplifier circuit |
US8116146B2 (en) | 2008-06-04 | 2012-02-14 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor device and method for driving the same |
US10855495B2 (en) | 2017-06-22 | 2020-12-01 | Micron Technology, Inc. | Timing based arbitration methods and apparatuses for calibrating impedances of a semiconductor device |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100318321B1 (en) * | 1999-06-08 | 2001-12-22 | 김영환 | A controll circuit for a bit line equalization signal in semiconductor memory |
KR100406548B1 (en) * | 2001-12-31 | 2003-11-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | Method and Circuit for Bit Line Precharging in Semiconductor Memory Device |
KR100483003B1 (en) * | 2002-07-27 | 2005-04-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor Memory device |
KR100972903B1 (en) * | 2003-09-24 | 2010-07-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | Bit line equalization signal driving circuit of semiconductor memory device |
KR100562654B1 (en) * | 2004-04-20 | 2006-03-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | Equalization signal driving circuit and semiconductor memory device using same |
-
2005
- 2005-12-29 KR KR1020050134012A patent/KR100733408B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100764384B1 (en) * | 2006-06-12 | 2007-10-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | Bitline Equalizing Drive |
KR101043738B1 (en) * | 2008-06-04 | 2011-06-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor device and driving method thereof |
US8116146B2 (en) | 2008-06-04 | 2012-02-14 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor device and method for driving the same |
KR100954112B1 (en) * | 2008-07-09 | 2010-04-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor memory device |
US8169837B2 (en) | 2008-07-09 | 2012-05-01 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device and method for generating bit line equalizing signal |
KR101053532B1 (en) * | 2009-09-30 | 2011-08-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | Method of driving semiconductor memory device and bit line detection amplifier circuit |
US8339872B2 (en) | 2009-09-30 | 2012-12-25 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory apparatus and method of driving bit-line sense amplifier |
US10855495B2 (en) | 2017-06-22 | 2020-12-01 | Micron Technology, Inc. | Timing based arbitration methods and apparatuses for calibrating impedances of a semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100733408B1 (en) | 2007-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7564728B2 (en) | Semiconductor memory device and its driving method | |
US8559254B2 (en) | Precharging circuit and semiconductor memory device including the same | |
US5859799A (en) | Semiconductor memory device including internal power supply circuit generating a plurality of internal power supply voltages at different levels | |
US8779800B2 (en) | Control signal generation circuit and sense amplifier circuit using the same | |
KR100295041B1 (en) | Semiconductor device including a precharge control circuit and precharge method thereof | |
US20070195624A1 (en) | Sense amplifier control circuit and semiconductor device using the same | |
KR100349371B1 (en) | Method of prefetch and restore in semiconductor memory device and circuit thereof | |
KR100665644B1 (en) | Semiconductor memory | |
KR100533384B1 (en) | Semiconductor Memory Device including Global IO line driven by Low Amplitude Voltage Signal | |
KR100618844B1 (en) | Local sense amplifier circuit and semiconductor memory device with improved operating frequency | |
JP2006286163A (en) | Over driver control signal generating circuit in semiconductor memory device | |
KR100733408B1 (en) | Semiconductor memory device and method for driving the same | |
US5825715A (en) | Method and apparatus for preventing write operations in a memory device | |
US7986577B2 (en) | Precharge voltage supplying circuit | |
KR100665408B1 (en) | Differential Amplifier Control Circuit of Semiconductor Memory Device | |
KR100607332B1 (en) | Write / precharge flag generation circuit and bit line isolation driving circuit of sense amplifier using the same | |
KR100701683B1 (en) | Sense Amplifier Power Control Circuit | |
KR100333642B1 (en) | Local databus precharge method for high speed operation of semiconductor memory device | |
US6580656B2 (en) | Semiconductor memory device having memory cell block activation control circuit and method for controlling activation of memory cell blocks thereof | |
KR100862314B1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR20200027044A (en) | Input buffer circuit | |
KR100695512B1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR100691017B1 (en) | Local I / O line precharge control circuit for semiconductor memory device and control method thereof | |
KR20010104901A (en) | Synchronous integrated circuit memory device capable of reducing a data output time | |
KR970008834A (en) | Bitline Sense Amplifier with Offset Compensation Function and Its Control Method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20051229 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20061120 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20070528 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20070622 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20070625 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100524 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110526 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120524 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120524 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |