KR20050123346A - 광 픽업 장치 - Google Patents

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KR20050123346A
KR20050123346A KR1020040047975A KR20040047975A KR20050123346A KR 20050123346 A KR20050123346 A KR 20050123346A KR 1020040047975 A KR1020040047975 A KR 1020040047975A KR 20040047975 A KR20040047975 A KR 20040047975A KR 20050123346 A KR20050123346 A KR 20050123346A
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Abstract

본 발명은 광 픽업 장치에 있어서, 특히 2개 이상의 플레이트 빔 스플리터(Plate beam splitter)를 적용할 수 있도록 한 광 픽업 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 광 픽업장치는, 서로 다른 파장의 빔을 발생하는 복수의 레이저 다이오드와; 광 경로 절환을 위해 광 경로 상에 위치하며, 각 레이저 다이오드로부터 발생되는 빔을 편광 방향에 따라 각각 투과 또는 반사시키는 각각의 플레이트 빔 스플리터와; 상기 반사 광빔이 집속되는 광 검출기를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

광 픽업 장치{Optical pick-up apparatus}
본 발명은 광 픽업 장치에 있어서, 특히 2개 이상의 플레이트 빔 스플리터(Plate beam splitter)를 적용할 수 있도록 한 광 픽업 장치에 관한 것이다.
광 픽업 장치는 제한된 공간에서 레이저 다이오드에서 발생된 빔을 디스크 상에 초점 맺히도록 광 경로를 바꾸어 주는 광 경로 전환수단이 구비되는데, 상기 광 경로 전환수단은 빔의 편광 방향에 따라 투과 또는 반사시키는 특성을 갖고 있으며, 통상적으로 큐빅 프리즘(cubic prism) 및/또는 플레이트 빔 스플리터로 구성된다.
종래의 광 픽업 장치의 광 경로 전환수단은 다음과 같다.
도 1 및 도 2는 한 개의 레이저 다이오드(101)를 사용하는 경우이다.
먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 광 경로 상에 큐빅 프리즘(Cubic prism)(107)을 구성한 것이며, 상기 큐빅 프리즘(107)은 레이저 다이오드(101)로부터 발생되는 광원의 경로를 대물렌즈 방향으로 반사시키고, 디스크로부터 반사된 반사광빔의 경로를 광검출기(PDIC)(121)로 집광될 수 있도록 투과시켜 준다.
도 2는 상기의 큐빅 프리즘 대신에, 플레이트 빔 스플리터(Plate beam Splitter)(117)를 사용하여 광 경로를 레이저 다이오드(102)로부터 발생된 광빔을 디스크 방향으로 전환시키고 다시 반사광빔을 광검출기(121)의 방향으로 전환시켜 준다.
도 3 및 도 4는 서로 다른 파장을 갖는 두 개의 레이저 다이오드(101,102)를 사용하는 경우이다. 두 개의 레이저 다이오드(101,102)를 사용하게 되므로 광빔을 각각 디스크 방향으로 반사시켜 주기 위해서 두 개의 광 경로 전환수단이 필요하게 된다. 즉, 도 3과 같이 큐빅 프리즘(107a)(107b)을 두 개를 사용하거나, 도 4와 같이 한 개의 큐빅 프리즘(107) 및 한 개의 플레이트 빔 스플리터(117)를 사용하게 된다.
상기 플레이트 빔 스플리터(117)는 레이저 다이오드(102)에서 콜리메이터 렌즈(collimator lens) 사이의 수렴 또는 발산광의 영역(즉, 대물렌즈 방향으로 진행)에 구성될 경우 상기와 같이 코마 수차(sagittal coma) 와 비점 수차(astigmatism)가 발생된다. 이에 따라 종래의 플레이트 빔 스플리터(117)는 수광계 즉, 광검출기(121)로 빔이 집속되는 구간에 적용하여 사용하게 된다.
여기서, 코마수차는 구면수차 때문에 생기는 수차의 일종으로 렌즈의 중심부를 지나서 생긴 상은 렌즈의 바깥부분을 지나서 생기는 상 보다 작기 때문에 크기가 조금 다른 상이 겹쳐져서 나오는 수차이다. 즉, 물체의 한 점에서 렌즈의 광 축에 평행이 아닌 비스듬한 사광선이 입사되면 렌즈가 구멍이기 때문에 결상면에 한 점으로 맺히지 않고 혜성이 고리 모양 형태의 흐름이 나타난다. 사광선에 의한 구면수차의 일종이다.
그리고, 비점수차는 렌즈 제조시 렌즈의 전면이 정확한 구면을 이루지 않을 때 생기는 현상으로 비점수차가 있는 렌즈의 상은 찌그러져 있다. 즉, 입사된 사광선이 수직 방향성분과 수평방향 성분이 각기 다른 지점에 상을 맺히게 된다. 조리개를 조이면 착락원이 작아지게 되므로 착락원의 감소에 의해 약간의 수정을 할 수 있다.
도 5는 종래 도 4와 같은 큐빅 프리즘과 플레이트 빔 스플리터를 조합하여 사용하는 광학계를 나타낸 구성도이다.
도 5를 참조하면, 제 1레이저 다이오드(CD LD)(101)로부터 발생되는 제 1광원은 보정렌즈(CD Lens)(103) 및 제 1QWP(quarter wave plate)(105)를 통해 원 편광으로 변환되어 빔 스플리터(Beam splitter)(107)에 입사된다.
여기서, 상기 보정렌즈(103)는 평행빔을 만들어주는 콜리메이터 렌즈(111)와 어느 정도의 거리가 유지되도록 기구적인 위치 등에 대한 보상을 해주는 렌즈이다. 그리고, 제 1QWP(105)는 입사되는 빔을 P파와 S파와의 지연을 통한 원 편광을 만들어 준다.
그리고, 큐빅 프리즘(107)은 편광 방향에 따라 입사빔을 투과 또는 반사시키며, 반사된 빔은 반사미러(109)에서 대물렌즈 방향으로 반사되고 콜리메이터 렌즈(111)에 의해 평행빔으로 만들어져 대물렌즈(113)를 통해 디스크(115)에 한 점으로 집광된다.
그리고, 디스크(115)로부터 반사된 제 1반사광빔은 대물렌즈(113), 콜리메이터 렌즈(111), 반사미러(109), 큐빅 프리즘(107), 플레이트 빔 스플리터(117), 센서렌즈(119)를 통해서 광 검출기(121)에 집광되어 전기적인 신호로서 검출된다. 이 검출된 신호를 이용하여 서보 및 RF 제어신호를 출력하게 된다. 여기서, 센서렌즈(119)는 렌즈면의 곡률이 균일하게 구성되는 것이 아니라 세로 방향과 가로 방향으로 서로 다르게 구성되어 비점수차를 발생시키는 렌즈이다.
한편, 제 2레이저 다이오드(102)로부터 발생되는 제 2광원은 제 2QWP(118)를 경유하여, 플레이트 빔 스플리터(117)에 입사되며, 플레이터 빔 스플리터(117)는 제 2광원을 반사하고 큐빅 프리즘(107) 및 반사미러(109), 콜리메이터 렌즈(111), 대물렌즈(113)를 통해 디스크에 한 점으로 집광된다.
그리고, 제 2레이저 다이오드(102)로부터 발생된 제 2광빔은 디스크(115)로부터 반사되고, 제 2반사광빔은 역경로를 통해서 광 검출기(121)에 전기적인 신호로서 검출되어, 서보 및 RF 신호로 출력된다.
상기한 바와 같이 디스크에 정보를 기록할 때에 제거할 때, 그리고 기록 정보를 읽을 때 각각 다른 레이저 다이오드 파워가 필요하고, 이와 같이 레이저 다이오드 파워를 변화시키기 위해서 대물렌즈(113)의 파워 상태를 확인하기 위한 수단으로 모니터 PD(123)에서 광 파워를 검출한다.
그러나, 상기와 같이 레이저 다이오드(101,102)를 2개 이상 사용하는 광학계에서는 광 경로 상에 경로를 전환시켜 주기 위해서는 고가의 큐빅 프리즘을 반드시 사용하게 되는 문제가 있다.
본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로서, 큐빅 프리즘을 사용하지 않고 플레이트 빔 스플리트만을 이용하여 2개 이상의 레이저 다이오드를 사용하는 광학계에 적용할 수 있도록 한 광 픽업 장치를 제공함에 있다.
상기한 목적 달성을 위한 본 발명에 따른 광 픽업장치는,
서로 다른 파장의 빔을 발생하는 두 개 이상의 레이저 다이오드와;
광 경로 절환을 위해 광 경로 상에 위치하며, 각 레이저 다이오드로부터 발생된 빔을 편광 방향에 따라 각각 투과 또는 반사시키는 각각의 플레이트 빔 스플리터와;
상기 반사 광빔이 집속되는 광 검출기를 포함하는 광 픽업 장치.
바람직하게, 상기 플레이트 빔 스플리터는 제 1레이저 다이오드와 소정 각도 경사지게 설치된 제 1플레이터 빔 스플리터와, 제 2레이저 다이오드와 소정 각도 경사지게 설치되며 광축 방향에 설치된 제 2플레이트 빔 스플리터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 광 검출기는 제 2플레이트 빔 스플리터로부터 집속되는 반사광빔을 수광하기 위해 상기 광축 방향과 z축 방향으로 직교되게 설치되는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 두 개 이상의 레이저 다이오드는 동일 평면의 X축 및 Y축 방향에 설치되며, 상기 두 개 이상의 플레이트 빔 스플리터는 상기의 X축 방향에 설치되며, 상기 광 검출기는 어느 하나의 플레이트 빔 스플리터로부터 반사광빔을 수광하기 위해 상기 평면과 다른 평면에 해당하는 광축 방향의 직각(Z축) 위치에 설치된 것을 특징으로 한다.
상기와 같이 구성되는 본 발명 실시 예에 따른 광 픽업 장치에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
본 발명은 서로 다른 파장의 빔을 발생하는 레이저 다이오드를 구비한 광학계에서, 대물렌즈 방향으로 빔이 발산하는 구간에서는 플레이트 빔 스플리터를 사용하고 이의 수차를 최소화시킬 수 있는 광학계의 레이아웃을 제공하고자 한다.
먼저, 도 6은 서로 다른 파장의 빔을 발생하는 레이저 다이오드(131,132)와, 각 빔의 광 경로를 절환하는 두 개의 플레이트 빔 스플리터(137a,137b)를 구비한 경우이다.
도 6을 참조하면, 제 1, 제 2레이저 다이오드(131,132)에서 발생된 광빔은 제 1 및 제 2플레이트 빔 스플리터(137a,137b)에 의해 광 경로 방향으로 반사된다. 즉, 제 1 및 제 2플레이트 빔 스플리터(137a,137b)는 레이저 다이오드(131,132)로부터 입사되는 광 빔을 광 축 방향으로 반사시켜 주기 위해 소정의 각도(45도)로 경사지게 설치된다.
그리고, 광 검출기(141)는 광 경로 방향과 연장선상에 설치되어, 플레이트 빔 스플리터(137a,137b)를 통해 투과되는 제 1 또는 제 2반사광빔을 수광하게 된다.
한편, 도 7은 서로 다른 파장의 빔을 발생하는 레이저 다이오드(151,152)와, 각 빔의 광 경로를 절환하는 두 개의 플레이트 빔 스플리터(157a,157b)로 구성된다.
도 7을 참조하면, 제 1플레이트 빔 스플리터(157a)는 제 1레이저 다이오드(151)로부터 출사되는 제 1광원을 반사시키고, 디스크로부터 다시 반사되는 제 1반사광빔은 투과시켜 준다. 제 2플레이터 빔 스플리터(157b)는 제 2레이저 다이오드(152)로부터 출사되는 제 2광원은 투과시키고, 디스크로부터 반사되는 제 2반사광빔은 광 검출기(161)로 반사시켜 준다.
이에 따라 제 1 및 제 2 반사 광빔은 제 1플레이트 빔 스프리터(157a)를 투과하고 제 2플레이트 빔 스플리터(157b)에서 반사되어 광 검출기(161)로 집속된다. 이를 위해 광 검출기(161)와 제 2레이저 다이오드(152)의 상호 직각으로 설치되면서, 광 검출기(161)가 광 축에 대해서 직각인 위치에 설치된다. 여기서, 광 검출기(161)와 두 개의 레이저 다이오드(151,512)는 동일 평면상에 존재하게 된다.
그러나, 각각의 빔에 대한 광 경로를 전환하기 위해 광학계를 도 6 및 도 7과 같이 배치할 경우, 두 개의 플레이트 빔 스플리터(137a,137b)(157a,157b)만을 사용하는 경우 수렴 또는 발산광이 지나갈 때 코마 수차와 비점 수차가 발생하게 된다.
다시 말하면, 도 6과 같은 구조로 두 개의 플레이트 빔 스프리터(137a,137b)를 사용하는 경우, 2개의 플레이트 빔 스플리터(137a,137b)를 사용하지만 레이저 다이오드(132)의 광원이 플레이트 빔 스플리터(137a)를 한 개만 통과하므로 수차는 줄어들지 않는다. 즉, 도 12의 (a)(b)와 같은 빔 스폿 모양과 수차 곡선(ray aberration curve)이 발생하게 된다. 도 12에 나타난 바와 같이, 스폿 모양에서 코마와 비점 수차가 모두 크게 나타나는 것을 알 수 있으며, RMS 수차 값은 0.3299λ이다.
그리고, 도 7과 같은 구조로 두 개의 플레이트 빔 스플리터(157a,157b)를 사용하는 경우, 레이저 다이오드(152)의 빔이 두 개의 플레이트 빔 스플리터(157a,157b)를 통과하지만, 콜리메이터 렌즈에 도달할 때 수차가 줄어들지 않게 된다. 즉, 도 7과 같은 구조에서는 도 13의 (a)(b)와 같은 빔 스폿 모양과 수차 곡선이 발생하게 된다. 도 13에 나타난 바와 같이, 스폿 모양에서 코마 수차는 없어졌으나 비점 수차가 크게 나타난다. 이때의 RMS 수차 값은 0.6528λ이 된다.
여기서 비점수차와 코마수차는 도 8을 참조하여 설명하기로 한다.
도 8과 같이 플레이트 빔 스플리터(137)를 통과하는 광 빔은 코마 수차와 비점 수차가 발생되는데, 코마 수차(sagittal coma)는 수학식 1로 구해지며, 비점수차(astigmatism)는 수학식 2로 구해진다.
여기서, Up는 플레이트의 법선, 즉 플레이트의 수직인 면과 입사광선중 주광선(Cheif Ray)이 이루는 각도이며, U는 플레이트를 통과한 후의 주 광선(Cheif Ray)과 가장자리 광선(Marginal Ray)이 이루는 각도이며, t는 플레이트의 두께, N은 플레이트를 구성하는 재질의 굴절율, ls'는 Sagittal Focal Length, lt'는 Tangential Focal Length이다.
이러한 비점수차와 코마수차 문제를 해결하기 위해서, 두 개의 레이저 다이오드와 광 검출기를 서로 다른 평면 상에 위치시켜 준다. 즉, 적어도 하나의 레이저 다이오드는 Y축에 설치되며, 나머지 하나의 레이저 다이오드는 광축 방향인 X축에 설치하고, 광 검출기는 Z축 방향에 설치된다.
구체적으로, 도 9를 참조하면, 제 1레이저 다이오드(201)로부터 발생되는 제 1광빔을 편광 방향에 따라 반사 또는 투과시켜 주기 위해 45도 경사지게 설치되는 제 1플레이트 빔 스플리터(217a)와, 제 2레이저 다이오드(202)로부터 발생된 제 2광원의 편광방향에 따라 투과 또는 반사시키는 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)와, 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)에 대해 소정의 각도(45도)로 경사지고 제 2레이저 다이오드(202)에 대해 Z축 방향으로 설치된 광 검출기(221)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이러한 광 픽업 장치에서, 제 1레이저 다이오드(201)는 광 진행 방향(X축)에 대해 직교하도록 Y 축 방향으로 설치되고 소정 경사각도를 갖는 제 1플레이트 빔 스플리터(217a)로 광원을 출사한다.
제 2레이저 다이오드(202)는 광 진행 방향에 대해 동일 축 방향(X축)으로 설치되어 소정 경사각도를 갖는 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)로 광원을 출사하게 된다.
그리고, 광 검출기(221)는 광축 방향에 대해 직각 방향인 Z축 방향에 위치한다.
이에 따라 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)는 제 2레이저 다이오드(202)로부터 입사 광빔을 투과시켜 주기 위해 소정 각도 경사지며, 또 광 검출기(221)에 대해서도 광 경로 방향으로 소정 각도 경사지게 된다.
다시 말하면, 도 10의 (a)(b)에 도시된 바와 같으며, 도 10a는 평면도이며, 도 10b는 측면도이다.
도 10의 (a)와 같이 제 1레이저 다이오드(201)와 제 1플레이트 빔 스플리터(217a)는 광 진행 방향으로 소정 경사각도(45도)로 경사지게 되며, 도 10의 (b)와 같이 제 2레이저 다이오드(202)와 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)는 광 축 상에 설치되며 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)가 소정 경사각도(45도)로 경사진다.
그리고, 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)는 광 검출기(221)에 대해 광축 방향으로 소정 각도 경사지게 설치되는데, 광 검출기가 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)로부터 반사 광빔을 수광하기 위해 광 축과 직각이며, z축 방향으로 설치된다.
이에 따라 제 1레이저 다이오드(201)로부터 발생되는 제 1광원은 제 1플레이트 빔 스플리터(217a)에 의해 반사되어 대물렌즈 방향으로 진행하여 디스크 집광되고, 디스크에 의해 반사된 제 1반사광빔은 제 1플레이트 빔 스플리터(217a)를 투과하여 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)에 의해 반사되어 광 검출기(221)에 수광된다.
그리고, 제 2레이저 다이오드(202)로부터 발생되는 제 2광원은 제 2플레이트 빔 스플리터(217b) 및 제 1플레이트 빔 스플리터(217b)를 투과한 후 대물렌즈 방향으로 진행하여 디스크에 집광되고, 디스크로부터 반사되는 제 2반사광빔은 제 1 플레이트 빔 스플리터(217a)를 투과한 후 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)에 의해 반사되어 광 검출기(221)에 수광된다.
도 9와 같이 두 개의 레이저 다이오드(201,202)와 두 개의 플레이트 빔 스플리터(217a,217b)의 배열에 따른 스폿 모양과 수차 곡선은 도 14에 도시된 바와 같다. 도 14에서는 비점 수차는 없어졌으나 코마 수차는 잔존하게 된다. RMS 수차는 0.0282λ로 구해진다.
그리고, 도 15는 도 9와 같은 플레이트 빔 스플리터의 배열 구조에서, 플레이트 양쪽 두께가 다른 웨지 플레이트(wedge plate)를 사용할 경우 시뮬레이션 도면이다. 이에 도시된 바와 같이 수차는 거의 존재하지 않는 것이며, RMS 수차는 0.0126λ로 구해진다.
한편, 도 11은 도 9와 같은 레이아웃을 광학계에 적용한 예이다.
도 11을 참조하면, 제 1레이저 다이오드(201)로부터 발생되는 제 1광원은 보정렌즈(203) 및 제 1QWP(quarter wave plate)(205)를 통해 원 편광으로 변환되어 제 1플레이트 빔 스플리터(Beam splitter)(217a)에 입사된다.
여기서, 상기 보정렌즈(203)는 평행빔을 만들어주는 콜리메이터 렌즈(211)와 어느 정도의 거리가 유지되도록 기구적인 위치 등에 대한 보상을 해주는 렌즈이다. 그리고, 제 1QWP(205)는 입사되는 빔을 P파와 S파와의 지연을 통한 원 편광을 만들어 준다.
그리고, 큐빅 프리즘(207)은 편광 방향에 따라 입사빔을 투과 또는 반사시키며, 반사된 빔은 반사미러(209)에서 대물렌즈 방향으로 반사되고 콜리메이터 렌즈(211)에 의해 평행빔으로 만들어져 대물렌즈(213)를 통해 디스크(215)에 한 점으로 집광된다.
그리고, 디스크(215)로부터 반사된 제 1반사광빔은 대물렌즈(213), 콜리메이터 렌즈(211), 반사미러(209), 제 1플레이트 빔 스플리터(217a), 제 2플레이트 빔 스플리터(217b), 센서렌즈(219)를 통해서 광 검출기(221)에 집광되어 전기적인 신호로서 검출된다. 이 검출된 신호를 이용하여 서보 및 RF 제어신호를 출력하게 된다. 여기서, 센서렌즈(219)는 렌즈면의 곡률이 균일하게 구성되는 것이 아니라 세로 방향과 가로 방향으로 서로 다르게 구성되어 비점수차를 발생시키는 렌즈이다.
한편, 제 2레이저 다이오드(202)로부터 발생되는 제 2광원은 제 2QWP(218)를 경유하여, 제 2플레이트 빔 스플리터(217b)에 입사되며, 제 2플레이터 빔 스플리터(217b)는 제 2광원을 반사하고 제 1플레이트 빔 스플리터(217b)를 투과하여, 프리즘(207) 및 반사미러(209), 콜리메이터 렌즈(211), 대물렌즈(213)를 통해 디스크에 한 점으로 집광된다.
그리고, 제 2레이저 다이오드(202)로부터 발생된 제 2광빔은 디스크(215)로부터 반사되고, 제 2반사광빔은 역 경로를 통해서 광 검출기(221)에 전기적인 신호로서 검출되어, 서보 및 RF 신호로 출력된다.
이와 같이 광 픽업 장치에 큐빅 프리즘을 사용하지 않고 플레이트 빔 스플리터만을 이용하여 광 경로를 전환해 줄 수 있도록 하면서, 코마 및 비점 수차가 만족할 수 있는 광학계를 제공해 준다.
이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시 예를 중심으로 살펴보았으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적 기술 범위 내에서 상기 본 발명의 상세한 설명과 다른 형태의 실시 예들을 구현할 수 있을 것이다. 여기서 본 발명의 본질적 기술범위는 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 광 픽업 장치에 의하면, 2개 이상의 레이저 다이오드를 이용하는 광학계에 기존과 같이 고가의 큐빅 프리즘을 사용하지 않고, 저가의 플레이트 빔 스플리터만을 이용하여 광 경로를 절환해 줌으로써, 광학계의 가격 경쟁력을 향상시켜 줄 수 있으며, 또 출사 광빔의 광 품질도 확보할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래 큐빅 프리즘을 이용한 광 픽업 장치를 나타낸 구성도.
도 2는 종래 플레이트 빔 스플리터를 이용한 광 픽업 장치를 나타낸 구성도.
도 3은 종래 두 개의 큐빅 프리즘을 이용한 광 픽업 장치를 나타낸 구성도.
도 4는 종래 큐빅 프리즘 및 플레이트 빔 스플리터를 이용한 광 픽업 장치를 나타낸 구성도.
도 5는 종래 도 4를 이용한 광 픽업 장치의 광학계를 나타낸 구성도.
도 6은 본 발명을 위한 두 개의 플레이트 빔 스플리터를 이용한 일 예를 나타낸 구성도.
도 7은 본 발명을 위한 두 개의 플레이트 빔 스플리터를 이용한 다른 예를 나타낸 구성도.
도 8은 본 발명에 따른 플레이트 빔 스플리터에서의 코마수차 및 비점수차를 나타낸 구성도.
도 9는 본 발명 실시 예에 따른 두 개의 플레이트 빔 스플리터를 이용한 광 픽업 장치를 나타낸 구성도.
도 10은 도 9의 정면도 및 측면도.
도 11은 도 9를 채용한 광픽업장치의 광학계를 나타낸 구성도.
도 12는 도 6의 광픽업장치에서의 디스크 스폿모양, 수차 곡선, RMS 수차를 나타낸 도면.
도 13은 도 7의 광 픽업장치에서의 디스크 스폿모양, 수차곡선, RMS 수차를 나타낸 도면.
도 14는 도 9의 광 광픽업장치에서의 디스크 스폿모양, 수차곡선, RMS 수차를 나타낸 도면.
도 15는 도 9의 광 픽업장치에서, 양쪽 폭이 다른 플레이트 빔 스플리터를 채용한 경우, 디스크 스폿 모양, 수차 곡선, RMS 수차를 나타낸 도면.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
201,202...레이저 다이오드 203...보정렌즈
205,218...그레이팅 217a,217b...플레이트 빔 스플리터
209...반사미러 211...콜리메이터 렌즈
213....대물렌즈 215...디스크
221...광검출기

Claims (5)

  1. 서로 다른 파장의 빔을 발생하는 복수의 레이저 다이오드와;
    광 경로 절환을 위해 광 경로 상에 위치하며, 각 레이저 다이오드로부터 발생되는 빔을 편광 방향에 따라 각각 투과 또는 반사시키는 각각의 플레이트 빔 스플리터와;
    상기 반사 광빔이 집속되는 광 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 플레이트 빔 스플리터는 제 1레이저 다이오드와 소정 각도 경사지게 설치된 제 1플레이터 빔 스플리터와, 제 2레이저 다이오드와 소정 각도 경사지게 설치되며 광축 방향에 설치된 제 2플레이트 빔 스플리터를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 제 2플레이트 빔 스플리터로부터 집속되는 반사광빔을 수광하기 위해 상기 광축 방향과 z축 방향으로 직교되게 설치되는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 두 개 이상의 레이저 다이오드는 동일 평면의 X축 및 Y축 방향에 설치되며, 상기 두 개 이상의 플레이트 빔 스플리터는 상기의 X축 방향에 설치되며,
    상기 광 검출기는 어느 하나의 플레이트 빔 스플리터로부터 반사광빔을 수광하기 위해 상기 평면과 다른 평면에 해당하는 광축 방향의 직각(Z축) 위치에 설치된 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 각각의 플레이트 빔 스플리터는 폭이 다른 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치.
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