KR20060116979A - 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법 - Google Patents

터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20060116979A
KR20060116979A KR1020050039648A KR20050039648A KR20060116979A KR 20060116979 A KR20060116979 A KR 20060116979A KR 1020050039648 A KR1020050039648 A KR 1020050039648A KR 20050039648 A KR20050039648 A KR 20050039648A KR 20060116979 A KR20060116979 A KR 20060116979A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch screen
screen panel
jig
providing
base plate
Prior art date
Application number
KR1020050039648A
Other languages
English (en)
Inventor
강호정
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020050039648A priority Critical patent/KR20060116979A/ko
Publication of KR20060116979A publication Critical patent/KR20060116979A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803—Visual inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 터치스크린패널 외관 상의 이물이나 얼룩 등의 불량 검출이 용이하도록 하는 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한 외관검사방법에 관한 것이다.
본 발명은 육안으로 터치스크린패널의 외관검사를 하는데 이용되는 외관검사장치에 있어서, 상기 터치스크린패널의 상부영역의 조도가 2500lux ~ 3000lux 되도록 광을 발생시키는 광원유닛과 상기 터치스크린패널의 배경영역인 암부영역의 조도가 100lux ~ 300lux 되도록 상기 암부영역을 마련하는 암부제공부를 구비한다.
터치스크린패널, 외관검사, 지그베이스, 연결부, 암부영역, 검사가능영역

Description

터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한 외관검사방법{THE TEST EQUIPMENT INSPECTING TOUCH SCREEN PANEL AND INSPECTING METHOD WITH THE SAME}
도1은 본 발명의 실시 예에 따른 터치스크린패널의 외관검사장치를 이용하여 작업자가 터치스크린패널을 검사하는 모습을 나타낸 사시도이고,
도2는 도1에 도시된 지그베이스의 형상을 나타낸 사시도이고,
도3은 도2의 지그베이스를 x축 방향에서 바라본 도면이고,
도4는 도1을 x축 방향에서 바라본 도면이고,
도5a는 종래의 검사가능영역과 난반사영역과 암부영역을 나타낸 도면이고,
도5b는 본 발명의 실시 예에 따른 검사가능영역과 난반사영역과 암부영역을 나타낸 도면이고,
도6은 도1에 도시된 검사장치를 이용하여 터치스크린패널을 검사하는 방법을 나타낸 도면이고,
도7은 도6에 도시된 터치스크린패널을 상세히 나타내는 사시도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 설명>
30 : 터치스크린패널; 100 : 지그베이스
110 : 베이스 플레이트; 120 : 연결부
130 : 지지부; 200 : 고정대
300 : 지그; 400 : 액정표시모듈
본 발명은 터치스크린패널 검사장치 및 이를 사용한 검사방법에 관한 것으로, 특히 터치스크린패널 외관상의 이물이나 얼룩 등의 불량 검출이 용이하도록 하는 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한 외관검사방법에 관한 것이다.
터치스크린패널이 완성된 후 모듈 공정에서는 터치스크린패널을 액정표시모듈에 탑재하기 전에 터치스크린패널 외관상의 불량 여부를 검사한다. 이 때, 작업자는 터치스크린패널의 외곽부를 손으로 잡고 육안으로 터치스크린패널의 외관검사를 실시한다.
한편, 터치스크린패널의 상부영역은 밝게 비춰지고 터치스크린패널의 배경영역인 암부영역은 어두워야 이물이나 얼룩 등의 불량 검출이 용이하다.
그러나, 기존 클린부스(cleanbooth) 내의 작업 조건 하에서는 액정표시모듈이 탑재된 지그(jig), 지그를 고정하는 고정대, 고정대를 지지하는 지그베이스(jig base), 제전매트 등에서 광의 난반사가 많이 일어난다. 그 결과, 터치스크린패널의 상부영역과 암부영역의 조도 차이가 크지 않아 작업자가 이물이나 얼룩 등의 불량 을 검출하기에 어렵다.
또한, 종래에는 터치스크린패널을 액정표시모듈에 탑재한 후에 수행하는 검사단계에서 터치스크린패널 외관검사 시 검출되지 않은 불량이 많이 검출되므로 생산성이 감소한다.
그리고, 종래의 지그베이스는 베이스 플레이트 하면에서 지지부의 전면의 상단까지의 높이가 높지 않아 암부영역을 많이 확보할 수 없기 때문에 터치스크린패널이 검사가능영역과 난반사영역에 걸쳐져서 검사가 용이하지 않다.
한편, 터치스크린패널 외관검사 시 사용되는 광원유닛은 램프에서 발생되는 광을 반사시키는 램프하우징의 출광부의 일측과 타측의 간격이 넓어 광이 작업자의 눈에 직접적으로 들어가기 때문에 작업자의 눈이 금방 피로를 느끼게 되고 검사 조건을 특정하기가 어려우며 넓은 영역에 걸쳐 지그, 지그베이스, 제전매트 등에서의 난반사를 야기하여 불량 검출이 어렵다는 문제점이 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 터치스크린패널 외관상의 이물이나 얼룩 등의 불량 검출이 용이하도록 하는 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한 외관검사방법을 제공하는 데 있다.
상기 기술적 과제를 이루기 위하여, 본 발명은 육안으로 터치스크린패널의 외관검사를 하는데 이용되는 외관검사장치에 있어서, 상기 터치스크린패널의 상부영역의 조도가 2500lux ~ 3000lux 되도록 광을 발생시키는 광원유닛과; 상기 터치스크린패널의 배경영역인 암부영역의 조도가 100lux ~ 300lux 되도록 상기 암부영역을 마련하는 암부제공부를 구비한다. 이 때, 암부영역의 조도는 100lux ~ 200lux일 수 있다.
여기서, 상기 암부제공부는 상기 터치스크린패널과 결합되어질 액정표시모듈이 탑재된 지그와; 상기 지그 하부에 위치하여 상기 지그를 고정하는 고정대와; 상기 고정대 하부에 위치하여 상기 고정대를 지지하는 지그베이스를 구비한다.
그리고, 지그베이스는 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트에 수직으로 형성되는 지지부와; 상기 베이스 플레이트에 수직으로 형성되어 상기 지지부를 연결하는 연결부로 이루어진다.
상기 지지부는 측면이 사다리꼴 형상이고 후면의 높이가 전면의 높이보다 높아 소정의 각도로 기울어지고 상기 베이스 플레이트의 하면에서 상기 지지부의 전면의 상단까지의 높이는 80mm ~ 150mm이다. 이 때, 상기 베이스 플레이트의 하면에서 상기 지지부의 전면의 상단까지의 높이는 90mm ~ 110mm일 수 있다.
상기 지그베이스는 광흡수 재질이어서 광의 난반사를 줄이도록 한다.
상기 광원유닛은 상기광을 발생시키는 광원과; 상기 터치스크린패널쪽으로 개구부를 가지며 상기 광원을 감싸도록 형성된 램프하우징을 구비한다.
상기 기술적 과제를 이루기 위하여, 본 발명은 터치스크린패널의 상부영역의 조도가 2500lux ~ 3000lux 되도록 광을 발생시키는 광원유닛을 마련하는 단계와; 상기 터치스크린패널의 배경영역인 암부영역의 조도가 100lux ~ 300lux 되도록 상기 암부영역을 마련하는 암부제공부를 마련하는 단계와; 상기 터치스크린패널을 상기 암부제공부와 인접하게 위치시키는 단계와; 상기 터치스크린패널을 움직이면서 상기 터치스크린패널의 외관을 육안으로 검사하는 단계를 포함한다. 이 때, 상기 암부영역의 조도는 100lux ~ 200lux일 수 있다.
상기 암부제공부를 마련하는 단계는 베이스 플레이트, 상기 베이스 플레이트로부터 수직으로 신장되고 상기 베이스 플레이트 하면에서 상기 지지부 전면의 상단까지의 높이가 80mm ~ 150mm 되도록 하는 지지부, 상기 지지부 사이에 형성되는 연결부를 가지는 지그베이스를 마련하는 단계와; 상기 지그베이스에 의해 지지되고 상기 터치스크린패널과 결합되어질 액정표시모듈이 탑재된 지그를 고정하는 고정대를 마련하는 단계와; 상기 지그를 마련하는 단계이다.
이 때, 상기 지그베이스를 마련하는 단계는 베이스 플레이트, 상기 베이스 플레이트로부터 수직으로 신장되고 상기 베이스 플레이트 하면에서 상기 지지부 전면의 상단까지의 높이가 90mm ~ 110mm 되도록 하는 지지부, 상기 지지부 사이에 형성되는 연결부를 마련하는 단계일 수 있다.
상기 광원유닛을 마련하는 단계는 광을 발생시키는 광원, 상기 터치스크린패널쪽으로 개구부를 가지며 상기 광원을 감싸도록 형성된 램프하우징을 마련하는 단계이다.
그러면, 도1 내지 도 7을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
도1은 본 발명의 실시 예에 따른 터치스크린패널의 외관검사장치를 나타내는 사시도이고, 도2는 도1에 도시된 지그베이스의 형상을 나타낸 사시도이고, 도3은 도2의 지그베이스를 x축 방향에서 바라본 도면이고, 도4는 도1을 x축 방향에서 바라본 도면이다.
도1에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시 예에 따른 터치스크린패널의 외관검사장치는 지그베이스(100)와, 지그베이스(100)와 결합되는 고정대(200)와, 고정대(200)에 고정되며 터치스크린패널(30)과 결합될 액정 표시 모듈(400)이 탑재된 지그(300)와, 터치스크린패널(30)의 외관 검사시 필요한 광을 발생하는 광원유닛(500)을 구비한다.
지그베이스(100)는 도2 및 도3에 도시된 바와 같이 베이스 플레이트(110)와, 베이스 플레이트(110) 상에 수직으로 신장된 지지부(130)들과, 지지부(130)들을 연결하는 연결부(120)를 구비한다.
베이스 플레이트(110)는 다면체 형상으로 형성되며 정전기 발생을 억제하는 제전매트(60)를 사이에 두고 검사 공간 내의 작업대(50)에 위치한다.
지지부(130)들은 베이스 플레이트 상면(116)의 일측과 타측에서 베이스 플레이트 상면(116)에 수직하게 신장된다. 이러한 두 개의 지지부(130)는 소정 간격으로 이격되고 그 모양과 크기가 동일하다. 이와 달리, 지지부(130)들은 베이스 플레이트(110)의 x축 방향의 길이에 따라 하나로 형성될 수도 있으며 일정 간격으로 이격되어 3개 이상으로 형성될 수도 있다.
또한, 지지부(130)는 경사면(136)을 가지도록 후면(134)의 높이가 전면(132) 의 높이보다 높은 사다리꼴 모양이다. 이 때, 베이스 플레이트 하면(112)에 대해 수평한 면과 지지부의 경사면(136)이 이루는 각도(C)는 30도 ~ 45도이다. 그리고, 베이스 플레이트 하면(112)에서 지지부 전면(132)의 상단까지의 높이(A)는 80mm ~ 150mm이다. 만약, 지그베이스(100)의 베이스 플레이트 하면(112)에서 지지부 전면(132)의 끝단까지의 높이(A)가 150mm를 초과하게 되면 작업자의 어깨가 올라감으로써 작업을 하는데 불편함이 발생한다. 따라서, 지그베이스(100)의 베이스 플레이트 하면(112)에서 지지부 전면(132)의 끝단까지의 높이(A)는 150mm를 초과하지 않도록 하여야 한다. 즉, 작업자의 평균키를 고려해 지그베이스(100)의 베이스 플레이트 하면(112)에서 지지부 전면(132)의 끝단까지의 높이(A)를 조정해야 하며 작업자의 평균키를 고려한 보다 바람직한 높이(A)는 90mm ~ 110mm이다.
이러한 지지부의 경사면(136)에는 경사면(136)에 대해 수직한 방향으로 고정돌기(138)가 돌출되어 있다. 이 고정돌기(138)는 도4에 도시된 바와 같이 고정대(300)의 홈(220)에 삽입된다.
연결부(120)는 지지부 후면(134)과 베이스 플레이트 후면(114) 위치에 베이스 플레이트 하면(112)과 수직하게 다면체 모양으로 형성되어 소정 간격으로 이격된 지지부(130)를 연결한다. 이러한 연결부(120)의 높이(B)는 110mm ~ 210mm이다.
한편, 지그베이스(100)는 베이스 플레이트(110)와 지지부(130)와 연결부(120)가 하나로 된 일체형인 것이 바람직하며 광의 반사를 적게 하기 위해 광을 흡수하는 재질로 되어 있거나 전체 표면이 검은색으로 칠해져 있어서 광반사가 적은 것이 바람직하다.
이러한 지그베이스(100) 위에는 고정대(200) 및 지그(300)가 순차적으로 장착된다.
고정대(200)는 지그베이스(100)와 결합되는 홈(220)과, 지그(300)를 고정하기 위한 방지부(210)를 구비한다.
홈(220)은 지그베이스(100)의 고정돌기(138)와 결합되어 고정대(200)가 지그베이스(100) 위에 장착된다. 이러한 홈(220)의 개수는 고정돌기(138)와 대응되도록 고정돌기(138)의 개수와 동일한 것이 바람직한다. 한편, 고정대의 홈을 지그(300)내에 직접 구비하여 고정대(200)없이 지그베이스(100)와 지그(300)를 직접 고정시킬 수 있다.
방지부(210)는 작업자 방향으로 기울어진 지그(300)가 떨어지지 않도록 소정 높이로 돌출되어 형성된다.
지그(300)는 지그(300) 내부에 탑재되는 액정 표시 모듈(400)을 고정시키는 고정부(321,322,323)와, 지그(300) 내부의 폭을 조절하기 위한 폭 조절부(310)를 구비한다.
고정부(321,322,323)는 액정표시모듈(400)의 외곽부를 잡아 고정시키도록 돌출되어 형성된다. 이러한 고정부(321,322,323)는 지그의 경사면(330) 위에서 수직한 방향으로 돌출되어 있는 제1고정부와, 지그(300)내에서 지그(300)의 상면(332)에 대해 수직한 방향으로 돌출되어 있는 제2고정돌기(322)와 제3고정돌기(323)를 포함한다. 이 제1 내지 제3고정부(321, 322, 323) 각각은 액정표시모듈(400)이 대형화될수록 그 개수 또는 폭이 증가한다.
폭 조절부(310)는 지그(300)의 한 측면에서 역 "L" 모양으로 돌출되어 제2고정부(322)와 제3고정부(323)와 연결되어 있다. 이러한 폭 조절부(310)를 작업자가 잡고 당기면 제2고정부(322)와 제3고정부(323)의 간격이 벌어져 액정표시모듈(400)이 지그(300)내에 탑재된다. 그리고, 폭 조절부(310)를 작업자가 잡고 밀면 제2고정부(322)와 제3고정부기(323)의 간격이 좁아져 액정표시모듈(400)이 지그(300)내에 고정된다.
한편, 액정표시모듈(400)의 크기에 따라 지그(300)의 크기가 달라질 수 있고 지그(300)의 크기에 따라 고정대(200)의 크기가 달라질 수 있다. 또한, 고정대(200)의 크기에 따라 지그베이스(100)의 크기가 달라질 수 있지만 작업자의 작업 효율성과 생산성을 고려해 지그베이스(100)는 공용화하는 것이 바람직하다.
광원유닛(500)은 액정표시모듈(400)에서 z축방향으로 터치스크린패널(30)의 외관검사에 필요한 광을 공급하며, 작업자의 눈높이에 위치해 있다. 이러한, 광원유닛(500)은 터치스크린패널의 상부영역의 조도가 2500lux ~ 3000lux 되도록 광을 터치스크린패널에 조사한다. 이를 위해, 광원유닛(500)은 광을 발생하는 광원(510)과, 광원을 감싸도록 형성된 램프 하우징(520)을 구비한다.
광원(510)은 장시간 작업하는 작업자들의 눈의 피로를 덜어주기 위해 삼파장 램프(510)를 사용하는 것이 바람직하다.
램프 하우징(520)은 광원(510)에서 출광되는 광을 반사시킨다. 이러한 램프하우징(520)은 광원(510) 주위로 설치되어 있으며 터치스크린패널(30)쪽으로 개구부를 갖는다. 이 램프하우징(520)의 출광부의 일측(522)과 타측(524)의 간격이 넓 으면 광원(510)에서 나오는 광이 작업자의 눈에 직접적으로 들어가 작업자가 피로를 금방 느끼게 된다. 따라서, 램프하우징(520)은 일측(522)과 타측(524)의 간격을 광원(510)에서 출광되는 광이 작업자의 눈에 직접적으로 들어가는 것을 피하도록 한다. 예를 들어, 램프하우징(520)은 광원(510)을 감싸도록 하거나 광원(510) 둘레의 1/2이상을 덮도록 일측(522)과 타측(524)의 간격을 좁힌다. 또한, 램프하우징(520)의 일측(522)과 타측(524)의 간격이 좁으면 광이 좁게 출광되기 때문에 검사 공간을 지그가 설치된 공간에 한정하여 특정할 수 있다.
다음으로, 터치스크린패널(30)을 지그(300)에 밀착시켜 외관 검사할 경우 발생하는 종래와 본 발명의 검사가능영역과 난반사영역과 암부영역에 대해 도5a 및 도5b를 결부하여 설명하기로 한다. 여기서, 암부영역(F,I)은 터치스크린패널(30)의 후면부에 위치하여 어두운 배경영역을 형성하는 역할을 한다.
도5a는 종래의 검사가능영역과 난반사영역과 암부영역을 나타낸 도면이고, 도5b는 본 발명의 실시 예에 따른 검사가능영역과 난반사영역과 암부영역을 나타낸 도면이다.
도5a에 도시된 바와 같이 종래 지그베이스(600)의 베이스 플레이트 하면(612)에서 지지부 전면(632)의 끝단까지의 높이(A'), 즉 지지부의 높이가 상대적으로 낮은 80mm이하로 종래 암부영역(I)이 상대적으로 좁다.
그 결과, 종래 터치스크린패널의 검사가능영역(G1, G2)을 충분히 확보할 수 없는 대신 검사가 용이하지 않은 난반사영역(H)이 상대적으로 넓어진다. 이로써, 터치스크린패널(30)이 검사가능영역(G)과 난반사영역(H)에 걸쳐져 터치스크린패널 (30)의 검사가 용이하지 않다.
반면에, 도5b에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 지그베이스(100)는 베이스 플레이트 하면(112)에서 지지부 전면(132)의 상단까지의 높이(A)가 상대적으로 먼 80mm ~ 150mm이다. 지지부(300)의 높이가 상대적으로 높음에 따라 본 발명은 종래에 비해 상대적으로 많은 암부영역(F)을 확보할 수 있다. 그 결과, 광의 난반사로 인해 검사가 용이하지 않는 영역인 난반사영역(E)이 줄어들고 검사가능영역(D)을 종래보다 많이 확보할 수 있다. 이로써, 터치스크린패널(30)이 검사가능영역(D)에 위치하므로 터치스크린패널의 검사가 용이하다.
한편, 본 발명에 따른 터치스크린패널(30)의 검사가능영역(D)은 터치스크린패널(30)을 기준으로 상부영역(D1)과 하부영역(D2)으로 나눌 수 있으며 상부영역(D1)에서는 광이 터치스크린패널(30)에서 반사되어 작업자의 눈으로 들어가게 된다. 이 때, 상부영역(D1)의 조도는 검사하기에 적합한 2500lux ~ 3000lux이다.
그리고, 암부영역(F)은 터치스크린패널(30)과 결합되어질 액정표시모듈(400)이 탑재된 지그(300)와 지그(300)를 고정하는 고정대(200)와 고정대(200)을 지지하는 지그베이스(100)를 구비하는 암부제공부에 의해 형성된다. 암부영역(F)의 조도는 광이 도달하지 않으므로 100lux ~ 300lux가 된다. 특히, 암부영역(F)의 조도는 어두울수록 이물검출에 용이하므로 보다 바람직하게는 100lux ~ 200lux가 되도록 하며 이 때의 터치스크린패널 불량 검출력은 약 34000PPM으로써 다른 조도일 때의 터치스크린패널 불량 검출력인 약 25000PPM에 비해 약 36% 향상되었다.
또한, 터치스크린패널(30) 상부영역(D1)과 어두운 배경영역인 암부영역(F)과 의 조도차이가 클수록 외관 검사시에 용이하다. 그런데, 상술한 바와 같은 검사 조건에서는 터치스크린패널(30)의 상부영역(D1)의 조도가 2500lux ~ 3000lux이고, 암부영역(F)에서는 100lux ~ 300lux이기 때문에 작업자가 쉽게 이물, 불량 등을 검출할 수 있다.
도6은 본 발명에 따른 터치스크린패널의 외관검사방법을 설명하기 위한 도면이며, 도7은 도6에 도시된 터치스크린패널을 상세히 나타내는 사시도이다.
도6 및 도7을 참조하면, 작업자는 터치스크린패널(30)의 제1면(32)을 지그(300)의 상면(332)과 수평하게 밀착시키고 제2면(34)만을 위 아래로 움직여 터치스크린패널(30)의 전면(36)에 대한 외관검사를 한다. 이 때, 터치스크린패널(30)의 상부 영역(D)의 조도가 2500~3000lux, 터치스크린패널(30)의 배경영역인 암부영역(F)의 조도가 100~300lux 일 때 검사가 용이하다.
이와 같이, 터치스크린패널(30)의 제2면(34)만을 위로 움직여 외관 검사를 하면 뉴턴링 같은 불량 검출이 용이한다. 그리고, 제2면(34)만을 아래로 움직여 외관 검사를 하면 이물이나 얼룩 같은 불량 검출이 용이하다.
전면(36)에 대한 외관검사가 끝난 후 터치스크린패널(30)을 뒤집은 후 후면(38)에 대한 외관검사를 한다. 후면(38)의 검사방법은 전면(36)의 검사방법과 동일하다.
작업자는 작업의 편의성을 고려해 후면(38)을 먼저 검사하고 전면(36)의 검사를 실시할 수 있다.
이상에서 본 바와 같이 본 발명은 베이스 플레이트의 하면과 지지부의 경사면의 끝단까지의 높이가 높아 많은 암부영역을 확보할 수 있다. 이 때문에, 검사가능영역을 많이 확보할 수 있고 난반사로 인해 검사가 어려운 난반사영역을 줄일 수 있으며 터치스크린패널을 검사가능영역 내에 위치시킬 수 있다.
작업자는 터치스크린패널의 상부영역과 암부영역의 큰 조도차로 인해 뉴턴링, 이물, 얼룩 등의 불량을 쉽게 검출해낼 수 있다.
또한, 램프하우징의 일단과 타단의 간격을 조절하여 작업자의 눈으로 광이 직접 들어가는 것을 피할 수 있으므로 작업자의 눈의 피로를 덜어주어 작업능률을 향상시킬 수 있고, 검사 공간을 지그가 설치된 공간에 한정하여 특정할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

Claims (14)

  1. 육안으로 터치스크린패널의 외관검사를 하는데 이용되는 외관검사장치에 있어서,
    상기 터치스크린패널의 상부영역의 조도가 2500lux ~ 3000lux 되도록 광을 발생시키는 광원유닛과;
    상기 터치스크린패널의 배경영역인 암부영역의 조도가 100lux ~ 300lux 되도록 상기 암부영역을 마련하는 암부제공부를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  2. 제1항에서,
    상기 암부영역의 조도는 100lux ~ 200lux인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  3. 제1항에서,
    상기 암부제공부는 상기 터치스크린패널과 결합되어질 액정표시모듈이 탑재된 지그와;
    상기 지그 하부에 위치하여 상기 지그를 고정하는 고정대와;
    상기 고정대 하부에 위치하여 상기 고정대를 지지하는 지그베이스를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  4. 제3항에서,
    상기 지그베이스는 베이스 플레이트와;
    상기 베이스 플레이트에 수직으로 형성되는 지지부와;
    상기 베이스 플레이트에 수직으로 형성되어 상기 지지부를 연결하는 연결부로 이루어진 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  5. 제4항에서,
    상기 지지부는 측면이 사다리꼴 형상이고 후면의 높이가 전면의 높이보다 높아 소정의 각도로 기울어진 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  6. 제4항에서,
    상기 베이스 플레이트의 하면에서 상기 지지부의 전면의 상단까지의 높이는 80mm ~ 150mm인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  7. 제4항 또는 제6항에서,
    상기 베이스 플레이트의 하면에서 상기 지지부의 전면의 상단까지의 높이는 90mm ~ 110mm인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  8. 제3항에서,
    상기 지그베이스는 광흡수 재질인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  9. 제1항에서,
    상기 광원유닛은 상기광을 발생시키는 광원과;
    상기 터치스크린패널쪽으로 개구부를 가지며 상기 광원을 감싸도록 형성된 램프하우징을 구비하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사장치.
  10. 터치스크린패널의 상부영역의 조도가 2500lux ~ 3000lux 되도록 광을 발생시키는 광원유닛을 마련하는 단계와;
    상기 터치스크린패널의 배경영역인 암부영역의 조도가 100lux ~ 300lux 되도록 상기 암부영역을 마련하는 암부제공부를 마련하는 단계와;
    상기 터치스크린패널을 상기 암부제공부에 밀착시키는 단계와;
    상기 터치스크린패널을 움직이면서 상기 터치스크린패널의 외관을 육안으로 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사방법.
  11. 제10항에서,
    상기 암부제공부를 마련하는 단계는 상기 암부영역의 조도가 100lux ~ 200lux 되도록 하는 단계인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사방법.
  12. 제10항에서,
    상기 암부제공부를 마련하는 단계는 베이스 플레이트, 상기 베이스 플레이트로부터 수직으로 신장되고 상기 베이스 플레이트 하면에서 상기 지지부 전면의 상단까지의 높이가 80mm ~ 150mm 되도록 하는 지지부, 상기 지지부 사이에 형성되는 연결부를 가지는 지그베이스를 마련하는 단계와;
    상기 지그베이스에 의해 지지되고 상기 터치스크린패널과 결합되어질 액정표시모듈이 탑재된 지그를 고정하는 고정대를 마련하는 단계와;
    상기 고정대에 상기 지그를 고정시키는 단계인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사방법.
  13. 제12항에서,
    상기 지그베이스를 마련하는 단계는 베이스 플레이트, 상기 베이스 플레이트로부터 수직으로 신장되고 상기 베이스 플레이트 하면에서 상기 지지부 전면의 상단까지의 높이가 90mm ~ 110mm 되도록 하는 지지부, 상기 지지부 사이에 형성되는 연결부를 마련하는 단계인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사방법.
  14. 제10항에서,
    상기 광원유닛을 마련하는 단계는 광을 발생시키는 광원, 상기 터치스크린패널쪽으로 개구부를 가지며 상기 광원을 감싸도록 형성된 램프하우징을 마련하는 단계인 것을 특징으로 하는 터치스크린패널의 외관검사방법.
KR1020050039648A 2005-05-12 2005-05-12 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법 KR20060116979A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050039648A KR20060116979A (ko) 2005-05-12 2005-05-12 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050039648A KR20060116979A (ko) 2005-05-12 2005-05-12 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20060116979A true KR20060116979A (ko) 2006-11-16

Family

ID=37704657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050039648A KR20060116979A (ko) 2005-05-12 2005-05-12 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20060116979A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101159582B1 (ko) * 2011-10-13 2012-06-27 주식회사 조양이에스 터치패널 제조 방법과 이에 이용되는 지그
KR101234577B1 (ko) * 2011-06-20 2013-02-20 주식회사 이테크넷 저항막 방식의 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 장치 및 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101234577B1 (ko) * 2011-06-20 2013-02-20 주식회사 이테크넷 저항막 방식의 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 장치 및 방법
KR101159582B1 (ko) * 2011-10-13 2012-06-27 주식회사 조양이에스 터치패널 제조 방법과 이에 이용되는 지그

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100573236C (zh) 目测装置以及使用目测装置检查显示面板的方法
CN104931233A (zh) 一种导光板检测装置
CN205049315U (zh) 一种导光板检测装置
CN105835013A (zh) 一种航空零部件检测记录工作台
CN209727788U (zh) 一种汽车按键缺陷检测仪
CN212845071U (zh) 键帽检测装置和键帽检测设备
KR20060116979A (ko) 터치스크린패널의 외관검사장치 및 이를 사용한외관검사방법
US20130010104A1 (en) Visual inspector for inspecting flat panel display device and visual inspecting method using the same
CN105510346A (zh) 一种视角可调的导光板检验治具
JP4354941B2 (ja) バックライトユニットのビジョン及び輝度検出システム
CN210666245U (zh) 用于检查液晶显示屏的检测治具
TWI579538B (zh) 發光強度檢測裝置及發光強度檢測方法
KR102208811B1 (ko) 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비의 제어방법
CN206207047U (zh) 光源机构及自动光学检测装置
CN111505022A (zh) 一种用于检测玻璃外观缺陷的视检装置
KR20080013550A (ko) 기판 검사 장치 및 방법
CN205581017U (zh) 检测电子元件表面缺陷的装置
CN110186657A (zh) 雾灯ccd电检设备
KR100965417B1 (ko) 기판 검사기 및 기판 검사 방법
JP2948353B2 (ja) ガラス板の表面欠陥検査方法および検査装置
CN219455136U (zh) 一种功能测试机台
CN213693976U (zh) 摄像头模组测试装置
CN217605628U (zh) 一种视觉检测设备
CN209560224U (zh) 一种led照明光源以及多角度led照明系统
CN213021479U (zh) 一种视觉检测平面度装置

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination