KR20050037773A - Stamper-manufacturing method for imprint lithography - Google Patents
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Abstract
공정 시간과 비용을 최소화할 수 있는 임프린트 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법이 개시된다.Disclosed is a method for manufacturing a stamper for imprint lithography that can minimize process time and cost.
본 발명의 임프린트 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법은, 대면적 스탬퍼용 기판 상에 박막과 폴리머를 형성한 후, 미리 구비된 복수의 작은 면적 스탬퍼를 바탕으로 열경화 방식 또는 자외선 경화 방식을 이용하여 폴리머를 패턴한다. 이어서, 패턴된 폴리머를 식각 마스크로 이용하여 박막을 패턴한 다음, 패턴된 폴리머를 제거하여 대면적 스탬퍼를 제조할 수 있다.In the method of manufacturing a stamper for imprint lithography of the present invention, after forming a thin film and a polymer on a large area stamper substrate, the polymer is patterned using a thermosetting method or an ultraviolet curing method based on a plurality of small area stampers provided in advance. do. Subsequently, the thin film is patterned using the patterned polymer as an etch mask, and then the patterned polymer is removed to prepare a large area stamper.
이와 같이 제조된 대면적 스탬퍼를 이용하여 한번에 대면적의 나노 소자 패턴을 형성함으로써, 공정 시간과 비용을 획기적으로 단축시킬 수 있다.By using the large area stamper manufactured as described above to form a large area nanodevice pattern at a time, the process time and cost can be significantly shortened.
Description
본 발명은 임프린트 리소그라피에 관한 것으로서, 특히 대면적을 갖는 스탬퍼를 제조하기 위한 방법에 관한 것이다.FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to imprint lithography, and more particularly to a method for producing a stamper having a large area.
나노기술은(NT : Nano Technology)은 정보기술(IT : Information Technology) 및 생명공학기술(BT : Bio Technology)과 더불어 21세기 산업 발전을 주도할 새로운 패러다임의 기술로서 주목받고 있다.Nano Technology (NT) is attracting attention as a new paradigm that will lead industrial development in the 21st century along with Information Technology (IT) and Bio Technology (BT).
상기 나노기술은 물리학, 화학, 생물학, 전자공학 및 재료공학 등 여러 과학기술 분야가 융합되어, 기존 기술의 한계를 극복하고, 다양한 산업 분야에 기술 혁신을 줌으로써, 인류의 삶의 질을 획기적으로 향상시킬 것으로 기대되고 있다.The nanotechnology is a fusion of several scientific and technological fields, such as physics, chemistry, biology, electronics and materials engineering, overcoming the limitations of existing technologies and innovating technology in various industries to dramatically improve the quality of human life. It is expected to be.
나노기술은 접근 방법에 따라, 크게 위로부터 아래로의 접근(Top=down) 방식과 아래로부터 위로의 접근(Bottom-up) 방식으로 나누어질 수 있다. 위로부터 아래로의 접근 방식은 지난 수십여년 동안 발전되어온 반도체 직접 소자의 역사에서 볼 수 있듯이, 기존의 미세 구조 제작 기술을 나노미터 스케일까지 더욱 발전시켜 정보 저장 용량 및 정보 처리 속도의 증대를 지속하고자 하는 기술이다. 이에 반해, 아래로부터 위로의 접근 방식은 물질을 원자 혹은 분자 단위 수준에서 제어하거나 자발적인 나노 구조 형성 현상을 이용하여 기존의 기술로는 불가능한 새로운 물리적, 화학적 성질을 유도하고 이를 이용하여 새로운 소재 및 소자를 제작하도록 하는 기술이다.Nanotechnology can be divided into top-down and bottom-up approaches, depending on the approach. The approach from top to bottom, as evidenced by the history of semiconductor direct devices that have evolved over the last few decades, seeks to further advance existing microstructure fabrication techniques down to the nanometer scale to continue increasing information storage capacity and information processing speed. It is a technique to do. In contrast, the approach from bottom to top controls materials at the atomic or molecular level, or uses spontaneous nanostructure formation to induce new physical and chemical properties that would not be possible with existing technologies, and use them to create new materials and devices. It is a technique to make.
위로부터 아래로의 접근 방식의 대표적인 예로는, 기존의 반도체 소자 제조 공정에 사용되고 있는 광학 리소그라피(Optical Lithography) 기술을 들 수 있다. 정보 기술 혁명으로 일컬어지는 20세기의 기술 발전은 반도체 소자의 소형화 및 직접화에 크게 의존해 왔으며, 이러한 반도체 소자 제조 공정의 핵심 기술이 바로 광학 리소그라피 기술이다. 현재 광학 리소그라피의 광원은 최소 선폭이 130nm인 불화크립톤(KrF) 레이저로부터 고해상도의 불화아르곤(ArF) 레이저로 이행되고 있다. 하지만, 불화아르곤 레이저에 의한 제조되는 반도체 소자의 최소 선폭은 100nm인데 반해, 향후 2003년에 90nm, 2005년에 65nm, 2007년에 45nm의 최소 선폭이 요구될 것으로 예측되고 있다. Representative examples of the approach from top to bottom include optical lithography techniques used in existing semiconductor device manufacturing processes. The technological developments of the 20th century, called the information technology revolution, have relied heavily on the miniaturization and directization of semiconductor devices, and the optical lithography technology is the core technology of the semiconductor device manufacturing process. Currently, light source of optical lithography is moving from krypton fluoride (KrF) laser with minimum line width to argon fluoride (ArF) laser of high resolution. However, the minimum line width of a semiconductor device manufactured by argon fluoride laser is 100 nm, but it is expected that a minimum line width of 90 nm in 2003, 65 nm in 2005, and 45 nm in 2007 will be required.
