KR20070017604A - An Inspecting Machine for the Cathode of CCFL - Google Patents
An Inspecting Machine for the Cathode of CCFL Download PDFInfo
- Publication number
- KR20070017604A KR20070017604A KR1020050072077A KR20050072077A KR20070017604A KR 20070017604 A KR20070017604 A KR 20070017604A KR 1020050072077 A KR1020050072077 A KR 1020050072077A KR 20050072077 A KR20050072077 A KR 20050072077A KR 20070017604 A KR20070017604 A KR 20070017604A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- internal electrode
- unit
- cathode fluorescent
- rotating
- shooter
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
- H01J61/04—Electrodes; Screens; Shields
- H01J61/06—Main electrodes
- H01J61/067—Main electrodes for low-pressure discharge lamps
- H01J61/0672—Main electrodes for low-pressure discharge lamps characterised by the construction of the electrode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2893/00—Discharge tubes and lamps
- H01J2893/007—Sequential discharge tubes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
본 발명은 냉음극 형광램프(CCFL) 내부에 구성되는 컵형상의 내부전극을 자동으로 검사하는 장치에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 내부전극을 자동으로 로딩하고 카메라 등으로 표면영상을 획득하여 양·불량을 검사한 후 그 결과에 따라 구분 적재할 수 있도록 하는 냉음극 형광램프의 내부전극 자동검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for automatically inspecting a cup-shaped internal electrode configured in a cold cathode fluorescent lamp (CCFL), and more specifically, automatically loads the internal electrode and acquires a surface image by a camera or the like. The present invention relates to a device for automatically inspecting internal electrodes of cold-cathode fluorescent lamps, which allows inspection and inspection of defects.
이를 위한 본 발명의 구성은 내부전극을 순차적으로 공급하는 부분인 피딩부와; 내부전극의 표면영상을 촬영하는 카메라부와; 내부전극을 장착하여 회전시키는 회전부와; 내부전극을 회전부에 장착하기 위한 로딩부와; 상기 카메라부로부터 전송되는 영상을 분석하여 양·불량을 판별하는 제어부와; 내부전극을 양·불량상태에 따라 구분적재하는 언로딩부로; 구성되는 것을 특징으로 한다.The configuration of the present invention for this purpose and the feeding portion which is a part for sequentially supplying the internal electrode; A camera unit for photographing the surface image of the internal electrode; A rotating unit for mounting and rotating the internal electrode; A loading unit for mounting the internal electrode on the rotating unit; A controller which analyzes an image transmitted from the camera unit to determine whether it is good or bad; An unloading unit which separately classifies internal electrodes according to good and bad conditions; It is characterized in that the configuration.
이로써 종래 수작업으로 이루어지던 내부전극 검사작업을 자동화하여 소요되는 인력과 시간을 대폭 절감할 수 있고, 종래 작업자의 시각에만 의존하였던 검사작업을 고성능 카메라를 사용함으로써 불량검출 능력이 향상되므로 보다 정밀한 검사작업이 수행될 수 있는 효과가 있다.This greatly reduces the manpower and time required by automating the internal electrode inspection work, which was conventionally performed by hand, and improves the defect detection ability by using a high-performance camera for inspection work that was only dependent on the operator's time of day. There is an effect that can be performed.
냉음극 형광램프, 내부전극, 검사, CCD 카메라, 로터리 실린더 Cold Cathode Fluorescent Lamp, Internal Electrode, Inspection, CCD Camera, Rotary Cylinder
Description
도 1은 본 발명에 따른 일실시예의 전체 정면도이며,1 is an overall front view of an embodiment according to the present invention,
도 2는 본 발명에 따른 일실시예의 피딩부의 평면도이며,2 is a plan view of a feeding unit of one embodiment according to the present invention,
도 3은 본 발명에 따른 일실시예의 카메라부의 정면도이며,3 is a front view of a camera unit of an embodiment according to the present invention,
도 4는 본 발명에 따른 일실시예의 회전부 및 언로딩부의 정면도이며,4 is a front view of a rotating part and an unloading part of an embodiment according to the present invention;
도 5는 본 발명에 따른 일실시예의 언로딩부의 좌측면도이며,5 is a left side view of the unloading part of the embodiment according to the present invention;
도 6은 본 발명에 따른 일실시예의 피딩부의 우측면도이며,6 is a right side view of the feeding part of the embodiment according to the present invention;
도 7은 도 6에서 핑거가 내부전극을 샤프트에 삽입하기 위해 스테핑모터에 의해 회전된 모습을 보여주는 도면이며,FIG. 7 is a view illustrating a finger rotated by a stepping motor to insert an internal electrode in a shaft in FIG. 6.
