KR20060091306A - 광 디스크를 재생하기 위한 두께 편차의 보정 - Google Patents

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KR20060091306A
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안드레 미예리츠키이
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

광 저장 매체는 입사면, 정보층, 그리고 입사면과 정보층 사이에 투명층이 제공된다. 정보층은 방사선 빔의 포커싱에 의하여 투명층을 통하여 판독될 수 있는 판독 가능한 데이터를 나타내는 릴리프 구조를 갖는다. 매체는 투명층의 두께 편차가 잠재적으로 발생하는 적어도 하나의 반경을 나타내는 정보 데이터가 저장된 종래 리드인 영역과 같은 판독 전용 구역을 또한 포함한다. 주사 장치에 삽입되면, 지시된 반경에서 투명층의 두께의 측정이 행해지고, 적절한 구면 수차 보정이 유도될 수 있으며, 정보층 상의 광 빔의 초점이 조정된다.
투명층, 입사층, 두께 편차, 외삽법, 내삽법, 리드인 영역

Description

광 디스크를 재생하기 위한 두께 편차의 보정{CORRECTION OF A THICKNESS VARIATION FOR REPRODUCING AN OPTICAL DISK}
본 발명은 광 기록 분야에 관한 것으로, 보다 구체적으로 설명하면, 무수한 국제 광 기록 규격 중의 하나에 기초한 광학 기록 매체 및 재생장치에 관한 것이다.
광학 기록 매체는 읽기 전용형(판독을 가능하지만 기록은 불가능한) 매체, 기록 가능형(단 일회 기록 가능한) 매체, 및 재기록 가능형(기록, 소거, 및 재기록 가능한) 매체를 포함하는 다수의 카테고리로 분리된다. 광 기록 매체가 광 디스크인 경우, 전술한 유형의 광 기록 매체 각각은 디스크 상에 적어도 하나의 트랙을 생성하는 예비성형 제조 공정을 거친다. 디스크 카테고리 각각의 경우에, 데이터는 하나 이상의 트랙 상에 배치되고, 데이터가 배치되는 방식은 디스크 카테고리에 따라 상이하다.
예를 들면, 판독 전용 광 디스크는 스탬핑(stamping)으로 널리 공지된 제조 과정에 의하여 마스터 카피로부터 복사된다. 하나 이상의 데이터 트랙은 복수개의 피트(또는 오목부)를 포함하는 피트 열을 포함하며, 이러한 피트는 디스크층 상에 불규칙적으로 이격되어 있다. 피트와 랜드의 길이(피트 사이의 디스크 부분)는 아날로그 데이터를 포함하며, 디스크의 정보층 상에 데이터의 릴리프를 형성한다.
기록 가능한 매체의 경우, 하나 이상의 트랙은 유기 염료로 구성된 기록 가능한 층으로 코팅된다. 조사원으로, 통상 레이저, 유기 염료를 물리적으로 연소시켜, 그 내부에 마크를 생성하는 것에 의하여 데이터가 기록 가능한 정보층에 기록될 수 있다.
재기록 가능한 기록 매체의 경우, 하나 이상의 트랙은 적어도 하나의 기록층, 반사층, 및 통상 하나 이상의 유전체층을 포함하는 박막층 스택으로 코팅된다. 기록층은 그것에 인가된 조사량에 종속하는 다수의 재료로 구성된 화합물을 포함하며, 이 화합물은 복수개의 상이한 상태(결정질 또는 비결정질)로 존재할 수 있다. 결정질 및 비결정질 영역은 상이한 반사율을 가지며, 레이저 출력을 다양한 레벨로 인가하는 것에 의하여 결정 상태와 비결정 상태 사이에서의 가역 전이가 가능하기 때문에, 데이터의 기록 및 소거가 가능하다.
또한, 기록 가능한 디스크 및 재기록 가능한 디스크는 판독 전용 데이터를 보유하는 릴리프 구조를 포함할 수 있으며, 이러한 영역은 도입 영역과, 제어 데이터 및/또는 정보 데이터를 포함하는 것이 일반적이다.
광자기(MO) 디스크 포맷, 콤팩트 디스크(CD) 및 디지털 범용 디스크(DVD)와 같은 종래의 광 디스크 포맷에 있어서, 투명층은 일반적으로 기판을 사출 성형하는 것에 의하여 제조되는 것이 일반적이며, 디스크는 그 기판을 통해 독출된다. 블루 레이(상표명)와 같은 다른 유형의 디스크에 있어서, 투명 판독층은 기판에 폴리카보네이트 박막을 접착하는 것에 의하여 또는 스핀 코팅법에 의하여 형성되며, 스핀 코팅은 정보층의 표면에 래커를 도포하고 디스크를 회전시키는 것을 포함한다. 디 스크 회전에 의한 원심력은 래커를 정보층의 표면 위에 분포시켜, 투명층을 형성한다.
스핀 코팅과 같은 기술이 갖는 일반적인 문제는 투명층의 두께, 특히 디스크의 방사 방향으로 상당한 편차가 존재할 수 있다는 것이다. 당업계에 알려진 바와 같이, 광 주사 장치의 성능은 디스크의 정보층에 초점이 맞추어 지는 레이저 스폿에서의 구면 수차의 존재에 민감하다. 디스크의 층 사이에서 발생하는 두께 편차가 보정되지 않으면, 구면 수차가 스폿에 발생한다. 그러므로, 투명층의 예상치 않게 두껍거나 얇은 영역에 기인하여, 투명층의 두께가 예정 두께를 벗어나는 경우에, 정보층까지의 거리는 광 주사 장치가 설계된 것보다 작거나 초과할 수 있다. 따라서, 이에 의하면 초점이 맞추어진 방사원에서의 구면 수차가 증가하고, 데이터 신호가 열화하며, 광 디스크 상에서 부호화된 신호를 검출하는데 사용되는 검출 시스템이 오작동한다.
두께 편차를 검출하고 그리고 두께가 가변적인 투명층을 통과하는 방사선에 의하여 발생된 구면 수차를 보정하는 실험적인 방법이 다수 개발되었다. 이러한 방법 중 일부를 아래에서 설명한다.
미국 특허 출원 공보 제2002/0054554호는 재생 신호의 진폭을 측정하면서 광 디스크의 테스트 영역이 주사되는 방법을 기술하고 있다. 이러한 테스트 영역은 적어도 제1 또는 제2 피트 열을 포함하며, 제1 피트 열의 주기는 제2 피트 열의 주기와 상이하다. 주기의 차로 인하여, 제1 피트 열에 대응하는 재생 신호의 진폭은 제2 피트 열에 대응하는 재생 신호의 진폭과 상이하다. 만약 투명층의 두께가 디 스크의 반경 전체에 걸쳐 균일하다면, 진폭 신호가 포커싱되는 지점, 즉 진폭이 최대인 지점이 두개의 피트 열에 대하여 동일하게 예측될 수 있다. 그러나, 만약 투명층의 두께가 디스크 반경 전체에 걸쳐 변화한다면, 제1 피트 열에 대응하는 최대 신호가 발생하는 지점은 제2 피트에 대응하는 최대 신호가 발생하는 지점과 상이하다. 따라서, 피트 열 각각에 대응하는 최대 신호 진폭이 발생하는 지점의 차를 이용하여 두께 편차를 확인할 수 있다. 상기 방법에 있어서, 테스트 영역은 재생장치 또는 주사 장치에 도입될 때 마다 디스크 각각에 대하여 분석되어야 하며, 테스트 영역 외측의 영역에 대한 두께 데이터는 가정되거나 보삽되어야 한다. 만약 복수개의 테스트 영역을 분석할 필요가 있다면, 전술된 과정은 시간 소모적일 수 있다. 게다가, 테스트 영역은 디스크 상에서 공간을 점유하여, 유용한 데이터 용량을 제공할 수 있다.
본원에 원용된 미국 특허 공보 제6,381,208호는 디스크가 제조된 이후에 투명층의 굴절율과 두께에 관한 데이터를 측정하는 방법을 기술하고 있다. 이러한 두께 데이터는 그 이후에 광 디스크 상에 기록되거나, 정보층의 기록 가능한 부분에 기록된다. 광주사 장치가 디스크를 주사하는 경우에, 두께 데이터를 판독하고, 그것을 이용하여 렌즈의 위치를 수정하여, 두께 편차와 관련된 구면 수차를 적절히 보정한다. 데이터는 디스크의 반경에 따라 다양한 거리에서 두께의 불균일성과 펴평균 두께 형태로 저장되며, 광주사 장치는 두께 함수로서 렌즈 구성을 열거하는 검색 테이블에 억세스하도록 배열된다. 그러므로, 주사 장치가 디스크 상에 저장된 두께 또는 굴절율 정보를 판독하면, 이에 대응하는 렌즈 구성 데이터는 검색 테 이블에서 검색될 수 있다.
또한, 본원에 원용되고 동일한 양수인에게 양도된 유럽 특허 출원 제02080326.8호(대리인 참조번호 NL021422)를 참조하기로 한다. 상기 공보는 투명층의 두께 편차를 나타내는 디스크의 읽기 전용 영역에 릴리프 구조를 포함하는 것을 제안한다. 릴리프 구조는 디스크가 최초로 제조되거나 복사될 때 스탬핑 공정 중에 디스크에 추가될 수 있다. 상기 제안된 방법은, 투명층의 두께에서의 정밀하지 않은 편차가 명확한 제조 공정 동안에 사전에 파악될 수 있으며 디스크의 두께 프로파일이 동일한 제조 공정에서 나오는 하나의 디스크 마다 매우 다양하지 않다는 전제에 기초한다.
전술한 3가지 방법 각각은 극복해야될 단점을 나타내고 있다. 예를 들면, 두번째 방법은 두께 프로파일이 디스크 마다 측정되어야 하고 그리고 디스크 각각에 기록되어야 하기 때문에 제조 간접비를 발생시킨다. 세번째 방법에 있어서, 신뢰할만한 데이터를 얻기 전에 상이한 반경에 대하여 무수한 측정이 암묵적으로 필요할 수도 있다.
그러므로, 본 발명자는 복잡한 측정 또는 별도의 제조 단계를 부가하지 않고 이러한 단점을 제거하는 다른 해결책을 모색하였다.
그러므로, 판독 가능한 데이터를 나타내는 릴리프 구조를 포함하는 정보층과 입사면을 포함하는 광기록 매체가 제안되었다. 또한, 매체는 입사층과 정보층 사이에 배치된 투명층을 포함하며, 이 투명층을 통해서 데이터가 정보층으로부터 판독될 수 있다. 더욱이, 매체는 투명층의 두께 변동이 잠재적으로 발생하는 적어도 하나의 반경을 나타내는 정보 데이터를 갖는 리드인 영역을 포함한다.
본 발명자는 상기 방법이 리드인 영역으로부터 판독된 정보 데이터에 기초하여 디스크 재생할 때 수차 보정을 개선하는 것을 발견하였다. 예를 들면, 표시 데이터는 제조 단계에서 디스크 복사가에 의하여 매체 상에 기입된다. 매체가 주사 장치에 삽입되면, 상기 반경은 정보 데이터로부터 추출되며, 그 이후에 그 반경 위치에서 두께 편차를 측정하기 위한 테스트를 실시한다. 매체가 삽입된 주사 장치는 정보 데이터에 의하여 나타난 하나 이상의 반경에서만 두께 편차 측정에 집중할 수 있으며, 측정 결과에 기초하여 다른 반경들에 대한 두께 편차를 내삽 또는 외삽한다. 본 발명에 따른 하나 이상의 실시예의 장점은 두께 편차를 검출하기 위하여 제안된 방법이 단순하며 정밀하다는 것이다.
상기 및 기타 본 발명의 태양은 후술된 실시예로부터 자명하게 되며 이를 참조하여 설명하기로 한다.
이하, 본 발명을 첨부 도면을 참조하여 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 기록 매체와 관련하여 작동하는 광주사 장치의 개략도이다.
도 2는 광 디스크의 리드인 영역에서 데이터 트랙을 따른 개략적인 단면도이다.
도 3은 광 디스크의 리드인 영역에서 데이터 트랙을 따른 또 다른 개략적인 단면도이다.
도 4는 투명층의 반경방향 두께 프로파일을 그래프식으로 나타내는 다이어그램이다.
도 5는 투명층의 추정된 두께 프로파일 대 본 발명의 광 기록 매체에 대한 실제치의 편차를 나타내는 다이어그램이다.
유사 또는 대응하는 특징을 갖는 도면의 요소는 동일한 참조 부호로 지시된다.
도 1은 광 디스크(10)가 작동하도록 배열된 광주사 장치(100)의 개략도를 도시한다. 광주사 장치(100)는 발산하는 방사 빔(160)을 조사하는 방사원(110), 예를 들면 반도체 레이저를 포함한다. 빔 분할기(130)는 예를 들면 반투명판으로서, 발산 빔(160)을 렌즈계로 전달하도록 배열된다. 렌즈계는 광축(182)을 따라 배열된 시준 렌즈(120)와 대물 렌즈(150)를 포함한다.
시준 렌즈(120)는 방사원(110)으로부터 조사된 발산 빔(160)을 실질적으로 시준된 빔(162)으로 변형시키도록 배열된다. 대물 렌즈(150)는 입사된 시준 빔(162)을 수렴 빔(164)[광 디스크(10)의 소정 층(특히, 아래에서 보다 구체적으로 설명된 바와 같이, 정보층(16)) 위에 스폿(166)으로 출현한다]으로 변형하도록 배열되며, 선택된 개구수(NA)를 갖는다. 검출 시스템(170)과 제2 시준 렌즈(140)가 빔 분할기(130)와 함께 제공되어, 메인 정보 신호, 포커스 및 트랙 스폿(166)을 검출하여 궁극적으로 에러 신호를 생성하며, 상기 에러 신호는 대물 렌즈(150)의 축방향 및 방사방향 위치를 기계적으로 조정하는데 이용된다.
또한, 광학계(100)는 보정 신호 발생기(182)에 의하여 작동되는 구면 수차 보정기(180)를 포함한다. 보정기(180)는 다수의 상이한 유형 중 어느 하나, 예를 들면 가변 초점 액정 렌즈를 취할 수 있다. 다른 대안으로, 보정기(180)는 복합 대물 렌즈(150)의 두 렌즈 사이의 간격을 조정하기 위하여 또는 시준 렌즈(120)와 방사원(110) 사이의 간격을 조정하도록 배열될 수 있다.
광 디스크(10)는 투명층(14)을 포함하며, 상기 투명층의 한 측면 상에는 적어도 하나의 정보층(16)이 배열되고, 다른 측면 상에는 입사면(12)을 갖는다. 정보층(16)은 반사층(비도시)을 포함한다. 투명층(14)으로부터 멀리 향하는 정보층(16)의 측면은 보호층(18)에 의하여 환경적인 영향으로부터 보호된다. 투명층(14)은 정보층(16) 및/또는 반사층에 대하여 기계적 지지부를 제공하는 것에 의하여 광 디스크(10)에 대한 기판으로서 작용한다. 대안으로서, 투명층(14)은 정보층(16)[다중 층의 경우에, 최상부 정보층인 정보층(16)]을 보호하는 기능만 있을 수 있으며, 기계적 지지부는 정보층(16)의 다른 측면 상의 층에 의하여, 예를 들면 보호층(18)에 의하여 또는 최상부 정보층에 연결된 부가적인 정보층 및 투명층에 의하여 제공된다. 다중 층 광 디스크의 경우에, 두 개 이상의 정보층이 제1 투명층 후방에 배열되며, 정보층은 또 다른 투명층에 의하여 다른 정보층과 분리된다. 정보층 각각은 입사면(12)에 대하여 디스크 내에서 상이한 깊이로 위치한다.
투명층(14)은 관통하는 빔(164)을 수렴하기 위한 굴절 매체를 제공한다. 전술한 바와 같이, 투명층(14)을 만드는데 사용된 스핀 코팅 공정이 갖는 문제는 투명층(14)의 두께에 상당한 편차가 존재하여, 정보층(16)과 입사면(12) 사이의 거리 가 디스크(10) 전체에 걸쳐 변화한다. 층(14)의 두께가 반경 방향으로 균일하지 않으면, 반경을 따라 여러 가지 지점에서 스폿(166)에 구면 수차 정도가 변화할 수 있다. 그 결과, 데이터 및 제어 신호 모두는 소정의 방사상 위치에서 약한 것으로 예측될 수 있다.
도 2는 광 디스크(10)의 리드인 영역에서 데이터 트랙 부분을 따른 단면도를 도시한다. 리드인 영역은 디스크(10)가 삽입될 때 주사 장치(100)를 초기화하기 위한 제어 데이터를 포함하며, 디스크(10)의 판독 가능한 부분의 최내측 둘레에 배치된다. 디스크(10)는 데이터 트랙을 따라 일련의 랜드(22a, 22b, 22c, 22d)에 교대로 배치된 다양한 길이 및 간격의 일련의 피트(21a, 21b, 21c, 21d) 형태로 릴리프 구조를 포함한다. 데이터를 보유하는 릴리프 구조는 스탬핑 사출 성형 공정에 의하여 표면에 대응하는 패턴을 갖는 마스터로부터 형성된다.
도 3은 디스크(10)의 다른 실시예에서 사용된 리드인 영역의 다른 포맷을 도시하는 것으로, 상기 리드인 영역은 본 도면에서 반경방향 단면으로 도시되어 있다. 리드인 영역은 릴리프 구조를 랜드/홈 구조 형태로 포함한다. 홈(31) 각각은 나선형 혹은 원형 트랙을 형성할 수 있다. 데이터는 고주파 변조 워블 패턴의 형태로 랜드/홈 구조에 보유되며, 홈은 워블 패턴으로 보유된 읽기 전용 데이터를 따라서 전체 경로로부터 각 측면까지 선택적으로 고불고불 진행한다. 다시, 데이터를 보유하는 릴리프 구조는 표면상에 대응하는 패턴을 갖는 마스터에 의하여 형성된다.
하기에 따르면, 디스크(10)가 판독 전용 포맷이지만, 본 발명은 리드인 영역 이 적어도 판독 전용 부분을 갖는 기록 가능한 및 재기록 가능한 광학 저장 매체를 포함하는 것으로 가정한다.
디스크(10)의 리드인 영역은 두께 편차가 발생하기 쉬운 적어도 하나의 반경값을 나타내는 정보 데이터를 포함한다. 예를 들면, 정보 데이터는 실제 반경값을 절대적 또는 상대적 형태로 포함할 수 있으며, 테스트가 실시될 수 있는 반경방향 위치에 대한 포인터를 포함할 수 있다. 주사 장치(100)는 후술된 바와 같이 정보 데이터에 기초하여 투명층(14)의 두께의 측정과 테스트를 실시한다. 정보 데이터는 디스크 복사기에 의한 제조 시간을 특징으로 하며, 동일한 제조 공정을 이용하여 제조된 디스크(10) 및/또는 다른 디스크의 특징에 기초하여 결정될 수 있다. 소정의 제조 공정의 경우에, 제조된 디스크에 대하여 상이한 반경에서 측정이 정규적으로 수행될 수 있으며, 측정된 두께가 허용 가능한 두께 편차 범위 내에 포함되지 않는 디스크 반경은 적절히 전달될 수 있다. 동일한 제조 공정에 의하여 제조된 모든 디스크 또는 광 저장 매체는 동일한 정보 데이터를 보유하거나, 대안으로서, 정보 데이터는 스핀 코팅, 사용된 재료, 실온 등과 같은 상이한 제조 단계에서의 변화를 고려하기 위하여 시간 내내 적응될 수 있다. 예를 들면, 투명층의 두께가 동일한 공정을 따라 제조된 디스크의 특정 반경 값에서 부정확하고 반복적으로 변화하는 것이 관찰될 수 있다면, 이 값은 이러한 디스크의 정보 데이터에 자동적으로 포함될 수 있다. 다른 방안으로, 제조 공정은 정보 데이터와 관련될 수 있으며, 정보 데이터에 억세스할 수 있는 주사 장치는 두께 편차가 잠재적으로 발생하는 반경 값과 같은 제조 공정과 연관되는 특징을 검색하도록 구성된다.
본 발명은 적어도 하나의 반경 값만을 기록하거나, 반경 값을 검색할 수 있는 정보, 즉 제조 공정 확인 번호 또는 포인터와 같은 정보를 기록하는 것을 포함하는 것에 주목하여야 한다. 비록 실제 두께 또는 근사치가 주사 장치(100)에 의하여 주사 및 측정된 이후에 디스크(10) 상에 기록될 수 있는 것에도 불구하고, 본 발명은 제조 시에 지시된 반경에서 발생하는 두께 편차를 포함하는 것을 포함하지 않는다.
다른 바람직한 실시예에 있어서, 정보 데이터는 관련된 반경 값에서 잠재적으로 발생하는 두께 편차의 부정확한 정도를 나타내는 지표를 포함할 수 있다. 예를 들면, 제조 공정이 생산된 모든 디스크에 대한 소정 반경 방향 위치에 재발하는 편차를 야기하는 것으로 알려져 있으면, 반경 위치는 리드인 영역에 엄밀하게 전달될 수 있다. 정밀한 지표는 주사 장치(100)가 구면 수차를 보정할 것인가의 여부 또는 점프-어헤드 지시가 1차 실패 보정 시도 이후에 발생될 것인가의 여부를 결정하는데 기여할 수 있다.
디스크(10)가 주사 장치(100)에 삽입되면, 제어 유닛(190)은 정보 데이터로부터 적어도 하나의 반경 값을 추출한다. 제어 유닛(190)은 주사 장치(100)의 검색 시스템(170)이 디스크(10)의 리드인 영역에 액세스 및 판독하도록 한다. 따라서, 제어 유닛(170)은 지시된 반경 방향 위치에서 투명층(14)의 두께 측정을 제어한다. 측정된 두께에 기초하여, 보정 유닛(195)은 반경 값에서 발생하는 구면 수차에 최적 보정의 편차를 제어한다. 판독 전용 디스크의 경우에, 메인 정보 신호에서 지터값(jitter value)을 검색하면서, 다양한 구면 수차 보정 설정치를 갖는 반경 값에서 데이터를 판독하고, 상기 설정치를 최소 지터값에 최적화하는 것에 의하여 결정될 수 있다. 광 디스크의 경우에, 데이터는 우선 표준 구면 수차 보정 설정치를 이용하여 지시된 반경 값으로 디스크에 기록되며, 그 이후에 데이터 백을 판독하면서 구면 수차 보정 설정치를 최적화한다. 최적 보정 설정치가 발견되면, 데이터는 데이터의 판독에서 획득된 최적 설정치를 이용하여 재기록될 수 있으며, 최적화는 새롭게 재기록된 데이터를 사용하여 반복적으로 실행될 수 있다.
전술한 보정 방법은 예시적인 목적으로 본원에 제시된 것이며 본 발명의 범위를 한정하는데 사용되지 않는다. 본 발명은 구면 수차를 보정하기 위한 특정 방법에 제한하지 않으며, 본 발명의 청구 범위를 벗어나지 않고 다른 방법을 사용할 수도 있다.
또 다른 바람직한 실시예에서, 적어도 제1 및 제2 정보층과 이에 대응하는 제1 및 제2 투명층을 포함하는 다중층 광 디스크가 제공된다. 투명층 각각은 스핀 코팅에 의하여 각각 관련된 정보층의 상부에 제공되며, 대응하는 두께 편차 프로파일을 가질 수 있다. 두 투명층의 프로파일은 상이하거나 유사할 수 있다. 그러므로, 하나 혹은 그 이상의 디스크 판독 전용 부분은 본 발명의 반경 값을 포함한다. 반경 값은 두개의 투명층에 대하여 상이할 수 있다.
도 4 및 도 5는 디스크(10)에 대한 두께 편차 프로파일의 예를 나타낸다. 도 4는 μm 단위의 두께 대 mm의 단위의 디스크 반경을 도시한다. 도 5는 상이한 디스크 반경에 대한 추정 두께의 편차를 도시한다. 도 4의 도면에 도시된 바와 같이, 점으로 지시된 투명층(14)의 실제 두께는 반경 값과 상당히 다르다. 주사 장 치(100)가 간단한 구면 수차를 적용한다면, 주사 장치(100)는 일반적으로 두가지 경우, 즉 디스크(10)의 내측 반경 방향 위치에서 그리고 디스크(10)의 외주변에서의 두께 편차를 측정하는 것이 일반적이다. 주사 장치(100)는 이러한 두 값으로부터 투명층(14)의 두께를 외삽할 수 있으며, 또한 도 4에서 점선으로 표시된 디스크(10) 전체에 걸쳐 투명층(14)의 두께가 일정하다고 가정할 수 있다. 도 4에 도시된바와 같이, 이러한 가정은 도 4에 점으로 표시된 디스크(10) 전체에 걸쳐 실제 두께 편차와 크게 다르다. 예를 들면, 반경이 53mm인 경우에, 실제 두께가 26μm인 경우에 22μm의 두께가 예상된다. 본 발명에 있어서, 프로파일이 도 4에 도시된 바와 같은 디스크(10)의 리드인 영역에 저장된 정보 데이터는 테스트가 실시되는 지역에서 반경이 23, 53 및 58mm인 것을 나타낸다. 디스크(10)를 판독하는 경우에 주사 장치(100)는 반경이 23, 53 및 58mm인 투명층(14)의 두께 각각을 측정하며, 범위 [23; 58] 내에서 다른 반경에 대한 각각 두께 값을 내삽한다. 상기 실시예에 있어서, 디스크(10) 전반에 걸친 두께 프로파일(400)은 지점(A, B 및 C)으로 참조된 3개의 측정 두께에 기초한 선형 외삽으로 결정된다.
도 5는 전술된 두 방법에 대한 두께 프로파일의 편차 각각을 도시한다. 두께가 단지 두 반경(양단에서)에서 고려되면, 상기 점은 예상 두께 대 실제 두께의 편차를 나타나며, 또한 삼각형은 실제 두께 프로파일 대 본 발명에 따른 예상 두께 프로파일의 편차를 나타낸다. 도시된 바와 같이, 정보 데이터에 지시된 바와 같이 반경 43mm에서 실시된 부가적 두께 측정은 디스크(10)의 표면 전체에 걸쳐 투명층(14)의 두께 편차에 대하여 비교적 보다 바람직한 근사치를 얻게 한다.
전술한 내용 및 첨부된 청구범위에 있어서, "릴리프 구조"라는 용어는 높이 편차를 갖는 표면 구조를 설명하는데 사용된 것이다. 이러한 높이 편차는 당업계에서 부조(embossment)로서 불리며, 스탬핑 공정 동안에 사용된 마스터에서 대응하는 높이 편차에 기인하여 발생한다. 이러한 릴리프 구조는 피트/랜드 열, 홈의 워블 패턴, 이러한 것의 결합, 및/또는 표면상에 기록된 높이 편차에 의하여 제공된 다른 특징을 포함할 수 있다.
실시예에 관련하여 설명된 특징은 단독으로 또는 설명된 다른 특징과 결합하여 사용될 수 있으며, 또한 또 다른 실시예와 결합하여 사용될 수 있다. 게다가, 전술되지 않은 균등물 또는 변경은 첨부된 청구범위에 의하여 한정되는 본 발명의 범위에 벗어나지 않고 이용될 수 있다.

Claims (13)

  1. 광학 주사 장치에 사용하기 위한 광학 저장 매체로서,
    입사면과;
    판독 가능한 데이터를 나타내는 릴리프 구조를 갖는 정보층과;
    입사층과 정보층 사이에 배치되는 투명층으로서, 이를 통해 상기 데이터가 정보층으로부터 판독되는, 상기 투명층과;
    상기 투명층의 두께 편차가 잠재적으로 발생하는 적어도 하나의 반경을 나타내는 정보 데이터를 포함하는 리드인 영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 정보 데이터는 영구적인 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 정보 데이터는 반경을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  4. 제1항에 있어서,\
    상기 정보 데이터는 반경에 대한 포인터를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 정보 데이터는 상기 반경에서 잠재적으로 발생하는 두께 편차의 부정확함을 나타내는 정밀한 지표를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 정보 데이터는 매체의 제조 중에 리드인 영역에 기록되는 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 반경은 매체로서 동일한 제조 과정에 의하여 제조된 매체 상에 실행된 테스트를 공제되는 것을 특징으로 하는 광 저장 매체.
  8. 입사층과, 판독 가능한 데이터를 나타내는 릴리프 구조를 갖는 정보층과, 입사층과 정보층 사이에 배치되는 투명층으로, 이를 통해 상기 데이터가 정보층으로부터 판독되는, 상기 투명층, 그리고 리드인 영역을 포함하는 광 저장 매체를 수용하기 위한 리셉터클과;
    투명층을 통하여 정보층 상에 광 빔을 포커싱하기 위한 방사선 빔 장치와;
    정보 데이터에 표시된 반경에서 투명층의 두께를 측정하기 위한 측정 유닛과;
    측정된 두께에 기초하여 상기 반경에서 정보층 상의 광 빔 초점을 조정하기 위한 서보를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 측정 유닛은 측정된 두께에 기초하여 내삽법 또는 외삽법으로 다른 반경에 대한 각각의 두께를 유도하도록 구성된 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 서보는 각각의 유도된 두께에 기초하여 반경 각각에서 포커스를 조정하는 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 제8항에 있어서,
    측정 유닛은 다른 반경에서 투명층 두께의 다른 측정을 실시하도록 구성된 것을 특징으로 하는 장치.
  12. 광 저장 매체 상의 두께 편차를 검출하기 위한 방법으로서,
    입사층과, 판독 가능한 데이터를 나타내는 릴리프 구조를 갖는 정보층과, 입사층과 정보층 사이에 배치되는 투명층으로, 이를 통해 상기 데이터가 정보층으로부터 판독되는, 상기 투명층을 포함하는 광 저장 매체를 수용하는 단계와;
    광 저장 매체의 리드인 영역에 저장된 정보 데이터에 억세스하는 단계로서, 상기 정보 데이터는 투명층의 두께 편차가 잠재적으로 발생하는 매체 상의 반경을 나타내는, 상기 억세스 단계와;
    지시된 반경에서 투명층의 두께 편차를 측정하는 단계와;
    투명층을 통하여 정보층 상에 초점이 맞추어지는 방사선 빔의 포커싱을 보정하는 단계로서, 상기 방사선 빔은 측정된 두께 편차에 기초하여 입사면을 통해 매체 상에 도달하는, 상기 보정 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 두께 편차 검출방법.
  13. 제12항에 있어서,
    정보 데이터에 나타낸 반경에서 측정된 두께 편차에 기초하여 외삽법 혹은 내삽법으로 정보 데이터에 나타내지 않은 다른 반경에서 상기 투명층의 두께 편차를 결정하는 단계를 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 두께 편차 검출방법.
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