KR20060099685A - Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination - Google Patents
Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination Download PDFInfo
- Publication number
- KR20060099685A KR20060099685A KR1020050021064A KR20050021064A KR20060099685A KR 20060099685 A KR20060099685 A KR 20060099685A KR 1020050021064 A KR1020050021064 A KR 1020050021064A KR 20050021064 A KR20050021064 A KR 20050021064A KR 20060099685 A KR20060099685 A KR 20060099685A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pull
- pad
- disposed
- array
- transistor array
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/025—Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/10—Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
- G11C2207/105—Aspects related to pads, pins or terminals
Abstract
본 발명의 반도체 집적 회로는 적어도 하나의 버스 라인에 연결되며, 제 1 면, 제 2 면, 제 3 면, 그리고 제 4 면을 갖는 적어도 하나의 패드와; 내부 회로로부터의 신호를 상기 패드를 통해 외부로 전달하는 송신기와; 그리고 상기 적어도 하나의 버스 라인을 종결시키는 종단 회로를 포함한다. 상기 송신기 및 상기 종단 회로 중 어느 하나는 상기 패드의 제 1 및 제 2 면들에 면하게 배치되고, 상기 송신기 및 상기 종단 회로 중 다른 하나는 상기 패드의 제 3 및 제 4 면들 중 어느 하나에 배치된다.The semiconductor integrated circuit of the present invention comprises: at least one pad connected to at least one bus line and having a first side, a second side, a third side, and a fourth side; A transmitter for transmitting a signal from an internal circuit to the outside through the pad; And a termination circuit terminating the at least one bus line. One of the transmitter and the termination circuit is disposed facing the first and second sides of the pad, and the other of the transmitter and the termination circuit is disposed at any one of the third and fourth sides of the pad.
Description
도 1은 본 발명에 따른 반도체 집적 회로의 블록도;1 is a block diagram of a semiconductor integrated circuit in accordance with the present invention;
도 2는 도 1에 도시된 출력 그리고 종결 회로의 상세한 구성 및 배치를 보여주는 도면;2 shows a detailed configuration and arrangement of the output and termination circuit shown in FIG. 1;
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 풀업 트랜지스터 어레이, 풀다운 트랜지스터 어레이, 풀업 저항기 어레이 그리고 풀다운 저항기 어레이의 배치를 보여주는 도면; 그리고3A and 3B show arrangements of a pull-up transistor array, pull-down transistor array, pull-up resistor array and pull-down resistor array according to one embodiment of the present invention; And
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 다른 실시예에 따른 풀업 트랜지스터 어레이, 풀다운 트랜지스터 어레이, 풀업 저항기 어레이 그리고 풀다운 저항기 어레이의 배치를 보여주는 도면이다.4A through 4D are diagrams illustrating arrangements of a pull-up transistor array, a pull-down transistor array, a pull-up resistor array, and a pull-down resistor array according to another embodiment of the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 설명* Description of the main parts of the drawing
100 : 반도체 집적 회로 101 : 본딩 패드100 semiconductor integrated
102 : 버스 110 : 모드 레지스터 셋(MRS)102: bus 110: mode register set (MRS)
120 : 내부 회로 130 : 출력 구동기120: internal circuit 130: output driver
130a : 풀업 트랜지스터 어레이 130b : 풀다운 트랜지스터 어레이130a: pull-
140 : 출력 임피던스 제어 회로 150 : 종단 임피던스 제어 회로140: output impedance control circuit 150: termination impedance control circuit
160 : 종단 회로 160a : 풀업 저항기 어레이160:
160b : 풀다운 저항기 어레이160b: Pulldown Resistor Array
본 발명은 반도체 집적 회로에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 버스를 종결시키기 위한 버스 종결 회로(bus termination circuit)가 내부에 포함되는 반도체 집적 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly, to a semiconductor integrated circuit in which a bus termination circuit for terminating a bus is included therein.
잘 알려진 바와 같이, 상이한 집적 회로 장치들(예를 들면, 마이크로프로세서, 칩셋, 메모리 컨트롤러, 메모리, 그래픽 컨트롤러 등)간의 신호 전송을 위해 사용되는 버스는 종결 저항(termination resistor)을 통해 종결되며, 이는 수신측 또는 송신측 집적 회로 장치에 의한 신호 반사(signal reflection)를 억제하기 위함이다. 신호 반사는 신호 집적도(signal integrity)에 상당히 나쁜 영향을 미친다. 특히, 고속 동작(high-speed operation)을 지원하는 시스템의 경우, 그러한 신호 반사는 신호 집적도(signal integrity)에 더욱 더 나쁜 영향을 미친다. 따라서 신호 전송을 위한 버스는 반드시 종결되어야 한다. 종결 저항은, 일반적으로, 신호 반사를 최대한 억제하기 위해서(또는 버스를 확실하게 종결시키기 위해서) 가능한 집적 회로 장치와 가장 인접한 곳의 버스에 설치되어야 한다.As is well known, the bus used for signal transmission between different integrated circuit devices (e.g., microprocessors, chipsets, memory controllers, memory, graphics controllers, etc.) is terminated via termination resistors, which This is to suppress signal reflection by the receiving side or the transmitting side integrated circuit device. Signal reflections have a significant adverse effect on signal integrity. In particular, for systems that support high-speed operation, such signal reflections have an even worse impact on signal integrity. Therefore, the bus for signal transmission must be terminated. Termination resistors should generally be installed on the bus as close to the integrated circuit device as possible to suppress signal reflections as much as possible (or reliably terminate the bus).
최근 마이크로프로세서나 주문형 반도체(application specific integrated circuit: ASIC)와 같은 비메모리 제품을 중심으로 경박단소화에 대한 요구가 급진 전되어 오고 있다. 이에 따라, 다핀화에 유리하도록 외부 단자(볼 형태의 납)를 패키지 밑면에 배열하는 볼 그리드 어레이(ball grid array: BGA) 패키지가 주력 반도체 패키지로 자리잡아가고 있다. 볼 그리드 어레이 형태의 반도체 집적 회로 패키지는 PGA(pin grid array)와 플립 칩(flip chip) 개념을 상호 수용한 것으로, 기존의 QFP(quad flat package)와 비교해 반도체 패키지가 차지하는 공간을 줄일 수 있으며 전기적, 열적 수행 능력도 향상됨은 물론 300핀 이상의 다핀으로 갈수록 비용면에서도 유리하다.Recently, the demand for light and thin reduction has been radically focused on non-memory products such as microprocessors and application specific integrated circuits (ASICs). Accordingly, a ball grid array (BGA) package, in which external terminals (ball-shaped lead) are arranged on the bottom of the package, is becoming a main semiconductor package in order to favor multi-pinning. The ball grid array type semiconductor integrated circuit package adopts the concept of pin grid array (PGA) and flip chip, which can reduce the space occupied by the semiconductor package as compared to the conventional flat flat package (QFP). In addition, thermal performance is also improved, and cost increases as more than 300 pins are available.
패키지 밑면에 배열된 외부 단자들은 버스 라인들과 전기적으로 연결된다. 버스 라인들이 종결되는 경우, 불행하게도, 패키지의 중심에 근접하여 배치되는 외부 단자들은 패키지의 에지들에 근접하여 배치되는 외부 단자들과 비교하여 볼 때 대응하는 종결 저항들과 상대적으로 멀리 떨어져 있다. 즉, 패키지 중심에 있는 외부 단자와 대응하는 종결 저항 사이에 잔여 버스 라인이 존재하게 되며, 이는 신호 반사의 원인이 된다. 볼 그리드 어레이 형태의 반도체 집적 회로 패키지가 사용되는 경우, 그러므로, 신호 집적도를 보다 향상시키기 위한 종결 구조가 요구되어 오고 있다. 그러한 요구를 만족시키기 위해서, 버스가 칩 내에서 종결되는 온-다이 종결(on-die termination) 구조가 제안되어 오고 있다. 여기서, 온-다이 종결이라는 용어 대신에, 온-칩 종결(on-chip termination) 또는 액티브 종결(active termination)이라는 용어가 사용될 수 있다.External terminals arranged at the bottom of the package are electrically connected to the bus lines. When the bus lines are terminated, unfortunately, the external terminals disposed close to the center of the package are relatively far from the corresponding termination resistors as compared to the external terminals disposed close to the edges of the package. That is, there is a residual bus line between the external terminal at the center of the package and the corresponding termination resistor, which causes signal reflection. When a semiconductor integrated circuit package in the form of a ball grid array is used, therefore, a termination structure for further improving the signal density has been required. In order to meet such demands, on-die termination schemes have been proposed in which the bus terminates within the chip. Here, instead of the term on-die termination, the term on-chip termination or active termination may be used.
온-다이 종결 구조의 예가 미국 특허 등록 번호 6,157,206에 "ON-CHIP TERMINATION"이라는 제목으로 게재되어 있다. 상기한 특허에 게재된 반도체 집적 회로 장치는 온-칩 입력 버퍼(on-chip input buffer), 종결 회로(termination circuit), 그리고 임피던스 제어 회로(impedance control circuit)를 포함한다. 종결 회로는 집적 회로 장치 내에 포함되며, 입력 버퍼에 연결되는 버스 라인을 종결시킨다. 임피던스 제어 회로는 외부 기준 저항기에 연결되며, 상기 외부 기준 저항기의 임피던스와 동일한 값을 갖도록 종결 회로의 임피던스를 제어한다.An example of an on-die termination structure is disclosed in US Pat. No. 6,157,206 entitled “ON-CHIP TERMINATION”. The semiconductor integrated circuit device disclosed in the above patent includes an on-chip input buffer, a termination circuit, and an impedance control circuit. The termination circuit is included in the integrated circuit device and terminates the bus line connected to the input buffer. The impedance control circuit is connected to an external reference resistor and controls the impedance of the termination circuit to have the same value as the impedance of the external reference resistor.
상기 입력 버퍼(또는 출력 버퍼) 그리고 종결 회로는 긴 신호 라인에서의 노이즈에 의한 영향을 최소화하기 위해 패드 주변에 배치되어야 한다. 그러므로, 패드, 입력 버퍼(또는 출력 버퍼) 그리고 종결 회로를 효율적으로 배치함으로써 반도체 집적 회로의 사이즈를 감소시킬 수 있는 레이아웃이 요구된다.The input buffer (or output buffer) and termination circuit should be placed around the pad to minimize the effects of noise on long signal lines. Therefore, there is a need for a layout that can reduce the size of a semiconductor integrated circuit by efficiently placing pads, input buffers (or output buffers), and termination circuits.
본 발명의 목적은 패드, 입력 버퍼(또는 출력 버퍼) 그리고 종결 회로가 효율적으로 배치된 반도체 집적 회로를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit in which pads, input buffers (or output buffers) and termination circuits are efficiently arranged.
본 발명의 다른 목적은 인접한 패드들 사이의 피치를 줄일 수 있는 반도체 집적 회로를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit capable of reducing the pitch between adjacent pads.
상술한 제반 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면, 반도체 집적 회로는 적어도 하나의 버스 라인에 연결되며, 제 1 면, 제 2 면, 제 3 면, 그리고 제 4 면을 갖는 적어도 하나의 패드와; 내부 회로로부터의 신호를 상기 적어도 하나의 패드를 통해 외부로 전달하는 송신기와; 그리고 상기 적어도 하나의 버스 라인을 종결시키는 종단 회로를 포함하며, 상기 송신기 및 상기 종단 회로 중 어느 하나는 상기 적어도 하나의 패드의 제 1 및 제 2 면들에 면하게 배치되고, 상기 송신기 및 상기 종단 회로 중 다른 하나는 상기 적어도 하나의 패드의 제 3 및 제 4 면들 중 어느 하나에 배치된다.According to a feature of the invention for achieving the above objects, a semiconductor integrated circuit is connected to at least one bus line and has at least one pad having a first side, a second side, a third side, and a fourth side. Wow; A transmitter for transmitting a signal from an internal circuit to the outside through the at least one pad; And a termination circuit terminating the at least one bus line, wherein either one of the transmitter and the termination circuit is disposed facing the first and second surfaces of the at least one pad, wherein one of the transmitter and the termination circuit The other is disposed on either one of the third and fourth sides of the at least one pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 송신기는 상기 적어도 하나의 패드의 제 1 및 제 2 면들에 면하게 배치되고 상기 종단 회로는 상기 적어도 하나의 패드의 제 3 및 제 4 면들 중 어느 하나에 배치된다.In an exemplary embodiment, the transmitter is disposed facing the first and second sides of the at least one pad and the termination circuit is disposed on any one of the third and fourth sides of the at least one pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 송신기는 풀업 트랜지스터 어레이와 풀다운 트랜지스터 어레이를 포함한다.In an exemplary embodiment, the transmitter includes a pull up transistor array and a pull down transistor array.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 및 풀다운 트랜지스터 어레이들 중 어느 하나는 상기 패드의 제 1 면에 배치되고 나머지 하나는 상기 패드의 제 2 면에 배치된다.In an exemplary embodiment, one of the pull up and pull down transistor arrays is disposed on a first side of the pad and the other is disposed on a second side of the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 종단 회로는 상기 적어도 하나의 패드의 제 1 및 제 2 면들에 면하게 배치되고 상기 송신기는 상기 적어도 하나의 패드의 제 3 및 제 4 면들 중 어느 하나에 배치된다.In an exemplary embodiment, the termination circuit is disposed facing the first and second sides of the at least one pad and the transmitter is disposed on any one of the third and fourth sides of the at least one pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 종단 회로는 풀업 저항 어레이와 풀다운 저항 어레이를 포함한다.In an exemplary embodiment, the termination circuit includes a pullup resistor array and a pulldown resistor array.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 및 풀다운 저항 어레이들 중 어느 하나는 상기 패드의 제 1 면에 배치되고 나머지 하나는 상기 패드의 제 2 면에 배치된다.In an exemplary embodiment, one of the pull up and pull down resistor arrays is disposed on a first side of the pad and the other is disposed on a second side of the pad.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 반도체 집적 회로는 적어도 하나의 버스 라 인에 연결된 적어도 하나의 패드와; 풀업 트랜지스터 어레이와 풀다운 트랜지스터 어레이를 구비하며, 내부 회로로부터의 신호를 상기 패드를 통해 외부로 출력하는 송신기와; 그리고 풀업 저항 어레이와 풀다운 저항 어레이를 구비하며, 상기 버스 라인을 종결시키는 종단 회로를 포함하며, 상기 풀업 트랜지스터 어레이와 상기 풀다운 트랜지스터 어레이는 상기 패드의 상부면 및 하부면 중 어느 하나에 배치되고 상기 풀업 저항 어레이와 상기 풀다운 저항 어레이는 상기 패드의 상부면 및 하부면 중 다른 하나에 배치된다.According to another feature of the invention, a semiconductor integrated circuit comprises at least one pad connected to at least one bus line; A transmitter having a pull-up transistor array and a pull-down transistor array, the transmitter outputting a signal from an internal circuit to the outside through the pad; And a termination circuit for terminating the bus line, the pull-up transistor array and the pull-down resistor array, wherein the pull-up transistor array and the pull-down transistor array are disposed on any one of an upper surface and a lower surface of the pad and the pull-up. The resistor array and the pull-down resistor array are disposed on the other of the top and bottom surfaces of the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 트랜지스터 어레이와 상기 풀업 저항 어레이는 상기 패드의 상부면에 배치되고 상기 풀다운 트랜지스터 어레이와 상기 풀다운 저항 어레이는 상기 패드의 하부면에 배치된다.In an exemplary embodiment, the pull-up transistor array and the pull-up resistor array are disposed on an upper surface of the pad and the pull-down transistor array and the pull-down resistor array are disposed on a lower surface of the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 트랜지스터 어레이는 상기 풀업 저항 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pullup transistor array is disposed to be interposed between the pullup resistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 저항 어레이는 상기 풀업 트랜지스터 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pullup resistor array is disposed to be interposed between the pullup transistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀다운 트랜지스터 어레이는 상기 풀다운 저항 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pulldown transistor array is disposed to be interposed between the pulldown resistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀다운 저항 어레이는 상기 풀다운 트랜지스터 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pulldown resistor array is disposed to be interposed between the pulldown transistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 트랜지스터 어레이와 상기 풀다운 저항 어레이는 상기 패드의 하부면에 배치되고 상기 풀다운 트랜지스터 어레이와 상 기 풀다운 저항 어레이는 상기 패드의 상부면에 배치된다.In an exemplary embodiment, the pull-up transistor array and the pull-down resistor array are disposed on the bottom surface of the pad and the pull-down transistor array and the pull-down resistor array are disposed on the top surface of the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 트랜지스터 어레이는 상기 풀업 저항 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pullup transistor array is disposed to be interposed between the pullup resistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀업 저항 어레이는 상기 풀업 트랜지스터 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pullup resistor array is disposed to be interposed between the pullup transistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀다운 트랜지스터 어레이는 상기 풀다운 저항 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배치된다.In an exemplary embodiment, the pulldown transistor array is disposed to be interposed between the pulldown resistor array and the pad.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 풀다운 저항 어레이는 상기 풀다운 트랜지스터 어레이와 상기 패드 사이에 개재되도록 배열된다.In an exemplary embodiment, the pulldown resistor array is arranged to be interposed between the pulldown transistor array and the pad.
앞의 일반적인 설명 및 다음의 상세한 설명 모두 예시적이라는 것이 이해되어야 하며, 청구된 발명의 부가적인 설명이 제공되는 것으로 여겨져야 한다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary, and that additional explanations of the claimed invention are provided.
참조 부호들이 본 발명의 바람직한 실시 예들에 상세히 표시되어 있으며, 그것의 예들이 참조 도면들에 표시되어 있다. 가능한 어떤 경우에도, 동일한 참조 번호들이 동일한 또는 유사한 부분을 참조하기 위해서 설명 및 도면들에 사용된다.Reference numerals are shown in detail in preferred embodiments of the invention, examples of which are shown in the reference figures. In any case, like reference numerals are used in the description and the drawings to refer to the same or like parts.
아래에서, 반도체 집적 회로가 본 발명의 특징 및 기능을 설명하기 위한 한 예로서 사용된다. 하지만, 이 기술 분야에 정통한 사람은 여기에 기재된 내용에 따라 본 발명의 다른 이점들 및 성능을 쉽게 이해할 수 있을 것이다. 본 발명은 다른 실시 예들을 통해 또한, 구현되거나 적용될 수 있을 것이다. 게다가, 상세한 설명은 본 발명의 범위, 기술적 사상 그리고 다른 목적으로부터 상당히 벗어나지 않고 관점 및 응용에 따라 수정되거나 변경될 수 있다.In the following, a semiconductor integrated circuit is used as an example for explaining the features and functions of the present invention. However, one of ordinary skill in the art will readily appreciate the other advantages and performances of the present invention in accordance with the teachings herein. The present invention may be implemented or applied through other embodiments as well. In addition, the detailed description may be modified or changed according to aspects and applications without departing from the scope, technical spirit and other objects of the present invention.
도 1은 본 발명에 따른 반도체 집적 회로의 블록도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 반도체 집적 회로(100)는 본딩 패드(bonding pad)(101), 모드 레지스터 셋(Mode Register Set : MRS)(110), 내부 회로(internal circuit)(120), 출력 구동기(output driver)(또는, 출력 버퍼)(130), 출력 임피던스 제어 회로(output impedance control circuit)(140), 종결 임피던스 제어 회로(termination impedance control circuit)(50) 그리고 종결 회로(termination circuit)(160)를 포함한다. 본딩 패드(101)는 신호를 전송하기 위한 버스 라인(102)과 전기적으로 연결된다. 출력 구동기(130)는 본딩 패드(101)에 연결되며, 내부 회로(120)로부터 출력된 신호를 상기 본딩 패드(101)로 전달한다. 종결 회로(160)는 버스 라인(102)을 종결시키도록 본딩 패드(101)에 연결되어 있다. 비록 도면에는 도시되지 않았지만, 대응하는 본딩 패드들에 각각 연결되는 출력 구동기들이 더 제공됨을 이해하여야 한다. 이 때 각 본딩 패드에는 종결 회로(160)가 연결될 것이다.1 is a block diagram of a semiconductor integrated circuit in accordance with the present invention. Referring to FIG. 1, the semiconductor integrated
모드 레지스터 셋(10)에는 출력 구동기(130)와 종결 회로(160)의 임피던스들을 각각 설정하기 위한 출력 임피던스 데이터와 종결 임피던스 데이터가 저장된다. 출력 임피던스 제어 회로(140)는 모드 레지스터 셋(10)에 저장된 출력 임피던스 데이터를 독출해서 출력 구동기(130)의 임피던스를 설정하기 위한 출력 임피던스 제어 신호들(OU1-OUn 및 OD1-ODn)을 발생한다. 종결 임피던스 제어 회로(150)는 모드 레지스터 셋(10)에 저장된 종결 임피던스 데이터를 독출해서 종결 회로(160)의 임피던스를 설정하기 위한 종결 임피던스 제어 신호들(TU1-TUn 및 TD1-TDn)을 발생한다.The mode register set 10 stores output impedance data and termination impedance data for setting impedances of the
상기 출력 구동기(130)는 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)를 포함하고, 종결 회로(160)는 풀업 저항기 어레이(160a)와 풀다운 저항기 어레이(160b)를 포함한다.The
도 2는 도 1에 도시된 출력 구동기 그리고 종결 회로의 상세한 구성 및 배치를 보여주는 도면이다. 도 2를 참조하면, 풀업 트랜지스터 어레이(130a)는 전원 전압(VDDQ)과 본딩 패드(101) 사이에 병렬로 연결되는 복수 개의 PMOS 트랜지스터들(OP1-OPn)을 포함한다. PMOS 트랜지스터들(OP1-OPn)은 출력 임피던스 제어 회로(140)로부터의 대응하는 출력 임피던스 제어 신호들(OU1-OUn)에 의해서 각각 제어된다. 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)는 본딩 패드(10)와 접지 전압(VSSQ) 사이에 병렬로 연결되는 복수 개의 NMOS 트랜지스터들(ON1-ONn)을 포함한다. NMOS 트랜지스터들(OD1-ODn)은 출력 임피던스 제어 회로(140)로부터의 대응하는 출력 임피던스 제어 신호들(OD1-ODn)에 의해서 각각 제어된다.FIG. 2 is a diagram illustrating a detailed configuration and arrangement of the output driver and the termination circuit shown in FIG. 1. Referring to FIG. 2, the pull-up
풀업 저항기 어레이(160a)는 일단이 패드(101)에 각각 연결된 저항들(RU1-RUn)과 드레인-소스가 전원 전압(VDDQ) 및 대응하는 저항들(RU1-RUn)의 타단 사이에 각각 연결되는 PMOS 트랜지스터들(TP1-TPn)을 포함한다. PMOS 트랜지스터들(TP1-TPn)은 종결 임피던스 제어 회로(150)로부터의 대응하는 종결 임피던스 제어 신호들(TU1-TUn)에 의해서 각각 제어된다. 풀다운 저항기 어레이(160b)는 일단이 패드(101)에 각각 연결된 저항들(RD1-RDn)과 드레인-소스가 전원 전압 및 대응하는 저항들(RD1-RDn)의 타단 사이에 각각 연결되는 NMOS 트랜지스터들(TN1-TNn)을 포함한다. NMOS 트랜지스터들(TN1-TNn)은 종결 임피던스 제어 회로(150)로부터의 대응 하는 종결 임피던스 제어 신호들(TD1-TDn)에 의해서 각각 제어된다.The pull-up
풀업 트랜지스터 어레이(130a), 풀다운 트랜지스터 어레이(130b), 풀업 저항기 어레이(160a) 그리고 풀다운 저항기 어레이(160b)는 제 1 내지 제 4 면을 갖는 정방형 패드(101)의 둘레에 각각 배치된다. 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 풀업 저항기 어레이(160a)는 패드(101)의 제 1 면 및 제 3 면에 마주보고 배치되고, 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)와 풀다운 저항기 어레이(160b)는 패드(101)의 제 2 면 및 제 4 면에 마주보고 배치된다.Pull-up
이와 같은 레이아웃에 의하면, 본 발명의 반도체 집적 회로(100)에는 본딩 패드(101)의 각 면들에 인접하게 출력 구동기(130)와 종결 회로(160)가 배치된다. 그러므로, 레이아웃 면적이 감소된다.According to such a layout, the
이 실시예에서는 출력 구동기(130) 내의 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 풀다운 트랜지스터 어레이(130b), 그리고 종결 회로(160) 내의 풀업 저항기 어레이(160a) 및 풀다운 저항기 어레이(160b)의 개수를 각각 n 개로 하였으나, 그들의 수는 다양하게 변경될 수 있다.In this embodiment, the number of pull-up
도 3a 및 도 3b는 도 1에 도시된 풀업 트랜지스터 어레이(130a), 풀다운 트랜지스터 어레이(130b), 풀업 저항기 어레이(160a) 그리고 풀다운 저항기 어레이(160b)의 다른 실시예들에 따른 배치를 보여주는 도면이다.3A and 3B illustrate arrangements according to other embodiments of the pull-up
먼저 도 3a를 참조하면, 출력 구동기(130)의 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 종결 회로(160)의 풀업 저항기 어레이(160a)는 패드(101)의 중심 세로축을 기준으로 좌측에 배열되며, 그들의 형상은 패드(101)를 감싸는 말굽 모양이다. 출력 구동기(130)의 풀업 트랜지스터 어레이(130b)와 종결 회로(160)의 풀업 저항기 어레이(160b)는 패드(101)의 중심 세로축을 기준으로 우측에 배열되며, 그들의 형상은 패드(101)를 감싸는 말굽 모양이다.Referring first to FIG. 3A, the pull-up
도 3b를 참조하면, 출력 구동기(130)의 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 종결 회로(160)의 풀업 저항기 어레이(160a)는 패드(101)의 중심 가로축을 기준으로 상측에 배열되며, 그들의 형상은 패드(101)를 감싸는 말굽 모양이다. 출력 구동기(130)의 풀업 트랜지스터 어레이(130b)와 종결 회로(160)의 풀업 저항기 어레이(160b)는 패드(101)의 중심 가로축을 기준으로 하측에 배열되며, 그들의 형상은 패드(101)를 감싸는 말굽 모양이다.Referring to FIG. 3B, the pull-up
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 다른 실시예에 따른 풀업 트랜지스터 어레이, 풀다운 트랜지스터 어레이, 풀업 저항기 어레이 그리고 풀다운 저항기 어레이의 배치를 보여주는 도면이다.4A through 4D are diagrams illustrating arrangements of a pull-up transistor array, a pull-down transistor array, a pull-up resistor array, and a pull-down resistor array according to another embodiment of the present invention.
도 4a를 참조하면, 출력 구동기(130)의 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 종단 회로(160)의 풀업 저항 어레이(160a)는 패드(101)의 상부면에 배치된다. 풀업 트랜지스터 어레이(130a)는 패드(101)와 풀업 저항 어레이(160a) 사이에 배치된다. 즉, 풀업 저항 어레이(160a)는 풀업 트랜지스터 어레이(130a) 상에 놓인다. 출력 구동기(130)의 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)와 종단 회로(160)의 풀다운 저항 어레이(160b)는 패드(101)의 하부면에 배치된다. 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)는 패드와 풀다운 저항 어레이(160b) 사이에 배치된다. 즉, 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)는 풀다운 저항 어레이(160b) 상에 놓인다.Referring to FIG. 4A, the pull-up
반면에, 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 풀업 저항 어레이(160a)가 패드(101)의 하부면에 배치되고 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)와 풀다운 저항 어레이(160b)가 패드(101)의 상부면에 배치될 수 있음은 자명하다.In contrast, the pull-up
도 4b를 참조하면, 출력 구동기(130)의 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 종단 회로(160)의 풀업 저항 어레이(160a)는 패드(101)의 상부면에 배치된다. 풀업 저항 어레이(160a)는 패드(101)와 풀업 트랜지스터 어레이(130a) 사이에 배치된다. 즉, 풀업 트랜지스터 어레이(130a)는 풀업 저항 어레이(160a) 상에 놓인다. 출력 구동기(130)의 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)와 종단 회로(160)의 풀다운 저항 어레이(160b)는 패드(101)의 하부면에 배치된다. 풀다운 저항 어레이(160b)는 패드(101)와 풀다운 트랜지스터 어레이(130b) 사이에 배치된다. 즉, 풀다운 저항 어레이(160b)는 풀다운 트랜지스터 어레이(130b) 상에 놓인다.Referring to FIG. 4B, the pull-up
도 4a 및 도 4b의 구조와 달리, 풀업 트랜지스터 어레이(130a)와 풀업 저항 어레이(160a)가 패드(101)의 하부면에 배치되고 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)와 풀다운 저항 어레이(160b)가 패드(101)의 상부면에 배치될 수 있음은 자명하다.Unlike the structure of FIGS. 4A and 4B, the pull-up
도 4c를 참조하면, 풀업 트랜지스터 어레이(130a)는 패드(101)의 상부면에 배치되고 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)는 패드(101)의 하부면에 배치된다. 풀업 및 풀다운 저항 어레이들(160a, 160b)은 패드(101)의 오른쪽면에 배치된다. 풀업 트랜지스터 어레이(130a)가 패드(101)의 하부면에 배치되고 풀다운 트랜지스터 어레이(130b)가 패드(101)의 상부면에 배치될 수 있음은 자명하다. 또한, 풀업 및 풀다운 저항 어레이들(160a, 160b)이 패드(101)의 왼쪽면에 배치될 수 있음은 자명하 다.Referring to FIG. 4C, the pull-up
이에 반해서, 도 4d에 도시된 바와 같이, 풀다운 저항 어레이(160b)는 패드(101)의 상부면에 배치되고 풀업 저항 어레이(160a)는 패드(101)의 하부면에 배치된다. 풀업 및 풀다운 트랜지스터 어레이들(130a, 130b)은 패드(101)의 오른쪽면에 배치된다. 풀다운 저항 어레이(160b)가 패드(101)의 하부면에 배치되고 풀업 저항 어레이(160a)가 패드(101)의 상부면에 배치될 수 있음은 자명하다. 또한, 풀업 및 풀다운 트랜지스터 어레이들(130a, 130b)이 패드(101)의 왼쪽면에 배치될 수 있음은 자명하다.In contrast, as shown in FIG. 4D, the pull-
도 4a 내지 도 4d에 각각 도시된 바와 같은 어레이 구조는 각 패드에 대해서 적용될 것이다. 따라서, 도 4a 내지 도 4d의 배치 구조는 인접한 패드들 사이의 피치가 감소될 수 있게 한다.An array structure as shown respectively in FIGS. 4A-4D will be applied for each pad. Thus, the arrangement structure of FIGS. 4A-4D allows the pitch between adjacent pads to be reduced.
예시적인 바람직한 실시예들을 이용하여 본 발명의 설명하였지만, 본 발명의 범위는 개시된 실시예들에 한정되지 않는다는 것이 잘 이해될 것이다. 오히려, 본 발명의 범위에는 다양한 변형 예들 및 그 유사한 구성들을 모두 포함될 수 있도록 하려는 것이다. 따라서, 청구범위는 그러한 변형 예들 및 그 유사한 구성들 모두를 포함하는 것으로 가능한 폭넓게 해석되어야 한다.While the invention has been described using exemplary preferred embodiments, it will be understood that the scope of the invention is not limited to the disclosed embodiments. Rather, the scope of the present invention is intended to include all of the various modifications and similar configurations. Accordingly, the claims should be construed as broadly as possible to cover all such modifications and similar constructions.
이와 같은 본 발명에 의하면, 패드, 출력 버퍼(즉, 출력 구동기) 그리고 종결 회로를 효율적으로 배치함으로써 반도체 집적 회로의 사이즈를 감소시킬 수 있다. 게다가, 인접한 패드들 사이의 피치를 줄이는 것이 가능하다.According to the present invention as described above, the size of the semiconductor integrated circuit can be reduced by efficiently disposing the pad, the output buffer (i.e., the output driver) and the termination circuit. In addition, it is possible to reduce the pitch between adjacent pads.
Claims (18)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050021064A KR100773397B1 (en) | 2005-03-14 | 2005-03-14 | Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050021064A KR100773397B1 (en) | 2005-03-14 | 2005-03-14 | Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060099685A true KR20060099685A (en) | 2006-09-20 |
KR100773397B1 KR100773397B1 (en) | 2007-11-05 |
Family
ID=37630807
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050021064A KR100773397B1 (en) | 2005-03-14 | 2005-03-14 | Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100773397B1 (en) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980065642A (en) * | 1997-01-14 | 1998-10-15 | 김광호 | Output pad arrangement method of semiconductor memory device |
US6411122B1 (en) | 2000-10-27 | 2002-06-25 | Intel Corporation | Apparatus and method for dynamic on-die termination in an open-drain bus architecture system |
US6424170B1 (en) | 2001-05-18 | 2002-07-23 | Intel Corporation | Apparatus and method for linear on-die termination in an open drain bus architecture system |
KR100448901B1 (en) * | 2002-08-23 | 2004-09-16 | 삼성전자주식회사 | Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination |
-
2005
- 2005-03-14 KR KR1020050021064A patent/KR100773397B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100773397B1 (en) | 2007-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6625050B2 (en) | Semiconductor memory device adaptable to various types of packages | |
US7102905B2 (en) | Stacked memory, memory module and memory system | |
KR100448901B1 (en) | Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination | |
US5945886A (en) | High-speed bus structure for printed circuit boards | |
US6519173B2 (en) | Memory system | |
US6583365B2 (en) | Conductive pads layout for BGA packaging structure | |
US8183880B2 (en) | Devices and methods for driving a signal off an integrated circuit | |
KR100800486B1 (en) | Semiconductor memory device having an improved signal transmission path and driving method thereof | |
US20030057775A1 (en) | Semiconductor integrated circuit and multi-chip package | |
US20060056215A1 (en) | Method for increasing frequency yield of memory chips through on-chip or on-module termination | |
US7518231B2 (en) | Differential chip performance within a multi-chip package | |
US8525310B2 (en) | Leadframe package for high-speed data rate applications | |
US8144524B2 (en) | Semiconductor device and semiconductor package including the same | |
US7268579B2 (en) | Semiconductor integrated circuit having on-chip termination | |
US7005748B2 (en) | Flip chip interface circuit of a semiconductor memory device | |
US20070085214A1 (en) | Semiconductor device | |
US10848155B2 (en) | Flexible transmitter circuitry for integrated circuits | |
US7495975B2 (en) | Memory system including on-die termination unit having inductor | |
KR100773397B1 (en) | Layout for semiconductor integrated circuit having on-chip determination | |
US8138787B2 (en) | Apparatus and method for input/output module that optimizes frequency performance in a circuit | |
US6646952B2 (en) | Semiconductor circuit and semiconductor device | |
JP2004103703A (en) | Semiconductor device and processing system of signals having different levels using that semiconductor device | |
US20070090500A1 (en) | Housed DRAM chip for high-speed applications | |
US20020180007A1 (en) | Semiconductor chip package | |
KR20070007429A (en) | Semiconductor memory device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
G170 | Publication of correction | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120925 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130930 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141001 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151001 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160930 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180927 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190930 Year of fee payment: 13 |