KR20050100207A - Method and apparatus for addressing plasma display panel - Google Patents

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Abstract

본 발명은 온도 및 특정 화면 등으로 인하여 어드레스 조건이 취약한 경우에도 어드레스 방전을 강화시킬 수 있는 PDP의 어드레스 방법 및 장치를 제공하는 것이다.The present invention provides an addressing method and apparatus of a PDP that can enhance address discharge even when address conditions are weak due to temperature and a specific screen.

이를 위하여, 본 발명의 어드레스 방법은 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계와; 어드레스 방전 조건에 따라 바이어스 전압을 선택적으로 서스테인 전극에 공급하는 단계를 포함한다.To this end, the address method of the present invention comprises the steps of determining an address discharge condition; Selectively supplying a bias voltage to the sustain electrode according to the address discharge condition.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR ADDRESSING PLASMA DISPLAY PANEL} Address method and apparatus of plasma display panel {METHOD AND APPARATUS FOR ADDRESSING PLASMA DISPLAY PANEL}

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법 및 장치에 관한 것으로 특히, 온도와 상관없이 어드레스 방전을 강화시킬 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 리셋 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method and apparatus for driving a plasma display panel, and more particularly, to a method and apparatus for resetting a plasma display panel that can enhance an address discharge regardless of temperature.

최근, 평판 디스플레이 장치로서 대형 패널의 제작이 용이한 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel; 이하, PDP)이 주목받고 있다. PDP는 디지털 비디오 데이터에 따라 화소들 각각의 가스 방전 기간을 조절함으로써 화상을 표시한다. 이러한 PDP로는 도 1과 같이 3전극을 구비하고 교류 전압으로 구동되는 PDP가 대표적이다.Recently, a plasma display panel (PDP), which is easy to manufacture a large panel, has attracted attention as a flat panel display device. The PDP displays an image by adjusting the gas discharge period of each of the pixels according to the digital video data. As such a PDP, a PDP having three electrodes as shown in FIG. 1 and driven by an AC voltage is representative.

도 1에 도시된 교류형 PDP의 방전셀은 상부 기판(10)에 형성된 서스테인 전극쌍(12A, 12B)과, 하부 기판(18)에 형성된 데이터 전극(20)을 구비한다.The discharge cell of the AC PDP shown in FIG. 1 includes sustain electrode pairs 12A and 12B formed on the upper substrate 10 and data electrodes 20 formed on the lower substrate 18.

서스테인 전극쌍(12A, 12B) 각각은 투명 전극과 금속 전극의 이중층 구조를 갖는다. 이러한 서스테인 전극쌍(12A, 12B)은 어드레스 방전을 위한 스캔 신호와 서스테인 방전을 위한 서스테인 신호를 주로 공급하는 스캔 전극(12A)과, 그 스캔 전극(12A)과 교번적으로 서스테인 신호를 주로 공급하는 서스테인 전극(12B)으로 분리된다. 데이터 전극(20)은 서스테인 전극쌍(12A, 12B)과 교차하게 형성되어 어드레스 방전을 위한 데이터 신호를 공급한다.Each of the sustain electrode pairs 12A and 12B has a double layer structure of a transparent electrode and a metal electrode. The sustain electrode pairs 12A and 12B mainly provide a scan electrode 12A mainly supplying a scan signal for address discharge and a sustain signal for sustain discharge, and a sustain signal alternately supplied to the scan electrode 12A. It is separated by the sustain electrode 12B. The data electrode 20 is formed to intersect with the sustain electrode pairs 12A and 12B to supply a data signal for address discharge.

서스테인 전극쌍(12A, 12B)이 형성된 상부 기판(10)에는 상부 유전체층(14)과 보호막(16)이 적층되고, 데이터 전극(20)이 형성된 하부 기판(18)에는 하부 유전체층(22)이 형성된다. 상부 유전체층(14)과 하부 유전체층(22)은 방전으로 생성된 전하들을 축적한다. 보호막(16)은 방전시 플라즈마 입자들의 스퍼터링으로 인한 상부 유전체층(14)의 손상을 방지하고 2차 전자의 방출 효율을 증가시킨다. 이러한 유전체층(14, 22)과 보호막(16)은 외부에서 인가되는 구동 전압을 낮출 수 있게 한다.An upper dielectric layer 14 and a passivation layer 16 are stacked on the upper substrate 10 on which the sustain electrode pairs 12A and 12B are formed, and a lower dielectric layer 22 is formed on the lower substrate 18 on which the data electrode 20 is formed. do. The upper dielectric layer 14 and the lower dielectric layer 22 accumulate charges generated by the discharge. The protective film 16 prevents damage to the upper dielectric layer 14 due to sputtering of plasma particles during discharge and increases the emission efficiency of secondary electrons. The dielectric layers 14 and 22 and the protective layer 16 may lower the driving voltage applied from the outside.

하부 유전체층(22)이 형성된 하부 기판(18)에는 격벽(24)이 형성되고, 그 하부 유전체층(22) 및 격벽(24)의 표면에는 형광체층(26)이 형성된다. 격벽(24)은 방전 공간을 분리하여 가스 방전으로 생성된 자외선이 인접한 방전 공간으로 누설되는 것을 방지한다. 형광체층(26)은 가스 방전으로 생성된 자외선에 의해 발광하여 적색(이하, R), 녹색(이하, G) 또는 청색(이하, B) 가시광을 발생한다. 그리고, 방전 공간에는 가스 방전을 위한 불활성 가스가 충진된다.A partition wall 24 is formed on the lower substrate 18 on which the lower dielectric layer 22 is formed, and a phosphor layer 26 is formed on the lower dielectric layer 22 and the surfaces of the partition wall 24. The partition wall 24 separates the discharge space to prevent the ultraviolet rays generated by the gas discharge from leaking into the adjacent discharge space. The phosphor layer 26 emits red (hereinafter, R), green (hereinafter, G), or blue (hereinafter, B) visible light by emitting light by ultraviolet rays generated by gas discharge. The discharge space is filled with an inert gas for gas discharge.

이러한 방전셀은 데이터 전극(20)과 스캔 전극(12A)에 의한 어드레스 방전으로 선택되고, 선택된 방전셀은 서스테인 전극쌍(12A, 12B)에 의한 서스테인 방전으로 방전을 유지한다. 그리고, 방전셀은 서스테인 방전시 생성된 자외선으로 형광체(26)를 발광시켜 R, G, 또는 B 가시광을 방출한다. 이 경우, 방전셀은 비디오 데이터에 따라 서스테인 방전 기간, 즉 서스테인 방전 횟수를 조절하여 영상 표시에 필요한 계조(Gray Scale)를 구현한다. 그리고 R, G, B 형광체(26)가 각각 도포된 3개의 방전셀들의 조합으로 한 화소의 칼러를 구현한다This discharge cell is selected by address discharge by the data electrode 20 and the scan electrode 12A, and the selected discharge cell maintains the discharge by sustain discharge by the sustain electrode pairs 12A and 12B. The discharge cell emits the phosphor 26 by ultraviolet rays generated during the sustain discharge to emit R, G, or B visible light. In this case, the discharge cell adjusts the sustain discharge period, that is, the number of sustain discharges according to the video data, thereby implementing gray scale for displaying an image. A color of one pixel is realized by combining three discharge cells coated with R, G, and B phosphors 26, respectively.

이러한 PDP를 구동하는 방법으로는 어드레스 기간과 디스플레이 기간, 즉 서스테인 기간으로 분리시켜 구동하는 ADS(Address and Display Separation) 구동 방법이 대표적이다. ADS 구동 방법은 도 2와 같이 한 프레임(1F)을 비디오 데이터의 각 비트에 해당하는 다수의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 분할한다. 그리고, 서브필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 다시 방전셀 초기화를 위한 리셋 기간(RPD)과, 방전셀 선택을 위한 어드레스 기간(APD)과, 그리고 선택된 방전셀의 방전 유지를 위한 서스테인 기간(SPD)으로 분할된다. 여기서, 서스테인 기간(SPD)에 서브필드들(SF1 내지 SF8) 별로 다른 가중치를 부여하고, 비디오 데이터에 따라 그 서스테인 기간(SPD)을 조합함으로써 PDP는 해당 계조를 구현한다.As a method of driving such a PDP, an ADS (Address and Display Separation) driving method that is driven by being divided into an address period and a display period, that is, a sustain period is typical. As shown in FIG. 2, the ADS driving method divides one frame 1F into a plurality of subfields SF1 to SF8 corresponding to each bit of video data. Each of the subfields SF1 to SF8 again has a reset period RPD for initializing a discharge cell, an address period APD for selecting a discharge cell, and a sustain period SPD for sustaining discharge of the selected discharge cell. Is divided into Here, the PDP implements the corresponding gradation by assigning different weights to the subfields SF1 to SF8 in the sustain period SPD and combining the sustain period SPD according to the video data.

도 3은 제1 및 제2 서브필드(SF1, SF2)에서 공급되는 PDP의 선택적 쓰기 구동 파형을 도시한 것이다.3 illustrates selective write driving waveforms of the PDP supplied from the first and second subfields SF1 and SF2.

도 3을 참조하면, 제1 및 제2 서브필드(SF1, SF2) 각각은 방전셀들의 초기화를 위한 리셋 기간(Reset Period; RPD), 방전셀들을 선택하기 위한 어드레스 기간(Address Period; APD), 선택된 방전셀의 방전 유지를 위한 서스테인 기간(Sustain Period; SPD), 방전 소거를 위한 소거 기간(Erasing Period; EPD)을 포함한다.Referring to FIG. 3, each of the first and second subfields SF1 and SF2 may include a reset period (RPD) for initializing discharge cells, an address period (APD) for selecting discharge cells, And a sustain period (SPD) for sustaining discharge of the selected discharge cell and an erasing period (EPD) for discharge erasing.

리셋 기간(RDP)은 모든 방전셀들에 벽전하 형성을 위한 셋업 기간(Set-up Period; SUPD)과, 그 방전셀들에서 불요 벽전하들을 소거하기 위한 셋다운 기간(Set-down Period; SDPD)을 포함한다. The reset period RDP is a set-up period (SUPD) for wall charge formation in all discharge cells, and a set-down period (SDPD) for erasing unnecessary wall charges in the discharge cells. It includes.

셋업 기간(SUPD)에서는 스캔 전극(Y)에 서스테인 전압(Vs)에서 피크전압(Vp)으로 서서히 증가하는 상승 램프 펄스(Ramp-up Pulse; RUP)가 공급되고, 서스테인 전극(Z) 및 데이터 전극(X)에는 기저 전압(GND)이 인가된다. 상승 램프 펄스(RUP)에 의해 스캔 전극(Y) 및 데이터 전극(X) 사이와, 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z) 사이에서는 빛이 거의 발생되지 않는 다크 방전(Dark discharge)이 일어난다. 이러한 다크 방전으로 데이터 전극(X) 및 서스테인 전극(Z) 상에는 정극성(+)의 벽전하가, 스캔전극(Y) 상에는 부극성(-)의 벽전하가 쌓이게 된다. In the setup period SUD, a ramp-up pulse RUP that is gradually increased from the sustain voltage Vs to the peak voltage Vp is supplied to the scan electrode Y, and the sustain electrode Z and the data electrode are supplied. The ground voltage GND is applied to (X). Dark discharge, in which little light is generated, occurs between the scan electrode Y and the data electrode X and between the scan electrode Y and the sustain electrode Z by the rising ramp pulse RUP. The dark discharge causes positive wall charges on the data electrode X and the sustain electrode Z, and negative wall charges on the scan electrode Y.

이어서, 셋다운 기간(SDPD)에서는 스캔 전극(Y)에 피크 전압(Vp)에서 서스테인 전압(Vs)으로 하강하여, 서스테인 전압(Vs)에서 기저 전압(GND) 또는 부극성의 특정 전압으로 서서히 하강하는 하강 램프 펄스(Ramp-down Pulse; RDP)가 공급되고, 서스테인 전극(Z)에는 정극성의 서스테인 전압(Vs)이, 데이터 전극(X)에는 기저 전압(GND)이 공급된다. 하강 램프 펄스(RDP)에 의해 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z) 사이와, 스캔 전극(Y) 및 데이터 전극(Z) 사이에서 미약한 다크 방전이 일어남으로써 불요 벽전하가 소거되고 다음 어드레스 방전에 필요한 벽전하가 잔류하게 된다. Subsequently, in the set-down period SDPD, the scan electrode Y falls from the peak voltage Vp to the sustain voltage Vs, and gradually falls from the sustain voltage Vs to the base voltage GND or a specific voltage of the negative polarity. A ramp-down pulse RDP is supplied, a sustain voltage Vs of positive polarity is supplied to the sustain electrode Z, and a ground voltage GND is supplied to the data electrode X. A weak dark discharge is generated between the scan electrode (Y) and the sustain electrode (Z) and between the scan electrode (Y) and the data electrode (Z) by the falling ramp pulse (RDP), thereby eliminating unnecessary wall charges and Wall charges necessary for discharge remain.

