KR20050049957A - 디스플레이 검사시스템 - Google Patents

디스플레이 검사시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR20050049957A
KR20050049957A KR1020030083736A KR20030083736A KR20050049957A KR 20050049957 A KR20050049957 A KR 20050049957A KR 1020030083736 A KR1020030083736 A KR 1020030083736A KR 20030083736 A KR20030083736 A KR 20030083736A KR 20050049957 A KR20050049957 A KR 20050049957A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display
inspection system
image
reflected light
reflecting
Prior art date
Application number
KR1020030083736A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100591312B1 (ko
Inventor
정지헌
이효형
Original Assignee
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR1020030083736A priority Critical patent/KR100591312B1/ko
Publication of KR20050049957A publication Critical patent/KR20050049957A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100591312B1 publication Critical patent/KR100591312B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/42Measurement or testing during manufacture
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 TFT-LCD나 PDP등의 평판 디스플레이 검사에 필요한 작업공간을 최소화할 수 있는 디스플레이 검사시스템에 관한 것으로서, 디스플레이로 광을 조사하는 조명원과, 단일의 타원궤적을 따라 이동 가능하도록 설치되어 상기 디스플레이에서 반사된 반사광을 반사시키는 제 1반사경 및 상기 제 1반사경에서 반사된 반사광을 다시 반사시키는 제 2반사경과, 상기 제 2반사경에서 반사된 반사광이 입사되는 촬상수단을 포함하여 구성되어 조명원의 각도조절 및 제 1,2 반사경의 위치를 변경함으로써 다양한 규격의 디스플레이를 검사할 수 있을 뿐만 아니라 디스플레이의 크기에 따라 작업공간이 커지는 문제점을 해결할 수 있는 이점이 있다.

Description

디스플레이 검사시스템{Inspecting system for display panel}
본 발명은 TFT-LCD나 PDP등의 디스플레이 패널의 결함여부를 검사하는 검사시스템에 관한 것으로서, 특히 조명, 반사경 및 카메라를 사용하여 디스플레이 패널의 결함여부를 검사할수 있는 디스플레이 검사시스템에 관한 것이다.
최근에는 LCD(Liquid Crystal Display)나 PDP(Plasma Display Panel)와 같은 평판 디스플레이(Flat Panel Display; FPD)에 대한 수요가 증대되고 있고, 이들 제품의 품질 관리는 매우 중요한 이슈가 되고 있다.
따라서, 각 디스플레이 제조업체에서는 검사장치를 만들어 제조된 제품의 불량을 사전에 검사하여 시판되는 제품의 품질 수준을 향상시키기 위하여 노력하고 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 평판 디스플레이의 결함이 도시된 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, TFT-LCD의 디스플레이(4)에 TFT 패턴을 입히는 포토 공정에서는 디스플레이(4)에 이물, 노광시 생기는 마스크 불량, 공정조건 등에 따라서 얼룩결함(2)이 생성되게 된다.
이러한 얼룩결함은 사람이 목시 검사 또는 에어리어 카메라를 이용하는 검사시스템에 의해 그 검사가 가능해 진다.
도 2는 종래 기술에 따른 디스플레이 검사시스템의 일 예가 도시된 구성도이다.
종래 기술에 따른 디스플레이 검사시스템은 도 2에 도시된 바와 같이, TFT-LCD나 PDP등의 피검사체인 평판 디스플레이(4)에 광을 조사하는 조명원(6)과, 상기 디스플레이(4)에서 반사된 반사광을 촬상하는 카메라(8)와, 촬상된 화상을 획득하여 데이터화하는 화상획득부(10)와, 상기 데이터를 받아 화상처리 및 화상인식 과정을 수행하는 화상처리부(12)와, 화상처리된 데이터를 분석하여 결함을 검출하는 검출부(14)로 구성된다.
또한, 상기 디스플레이 검사시스템은 상기 디스플레이(4)를 요잉운동시키는 디스플레이 회전수단(16)과, 상기 디스플레이(4)에 광을 조사하는 조명원(6)을 이동시키는 이동수단(미도시)이 포함되어, 디스플레이(4)를 회전시키거나 조명원(6)을 이동시키면서 검사를 수행한다.
상기 디스플레이 회전수단(16)은 모터와 커넥팅 로드로 구성된 다축로봇(미도시)으로 구성될 수 있다.
한편, 최근에는 평판 디스플레이 장치의 크기가 대형화 됨에 따라 디스플레이 검사시스템의 크기도 대형화 되고 있다.
종래 기술에 따른 매크로 검사시스템은 도 3에 도시된 바와 같이, 디스플레이(4)의 크기(L3->L2->L1)가 대형화 될수록 디스플레이(4)와 카메라(8)사이의 거리(W3->W2->W1)가 멀어지게 되고, 이에 따라 검사시스템의 전체 크기가 대형화되게 된다.
즉, 종래 기술에 따른 디스플레이 검사시스템은 조명원에서 조사된 광이 디스플레이에 직진하여 입사되고 디스플레이로부터 반사된 반사광은 직진하여 카메라에 촬상되기 때문에, 디스플레이가 대형화됨에 따라서 카메라와 디스플레이 사이의 거리가 멀어지게 되고, 그에 따라 작업공간의 크기가 커지게 되어 보다 큰 검사시스템이 요구 되는 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 종래 기술에 따른 디스플레이 검사시스템의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 조명과 카메라의 각도를 조절하여 디스플레이의 크기에 관계없이 디스플레이의 결함을 검사할 수 있는 디스플레이 검사시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은 조명과 카메라의 이격거리를 축소시킬수 있는 디스플레이 검사시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템은 디스플레이로 광을 조사하는 조명원과, 단일의 타원궤적을 따라 이동가능하도록 설치되어 상기 디스플레이에서 반사된 반사광을 반사시키는 제 1반사경 및 상기 제 1반사경에서 반사된 반사광을 다시 반사시키는 제 2반사경과, 상기 제 2반사경에서 반사된 반사광이 입사되는 촬상수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템이 도시된 구성도이고, 도 5는 본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템의 광학계 구성이 확대 도시된 도면이다.
본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템은 도 4에 도시된 바와 같이, TFT-LCD나 PDP등의 피검사체인 디스플레이(60)로 광을 조사하는 조명원(70)과, 상기 디스플레이(60)에서 반사된 반사광을 순차적으로 반사시키는 제 1, 2반사경(81)(82)이 설치된 타원 광학계(80)와, 상기 제2반사경(82)에서 반사된 반사광이 입사되는 촬상수단인 카메라(98)와, 촬상된 화상을 획득하여 데이터화하는 화상획득부(100)와, 상기 데이터를 받아 화상처리 및 화상인식 과정을 수행하는 화상처리부(110)와, 화상처리된 데이터를 분석하여 결함을 검출하는 검출부(120)를 포함하여 구성된다.
상기 조명원(70)과 카메라(98)는 공지의 구동수단에 의하여 각도조절이 가능하도록 설치된다.
한편, 상기 타원광학계(80)는 상기 제1, 2반사경(81)(82)이 단일의 타원궤적을 따라 이동될 수 있도록 설치되어 있는데. 이를 도 5를 참조하여 더욱 상세하게 설명하면 다음과 같다.
동일한 타원형 궤적의 레일홈(84a)(84b)이 형성된 판체(83)와, 상기 타원형 궤적을 따라 각각 이동되도록 설치되고 상기 판체(83)로부터 전방으로 돌출되는 제 1,2 반사경(81)(82)과, 상기 반사경을 이동시키는 이동수단(90)으로 구성된다.
상기 이동수단(90)은 모터(91)와, 상기 모터(91)의 회전축에 일단이 고정된 링크부재(92)와, 상기 링크부재(92)에 회전가능하고 상기 링크부재(92)의 길이방향을 따라 이동가능토록 연결되고 상기 레일홈(84b)내부에 이동 가능토록 삽입되며 상기 제 1반사경(81)과 연결된 안내부재(93)로 구성된다.
한편, 상기 링크부재(92)의 끝단에는 상기 제 1반사경(81)이 외측으로 이탈되는 것을 방지하는 스토퍼(88)가 형성될 수 있다.
또한, 상기 안내부재(93)는 힌지축(94)으로 상기 링크부재(92)에 연결되고, 상기 힌지축(94)은 링크부재(92)에 형성된 장홈(미도시)에 끼워져 링크부재(92)의 길이방향으로 이동될 수 있도록 설치되며, 상기 제 1반사경(81)은 상기 힌지축(94)에 회전가능토록 연결된다.
또한, 상기 제 1반사경(81)의 저면에는 안내구(81a)가 연결되고, 상기 안내구(81a)는 상기 레일홈(84b)에 이동가능토록 삽입된다.
따라서, 모터(91)가 구동되면 링크부재(92)가 회전되고, 링크부재(92)가 회전되면 안내부재(93)가 링크부재(92)의 길이방향으로 이동되면서 레일홈(84b)을 따라 상하로 이동된다. 안내부재(93)가 상하로 이동되면 상기 판체(83)의 전방으로 돌출된 제 1반사경(81)도 상기 레일홈(84b)이 이루는 타원형 궤적을 따라 이동되는데, 이때 안내구(81a)가 레일홈(84b)에 안내되어 이동되기 때문에 상기 제 1반사경(81)은 타원형 궤적과 같은 경사각도를 유지하게 된다.
상기 제 2반사경(82)의 이동수단은 상기 제 1반사경(81)의 이동수단(90)과 동일하므로 여기서는 설명을 생략한다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 따른 디스플레이 검사시스템의 동작을 설명하면 다음과 같다.
조명원(70)의 각도를 조절하여 디스플레이(60)에 광을 조사시키면서, 상기 이동수단(90)을 작동시켜 상기 디스플레이(60)로부터 반사된 빛이 제 1, 2반사경(81)(82)에 순차적으로 입사되어 반사되도록 제 1, 2반사경(81)(82)을 타원형 궤적에 따라 이동시키고, 제 2반사경(82)로부터 반사된 빛이 카메라(98)로 입사되도록 카메라(98)의 각도를 조절하면, 상기 디스플레이(60)로부터 반사된 빛이 카메라(98)에 입사되어 촬상된다. 상기 카메라(98)에서 촬상된 화상은 화상획득부(100)에서 데이터화되고, 상기 데이터는 화상처리부(110)에서 화상처리 및 화상인식과정이 수행된 다음, 검출부(12)에 의해 디스플레이(60)의 결함이 검출되게 된다.
본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템은 조명원과 카메라의 각도 조절과 단일의 타원형 궤적을 따라 제 1, 2반사경이 이동되도록 함으로써, 다양한 규격의 디스플레이의 결함을 검사할 수 있음과 아울러 검사시스템의 조명원과 카메라의 거리를 단축시켜 시스템의 크기를 축소시킬수 있는 이점이 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 평판 디스플레이의 결함이 도시된 도면,
도 2는 종래 기술에 따른 디스플레이 검사시스템의 일 예가 도시된 구성도,
도 3은 종래 기술에 따른 디스플레이 검사시스템의 다른 예가 도시된 구성도,
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템이 도시된 구성도,
도 5는 본 발명에 따른 디스플레이 검사시스템의 광학계 구성이 확대 도시된 도면이다.
<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명>
60 : 디스플레이 70 : 조명원
80 : 타원광학계 81 : 제 1반사경
82 : 제 2반사경 83 : 판체
84a,84b: 레일홈 90 : 이동수단
91 : 모터 93 : 안내부재
94 : 힌지축 98 : 카메라
100: 화상획득부 110: 화상처리부
120: 검출부

Claims (6)

  1. 디스플레이로 광을 조사하는 조명원과;
    단일의 타원형궤적을 따라 이동 가능하도록 설치되어 상기 디스플레이에서 반사된 반사광을 반사시키는 제 1반사경 및 상기 제 1반사경에서 반사된 반사광을 다시 반사시키는 제 2반사경과, 상기 제 2반사경에서 반사된 반사광이 입사되는 촬상수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 디스플레이 검사시스템은 상기 촬상수단에 의하여 촬상된 화면을 데이터화하여 화상을 획득하는 화상획득부와, 상기 데이터를 입력받아 화상처리 및 화상인식과정을 수행하는 화상처리부와, 화상처리된 데이터를 분석하여 결함여부를 검출하는 검출부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사시스템.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 조명원 및 촬상수단은 각각 각도조절이 가능토록 설치된 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사시스템.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1, 2반사경은 타원형 궤적의 레일홈이 형성된 판체의 전방으로 돌출되게 설치되고, 상기 제 1, 2 반사경을 상기 타원형궤적에 따라 이동시키는 이동수단이 포함되어 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사시스템.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 이동수단은 모터와, 모터의 회전축에 일단이 고정된 링크부재와, 상기 링크부재에 연결되어 상기 레일을 따라 이동가능하게 설치되고 상기 제 1, 2반사경의 적어도 어느 하나에 연결된 안내부재로 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사시스템.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 촬상수단은 반사광을 입사받아 상기 디스플레이의 이미지를 촬상하는 라인카메라인 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사시스템.
KR1020030083736A 2003-11-24 2003-11-24 디스플레이 검사장치 KR100591312B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030083736A KR100591312B1 (ko) 2003-11-24 2003-11-24 디스플레이 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030083736A KR100591312B1 (ko) 2003-11-24 2003-11-24 디스플레이 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20050049957A true KR20050049957A (ko) 2005-05-27
KR100591312B1 KR100591312B1 (ko) 2006-06-19

Family

ID=38665575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030083736A KR100591312B1 (ko) 2003-11-24 2003-11-24 디스플레이 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100591312B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101246690B1 (ko) * 2012-11-02 2013-03-25 주식회사 씨이텍 반도체 패키징 제품의 열적 변화 검사장치
KR101379817B1 (ko) * 2009-07-07 2014-04-01 엘지디스플레이 주식회사 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101379817B1 (ko) * 2009-07-07 2014-04-01 엘지디스플레이 주식회사 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치
KR101246690B1 (ko) * 2012-11-02 2013-03-25 주식회사 씨이텍 반도체 패키징 제품의 열적 변화 검사장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR100591312B1 (ko) 2006-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5166290B2 (ja) ステントの内径部を照明および撮像する方法
US7505124B2 (en) Automated inspection system and method
US6362884B1 (en) Apparatus for inspecting a substrate
JP5144401B2 (ja) ウエハ用検査装置
JPH11271038A (ja) 塗装欠陥検査装置
WO2020152865A1 (ja) 画像検査装置
JPH10111253A (ja) 基板検査装置
KR20160121716A (ko) 하이브리드 조명 기반 표면 검사 장치
JPH1062354A (ja) 透明板の欠陥検査装置及び欠陥検査方法
KR100424292B1 (ko) 검사 장비
JP4761245B2 (ja) 壜胴部の欠陥検査装置
KR100591312B1 (ko) 디스플레이 검사장치
KR100370608B1 (ko) 화상 포착 장치
WO2020152866A1 (ja) 画像検査装置
JP2002131238A (ja) 外観検査装置
JP2019194569A (ja) 自動光学検査のための光学系
KR20110119082A (ko) 기판검사장치 및 기판검사방법
JP2007033240A (ja) 板状体の欠陥検出方法及び欠陥検出装置
US9488519B2 (en) Measuring instrument using light beam
JP3054227B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JP2004309262A (ja) シール材塗布検査装置
KR100207654B1 (ko) 음극선관 패널 결함 검사장치
KR20180075138A (ko) 검사장비용 동축 조명장치
JPH0792101A (ja) 表面検査装置
JP4808162B2 (ja) 基板検査装置及び基板検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee