KR20060035257A - 플런저용 핑거의 레벨 측정장치 - Google Patents

플런저용 핑거의 레벨 측정장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 하부몰드 및 쉘몰드와 상호작용하여 패널을 성형하는 플런저에 마련된 핑거들의 레벨을 측정하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치에 관한 것으로서, 상기 하부몰드의 상부에 적층가능한 쉘몰드형 지그와; 상기 핑거들이 위치하는 영역에 해당하는 상기 쉘몰드형 지그에 각각 마련되어 해당 위치에서 상기 쉘몰드형 지그에 대한 핑거의 레벨을 측정하여 표시하는 레벨측정부재를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 쉘몰드에 대한 핑거들의 레벨 측정과정을 간소화하여 측정시간을 줄임으로써 공정상의 로스(Loss)를 최소화할 수 있고, 레벨 측정이 간편하고 용이하면서도 그 측정 결과값의 신뢰성이 향상되어 패널 불량률을 현격하게 낮출 수 있다.

Description

플런저용 핑거의 레벨 측정장치{APPARATUS FOR MEASURING LEVEL OF PLUNGER'S FINGER}
도 1은 음극선관용 패널 성형장치의 일예를 보인 도면,
도 2는 도 1에 도시된 플런저의 핑거들에 대해 레벨을 측정하기 위한 본 발명에 따른 플런저용 핑거의 레벨 측정장치의 평면도,
도 3은 도 2의 요부확대 측단면도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 하부몰드 3 : 쉘몰드
4 : 플런저 5 : 헤드
7a~7d : 핑거 10 : 레벨 측정장치
12 : 쉘몰드형 지그 14a~14d : 레벨측정부재
15 : 하우징 17 : 링크
19 : 프루브 21 : 다이얼게이지
본 발명은, 플런저용 핑거의 레벨 측정장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게 는, 플런저용 핑거에 대한 레벨을 손쉽게 측정할 수 있는 게이지의 구조에 관한 플런저용 핑거의 레벨 측정장치에 관한 것이다.
TV나 모니터 등에 사용되는 음극선관(CRT)은, 전방에 마련되어 화상이 투사되는 패널(Panel)과 패널의 배후에 결합되는 깔때기 형상의 펀넬(Funnel)과 펀넬의 정부에 결합되며 내부에 전자총이 수용되는 넥크(Neck)로 이루어져 있다.
펀넬도 마찬가지지만, 음극선관용 패널은 소정의 음극선관용 패널 성형장치에 의해 성형된다. 즉, 유리용융로로부터 글라스고브(Glass Gob)가 하부몰드 내로 낙하 투입되면, 하부몰드의 상단에는 쉘몰드가 적층 배치된다. 그런 다음, 하부몰드의 동축선 상방에 배치된 플런저가 하부몰드를 향해 하강하여 하부몰드 내에 투입된 글라스고브를 가압함으로써 글라스고브는 하부몰드와 쉘몰드의 틀 내에서 패널로써 완성된다.
이 때, 쉘몰드가 하부몰드의 상단에 정확하게 고정/밀착 되지 않는다면 성형되는 패널은 불량일 수밖에 없다. 이에 플런저가 글라스고브를 가압할 경우, 플런저에 마련된 4개의 핑거(Shell Hold Down Finger)가 쉘몰드를 가압하여 하부몰드와 밀착하도록 하면서 글라스고브를 압축하게 된다. 물론, 플런저의 가압성형 후에는 패널을 냉각하거나 검사하는 등의 여러 공정이 진행되지만 이에 대한 설명은 생략한다.
한편, 성형되는 음극선관(CRT)용 패널의 크기에 따라 하부몰드, 쉘몰드가 적절하게 교체되듯, 글라스고브를 가압하는 플런저 역시 해당 하부몰드, 쉘몰드의 크기에 맞게 교체된다(이를 "형교환"이라 함). 이 때, 플런저에 마련된 4개의 핑거 역시 교체한다.
형교환시, 4개의 핑거들에 대한 레벨이 서로 맞지 않는 상태에서 상기와 같이 글라스고브의 성형과정을 수행하게 되면, 4개의 핑거들에 대한 레벨차로 인해 각각이 쉘몰드를 누르는 힘에 차등이 생긴다.
이에, 쉘몰드와 하부몰드 사이의 틈새로 글라스고브가 과도하게 삐져나오는 오버프레스(Over Press)나 혹은, 4개의 핑거들 중에서 가압력이 가장 약한 부분으로 인해 발생하는 내면요철 등의 패널 불량이 야기된다.
따라서 이러한 패널불량을 저지하기 위해서는 하부몰드, 쉘몰드 및 플런저 등의 형교환 후, 핑거들을 교체한 다음, 핑거들에 대한 레벨을 측정하게 된다.
측정방법을 소개하면 다음과 같다.
우선, 하부몰드 상에 쉘몰드를 적층 배치한 후, 별도의 에어실린더로써 4개의 핑거를 하강시켜 쉘몰드에 접촉시킨다. 그런 다음, 에어실린더의 동작을 중지시키고 쉘몰드에 대한 4개의 핑거들 사이의 간격을 별도의 게이지로 각각 측정한 다음, 쉘몰드에 대한 4개의 핑거들 사이에 간격차가 발생하면, 해당 영역에 심플레이트(Shim Plate)로 보상하게 된다.
그런데, 쉘몰드에 대한 핑거들의 레벨을 측정하는 종래 방법의 경우, 측정과정이 많고 복잡하여 측정시간이 많이 소요될 뿐만 아니라 그 시간만큼 패널의 생산이 이루어질 수 없기 때문에 전반적으로 공정상의 로스(Loss)가 발생할 수밖에 없으며, 측정값의 신뢰성 역시 떨어져 패널 불량률이 높아지는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은, 쉘몰드에 대한 핑거들의 레벨 측정과정을 간소화하여 측정시간을 줄임으로써 공정상의 로스(Loss)를 최소화할 수 있고, 레벨 측정이 간편하고 용이하면서도 그 측정 결과값의 신뢰성이 향상되어 패널 불량률을 현격하게 낮출 수 있도록 한 플런저용 핑거의 레벨 측정장치를 제공하는 것이다.
상기 목적은, 하부몰드 및 쉘몰드와 상호작용하여 패널을 성형하는 플런저에 마련된 핑거들의 레벨을 측정하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치에 있어서, 상기 하부몰드의 상부에 적층가능한 쉘몰드형 지그와; 상기 핑거들이 위치하는 영역에 해당하는 상기 쉘몰드형 지그에 각각 마련되어 해당 위치에서 상기 쉘몰드형 지그에 대한 핑거의 레벨을 측정하여 표시하는 레벨측정부재를 포함하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치에 의해 달성된다.
여기서, 상기 쉘몰드형 지그는 내부가 빈 사각루프형상으로 각기 한 쌍의 장변 및 단변을 가지며, 상기 레벨측정부재들은 상기 장변 측에 각각 한 쌍씩 마련되어 있다.
상기 레벨측정부재는, 하우징과; 상기 하우징 내에 마련되고 소정의 중심점을 기준으로 시소운동하는 링크와; 상기 쉘몰드형 지그의 두께방향을 따라 삽입되며 일단은 상기 핑거를 향해 부분적으로 노출되어 접촉하고 타단은 상기 링크의 일단부에 위치하는 프루브와; 상기 하우징의 외측에 배치되어 측정값이 표시되는 표시부와, 상기 표시부로부터 연장되어 단부가 상기 링크의 타단부에 위치하여 상기 링크의 시소정도에 따라 상기 표시부에 소정의 측정값을 표시하는 감지플런저를 갖 는 다이얼게이지를 포함한다.
상기 프루브와 상기 플런저가 접촉하는 상기 링크의 양단부에는 컨텍터가 마련되어 있다.
상기 하우징은 부분적으로 절곡되어 있으며, 상기 쉘몰드형 지그에 착탈가능하게 결합되어 있다.
상기 쉘몰드형 지그는 상기 쉘몰드와 동일한 형상을 갖는 것이 바람직하다.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 음극선관용 패널 성형장치의 일예를 보인 도면이다. 이 도면에 도시된 바와 같이, 음극선관용 패널 성형장치는 패널(P)의 전체적인 외표면을 성형하는 하부몰드(1, Bottom Mold)와 패널(P)의 접합단부면을 성형하는 쉘몰드(3, Shell Mold)와 하부몰드(1) 및 쉘몰드(3)를 향해서 승강하는 플런저(4, Plunger)를 갖는다.
하부몰드(1)의 저부에는 도시 않은 턴테이블 상에 하부몰드(1)를 지지하는 지지다리부(2)가 형성되어 있다. 지지다리부(2)들 사이로는 턴테이블로부터 하부몰드(1)를 향해 냉각공기가 분사되어 하부몰드(1)의 온도를 관리한다.
쉘몰드(3)는 하부몰드(1)의 상단에 적층 배치되어 패널(P)의 접합단부면을 성형한다. 통상, 패널 성형설비 내에는 쉘몰드(3)가 하부몰드(1)의 개수보다 적게 마련되기에 선택적으로 하부몰드(1)의 상단에 적층 배치되면서 하부몰드(1), 플런저(4)와 함께 패널(P)을 성형한다. 이러한 쉘몰드(3)는 각기 한 쌍의 장변 및 단변을 갖는 내부가 빈 사각루프형상으로 이루어지며, 별도의 냉각장치를 통해 온도 가 관리된다.
플런저(4)는 하부몰드(1), 쉘몰드(3)의 동축선 상방에 위치하여 하부몰드(1)의 내부를 향해 승강하면서 글라스고브를 가압한다. 이러한 플런저(4)의 내부에는 성형된 패널(P)을 냉각시키는 역할 외에도 플런저(4) 자체의 온도를 관리하기 위한 냉각장치(4a)가 마련되어 있다. 그리고 플런저(4)의 상부에는 헤드(5)가 마련되어 있으며, 일측에는 앞서 기술한 4개의 핑거(7a~7d)가 위치하고 있다.
이에, 도시 않은 유리용융로로부터 글라스고브(Glass Gob)가 하부몰드(1) 내로 낙하 투입되면, 하부몰드(1)의 상단에는 쉘몰드(3)가 적층 배치된다. 그런 다음, 하부몰드(1)의 동축선 상방에 배치된 플런저(4)가 하부몰드(1)를 향해 하강하여 하부몰드(1) 내에 투입된 글라스고브를 가압함으로써 글라스고브는 하부몰드(1)와 쉘몰드(3)의 틀 내에서 패널(P)로써 완성된다.
플런저(4)가 글라스고브를 가압할 경우, 플런저(4)에 마련된 4개의 핑거(7a~7d, Shell Hold Down Finger)들은 쉘몰드(3)의 해당 영역을 가압하면서 플런저(4)가 글라스고브를 압축하도록 한다.
한편, 성형되는 음극선관(CRT)용 패널(P)의 크기를 변경할 경우, 하부몰드(1), 쉘몰드(3) 및 플런저(4)에 대한 전반적인 형교환이 이루어진다. 이 때 플런저(4)에 부속된 핑거(7a~7d)들 역시 함께 교체되며, 교체된 후에는 소정의 레벨 측정과정을 밟는데, 본 발명에서는 다음과 같은 레벨 측정장치(10)를 사용하고 있다.
도 2는 도 1에 도시된 플런저의 핑거들에 대해 레벨을 측정하기 위한 본 발명에 따른 플런저용 핑거의 레벨 측정장치의 평면도이고, 도 3은 도 2의 요부확대 측단면도이다.
이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 플런저용 핑거의 레벨 측정장치(10)는, 크게 쉘몰드형 지그(12)와 쉘몰드형 지그(12)에 장착되는 4개의 레벨측정부재(14a~14d)로 이루어져 있다.
쉘몰드형 지그(12)는 도 1에서 설명한 쉘몰드(3)와 실제로 동일한 크기와 규격을 갖는다. 다만 도 1의 쉘몰드(3)는 패널(P)을 성형하기 위한 실제의 몰드이고 도 2 및 도 3에 도시된 것은 지그일 뿐이다.
쉘몰드형 지그(12)는 도 2에 도시된 것처럼, 내부가 빈 사각루프형상으로 각기 한 쌍의 장변(L) 및 단변(S)을 갖는다. 장변(L) 측에는 레벨측정부재(14a~14d)들이 각기 한 쌍식 마련되어 있으며, 단변(S) 측에는 그 외측으로 한 쌍씩의 돌기(12a)가 돌출되어 있다. 돌기(12a)들은 쉘몰드형 지그(12)의 이동시 걸림턱의 역할을 할 수 있다.
레벨측정부재(14a~14d)는 핑거(7a~7d)들이 위치하는 영역에 해당하는 쉘몰드형 지그(12)에 각각 마련되어 해당 위치에서 핑거(7a~7d)들의 레벨을 측정하여 표시한다. 도 2에서 레벨측정부재(14a~14d)들이 위치하고 있는 4개의 영역이 핑거(7a~7d)들이 위치하고 있는 영역에 해당한다. 이하 설명의 편의를 위해 4개의 레벨측정부재(14a~14d)들에 대한 도 2의 도면 참조부호만을 달리 표현하고, 설명은 하나에 대해서만 설명하도록 한다.
레벨측정부재(14a)는, 크게 하우징(15), 링크(17), 프루브(19) 및 다이얼게이지(21)로 이루어져 있다.
하우징(15)은 그 내부에 링크(17)를 수용하는 케이스로 부분적으로 절곡되어 있으며, 쉘몰드형 지그(12)에 착탈가능하게 결합되어 있다. 도면을 보면 착탈수단으로써 볼트(15a)가 개시되어 있다.
링크(17)는 프루브(19)의 동작방향에 가로방향을 따라 하우징(15) 내에 위치하고 있다. 이러한 링크(17)는 소정의 중심점(17a)을 기준으로 시소운동한다. 후술하는 것처럼 프루브(19)와 플런저(4)가 접촉하는 링크(17)의 양단부에는 컨텍터(18a,18b)가 마련되어 있다.
프루브(19)는 쉘몰드형 지그(12)의 두께방향을 따라 삽입되어 있는 슬리브(13) 내에 마련되어 쉘몰드형 지그(12)의 두께방향을 따라 이동하고 있다. 즉, 그 일단(19a)은 핑거(7a) 단부를 향해 쉘몰드형 지그(12)로부터 부분적으로 노출되어 있고 타단(19b)은 링크(17)의 일단부에 있는 하부 컨텍터(18b)에 인접하게 위치하고 있다.
다이얼게이지(21)는 기어장치(미도시)로 미소변위를 확대해서 변위를 정밀하게 측정하는 게이지의 일종으로써, 핑거(7a)에 대한 쉘몰드형 지그(12) 간에 벌어질 수 있는 간격을 수치로써 표시한다.
이러한 다이얼게이지(21)는 하우징(15)의 외측에 배치되어 측정값이 표시되는 표시부(21a)와, 표시부(21a)로부터 연장되어 단부가 링크(17)의 타단부에 있는 상부 컨텍터(18a)에 위치하여 링크(17)의 시소정도에 따라 표시부(21a)에 소정의 측정값을 표시하는 감지플런저(21b)를 갖는다.
이러한 구성을 갖는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치(10)를 이용하여 형교환 이 이루어진 4개의 핑거(7a~7d)들에 대한 레벨을 측정하는 방법을 설명하도록 한다.
우선, 도 2에 도시된 쉘몰드형 지그(12)를 하부몰드(1)의 상단에 적층 배치한 다음, 별도의 에어실린더로써 4개의 핑거(7a~7d)를 하강시켜 쉘몰드형 지그(12)에 접촉시키고 에어실린더의 동작을 중지한다.
그러면, 각기 4개의 핑거(7a~7d)들은 해당하는 레벨측정부재(14a~14d)들에 각기 접촉하여 그 결과를 표시한다.
대표적으로 하나만을 설명하면, 핑거(7a)의 단부가 쉘몰드형 지그(12)의 두께방향으로 노출되어 있는 프루브(19)의 일단(19a)을 가압한다. 가압된 정도에 따라 프루브(19)는 링크(17) 측으로 이동하면서 그 타단(19b)이 링크(17)의 하부 컨텍터(18b)를 가압한다. 그러면 링크(17)는 중심점(17a)을 축으로 시소운동하게 되고, 링크(17)의 상부 컨텍터(18a)에 접촉하고 있는 감지플런저(21b)의 변위로써 표시부(21a)에 그 간격을 측정값으로 표시하게 된다.
따라서 측정인은 4개의 레벨측정부재(14a~14d)들에 표시되는 측정값을 읽은 다음, 4개의 핑거(7a~7d)들 사이에 간격차가 발생하면, 해당 영역에 심플레이트(Shim Plate)로 보상하면 되기 때문에 매우 간편하다.
이와 같이, 본 발명에 의하면, 핑거(7a~7d)들의 레벨 측정과정을 간소화하여 측정시간을 줄임으로써 공정상의 로스(Loss)를 최소화할 수 있고, 레벨 측정이 간편하고 용이하면서도 그 측정 결과값의 신뢰성이 향상되어 패널(P) 불량률을 현격하게 낮출 수 있게 되는 것이다.
이상 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명하였지만 본 발명은 이에 제한되는 것은 아니다.
전술한 실시예에서는, 다이얼게이지(21)를 이용하고 있으나, 미세변위량을 이용하여 측정값의 오차를 판별하는 선형차동트랜스포머(LVDT) 및 디지털게이지를 사용할 수도 있음은 물론이다. 또한, 표시부(21a)를 아날로그 타입이 아닌 디지털 타입으로 변경시킬 수도 있음은 물론이다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 쉘몰드에 대한 핑거들의 레벨 측정과정을 간소화하여 측정시간을 줄임으로써 공정상의 로스(Loss)를 최소화할 수 있고, 레벨 측정이 간편하고 용이하면서도 그 측정 결과값의 신뢰성이 향상되어 패널 불량률을 현격하게 낮출 수 있는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치가 제공된다.

Claims (6)

  1. 하부몰드 및 쉘몰드와 상호작용하여 패널을 성형하는 플런저에 마련된 핑거들의 레벨을 측정하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치에 있어서,
    상기 하부몰드의 상부에 적층가능한 쉘몰드형 지그와;
    상기 핑거들이 위치하는 영역에 해당하는 상기 쉘몰드형 지그에 각각 마련되어 해당 위치에서 상기 쉘몰드형 지그에 대한 핑거의 레벨을 측정하여 표시하는 레벨측정부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 쉘몰드형 지그는 내부가 빈 사각루프형상으로 각기 한 쌍의 장변 및 단변을 가지며, 상기 레벨측정부재들은 상기 장변 측에 각각 한 쌍씩 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 레벨측정부재는,
    하우징과;
    상기 하우징 내에 마련되고 소정의 중심점을 기준으로 시소운동하는 링크와;
    상기 쉘몰드형 지그의 두께방향을 따라 삽입되며 일단은 상기 핑거를 향해 부분적으로 노출되어 접촉하고 타단은 상기 링크의 일단부에 위치하는 프루브와;
    상기 하우징의 외측에 배치되어 측정값이 표시되는 표시부와, 상기 표시부로부터 연장되어 단부가 상기 링크의 타단부에 위치하여 상기 링크의 시소정도에 따라 상기 표시부에 소정의 측정값을 표시하는 감지플런저를 갖는 다이얼게이지를 포함하는 것을 특징으로 하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 프루브와 상기 플런저가 접촉하는 상기 링크의 양단부에는 컨텍터가 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 하우징은 부분적으로 절곡되어 있으며, 상기 쉘몰드형 지그에 착탈가능하게 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 쉘몰드형 지그는 상기 쉘몰드와 동일한 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 플런저용 핑거의 레벨 측정장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7638859B2 (en) 2005-06-06 2009-12-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Interconnects with harmonized stress and methods for fabricating the same

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