KR20060082745A

KR20060082745A - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 장치

Info

Publication number: KR20060082745A
Application number: KR1020050003466A
Authority: KR
Inventors: 유양욱
Original assignee: 엘지전자 주식회사
Priority date: 2005-01-13
Filing date: 2005-01-13
Publication date: 2006-07-19

Abstract

본 발명은 온도가 변화하더라도 PDP를 안정적으로 구동할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 구동 방법에 관한 것이다.

이 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 장치는 스캔 전극, 서스테인 전극 및 어드레스 전극의 교차부들에 다수의 셀들이 형성되는 플라즈마 디스플레이 패널을 리셋기간, 어드레스기간 및 서스테인기간으로 나누어 구동하는 방법에 있어서, 상기 리셋기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간 중 적어도 어느 한 기간 동안 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 온도를 감지하는 단계와; 상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 신호를 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR DRIVING PLASMA DISPLAY PANEL}

도 1은 종래의 3전극 교류 면방전형 플라즈마 디스플레이 패널의 전극배치를 개략적으로 나타내는 평면도이다.

도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 3은 도 2에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 설명하기 위한 파형도이다.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 스캔 구동부와 서스테인 구동부를 각각 나타내는 블럭도이다.

도 5a 및 도 5b는 도 4a 및 도 4b에 도시된 온도 가변 저항의 특성을 나타내는 그래프이다.

도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 설명하기 위한 파형도이다.

도 7은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 8은 도 7에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 설명하기 위한 파형도이다.

도 9는 본 발명의 제4 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 10은 본 발명의 제5 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 11은 도 10에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법의 제1 실시 예를 설명하기 위한 파형도이다.

도 12는 도 10에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법의 제2 실시 예를 설명하기 위한 파형도이다.

도 13은 본 발명의 제6 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

61,81,101 : 타이밍콘트롤러 62,82,102 : 데이터구동부

63,83,103 : 스캔구동부 64,84,104 : 서스테인구동부

65,85,105 : 구동전압 발생부 66,86,106 : 온도센서

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 특히 온도가 변화하더라도 PDP를 안정적으로 구동할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 구동 방법에 관한 것이다.

플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : 이하 "PDP"라 한다)은 He+Xe, Ne+Xe, He+Xe+Ne 등의 불활성 혼합가스가 방전할 때 발생하는 자외선을 이용하여 형광체를 여기 발광시킴으로써 화상을 표시하게 된다. 이러한 PDP는 박막화와 대형화가 용이할 뿐만 아니라 최근의 기술 개발에 힘입어 화질이 향상되고 있다.

도 1을 참조하면, 종래의 3전극 교류 면방전형 PDP의 방전셀은 스캔전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)과, 스캔전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)과 직교하는 어드레스전극(X1 내지 Xm)을 구비한다.

스캔전극(Y1 내지 Yn), 서스테인전극(Z) 및 어드레스전극(X1 내지 Xm)의 교차부에는 적색, 녹색 및 청색 중 어느 하나를 표시하기 위한 셀(1)이 형성된다. 스캔전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)은 도시하지 않은 상부기판 상에 형성된다. 상부기판에는 도시하지 않는 유전체층과 MgO 보호층이 적층된다. 어드레스전극(X1 내지 Xm)은 도시하지 않은 하부기판 상에 형성된다. 하부기판 상에는 수평으로 인접한 셀들 간에 광학적, 전기적 혼신을 방지하기 위한 격벽이 형성된다. 하부기판과 격벽 표면에는 진공자외선에 의해 여기되어 가시광을 방출하는 형광체가 형성된다. 상부기판과 하부기판 사이의 방전공간에는 He+Xe, Ne+Xe, He+Xe+Ne 등의 불활성 혼합가스가 주입된다.

이러한 구조의 PDP는 어드레스전극과 서스테인전극 간의 대향방전에 의해 선택된 후 서스테인전극쌍간의 면방전에 의해 방전을 유지하게 된다. 서스테인 방전시 발생되는 자외선에 의해 형광체가 발광함으로써 가시광이 셀 외부로 방출되게 된다. 이 결과, 방전셀들은 방전이 유지되는 기간을 조절하여 계조를 구현하게 되고, 그 방전셀들이 매트릭스 형태로 배열된 PDP는 화상을 표시하게 된다.

종래 PDP는 온도 변화에 따라 방전특성이 불완정하게 되는 문제점이 있다. 이는 온도 변화로 인한 셀 내의 압력이 변하게 되고 그 압력 변화로 인하여 방전전압이 변하는 것에 기인한다. 방전전압(Firing Voltage : Vf)은 아래의 수학식 1과 같이 정의될 수 있다.

Vf = p × d

여기서, p는 압력이며 d는 전극간 거리이다.

PDP의 온도가 정상 구동파형에 대응하는 최적온도보다 높아지면 방전셀 내의 압력이 상승하고 그 압력 상승으로 인하여 방전전압(Vf)이 높아진다. 이 경우 정상적인 구동전압으로 PDP를 구동하면 방전이 일어나지 않는 미스방전이 일어나기 쉽다. 이와 달리 PDP의 온도가 낮아지면 방전셀 내의 압력이 하강하고 그 압력 하강으로 인하여 방전전압(Vf)이 낮아진다. 이렇게 온도가 낮아지는 경우에 정상적인 구동전압으로 PDP를 구동하면 방전이 일어나지 않아야할 방전셀에서 방전이 일어나는 오방전이 일어나기 쉽다.

따라서, 본 발명의 목적은 온도가 변화하더라도 PDP를 안정적으로 구동할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 구동 방법을 제공함에 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 PDP의 구동방법은 스캔 전극, 서스테인 전극 및 어드레스 전극의 교차부들에 다수의 셀들이 형성되는 플라즈마 디스플레이 패널을 리셋기간, 어드레스기간 및 서스테인기간으로 나누어 구동하는 방법에 있어서, 상기 리셋기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간 중 적어도 어느 한 기간 동안 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 온도를 감지하는 단계와; 상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 신호를 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제어하는 단계는 상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 서스테인 기간에 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극에 인가되는 서스테인펄스의 서스테인 전압을 기준전압보다 낮추며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 서스테인 기간에 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극에 인가되는 서스테인펄스의 서스테인 전압을 기준전압보다 높히는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제 어하는 단계는 상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 어드레스 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 스캔펄스의 스캔 전압을 기준전압보다 높히며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 어드레스 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 스캔펄스의 스캔 전압을 기준전압보다 낮추는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제어하는 단계는 상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 하강 램프 펄스의 부극성 전압을 기준전압보다 높히며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 하강 램프 펄스의 부극성 전압을 기준전압보다 낮추는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제어하는 단계는 상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 상승 램프 펄스의 셋업 전압을 기준전압보다 낮추며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 상승 램프 펄스의 셋업 전압을 기준전압보다 높히는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 패널의 온도를 감지하는 단계는 상기 전극들에 인가되는 신호를 생성하는 구동부에 피드백형태로 접속된 온도 가변저항을 통해 상기 패널의 온도를 감지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 온도 가변 저항은 상기 패널의 온도가 증가할수록 저항값이 커지는 정특성 서미스터 및 상기 패널의 온도가 증가할수록 저항값이 작아지는 부특성 서미스터 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 스캔전극, 서스테인 전극 및 어드레스 전극의 교차부들에 형성된 다수개의 셀을 가지는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치는 상기 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부와; 상기 서스테인 전극을 구동하기 위한 서스테인 구동부와; 상기 어드레스 전극을 구동하기 위한 어드레스 구동부와; 상기 패널의 온도를 감지하는 온도 감지부를 구비하며, 상기 스캔구동부, 서스테인 구동부 및 어드레스 구동부 중 적어도 어느 하나는 상기 감지된 온도에 따라 그 온도에 해당하는 구동신호를 상기 전극들에 공급하는 것을 특징으로 한다.

상기 스캔 구동부 및 서스테인 구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 낮은 서스테인 전압의 서스테인 펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 기준전압보다 높은 서스테인 전압의 서스테인 펄스를 상기 서스테인 기간에 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극에 공급하는 것을 특징으로 한다.

상기 스캔 구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 높은 스캔 전압의 스캔펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 기준전압보다 낮은 스캔 전압의 스캔펄스를 상기 어드레스기간에 상기 스캔전극에 공급하는 것을 특징으로 한다.

상기 스캔구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 높은 부극성 전압의 하강 램프 펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 기준전압보다 낮은 부극성 전압의 상승 램프 펄스를 상기 리셋기간에 상기 스캔전 극에 공급하는 것을 특징으로 한다.

상기 스캔구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 낮은 셋업전압의 상승 램프 펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 기준전압보다 높은 셋업전압의 상승 램프 펄스를 상기 리셋기간에 상기 스캔전극에 공급하는 것을 특징으로 한다.

상기 온도 감지부는 상기 스캔구동부, 서스테인 구동부 및 어드레스 구동부 중 적어도 어느 하나에 피드백형태로 접속된 온도 가변 저항인 것을 특징으로 한다.

이하, 도 2 내지 도 13을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들에 대하여 설명하기로 한다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치는 PDP의 온도를 감지하기 위한 온도센서(66)와, PDP의 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터구동부(62)와, 스캔전극들(Y1 내지 Yn)을 구동하기 위한 스캔구동부(63)와, 서스테인전극들(Z)을 구동하기 위한 서스테인구동부(64)와, 각 구동부(62, 63, 64)를 제어하기 위한 타이밍콘트롤러(61)와, 각 구동부(62, 63, 64)에 구동전압들을 공급하기 위한 구동전압 발생부(65)를 구비한다.

온도센서(66)는 PDP에 근접한 위치에 설치되어 PDP의 온도를 실시간적으로 감지하여 온도 감지신호(St)를 발생하고 그 온도 감지신호(St)를 타이밍 콘트롤러(61)에 공급한다.

타이밍 콘트롤러(61)는 수직/수평 동기신호를 입력받아 각 구동부(62, 63, 64)에 필요한 타이밍제어신호(CTRX, CTRY, CTRZ)를 발생하고 그 타이밍제어신호(CTRX, CTRY, CTRZ)를 해당 구동부(62, 63, 64)에 공급함으로써 각 구동부(62, 63, 64)를 제어하게 된다. 특히, 타이밍 콘트롤러(61)는 온도센서(66)로부터의 온도감지신호(St)에 응답하여 서스테인전극들(Z) 및 스캔전극들(Y)에 서스테인 기간에 공급되는 정극성 전압의 전압레벨이 PDP의 온도에 따라 달라지도록 서스테인 구동부(64) 및 스캔 구동부(63)를 제어한다. 데이터구동부(62)에 공급되는 타이밍제어신호(CTRX)에는 데이터를 샘플링하기 위한 샘플링클럭, 래치제어신호, 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. 스캔구동부(63)에 인가되는 타이밍제어신호(CTRY)에는 스캔구동부(63) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. 서스테인구동부(64)에 인가되는 타이밍제어신호(CTRZ)에는 서스테인구동부(64) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다.

구동전압 발생부(65)는 상승 램프파형의 셋업전압(Vsetup), 스캔전극의 부극 성 전압(-Vy), 스캔전압(Vsc), 데이터전압(Vd), 서스테인전압(Vs) 및 온도에 따라 선택되는 정극성의 서스테인하이전압(Vsh) 및 서스테인로우전압(Vsl) 등을 발생한다. 이러한 구동전압들은 방전가스의 조성이나 방전셀 구조에 따라 변할 수 있다.

데이터구동부(62)에는 도시하지 않은 역감마보정회로, 오차확산회로 등에 의해 역감마보정되고 오차확산 된 후, 서브필드 맵핑회로에 의해 각 비트별로 서브필드 패턴에 맵핑된 데이터가 공급된다. 이 데이터구동부(62)는 타이밍콘트롤러(61)의 제어 하에 데이터를 샘플링하고 래치한 다음, 그 데이터를 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 공급하게 된다.

스캔구동부(63)는 타이밍 콘트롤러(61)의 제어 하에 리셋기간 동안 도 3과 같이 상승 램프파형(Rup)과 하강 램프파형(Rdn)을 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 공급하고 어드레스기간 동안 스캔펄스(scp)를 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 순차적으로 공급한다. 그리고 스캔구동부(63)는 타이밍 콘트롤러(61)의 제어 하에 서스테인기간 동안 온도에 따라 전압레벨이 달라지는 서스테인펄스(sus)를 스캔전극들(Y1 내지 Ym)에 공급하게 된다.

서스테인구동부(64)는 타이밍 콘트롤러(61)의 제어 하에 리셋기간 동안 하강 램프파형(Rdn)에 동기되며 어드레스기간 동안 소정 전압의 정극성 직류바이어스전압을 서스테인전극들(Z)에 공급한다. 그리고 서스테인구동부(64)는 타이밍 콘트롤러(61)의 제어 하에 서스테인기간 동안 스캔구동부(63)와 교대로 동작하여 온도에 따라 전압레벨이 달라지는 서스테인펄스(sus)를 서스테인전극들(Z)에 공급한다.

도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 PDP의 구동방법을 나타내는 파형도이 다.

도 3을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 PDP의 구동방법은 한 프레임기간을 다수의 서브필드로 시분할하여 PDP를 구동하며, 적어도 어느 하나의 서브필드에서 서스테인전극들(Z)과 스캔전극들(Y)에 공급되는 구동전압을 온도에 따라 가변하게 된다.

리셋기간의 초기에는 전압이 서스테인전압(Vs)부터 셋업전압(Vsetup)까지 점진적으로 상승하는 상승 램프파형(Rup)이 모든 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 이 상승 램프파형(Rup)이 스캔전극들(Y)에 공급되는 동안, 서스테인전극들(Z)과 어드레스전극들(X)에는 0[V]가 인가된다. 상승 램프파형(Rup)에 의해 전화면의 셀들 내에서 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이와 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 빛이 거의 발생되지 않고 벽전하의 형성을 유발하는 쓰기 암방전으로 셋업방전이 일어난다. 이 셋업방전의 결과로, 어드레스전극(X)과 서스테인전극(Z) 상에는 정극성(+)의 벽전하가 쌓이게 되며, 스캔전극(Y) 상에는 부극성(-)의 벽전하가 쌓이게 된다.

상승 램프파형(Rup)에 이어서, 전압이 서스테인전압(Vs)부터 부극성 전압(-Vy)까지 하강하는 하강 램프파형(Rdn)이 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 하강 램프파형(Rdn)이 스캔전극들(Y)에 공급되는 동안, 어드레스전극들(X)에는 0V가 인가되고 서스테인전극들(Z)에는 정극성의 전압(Vs)이 인가된다. 하강 램프파형(Rdn)으로 인하여 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 빛이 거의 발생되지 않고 벽전하의 소거를 유발하는 소거 암방전으로 셋다운방전이 일어난다. 이러한 셋 다운방전의 결과로, 셋업방전시 각 전극(X, Y, Z) 상에 쌓인 벽전하들 중에서 과도한 벽전하들이 소거되어 전셀들에서 벽전하들이 균일하게 잔류하게 된다.

셋업방전과 셋다운방전시 벽전하 분포의 변화를 살펴보면, 셋업방전시 형성되었던 어드레스전극(X) 상의 정극성 벽전하들은 셋다운 방전시에 거의 변화가 없다. 셋업방전시 형성되었던 스캔전극(Y) 상의 부극성 벽전하들은 셋다운방전에 의해 일부 감소된다. 그리고 서스테인전극(Z) 상의 벽전하들은 셋업방전시에서 정극성 벽전하들이 형성되었으나 셋다운방전시 스캔전극(Y)의 부극성 벽전하의 감소분만큼 자신에게 부극성 벽전하가 쌓이면서 극성이 부극성으로 반전된다.

어드레스기간에는 부극성 전압(-Vy)까지 하강하는 스캔전압(Vsc)의 스캔펄스(scp)가 스캔전극들(Y)에 순차적으로 인가됨과 동시에 그 스캔펄스(scp)에 동기되는 정극성 데이터전압(Vd)의 데이터펄스(dp)가 어드레스전극들(X)에 인가된다. 스캔펄스(scp)와 데이터펄스(dp)의 전압차와 리셋기간에서 초기화된 셀 내의 벽전압이 더해지면서 데이터펄스(dp)가 인가되는 셀 내에는 어드레스 방전이 발생된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀들 내에는 서스테인전압(Vs)이 인가될 때 방전이 일어날 수 있는 정도의 벽전하가 형성된다.

어드레스기간 동안 서스테인전극들(Z)에 부극성 벽전하들이 소멸되지 않도록 서스테인전극들(Z)에는 정극성의 서스테인전압(Vs)이 공급된다.

서스테인기간에는 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 교번적으로 온도 변화에 따라 가변되는 서스테인전압(Vs)의 서스테인펄스(sus)가 인가된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽전압과 서스테인전압(Vs)이 더해지면서 매 서 스테인펄스(sus) 마다 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 서스테인방전이 일어나게 된다.

서스테인 방전시 서스테인전극들(Z)과 스캔전극들(Y)에 인가되는 서스테인 펄스(sus)의 서스테인 전압레벨은 온도 변화에 따라 가변되어 온도에 따라 변하는 PDP의 방전특성을 보정한다. PDP의 온도가 정상 사용온도보다 높아지면 셀 내의 압력이 높아지고 방전전압(Vf)이 높아진다. 이러한 고온환경에서 정상적인 구동전압의 서스테인펄스(sus)로 PDP를 구동하면 스캔전극(Y)과 서스테인 전극(Z) 사이에 서스테인 방전이 강하게 일어나게 되어 자외선광량이 이상적으로 많아지게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법은 고온환경에서 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 정상전압 예컨대, 서스테인전압(Vs)보다 낮은 서스테인로우전압(Vsl)을 인가하여 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전을 약하게 유도하여 자외선광량이 이상적으로 많아지는 것을 방지한다.

이와 반대로 PDP의 온도가 정상 사용온도보다 낮아지면 셀 내의 압력이 낮아지고 방전전압(Vf)이 낮아진다. 이러한 저온환경에서 정상적인 구동전압의 서스테인펄스로 PDP를 구동하면 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전이 약하게 일어나게 되어 자외선광량이 이상적으로 적어진다. 따라서, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법은 저온환경에서 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 정상전압 예컨대, 서스테인전압(Vs)보다 높은 서스테인하이전압(Vsh)을 인가하여 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전을 강하게 일으켜 자외선광량이 이상적으로 적어지는 것을 방지한다.

결과적으로, 본 발명의 제1 실시예에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 서스테인 방전시 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 인가되는 전압을 PDP의 주변 온도 변화에 따라 가변함으로써 온도 변화에 따라 PDP의 셀 조건이 변하더라도 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전이 온도변화와 관계없이 균일하도록 제어한다.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 4a 및 도 4b에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치는 도 2에 도시된 구동장치와 대비하여 온도 센서 대신에 온도에 따라 저항값이 달라지는 온도가변소자를 구비하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 4a에 도시된 스캔 구동부(63)는 셋업전압(Vsetup), 부극성 전압(-Vy), 정극성 전압(Vs) 및 스캔 전압(Vsc)을 이용하여 상승 램프 펄스, 하강 램프 펄스, 서스테인 펄스, 스캔 펄스를 각각 생성하여 타이밍 제어신호(CTRY)에 응답하여 이들을 스캔전극(Y)에 공급하는 상승 램프 펄스 생성부(51), 하강 램프 펄스 생성부(52), 서스테인 펄스 생성부(54) 및 스캔 펄스 생성부(55)를 구비한다.

도 4b에 도시된 서스테인 구동부(64)는 정극성 전압(Vs)을 이용하여 서스테인 펄스를 생성하여 타이밍 제어신호(CTRZ)에 응답하여 이를 서스테인 전극(Z)에 공급하는 서스테인 펄스 생성부(56)와, 타이밍 제어신호(CTRZ)에 응답하여 정극성 전압(Vs)을 서스테인 전극(Z)에 공급하는 정극성 전압 출력부(57)를 구비한다.

도 4a 및 도 4b에 도시된 서스테인 펄스 생성부(54,56)는 피드백 저항인 온도 가변 저항(Rt)과 접속된다. 즉, 온도 가변 저항(Rt)은 서스테인 펄스 생성부(54,56) 각각에 포함된 기울기 제어회로와 접속된다. 이 온도 가변 저항(Rt)은 도 5a에 도시된 바와 같이 온도가 증가할수록 그에 비례하여 저항값이 증가하는 정특성 서미스터(Positive Temperature Coefficient : PTC) 또는 도 5b에 도시된 바와 같이 온도가 증가할수록 그에 반비례하여 저항값이 감소하는 부특성 서미스터(Negative Temperature Coefficient : NTC)로 이루어진다. 상기 저항값이 가변되는 온도 가변 저항(Rt)에 의해 기울기 제어회로에서 피드백된 서스테인 펄스의 서스테인전압은 전압레벨이 조절된다. 즉, 피드백된 서스테인 펄스는 상승기간의 상승기울기, 하강기간의 하강기울기 및 서브유지기간의 서스테인 전압등이 조절되어 스캔전극(Y) 및 서스테인 전극(Z)에 공급된다.

이러한 온도 가변 저항(Rt)을 이용한 본 발명의 제2 실시 예에 따른 PDP의 구동방법을 도 6을 결부하여 설명하기로 한다. 여기서, 리셋기간 및 어드레스기간은 도 3과 실질적으로 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 하며, 온도 가변 저항(Rt)은 PTC를 이용한 경우를 예로 들어 설명하기로 한다.

온도 가변 저항(Rt)에 의해 감지된 PDP의 온도가 고온 환경인 경우, 온도 가변 저항(Rt)의 저항값은 정상온도일때보다 증가하게 된다. 증가된 저항값에 의해 서스테인기간동안 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에는 정상전압 예컨대, 서스테인전압(Vs)보다 낮은 서스테인로우전압(Vsl)을 가지며 상승기울기와 하강기울기가 정상온도일때보다 완만한 서스테인펄스(sus)가 인가된다. 이에 따라, 스캔전극 (Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전이 약하게 유도되어 자외선광량이 이상적으로 많아지는 것이 방지된다.

온도 가변 저항(Rt)에 의해 감지된 PDP의 온도가 저온 환경인 경우, 온도 가변 저항(Rt)의 저항값이 정상온도일때보다 감소하게 된다. 감소된 저항값에 의해 서스테인기간동안 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에는 정상전압 예컨대, 서스테인전압(Vs)보다 높은 서스테인 하이 전압(Vsh)을 가지며 상승기울기와 하강기울기가 정상온도일때보다 큰 서스테인 펄스가 인가된다. 이에 따라, 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전이 강하게 일어나 자외선광량이 이상적으로 적어지는 것을 방지한다.

결과적으로, 본 발명의 제2 실시예에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 서스테인 방전시 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 인가되는 전압을 PDP의 주변 온도 변화에 저항값이 가변되는 온도 가변저항을 이용하여 가변함으로써 온도 변화에 따라 PDP의 셀 조건이 변하더라도 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이의 서스테인 방전이 온도변화와 관계없이 균일하도록 제어한다.

도 7은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 PDP의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 7에 도시된 본 발명의 제3 실시 예에 따른 PDP의 구동장치는 도 2에 도시된 구동장치와 대비하여 어드레스기간에 인가되는 구동신호를 온도센서에 의해 감지된 온도에 따라 가변하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

타이밍 콘트롤러(81)는 온도센서(86)로부터의 온도감지신호(St)에 응답하여 스캔전극들(Y)에 공급되는 스캔펄스의 스캔 전압레벨이 PDP의 온도에 따라 달라지도록 스캔 구동부(83)를 제어한다.

구동전압 발생부(85)는 상승 램프파형의 셋업전압(Vsetup), 스캔전극의 부극성 전압(-Vy), 스캔전압(Vsc), 데이터전압(Vd), 서스테인전압(Vs) 및 온도에 따라 선택되는 스캔하이전압(Vsch), 스캔로우전압(Vscl) 등을 발생한다. 이러한 구동전압들은 방전가스의 조성이나 방전셀 구조에 따라 변할 수 있다.

스캔구동부(83)는 타이밍 콘트롤러(81)의 제어 하에 리셋기간 동안 상승 램프파형(Rup)과 하강 램프파형(Rdn)을 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 공급하고 어드레스기간 동안 온도에 따라 전압레벨이 달라지는 스캔펄스(scp)를 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 순차적으로 공급한다. 그리고 스캔구동부(83)는 타이밍 콘트롤러(81)의 제어 하에 서스테인기간 동안 서스테인펄스(sus)를 스캔전극들(Y1 내지 Ym)에 공급하게 된다.

서스테인구동부(84)는 타이밍 콘트롤러(81)의 제어 하에 리셋기간 동안 하강 램프파형(Rdn)에 동기되며 어드레스기간 동안 소정 전압의 정극성 직류바이어스전압을 서스테인전극들(Z)에 공급한다. 그리고 서스테인구동부(84)는 타이밍 콘트롤러(81)의 제어 하에 서스테인기간 동안 스캔구동부(83)와 교대로 동작하여 서스테인펄스(sus)를 서스테인전극들(Z)에 공급한다.

이러한 본 발명의 제3 실시 예에 따른 PDP의 구동방법을 도 8을 결부하여 설명하기로 한다. 여기서, 리셋기간은 도 3과 실질적으로 동일하므로 이에 대한 상 세한 설명은 생략하기로 한다.

어드레스 방전시 스캔전극들(Y)에 인가되는 스캔펄스(scp)의 스캔 전압레벨은 온도 변화에 따라 가변되어 온도에 따라 변하는 PDP의 방전특성을 보정한다. PDP의 온도가 정상 사용온도보다 높아지면 셀 내의 압력이 높아지고 방전전압(Vf)이 높아진다. 이러한 고온환경에서 정상적인 구동전압의 스캔펄스로 PDP를 구동하면 스캔전극(Y)과 어드레스 전극(X) 사이에 어드레스 방전이 강하게 일어나게 되어 셀 내에 정상온도일때보다 상대적으로 많은 양의 벽전하가 쌓이게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법은 고온환경에서 스캔 전극들(Y)에 정상전압 예컨대, 스캔전압(Vsc)보다 낮은 스캔로우전압(Vscl)을 인가하여 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이의 어드레스 방전을 약하게 유도하여 셀 내에 벽전하가 상대적으로 많이 쌓이는 것을 방지한다.

이와 반대로 PDP의 온도가 정상 사용온도보다 낮아지면 셀 내의 압력이 낮아지고 방전전압(Vf)이 낮아진다. 이러한 저온환경에서 정상적인 구동전압의 서스테인펄스로 PDP를 구동하면 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이의 어드레스 방전이 약하게 일어나게 되어 정상온도일 때보다 셀 내에 상대적으로 적은 양의 벽전하가 쌓이게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법은 저온환경에서 스캔전극들(Y)과 어드레스전극들(X)에 정상전압 예컨대, 스캔전압(Vsc)보다 높은 스캔하이전압(Vsch)을 인가하여 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이의 어드레스 방전을 강하게 일으켜 셀 내에 상대적으로 적은 양의 벽전하가 쌓이는 것을 방지한다.

서스테인기간에는 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 교번적으로 서스테 인전압(Vs)의 서스테인펄스(sus)가 인가된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽전압과 서스테인전압(Vs)이 더해지면서 매 서스테인펄스(sus) 마다 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 서스테인방전이 일어나게 된다.

결과적으로, 본 발명의 제3 실시예에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 어드레스 방전시 스캔전극들과 어드레스전극들(Z)에 인가되는 전압을 PDP의 주변 온도 변화에 따라 가변함으로써 온도 변화에 따라 PDP의 셀 조건이 변하더라도 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이의 어드레스 방전이 온도변화와 관계없이 균일하도록 제어한다.

도 9는 본 발명의 제4 실시 예에 따른 PDP의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 9에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치는 도 2에 도시된 구동장치와 대비하여 온도 센서 대신에 온도에 따라 저항값이 달라지는 온도가변소자를 이용하여 어드레스기간에 스캔구동부에서 생성된 전압을 제어하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 9에 도시된 스캔 구동부(83)는 셋업전압(Vsetup), 부극성 전압(-Vy), 정극성 전압(Vs) 및 스캔 전압(Vsc)을 이용하여 상승 램프 펄스, 하강 램프 펄스, 서스테인 펄스, 스캔 펄스를 각각 생성하여 타이밍 제어신호(CTRY)에 응답하여 이들을 스캔전극(Y)에 공급하는 상승 램프 펄스 생성부(91), 하강 램프 펄스 생성부(92), 서스테인 펄스 생성부(94) 및 스캔 펄스 생성부(95)를 구비한다.

도 9에 도시된 스캔 펄스 생성부(95)는 피드백 저항인 온도 가변 저항(Rt)과 접속된다. 즉, 온도 가변 저항(Rt)은 스캔 펄스 생성부(95) 각각에 포함된 기울기 제어회로와 접속된다. 이 온도 가변 저항(Rt)은 온도가 증가할수록 그에 비례하여 저항값이 증가하는 정특성 서미스터(PTC) 또는 온도가 증가할수록 그에 반비례하여 저항값이 감소하는 부특성 서미스터(NTC)로 이루어진다. 상기 저항값이 가변되는 온도 가변 저항(Rt)에 의해 기울기 제어회로에서 피드백된 스캔 펄스의 스캔전압은 전압레벨이 조절된다. 즉, 피드백된 스캔 펄스는 상승기간의 상승기울기, 하강기간의 하강기울기 및 서브유지기간의 스캔 전압등이 조절되어 스캔전극(Y)에 공급된다.

이러한 온도 가변 저항(Rt)을 이용한 본 발명의 제4 실시 예에 따른 PDP의 어드레스 방전을 도 8을 결부하여 설명하기로 한다. 여기서, 온도 가변 저항(Rt)은 NTC를 이용한 경우를 예로 들어 설명하기로 한다.

온도 가변 저항(Rt)에 의해 감지된 PDP의 온도가 고온 환경인 경우, 온도 가변 저항(Rt)의 저항값은 정상온도일때보다 감소하게 된다. 감소된 저항값에 의해 서스테인기간동안 스캔전극들(Y)과 어드레스전극들(X)에는 정상전압 예컨대, 스캔전압(Vsc)보다 높은 스캔하이전압(Vsch)의 스캔펄스(scp)가 인가된다. 이에 따라, 스캔전극(Y)과 어드레스 전극(X) 사이의 어드레스 방전이 약하게 유도되어 셀 내에 벽전하가 상대적으로 많이 쌓이는 것을 방지한다.

온도 가변 저항(Rt)에 의해 감지된 PDP의 온도가 저온 환경인 경우, 온도 가변 저항(Rt)의 저항값이 정상온도일때보다 증가하게 된다. 증가된 저항값에 의해 어드레스 기간동안 스캔전극들(Y)과 어드레스전극들(X)에는 정상전압 예컨대, 스캔전압(Vsc)보다 낮은 스캔 로우 전압(Vscl)의 스캔 펄스가 인가된다. 이에 따라, 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이의 어드레스 방전을 강하게 일으켜 셀 내에 상대적으로 적은 양의 벽전하가 쌓이는 것을 방지한다.

결과적으로, 본 발명의 제4 실시예에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 어드레스 방전시 스캔전극들(Y)과 어드레스전극들(Z)에 인가되는 전압을 PDP의 주변 온도 변화에 따라 가변함으로써 온도 변화에 따라 PDP의 셀 조건이 변하더라도 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이의 어드레스 방전이 온도변화와 관계없이 균일하도록 제어한다.

도 10은 본 발명의 제5 실시 예에 따른 PDP의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 10에 도시된 본 발명의 제5 실시 예에 따른 PDP의 구동장치는 도 2에 도시된 구동장치와 대비하여 리셋기간에 인가되는 구동신호를 온도센서에 의해 감지된 온도에 따라 가변하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

타이밍 콘트롤러(101)는 온도센서(106)로부터의 온도감지신호(St)에 응답하여 스캔전극들(Y)에 공급되는 리셋펄스의 셋업전압레벨 및/또는 부극성 전압레벨이 PDP의 온도에 따라 달라지도록 스캔 구동부(103)를 제어한다.

구동전압 발생부(105)는 상승 램프파형의 셋업전압(Vsetup), 스캔전극의 부극성 전압(-Vy), 스캔전압(Vsc), 데이터전압(Vd), 서스테인전압(Vs) 및 온도에 따 라 선택되는 셋업하이전압(Vsetuph), 셋업로우전압(Vsetupl), 부극성 하이 전압(-Vyh), 부극성 로우 전압(-Vyl) 등을 발생한다. 이러한 구동전압들은 방전가스의 조성이나 방전셀 구조에 따라 변할 수 있다.

스캔구동부(103)는 타이밍 콘트롤러(101)의 제어 하에 리셋기간 동안 온도에 따라 전압레벨이 달라지는 상승 램프파형(Rup)과 온도에 따라 전압레벨이 달라지는 하강 램프파형(Rdn)을 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 공급하고 어드레스기간 동안 스캔펄스(scp)를 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 순차적으로 공급한다. 그리고 스캔구동부(103)는 타이밍 콘트롤러(101)의 제어 하에 서스테인기간 동안 서스테인펄스(sus)를 스캔전극들(Y1 내지 Ym)에 공급하게 된다.

서스테인구동부(104)는 타이밍 콘트롤러(101)의 제어 하에 리셋기간 동안 하강 램프파형(Rdn)에 동기되며 어드레스기간 동안 소정 전압의 정극성 직류바이어스전압을 서스테인전극들(Z)에 공급한다. 그리고 서스테인구동부(104)는 타이밍 콘트롤러(101)의 제어 하에 서스테인기간 동안 스캔구동부(103)와 교대로 동작하여 서스테인펄스(sus)를 서스테인전극들(Z)에 공급한다.

도 11은 본 발명의 제5 실시 예에 따른 PDP의 구동방법의 제1 실시 예를 설명하기 위한 도면이다. 여기서, 어드레스기간은 도 3과 실질적으로 동일하고 서스테인기간은 도 8과 실직적으로 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

한편, 셋업방전시 온도 센서에 의해 감지된 고온환경에서 스캔 전극들(Y)에 정상전압 예컨대, 셋업전압(Vsetup)보다 낮은 셋업로우전압(Vsetupl)의 상승 램프파형을 인가한다. 이 상승 램프파형(Rup)에 의해 전화면의 셀들 내에서 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이와 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 셋업방전을 약하게 유도한다. 이 약한 셋업방전의 결과로, 어드레스전극(X)과 서스테인전극(Z) 상에는 정극성(+)의 벽전하가 상대적으로 적게 쌓이게 되며, 스캔전극(Y) 상에는 부극성(-)의 벽전하가 상대적으로 적게 쌓이게 된다.