어드레스 기간(APD)에서는 부극성 스캔 펄스(Scan Pulse; SP)가 스캔 전극(Y)에 순차적으로 인가되고, 그 스캔 펄스(SP)에 동기하여 데이터 전극(X)에 정극성의 데이터 펄스(Data Pulse; DP)가 인가된다. 이에 따라, 해당 방전셀에서는 스캔 펄스(SP)와 데이터 펄스(DP)간의 전압차와 리셋 기간(RPD)에서 잔류하게 된 벽전하에 의한 벽전압이 가산되어 어드레스 방전이 발생된다. 이러한 어드레스 방전으로 해당 방전셀 내부에는 다음 서스테인 방전에 이용되어질 벽전하가 형성된다. 이러한 어드레스 기간(APD)에서 서스테인 전극(Z)에는 스캔 전극(Y)과의 전압차를 줄여 그 스캔 전극(Y)과의 오방전이 일어나지 않도록 정극성의 직류 바이어스 전압(Zdc)이 공급된다.In the address period APD, the negative scan pulse SP is sequentially applied to the scan electrode Y, and the positive data pulse Data pulse is applied to the data electrode X in synchronization with the scan pulse SP. DP) is applied. Accordingly, in the discharge cell, an address discharge is generated by adding the voltage difference between the scan pulse SP and the data pulse DP and the wall voltage due to the wall charge remaining in the reset period RPD. This address discharge forms a wall charge inside the corresponding discharge cell to be used for the next sustain discharge. In this address period APD, the positive electrode DC bias voltage Zdc is supplied to the sustain electrode Z so as to reduce the voltage difference from the scan electrode Y so as to prevent erroneous discharge from the scan electrode Y.

서스테인 기간(SPD)에서는 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z)에 교번적으로 서스테인 펄스(SUSPy, SUSPz)가 인가된다. 이에 따라, 어드레스 방전으로 벽전하가 형성된 방전셀들에서는 벽전압과 서스테인 펄스(SUSPy, SUSPz) 각각의 전압이 가산되어 서스테인 펄스(SUSPy, SUSPz)가 인가될 때 마다 서스테인 방전이 발생하게 된다. 이러한 서스테인 방전으로 해당 방전셀에서는 서스테인 기간(SPD)에 비례하는 가시광을 방출하게 된다.In the sustain period SPD, sustain pulses SUSPy and SUSPz are alternately applied to the scan electrode Y and the sustain electrode Z. As shown in FIG. Accordingly, in the discharge cells in which the wall charges are formed by the address discharge, the wall voltage and the voltage of each of the sustain pulses SUSPy and SUSPz are added to generate a sustain discharge whenever the sustain pulses SUSPy and SUSPz are applied. This sustain discharge emits visible light in proportion to the sustain period SPD in the corresponding discharge cell.

소거 기간(EPD)에서는 서스테인 전극(Z)에 소거 펄스(SP)가 인가되어 소거 방전이 발생함으로써 방전셀내의 벽전하들이 소거된다.In the erasing period EPD, the erasing pulse SP is applied to the sustain electrode Z to generate an erasing discharge, thereby erasing wall charges in the discharge cell.

이러한 PDP는 온도 변화에 따라 방전 특성이 불안정해지는 문제점이 있다. 이는 온도 변화에 따라 PDP 내의 압력이 변화하게 되고, 압력 변화로 인하여 그 압력과 비례하는 방전 전압이 가변하기 때문이다. 예를 들면, 고온에서는 PDP의 압력이 증가하기 때문에 방전 전압이 증가한다. 이는 고온 환경에서 어드레스 방전이 약화되는 요인이 되며, 이를 방지하기 위해서는 구동 전압을 높게 인가해야만 한다. 이러한 온도 변화에 대하여 방전 특성이 불안정한 문제점을 해결하고자 온도 변화에 대응하여 스캔 펄스의 펄스 폭을 가변하여 어드레스 방전을 강화하는 방법이 제안되었으나, 이는 구동 전압이 고정된 상태이므로 고온 환경을 만족시키는데 한계가 있다.The PDP has a problem in that discharge characteristics become unstable with temperature change. This is because the pressure in the PDP changes with temperature, and the discharge voltage in proportion to the pressure varies due to the pressure change. For example, at high temperatures, the discharge voltage increases because the pressure of the PDP increases. This causes the address discharge to be weakened in a high temperature environment, and to prevent this, a high driving voltage must be applied. In order to solve the problem that the discharge characteristic is unstable against the temperature change, a method of enhancing the address discharge by varying the pulse width of the scan pulse in response to the temperature change has been proposed, but this is a limitation in satisfying the high temperature environment because the driving voltage is fixed. There is.

또한, PDP는 상온 구동시에도 취약한 특정 화면을 표시하는 경우, 예를 들면, PDP에서 켜진 방전셀이 많아 로드가 큰 경우, 즉 평균 휘도 레벨(Avarage Picture Level; 이하, APL) 값이 높은 경우 높은 전류로 인하여 전압 강하 폭이 증가하므로 어드레스 방전이 약화로 방전셀이 꺼지는 경우가 빈번해지는 문제점이 있다. In addition, when the PDP displays a particular screen that is vulnerable even when driving at room temperature, for example, when the load is large due to a large number of discharge cells turned on in the PDP, that is, when the average brightness level (Avarage Picture Level or less, APL) is high, Since the voltage drop width increases due to the current, the discharge cells are frequently turned off due to the weakening of the address discharge.

따라서, 본 발명의 목적은 온도 및 특정 화면 등으로 인하여 어드레스 조건이 취약한 경우에도 어드레스 방전을 강화시킬 수 있는 PDP의 어드레스 방법 및 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, it is an object of the present invention to provide an addressing method and apparatus of a PDP that can enhance address discharge even when address conditions are weak due to temperature and a specific screen.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 PDP의 어드레스 방법은 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계와; 어드레스 방전 조건에 따라 바이어스 전압을 선택적으로 서스테인 전극에 공급하는 단계를 포함한다.In order to achieve the above object, the address method of the PDP according to the present invention comprises the steps of determining an address discharge condition; Selectively supplying a bias voltage to the sustain electrode according to the address discharge condition.

상기 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계는 상기 비디오 데이터의 평균 휘도 레벨 값을 산출하는 단계와; 산출된 평균 휘도 레벨 값을 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰가를 판단하는 단계를 포함한다.The determining of the address discharge condition may include calculating an average brightness level value of the video data; And comparing the calculated average luminance level value with a reference value to determine whether the average brightness level value is larger than the reference value.

상기 바이어스 전압을 선택적으로 상기 서스테인 전극에 공급하는 단계는 상기 평균 휘도 레벨 값이 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압을, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압을 공급하는 단계를 포함한다.,The step of selectively supplying the bias voltage to the sustain electrode may include supplying a sustain voltage as the bias voltage when the average luminance level value is greater than the reference value, and supplying a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the bias voltage is opposite. Includes,

상기 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계는 패널 온도를 검출하는 단계와; 검출된 패널 온도를 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰가를 판단하는 단계를 포함한다.The determining of the address discharge condition may include detecting a panel temperature; Comparing the detected panel temperature with a reference value and determining whether the detected panel temperature is greater than the reference value.

상기 바이어스 전압을 선택적으로 상기 서스테인 전극에 공급하는 단계는 상기 패널 온도가 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압을, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압을 공급하는 단계를 포함한다.Selectively supplying the bias voltage to the sustain electrode includes supplying a sustain voltage as the bias voltage when the panel temperature is greater than the reference value, and supplying a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the panel temperature is vice versa. .

상기 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계는 해당 서브필드가 어드레스 조건이 취약한 특정 서브필드인지를 판단하는 단계를 포함한다.The determining of the address discharge condition may include determining whether the corresponding subfield is a specific subfield having an weak address condition.

상기 바이어스 전압을 선택적으로 상기 서스테인 전극에 공급하는 단계는 상기 해당 서브필드가 상기 특정 서브필드인 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압을, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압을 공급하는 단계를 포함한다.The step of selectively supplying the bias voltage to the sustain electrode may include supplying a sustain voltage as the bias voltage when the corresponding subfield is the specific subfield, and providing a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the subfield is the specific subfield. Include.

본 발명에 따른 PDP의 어드레스 장치는 PDP와, 어드레스 기간에서 상기 PDP의 데이터 전극, 스캔 전극, 서스테인 전극 각각을 구동하는 데이터 구동부, 스캔 구동부, 서스테인 구동부와; 입력된 비디오 데이터를 미리 설정된 서브 필드에 맵핑하여 상기 데이터 구동부로 공급하는 서브 필드 맴핑부와; 입력된 비디오 데이터로부터 평균 휘도 레벨 값을 산출하는 평균 휘도 레벨 산출부와; 패널의 온도를 검출하는 온도 검출부와; 상기 데이터 구동부, 스캔 구동부를 제어하며, 상기 평균 휘도 레벨 값, 패널 온도, 서브 필드 중 적어도 어느 하나를 기준치와 비교하여 어드레스 조건을 판단하고, 그 어드레스 조건에 따라 바이어스 전압이 공급되도록 상기 서스테인 구동부를 제어하는 타이밍 제어부를 구비한다.An addressing apparatus of a PDP according to the present invention includes a PDP, a data driver for driving each of the PDP data electrodes, scan electrodes, and sustain electrodes in an address period, a scan driver, and a sustain driver; A subfield mapping unit configured to map input video data to a preset subfield and supply the same to the data driver; An average luminance level calculator for calculating an average luminance level value from the input video data; A temperature detector for detecting a temperature of the panel; The data driver and the scan driver are controlled, and an address condition is determined by comparing at least one of the average luminance level value, the panel temperature, and a subfield with a reference value, and the sustain driver is configured to supply a bias voltage according to the address condition. It is provided with the timing control part to control.

상기 타이밍 제어부는 상기 평균 휘도 레벨 값을 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압이, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압이 공급되게 한다.The timing controller compares the average luminance level value with a reference value and supplies a sustain voltage as the bias voltage when the average brightness level is larger than the reference value, and a positive bias voltage lower than the sustain voltage when the bias voltage is reversed.

상기 타이밍 제어부는 상기 패널 온도를 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압이, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압이 공급되게 한다.The timing controller compares the panel temperature with a reference value so that a sustain voltage is supplied as the bias voltage when the panel temperature is larger than the reference value, and a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the panel voltage is reversed.

상기 타이밍 제어부는 상기 서브필드가 어드레스 조건이 취약한 특정 서브필드인 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압이, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압이 공급되게 한다.The timing controller allows a sustain voltage to be supplied as the bias voltage when the subfield is a specific subfield having a weak address condition, and a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the subfield is reversed.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention in addition to the above objects will become apparent from the description of the embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예들을 첨부한 도 4 내지 도 6을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 6.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 실시 예에 따른 PDP의 어드레스 방법을 설명하기 위한 서브 필드의 구동 파형을 도시한 것이다.4A and 4B illustrate driving waveforms of a subfield for explaining an addressing method of a PDP according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4a는 안정된 어드레스 조건인 경우, 도 4b는 취약한 어드레스 조건인 경우의 구동 파형을 도시한 것이다.FIG. 4A shows a driving waveform when the address condition is stable and FIG. 4B shows the address condition when the address condition is weak.

도 4a 및 도 4b에 있어서, 리셋 기간(RDP)의 셋업 기간(SUPD)에 스캔 전극(Y)에 상승 램프 펄스(RUP)가 공급되어 스캔 전극(Y) 및 데이터 전극(X) 사이와, 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z) 사이에서 다크 방전이 발생된다. 이에 따라, 데이터 전극(X) 및 서스테인 전극(Z) 상에는 정극성(+)의 벽전하가, 스캔전극(Y) 상에는 부극성(-)의 벽전하가 쌓이게 된다. 이어서, 리셋 기간(RPD)의 셋다운 기간(SDPD)에 하강 램프 펄스(RDP)가 공급되어 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z) 사이와, 스캔 전극(Y) 및 데이터 전극(Z) 사이에서 미약한 다크 방전이 발생된다. 이 경우, 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z) 사이의 소거 방전을 위하여 서스테인 전극(Z)에는 바이어스 전압(Zbias)으로 서스테인 전압(Vs)이 공급된다. 이에 따라, 불요 벽전하가 소거되고 다음 어드레스 방전에 필요한 벽전하가 잔류하게 된다.4A and 4B, the rising ramp pulse RUP is supplied to the scan electrode Y in the setup period SUDP of the reset period RDP, so as to scan between the scan electrode Y and the data electrode X, and scan. Dark discharge is generated between the electrode Y and the sustain electrode Z. Accordingly, wall charges of positive polarity (+) are accumulated on the data electrode (X) and the sustain electrode (Z), and wall charges of negative polarity (−) are accumulated on the scan electrode (Y). Subsequently, the falling ramp pulse RDP is supplied in the set-down period SDPD of the reset period RPD so as to be between the scan electrode Y and the sustain electrode Z, and between the scan electrode Y and the data electrode Z. Weak dark discharge occurs. In this case, a sustain voltage Vs is supplied to the sustain electrode Z as a bias voltage Zbias for erasing discharge between the scan electrode Y and the sustain electrode Z. As a result, unnecessary wall charges are erased and wall charges necessary for the next address discharge remain.

어드레스 기간(APD)에서는 부극성 스캔 펄스(SP)가 스캔 전극(Y)에 순차적으로 인가되고, 그 스캔 펄스(SP)에 동기하여 데이터 전극(X)에 정극성의 데이터 펄스(DP)가 인가된다. 이에 따라, 해당 방전셀에서는 스캔 펄스(SP)와 데이터 펄스(DP)간의 전압차와 리셋 기간(RPD)에서 잔류하게 된 벽전하에 의한 벽전압이 가산되어 어드레스 방전이 발생된다. 이러한 어드레스 방전으로 해당 방전셀 내부에는 다음 서스테인 방전에 이용되어질 벽전하가 형성된다. In the address period APD, the negative scan pulse SP is sequentially applied to the scan electrode Y, and the positive data pulse DP is applied to the data electrode X in synchronization with the scan pulse SP. . Accordingly, in the discharge cell, an address discharge is generated by adding the voltage difference between the scan pulse SP and the data pulse DP and the wall voltage due to the wall charge remaining in the reset period RPD. This address discharge forms a wall charge inside the corresponding discharge cell to be used for the next sustain discharge.

여기서, 안정적인 어드레스 조건인 경우 도 4a와 같이 서스테인 전극(Z)에는 바이어스 전압(Zbias)으로 서스테인 전압(Vs) 보다 낮은 정극성 바이어스 전압(Vb)이 공급되게 하여 스캔 전극(Y)과의 전압차를 줄임으로써 오방전이 일어나지 않도록 한다.Here, in the case of a stable address condition, as shown in FIG. 4A, the sustain electrode Z is supplied with a positive bias voltage Vb lower than the sustain voltage Vs as the bias voltage Zbias so as to provide a voltage difference with the scan electrode Y. Reduce the risk of false discharges.

반면에, 취약한 어드레스 조건인 경우 도 4b와 같이 서스테인 전극(Z)에는 서스테인 전압(Vs)을 유지하는 바이어스 전압(Zbias)이 공급되게 하여 어드레스 방전의 활성화를 유도함으로써 벽전하가 충분히 형성될 수 있게 된다. 여기서, 취약한 어드레스 조건으로는 PDP의 온도가 고온(40℃이상)인 경우, PDP의 로드가 큰 경우(APL 값이 높은 경우), 특정한 서브필드(선택적 쓰기 방식인 경우 제5 서브필드 이상, 선택적 쓰기 및 소거의 경우 제5 서브필드 이상) 등을 예로 들 수 있다.On the other hand, in the case of a weak address condition, as shown in FIG. 4B, the sustain electrode Z is supplied with a bias voltage Zbias that maintains the sustain voltage Vs to induce activation of the address discharge to sufficiently form wall charges. do. Here, as a weak address condition, when the temperature of the PDP is high (40 ° C. or more), when the load of the PDP is large (high APL value), a specific subfield (more than the fifth subfield in the case of selective writing method), In the case of writing and erasing, the fifth subfield or more) may be used as an example.

서스테인 기간(SPD)에서는 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z)에 교번적으로 서스테인 펄스(SUSPy, SUSPz)가 인가된다. 이에 따라, 어드레스 조건이 안정적인 경우 또는 취약한 경우에도 어드레스 방전으로 충분한 벽전하가 형성된 방전셀들에서는 벽전압과 서스테인 펄스(SUSPy, SUSPz) 각각의 전압이 가산되어 서스테인 펄스(SUSPy, SUSPz)가 인가될 때 마다 서스테인 방전이 발생하게 된다. 이러한 서스테인 방전으로 해당 방전셀에서는 서스테인 기간(SPD)에 비례하는 가시광을 방출하게 된다.In the sustain period SPD, sustain pulses SUSPy and SUSPz are alternately applied to the scan electrode Y and the sustain electrode Z. As shown in FIG. Accordingly, even when the address conditions are stable or weak, the discharge cells in which sufficient wall charges are formed due to the address discharge are added to the voltages of the wall voltages and the sustain pulses SUSPy and SUSPz to apply the sustain pulses SUSPy and SUSPz. Each time a sustain discharge occurs. This sustain discharge emits visible light in proportion to the sustain period SPD in the corresponding discharge cell.

소거 기간(EPD)에서는 서스테인 전극(Z)에 소거 펄스(SP)가 인가되어 소거 방전이 발생함으로써 방전셀내의 벽전하들이 소거된다.In the erasing period EPD, the erasing pulse SP is applied to the sustain electrode Z to generate an erasing discharge, thereby erasing wall charges in the discharge cell.

이와 같이, 본 발명에 따른 PDP의 어드레스 방법은 어드레스 조건(APL 값, 온도, 서브필드)에 따라 서스테인 전극(Z)에 공급되는 바이어스 전압(Zbias)을 선택적으로 공급함으로써 취약한 조건하에서도 어드레스 방전을 강화할 수 있게 된다. As described above, the PDP addressing method according to the present invention selectively supplies the bias voltage Zbias supplied to the sustain electrode Z according to the address condition (APL value, temperature, subfield) to generate address discharge even under a weak condition. You can strengthen it.

도 5는 본 발명에 따른 PDP 어드레스 장치를 도시한 것이다.5 illustrates a PDP address apparatus according to the present invention.

도 5에 도시된 PDP 어드레스 장치는 입력된 제1 비디오 데이터를 PDP(52)의 데이터 전극(X)으로 공급하기 위한 서브필드 맵핑부(40) 및 데이터 구동부(42)와, PDP(52)의 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z) 각각을 구동하기 위한 스캔 구동부(48) 및 서스테인 구동부(50)와, 데이터 구동부(42)와 스캔 구동부(48) 및 서스테인 구동부(50)의 구동을 제어하는 타이밍 제어부(46)와, 입력된 제2 비디오 데이터로부터 APL 값을 산출하여 타이밍 제어부(46)로 공급하는 APL 산출부(44)와, PDP(52)의 구동 온도를 검출하여 타이밍 제어부(46)로 공급하는 온도 검출부(54)를 구비한다.The PDP address apparatus shown in FIG. 5 includes a subfield mapping unit 40 and a data driver 42 for supplying input first video data to the data electrode X of the PDP 52, and the PDP 52 of the PDP 52. Control driving of the scan driver 48 and the sustain driver 50 for driving each of the scan electrode Y and the sustain electrode Z, the data driver 42, the scan driver 48, and the sustain driver 50. The timing controller 46, the APL calculator 44 for calculating an APL value from the input second video data, and supplying the APL value to the timing controller 46; ) Is provided with a temperature detection unit 54.

서브필드 맵핑부(40)는 입력된 제1 비디오 데이터를 미리 설정된 서브필드 패턴에 맵핑하여 출력한다. 여기서, 제1 비디오 데이터는 이전 블록에서 역감마 보정과 오착 확산 및 디더링 등이 완료된 비디오 데이터를 의미한다.The subfield mapping unit 40 maps the input first video data to a preset subfield pattern and outputs the mapping. Here, the first video data refers to video data in which inverse gamma correction, misleading diffusion, and dithering are completed in the previous block.

데이터 구동부(42)는 서브필드 맵핑부(40)에서 서브필드 패턴에 따라 비트별로 분리되어 입력된 데이터를 래치한 후 래치된 데이터를 타이밍 제어부(46)의 제어에 따라 어드레스 기간에 PDP(52)의 데이터 전극으로 공급한다.The data driver 42 latches the input data separated by bits according to the subfield pattern in the subfield mapping unit 40 and then latches the latched data in the address period under the control of the timing controller 46. Is supplied to the data electrode.

APL 산출부(44)는 입력된 제2 비디오 데이터를 이용하여 프레임 단위로 APL 값을 산출하여 타이밍 제어부(46)로 공급한다. 여기서, 제2 비디오 데이터는 이전 블록에서 역감마 보정된 비디오 데이터를 의미한다.The APL calculator 44 calculates an APL value in units of frames using the input second video data and supplies the calculated APL value to the timing controller 46. Here, the second video data refers to video data that is inverse gamma corrected in the previous block.

온도 검출부(54)는 PDP(52)의 온도를 검출하여 타이밍 제어부(46)로 공급한다.The temperature detector 54 detects the temperature of the PDP 52 and supplies it to the timing controller 46.

타이밍 제어부(46)는 데이터 구동부(42) 및 스캔 구동부(48) 및 서스테인 구동부(50)의 구동을 제어한다. 특히, 타이밍 제어부(46)는 APL 산출부(44)로부터의 APL 값을 기준치와 비교하거나, 온도 검출부(54)로부터의 온도를 기준 온도와 비교하거나, 서브필드 맵핑부(40)로부터의 서브필드 정보로부터 해당 서브필드가 특정 서브필드인가를 판단하여 서스테인 구동부(50)로부터 서스테인 전극(Z)에 공급되어질 바이어스 전압(Zbias)을 제어한다.The timing controller 46 controls the driving of the data driver 42, the scan driver 48, and the sustain driver 50. In particular, the timing controller 46 compares the APL value from the APL calculator 44 with the reference value, compares the temperature from the temperature detector 54 with the reference temperature, or the subfield from the subfield mapping unit 40. From the information, it is determined whether the corresponding subfield is a specific subfield, and the bias voltage Zbias to be supplied from the sustain driver 50 to the sustain electrode Z is controlled.

구체적으로, 타이밍 제어부(46)는 도 6에 도시된 바와 같이 단계 1, 2, 3(S1, S2, S3) 각각에서 APL 값과 기준치를 비교하거나, 패널 온도와 기준 온도를 비교하거나, 해당 서브필드가 특정 서브필드인가를 판단하여 어드레스 기간(APD)에서 서스테인 전극(Z)에 공급되어질 바이어스 전압(Zbias)을 결정하게 된다. Specifically, the timing controller 46 compares the APL value with the reference value, compares the panel temperature with the reference temperature in each of steps 1, 2, and 3 (S1, S2, S3), as shown in FIG. By determining whether the field is a specific subfield, the bias voltage Zbias to be supplied to the sustain electrode Z in the address period APD is determined.

예를 들면, 단계 1(S1)에서 APL 값이 기준치 보다 크지 않은 경우, 단계 2(S2)에서 패널 온도가 기준 온도 보다 높지 않은 경우, 또는 단계 3(S3)에서 해당 서브필드가 특정 서브필드가 아닌 경우 타이밍 제어부(46)는 서스테인 구동부(50)가 바이어스 전압(Zbias)으로 서스테인 전압(Vs) 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압(Vb)을 서스테인 전극(Z)에 인가하게 한다. 이에 따라, 안정적인 어드레스 조건에서는 오방전을 방지할 수 있게 된다. 반면에, 단계 1(S1)에서 APL 값이 기준치 보다 큰 경우, 단계 2(S2)에서 패널 온도가 기준 온도 보다 높은 경우, 또는 단계 3(S3)에서 해당 서브필드가 특정 서브필드인 경우 타이밍 제어부(46)는 서스테인 구동부(50)가 바이어스 전압(Zbias)으로 서스테인 전압(Vs)을 서스테인 전극(Z)에 인가하게 한다. 이에 따라, 취약한 어드레스 조건에서는 어드레스 방전을 활성화시키게 된다.For example, if the APL value is not greater than the reference value in step 1 (S1), if the panel temperature is not higher than the reference temperature in step 2 (S2), or if the subfield in step 3 (S3) If not, the timing controller 46 causes the sustain driver 50 to apply the bias voltage Vb having a lower polarity than the sustain voltage Vs to the sustain electrode Z as the bias voltage Zbias. As a result, erroneous discharge can be prevented under stable address conditions. On the other hand, when the APL value is greater than the reference value in step 1 (S1), when the panel temperature is higher than the reference temperature in step 2 (S2), or when the corresponding subfield is a specific subfield in step 3 (S3), the timing controller Reference numeral 46 causes the sustain driver 50 to apply the sustain voltage Vs to the sustain electrode Z at the bias voltage Zbias. As a result, address discharge is activated in a weak address condition.

스캔 구동부(48)는 타이밍 제어부(46)의 제어에 따라 PDP(52)의 스캔 전극(Y)을 구동하고, 서스테인 구동부(50)는 서스테인 전극(Z)을 구동한다. The scan driver 48 drives the scan electrode Y of the PDP 52 under the control of the timing controller 46, and the sustain driver 50 drives the sustain electrode Z.

구체적으로, 서스테인 구동부(50)는 도 7에 도시된 바와 같이 리셋 및 어드레스 기간(RPD, APD)에서 제어 신호(CS1, CS2)에 응답하여 서스테인 전압(Vs) 및 바이어스 전압(Vb)을 선택적으로 서스테인 전극(Z)으로 공급하는 바이어스 전압 공급부(32)와, 서스테인 기간(SPD)에서 에너지 회수 방법을 이용하여 서스테인 펄스(SUSPz)를 공급하는 서스테인 펄스 공급부(34)를 구비한다.Specifically, the sustain driver 50 selectively selects the sustain voltage Vs and the bias voltage Vb in response to the control signals CS1 and CS2 in the reset and address periods RPD and APD as shown in FIG. 7. The bias voltage supply part 32 which supplies to the sustain electrode Z, and the sustain pulse supply part 34 which supplies the sustain pulse SUSPz by the energy recovery method in the sustain period SPD are provided.

바이어스 전압 공급부(32)에서 제1 스위치 소자(S1)는 리셋 및 어드레스 기간(RPD, APD)에서 타이밍 제어부(46)로부터의 제1 제어 신호(CS1)에 응답하여 서스테인 전압(Vs)을 바이어스 전압(Zbias)으로 서스테인 전극(Z)으로 공급한다. 이에 따라, 안정적인 어드레스 조건에서는 오방전을 방지할 수 있다.In the bias voltage supply part 32, the first switch element S1 applies the sustain voltage Vs in response to the first control signal CS1 from the timing controller 46 in the reset and address periods RPD and APD. It is supplied to the sustain electrode Z at (Zbias). As a result, erroneous discharge can be prevented under stable address conditions.

제2 및 제3 스위치 소자(S2, S3)는 어드레스 기간(APD)에서 타이밍 제어부(46)로부터의 제2 제어 신호(CS2)에 응답하여 서스테인 전압(Vs) 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압(Vb)을 바이어스 전압(Zbias)으로 공급한다. 이에 따라, 취약한 어드레스 조건인 경우 어드레스 방전을 활성화시킴으로써 강화할 수 있게 된다.The second and third switch elements S2 and S3 have a positive bias voltage Vb lower than the sustain voltage Vs in response to the second control signal CS2 from the timing controller 46 in the address period APD. Is supplied to the bias voltage Zbias. As a result, in the case of a weak address condition, it can be strengthened by activating the address discharge.

나아가, 전술한 어드레스 조건에 따라 바이어스 전압(Zbias)을 선택적으로 공급하는 방법과 스캔 펄스의 폭을 조절하는 방법(취약한 어드레스 조건인 경우 스캔 펄스 폭 증가)을 연동하여 사용하는 경우 어드레스 방전을 더욱 강화할 수 있게 된다.Furthermore, when using a method of selectively supplying the bias voltage Zbias according to the above-described address condition and a method of adjusting the width of the scan pulse (increasing the scan pulse width in the case of a weak address condition), the address discharge may be further enhanced. It becomes possible.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 어드레스 방법 및 장치는 어드레스 조건에 따라 서스테인 전극(Z)에 공급되는 바이어스 전압(Zbias)을 선택적으로 공급함으로써 취약한 어드레스 조건에서도 어드레스 방전을 강화할 수 있게 된다. 또한, 본 발명에 따른 PDP 구동 방법 및 장치는 어드레스 조건에 따라 스캔 펄스를 달리하는 방법을 연동하여 사용하는 경우 어드레스 방전을 더욱 강화할 수 있게 된다.As described above, the address method and apparatus according to the present invention can enhance the address discharge even in a weak address condition by selectively supplying the bias voltage Zbias supplied to the sustain electrode Z according to the address condition. In addition, the PDP driving method and apparatus according to the present invention can further enhance the address discharge when used in conjunction with a method of changing the scan pulse in accordance with the address conditions.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 방전셀 구조를 도시한 사시도.1 is a perspective view illustrating a discharge cell structure of a general plasma display panel.

도 2는 한 프레임에 포함되는 서브필드들의 구성을 도시한 도면.2 is a diagram illustrating a configuration of subfields included in one frame.

도 3은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 파형도.3 is a drive waveform diagram of a conventional plasma display panel.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 조건에 따른 어드레스 파형을 포함하는 구동 파형도.4A and 4B are driving waveform diagrams including address waveforms according to address conditions of a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 장치를 도시한 블록도.5 is a block diagram illustrating an address device of a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 도 5에 도시된 타이밍 제어부의 어드레스 조건 판단 과정을 단계적으로 설명하기 위한 흐름도.FIG. 6 is a flowchart for explaining step by step an address condition determination process of the timing controller shown in FIG. 5; FIG.