도 8은 본 발명에 따른 일실시예에서 내부전극이 피딩부에서 로딩부로 이송되는 과정을 보여주는 도면이다.8 is a view showing a process in which the internal electrode is transferred from the feeding unit to the loading unit in one embodiment according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 설명 *Description of the main parts of the drawing
10 : 피딩부 11 : 보울피더(bowl feeder)10: feeding unit 11: bowl feeder (bowl feeder)
12 : 라인피더(line feeder) 13 : 에어블로우(air blow)12: line feeder 13: air blow
20 : 카메라부 21 : 카메라20: camera unit 21: camera
22 : X-Y 스테이지 23 : θ 스테이지22: X-Y stage 23: θ stage
30 : 회전부 31 : 스테핑모터30: rotating part 31: stepping motor
32 : 샤프트 33 : 결합축32: shaft 33: coupling shaft
34 : 정밀베어링 40 : 로딩부34: precision bearing 40: loading part
41 : 스테핑모터 42 : 실린더41: stepping motor 42: cylinder
43 : 핑거 50 : 언로딩부43: finger 50: unloading unit
51 : 적재함 52 : 파이프슈터51: loading box 52: pipe shooter
53 : 로터리실린더53: rotary cylinder
본 발명은 냉음극 형광램프(CCFL) 내부에 구성되는 컵형상의 내부전극을 자동으로 검사하는 장치에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 내부전극을 자동으로 로딩하고 카메라 등으로 표면영상을 획득하여 양·불량을 검사한 후 그 결과에 따라 구분 적재할 수 있도록 하는 냉음극 형광램프의 내부전극 자동검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for automatically inspecting a cup-shaped internal electrode configured in a cold cathode fluorescent lamp (CCFL), and more specifically, automatically loads the internal electrode and acquires a surface image by a camera or the like. The present invention relates to a device for automatically inspecting internal electrodes of cold-cathode fluorescent lamps, which allows inspection and inspection of defects.
액정표시장치용 백라이트에 사용되는 냉음극 형광램프(CCFL)에는 일반적으로 유리관 내부에 실린더형의 니켈(Ni) 전극을 설치하여 상기 니켈 전극을 통한 전압방전에 의하여 고휘도의 빛을 발생시키게 되는데, 최근에는 상기 니켈 전극 대신에 몰리브덴(Mo) 전극을 사용하기도 한다.Cold cathode fluorescent lamps (CCFLs) used in backlights for liquid crystal displays generally have cylindrical nickel (Ni) electrodes inside glass tubes to generate high luminance light by voltage discharge through the nickel electrodes. Molybdenum (Mo) electrodes may be used in place of the nickel electrodes.
상기 냉음극 형광램프(CCFL)에 사용되는 내부전극은 컵(Cup)형태로 구성되므로, 실무상 몰리브덴 전극의 경우에는 몰리-컵(Moly Cup)이라고 칭하기도 한다.Since the internal electrode used in the cold cathode fluorescent lamp (CCFL) is configured in the form of a cup (Cup), in the case of a practical molybdenum electrode may be referred to as a molten cup (Moly Cup).
상기 냉음극 형광램프(CCFL)의 발광작용은 이러한 내부전극에 전압방전을 일으켜 발생하는 것이므로 상기 내부전극에는 미세한 크랙이나 스크래치가 있어도 제대로 기능을 발휘하지 못하게 되거나 수명이 현저히 저하되는 문제점이 있었다.Since the light-emitting action of the cold cathode fluorescent lamp (CCFL) is caused by voltage discharge on the internal electrodes, there is a problem in that the internal electrodes do not function properly even if there is a minute crack or scratch, or the life is significantly reduced.
그리하여 내부전극 표면에 결함(크랙, 스크래치 등)이 있는지를 작업자의 시각으로 판별하여 양호한 경우에만 냉음극 형광램프(CCFL)에 사용되도록 하였으나, 작업자의 시각으로 판별하는 방법은 정확도가 떨어질 뿐만 아니라 검사작업시 소요되는 시간 및 인력이 증대되어 비경제적인 문제점이 있었다.Therefore, it was determined by the operator's time whether the internal electrode surface had defects (crack, scratch, etc.) and used for cold cathode fluorescent lamps (CCFL) only in good cases. There was an uneconomical problem due to increased time and manpower required for the work.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로써, 본 발명의 목적은 종래 수작업으로 이루어지던 냉음극 형광램프(CCFL)의 내부전극 검사작업을 자동화하여 소요되는 인력과 시간을 대폭 절감하고, 보다 정밀한 검사작업이 수행 될 수 있도록 하는 냉음극 형광램프의 내부전극 자동검사 장치를 제공하는 데 있다.The present invention was made to solve the above problems, an object of the present invention is to significantly reduce the manpower and time required by automating the internal electrode inspection of the cold cathode fluorescent lamp (CCFL) that was made by hand, An object of the present invention is to provide an automatic inspection apparatus for an internal electrode of a cold cathode fluorescent lamp, which enables more precise inspection work to be performed.
이를 위한 본 발명의 구성은 내부전극을 순차적으로 공급하는 부분인 피딩부와; 내부전극의 표면영상을 촬영하는 카메라부와; 내부전극을 장착하여 회전시키는 회전부와; 내부전극을 회전부에 장착하기 위한 로딩부와; 상기 카메라부로부터 전송되는 영상을 분석하여 양·불량을 판별하는 제어부와; 내부전극을 양·불량상태에 따라 구분적재하는 언로딩부;로 구성되는 것을 특징으로 한다.The configuration of the present invention for this purpose and the feeding portion which is a part for sequentially supplying the internal electrode; A camera unit for photographing the surface image of the internal electrode; A rotating unit for mounting and rotating the internal electrode; A loading unit for mounting the internal electrode on the rotating unit; A controller which analyzes an image transmitted from the camera unit to determine whether it is good or bad; And an unloading unit for classifying and stacking the internal electrode according to a good or bad state.
이하, 본 발명의 구성을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 살펴본다.Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
상기 피딩부(10)는 내부전극을 하나씩 순차적으로 공급하는 부분으로써, 보울피더(11)와; 라인피더(12); 에어블로우(13)가 순차적으로 구성된다.The
상기 보울피더(11)는 도넛형태의 원판으로써, 다수개의 내부전극을 올려놓고 진동에 의해 상부로 이송시킨다.The
상기 라인피더(12)는 튜브형태로 상기 보울피더(11)의 상부에 연결되어, 내부전극을 연속적으로 이송하게 된다.The
상기 에어블로우(13)은 상기 라인피더(12)로부터 이송되는 내부전극을 후술할 로딩부로 하나씩 이송시킨다.The
상기 카메라부(20)는 내부전극의 표면영상을 촬영하는 부분으로써, 카메라(21)와; LED 라이트(도면 미도시)와; X-Y스테이지(22)와; θ스테이지(23)로 구성된다.The
상기 카메라(21)는 내부전극의 표면영상을 촬영하여 후술할 제어부로 전송하게 되며, 상기 LED 라이트를 일측에 설치하여 조명을 제공하고, 상기 X-Y스테이지(22)와 θ스테이지(23)를 조정함으로써 상기 카메라의 위치 및 각도를 변경할 수 있도록 하여 보다 선명한 내부전극의 표면영상을 획득할 수 있도록 한다.The
상기 회전부(30)는 내부전극을 장착하여 회전시키는 부분으로써, 스테핑 모터와(31); 샤프트(32)으로 구성된다.The rotating
상기 스테핑모터(31)를 통해 가속, 정속, 감속의 속도 가변 및 회전각 제어가 용이해지므로, 내부전극의 외주면 촬영시 제어가 용이해지는 잇점이 있다.The
상기 샤프트(32)는 상기 내부전극의 오목한 부분(개방된 부분)이 삽입되는 부분으로, 상기 스테핑모터(31)의 축과 결합되도록 한다. 여기서 상기 스테핑모터(31)의 축과 상기 샤프트(32)를 결합함에 있어서는 결합축(33)와, 상기 결합부재(33)의 외주면으로 정밀베어링(34)을 설치하여 미세한 각도조절이 가능하도록 구성할 수도 있다.The
상기 로딩부(40)는 내부전극을 상기 샤프트(32)에 삽입하기 위한 부분으로 써, 스테핑모터(41)와; 실린더(42)와; 센서(도면 미도시)와; 핑거(43)로 구성된다.The
