KR20060000978A - Test apparatus of lighting/ exterior view for liquid crystal display - Google Patents

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KR20060000978A KR1020040049978A KR20040049978A KR20060000978A KR 20060000978 A KR20060000978 A KR 20060000978A KR 1020040049978 A KR1020040049978 A KR 1020040049978A KR 20040049978 A KR20040049978 A KR 20040049978A KR 20060000978 A KR20060000978 A KR 20060000978A
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김일식
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Abstract

발명에 의한 액정표시장치의 점등 외관 검사장치는, 점등 외관 검사의 대상이 되는 액정패널이 위치하는 스테이지와; 상기 액정패널에 소정의 신호를 인가하는 제어부와; 상기 액정패널의 후면에 빛을 비추는 백라이트와; 상기 액정패널 상부에 위치되는 상부 편광판을 지지하는 편광판 지그가 포함되며, The lighting appearance inspection apparatus of the liquid crystal display device which concerns on this invention is the stage which the liquid crystal panel used as the object of lighting appearance inspection is located; A control unit for applying a predetermined signal to the liquid crystal panel; A backlight for illuminating the rear surface of the liquid crystal panel; Polarizing plate jig for supporting the upper polarizing plate positioned on the liquid crystal panel is included,

상기 편광판 지그의 측면에는 소정의 길이 및 폭을 갖는 유선형태의 고정용 홀이 적어도 2개 구비되고, 상기 고정용 홀을 통해 소정의 고정수단이 결합됨을 특징으로 한다. At least two wire-shaped fixing holes having a predetermined length and width are provided on the side of the polarizing plate jig, and predetermined fixing means are coupled through the fixing holes.

이와 같은 본 발명에 의하면, 편광판 지그가 검사장치의 외부기판에 회전이 가능하도록 고정됨으로써, 검사자가 직접 편광판 지그를 착탈하지 아니하고도 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되는 화면을 검사할 수 있으며, 이에 따라 검사 시간이 단축되고 검사자로 하여금 편의를 제공한다는 장점이 있다.According to the present invention, the polarizing plate jig is fixed to the outer substrate of the inspection apparatus to be rotated, so that the inspector can inspect the screen displayed by various polarization angles without detaching the polarizing plate jig directly, thereby inspecting This has the advantage of shortening the time and providing convenience for the inspector.

Description

액정표시장치의 점등 외관 검사 장치{test apparatus of lighting/ exterior view for liquid crystal display}Test apparatus of lighting / exterior view for liquid crystal display

도 1은 종래의 액정패널에 대한 점등 외관 검사장치를 나타내는 도면.1 is a view showing a lighting appearance inspection apparatus for a conventional liquid crystal panel.

도 2a 및 도 2b는 도 1에 도시된 종래의 편광판 지그를 도시한 평면도.2A and 2B are plan views illustrating the conventional polarizer jig illustrated in FIG. 1.

도 3은 본 발명에 의한 액정패널에 대한 점등 외관 검사장치를 나타내는 도면.3 is a view showing a lighting appearance inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the present invention.

도 4은 도 3에 도시된 본 발명에 의한 편광판 지그를 도시한 평면도.4 is a plan view showing a polarizing plate jig according to the present invention shown in FIG.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

40 : 편광판 지그 42 : 고정용 홀40: polarizing plate jig 42: fixing hole

44 : 상부 편광판 46 : 검사장치 외관44: upper polarizing plate 46: the inspection device appearance

48 : 액정패널48: liquid crystal panel

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 액정표시장치의 완성 전에 액정패널의 화질 불량 여부를 검사하는 액정표시장치의 점등 외관 검사 장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a lighting appearance inspection device of a liquid crystal display device for inspecting whether a liquid crystal panel has poor image quality before completion of the liquid crystal display device.                         

통상적으로, 액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하는 것으로, 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정표시장치의 경우 동영상을 표시하기에 적합하다. In general, a liquid crystal display device displays an image by adjusting light transmittance of liquid crystal cells according to a video signal. In the case of an active matrix type liquid crystal display device in which switching elements are formed for each liquid crystal cell, a liquid crystal display device displays a video. Suitable.

상기 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치에 사용되는 스위칭소자로는 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 'TFT'라 함)가 이용되고 있다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는 브라운관에 비하여 소형화가 가능하며, 퍼스널 컴퓨터(Personal Computer)와 노트북 컴퓨터(Note Book Computer)는 물론, 복사기 등의 사무자동화기기, 휴대전화기나 호출기 등의 휴대기기까지 광범위하게 이용되고 있다. 상기 액정표시장치의 제조공정은 일반적으로 기판 세정, 기판 패터닝, 배향막형성, 기판합착/액정주입, 테스트 공정 및 실장 공정으로 나뉘어진다.As a switching element used in the active matrix liquid crystal display device, a thin film transistor (hereinafter, referred to as TFT) is mainly used. Such active matrix type liquid crystal display devices can be miniaturized compared to CRTs, and can be used not only for personal computers and notebook computers, but also for office automation devices such as photocopiers, mobile devices such as cell phones and pagers. It is widely used. The manufacturing process of the liquid crystal display is generally divided into substrate cleaning, substrate patterning, alignment film formation, substrate bonding / liquid crystal injection, test process, and mounting process.

먼저 기판세정 공정에서는 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 되며, 기판 패터닝 공정은 상부기판의 패터닝과 하부기판의 패터닝으로 나뉘어진다. First, in the substrate cleaning process, foreign substances on the substrates are removed using a cleaning agent before and after patterning, and the substrate patterning process is divided into the upper substrate patterning and the lower substrate patterning.

이 때, 상기 상부기판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성되고, 하부기판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선 및 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성되며, 상기 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소영역에는 화소전극이 형성된다. 상기 패터닝 공정에 있어서, 각층의 패터닝은 포토레지스트(Photoresist)를 이용한 포토리쏘그래피(Photolithography) 방법이 일반적으로 이용되고 있다. 여기서, 기판 상에 포토레지스트가 도포되기 전과 패터닝 후에는 기판 상에 잔류하는 유기물이 완전히 세정되지 않게 되면, 패턴 불량이나 층간 막분리를 유발하기 때문에 유기물 세정장치에 의해 기판 상에 잔류하는 유기물이나 포토레지스트가 완전히 제거되어야 한다. In this case, a color filter, a common electrode, a black matrix, and the like are formed on the upper substrate, and a TFT is formed on a signal line such as a data line and a gate line and an intersection of the data line and the gate line on the lower substrate. The pixel electrode is formed in the pixel region between the gate line and the gate line. In the patterning process, a photolithography method using a photoresist is generally used for patterning each layer. Here, if the organic material remaining on the substrate is not completely cleaned before and after the photoresist is applied on the substrate, the organic material or the photo remaining on the substrate by the organic material cleaning device may cause a pattern defect or an interlayer film separation. The resist must be removed completely.

또한, 기판합착/액정주입 공정에서는 하부기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)을 이용한 상/하부기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지공정이 순차적으로 이루어진다.In addition, in the substrate bonding / liquid crystal injection process, an alignment film is coated on the lower substrate and rubbed, followed by an upper / lower substrate bonding process using a seal, liquid crystal injection, and an injection hole sealing process.

이어서, 실장공정에서는 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하 'TCP'라 함)를 액정패널의 패드부에 접속시키게 된다. 한편, 칩온글라스(chip onglass) 방식으로 드라이브 회로가 실장되는 경우에는 기판 패터닝공정에서 폴리실리콘기판 상에 회로패턴이 직접 실장된다. Subsequently, in the mounting process, a tape carrier package (hereinafter referred to as "TCP") in which integrated circuits such as a gate drive integrated circuit and a data drive integrated circuit are mounted is connected to the pad portion of the liquid crystal panel. On the other hand, when the drive circuit is mounted in a chip on glass method, the circuit pattern is directly mounted on the polysilicon substrate in the substrate patterning process.

여기서, 직접회로를 액정패널에 접속시키기 전에 액정패널이 잘 작동되는지 검사하기 위한 테스트 공정을 거치게 된다. 즉, 상부기판 및 하부기판이 합착되고, TCP 등의 배선 작업이 완료된 액정패널은 화상 불량 등을 검사하기 위한 점등 외관 검사를 실시하게 된다.Here, a test process is performed to check whether the liquid crystal panel works well before connecting the integrated circuit to the liquid crystal panel. That is, the upper and lower substrates are bonded to each other, and the liquid crystal panel in which wiring work such as TCP is completed is subjected to lighting appearance inspection for inspecting an image defect or the like.