도 7은 도 6에 도시된 서스테인 구동부의 상세 회로도.7 is a detailed circuit diagram of the sustain driver shown in FIG. 6;

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

10 : 상부 기판 18 : 하부 기판10: upper substrate 18: lower substrate

12A : 스캔 전극 12B : 서스테인 전극12A: Scanning electrode 12B: Sustaining electrode

14 : 상부 유전체층 16 : 보호막14 upper dielectric layer 16 protective film

20 : 데이터 전극 22 : 하부 유전체층20: data electrode 22: lower dielectric layer

24 : 격벽 26 : 형광체24: partition 26: phosphor

40 : 서브필드 맵핑부 42 : 데이터 구동부40: subfield mapping unit 42: data driver

44 : APL 산출부 46 : 타이밍 제어부44: APL calculator 46: timing controller

48 : 스캔 구동부 50 : 서스테인 구동부48: scan driver 50: sustain driver

52 : PDP 54 : 온도 검출부52: PDP 54: temperature detector

32 : 바이어스 전압 공급부 34 : 서스테인 펄스 공급부32: bias voltage supply part 34: sustain pulse supply part

Claims (11)

비디오 데이터에 따른 어드레스 방법에 있어서,In the address method according to the video data, 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계와;Determining an address discharge condition; 어드레스 방전 조건에 따라 바이어스 전압을 선택적으로 서스테인 전극에 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And selectively supplying a bias voltage to the sustain electrode in accordance with the address discharge condition. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계는The determining of the address discharge condition 상기 비디오 데이터의 평균 휘도 레벨 값을 산출하는 단계와;Calculating an average brightness level value of the video data; 산출된 평균 휘도 레벨 값을 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰가를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And comparing the calculated average brightness level value with a reference value to determine whether the calculated average brightness level value is larger than the reference value. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 바이어스 전압을 선택적으로 상기 서스테인 전극에 공급하는 단계는Selectively supplying the bias voltage to the sustain electrode 상기 평균 휘도 레벨 값이 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압을, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압을 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And supplying a sustain voltage to the bias voltage when the average brightness level value is larger than the reference value, and supplying a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the average brightness level value is greater than the reference value. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계는The determining of the address discharge condition 패널 온도를 검출하는 단계와;Detecting the panel temperature; 검출된 패널 온도를 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰가를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And comparing the detected panel temperature with a reference value to determine whether the detected panel temperature is larger than the reference value. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 바이어스 전압을 선택적으로 상기 서스테인 전극에 공급하는 단계는Selectively supplying the bias voltage to the sustain electrode 상기 패널 온도가 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압을, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압을 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And supplying a sustain voltage to the bias voltage when the panel temperature is greater than the reference value, and supplying a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the panel temperature is greater than the reference value. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 어드레스 방전 조건을 판단하는 단계는The determining of the address discharge condition 해당 서브필드가 어드레스 조건이 취약한 특정 서브필드인지를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And determining whether the corresponding subfield is a specific subfield in which address conditions are vulnerable. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 바이어스 전압을 선택적으로 상기 서스테인 전극에 공급하는 단계는Selectively supplying the bias voltage to the sustain electrode 상기 해당 서브필드가 상기 특정 서브필드인 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압을, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압을 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 방법.And supplying a sustain voltage to the bias voltage when the corresponding subfield is the specific subfield, and supplying a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the corresponding subfield is the specific subfield. 플라즈마 디스플레이 패널과;A plasma display panel; 어드레스 기간에서 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 데이터 전극, 스캔 전극, 서스테인 전극 각각을 구동하는 데이터 구동부, 스캔 구동부, 서스테인 구동부와;A data driver, a scan driver and a sustain driver for driving the data electrode, the scan electrode and the sustain electrode of the plasma display panel in an address period; 입력된 비디오 데이터를 미리 설정된 서브 필드에 맵핑하여 상기 데이터 구동부로 공급하는 서브 필드 맴핑부와;A subfield mapping unit configured to map input video data to a preset subfield and supply the same to the data driver; 입력된 비디오 데이터로부터 평균 휘도 레벨 값을 산출하는 평균 휘도 레벨 산출부와;An average luminance level calculator for calculating an average luminance level value from the input video data; 패널의 온도를 검출하는 온도 검출부와;A temperature detector for detecting a temperature of the panel; 상기 데이터 구동부, 스캔 구동부를 제어하며, 상기 평균 휘도 레벨 값, 패널 온도, 서브 필드 중 적어도 어느 하나를 기준치와 비교하여 어드레스 조건을 판단하고, 그 어드레스 조건에 따라 바이어스 전압이 공급되도록 상기 서스테인 구동부를 제어하는 타이밍 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 장치.The data driver and the scan driver are controlled, and an address condition is determined by comparing at least one of the average luminance level value, the panel temperature, and a subfield with a reference value, and the sustain driver is configured to supply a bias voltage according to the address condition. And a timing controller for controlling the plasma display panel. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 타이밍 제어부는The timing controller 상기 평균 휘도 레벨 값을 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압이, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압이 공급되게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 장치.And comparing the average luminance level value with a reference value so that a sustain voltage is supplied as the bias voltage when the average brightness level value is larger than the reference value, and a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage is supplied as the bias voltage. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 타이밍 제어부는The timing controller 상기 패널 온도를 기준치와 비교하여 그 기준치 보다 큰 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압이, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압이 공급되게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 장치.And comparing the panel temperature with a reference value so that a sustain voltage is supplied as the bias voltage when the panel temperature is larger than the reference value, and a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the panel voltage is reversed. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 타이밍 제어부는 The timing controller 상기 서브필드가 어드레스 조건이 취약한 특정 서브필드인 경우 상기 바이어스 전압으로 서스테인 전압이, 반대인 경우 상기 서스테인 전압 보다 낮은 정극성의 바이어스 전압이 공급되게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 어드레스 장치.And the sustain voltage is supplied as the bias voltage when the subfield is a specific subfield having a weak address condition, and a bias voltage having a lower polarity than the sustain voltage when the subfield is opposite.
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