상기 핑거(43)는 상기 피더부(10)를 통해 공급되는 내부전극을 하나씩 잡고 상기 회전부(30)의 샤프트(32)에 끼우는 구성으로써, 공압으로 작동되도록 하는 것이 바람직하다.The
상기 센서(도면 미도시)는 상기 피더부(10)로부터 수직방향으로 공급되어 상기 핑거(43)로 이송된 내부전극의 상태가 오목한 부분이 위쪽인지 아래쪽인지를 파악하는 구성으로써, 입력되는 신호를 제어부로 전송한다..The sensor (not shown) is configured to determine whether the concave portion of the internal electrode supplied from the
상기 실린더(42)는 상기 핑거(43)에 잡혀진 내부전극을 상기 샤프트(32)쪽으로 전진시키는 구성으로써, 내부전극을 상기 샤프트(32)에 삽입시키게 된다.The
상기 스테핑모터(41)는 상기 핑거(43)를 시계방향 또는 반시계방향으로 소정각도 만큼 회전시켜 주는 구성이다.The stepping
상기와 같이 구성되는 로딩부(40)의 작용을 보다 상세하게 살펴보면, 상기 피더부(10)로부터 수직방향으로 공급되는 내부전극을 상기 핑거(43)로 잡게 되는데, 이 때 센서(도면 미도시)을 통하여 상기 핑거(43)로 이송된 내부전극이 오목한 부분이 위쪽인지 아래쪽인지를 파악하게 된다.Looking in more detail the operation of the
그리고 센서(도면 미도시)로부터 파악되는 정보를 통해 스테핑모터(41)를 이용하여 상기 핑거(43)를 회전시키게 된다. Then, the
즉, 내부전극이 오목한 부분이 위쪽을 향하게 되면 시계방향으로, 오목한 부분이 아래쪽을 향하게 되면 반시계방향으로 90도 만큼 상기 핑거(43)를 회전시킨 다음 상기 실린더(42)를 통해 내부전극을 상기 샤프트(32)에 삽입하게 된다.That is, when the recessed portion of the inner electrode faces upward, when the recessed portion faces downward, the
상기 제어부(도면 미도시)는 카메라부(20)로부터 전송되는 내부전극의 표면영상을 분석하여 양·불량을 판별하는 부분으로써, 상기 영상을 디스플레이하는 모니터와; 상기 영상을 분석하는 컴퓨터 등의 프로세서로 구성된다. The control unit (not shown) is a part for analyzing the surface image of the internal electrode transmitted from the
상기 언로딩부(50)는 내부전극을 양·불량상태에 따라 구분적재하는 부분으로써, 좌우측에 각각 구성되는 적재함(51)과; 상기 적재함 상에 위치하는 파이프슈터(52)와; 상기 파이프슈터 하부측면에 구성되는 로터리실린더(53)로 구성된다.The
상기 좌우측에 각각 구성되는 적재함(51)은 일측에는 불량(51a), 타측에는 양호(51b) 상태의 내부전극이 적재되도록 한다.The
상기 파이프슈터(52)는 상부로 부채꼴형상으로 개구되는 한편, 하부로는 상대적으로 좁게 개구되는 형상으로 구성하고, 중심부를 핀 등으로 고정시켜 좌우방향으로 일정각도 회전이 가능하도록 구성된다. 여기서 상기 파이프슈터(52)는 스프링을 이용하여 일측 적재함을 향하도록 하는 것이 바람직하다.The
상기 로터리실린더(53)는 상기 파이프슈터(52) 하부측면에 구성되어 상기 제어부의 제어신호를 받아 돌출 또는 삽입되는 구성으로써, 상기 파이프슈터(52)의 하부가 향하는 방향을 제어하는 부분이다.The
상기와 같이 구성되는 언로더부(50)의 작용을 예를 들어 설명하면 다음과 같 다.Referring to the operation of the
상기 파이프슈터(52)의 하부가 스프링의 작용으로 인해 불량(51a) 적재함으로 향하고 있을 경우, 제어부로부터 해당 내부전극의 표면상태가 양호하다는 제어신호를 수신하면 상기 로터리실린더(53)를 돌출시켜 상기 파이프슈터(52)의 하부를 양호(51b) 적재함으로 향하도록 하여 해당 내부전극을 양호(51b) 적재함에 적재하게 된다.When the lower part of the
이로써 종래 수작업으로 이루어지던 냉음극 형광램프의 내부전극 검사작업을 자동화하여 소요되는 인력과 시간을 대폭 절감할 수 있고, 종래 작업자의 시각에만 의존하였던 검사작업을 고성능 카메라를 사용함으로써 불량검출 능력이 향상되므로 보다 정밀한 검사작업이 수행될 수 있는 효과가 있다.This greatly reduces the manpower and time required by automating the internal electrode inspection of cold cathode fluorescent lamps, which were conventionally performed by hand, and improves the defect detection ability by using high-performance cameras for inspection tasks that depended only on the operator's time of day. Therefore, there is an effect that a more precise inspection can be performed.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050072077A KR100719445B1 (en) | 2005-08-08 | 2005-08-08 | An Inspecting Machine for the Cathode of CCFL |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050072077A KR100719445B1 (en) | 2005-08-08 | 2005-08-08 | An Inspecting Machine for the Cathode of CCFL |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070017604A true KR20070017604A (en) | 2007-02-13 |
KR100719445B1 KR100719445B1 (en) | 2007-05-18 |
Family
ID=41634259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050072077A KR100719445B1 (en) | 2005-08-08 | 2005-08-08 | An Inspecting Machine for the Cathode of CCFL |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100719445B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100919295B1 (en) * | 2007-12-28 | 2009-10-01 | 주식회사 유비젼 | Inspection System for External Electrode Fluorescent Lamp |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200357221Y1 (en) | 2004-04-27 | 2004-07-23 | 주식회사 진우엔지니어링 | Cold Cathode Fluorescent Lamp |
-
2005
- 2005-08-08 KR KR1020050072077A patent/KR100719445B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100919295B1 (en) * | 2007-12-28 | 2009-10-01 | 주식회사 유비젼 | Inspection System for External Electrode Fluorescent Lamp |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100719445B1 (en) | 2007-05-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7508504B2 (en) | Automatic wafer edge inspection and review system | |
JP2009535782A (en) | Board illumination / inspection equipment | |
CN1550776A (en) | Substrate inspecting method and substrate inspecting apparatus using the method | |
KR20090028505A (en) | End section inspecting apparatus | |
US20050071997A1 (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
JP2015163843A (en) | Rivet inspection device for aircraft | |
KR100719445B1 (en) | An Inspecting Machine for the Cathode of CCFL | |
CN107340301B (en) | Automatic detection device for medical glass bottle | |
CN113447487A (en) | Screen damage detection method, screen damage detection system and screen printing equipment | |
KR20180127204A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device | |
JP6543816B2 (en) | Component mounting apparatus and component mounting method | |
KR20200090092A (en) | Inspection apparatus | |
JP6794529B2 (en) | Surface mounter | |
JP6602690B2 (en) | Parts mounting machine | |
JP2010197239A (en) | Inspecting illumination device, illumination dimming method for the same and particulate foreign material inspecting device | |
KR101202301B1 (en) | Apparatus for camera module continous test and focus adjustment | |
KR20040082564A (en) | A method and electronic part inspection apparatus for vision system | |
WO2002054480A1 (en) | Lighting system used in apparatus for inspecting surface mounted chip | |
KR20070015819A (en) | A sheet auto inspection machine | |
JP2023517166A (en) | Wafer edge defect inspection device and inspection method | |
KR100763240B1 (en) | The method of inspecting badness of screw hole in inner case of lcd monitor | |
WO2021166446A1 (en) | Apparatus for inspecting appearance of capsule | |
KR200407473Y1 (en) | Electrode Inspection System for Cold Cathode Fluorescent Lamp | |
JP2008164639A (en) | Product inspection method and device | |
JP3161829U (en) | Quartz piece inspection and classification equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |