KR20060058532A - 스트레칭 기법을 활용한 평판 디스플레이 패널의 화상결함 검사 방법 및 기록매체 - Google Patents

스트레칭 기법을 활용한 평판 디스플레이 패널의 화상결함 검사 방법 및 기록매체 Download PDF

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Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 화상 결함을 검사하는 방법 및 상기 방법을 실현하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체를 제공하는 것을 목적으로 하고 있으며, 상기 평판 디스플레이 패널의 패턴 영상을 촬상하여 촬상된 영상 데이터 신호간의 레벨차를 이용하여 화상 결함을 검출하는 방법에 있어, 상기 영상 데이터 신호간의 레벨차를 증대시키기 위해 스트레칭 범위를 설정하여 상기 촬상된 영상 데이터 신호를 상기 스트레칭 범위로 스트레칭하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면 촬상된 영상 데이터 신호간의 레벨차가 증대되므로 화상 결함 검출의 변별력이 증대되고, 화상 결함을 판정하는 임계값의 설정 폭도 그 만큼 넓어지게 되어 보다 더 정밀한 화상 결함을 검출할 수 있는 효과가 있다.
평판 디스플레이 패널, 화상 결함, 스트레칭, 패턴 영상, 히스토그램

Description

스트레칭 기법을 활용한 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법 및 기록매체{METHOD OF DETECTING THE PICTURE DEFECT OF FLAT DISPLAY PANEL USING STRETCHING TECHNIQUE AND RECORDING MEDIUM}
도 1 은 종래의 자동 화상 결함 검사 시스템을 개략적으로 보여주는 도면이고,
도 2 는 종래의 자동 화상 결함 검사 시스템에 의해 평판 디스플레이의 화상 결함을 검사하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이고,
도 3 은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 화상 결함을 검사하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이고,
도 4 는 본 발명에 일실시예에 따른 스트레칭 처리 흐름도이고,
도 5 는 상기 도 4 에 따른 스트레칭 처리를 설명하기 위한 히스토그램의 예시 도면이고,
도 6 은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 스트레칭 처리 흐름도이고,
도 7 은 상기 도 6 의 스트레칭 처리에 따른 비스트레칭 범위를 설정을 설명하기 위한 히스토그램의 예시 도면이다.
본 발명은 액정패널 등의 평판 디스플레이 패널의 화상 결함을 검사하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 TFT-LCD, TN/STN, PDP, 유기EL 등(이하, '평판 디스플레이'라 한다) 패널의 화상 검사에서 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 카메라를 이용하여 이미지를 검출하고 이를 분석/처리하여 결함여부를 판단함에 있어서 스트레칭(stretching)기법을 이용하여 불량 화소 변별력을 높이는 평판 디스플레이의 화상 결함 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로 평판 디스플레이는 음극선관 디스플레이와는 다른 기술을 바탕으로 만든 평면형 디스플레이로서 음극선관 디스플레이에 비해 얇은 것이 특징이고, 특히나, 이러한 평판 디스플레이는 소비자 기호의 고급화에 따라 점차적으로 표시 화소의 크기를 줄이고 있는 추세이다.
그에 따라 디스플레이 제조 공정상 상당한 정밀도를 요구하고 있으므로 제품의 불량 발생 확률이 높아지고 있다. 그런데, 디스플레이 장치에서 디스플레이 평판은 전체 가격의 대부분을 차지하고 있어 제품의 불량이 많을수록 제조자 측에서는 큰 손실을 입게 된다. 따라서, 평판 디스플레이에서 불량이 발생된 곳을 즉시 수정하거나 폐기하여 추가 손실을 줄이기 위해서는, 평판 디스플레이의 화상 결함을 정확하고 고속으로 검출하는 것이 무엇보다 중요하게 되었다.
종래 이러한 평판 디스플레이의 결함 검사는 검사자가 직접 눈으로 검사하는 목시검사 또는 평판 디스플레이의 패턴 영상을 촬상하여, 상기 촬상된 영상 이미지 를 처리하여 자동으로 불량 화소 여부를 검사하는 자동 화상 결함 검사 시스템에 의한 검사에 의해 이루어지고 있다.
도 1 은 종래의 자동 화상 결함 검사 시스템을 개략적으로 보여주는 도면이다. 도 1 을 참조하면 화상 결함 검사 시스템은 스테이지(100), 카메라(120), 조작부(110), 그리고 검사부(200)를 포함한다.
스테이지(100)는 검사를 위한 평판 디스플레이 패널(10)이 놓여지는 부분이며, 스테이지(100)의 상부에는 스테이지에 놓여진 평판 디스플레이 패널을 촬상하기 위한 카메라(120)가 설치된다. 조작부(110)는 카메라나 스테이지의 위치 설정 등 시스템을 전반적으로 작동시키는 부분이다. 검사부(200)는 카메라로부터 촬상된 이미지들을 전송 받아 이를 디지털 영상값으로 변환하여 저장하는 이미지부(210)와 평판 디스플레이 패널 이미지의 검사 위치를 저장하는 어드레스 데이터부(220)를 가진다. 또한 검사부는 이미지부로 전송된 평판 디스플레이 패널 이미지에서 검사 위치에 해당되는 부분의 신호 레벨과 기준 레벨과의 차이를 추출하는 비교치 추출부(230)와 상기 비교치 추출부에서 추출된 차이값을 기준으로 화상 불량으로 판정하는 임계값이 저장된 판정부(240)를 더 가진다.
도 2 는 상기 자동 화상 결함 검사 시스템에 의해 평판 디스플레이의 화상 결함을 검사하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 먼저, 일정한 주기를 가지는 반복적인 검사 패턴을 패턴 발생기(도시하지 않음)에 의해 발생시켜 평판 디스플레이에 상기 검사 패턴을 디스플레이한다(S20). 일반적으로 액정 표시 패널을 구비한 영상 표시 기기에서 하나의 영상 신호를 '0' 또는 '1'의 디지털 신호로 표현하는 데 8비트가 요구되는 바, 한 가지 컬러를 그레이 레벨로 표시할 경우 아래 수학식 1 에서와 같이 0(검정색)에서부터 255(흰색)의 최대 256의 신호 레벨로 표현할 수 있다. 상기 일정한 주기를 가지는 반복적인 검사 패턴의 신호 레벨은, 예를 들어 (50, 50, 90, 90, 120, 120), (50, 50, 90, 90, 120, 120), ...와 같이 주기적으로 6화소 떨어진 위치에 동일한 신호레벨을 가진 반복적인 신호 레벨일 수 있다.
28=256
다음으로, 촬상 카메라, 예를 들어 라인 스캔 카메라가 라인 단위로 일정 스캔 방향을 가지고 촬영하여 그 찰영된 라인에 해당되는 패턴 영상을 검출한다(S30). 상기 단계에서 검출된 패턴 영상을 통해 디지털 영상 값을 추출하게 된다(S40). 상기 추출된 디지털 영상 값을 동일 신호 레벨이 존재해야 하는 위치들(즉, 주기별로 같은 신호 레벨이 존재한다)을 비교하여(S50) 그 신호 레벨의 차이에 따라 그 화소가 오류인지 아닌지를 판별한다(S60). 예를 들어, 앞에서 예시한 검사 패턴을 디스플레이한 평판 디스플레이 패널의 촬상 이미지의 디지털 영상값이 (50, 55, 90, 90, 120, 130), (55, 50, 60, 90, 120, 100), (56, 55, 90, 90, 120, 130), (50, 55, 90, 90, 120, 130), ...이라고 한다면, 비교 대상을 중심으로 한 주기(6화소)만큼 떨어진 양쪽의 값과의 차의 절대값의 합을 구하면, (5, 5, 30, 0, 0, 30), (6, 10, 60, 0, 0, 60), (6, 5, 30, 0, 10, 30), ...이 된다. 여기서, 화소가 오류라고 판단하는 임계값을 40이라고 한다면 두 번째 그룹의 60 및 100의 신 호 레벨을 가진 화소를 오류라고 판단하는 것이다.
그러나, 상기와 같은 종래의 신호 레벨 차이에 의해 불량 화소를 검사하는 방법에 있어서는 촬상 카메라로부터 받아들인 가공되지 않은 원래의 영상 데이터 를 그대로 검사 알고리즘에 적용하기 때문에, 충분한 검출 능력을 확보하기가 용이하지 않은 문제점이 있다. 따라서, 정상 화소와 불량 화소 사이의 신호 레벨의 차이 극명하게 나타날 수 있는, 보다 정확한 불량 화소를 검출하는 방법이 요구된다.
본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로, 획득된 영상 데이터간의 신호 레벨 차이에 의해 불량 화소를 검사하는 방법에 있어서, 스트레칭 기법을 응용하여 정상 화소와 불량 화소 사이의 신호 레벨의 차를 극명하게 나타날 수 있는 방법 및 상기 방법을 실현하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 상기 목적 및 다른 목적과 이점은 첨부 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 설명하는 하기의 설명으로부터 보다 분명해 질 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일면에 따른 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법은 평판 디스플레이 패널의 일정한 주기를 가진 반복적인 패턴 영상을 촬상하여 디지털 영상 값을 취득하는 단계, 상기 디지털 영상 값의 범위를 판정하여 가변 최대값과 가변 최소값을 설정하는 단계, 상기 디지털 영상 값을 가변 최대값과 가변 최소값의 범위로 스트레칭하는 단계, 상기 스트레칭된 디지털 영 상 값들의 차이를 비교하여 화상 결함을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화상 결함을 검사하는 단계는 검사 위치에서의 상기 스트레칭된 디지털 영상 값과 상기 검사 위치에서 한 주기 양쪽으로 떨어진 위치의 스트레칭된 디지털 영상 값들과의 차이를 검출하는 단계 및 상기 차이값의 절대값의 합을 결함 판정 임계값과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 발명에 따르면 스트레칭 기법을 응용하여 획득된 영상 데이터간의 신호 레벨차를 증대시키고 있기 때문에, 정상 값을 출력하는 화소와 결함이 있는 화소와의 신호 레벨차를 증대시켜 결함 검출을 변별력을 증대시키는 효과를 가진다.
본 발명의 다른 일면에 따르면, 본 발명은 평판 디스플레이 패널의 일정한 주기를 가지는 반복적인 패턴 영상을 촬상하여 디지털 영상 값을 취득하는 단계, 상기 디지털 영상 값의 히스토그램을 작성하는 단계, 상기 히스토그램으로부터 디지털 영상 값의 범위를 판정하여 가변 최대값과 가변 최소값을 설정하는 단계, 상기 히스토그램으로부터 비스트레칭 범위를 설정하는 단계, 상기 디지털 영상 값을 상기 단계에서 설정된 비스트레칭 범위를 제외하고 가변 최대값과 가변 최소값의 범위로 선택적으로 스트레칭하는 단계, 상기 선택적으로 스트레칭된 디지털 영상 값들의 차이를 비교하여 화상 결함을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화상 결함을 검사하는 단계는 검사 위치에서의 상기 선택적으로 스트레칭된 디지털 영상 값과 상기 검사 위치에서 한 주기 양쪽으로 떨어진 위치의 스트레칭된 디지털 영상 값들과의 차이를 검출하는 단계 및 상기 차이값의 절대값의 합을 결함 판정 임계값과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 발명에 따르면, 획득된 영상 데이터간의 신호 레벨차를 증대시키는 효과에 더하여, 정상 값을 출력하는 화소의 영상 값에 대해서는 스트레칭하지 않도록 스트레칭 부분과 비스트레칭 부분을 나누어 선택적으로 스트레칭함으로써 화상 결함 검출의 변별력을 더 부여하는 효과도 있다.
이하, 본 발명의 실시예와 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다. 이들 실시예는 오로지 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위해 예시적으로 제시한 것일 뿐, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 의해 제한되지 않는다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가지는 자에 있어서 자명할 것이다. 또한 본 발명의 실시예를 설명하면서 본 발명을 불필요하게 불명료하게 하지 않도록 극히 세부적인 사항은 생략한다.
도 3 는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 화상 결함을 검사하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
일정한 주기를 가지는 반복적인 검사 패턴을 패턴 발생기(도시하지 않음)에 의해 발생시켜 평판 디스플레이에 상기 검사 패턴을 디스플레이하고(S320), 촬상 카메라로 패턴 영상을 검출하는 단계(S330)는 종래의 검사 방법과 동일하다. 그리고, 상기 단계에서 검출된 패턴 영상으로부터 디지털 영상 값을 추출(S340)한다. 상기 추출된 디지털 영상 값을 본 발명에 따라 스트레칭 처리를 행한다(S350).
본 발명에 따른 스트레칭 처리 흐름도를 나타내는 도 4 를 참조하여, 상기 단계 S350을 보다 상세히 설명한다. 상기 추출된 영상 값을 바탕으로 신호 레벨에 따른 화소의 개수를 나타내는 히스토그램을 도 5a 와 같이 작성한다(S420). 도 5a 는 신호 레벨의 범위가 50 ~ 180 의 범위내에 존재하는 경우의 히스토그램의 한 예를 도시하고 있다.
상기 히스토그램으로부터 디지털 영상 값의 범위를 검출한 후(S430), 상기 디지털 영상 값의 범위로부터 스트레칭 범위, 즉 가변 최대값과 가변 최소값을 결정한다(S440). 상기 가변 최대값과 가변 최소값을 결정함에 있어, 신호 레벨의 전범위, 즉 255 또는 0으로 설정하지 않는 것이 바람직하다. 왜냐하면 확률적으로 결함이 있는 화소의 신호 레벨은 극히 높거나 낮은 범위에 있으므로, 정상적인 값들이 스트레칭으로 인하여 이 범위에 근접하는 것을 방지하기 위함이다. 예를 들어, 상기 도 5a 에 도시한 히스토그램과 같이 입력된 영상 값의 신호 레벨의 범위가 50~180의 범위내에 존재한다면, 이 값을 0~255로 스트레칭하는 것이 아니라, 20~220 정도로 스트레칭한다는 것이다. 즉, 20 보다 적거나 220보다 큰 값은 그 값을 그대로 유지하도록 한다. 도 5b 는 도 5a 에 나타난 디지털 영상 값을 스트레칭 범위 20 ~220 범위로 스트레칭 한 후의 히스토그램을 도시하고 있다. 상기 도면에서 보는 바와 같이 스트레칭 한 후의 디지털 영상 값은 스트레칭 범위만큼 상호 간의 신호 레벨의 차가 증대된다.
이와 같이 디지털 영상 값을 최대 활용 신호 레벨 범위로 스트레칭 함으로써, 획득된 영상 데이터간의 신호 레벨차가 증대되고 불량 검출의 변별력을 증대시킬 수 있다. 또한 불량 검출에 있어 불량으로 판정하는 임계값을 설정함에 있어서 도 원영상 데이터를 그대로 이용하는 경우보다 더욱 폭넓게 설정할 수 있고, 이로 인해 보다 정확한 화소 불량을 검출할 수 있다.
물론, 상기의 실시예에서 추출된 디지털 영상 값에 대한 히스토그램을 작성하여 상기 히스토그램으로부터 가변 최대값 및 가변 최소값을 결정함이 없이, 패턴 발생기로부터 발생되는 검사 패턴의 범위로부터 미리 가변 최대값 및 가변 최소값을 결정하는 것도 가능하다. 또한, 히스토그램은 한 라인에 대한 영상에 대한 히스토그램을 작성할 수 도 있고 전체 영상에 대한 히스토그램을 작성할 수 도 있다.
상기 스트레칭된 디지털 영상 값을 동일 신호 레벨이 존재해야 하는 위치들(즉, 주기별로 같은 신호 레벨이 존재한다)을 비교하여(S360) 그 신호 레벨의 차이에 따라 그 화소가 오류인지 아닌지를 판별한다(S370).
도 6 은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 스트레칭 방법을 설명하기 위한 블록도이다. 본 실시예의 경우 분포가 높은 신호 레벨을 지정하여 상기 신호 레벨에 해당하는 값들은 스트레칭 하지 않는다는 점을 제외하고는 앞선 실시예와 완전히 동일하다. 디지털 영상값에 대한 히스토그램을 작성한 후(S630), 신호 레벨의 분포가 가장 높은 신호 레벨를 검출한다(S660). 도 5a 의 히스토그램의 경우 신호 레벨 100이 분포가 가장 높은 신호 레벨이 될 것이다. 신호 레벨의 분포가 가장 높은 신호 레벨을 검출한 후 오차 범위를 고려하여 적당하게 비스트레칭 범위를 설정한다(S670). 예를 들어, 신호 레벨이 95 내지 105 범위를 비스트레칭 범위로 설정할 수 있다.
상기 실시예와 같이 비스트레칭하는 범위를 결정하여 상기 비스트레칭 범위 를 제외하고 선택적으로 스트레칭하는 것은, 분포가 가장 높은 신호 레벨의 범위는 정상 값을 출력하는 화소이므로, 스트레칭 하지 않고 기존 값을 그대로 사용하여 변별력을 더 부여하고자 하는 것이다.
상기 실시예에서, 비스트레칭 범위를 설정함에 있어서, 일정한 주기를 가지는 반복적인 패턴 영상을 검사 패턴으로 하고 있으므로, 도 7 에 도시한 히스토그램에서 각 피크에 해당하는 a, b, c 지점을 비스트레칭 범위로 설정하는 것이 바람직하다. 각 피크에 해당하는 지점은 일정한 주기를 가지는 반복적인 패턴 영상을 검사 패턴으로 하고 있으므로 정상 값을 출력하는 화소로 보아도 무방하다. 따라서, 정상 값을 출력하는 화소에 대해서는 그 값을 스트레칭 하지 않고 기존 값을 그대로 사용하여 결함을 나타내는 신호 값과의 변별력을 더 부여하고자 하는 것이다.
상술한 바와 같은 본 발명의 방법은 프로그램으로 구현되어 컴퓨터로 읽을 수 있는 형태로 기록매체(씨디롬, 램, 플로피 디스크, 하드 디스크, 광자기 디스크 등)에 저장될 수 있다. 이러한 과정은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있으므로 더 이상 상세히 설명하지 않기로 한다.
본 발명이 첨부 도면을 참고로 바람직한 실시예로 설명되어 있지만, 다양한 변형 및 변경이 가능하다는 점은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 있어 명백하다. 따라서 본 발명의 기술적 범위는 후술하는 청구범위에 따라 결정되어야 할 것이다.
본 발명에 따른 화상 결함 검사 방법에 따르면, 스트레칭 기법을 응용하여 획득된 영상 데이터간의 신호 레벨차를 증대시키고 있기 때문에, 정상 값을 출력하는 화소와 결함이 있는 화소와의 신호 레벨차를 증대시켜 결함 검출을 변별력을 증대시킨다. 이에 따라, 평판 디스플레이 패널의 화상 결함을 보다 정밀도로 검출하는 것이 가능하다.
또한 본 발명에 따르면, 정상 값을 출력하는 화소의 영상 값에 대해서는 스트레칭하지 않도록 스트레칭 부분과 비스트레칭 부분을 나누어 선택적으로 스트레칭함으로써 화상 결함 검출의 변별력을 더 부여하는 이점도 있다.

Claims (13)

  1. 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법에 있어서,
    a) 평판 디스플레이 패널의 패턴 영상을 촬상하여 디지털 영상 값을 취득하는 단계;
    b) 상기 디지털 영상 값의 범위를 판정하여 가변 최대값과 가변 최소값을 설정하는 단계;
    c) 상기 디지털 영상 값을 가변 최대값과 가변 최소값의 범위로 스트레칭하는 단계;
    d) 상기 스트레칭된 디지털 영상 값들의 차이를 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 평판 디스플레이의 패턴 영상은 일정한 주기를 가지는 반복적인 패턴 영상인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 d) 단계는 검사 위치에서의 상기 스트레칭된 디지털 영상 값과 상기 검사 위치에서 한 주기 양쪽으로 떨어진 위치의 스트레칭된 디지털 영상 값들과의 차이를 검출하는 단계 및 상기 차이값의 절대값의 합을 결함 판정 임계값과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  4. 평판 디스플레이 패널의 화소 불량을 검사하는 방법에 있어서,
    a) 평판 디스플레이 패널의 패턴 영상을 촬상하여 디지털 영상 값을 취득하는 단계;
    b) 상기 디지털 영상 값의 히스토그램을 작성하는 단계
    c) 상기 히스토그램으로부터 디지털 영상 값의 범위를 판정하여 가변 최대값과 가변 최소값을 설정하는 단계;
    d) 상기 히스토그램으로부터 비스트레칭 범위를 설정하는 단계;
    e) 상기 디지털 영상 값을 상기 d)단계에서 설정된 비스트레칭 범위를 제외하고 가변 최대값과 가변 최소값의 범위로 선택적으로 스트레칭하는 단계;
    f) 상기 선택적으로 스트레칭된 디지털 영상 값들의 차이를 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  5. 제 5 항에 있어서,
    상기 d) 단계는 상기 히스토그램의 피크에 해당하는 범위를 비스트레칭 범위로 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  6. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서,
    상기 평판 디스플레이의 패턴 영상은 일정한 주기를 가지는 반복적인 패턴 영상인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 f) 단계는 검사 위치에서의 상기 선택적으로 스트레칭된 디지털 영상 값과 상기 검사 위치에서 한 주기 양쪽으로 떨어진 위치의 스트레칭된 디지털 영상 값들과의 차이를 검출하는 단계 및 상기 차이값의 절대값의 합을 결함 판정 임계값과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  8. 일정한 패턴이 형성된 평판 디스플레이에서 패턴 영상이 라인별로 카메라를 통해 촬영되어 상기 패턴 영상에 따른 디지털 영상값이 추출되는 제 1 단계;
    상기 제 1 단계에서 추출된 디지털 영상값이 일정 범위 내의 값으로 스트레칭되는 제 2 단계;
    상기 제 2 단계에서 스트레칭된 디지털 영상값들의 차이를 비교하는 제 3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 화상 결함 검사 방법.
  9. 촬상 카메라로부터 촬상된 평판 디스플레이 패널의 패턴 영상으로부터 화상 결함을 검사하는 프로그램을 기록한 기록 매체에 있어서,
    a) 평판 디스플레이 패널의 일정한 주기를 가진 반복적인 패턴 영상을 촬상하여 디지털 영상 값을 취득하는 단계;
    b) 상기 디지털 영상 값의 범위를 판정하여 가변 최대값과 가변 최소값을 설정하는 단계;
    c) 상기 디지털 영상 값을 가변 최대값과 가변 최소값의 범위로 스트레칭하는 단계;
    d) 상기 스트레칭된 디지털 영상 값들의 차이를 비교하여 화상 결함을 검사하는 단계를 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 d) 단계는 검사 위치에서의 상기 스트레칭된 디지털 영상 값과 상기 검사 위치에서 한 주기 양쪽으로 떨어진 위치의 스트레칭된 디지털 영상 값들과의 차이를 검출하는 단계 및 상기 차이값의 절대값의 합을 결함 판정 임계값과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.
  11. 촬상 카메라로부터 촬상된 평판 디스플레이 패널의 패턴 영상으로부터 화상 결함을 검사하는 프로그램을 기록한 기록 매체에 있어서,
    a) 평판 디스플레이 패널의 일정한 주기를 가지는 반복적인 패턴 영상을 촬상하여 디지털 영상 값을 취득하는 단계;
    b) 상기 디지털 영상 값의 히스토그램을 작성하는 단계
    c) 상기 히스토그램으로부터 디지털 영상 값의 범위를 판정하여 가변 최대값과 가변 최소값을 설정하는 단계;
    d) 상기 히스토그램으로부터 비스트레칭 범위를 설정하는 단계;
    e) 상기 디지털 영상 값을 상기 d)단계에서 설정된 비스트레칭 범위를 제외하고 가변 최대값과 가변 최소값의 범위로 선택적으로 스트레칭하는 단계;
    f) 상기 선택적으로 스트레칭된 디지털 영상 값들의 차이를 비교하여 화상 결함을 검사하는 단계를 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 d) 단계는 상기 히스토그램의 피크에 해당하는 범위를 비스트레칭 범위로 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.
  13. 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서,
    상기 f) 단계는 검사 위치에서의 상기 선택적으로 스트레칭된 디지털 영상 값과 상기 검사 위치에서 한 주기 양쪽으로 떨어진 위치의 스트레칭된 디지털 영상 값들과의 차이를 검출하는 단계 및 상기 차이값의 절대값의 합을 결함 판정 임계값과 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 포함하여 화상 결함을 검사하는 것을 특징으로 하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2018131737A1 (ko) * 2017-01-10 2018-07-19 한화테크윈 주식회사 불량 패널 검사 장치
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5917935A (en) 1995-06-13 1999-06-29 Photon Dynamics, Inc. Mura detection apparatus and method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008102996A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Okins Electronics Co., Ltd. Device for detecting pixel state of display element array substrate
WO2018131737A1 (ko) * 2017-01-10 2018-07-19 한화테크윈 주식회사 불량 패널 검사 장치
KR20210117456A (ko) * 2020-03-19 2021-09-29 (주)캠시스 컨트라스트를 활용한 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법

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