상기 테스트 공정은 액정패널에 구동전압을 공급하여 액정셀의 점등 여하에 따라 불량 유무가 결정되며, 테스트를 위해 점등 외관 검사장치가 이용된다.In the test process, a driving voltage is supplied to the liquid crystal panel to determine whether there is a defect according to whether the liquid crystal cell is turned on, and a lighting appearance inspection apparatus is used for the test.

도 1은 종래의 액정패널에 대한 점등 외관 검사장치를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a lighting appearance inspection apparatus for a conventional liquid crystal panel.

도 1을 참조하면, 상기 조립 완료된 액정패널(3)은 점등 외관 검사장치(10) 내의 검사 스테이지 영역으로 로딩(loading)되어 외부에서 검사자가 패널의 점등 상태를 검사할 수 있도록 안착된다.Referring to FIG. 1, the assembled liquid crystal panel 3 is loaded into an inspection stage area in the lighting appearance inspection apparatus 10 so as to be seated so that the inspector can inspect the lighting state of the panel from the outside.

상기 검사 스테이지(4)에 안착된 패널의 후면에는 하부 편광판(5)이 배치되어 있고, 상기 패널(3)의 전면의 스테이지(4)의 개방된 영역에는 상부 편광판이 부착된 검사용 편광판 지그(1)가 고정 배치되어 있다. A lower polarizer 5 is disposed on a rear surface of the panel seated on the inspection stage 4, and an inspection polarizer jig having an upper polarizer attached to an open area of the stage 4 in front of the panel 3. 1) is fixedly arranged.

또한, 상기 점등 외관 검사장치(10) 내에는 상기 패널(3)을 점등시키기 위하여 게이트 패드에 구동신호를 인가하고, 데이터 패드에 그래픽 신호를 인가하도록 하는 제어부(9)가 배치되어 있으며, 상기 하부 편광판(5) 후면의 상기 점등 외관 검사장치(10) 내에는 백라이트(7)가 배치되어 상기 하부 편광판(5)을 향하여 광원을 조사하게 된다.In addition, in the lighting appearance inspection apparatus 10, a control unit 9 is configured to apply a driving signal to a gate pad and to apply a graphic signal to a data pad in order to light up the panel 3. The backlight 7 is disposed in the lighting appearance inspection apparatus 10 on the rear side of the polarizer 5 to irradiate a light source toward the lower polarizer 5.

이에 상기 하부 편광판(5)으로부터 입사되는 편광된 광원은 상기 패널(3) 내에 배열된 액정 분자에 따라 다양한 색깔의 빛으로 출력된 후 상기 검사용 편광판 지그(1)에 부착된 편광판(2)을 통하여 검사자의 눈으로 점등 상태를 디스플레이하게 된다.The polarized light source incident from the lower polarizer 5 is output as light of various colors according to the liquid crystal molecules arranged in the panel 3, and then the polarizer 2 attached to the inspection polarizer jig 1 is removed. Through the eyes of the examiner to display the lighting state.

검사자는 상기 패널(3)에서 나타나는 화상의 떨림, 화소 전극의 손상에 의한 휘선 등 화질 불량 여부를 검사하게 된다.The inspector inspects whether the image quality is poor, such as the shaking of the image appearing on the panel 3 and the bright line due to the damage of the pixel electrode.

또한, 검사자는 상기 검사용 편광판 지그(1)를 착탈한 뒤 이를 회전시켜 상기 패널(3) 상에 위치시킴으로써 다른 편광 각도에 따른 외관 검사를 수행한다.In addition, the inspector detaches the inspecting polarizing plate jig 1 and rotates the inspecting polarizing plate jig 1 so as to be positioned on the panel 3 to perform appearance inspection according to different polarization angles.

이를 통해 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되는 화면을 확인함으로써 보다 정밀하게 화질 불량 여부를 검사할 수 있는 것이다.Through this, by checking the screen displayed by various polarization angles, it is possible to more precisely check whether the image quality is poor.

도 2a 및 도 2b는 도 1에 도시된 종래의 편광판 지그를 도시한 평면도로서, 도 2a는 편광판 지그가 검사장치의 외관에 부착된 상태를 나타내며, 도 2b는 검사자가 상기 편광판 지그를 착탈하여 편광 위치를 바꾸어 외관 검사를 수행하는 상태를 나타내는 도면이다. 2A and 2B are plan views illustrating a conventional polarizing plate jig illustrated in FIG. 1, and FIG. 2A illustrates a state in which a polarizing plate jig is attached to an exterior of an inspection apparatus, and FIG. 2B illustrates that a tester attaches and detaches the polarizing plate jig. It is a figure which shows the state which performs a visual inspection by changing a position.

도시된 바와 같이, 종래의 편광판 지그(20)는 점등 외관 검사장치의 스테이지에 위치한 액정 패널(28) 상부에 위치되도록 상기 검사장치의 외부(26)에 고정된다.As shown, the conventional polarizing plate jig 20 is fixed to the exterior 26 of the inspection apparatus so as to be positioned above the liquid crystal panel 28 located on the stage of the lighting appearance inspection apparatus.

상기 편광판 지그(20)는 알루미늄계 금속 재질로 구성되는 것으로, 상기 검사장치의 스테이지에서 패널(28)을 검사하기 위하여 사용되는 상부 편광판(24)을 지지하는 역할을 한다.즉, 상기 편광판 지그(20)는 측면에 구비된 고정용 홀(22)을 통해서 상기 검사장치의 외부기판(26)과 결합되는 것이다.The polarizing plate jig 20 is made of aluminum-based metal, and serves to support the upper polarizing plate 24 used to inspect the panel 28 at the stage of the inspection apparatus. 20 is coupled to the external substrate 26 of the inspection device through the fixing hole 22 provided on the side.

그러나, 앞서 설명한 종래의 점등 외관 검사장치의 경우 상기 편광판 지그(20)가 검사장치의 외부기판(26)에 고정되어 회전이 불가능하므로, 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되는 화면을 확인하기 위해서는 도 2b에 도시된 바와 같이 검사자가 직접 상기 검사용 편광판 지그(20)를 착탈한 뒤 이를 회전시켜 상기 패널 (28)상에 위치시켜야 하기 때문에, 검사 시간이 늘어나고 검사자로 하여금 번거로움을 유발한다는 단점이 있다. However, in the conventional lighting appearance inspection apparatus described above, since the polarizing plate jig 20 is fixed to the external substrate 26 of the inspection apparatus and cannot be rotated, to confirm a screen displayed by various polarization angles, FIG. As illustrated, since the inspector has to detach the inspecting polarizer jig 20 directly and rotate the inspecting polarizer jig 20 to be positioned on the panel 28, the inspecting time is increased and the inspector causes inconvenience.

본 발명은 액정패널의 화질 불량을 검사하는 점등 외관 검사장치에 있어서, 편광판 지그가 검사장치의 외부기판에 회전이 가능하도록 고정됨으로써, 검사자가 직접 편광판 지그를 착탈하지 아니하고도 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되 는 화면을 검사할 수 있도록 하는 액정표시장치의 점등 외관 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다. The present invention is a lighting appearance inspection device for inspecting poor image quality of the liquid crystal panel, the polarizing plate jig is fixed to the external substrate of the inspection device, so that the display by various polarization angles without having to inspect the polarizer jig directly It is an object of the present invention to provide a lighting appearance inspection apparatus of a liquid crystal display device that can inspect the screen.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 액정표시장치의 점등 외관 검사장치는, 점등 외관 검사의 대상이 되는 액정패널이 위치하는 스테이지와; 상기 액정패널에 소정의 신호를 인가하는 제어부와; 상기 액정패널의 후면에 빛을 비추는 백라이트와; 상기 액정패널 상부에 위치되는 상부 편광판을 지지하는 편광판 지그가 포함되며, In order to achieve the above object, a lighting appearance inspection apparatus of a liquid crystal display device according to the present invention includes: a stage on which a liquid crystal panel to be lit is examined; A control unit for applying a predetermined signal to the liquid crystal panel; A backlight for illuminating the rear surface of the liquid crystal panel; Polarizing plate jig for supporting the upper polarizing plate positioned on the liquid crystal panel is included,

상기 편광판 지그의 측면에는 소정의 길이 및 폭을 갖는 유선형태의 고정용 홀이 적어도 2개 구비되고, 상기 고정용 홀을 통해 소정의 고정수단이 결합됨을 특징으로 한다. At least two wire-shaped fixing holes having a predetermined length and width are provided on the side of the polarizing plate jig, and predetermined fixing means are coupled through the fixing holes.

여기서, 상기 편광판 지그는 상기 고정용 홀의 길이가 허용되는 한도 내에서 회전이 가능하고, 상기 소정의 고정수단은 상기 편광판 지그가 위치하는 점등 검사장치의 외부기판과 결합됨을 특징으로 한다.Here, the polarizing plate jig is rotatable within the allowable length of the fixing hole, the predetermined fixing means is characterized in that coupled to the external substrate of the lighting inspection device in which the polarizing plate jig is located.

또한, 상기 편광판 지그는 알루미늄계 금속 재질로 구성되며, 상기 검사장치의 스테이지에서 패널을 검사하기 위한 상부 편광판을 지지하는 역할을 함을 특징으로 한다. In addition, the polarizing plate jig is made of an aluminum-based metal material, characterized in that serves to support the upper polarizing plate for inspecting the panel on the stage of the inspection apparatus.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 의한 액정패널에 대한 점등 외관 검사장치를 나타내는 도 면이다.3 is a view showing a lighting appearance inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the present invention.

도 3을 참조하면, 점등 외관 검사를 받게될 액정패널(33)은 본 발명에 의한 점등 외관 검사장치(30) 내의 검사 스테이지(34) 영역으로 로딩(loading)되어 외부에서 검사자가 패널(33)의 점등 상태를 검사할 수 있도록 안착된다.Referring to FIG. 3, the liquid crystal panel 33 to be subjected to the lighting appearance inspection is loaded into a region of the inspection stage 34 in the lighting appearance inspection apparatus 30 according to the present invention, so that the inspector 33 may be inspected from the outside. It is seated to check the lighting condition of

상기 검사 스테이지(34)에 안착된 패널의 후면에는 하부 편광판(35)이 배치되어 있고, 상기 패널(33)의 전면의 스테이지의 개방된 영역에는 상부 편광판(32)이 부착된 검사용 편광판 지그(31)가 배치되어 있다. 본 발명의 경우 상기 편광판 지그(31)가 종래와 같이 검사장치의 외관에 회전 불가능하도록 고정 배치된 것이 아니라, 소정의 각도로 회전이 가능하도록 배치되어 있음을 그 특징으로 한다. A lower polarizing plate 35 is disposed on a rear surface of the panel seated on the inspection stage 34, and an inspection polarizing plate jig having an upper polarizing plate 32 attached to an open area of the stage in front of the panel 33. 31) is arranged. In the case of the present invention, the polarizing plate jig 31 is not fixedly rotatable to the exterior of the inspection apparatus as in the related art, and is arranged to be rotatable at a predetermined angle.

또한, 상기 점등 외관 검사장치(30) 내에는 상기 패널(33)을 점등시키기 위하여 게이트 패드에 구동신호를 인가하고, 데이터 패드에 그래픽 신호를 인가하도록 하는 제어부(39)가 배치되어 있으며, 상기 하부 편광판(35) 후면의 상기 점등 외관 검사장치(30) 내에는 백라이트(37)가 배치되어 상기 하부 편광판(35)을 향하여 광원을 조사하게 된다.In addition, in the lighting appearance inspecting device 30, a control unit 39 is configured to apply a driving signal to a gate pad and to apply a graphic signal to the data pad in order to light up the panel 33. The backlight 37 is disposed in the lighting appearance inspection device 30 on the rear surface of the polarizing plate 35 to irradiate a light source toward the lower polarizing plate 35.

여기서, 상기 검사장치에 구비되는 하부 편광판(35)은 검사되는 액정 패널에 부착되어 있는 경우에는 제거될 수 있다. Here, the lower polarizer 35 provided in the inspection apparatus may be removed when attached to the liquid crystal panel to be inspected.

이에 상기 하부 편광판(35)으로부터 입사되는 편광된 광원은 상기 패널(33) 내에 배열된 액정 분자에 따라 다양한 색깔의 빛으로 출력된 후 상기 검사용 편광판 지그(31)에 부착된 편광판(32)을 통하여 검사자의 눈으로 점등 상태를 디스플레이하게 된다.이에 검사자는 상기 검사장치를 통해 상기 패널(33)로부터 나타나는 화상의 떨림, 화소 전극의 손상에 의한 휘선 등 화질 불량 여부를 검사하게 된다.The polarized light source incident from the lower polarizer 35 is output as light of various colors according to the liquid crystal molecules arranged in the panel 33, and then the polarizer 32 attached to the inspection polarizer jig 31 is used. The lighting state is displayed by the inspector's eye. The inspector inspects whether the image quality is poor, such as the shaking of the image appearing from the panel 33 and the bright line due to the damage of the pixel electrode.

또한, 검사자는 상기 검사용 편광판 지그(31)를 착탈하지 않고, 소정의 각도 만큼 회전시킴으로써 다른 편광 각도에 따른 외관 검사를 수행한다.In addition, the inspector performs external appearance inspection according to different polarization angles by rotating the inspection polarizing plate jig 31 by a predetermined angle without attaching or detaching the inspection polarizing plate jig 31.

이를 통해 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되는 화면을 확인함으로써 보다 정밀하게 화질 불량 여부를 검사할 수 있는 것이다.Through this, by checking the screen displayed by various polarization angles, it is possible to more precisely check whether the image quality is poor.

즉, 본 발명에 의할 경우 상기 편광판 지그(31)를 착탈하지 않으면서도, 원하는 각도 만큼 회전시켜 이를 패널 상에 위치시킬 수 있으므로 보다 빠르고 간편하게 다양한 편광 각도에 의한 외관 검사를 수행할 수 있다는 장점이 있다.That is, according to the present invention, since the polarizing plate jig 31 can be rotated by a desired angle and placed on the panel without attaching or detaching the polarizing plate jig 31, the appearance inspection can be performed more quickly and simply by various polarization angles. have.

도 4은 도 3에 도시된 본 발명에 의한 편광판 지그를 도시한 평면도이다.FIG. 4 is a plan view illustrating a polarizing plate jig according to the present invention illustrated in FIG. 3.

도시된 바와 같이, 본 발명에 의한 편광판 지그(40)는 점등 외관 검사장치의 스테이지에 위치한 액정 패널(48) 상부에 위치됨에 있어, 상기 편광판 지그(40)의 측면에 구비된 고정용 홀(42)이 소정의 길이 및 폭을 갖는 유선형태로 구비되고, 이와 같은 고정용 홀(42)을 통해 소정의 고정수단(미도시)이 결합됨으로써, 상기 편광판 지그(40)와 검사장치의 외관(46)이 결합되는 것을 특징으로 한다.As shown, the polarizing plate jig 40 according to the present invention is located above the liquid crystal panel 48 located on the stage of the lighting appearance inspection device, the fixing hole 42 provided on the side of the polarizing plate jig 40. ) Is provided in a streamline shape having a predetermined length and width, and a predetermined fixing means (not shown) is coupled through the fixing hole 42, thereby providing an appearance 46 of the polarizing plate jig 40 and the inspection apparatus. ) Is combined.

즉, 본 발명에 의할 경우 상기 편광판 지그(40)는 상기 고정용 홀(42)의 길이가 허용되는 한도 내에서 도시된 바와 같이 회전이 가능하게 되는 것이다. That is, according to the present invention, the polarizing plate jig 40 is rotatable as shown in the limit of the length of the fixing hole 42 is allowed.

여기서, 상기 편광판 지그(40)는 알루미늄계 금속 재질로 구성되는 것으로, 상기 검사장치의 스테이지에서 패널을 검사하기 위하여 사용되는 상부 편광판(44)을 지지하는 역할을 한다.Here, the polarizing plate jig 40 is made of an aluminum-based metal material, and serves to support the upper polarizing plate 44 used to inspect the panel at the stage of the inspection apparatus.

즉, 상기 편광판 지그(40)는 측면에 구비된 소정의 길이 및 폭을 갖는 유선 형태의 고정용 홀(42)이 구비되고, 이와 같은 고정용 홀(42)을 통해 소정의 고정수단(미도시)이 결합되어 상기 편광판 지그(40)와 검사장치(46)가 결합됨으로써, 상기 편광판 지그(40)가 상기 고정용 홀(42)의 길이가 허용되는 한도 내에서 도 4에 도시된 바와 같이 회전이 가능하게 됨을 그 특징으로 한다. That is, the polarizing plate jig 40 is provided with a fixing hole 42 having a wire length having a predetermined length and width provided on the side surface, and through the fixing hole 42, predetermined fixing means (not shown). ) Is coupled so that the polarizing plate jig 40 and the inspection device 46 is coupled, so that the polarizing plate jig 40 rotates as shown in FIG. 4 within the allowable length of the fixing hole 42. This feature is made possible.

이를 통해 상기 편광판 지그(40)가 검사장치의 외부기판에 소정 각도 만큼 회전이 가능하므로, 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되는 화면을 확인하기 위해서는 검사자가 직접 상기 검사용 편광판 지그를 착탈하지 않아도 되며, 이에 따라 결과적으로 검사 시간이 단축되고 검사자로 하여금 편리함을 제공하게 된다. Since the polarizing plate jig 40 can be rotated by a predetermined angle on the external substrate of the inspection apparatus, in order to check the screen displayed by various polarization angles, the inspector does not have to detach the inspection polarizing plate jig directly. As a result, the inspection time is shortened and the inspector provides convenience.

이와 같은 본 발명에 의하면, 편광판 지그가 검사장치의 외부기판에 회전이 가능하도록 고정됨으로써, 검사자가 직접 편광판 지그를 착탈하지 아니하고도 다양한 편광 각도에 의해 디스플레이 되는 화면을 검사할 수 있으며, 이에 따라 검사 시간이 단축되고 검사자로 하여금 편의를 제공한다는 장점이 있다.
According to the present invention, the polarizing plate jig is fixed to the external substrate of the inspection apparatus to be rotated, so that the inspector can inspect the screen displayed by various polarization angles without detaching the polarizing plate jig directly, thereby inspecting This has the advantage of shortening the time and providing convenience for the inspector.

Claims (4)

점등 외관 검사의 대상이 되는 액정패널이 위치하는 스테이지와;A stage on which the liquid crystal panel to be lit is inspected; 상기 액정패널에 소정의 신호를 인가하는 제어부와;A control unit for applying a predetermined signal to the liquid crystal panel; 상기 액정패널의 후면에 빛을 비추는 백라이트와;A backlight for illuminating the rear surface of the liquid crystal panel; 상기 액정패널 상부에 위치되는 상부 편광판을 지지하는 편광판 지그가 포함되며,Polarizing plate jig for supporting the upper polarizing plate positioned on the liquid crystal panel is included, 상기 편광판 지그의 측면에는 소정의 길이 및 폭을 갖는 유선형태의 고정용 홀이 적어도 2개 구비되고,Side surfaces of the polarizing plate jig is provided with at least two fixing holes of a wire shape having a predetermined length and width, 상기 고정용 홀을 통해 소정의 고정수단이 결합됨을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 외관 검사장치.Lighting inspection device of the liquid crystal display device characterized in that a predetermined fixing means is coupled through the fixing hole. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 편광판 지그는 상기 고정용 홀의 길이가 허용되는 한도 내에서 회전이 가능함을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 외관 검사장치.The polarizing plate jig is a lighting appearance inspection device of the liquid crystal display device, characterized in that the rotation is possible within the limit that the length of the fixing hole. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소정의 고정수단은 상기 편광판 지그가 위치하는 점등 검사장치의 외부기판과 결합됨을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 외관 검사장치.And the predetermined fixing means is coupled to an external substrate of a lighting inspection device on which the polarizing plate jig is located. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 편광판 지그는 알루미늄계 금속 재질로 구성되며, 상기 검사장치의 스테이지에서 패널을 검사하기 위한 상부 편광판을 지지하는 역할을 함을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 외관 검사장치.The polarizing plate jig is made of an aluminum-based metal material, the lighting appearance inspection device of the liquid crystal display device, characterized in that serves to support the upper polarizing plate for inspecting the panel on the stage of the inspection device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN105300661A (en) * 2015-10-10 2016-02-03 京东方科技集团股份有限公司 Prism rotation angle detecting device and use method thereof
US10254101B2 (en) 2015-10-10 2019-04-09 Boe Technology Group Co., Ltd. Device for detecting rotation angle of prism and method for using the same

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