이와 반대로 온도 센서에 의해 감지된 저온환경에서 스캔 전극들(Y)에 정상전압 예컨대, 셋업전압(Vsetup)보다 높은 셋업하이전압(Vsetuph)의 상승 램프파형을 인가한다. 이 상승 램프파형(Rup)에 의해 전화면의 셀들 내에서 스캔전극(Y)과 어드레스전극(X) 사이와 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 셋업방전을 강하게 유도한다. 이 강한 셋업방전의 결과로, 어드레스전극(X)과 서스테인전극(Z) 상에는 정극성(+)의 벽전하가 상대적으로 많이 쌓이게 되며, 스캔전극(Y) 상에는 부 극성(-)의 벽전하가 상대적으로 많이 쌓이게 된다.

결과적으로, 본 발명의 제5 실시예에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 셋업 방전시 스캔전극들(Y)에 인가되는 전압을 PDP의 주변 온도 변화에 따라 가변함으로써 온도 변화에 따라 PDP의 셀 조건이 변하더라도 셋업 방전이 온도변화와 관계없이 균일하도록 제어한다.

도 12는 본 발명의 제5 실시 예에 따른 PDP의 구동방법의 제2 실시 예를 설명하기 위한 도면이다. 여기서, 어드레스기간은 도 3과 실질적으로 동일하고 서스테인기간은 도 8과 실직적으로 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 12에 도시된 바와 같이 셋다운방전시 온도 센서에 의해 감지된 고온환경에서 스캔 전극들(Y)에 정상전압 예컨대, 부극성전압(-Vy)보다 높은 부극성 하이 전압(-Vyh)의 하강 램프 파형을 인가함으로써 스캔 전극(Y)과 서스테인 전극(Z) 사이의 셋다운방전을 약하게 유도한다. 이 약한 셋다운 방전의 결과로, 셀 내의 벽전압과 공간전하의 양이 높아지게 되어 고온에서 방전전압이 높아지더라도 방전이 안정적으로 일어나게 된다.

이와 반대로 온도 센서에 의해 감지된 저온환경에서 스캔 전극들(Y)에 정상전압 예컨대, 부극성 전압(-Vy)보다 낮은 부극성 로우 전압(-Vyl)의 하강 램프파형(Rdn)을 인가한다. 이 하강 램프파형(Rdn)에 의해 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 셋다운방전이 강하게 유도된다. 이 강한 셋다운방전의 결과로, 셀 내의 벽전압과 공간전하의 양이 낮아지게 되어 고온에서 방전전압이 낮아지더라도 방전 이 안정적으로 일어나게 된다.

도 13은 본 발명의 제6 실시 예에 따른 PDP의 구동장치를 나타내는 블럭도이다.

도 13에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치는 도 2에 도시된 구동장치와 대비하여 온도 센서 대신에 온도에 따라 저항값이 달라지는 온도가변소자를 이용하여 리셋기간에 스캔구동부에서 생성된 전압을 제어하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다. 이에 따라, 동일한 구성요소에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 13에 도시된 스캔 구동부(103)는 셋업전압(Vsetup), 부극성 전압(-Vy), 정극성 전압(Vs) 및 스캔 전압(Vsc)을 이용하여 상승 램프 펄스, 하강 램프 펄스, 서스테인 펄스, 스캔 펄스를 각각 생성하여 타이밍 제어신호(CTRY)에 응답하여 이들을 스캔전극(Y)에 공급하는 상승 램프 펄스 생성부(111), 하강 램프 펄스 생성부(112), 서스테인 펄스 생성부(114) 및 스캔 펄스 생성부(115)를 구비한다.

도 13에 도시된 상승 램프 펄스 생성부(111)와 하강 램프 펄스 생성부(112) 중 적어도 어느 하나는 피드백 저항인 온도 가변 저항(Rt)과 접속된다. 즉, 온도 가변 저항(Rt)은 온도가 증가할수록 그에 비례하여 저항값이 증가하는 정특성 서미스터(PTC) 또는 온도가 증가할수록 그에 반비례하여 저항값이 감소하는 부특성 서미스터(NTC)로 이루어진다. 상기 저항값이 가변되는 온도 가변 저항(Rt)에 의해 피드백된 셋업전압 및 부극성 전압 중 적어도 어느 하나의 전압레벨이 조절된다.

이러한 온도 가변 저항(Rt)을 이용한 본 발명의 제6 실시 예에 따른 PDP의 리셋방전을 도 11 및 도 12를 결부하여 설명하기로 한다. 여기서, 온도 가변 저항(Rt)은 NTC를 이용한 경우를 예로 들어 설명하기로 한다.

온도 가변 저항(Rt)에 의해 감지된 PDP의 온도가 고온 환경인 경우, 온도 가변 저항(Rt)의 저항값은 정상온도일때보다 감소하게 된다. 감소된 저항값에 의해 셋업방전기간동안 스캔전극들(Y)에는 정상전압 예컨대, 부극성전압(-Vy)보다 높은 부극성 하이 전압(-Vyh)의 하강 램프 파형(Rdn)가 인가된다. 이에 따라, 스캔 전극(Y)과 서스테인 전극(Z) 사이에는 셋다운방전이 약하게 유도한다. 이 약한 셋다운 방전의 결과로, 셀 내의 벽전압과 공간전하의 양이 높아지게 되어 고온에서 방전전압이 높아지더라도 방전이 안정적으로 일어나게 된다.

이와 반대로 온도 가변 저항(Rt)에 의해 감지된 PDP의 온도가 저온 환경인 경우, 온도 가변 저항(Rt)의 저항값은 정상온도일 때보다 증가하게 된다. 증가된 저항값에 의해 셋다운 방전기간동안 스캔 전극들(Y)에 정상전압 예컨대, 부극성 전압(-Vy)보다 낮은 부극성 로우 전압(-Vyl)의 하강 램프파형(Rdn)을 인가한다. 이 하강 램프파형(Rdn)에 의해 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에는 셋다운방전이 강하게 유도된다. 이 강한 셋다운방전의 결과로, 셀 내의 벽전압과 공간전하의 양이 낮아지게 되어 고온에서 방전전압이 낮아지더라도 방전이 안정적으로 일어나게 된다.

결과적으로, 본 발명의 제6 실시예에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 리셋 방전시 스캔전극들(Y)에 인가되는 전압을 PDP의 주변 온도 변화에 따라 가변함으로써 온도 변화에 따라 PDP의 셀 조건이 변하더라도 셋업방전 및 셋다운방전이 온도 변화와 관계없이 균일하도록 제어한다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 PDP의 온도를 실시간으로 감지하고 그 PDP의 온도변화에 따라 리셋기간, 어드레스 기간, 서스테인 기간에 인가되는 전압을 조절하여 온도가 변할 때 발생되는 셀의 방전특성의 불안정을 최소화하여 PDP에서 미스방전이나 오방전을 최소화할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 PDP의 구동방법 및 장치는 PDP의 구동파형을 온도 변화에 적응적으로 가변하여 온도가 변화하더라도 PDP를 안정하게 구동시킬 수 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims

스캔 전극, 서스테인 전극 및 어드레스 전극의 교차부들에 다수의 셀들이 형성되는 플라즈마 디스플레이 패널을 리셋기간, 어드레스기간 및 서스테인기간으로 나누어 구동하는 방법에 있어서,

상기 리셋기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간 중 적어도 어느 한 기간 동안 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 온도를 감지하는 단계와;

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 신호를 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
제 1 항에 있어서,

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제어하는 단계는

상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 서스테인 기간에 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극에 인가되는 서스테인펄스의 서스테인 전압을 기준전압보다 낮추며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 서스테인 기간에 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극에 인가되는 서스테인펄스의 서스테인 전압을 기준전압보다 높히는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
제 1 항에 있어서,

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제어하는 단계는

상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 어드레스 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 스캔펄스의 스캔 전압을 기준전압보다 높히며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 어드레스 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 스캔펄스의 스캔 전압을 기준전압보다 낮추는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
제 1 항에 있어서,

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제어하는 단계는

상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 하강 램프 펄스의 부극성 전압을 기준전압보다 높히며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 하강 램프 펄스의 부극성 전압을 기준전압보다 낮추는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
제 1 항에 있어서,

상기 감지된 온도에 따라 상기 각 기간에 상기 전극들에 인가되는 전압을 제 어하는 단계는

상기 감지된 온도가 고온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 상승 램프 펄스의 셋업 전압을 기준전압보다 낮추며, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 리셋 기간에 상기 스캔전극에 인가되는 상승 램프 펄스의 셋업 전압을 기준전압보다 높히는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
제 1 항에 있어서,

상기 패널의 온도를 감지하는 단계는

상기 전극들에 인가되는 신호를 생성하는 구동부에 피드백형태로 접속된 온도 가변저항을 통해 상기 패널의 온도를 감지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
제 6 항에 있어서,

상기 온도 가변 저항은

상기 패널의 온도가 증가할수록 저항값이 커지는 정특성 서미스터 및 상기 패널의 온도가 증가할수록 저항값이 작아지는 부특성 서미스터 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
스캔전극, 서스테인 전극 및 어드레스 전극의 교차부들에 형성된 다수개의 셀을 가지는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치에 있어서,

상기 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부와;

상기 서스테인 전극을 구동하기 위한 서스테인 구동부와;

상기 어드레스 전극을 구동하기 위한 어드레스 구동부와;

상기 패널의 온도를 감지하는 온도 감지부를 구비하며,

상기 스캔구동부, 서스테인 구동부 및 어드레스 구동부 중 적어도 어느 하나는 상기 감지된 온도에 따라 그 온도에 해당하는 구동신호를 상기 전극들에 공급하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
제 8 항에 있어서,

상기 스캔 구동부 및 서스테인 구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 낮은 서스테인 전압의 서스테인 펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 상기 기준전압보다 높은 서스테인 전압의 서스테인 펄스를 상기 서스테인 기간에 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극에 공급하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
제 8 항에 있어서,

상기 스캔 구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 높은 스캔 전압의 스캔펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 기준전압보다 낮은 스캔 전압의 스캔펄스를 상기 어드레스기간에 상기 스캔전극에 공급하 는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
제 8 항에 있어서,

상기 스캔구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 높은 부극성 전압의 하강 램프 펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 기준전압보다 낮은 부극성 전압의 상승 램프 펄스를 상기 리셋기간에 상기 스캔전극에 공급하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
제 8 항에 있어서,

상기 스캔구동부는 상기 온도감지부에 의해 감지된 온도가 고온인 경우 기준전압보다 낮은 셋업전압의 상승 램프 펄스를, 상기 감지된 온도가 저온인 경우 기준전압보다 높은 셋업전압의 상승 램프 펄스를 상기 리셋기간에 상기 스캔전극에 공급하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
제 8 항에 있어서,

상기 온도 감지부는 상기 스캔구동부, 서스테인 구동부 및 어드레스 구동부 중 적어도 어느 하나에 피드백형태로 접속된 온도 가변 저항인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
제 13 항에 있어서,

상기 온도 가변 저항은

상기 패널의 온도가 증가할수록 저항값이 커지는 정특성 서미스터 및 상기 패널의 온도가 증가할수록 저항값이 작아지는 부특성 서미스터 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.