이러한 상황에서 초미세 기술로서 기대되고 있는 것은 F2 레이저 리소그라피, 극자외선 리소그라피, 전자빔 투영 리소그라피, X-선 리소그라피 등이다. 이들 리소그라피 기술들은 40nm에서 70nm까지의 패턴 제작에는 적용될 수 있지만, 점차 미세화가 진행됨에 따라 노광 장비 자체의 초기 투자 비용의 지수함수적 증가와 더불어, 사용되는 빛의 파장과 같은 정도의 해상도를 갖는 마스크의 가격도 급등하게 되는 등 여러 가지 문제들을 내포하고 있다. 다시 말해, 기존의 리소그라피 기술들은 나노미터 영역까지 연장해 가는 기술 개발의 어려움과 더불어 이러한 기술이 과연 경제적 효용성을 갖고 있느냐에 커다란 의문을 불러일으키고 있다.In such a situation, it is expected that ultrafine technologies are F2 laser lithography, extreme ultraviolet lithography, electron beam projection lithography, and X-ray lithography. These lithography techniques can be applied to pattern fabrication from 40nm to 70nm, but as micronization progresses, the mask has the same resolution as the wavelength of light used, with an exponential increase in the initial investment of the exposure equipment itself. There are a number of problems, including the surge in prices. In other words, the existing lithography technologies raise the question of whether the technology has economic utility along with the difficulty of developing technology that extends to the nanometer range.
이러한 상황에서 대두된 것이 나노 임프린트(nano imprint) 기술이다. 나노 임프린트 기술은 1990년대 중반 미국의 스테판 츄(Stephen Y. Chou) 교수에 의해 도입된 나노 소자 제작 방법으로서, 낮은 생산성을 갖는 전자빔 리소그라피나 고가의 광학 리소그라피를 대신할 기술로 주목받고 있다.What emerges in this situation is nano imprint technology. Nanoimprint technology is a nanodevice fabrication method introduced by Professor Stephen Y. Chou of the United States in the mid-1990s, attracting attention as an alternative to low-productivity electron beam lithography or expensive optical lithography.
나노 임프린트 기술은 컴팩트 디스크(CD)와 같은 마이크로 스케일의 패턴을 갖는 고분자 소재 제품의 대량 생산에 사용되는 엠보싱(embossing) 기술을 리소그라피에 적용한 것이다. 나노 임프린트의 핵심은 전자빔 리소그라피나 다른 방법을 이용하여 나노스케일의 구조를 갖는 스탬퍼(stamper)(또는 몰드)를 제조하고, 제작된 스탬퍼를 고분자 박막에 임프린트하여 나노스케일의 구조를 전사하고, 이를 반복 사용함으로써 전자빔 리소그라피의 생산성 문제를 극복하는 것이다.Nanoimprint technology is an embossing technique for lithography that is used for mass production of polymer material products with microscale patterns such as compact discs (CD). The core of nanoimprint is to produce a stamper (or mold) having a nanoscale structure by using electron beam lithography or other methods, and to imprint the structure of the nanoscale by imprinting the fabricated stamper on a polymer thin film and repeating the same. By overcoming the problem of productivity of electron beam lithography.
도 1(a) 내지 도 1(d) 및 도 2(a) 내지 도 2(d)는 두 가지 방식의 나노 임프린트 공정을 간략히 설명한 도면이다. 즉, 도 1(a) 내지 도 1(d)은 열경화 방식을 이용한 나노 임프린트 공정을 나타낸 도면이고, 도 2(a) 내지 도 2(d)는 자외선 경화 방식을 이용한 나노 임프린트 공정을 나타낸 도면이다.1 (a) to 1 (d) and 2 (a) to 2 (d) briefly illustrate two types of nano imprint processes. That is, FIGS. 1 (a) to 1 (d) show a nano imprint process using a thermosetting method, and FIGS. 2 (a) to 2 (d) show a nano imprint process using a UV curing method. to be.
도 1(a)에 나타낸 바와 같이, 열경화 방식인 경우, 실리콘과 같은 기판(111)에 고분자 박막(113)이 스핀 코팅에 의해 형성된다. 이때, 미리 제작된 스탬퍼(115)(또는 몰드)를 기판(111)에 평행하게 위치시키고, 고분자 박막(113)의 유리 전이 온도까지 가열시킨다.As shown in FIG. 1A, in the thermosetting method, a polymer thin film 113 is formed on a substrate 111 such as silicon by spin coating. At this time, the stamper 115 (or mold) prepared in advance is positioned in parallel to the substrate 111 and heated to the glass transition temperature of the polymer thin film 113.
이어서, 스탬퍼(115)를 고분자 박막(113)과 물리적 접촉을 시킨 다음 압력을 가한 후 온도를 낮춘다(도 1(b)).Subsequently, the stamper 115 is brought into physical contact with the polymer thin film 113, and then the pressure is lowered (FIG. 1B).
도 1(c)에 나타낸 바와 같이, 온도가 유리 전이 온도 이하가 되면, 스탬퍼(115)를 고분자 박막(113)으로부터 분리시킨다(c).As shown in Fig. 1 (c), when the temperature is below the glass transition temperature, the stamper 115 is separated from the polymer thin film 113 (c).
그리고, 잔류 고분자를 제거하게 되면, 기판(111) 상의 고분자 박막(113)에 소정의 패턴이 형성되게 된다(도 1(d)).When the residual polymer is removed, a predetermined pattern is formed on the polymer thin film 113 on the substrate 111 (FIG. 1 (d)).
한편, 도 2(a)에 나타낸 바와 같이, 자외선 경화 방식의 경우, 실리콘과 같은 기판(121)에 고분자 박막(123)이 스핀 코팅에 의해 형성되고, 고분자 박막(123) 상에 광 경화 액체 물질(125)이 올려진다.On the other hand, as shown in Figure 2 (a), in the ultraviolet curing method, the polymer thin film 123 is formed on the substrate 121, such as silicon by spin coating, the photocurable liquid material on the polymer thin film 123 125 is raised.
이때, 미리 제작된 스탬퍼(127)를 상기 광 경화 액체 물질(125)에 접촉되게 하면서 자외선(UV)을 조사하고, 이에 따라 액체 물질이 경화되면서, 스탬퍼(127)의 패턴이 경화된 액체(125)에 임프린트되게 된다(도 2(b)). 여기서, 상기 스탬퍼(127)에는 경화된 액체(125)와의 분리를 용이하게 하기 위한 물질이 코팅될 수 있다.At this time, ultraviolet rays (UV) are irradiated while bringing the pre-made stamper 127 into contact with the photocurable liquid material 125, and as a result, the liquid material is cured, and the pattern of the stamper 127 is cured. Is imprinted (FIG. 2 (b)). Here, the stamper 127 may be coated with a material to facilitate separation from the cured liquid 125.
다음에 , 도 2(c)에 나타낸 바와 같이, 임프린트된 스탬퍼(127)를 경화된 액체 물질(125)로부터 분리한다. 따라서, 고분자 박막(123) 상의 경화된 액체 물질(125)에 패턴이 형성되게 된다.Next, as shown in FIG. 2C, the imprinted stamper 127 is separated from the cured liquid material 125. Thus, a pattern is formed on the cured liquid material 125 on the polymer thin film 123.
이때, 상기 경화된 액체 물질(125)에 의한 패턴을 마스크로 사용하여 노광을 하여 고분자 박막(123)을 식각한 다음, 경화된 물질(125)을 제거함으로써, 기판(121) 상에 고분자 박막(123) 패턴이 형성되게 된다(도 2(d)).In this case, the polymer thin film 123 is etched by using the pattern of the cured liquid material 125 as a mask for exposure, and then the cured material 125 is removed to remove the cured material 125 on the substrate 121. 123) a pattern is formed (FIG. 2 (d)).
여기서, 자외선 경화 방식을 이용한 임프린트 리소그라피 기술은 높은 온도와 압력을 필요로 하지 않기 때문에 최근에 많은 연구가 진행되고 있다.Here, since the imprint lithography technique using the ultraviolet curing method does not require high temperature and pressure, a lot of research has recently been conducted.
최근에는 임프린트 관련 장치 기술의 발달에 힘입어, 작은 면적의 스탬퍼를 제작하고, 웨이퍼의 일부분에 임프린트 공정을 수행하고, 스탬퍼의 위치를 이동시키면서 반복 임프린트 공정을 수행하는 스텝 반복(Step-and-repeat) 방식에 대한 연구가 활발하다. 특히 자외선 경화방식을 이용한 스텝 반복 임프린트 기술이 현재까지 가장 좋은 기술로 평가받고 있다.Recently, thanks to the development of imprint-related device technology, step-and-repeat is performed to produce a small area stamper, perform an imprint process on a portion of the wafer, and perform an iterative imprint process while moving the position of the stamper. There is a lot of research into the method. In particular, the step repetitive imprint technology using the ultraviolet curing method has been evaluated as the best technology to date.
도 3(a) 내지 도 3(d)은 종래의 자외선 경화방식을 이용한 스텝 반복 임프린트 리소그라피 공정을 간략히 설명한 도면이다.3 (a) to 3 (d) are views for briefly explaining a step repetitive imprint lithography process using a conventional ultraviolet curing method.
고분자 박막(133)이 형성된 기판(131) 상의 일부분에 미리 제작된 작은 면적의 스탬퍼(135)를 얼라인(align)시킨다(도 3(a)).A small area stamper 135 prepared in advance is aligned on a portion of the substrate 131 on which the polymer thin film 133 is formed (FIG. 3A).
다음에, 자외선(UV)을 조사하면서 작은 면적의 스탬퍼(135)를 상기 고분자 박막(133)에 임프린트시킨다(도 3(b)).Next, a small area stamper 135 is imprinted onto the polymer thin film 133 while irradiating ultraviolet (UV) light (FIG. 3B).
이어서, 작은 면적의 스탬퍼(135)를 고분자 박막(133)으로부터 분리한 다음, 기판(131)을 일정 거리 전진 이동시킨다(도 3(c)).Subsequently, the small area stamper 135 is separated from the polymer thin film 133, and then the substrate 131 is moved forward by a predetermined distance (FIG. 3C).
다음에, 도 3(d)에 나타낸 바와 같이, 다시 작은 면적의 스탬퍼(135)를 얼라인시킨 다음 임프린트하는 공정을 반복 수행한다. 이와 같은 과정은 기판(131) 상의 모든 영역에 걸쳐서 반복적으로 수행되게 된다.Next, as shown in FIG. 3 (d), the process of aligning and then imprinting the stamper 135 having a small area again is repeated. This process is repeatedly performed over all the regions on the substrate 131.
이때, 스탬퍼의 크기는 한번에 인쇄할 수 있는 면적을 결정하며, 나노 임프린트의 생산성을 결정하는 중요한 요인이 되고 있다. At this time, the size of the stamper determines the area that can be printed at a time, and has become an important factor in determining the productivity of the nanoimprint.
하지만, 종래와 같은 스텝 반복 임프린트 기술은 작은 스탬퍼로 임프린트할 때마다 반복적으로 기판을 이동시키게 되므로, 하나의 전체 기판을 대상으로 패턴을 형성하기 위해 기판을 이동시킬 때마다 얼라인과 자외선 조사 및 임프린트 과정을 반복적으로 수행하게 됨으로써, 많은 시간과 비용이 발생되게 되는 문제점이 있다.However, the conventional step repetitive imprint technique repeatedly moves a substrate every time an imprint is performed with a small stamper, so that every time the substrate is moved to form a pattern for one entire substrate, alignment and ultraviolet irradiation and imprint are performed. By repeating the process, there is a problem that a lot of time and costs are generated.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 임프린트 리소그라피에서 공정 비용과 시간을 줄일 수 있는 스탬퍼 제조 방법을 제공함에 그 목적이 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a stamper manufacturing method that can reduce the process cost and time in the imprint lithography to solve the above problems.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따르면, 임프린트 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법은, 기판 상에 박막과 폴리머를 연속하여 형성하는 단계; 미리 구비된 복수의 작은 면적 스탬퍼를 바탕으로 열경화 방식을 이용하여 상기 폴리머에 패턴을 형성하는 단계; 상기 패턴된 폴리머를 식각마스크로 이용하여 상기 박막을 식각하는 단계; 및 상기 패턴된 폴리머를 제거하여 대면적 스탬퍼를 완성하는 단계를 포함한다.According to a preferred embodiment of the present invention for achieving the above object, a method for manufacturing a stamper for imprint lithography, comprising the steps of continuously forming a thin film and a polymer on a substrate; Forming a pattern on the polymer using a thermosetting method based on a plurality of small area stampers provided in advance; Etching the thin film using the patterned polymer as an etching mask; And removing the patterned polymer to complete a large area stamper.
본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따르면, 임프린트용 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법은, 기판 상에 박막과 폴리머를 연속하여 형성하는 단계; 미리 구비된 복수의 작은 면적 스탬퍼를 바탕으로 자외선 경화 방식을 이용하여 상기 폴리머에 패턴을 형성하는 단계; 상기 패턴된 폴리머를 식각마스크로 이용하여 상기 박막을 식각하는 단계; 및 상기 패턴된 폴리머를 제거하여 대면적 스탬퍼를 완성하는 단계를 포함한다.According to another preferred embodiment of the present invention, a method for manufacturing a stamper for lithography for imprint comprises the steps of: continuously forming a thin film and a polymer on a substrate; Forming a pattern on the polymer using an ultraviolet curing method based on a plurality of small area stampers provided in advance; Etching the thin film using the patterned polymer as an etching mask; And removing the patterned polymer to complete a large area stamper.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 임프린트 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법을 상세히 설명한다.Hereinafter, a method for manufacturing a stamper for imprint lithography according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 임프린트 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에 관한 것으로서, 특히 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a stamper for imprint lithography, and more particularly to a method for manufacturing a large area stamper.
도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 임프린트 리소그라피용 스탬퍼를 제조하는 방법을 간략히 나타낸 순서도이다.Figure 4 is a flow chart briefly showing a method of manufacturing a stamper for imprint lithography according to an embodiment of the present invention.
도 4에 나타낸 바와 같이, 본 발명은 작은 면적 스탬퍼를 대면적 크기만큼 복수개 제조하는 과정(S 10)과, 제조된 복수의 작은 면적 스탬퍼를 이용하여 대면적 스탬퍼를 제조하는 과정(S 20)으로 이루어진다.As shown in FIG. 4, the present invention provides a process of manufacturing a plurality of small area stampers by a large area size (S 10), and a process of manufacturing a large area stamper using the manufactured small area stampers (S 20). Is done.
먼저, 작은 면적 스탬퍼를 제조하는 방법을 도 5를 참조하여 설명한다.First, a method of manufacturing a small area stamper will be described with reference to FIG.
도 5(a) 내지 도 5(d)는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에서 작은 면적 스탬퍼를 제조하는 공정을 개략적으로 나타낸 도면이다.5 (a) to 5 (d) is a view schematically showing a process for manufacturing a small area stamper in a method for manufacturing a stamper for lithography according to an embodiment of the present invention.
먼저, 작은 일정 크기를 갖는 작은 면적 스탬퍼(31) 상에 감광성 폴리머(33)를 코팅한다(도 5(a)).First, the photosensitive polymer 33 is coated on a small area stamper 31 having a small constant size (Fig. 5 (a)).
이때, 작은 면적 스탬퍼(31) 재질로는 실리콘(Si). SiO2, 쿼츠 클래스(quartz glass), 니켈(Ni), 플래티늄(Pt), 크롬(Cr), 고분자 재료 등이 사용될 수 있다. 여기서, 앞서 설명한 물질들은 열경화 방식의 임프린트 리소그라피에 이용될 수 있다. 또한, 쿼크 글래스나 투명 고분자 재료는 자외선 경화 방식에 이용될 수 있다.At this time, the small area stamper 31 is made of silicon (Si). SiO 2 , quartz glass, nickel (Ni), platinum (Pt), chromium (Cr), polymer materials, and the like may be used. Here, the materials described above may be used for thermosetting imprint lithography. In addition, quark glass or a transparent polymer material can be used in the ultraviolet curing method.
감광성 폴리머(33)가 코팅된 작은 면적 스탬퍼(31)를 대상으로 전자빔 리소그라피, 레이저 리소그라피, 반도체 노광 장비 등을 이용하여 감광성 폴리머(33)를 패터닝한다(도 5(b)).The photosensitive polymer 33 is patterned on the small area stamper 31 coated with the photosensitive polymer 33 by using electron beam lithography, laser lithography, semiconductor exposure equipment, or the like (FIG. 5B).
이어서, 패턴된 감광성 폴리머(33)를 식각 마스크로 사용하여 상기 작은 면적 스탬퍼(31)를 건식(dry) 또는 습식(wet) 식각(etching)을 통해 식각한다(도 5(c)). Subsequently, the small area stamper 31 is etched through dry or wet etching using the patterned photosensitive polymer 33 as an etching mask (FIG. 5C).
이와 같이, 상기 작은 면적 스탬퍼(31)가 일정 깊이로 식각되면, 상기 감광성 폴리머(33)를 제거한다(도 5(d)). 이에 따라 상기 작은 면적 스탬퍼(31) 상에는 일정 미세 선폭을 갖는 패턴이 형성되게 된다. 이때, 상기 작은 면적 스탬퍼(31) 표면에는 임프린트 공정시 폴리머와의 분리를 용이하게 하기 위해 실란(silane)기가 함유된 약품을 이용하여 표면 처리될 수 있다.As such, when the small area stamper 31 is etched to a certain depth, the photosensitive polymer 33 is removed (FIG. 5 (d)). Accordingly, a pattern having a predetermined fine line width is formed on the small area stamper 31. In this case, the surface of the small area stamper 31 may be surface treated using a chemical agent containing a silane group to facilitate separation from the polymer during the imprint process.
이와 같이 패턴된 작은 면적 스탬퍼(31)는 소망하는 대면적 크기만큼 복수개가 제조될 수 있다. A plurality of small area stampers 31 patterned in this manner can be manufactured by a desired large area size.
이와 같이, 대면적 스탬퍼를 제조하기 위한 작은 면적 스탬퍼들이 모두 제조되게 되면, 이러한 복수의 작은 면적 스탬퍼들을 이용하여 대면적 스탬퍼를 제조하게 된다.As such, when all of the small area stampers for manufacturing the large area stamper are manufactured, the large area stamper is manufactured using the plurality of small area stampers.
이러한 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법에는 크게 열경화 방식 또는 자외선 경화 방식 중 어느 것을 이용하여서도 제조될 수 있다.The method for manufacturing such a large area stamper can be largely manufactured using either a thermosetting method or an ultraviolet curing method.
먼저, 열경화 방식을 이용하여 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법을 설명한다.First, a method of manufacturing a large area stamper using a thermosetting method will be described.
도 6(a) 내지 도 6(h)은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에서 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법을 나타낸 도면이다.6 (a) to 6 (h) is a view showing a method for manufacturing a large area stamper in a method for manufacturing a stamper for lithography according to an embodiment of the present invention.
먼저, 양면이 연마된 대면적 스탬퍼용 기판(41)이 마련된다(도 6(a)).First, a large area stamper substrate 41 having both surfaces polished is provided (Fig. 6 (a)).
이어서, 상기 기판(41) 상에 박막(43)을 증착시킨다(도 6(b)). 이때, 박막(43)은 금속 또는 비금속이 모두 사용될 수 있는데, 이는 상기 기판(41) 재질과 일치시키는 것이 바람직하다. 예를 들어, 기판(41)이 금속인 경우에는 박막(43)도 금속 재질로 증착시키고, 기판(41)이 비금속인 경우에는 박막(43)도 비금속 재질로 증착시킬 수 있다. 이때, 박막(43)이 금속인 경우에는 알루미늄(Al), 은(Ag), 크롬(Cr) 등이 사용될 수 있다. Subsequently, a thin film 43 is deposited on the substrate 41 (FIG. 6B). In this case, both the metal and the nonmetal may be used for the thin film 43, which is preferably matched with the material of the substrate 41. For example, when the substrate 41 is a metal, the thin film 43 may also be deposited by a metal material. When the substrate 41 is a non-metal material, the thin film 43 may also be deposited by a non-metal material. In this case, when the thin film 43 is a metal, aluminum (Al), silver (Ag), chromium (Cr), or the like may be used.
다음에, 증착된 박막(43) 상에 폴리머(45)를 코팅한 다음, 미리 구비된 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)를 상기 코팅된 폴리머(45) 상에 정렬시키고, 이어서 정렬된 복수의 작은 면적 스탬퍼(47) 위로 호일(49)을 덮는다(도 6(c)). 이때, 상기 호일(49)의 크기는 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼를 포함할 수 있어야 한다.Next, the polymer 45 is coated on the deposited thin film 43, and then a plurality of pre-equipped small area stampers 47 are aligned on the coated polymer 45, and then the plurality of aligned small The foil 49 is covered over the area stamper 47 (FIG. 6C). At this time, the size of the foil 49 should be able to include the plurality of small area stamper.
이어서, 상기 기판(41)을 상기 코팅된 폴리머(45)의 유리 전이온도 이상으로 가열하여 상기 코팅된 폴리머(45)를 경화시키면서, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)에 기체 압력을 가해 상기 폴리머(45)를 임프린트시킨다(도 6(d)). 이때, 상기 기체 압력에 의해 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(47) 위에 덮혀진 호일(49)은 변형이 되면서 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)를 감싸게 되어 균일한 압력으로 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)를 눌러주게 되고, 이에 따라 폴리머(45)가 균일한 압력을 받도록 한다. 이와 같이 호일(49)을 구비하는 것은 상기 기판(41) 상에 정렬된 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)가 서로 다른 평면도를 가지게 되므로, 이와 같이 서로 다른 평면도를 갖는 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)에 기체 압력이 인가될 때, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)가 상기 폴리머(45)를 눌러주는 정도가 서로 상이하게 되는 것을 방지하기 위한 것이다. 즉, 호일(49)에 기체 압력이 가해지면, 상기 호일(49)이 각 작은 면적 스탬퍼(47)를 감싸안게 되어 각 작은 면적 스탬퍼(47)가 균일한 압력으로 상기 폴리머(45)를 눌러주게 되므로, 상기 폴리머(45)는 균일한 압력을 받게 되어 균일한 패턴이 형성될 수 있게 된다.Subsequently, the substrate 41 is heated above the glass transition temperature of the coated polymer 45 to cure the coated polymer 45 while applying gas pressure to the plurality of small area stampers 47 to give the polymer. Imprinted at 45 (Fig. 6 (d)). At this time, the foil 49 covered on the plurality of small area stampers 47 by the gas pressure is deformed and encloses the plurality of small area stampers 47 so that the plurality of small area stampers at a uniform pressure ( 47), thereby allowing the polymer 45 to be subjected to a uniform pressure. The foil 49 is provided with a plurality of small area stampers 47 arranged on the substrate 41 to have different plan views, and thus, a plurality of small area stampers 47 having different plan views. When the gas pressure is applied, the degree to which the plurality of small area stampers 47 presses the polymer 45 is different from each other. That is, when gas pressure is applied to the foil 49, the foil 49 is wrapped around each small area stamper 47 so that each small area stamper 47 presses the polymer 45 at a uniform pressure. Therefore, the polymer 45 is subjected to a uniform pressure to form a uniform pattern.
다음에, 상기 기판(41)을 일정 온도 이하로 냉각시킨 다음, 임프린트된 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)를 상기 폴리머(45)로부터 분리함으로써, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(47)의 모양이 전사된 폴리머(45) 패턴이 형성되게 된다(도 6(e)).Next, the substrate 41 is cooled to a temperature below a predetermined temperature, and then the imprinted plurality of small area stampers 47 are separated from the polymer 45 so that the shape of the plurality of small area stampers 47 is transferred. The polymer 45 pattern is formed (FIG. 6 (e)).
이어서, 상기 패턴된 폴리머(45)를 대상으로 상기 박막(43)이 노출될 때까지 건식 식각을 하여 잔류하는 폴리머를 제거한다(도 6(f)).Subsequently, dry etching is performed on the patterned polymer 45 until the thin film 43 is exposed to remove the remaining polymer (FIG. 6 (f)).
이와 같이, 잔류하는 폴리머가 제거되면, 폴리머(45) 패턴을 식각 마스크로 사용하여 상기 기판(41)이 노출될 때까지 상기 박막(43)을 식각한다(도 6(g)).As such, when the remaining polymer is removed, the thin film 43 is etched using the polymer 45 pattern as an etching mask until the substrate 41 is exposed (Fig. 6 (g)).
그리고, 마지막으로 상기 박막(43) 위에 남아있는 상기 패턴된 폴리머(45)를 제거함으로써, 대면적 스탬퍼(40)가 완성되게 된다(도 6(h)).And finally, by removing the patterned polymer 45 remaining on the thin film 43, the large area stamper 40 is completed (Fig. 6 (h)).
도 7(a) 내지 도 7(h)은 본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에서 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법을 나타낸 도면이다.7 (a) to 7 (h) is a view showing a method for manufacturing a large area stamper in a method for manufacturing a stamper for lithography according to another preferred embodiment of the present invention.
먼저, 양면이 연마된 대면적 스탬퍼용 기판(51)이 마련된다(도 7(a)).First, a large area stamper substrate 51 having both surfaces polished is provided (Fig. 7 (a)).
이어서, 상기 기판(51) 상에 박막(53)을 증착시킨다(도 7(b)). 이때, 박막(53)은 금속 또는 비금속이 모두 사용될 수 있고, 상기 기판(51) 재질과 일치시키는 것이 바람직하다. 예를 들어, 기판(51)이 금속인 경우에는 박막(53)도 금속 재질로 증착시키고, 기판(51)이 비금속인 경우에는 박막(53)도 비금속 재질로 증착시킬 수 있다. 이때, 박막(53)이 금속인 경우에는 알루미늄(Al), 은(Ag), 크롬(Cr) 등이 사용될 수 있다. Subsequently, a thin film 53 is deposited on the substrate 51 (FIG. 7B). In this case, both the metal and the nonmetal may be used for the thin film 53, and it is preferable to match the material of the substrate 51. For example, when the substrate 51 is a metal, the thin film 53 may also be deposited using a metal material. When the substrate 51 is a nonmetal, the thin film 53 may also be deposited using a nonmetal material. In this case, when the thin film 53 is a metal, aluminum (Al), silver (Ag), chromium (Cr), or the like may be used.
다음에, 증착된 박막(53) 상에 폴리머(55)를 코팅한 다음, 미리 구비된 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)를 상기 코팅된 폴리머(55) 상에 정렬시키고, 이어서 정렬된 복수의 작은 면적 스탬퍼(57) 위로 호일(59)을 덮는다(도 7(c)). 이때, 상기 호일(59)의 크기는 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)를 포함할 수 있어야 한다. 또한, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)와 호일(59)은 자외선에 투과될 수 있는 투명 재질로 이루어지는 것이 바람직하다.Next, the polymer 55 is coated on the deposited thin film 53, and then a plurality of small area stampers 57 provided in advance are aligned on the coated polymer 55, and then the plurality of small aligned The foil 59 is covered over the area stamper 57 (FIG. 7C). At this time, the size of the foil 59 should include the plurality of small area stamper (57). In addition, the plurality of small area stampers 57 and the foils 59 may be made of a transparent material that can transmit ultraviolet rays.
이어서, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)로 상기 폴리머(55)를 임프린트시키면서 자외선을 조사하여 상기 폴리머(55)를 경화시킨다(도 7(d)). 이때, 상기 기체 압력에 의해 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57) 위에 덮혀진 호일(59)은 변형이 되면서 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)를 감싸게 되어 균일한 압력으로 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)를 눌러주게 되고, 이에 따라 폴리머(55)가 균일한 압력을 받도록 한다. 이와 같이 호일(59)을 구비하는 것은 상기 기판(51) 상에 정렬된 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)가 서로 다른 평면도를 가지게 되므로, 이와 같이 서로 다른 평면도를 갖는 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)에 기체 압력이 인가될 때, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)가 상기 폴리머(55)를 눌러주는 정도가 서로 상이하게 되는 것을 방지하기 위한 것이다. 즉, 호일(59)에 기체 압력이 가해지면, 상기 호일(59)이 각 작은 면적 스탬퍼(57)를 감싸안게 되어 각 작은 면적 스탬퍼(57)가 균일한 압력으로 상기 폴리머(55)를 눌러주게 되므로, 상기 폴리머(55)는 균일한 압력을 받게 되어 균일한 패턴이 형성될 수 있게 된다.Subsequently, ultraviolet rays are irradiated while the polymer 55 is imprinted with the plurality of small area stampers 57 to cure the polymer 55 (Fig. 7 (d)). In this case, the foil 59 covered on the plurality of small area stampers 57 by the gas pressure is deformed and surrounds the plurality of small area stampers 57, and thus the plurality of small area stampers at a uniform pressure ( 57), thereby allowing the polymer 55 to be subjected to a uniform pressure. The foil 59 is provided with a plurality of small area stampers 57 arranged on the substrate 51 to have different plan views, and thus, a plurality of small area stampers 57 having different plan views. When the gas pressure is applied, the degree to which the plurality of small area stampers 57 presses the polymer 55 is different from each other. That is, when gas pressure is applied to the foil 59, the foil 59 surrounds each small area stamper 57 so that each small area stamper 57 presses the polymer 55 at a uniform pressure. Therefore, the polymer 55 is subjected to a uniform pressure to form a uniform pattern.
다음에, 상기 폴리머(55)가 일정 정도 경화되면, 임프린트된 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)를 상기 폴리머(55)로부터 분리함으로써, 상기 복수의 작은 면적 스탬퍼(57)의 모양이 전사된 폴리머(55) 패턴이 형성되게 된다(도 7(e)).Next, when the polymer 55 is cured to a certain extent, the imprinted plurality of small area stampers 57 are separated from the polymer 55, whereby the shape of the plurality of small area stampers 57 is transferred. 55) A pattern is formed (Fig. 7 (e)).
이어서, 상기 패턴된 폴리머(55)를 대상으로 상기 박막(53)이 노출될 때까지 건식 식각을 하여 잔류하는 폴리머를 제거한다(도 7(f)).Subsequently, dry etching is performed on the patterned polymer 55 to remove the remaining polymer until the thin film 53 is exposed (FIG. 7 (f)).
이와 같이, 잔류하는 폴리머가 제거되면, 폴리머 패턴(55)을 식각 마스크로 사용하여 상기 기판(51)이 노출될 때까지 상기 박막(53)을 식각한다(도 7(g)).As such, when the remaining polymer is removed, the thin film 53 is etched using the polymer pattern 55 as an etching mask until the substrate 51 is exposed (Fig. 7 (g)).
그리고, 마지막으로 상기 박막(53) 위에 남아있는 상기 패턴된 폴리머(55)를 제거함으로써, 대면적 스탬퍼(50)가 완성되게 된다(도 7(h)).And finally, by removing the patterned polymer 55 remaining on the thin film 53, a large area stamper 50 is completed (Fig. 7 (h)).
이상과 같이 제조된 대면적 스탬퍼를 이용하여 한번에 대면적 나노 소자를 제조할 수 있다.Large area nanodevices can be manufactured at a time using the large area stamper manufactured as described above.
따라서, 본 발명은 미리 구비된 복수의 작은 면적 스탬퍼를 이용하여 대면적 스탬퍼를 제조하여 대면적 나노 소자에 한번에 대면적 패턴을 형성하게 됨으로써, 종래와 같이 하나의 작은 면적 스탬퍼를 이용하여 반복적으로 기판을 이동시키면서 나노 소자에 패턴을 형성함으로써 발생되는 공정 비용 및 시간을 현격하게 단축시킬 수 있게 된다.Therefore, the present invention is to manufacture a large area stamper using a plurality of small area stamper provided in advance to form a large area pattern on a large area nano device at a time, thereby repeatedly using a small area stamper as in the prior art. Forming a pattern on the nano-device while moving the can significantly shorten the process cost and time generated.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 임프린트 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에 의하면, 대면적 스탬퍼를 이용하여 한번에 대면적의 나노 소자에 패턴을 형성시킴으로써, 공정 비용 및 시간을 획기적으로 단축시킬 수 있는 효과가 기대된다.As described above, according to the method of manufacturing a stamper for imprint lithography of the present invention, by forming a pattern on a large-area nano device at a time by using a large-area stamper, an effect that can significantly shorten the process cost and time is expected. do.
도 1(a) 내지 도 1(d)은 열경화 방식을 이용한 나노 임프린트 공정을 나타낸 도면.1 (a) to 1 (d) is a view showing a nano imprint process using a thermosetting method.
도 2(a) 내지 도 2(d)는 자외선 경화 방식을 이용한 나노 임프린트 공정을 나타낸 도면.Figure 2 (a) to 2 (d) is a view showing a nano imprint process using the ultraviolet curing method.
도 3(a) 내지 도 3(d)은 종래의 자외선 경화방식을 이용한 스텝 반복 임프린트 리소그라피 공정을 간략히 설명한 도면.Figure 3 (a) to Figure 3 (d) is a view briefly illustrating a step repeat imprint lithography process using a conventional ultraviolet curing method.
도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 임프린트 리소그라피용 스탬퍼를 제조하는 방법을 간략히 나타낸 순서도.Figure 4 is a flow chart briefly showing a method of manufacturing a stamper for imprint lithography according to an embodiment of the present invention.
도 5(a) 내지 도 5(d)는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에서 작은 면적 스탬퍼를 제조하는 공정을 개략적으로 나타낸 도면.5 (a) to 5 (d) schematically show a process of manufacturing a small area stamper in a method for manufacturing a stamper for lithography according to an embodiment of the present invention.
도 6(a) 내지 도 6(h)은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에서 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법을 나타낸 도면.Figure 6 (a) to Figure 6 (h) is a view showing a method for manufacturing a large area stamper in a method for manufacturing a stamper for lithography according to an embodiment of the present invention.
도 7(a) 내지 도 7(h)은 본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 리소그라피용 스탬퍼 제조 방법에서 대면적 스탬퍼를 제조하는 방법을 나타낸 도면.Figure 7 (a) to Figure 7 (h) is a view showing a method for manufacturing a large area stamper in a method for manufacturing a stamper for lithography according to another preferred embodiment of the present invention.
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030073039A KR100582781B1 (en) | 2003-10-20 | 2003-10-20 | Stamper-manufacturing method for imprint lithography |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030073039A KR100582781B1 (en) | 2003-10-20 | 2003-10-20 | Stamper-manufacturing method for imprint lithography |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050037773A true KR20050037773A (en) | 2005-04-25 |
KR100582781B1 KR100582781B1 (en) | 2006-05-23 |
Family
ID=37240381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030073039A KR100582781B1 (en) | 2003-10-20 | 2003-10-20 | Stamper-manufacturing method for imprint lithography |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100582781B1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101841619B1 (en) | 2011-11-14 | 2018-03-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | Liquid crystal display including wire grid polarizer and manufacturing method thereof |
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-
2003
- 2003-10-20 KR KR1020030073039A patent/KR100582781B1/en not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100582781B1 (en) | 2006-05-23 |
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