KR20050014127A - Lcd panel test apparatus - Google Patents
Lcd panel test apparatusInfo
- Publication number
- KR20050014127A KR20050014127A KR1020030052607A KR20030052607A KR20050014127A KR 20050014127 A KR20050014127 A KR 20050014127A KR 1020030052607 A KR1020030052607 A KR 1020030052607A KR 20030052607 A KR20030052607 A KR 20030052607A KR 20050014127 A KR20050014127 A KR 20050014127A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lcd panel
- vertical direction
- inspection
- plate surface
- respect
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
Description
본 발명은, LCD 패널 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 다양한 각도로 한 번에 검사하는 것이 가능하여 최적의 상태로 검사하며 검사시간을 단축할 수 있는 LCD 패널 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD panel inspecting apparatus, and more particularly, to an LCD panel inspecting apparatus capable of inspecting at various angles at one time and inspecting at an optimal state and reducing an inspection time.
일반적으로 LCD 패널은 여러 단계의 제조 공정을 거쳐 제조되어지는 바, 이러한 제조 공정의 마지막 단계에서는 소정의 테스트가 진행되며, 이에 따라, LCD 패널은 항상 일정 수준 이상으로 그 성능을 유지하고 있다.In general, an LCD panel is manufactured through several stages of the manufacturing process. In the final stage of the manufacturing process, a predetermined test is performed, and accordingly, the LCD panel always maintains its performance above a certain level.
통상, 이러한 테스트는 전기적인 신호를 통해 제품의 성능이 검사되는 전기신호 테스트와 육안을 통해 제품의 외관품질이 검사되는 비쥬얼 테스트 등으로 나뉘어 지는데, 이때, LCD 패널은 로딩 스테이지를 구비한 테스트 장치에 안정적으로 로딩된 후, 상술한 전기신호 테스트 및 비쥬얼 테스트를 수행받음으로써, 양호한 제품으로 완성 출하되고있다.Typically, such a test is divided into an electrical signal test in which the performance of the product is checked through an electrical signal and a visual test in which the appearance quality of the product is checked through the naked eye. In this case, the LCD panel is applied to a test apparatus having a loading stage. After being loaded stably, the above-described electrical signal test and visual test are performed, and finished products are shipped with good quality.
여기서, 검사자가 직접 다각도로 검사하는 경우, 검사 기준은 검사자의 주관적인 판단하에 이루어지게 되고 검사 기준도 정량적이지 못하여 검사시마다 검사자의 몸의 컨디션이나 각각의 기준이 다르기 때문에 LCD 패널의 검사 기준이 일정하지 못해 제품도 일정하게 나오지 않는다. 또한, 검사자가 바뀔 때마다 그에 따른 교육이나 준비 과정을 거치게 되어 인건비나 시간이 많이 소요된다는 단점이 있다.In this case, when the inspector directly inspects at various angles, the inspection criteria are made under the subjective judgment of the inspector, and the inspection criteria are not quantitative. The product does not come out regularly. In addition, each time the inspector changes, there is a disadvantage that it takes a lot of labor costs and time to go through the training or preparation process accordingly.
도 1은 이러한 기능을 수행하는 종래의 LCD 패널 검사장치의 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view of a conventional LCD panel inspection apparatus that performs this function.
도시된 바와 같이, 제조공정을 끝마친 LCD 패널(114)은 품질을 검증받기 위한 테스트, 예컨대, 전기신호 테스트를 위해 LCD 패널(114) 이송 장치(미도시)를 통해 본체(110)의 패널 로딩 스테이지(112)에 로딩된다.As shown, the LCD panel 114 which has finished the manufacturing process is subjected to the panel loading stage of the main body 110 through the LCD panel 114 conveying device (not shown) for a test for quality verification, for example, an electrical signal test. Loaded at 112.
여기서, 패널 로딩 스테이지(112)의 상부면에는 LCD 패널(114)로 전기적인 신호를 전달하는 다수개의 프로브(116)들이 설치되는 바, 이러한 프로브(116)들은 패널 로딩 스테이지(112)에 안착된 LCD 패널(114)과 접촉되어, 테스트 회로(미도시)에서 출력되는 검사패턴 화상신호를 전달한다. 이에 따라, LCD 패널(114)에는 소정의 검사패턴 화상이 디스플레이된다.Here, a plurality of probes 116 are installed on the upper surface of the panel loading stage 112 to transmit an electrical signal to the LCD panel 114, and the probes 116 are mounted on the panel loading stage 112. In contact with the LCD panel 114, the test pattern image signal output from the test circuit (not shown) is transferred. As a result, a predetermined inspection pattern image is displayed on the LCD panel 114.
한편, LCD 패널(114)의 상부에는 CCD(Charge Coupled Device) 카메라(118)가 설치되어, LCD 패널(114)에 디스플레이된 검사패턴 화상을 촬영한 후, 이러한 검사패턴 화상을 전기 신호로 변환하여 화상 데이터 분석부(120)로 전달한다.On the other hand, a CCD (Charge Coupled Device) camera 118 is installed on the upper portion of the LCD panel 114, and after taking a test pattern image displayed on the LCD panel 114, by converting such a test pattern image into an electrical signal The image data analyzer 120 is transferred to the image data analyzer 120.
화상 데이터 분석부(120)는 CCD 카메라(118)로부터 출력되는 검사패턴 화상을 분석한 후, 그 결과를 모니터(122)로 출력한다.The image data analysis unit 120 analyzes the inspection pattern image output from the CCD camera 118 and then outputs the result to the monitor 122.
이 후, 작업자는 모니터(122)에 디스플레이되는 LCD 패널(114) 관련 검사패턴 화상의 분석결과를 참고하여, LCD 패널(114)의 품질을 검증한다. 이에 따라, LCD 패널(114)은 좀더 양호한 제품으로 적절히 제조된다.Thereafter, the operator verifies the quality of the LCD panel 114 by referring to the analysis result of the inspection pattern image related to the LCD panel 114 displayed on the monitor 122. Accordingly, the LCD panel 114 is appropriately manufactured into a better product.
이때, CCD 카메라(118)의 설치에는 LCD 패널(114)에 디스플레이되는 검사패턴 화상의 배율 및 렌즈의 포커스 등이 적절히 고려되어야 하며, 이에 따라, CCD 카메라(118)는 LCD 패널(114)과 일정한 거리를 둔 상태로 LCD 패널(114)의 상부에 수직으로 배치되는 것이 일반적이다.In this case, the magnification of the inspection pattern image displayed on the LCD panel 114, the focus of the lens, and the like should be properly considered in the installation of the CCD camera 118. Accordingly, the CCD camera 118 may be uniform with the LCD panel 114. It is generally disposed vertically on top of the LCD panel 114 at a distance.
여기서, CCD 카메라(118)는 고정되어 있는 관계로 여러 시야에서 다각도로 사람이 테스트하는 것과 같은 효과를 전부 기대할 수 없는 한계를 가진다. 따라서 LCD 패널(114)의 균일성을 측정하는 데 많은 제약이 따른다. 즉, 시야 정면에서 보이는 불량의 검출에는 문제가 되지 않지만 경사각 시야의 불량 검출에는 한계가 있다.Here, the CCD camera 118 has a limitation in that it is not possible to expect all the effects such as human testing at various angles in various views. Therefore, there are many restrictions in measuring the uniformity of the LCD panel 114. In other words, there is no problem in the detection of the defect seen from the front of the field of view, but there is a limit in the detection of the defect in the oblique angle field of view.
또한, LCD 패널(114) 전영역을 검사하기 위해서는 CCD 카메라(118)나 LCD 패널(114)이 이동해야 하므로 시간이 많이 소요된다는 단점이 있다.In addition, since the CCD camera 118 or the LCD panel 114 must be moved to inspect the entire area of the LCD panel 114, it takes a lot of time.
따라서, 본 발명의 목적은, 다양한 각도로 한 번에 LCD 패널을 검사하는 것이 가능하여 최적의 상태로 LCD 패널을 검사하며 검사시간을 단축할 수 있는 LCD 패널 검사장치를 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an LCD panel inspection apparatus capable of inspecting an LCD panel at various angles at one time, thereby inspecting the LCD panel in an optimal state and reducing the inspection time.
도 1은 종래 LCD 패널 검사장치의 개략적인 단면도,1 is a schematic cross-sectional view of a conventional LCD panel inspection apparatus,
도 2는 본 발명에 따른 LCD 패널 검사장치의 사시도이다.2 is a perspective view of the LCD panel inspection apparatus according to the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
10a, 10b, 10c, 10d, 10e : 촬상부 12a, 12b, 12c, 12d : 고정브래킷10a, 10b, 10c, 10d, 10e: imaging unit 12a, 12b, 12c, 12d: fixed bracket
16 : 수직지지브래킷 20 : 촬상모듈16 vertical support bracket 20 imaging module
30 : LCD 패널 40 : LCD 패널지지부30: LCD panel 40: LCD panel support
50 : 프로브유니트 60 : 본체50: probe unit 60: main body
상기 목적은, 본 발명에 따라, 본체와, 상기 본체 상에 설치되어 LCD 패널을 지지하는 LCD 패널지지부와, 상기 LCD 패널지지부 상의 상기 LCD 패널과 접촉되어 상기 LCD 패널로 전기적인 검사패턴 화상신호를 출력하는 적어도 하나의 프로브유니트를 갖는 LCD 패널 검사장치에 있어서, 상기 LCD 패널 판면에 대해 소정 거리 이격되어 상기 LCD 패널의 판면에 대해 각각 상이한 각도로 상기 LCD 패널에 표시된 검사패턴 화상을 촬상하는 복수의 촬상부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LCD 패널 검사장치에 의해 달성된다.The object is, according to the present invention, the main body, an LCD panel support portion provided on the main body to support the LCD panel, and the LCD panel on the LCD panel support portion in contact with the LCD panel to provide electrical test pattern image signals to the LCD panel. An LCD panel inspection apparatus having at least one probe unit for outputting, the LCD panel inspection apparatus comprising: a plurality of photographing inspection pattern images displayed on the LCD panel at different angles with respect to the plate surface of the LCD panel at a predetermined distance from the LCD panel plate; It is achieved by the LCD panel inspection device characterized in that it comprises an imaging unit.
여기서, 상기 촬상부 중 어느 하나는 상기 LCD 패널의 판면에 대해 수직방향으로 촬상하고, 나머지 다른 촬상부는 상기 수직방향에 대해 소정의 기울어진 각도로 촬상하는 것이 바람직하다.Here, it is preferable that any one of the imaging sections picks up in a vertical direction with respect to the plate surface of the LCD panel, and the other imaging sections picks up at a predetermined inclined angle with respect to the vertical direction.
상기 촬상부 중 어느 하나를 수직방향으로 지지하며 상기 촬상부를 상기 LCD 패널 판면에 대해 소정 거리 이격된 위치에 고정시키기 위한 수직지지브래킷과; 상기 수직지지브래킷의 일단부에 각각 결합되며, 나머지 다른 촬상부를 상기 수직방향에 대해 소정 각도로 기울어지게 각각 고정시키는 복수의 고정브래킷을 더 포함하는 것이 바람직하다.A vertical support bracket for supporting any one of the imaging units in a vertical direction and for fixing the imaging unit to a position spaced a predetermined distance from the LCD panel plate surface; It is preferable to further include a plurality of fixing brackets which are respectively coupled to one end of the vertical support bracket, and each of the other image capturing parts are inclined at a predetermined angle with respect to the vertical direction.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 LCD 패널의 검사장치의 사시도이다. 이 도면에 도시된 바와 같이, 본 LCD 패널(30)의 검사장치는, 본체(60)와, 본체(60) 상에 설치되어 LCD 패널(30)을 지지하는 LCD 패널지지부(40)와, LCD 패널(30)에 전기적으로 접촉되어 도시되지 않은 테스트 회로로부터의 전기적인 검사패턴 화상신호를 출력하는 프로브유니트(50)와, LCD 패널(30) 판면에 대해 소정 거리 이격되어 LCD 패널(30)의 판면에 대해 각각 상이한 각도로 LCD 패널(30)에 표시된 검사패턴 화상을 촬상하는 복수의 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)와, 복수의 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)를 각각 지지하는 수직지지브래킷(16) 및 복수의 고정브래킷(12a, 12b, 12c, 12d)을 포함한다.2 is a perspective view of an inspection apparatus of the LCD panel according to the present invention. As shown in this figure, the inspection apparatus of the LCD panel 30 includes a main body 60, an LCD panel support portion 40 installed on the main body 60 to support the LCD panel 30, and an LCD. The probe unit 50, which is in electrical contact with the panel 30 and outputs an electrical test pattern image signal from a test circuit (not shown), is spaced apart from the LCD panel 30 by a predetermined distance from the LCD panel 30. A plurality of imaging sections 10a, 10b, 10c, 10d, 10e, and a plurality of imaging sections 10a, 10b, 10c, 10d, which image an inspection pattern image displayed on the LCD panel 30 at different angles with respect to the plate surface, respectively. A vertical support bracket 16 and a plurality of fixed brackets 12a, 12b, 12c, and 12d respectively supporting 10e).
수직지지브래킷(16)은 촬상부(10a)를 LCD패널(30)의 판면에 대해 소정 거리 이격된 위치에 고정시키며 수직방향으로 지지한다.The vertical support bracket 16 fixes the image capturing unit 10a at a position spaced a predetermined distance from the plate surface of the LCD panel 30 and supports it in the vertical direction.
고정브래킷(12a, 12b, 12c, 12d)은 수직지지브래킷(16)의 둘레를 따라 그 일단부에 각각 결합되어 촬상부(10b, 10c, 10d, 10e)를 수직방향에 대해 소정 각도 기울어지게 각각 고정시킨다. 여기서, 물론 고정브래킷(12a, 12b, 12c, 12d)의 각도를 조절하도록 구성할 수도 있음은 물론이다.The fixing brackets 12a, 12b, 12c, and 12d are respectively coupled to one end thereof along the circumference of the vertical support bracket 16 to respectively tilt the imaging units 10b, 10c, 10d, and 10e at an angle with respect to the vertical direction. Fix it. Here, of course, it can also be configured to adjust the angle of the fixing bracket (12a, 12b, 12c, 12d).
촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)는 종래와 동일하게 CCD 카메라인 것이 바람직하며, 수직지지브래킷(16) 및 고정브래킷(12a, 12b, 12c, 12d)에 의해 지지되어 수직방향 및 각기 상이한 방향(예를 들면, LCD 패널(30)의 판면의 가로 및 세로 방향)에서 소정 각도 기울어진 상태로 LCD 패널(30)의 임의 영역을 동시에 촬상하는 것이 가능하다. 따라서, 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)가 여러 방향으로 이동하지 않아도 검사가 가능하므로 검사 시간이 단축되고, 각기 상이한 방향에서 상이한 각도로 촬상을 하므로 불량 검출력이 향상되게 된다. 한편, 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)는 임의 위치로 이동하면서 촬상하는 것 또한 가능하다.The imaging units 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e are preferably CCD cameras as in the prior art, and are supported by the vertical support brackets 16 and the fixed brackets 12a, 12b, 12c, and 12d to support the vertical direction and It is possible to simultaneously image an arbitrary region of the LCD panel 30 in a state inclined at a predetermined angle in different directions (for example, the horizontal and vertical directions of the plate surface of the LCD panel 30). Therefore, since the inspection can be performed even if the imaging units 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e do not move in various directions, inspection time is shortened, and imaging is performed at different angles in different directions, thereby improving defect detection power. On the other hand, the imaging sections 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e can also capture images while moving to arbitrary positions.
이러한 구성을 갖는 본 발명에 따른 LCD 패널(30) 검사장치의 검사방법을 간략히 설명하면 다음과 같다.The inspection method of the LCD panel 30 inspection apparatus according to the present invention having such a configuration will be briefly described as follows.
제조공정을 마친 LCD 패널(30)은 LCD 패널(30) 이송장치(미도시)를 통해 본체의 LCD 패널지지부(40)에 로딩된다. LCD 패널지지부(40)의 상부면에 설치된 적어도 하나의 프로브유니트(50)는 LCD 패널지지부(40) 상의 LCD 패널(30)로 전기적인 검사패턴 화상 신호를 전달한다. 이에, LCD 패널(30)에는 소정의 검사패턴 화상이 표시되게 된다.After completing the manufacturing process, the LCD panel 30 is loaded onto the LCD panel support part 40 of the main body through the LCD panel 30 transfer device (not shown). At least one probe unit 50 installed on the upper surface of the LCD panel support part 40 transmits an electrical test pattern image signal to the LCD panel 30 on the LCD panel support part 40. As a result, a predetermined inspection pattern image is displayed on the LCD panel 30.
LCD 패널(30)에 표시된 검사패턴 화상은 복수의 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)를 통해 각기 상이한 방향(LCD 패널(30)의 판면에 대한 수직 및 가로, 세로 방향)에서 촬상되어 도시되지 않은 화상 데이터 분석부로 전달되고, 화상 데이터 분석부의 분석결과가 모니터로 출력된다. 이에, 작업자는 모니터에 디스플레이되는 LCD 패널(30) 관련 검사패턴 화상의 분석결과를 참고하여, LCD 패널(30)의 품질을 검증한다.The inspection pattern image displayed on the LCD panel 30 is picked up in different directions (vertical, horizontal and vertical to the plate surface of the LCD panel 30) through the plurality of imaging units 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e. The data is transmitted to an image data analysis unit (not shown), and the analysis results of the image data analysis unit are output to the monitor. Thus, the operator verifies the quality of the LCD panel 30 by referring to the analysis result of the inspection pattern image related to the LCD panel 30 displayed on the monitor.
한편, 도 2에 도시된 복수의 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)를 하나의 촬상모듈(20)로 제조하여, LCD 패널(30) 판면의 가로 및 세로 방향의 상부에 각각 배치할 수도 있음은 물론이다. 이러한 경우, 각기 상이한 시야각을 갖는 20개의 카메라를 설치하는 효과를 가진다. 또한, LCD 패널(30)의 검사 영역이 커져도촬상모듈(20)의 추가만으로 그 검사영역에 대응하는 것이 가능하다.Meanwhile, the plurality of imaging units 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e illustrated in FIG. 2 are manufactured by one imaging module 20, and are disposed on upper portions of the LCD panel 30 in the horizontal and vertical directions, respectively. Of course you can. In this case, there is an effect of installing 20 cameras having different viewing angles. In addition, even if the inspection area of the LCD panel 30 becomes large, it is possible to correspond to the inspection area only by adding the imaging module 20.
한편, 전술한 실시예에서는 복수의 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)가 LCD 패널(30)의 임의 영역을 동시에 촬상하는 것으로 상술하였으나, 순차적으로 촬상하도록 구성할 수도 있음은 물론이다.Meanwhile, in the above-described embodiment, the plurality of imaging units 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e simultaneously capture an arbitrary region of the LCD panel 30, but may be configured to sequentially photograph the images. .
이와 같이, 본 발명은 LCD 패널(30)의 판면에 대해 각각 상이한 각도로 LCD 패널(30)에 표시된 검사패턴 화상을 촬상하는 복수의 촬상부(10a, 10b, 10c, 10d, 10e)를 포함함으로써, 검사 시간이 단축되고 불량 검출력이 향상될 수 있다.As described above, the present invention includes a plurality of imaging units 10a, 10b, 10c, 10d, and 10e for imaging the inspection pattern images displayed on the LCD panel 30 at different angles with respect to the plate surface of the LCD panel 30, respectively. Therefore, inspection time can be shortened and defect detection power can be improved.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 다양한 각도로 한 번에 LCD 패널을 검사하는 것이 가능하여 최적의 상태로 LCD 패널을 검사하며 검사시간을 단축할 수 있는 LCD 패널 검사장치가 제공된다.As described above, according to the present invention, it is possible to inspect the LCD panel at various angles at one time to provide an LCD panel inspection apparatus that can inspect the LCD panel in an optimal state and reduce the inspection time.
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030052607A KR20050014127A (en) | 2003-07-30 | 2003-07-30 | Lcd panel test apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030052607A KR20050014127A (en) | 2003-07-30 | 2003-07-30 | Lcd panel test apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20050014127A true KR20050014127A (en) | 2005-02-07 |
Family
ID=37225299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020030052607A KR20050014127A (en) | 2003-07-30 | 2003-07-30 | Lcd panel test apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20050014127A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100803043B1 (en) * | 2006-10-10 | 2008-02-18 | 주식회사 매크론 | Apparatus and method for inspecting defects of display device |
| KR100805486B1 (en) * | 2005-12-09 | 2008-02-20 | 타이완 티에프티 엘씨디 오쏘시에이션 | A system and a method of measuring a display at multi-angles |
-
2003
- 2003-07-30 KR KR1020030052607A patent/KR20050014127A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100805486B1 (en) * | 2005-12-09 | 2008-02-20 | 타이완 티에프티 엘씨디 오쏘시에이션 | A system and a method of measuring a display at multi-angles |
| KR100803043B1 (en) * | 2006-10-10 | 2008-02-18 | 주식회사 매크론 | Apparatus and method for inspecting defects of display device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS62173731A (en) | Inspection device for surface of article to be inspected | |
| JP2006242821A (en) | Imaging method of optical panel, inspection method of optical panel, imaging device of optical panel and inspection device of optical panel | |
| JP2018159705A (en) | Automatic optical inspection system and method for operation | |
| US7800568B2 (en) | Apparatus and method for inspecting liquid crystal display | |
| KR100924116B1 (en) | Inspection apparatus for camera modlue product and method thereof | |
| KR101015807B1 (en) | Apparatus for inspecting surface and method for inspecting surface | |
| KR101183179B1 (en) | Method for checking of cof appearance using laser 3d measuring machine | |
| JP4354941B2 (en) | Vision and brightness detection system for backlight unit | |
| KR20050014127A (en) | Lcd panel test apparatus | |
| KR20100058395A (en) | Testing apparatus for flat panel display | |
| KR101144797B1 (en) | Thin Film Material Testing Apparatus and method for the same | |
| TW200508597A (en) | Apparatus for automatically inspecting image quality of LCD panel | |
| JPH09318487A (en) | Device for testing liquid crystal display panel | |
| KR19990017129A (en) | LCD panel test device | |
| JP3162472U (en) | Automatic optical inspection system | |
| JP2000275183A (en) | Image-capturing apparatus | |
| KR100478448B1 (en) | Method for inspecting edge of liquid crystal display | |
| JPH11101712A (en) | Panel surface inspection device | |
| TWI571644B (en) | Probe Device | |
| JP2002098934A (en) | Inspection device | |
| JP2003177371A (en) | Apparatus and method for inspecting liquid crystal display unit | |
| KR101282020B1 (en) | Macro type device for inspecting substrate | |
| KR0149715B1 (en) | Pcb inspection system with vision recognization apparatus | |
| CN107464513B (en) | Automatic picture flicker detection system and method for display panel | |
| KR100939541B1 (en) | System and method for automatic visual inspection |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E601 | Decision to refuse application |