KR200496376Y1 - Chip and display panel - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 2
- 235000004522 Pentaglottis sempervirens Nutrition 0.000 description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
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- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L24/17—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of a plurality of bump connectors
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- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
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Abstract
칩은 제1 측면 및 제1 측면에 연결된 제2 측면을 구비한다. 제1 측면은 제1 연장 방향을 갖는다. 제2 측면은 제2 연장 방향을 갖는다. 제1 연장 방향은 제2 연장 방향과 다르다. 칩은 제1 연결패드 그룹과 제2 연결패드 그룹을 포함한다. 제1 연결패드 그룹과 제2 연결패드 그룹은 제1 연장 방향을 따라 분포한다. 제2 연결패드 그룹은 제1 연결패드 그룹보다 제1 측면에서 더 멀리 떨어져 있다. 제2 연장 방향에서 제1 연결패드 그룹은 칩의 중심선에서 제2 분포 범위를 가지고, 제1 연결패드 그룹은 칩 중심선에서 멀리 떨어진 곳에 제1 분포 범위를 가지며, 제1 분포 범위는 제2 분포 범위보다 크다. 상기 칩을 포함하는 디스플레이 패널도 제공한다.The chip has a first side and a second side connected to the first side. The first side has a first extension direction. The second side has a second extension direction. The first extension direction is different from the second extension direction. The chip includes a first connection pad group and a second connection pad group. The first connection pad group and the second connection pad group are distributed along the first extending direction. The second group of connection pads is farther from the first side than the first group of connection pads. In the second extending direction, the first connection pad group has a second distribution range at the center line of the chip, the first connection pad group has a first distribution range far from the chip center line, and the first distribution range has a second distribution range. bigger than A display panel including the chip is also provided.
Description
본 고안은 전자 부품, 특히 칩 및 디스플레이 패널에 관한 것이다.The present invention relates to electronic components, particularly chips and display panels.
칩을 응용하는 방식에 있어서, 다른 전자 부품과 칩의 연결패드(connecting pad)의 상호 접합은 항상 필요하다. 따라서 칩과 다른 전자 부품 간 접합의 수율이나 품질을 어떻게 더 향상시킬 것인가는 현재 시급히 해결하여야 하는 과제이다.In a method of applying a chip, mutual bonding between other electronic components and a connecting pad of the chip is always necessary. Therefore, how to further improve the yield or quality of bonding between chips and other electronic components is a task that needs to be addressed urgently.
본 고안은 접합의 수율 또는 품질이 비교적 우수한 칩을 제공한다. 본 고안은 상기 칩을 포함하고, 칩과 팬아웃 라인 사이의 접합 수율 또는 접합 품질이 비교적 우수한 디스플레이 패널을 제공한다.The present invention provides a chip with a relatively excellent bonding yield or quality. The present invention provides a display panel including the chip and having a relatively excellent bonding yield or bonding quality between the chip and the fan-out line.
본 고안의 칩은 제1 측면 및 제1 측면에 연결되는 제2 측면을 구비한다. 제1 측면은 제1 연장 방향을 갖는다. 제2 측면은 제2 연장 방향을 갖는다. 제1 연장 방향은 제2 연장 방향과 다르다. 칩은 제1 연결패드 그룹 및 제2 연결패드 그룹을 포함한다. 제1 연결패드 그룹은 제1 연장 방향을 따라 분포한다. 제2 연장 방향에서 제1 연결패드 그룹은 칩의 중심선에서 제2 분포 범위를 가지고, 제1 연결패드 그룹은 칩 중심선에서 멀리 떨어진 곳에 제1 분포 범위를 가지며, 제1 분포 범위는 제2 분포 범위보다 크다. 제2 연결패드 그룹은 제1 연장 방향을 따라 분포한다. 제2 연결패드 그룹은 제1 연결패드 그룹보다 제1 측면에서 더 멀리 떨어져 있다. The chip of the present invention has a first side and a second side connected to the first side. The first side has a first extension direction. The second side has a second extension direction. The first extension direction is different from the second extension direction. The chip includes a first connection pad group and a second connection pad group. The first connection pad group is distributed along the first extending direction. In the second extending direction, the first connection pad group has a second distribution range at the center line of the chip, the first connection pad group has a first distribution range far from the chip center line, and the first distribution range has a second distribution range. bigger than The second connection pad group is distributed along the first extending direction. The second group of connection pads is farther from the first side than the first group of connection pads.
본 고안의 일 실시예에서, 제1 연장 방향은 기본적으로 제2 연장 방향과 수직이다.In one embodiment of the present invention, the first extension direction is essentially perpendicular to the second extension direction.
본 고안의 일 실시예에서, 제2 연장 방향에서의 제2 연결패드 그룹의 분포 범위는 기본적으로 일치한다.In one embodiment of the present invention, distribution ranges of the second connection pad groups in the second extending direction are basically identical.
본 고안의 일 실시예에서, 단위 분포 범위 내의 제1 연결패드 그룹은 칩의 중심선에서 제2 분포 밀도를 가지고, 제1 연결패드 그룹은 칩의 중심선에서 멀리 떨어진 곳에 제1 분포 밀도를 가지며 제1 분포 밀도는 제2 분포 밀도보다 작다.In an embodiment of the present invention, the first connection pad group within the unit distribution range has a second distribution density at a center line of the chip, the first connection pad group has a first distribution density far from the center line of the chip, and has a first distribution density The distribution density is smaller than the second distribution density.
본 고안의 일 실시예에서, 제1 연결패드 그룹은 복수의 제1 연결패드를 포함하고 제2 연장 방향에서 일부 복수의 제1 연결패드가 부분적으로 중첩되고 완전하게 중첩되지 않는다.In one embodiment of the present invention, the first connection pad group includes a plurality of first connection pads, and in the second extending direction, some of the plurality of first connection pads partially overlap and do not completely overlap.
본 고안의 일 실시예에서, 제1 연결패드 그룹은 복수의 제1 연결패드를 포함하고 각각의 복수의 제1 연결패드는 대응하는 연결패드 연장 방향에서 최대 크기를 가지며, 복수의 제1 연결패드의 복수의 연결패드 연장 방향은 제2 연장 방향과 다르다.In one embodiment of the present invention, the first connection pad group includes a plurality of first connection pads, each of the plurality of first connection pads has a maximum size in a corresponding connection pad extension direction, and the plurality of first connection pads have a maximum size. An extending direction of the plurality of connection pads is different from the second extending direction.
본 고안의 일 실시예에서, 각각의 복수의 연결패드 연장 방향과 제2 연장 방향 사이에 대응하는 연결패드 끼인각을 가지며, 복수의 연결패드 끼인각의 각도는 중심선에서 제2 측면을 향해 점진적으로 90°에 가까워진다.In one embodiment of the present invention, each of the plurality of connection pads has a corresponding connection pad included angle between the extension direction and the second extension direction, and the angle of the plurality of connection pads included angle gradually increases from the center line toward the second side surface by 90°. get closer to
본 고안의 디스플레이 패널은 기판, 복수의 디스플레이 유닛, 복수의 팬아웃 라인 및 상기 임의의 한 실시예의 칩을 포함한다. 기판은 디스플레이 영역과 비디스플레이 영역을 구비한다. 복수의 디스플레이 유닛은 기판의 디스플레이 영역에 배치된다. 복수의 팬아웃 라인은 디스플레이 영역에서 비디스플레이 영역으로 연장된다. 칩은 기판의 비디스플레이 영역에 배치된다. 복수의 디스플레이 유닛은 복수의 팬아웃 라인 중 적어도 일부를 통해 칩의 제1 연결패드 그룹의 적어도 일부에 전기적으로 연결된다.The display panel of the present invention includes a substrate, a plurality of display units, a plurality of fan-out lines, and a chip of any one embodiment above. The substrate has a display area and a non-display area. A plurality of display units are disposed in the display area of the substrate. A plurality of fan-out lines extend from the display area to the non-display area. The chip is placed in the non-display area of the substrate. The plurality of display units are electrically connected to at least a portion of the first connection pad group of the chip through at least a portion of the plurality of fan-out lines.
본 고안의 일 실시예에서, 칩의 제1 연결패드 그룹은 적어도 하나의 더미패드를 포함한다. 더미패드는 칩의 제1 측면 또는 제2 측면에 가장 가까운 연결패드다. 더미패드는 적어도 하나의 복수의 팬아웃 라인과 전기적으로 연결되고, 더미패드는 모든 복수의 디스플레이 유닛과 전기적으로 연결되지 않는다. In one embodiment of the present invention, the first connection pad group of the chip includes at least one dummy pad. The dummy pad is a connection pad closest to the first or second side of the chip. The dummy pad is electrically connected to at least one of the plurality of fan-out lines, and the dummy pad is not electrically connected to all of the plurality of display units.
본 고안의 일 실시예에서, 더미패드는 접지된다.In one embodiment of the present invention, the dummy pad is grounded.
상술한 바와 같이 칩의 제1 연결패드 그룹의 분포 방식으로 칩에 힘을 가하여 칩의 제1 연결패드 그룹과 다른 부품을 서로 결합할 때, 상기 힘을 비교적 균일하게 하거나 완화시킬 수 있다. 또는 제1 연결패드 그룹과 다른 부품을 서로 결합한 후 그 사이에 갖는 접합력을 비교적 균일하게 하거나 완화시킬 수 있다. 이를 통해 칩과 다른 부품간 상호 접합 수율을 높일 수 있고 접합 실패(failed bonding) 또는 접합 후 박리(peeling after bonding) 가능성을 낮출 수 있다. 따라서 상기 칩을 구비한 디스플레이 패널은 칩과 팬아웃 라인 사이의 접합 수율 또는 접합 품질이 비교적 우수하다. 또한 칩의 복수의 제1 연결패드 분포 방식을 통해, 레이아웃 설계(layout design)에서 디스플레이 패널의 팬아웃 라인을 덜 제한할 수 있다. 즉, 레이아웃 설계에서 팬아웃 라인의 유연성을 높일 수 있다.As described above, when the first connection pad group of the chip and other parts are coupled to each other by applying force to the chip in a distribution manner of the first connection pad group of the chip, the force can be relatively uniform or alleviated. Alternatively, after the first connection pad group and other components are coupled to each other, bonding force between them may be relatively uniform or alleviated. Through this, the mutual bonding yield between the chip and other parts can be increased and the possibility of failed bonding or peeling after bonding can be reduced. Accordingly, the display panel including the chip has a relatively excellent bonding yield or bonding quality between the chip and the fan-out line. In addition, the fan-out line of the display panel can be less restricted in the layout design through the distribution method of the plurality of first connection pads of the chip. That is, the flexibility of fan-out lines can be increased in layout design.
도 1은 본 고안의 제1 실시예에 따른 칩의 조감도를 개략적으로 나타낸다.
도 2는 본 고안의 제2 실시예에 따른 칩의 조감도를 개략적으로 나타낸다.
도 3은 본 고안의 제3 실시예에 따른 칩의 조감도를 개략적으로 나타낸다.
도 4a는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 조감도를 개략적으로 나타낸다.
도 4b는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 일부의 조감도를 개략적으로 나타낸다.
도 4c는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 일부 회로를 개략적으로 나타낸다.1 schematically shows a bird's eye view of a chip according to a first embodiment of the present invention.
2 schematically shows a bird's eye view of a chip according to a second embodiment of the present invention.
3 schematically shows a bird's eye view of a chip according to a third embodiment of the present invention.
4A schematically shows a bird's eye view of a display panel according to an embodiment of the present invention.
Figure 4b schematically shows a bird's eye view of a portion of the display panel according to an embodiment of the present invention.
4C schematically shows some circuits of a display panel according to an embodiment of the present invention.
본 실시예의 도면을 참조하여 본 고안에 대해 보다 전면적으로 설명하고자 한다. 하지만 본 고안은 본 명세서의 실시예에 국한되지 않고 다양한 형식으로 구현될 수 있다. 도면의 부품과 영역의 두께는 명확하게 나타내기 위해 확대되었다. 같거나 유사한 참조 부호는 같거나 유사한 부품 또는 영역을 나타내며 아래에서 반복하여 설명하지 않는다.With reference to the drawings of this embodiment, the present invention will be more fully described. However, the present invention is not limited to the embodiments of the present specification and may be implemented in various forms. The thicknesses of parts and regions of the drawings are exaggerated for clarity. The same or similar reference numerals indicate the same or similar parts or areas and are not repeated below.
별도의 정의가 없는 한 본 명세서에서 사용하는 모든 용어(반도체 관련 기술 및 과학 용어 포함)는 본 고안이 속한 분야의 통상의 기술자가 일반적으로 이해하는 것과 동일한 의미를 가진다. 예를 들어, 일반적으로 사용되는 사전에 정의된 용어들은 관련 기술 및 본 고안의 앞뒤 맥락의 의미와 일치하는 의미로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명확하게 정의하지 않는 한 이상적이거나 과도하게 공식적인 의미로 해석되지 않음을 이해하여야 한다.Unless otherwise defined, all terms (including semiconductor-related technical and scientific terms) used in this specification have the same meaning as commonly understood by a person skilled in the art to which the present invention belongs. For example, terms defined in commonly used dictionaries should be interpreted in a meaning consistent with the meaning of the related art and the context of the present invention, unless clearly defined in this specification, interpreted in an ideal or excessively formal meaning. You have to understand that it doesn't.
본 명세서는 예시적인 실시예를 설명하기 위해 바람직한 실시예를 개략적으로 나타낸 도면의 단면도를 참조한다. 따라서 제조 기술 및/또는 공차와 같은 결과의 도면으로서 형상의 변화를 예측할 수 있다. 그러므로 본 명세서에서 설명하는 실시예는 본 명세서에서 나타낸 것과 같은 영역의 특정 형상에 국한되는 것으로 해석되어서는 안 되며, 제조로 인한 형상 편차와 같은 것을 포함한다. 예를 들어, 평평하게 표시되거나 설명된 영역은 통상적으로 거칠고, 비선형 및/또는 비평면의 특징을 가질 수 있다. 또한 표시된 예각은 둥근 모양일 수 있다. 그러므로 도면에 표시된 영역은 본질적으로 개략적으로 나타내는 것이고, 그 형상이 표시된 영역의 정확한 형상을 나타내기 위한 것이 아니며 등록청구의 범위를 제한하기 위한 것도 아니다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference is made herein to cross-sectional views of drawings schematically illustrating preferred embodiments to describe exemplary embodiments. Thus, a drawing of the results, such as manufacturing techniques and/or tolerances, can predict changes in shape. Therefore, the embodiments described herein should not be construed as being limited to the specific shape of the region as shown herein, but includes such things as shape deviations due to manufacturing. For example, regions that are shown or described as flat may typically have rough, non-linear and/or non-planar features. Also, the indicated acute angle may be round. Therefore, the regions indicated in the drawings are schematic in nature and are not intended to represent the exact shape of the region whose shape is indicated, nor is it intended to limit the scope of the claims.
도 1은 본 고안의 제1 실시예에 따른 칩의 조감도를 개략적으로 나타낸다.1 schematically shows a bird's eye view of a chip according to a first embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 칩(100)은 제1 측면(S1), 제2 측면(S2), 제3 측면(S3) 및 제4 측면(S4)을 구비한다. 제3 측면(S3)은 제1 측면(S1)과 마주보고 있다. 제4 측면(S4)은 제2 측면(S2)과 마주보고 있다. 제2 측면(S2)은 제1 측면(S1)의 일 단과 제3 측면(S3)의 일 단에 연결된다. 제4 측면(S4)은 제1 측면(S1)의 다른 일 단과 제3 측면(S3)의 다른 일 단에 연결된다. 제1 측면(S1)은 제1 연장 방향(D1)을 가지고, 제2 측면(S2)은 제2 연장 방향(D2)을 가지며 제1 연장 방향(D1)은 제2 연장 방향(D2)과 다르다.Referring to FIG. 1 , the
본 실시예에서, 제1 연장 방향(D1)은 기본적으로 제2 연장 방향(D2)과 수직일 수 있지만 본 고안은 여기에 국한되지 않는다.In this embodiment, the first extension direction D1 may be basically perpendicular to the second extension direction D2, but the present invention is not limited thereto.
본 실시예에서, 제1 측면(S1)은 기본적으로 제3 측면(S3)과 평행일 수 있지만 본 고안은 여기에 국한되지 않는다. 아래의 설명에서 칩(100)의 중심선(102)은 대략적으로 제1 측면(S1)의 중심점과 제2 측면(S3)의 중심점을 연결할 수 있다.In this embodiment, the first side surface S1 may be basically parallel to the third side surface S3, but the present invention is not limited thereto. In the following description, the
본 실시예에서, 제2 측면(S2)은 기본적으로 제4 측면(S4)과 평행일 수 있지만 본 고안은 여기에 국한되지 않는다.In this embodiment, the second side surface S2 may be basically parallel to the fourth side surface S4, but the present invention is not limited thereto.
본 실시예에서, 칩(100)은 활성면(active surface)(101)상에 있는 제1 연결패드 그룹(G1)과 제2 연결패드 그룹(G2)을 포함할 수 있다. 제1 연결패드 그룹(G1)과 제2 연결패드 그룹(G2)은 대체적으로 제1 연장 방향(D1)을 따라 분포한다. 제2 연결패드 그룹(G2)은 제1 연결패드 그룹(G1)보다 제1 측면(S1)에서 더 멀리 떨어져 있다. 즉, 제2 연결패드 그룹(G2)과 제1 측면(S1) 사이의 최단거리는 제1 연결패드 그룹(G1)과 제1 측면(S1) 사이의 최단거리 보다 크다.In this embodiment, the
본 실시예에서, 각각의 연결패드 그룹(예컨대, 제1 연결패드 그룹(G1) 또는 제2 연결패드 그룹(G2))은 복수의 연결패드를 포함한다. 각각의 연결패드 그룹(예컨대, 제1 연결패드 그룹(G1) 또는 제2 연결패드 그룹(G2))의 분포 범위는 그것이 포함하는 복수의 연결패드 중 대응하는 측면(예컨대, 제1 측면(S1), 제2 측면(S2), 제3 측면(S3) 또는 제4 측면(S4))의 가장자리에 가장 근접하는 연결선에 의해 결정될 수 있다. 또한 명확하게 표시하기 위해 도 1 또는 유사한 도면에서 분포 범위의 부분적인 윤곽만 예시적으로 도시하였다. In this embodiment, each connection pad group (eg, the first connection pad group G1 or the second connection pad group G2) includes a plurality of connection pads. The distribution range of each connection pad group (eg, the first connection pad group G1 or the second connection pad group G2) is determined by the corresponding side (eg, the first side surface S1) of the plurality of connection pads it includes. , It may be determined by the connection line closest to the edge of the second side surface S2, the third side surface S3, or the fourth side surface S4. Also, for clarity, only a partial outline of the distribution range is shown by way of example in FIG. 1 or similar figures.
본 실시예에서, 제1 연결패드 그룹(G1)은 복수의 제1 연결패드(110), 복수의 제2 연결패드(120) 및 복수의 제3 연결패드(130)를 포함할 수 있다. 복수의 제2 연결패드(120)는 복수의 제1 연결패드(110)와 복수의 제3 연결패드(130) 사이에 위치한다. 예를 들어, 복수의 제2 연결패드(120) 대비 복수의 제1 연결패드(110)는 칩(100)의 중심선(102)에서 더 멀리 떨어져 있고, 복수의 제2 연결패드(120) 대비 복수의 제3 연결패드(130)는 칩(100)의 중심선(102)에서 더 멀리 떨어져 있다. 다시 예를 들면, 복수의 제2 연결패드(120)와 복수의 제3 연결패드(130) 대비 복수의 제1 연결패드(110)는 칩(100)의 제2 측면(S2)에 더 근접하고, 복수의 제2 연결패드(120)와 복수의 제1 연결패드(110) 대비 복수의 제3 연결패드(130)는 칩(100)의 제4 측면(S4)에 더 근접한다.In this embodiment, the first connection pad group G1 may include a plurality of
일 실시예에서, 칩(100)의 활성면(101) 상에 위치하는 연결패드는 복수의 제1 연결패드(110), 복수의 제2 연결패드(120), 복수의 제3 연결패드(130) 및 복수의 제4 연결패드(140)로 구성되며, 복수의 제1 연결패드(110), 복수의 제2 연결패드(120) 및 복수의 제3 연결패드(130)는 제1 연결패드 그룹(G1)을 구성하고 복수의 제4 연결패드(140)는 제2 연결패드 그룹(G2)을 구성한다. In one embodiment, the connection pads located on the
본 실시예에서, 제2 연장 방향(D2)에서 복수의 제1 연결패드(110) 분포 범위의 크기(즉, 제2 연장 방향(D2)에서의 분포 범위의 길이)는 복수의 제2 연결패드(120) 분포 범위의 크기 보다 크거나 같다. 예를 들어, 복수의 제1 연결패드(110)의 분포 범위 최대 크기(제1 분포 범위로 지칭할 수 있음)는 복수의 제2 연결패드(120)의 분포 범위 최대 크기(제2 분포 범위로 지칭할 수 있음) 보다 크다. 즉, 제1 연결패드 그룹(G1)이 칩(100)의 중심선(102)에서 제2 측면(S2)의 방향으로 분포하는 방식은 나팔 모양과 유사한 분포를 나타낼 수 있다. In this embodiment, the size of the distribution range of the plurality of
본 실시예에서, 제2 연장 방향(D2)에서 복수의 제3 연결패드(130) 분포 범위의 크기(즉, 제2 연장 방향(D2)에서의 분포 범위의 길이)는 복수의 제2 연결패드(120) 분포 범위의 크기 보다 크거나 같다. 예를 들어, 복수의 제3 연결패드(130)의 분포 범위 최대 크기(제1 분포 범위로 지칭할 수 있음)는 복수의 제2 연결패드(120)의 분포 범위 최대 크기(제2 분포 범위로 지칭할 수 있음) 보다 크다. 즉, 제1 연결패드 그룹(G1)이 칩(100)의 중심선(102)에서 제4 측면(S4)의 방향으로 분포하는 방식은 나팔 모양과 유사한 분포를 나타낼 수 있다. In this embodiment, the size of the distribution range of the plurality of
본 실시예에서, 상기 복수의 제1 연결패드(110) 및/또는 복수의 제3 연결패드(130)의 분포 방식으로 칩(100)에 힘을 가하여 칩(100)의 제1 연결패드 그룹(G1)과 다른 부품(예컨대, 후속 기판(410)의 복수의 팬아웃 라인(470))을 서로 결합할 때, 상기 힘을 비교적 균일하게 하거나 완화시킬 수 있다. 또는 제1 연결패드 그룹과 다른 부품을 서로 결합시킨 후 그 사이에 갖는 접합력을 비교적 균일하게 하거나 완화시킬 수 있다. 이를 통해, 칩(100)과 다른 부품의 상호 접합 수율을 높일 수 있고 접합 실패(failed bonding) 또는 접합 후 박리(peeling after bonding) 가능성을 낮출 수 있다.In this embodiment, the first connection pad group of the chip 100 ( When G1) and other components (eg, the plurality of fan-out
본 실시예에서, 제2 연장 방향(D2)에서 제2 연결패드(120)의 분포 범위 크기는 기본적으로 일치한다. 예를 들어, 복수의 제2 연결패드(120)를 진열 형태로 배열할 수 있다.In this embodiment, the sizes of the distribution ranges of the
본 실시예에서, 제2 연결패드 그룹(G2)은 복수의 제4 연결패드(140)를 포함할 수 있다. 제2 연장 방향(D2)에서, 제2 연결패드 그룹(G2)의 복수의 제4 연결패드(140)의 분포 범위 크기는 기본적으로 일치한다. 본 실시예에서, 복수의 제4 연결패드(140)는 한 줄의 직선 형태로 배열될 수 있지만 본 고안은 여기에 국한되지 않는다. 가능한 일 실시예에서, 복수의 제4 연결패드(140)를 여러 줄의 진열 형태로 배열할 수 있다.In this embodiment, the second connection pad group G2 may include a plurality of
본 실시예에서, 일 단위 분포 범위(R0) 내에서 연결패드 그룹(예컨대, 제1 연결패드 그룹(G1) 또는 제2 연결패드 그룹(G2)) 일부분의 상기 단위 분포 범위(R0)내에서의 분포 밀도는, 대응하는 연결패드의 도전 패턴이 상기 단위 분포 범위(R0)에서 차지하는 비율 범위에 의해 결정될 수 있다.In this embodiment, a portion of the connection pad group (eg, the first connection pad group G1 or the second connection pad group G2) within the unit distribution range R0 within the unit distribution range R0 The distribution density may be determined by a ratio range occupied by the conductive pattern of the corresponding connection pad in the unit distribution range R0.
본 실시예에서, 일 단위 분포 범위(R0) 내에서 복수의 제1 연결패드(110)의 분포 밀도(제1 분포 밀도로 지칭할 수 있음)는 복수의 제2 연결패드(120)의 분포 밀도(제2 분포 밀도로 지칭할 수 있음) 보다 작다. 이와 유사하게 일 단위 분포 범위(R0)내에서, 복수의 제3 연결패드(130)의 분포 밀도(제1 분포 밀도로 지칭할 수 있음)는 복수의 제2 연결패드(120)의 분포 밀도(제2 분포 밀도로 지칭할 수 있음) 보다 작다. 이렇게 하면, 칩(100)과 다른 부품 사이의 상호 접합 수율을 더 높일 수 있고 접합 실패 또는 접합 후 박리 가능성을 더 낮출 수 있다.In this embodiment, the distribution density of the plurality of first connection pads 110 (which may be referred to as a first distribution density) within the distribution range R0 in one unit is the distribution density of the plurality of
본 실시예에서, 제2 연장 방향(D2)에서 복수의 제1 연결패드(110)의 일부는 부분적으로 중첩되지만 완전하게 중첩되지 않는다. 예를 들어, 이 중 한 제1 연결패드(115)와 이 중 또 다른 한 제1 연결패드(116)는 부분적으로 중첩되지만, 상기 이 중 한 제1 연결패드(115)와 상기 이 중 또 다른 한 제1 연결패드(116)는 완전하게 중첩되지는 않는다. 이렇게 하면, 제1 연결패드(110)와 상호 결합된 다른 부품(예컨대, 후속 기판(410)의 복수의 팬아웃 라인(470))에 대한 배치가 비교적 편리하거나 조정이 가능할 수 있다.In this embodiment, some of the plurality of
본 실시예에서, 칩(100)의 제1 측면(S1) 또는 제2 측면(S2)에 가장 근접한 연결패드는 더미패드(dummy pad)일 수 있다. 예를 들어, 제1 연결패드(110) 중 제1 측면(S1) 또는 제2 측면(S2)에 가장 근접한 연결패드는 더미패드(119)일 수 있다. In this embodiment, a connection pad closest to the first side surface S1 or the second side surface S2 of the
본 실시예에서, 칩(100)의 제1 측면(S1) 또는 제4 측면(S4)에 가장 근접한 연결패드는 더미패드(dummy pad)일 수 있다. 예를 들어, 제3 연결패드(130) 중 제1 측면(S1) 또는 제4 측면(S4)에 가장 근접한 연결패드는 더미패드(139)일 수 있다.In this embodiment, a connection pad closest to the first side surface S1 or the fourth side surface S4 of the
일 실시예에서, 더미패드(119) 또는 더미패드(139)는 구조 상의 더미일 수 있다. 즉, 더미패드(119) 또는 더미패드(139)는 다른 도체와 연결되지 않고 격리(isolated)된 도체일 수 있다.In one embodiment,
일 실시예에서, 더미패드(119) 또는 더미패드(139)는 신호 상의 더미일 수 있다. 즉, 더미패드(119) 또는 더미패드(139)는 다른 능동 부품(예컨대, 칩(100) 내의 다른 능동 부품)과 전기적으로 연결되지 않을 수 있다. 예를 들어, 더미패드(119) 또는 더미패드(139)는 응용 시 접지될 수 있다.In one embodiment,
도 2는 본 고안의 제2 실시예에 따른 칩의 조감도를 개략적으로 나타낸다. 본 실시예의 칩(200)은 제1 실시예의 칩(100)과 유사하며, 유사한 부재는 동일한 부호로 표시되고 유사한 기능, 재질 또는 배치 방식을 가지며 설명은 생략된다.2 schematically shows a bird's eye view of a chip according to a second embodiment of the present invention. The
도 2를 참조하면, 본 실시예에서 제1 연결패드 그룹(G1)은 복수의 제1 연결패드(210), 복수의 제2 연결패드(120) 및 복수의 제3 연결패드(230)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2 , in this embodiment, the first connection pad group G1 includes a plurality of
본 실시예에서, 복수의 제1 연결패드(210)의 배치 방식은 상기 실시예의 복수의 제1 연결패드(110) 배치 방식과 유사하고, 및/또는 복수의 제3 연결패드(230)의 배치 방식은 상기 실시예의 복수의 제3 연결패드(130) 배치 방식과 유사하다. 예를 들어, 복수의 제2 연결패드(120)는 복수의 제1 연결패드(210) 및 복수의 제3 연결패드(230) 사이에 위치한다. 제2 연장 방향(D2)에서, 복수의 제1 연결패드(210)의 분포 범위 크기는 복수의 제2 연결패드(120)의 분포 범위 크기보다 크거나 같을 수 있다. 마찬가지로 제2 연장 방향(D2)에서, 복수의 제3 연결패드(230)의 분포 범위 크기는 복수의 제2 연결패드(120)의 분포 범위 크기보다 크거나 같을 수 있다.In this embodiment, the arrangement of the plurality of
본 실시예에서, 각각의 제1 연결패드(210)는 대응하는 연결패드 연장 방향에서 크기가 가장 크고, 이러한 연결패드 연장 방향은 제2 연장 방향(D2)과 다르다. 예를 들어, 제1 연결패드(210)는 직사각형 모양으로 제1 연결패드(210)의 최대 크기는 그 길이가 될 수 있다. 또한 연결패드 연장 방향과 수직이 되는 다른 일 방향에서 제1 연결패드(210)의 크기는 그 너비가 될 수 있다. 다시 예를 들면, 이 중 한 제1 연결패드(211)는 대응하는 연결패드 연장 방향(211d)을 가지고, 이 중 다른 한 제1 연결패드(212)는 대응하는 연결패드 연장 방향(212d)을 가지며, 이 중 또 다른 한 제1 연결패드(213)는 대응하는 연결패드 연장 방향(213d)을 가지고, 이 중 또 다른 한 제1 연결패드(214)는 대응하는 연결패드 연장 방향(214d)을 가지며, 연결패드 연장 방향(211d), 연결패드 연장 방향(212d), 연결패드 연장 방향(213d) 및 연결패드 연장 방향(214d)은 모두 제2 연장 방향(D2)과 평행하지 않는다.In this embodiment, each
본 실시예에서, 복수의 연결패드 연장 방향과 제2 연장 방향(D2) 사이에 대응하는 연결패드 끼인각을 가지며, 복수의 연결패드 끼인각의 각도는 중심선(102)에서 제2 측면(S2)방향으로 점진적으로 90°에 가까워진다.In this embodiment, there is a corresponding connection pad included angle between the plurality of connection pad extension directions and the second extension direction D2, and the angle of the plurality of connection pad included angles extends from the
예를 들어, 이 중 다른 한 제1 연결패드(212)는 이 중 한 제1 연결패드(211)보다 제2 측면(S2)에 더 근접하고, 연결패드 연장 방향(211d)과 제2 연장 방향(D2) 사이에 대응하는 연결패드 끼인각(A1)을 가진다. 이 중 한 제1 연결패드(213)는 이 중 다른 한 제1 연결패드(212)보다 제2 측면(S2)에 더 근접하고, 연결패드 연장 방향(212d)과 제2 연장 방향(D2) 사이에 대응하는 연결패드 끼인각(A2)을 가진다. 이 중 또 다른 한 제1 연결패드(214)는 다른 한 제1 연결패드(213)보다 제2 측면(S2)에 더 근접하고, 연결패드 연장 방향(213d)과 제2 연장 방향(D2) 사이에 대응하는 연결패드 끼인각(A3)을 가진다. 또한 연결패드 연장 방향(214d)과 제2 연장 방향(D2) 사이에 대응하는 연결패드 끼인각(A4)을 가진다. 연결패드 끼인각(A1)의 각도는 연결패드 끼인각(A2)의 각도보다 작고, 연결패드 끼인각(A2)의 각도는 연결패드 끼인각(A3)의 각도보다 작으며, 연결패드 끼인각(A3)의 각도는 연결패드 끼인각(A4)의 각도보다 작고, 연결패드 끼인각(A4)의 각도는 90°보다 작거나 또는 기본적으로 같다.For example, one of the other
본 실시예에서, 제1 연결패드(211), 제1 연결패드(212), 제1 연결패드(213) 및 제1 연결패드(214)는 각각 연결패드 연장 방향(211d), 연결패드 연장 방향(212d), 연결패드 연장 방향(213d) 및 연결패드 연장 방향(214d)에 있으며 복수의 제1 연결패드(210)의 일부는 부분적으로 중첩되고 완전하게 중첩되지 않는다. 예를 들어, 이 중 한 제1 연결패드(211)와 다른 한 제1 연결패드(211')는 부분적으로 중첩되고, 상기 한 제1 연결패드(211)와 상기 다른 한 제1 연결패드(211')는 완전하게 중첩되지는 않는다. 이 중 한 제1 연결패드(212)와 이 중 다른 한 제1 연결패드(212')는 부분적으로 중첩되고, 상기 한 제1 연결패드(212)와 상기 다른 한 제1 연결패드(212')는 완전하게 중첩되지는 않는다. 이렇게 하면 제1 연결패드(210)와 상호 결합된 다른 부품(예컨대, 후속 기판(410)의 복수의 팬아웃 라인(470))에 대한 배치가 비교적 편리하거나 조정이 가능할 수 있다In this embodiment, the
본 실시예에서, 제3 연결패드(230)의 배치 방식은 제1 연결패드(210)의 배치 방식과 같거나 유사할 수 있다. 예를 들어, 각각의 제3 연결패드(230)의 연결패드 연장 방향과 제2 연장 방향(D2) 사이에 대응하는 연결패드 끼인각을 가지며, 복수의 연결패드 끼인각의 각도는 중심선(102)에서 제4 측면(S4) 방향을 향해 점진적으로 90°에 가까워진다. In this embodiment, the arrangement method of the
일 실시예에서, 제3 연결패드(230)의 배치 방식과 제1 연결패드(210)의 배치 방식은 칩(200)의 중심선(102)에 대응하여 미러 대칭(mirror symmetry)과 유사한 배치 방식일 수 있으나 본 고안은 이에 국한되지 않는다.In one embodiment, the arrangement method of the
도 3은 본 고안의 제3 실시예에 따른 칩의 조감도를 개략적으로 나타낸다. 본 실시예의 칩(300)은 제1 실시예의 칩(100)과 유사하고, 유사한 부재는 동일한 부호로 표시되고 유사한 기능, 재질 또는 배치 방식을 가지며 설명은 생략된다.3 schematically shows a bird's eye view of a chip according to a third embodiment of the present invention. The
본 실시예에서, 제1 연결패드(110) 중 제1 측면(S1) 및 제2 측면(S2)에 가장 근접한 연결패드는 더미패드(119)일 수 있다. 즉, 더미패드(119)는 칩(300)의 한 모서리에 가장 근접한 연결패드일 수 있다. 본 실시예에서, 더미패드(119)의 개수는 복수일 수 있다.In this embodiment, among the
본 실시예에서, 제3 연결패드(130) 중 제1 측면(S1) 및 제4 측면(S4)에 가장 근접한 연결패드는 더미패드(139)일 수 있다. 즉, 더미패드(139)는 칩(300)의 한 모서리에 가장 근접한 연결패드일 수 있다. 본 실시예에서, 더미패드(139)의 개수는 복수일 수 있다.In this embodiment, among the
도 4A는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 조감도를 개략적으로 나타낸다. 도 4B는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 일부의 조감도를 개략적으로 나타낸다. 도 4C는 본 고안의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 일부 회로를 개략적으로 나타낸다. 예를 들어, 도 4B는 도 4A의 영역(R1)에 해당하는 부분을 확대하여 나타낸 것이다.4A schematically shows a bird's eye view of a display panel according to an embodiment of the present invention. 4B schematically shows a bird's eye view of a portion of a display panel according to an embodiment of the present invention. 4C schematically shows some circuits of a display panel according to an embodiment of the present invention. For example, FIG. 4B is an enlarged view of a portion corresponding to region R1 of FIG. 4A.
도 4A 내지 도 4C를 참조하면, 디스플레이 패널(400)은 기판(410), 복수의 디스플레이 유닛(460), 복수의 팬아웃 라인(470) 및 칩(100)을 포함한다. 기판(410)은 디스플레이 영역(416)과 비디스플레이 영역(411)을 구비한다. 디스플레이 유닛(460)은 기판(410)의 디스플레이 영역(416)에 배치된다. 팬아웃 라인(470)은 디스플레이 영역(416)에서 비디스플레이 영역(411)으로 연장된다. 칩(100)은 기판(410)의 비디스플레이 영역(411)에 배치된다. 디스플레이 유닛(460)은 팬아웃 라인(470) 중 적어도 일부를 통해 칩(100)의 제1 연결패드 그룹(G1)의 적어도 일부에 전기적으로 연결된다.Referring to FIGS. 4A to 4C , a
본 실시예에서, 디스플레이 패널(400)에 포함된 칩은 제1 실시예의 칩(100)을 예로 들었지만 본 고안이 여기에 국한되지 않음을 주의할 필요가 있다. 설명하지 않은 다른 실시예에서 디스플레이 패널(400)에 포함된 칩은 칩(100)과 유사한 칩(예컨대, 제2 실시예의 칩(200) 또는 제3 실시예의 칩(300)과 동일하거나 유사한)일 수 있다.In this embodiment, the chip included in the
본 실시예에서, 디스플레이 유닛(460)은 디스플레이 패널(400)의 설계의 요구 사항에 따라 조정될 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 패널(400)이 발광다이오드 디스플레이 패널일 경우 디스플레이 유닛(460)은 대응하는 발광다이오드 소자 및 상기 발광다이오드 소자를 구동하는 트랜지스터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 패널(400)이 액정 디스플레이 패널일 경우 디스플레이 유닛(460)은 액정을 전환시키는 전극과 상기 전극을 구동하는 트랜지스터를 포함할 수 있다.In this embodiment, the
본 실시예에서, 디스플레이 유닛(460)은 대응하는 팬아웃 라인(470)과 제1 연결패드 그룹(G1) 중 대응하는 연결패드(예컨대, 대응하는 제1 연결패드(110), 대응하는 제2 연결패드(120) 또는 대응하는 제3 연결패드(130))를 통해 칩(100)의 대응하는 구동 소자(108)에 전기적으로 연결될 수 있다.In this embodiment, the
본 실시예에서, 칩(100)의 복수의 제1 연결패드(110) 및/또는 복수의 제3 연결패드(130)의 분포 방식을 통해 레이아웃 설계에서 디스플레이 패널(400)의 팬아웃 라인(470)을 덜 제한할 수 있다. 즉, 레이아웃 설계에서 팬아웃 라인(470)의 유연성을 높일 수 있다.In this embodiment, the fan-out
본 실시예에서, 칩(100)은 예를 들어 플립 칩 본딩(flip-chip bonding) 방식을 통해 기판(410)의 비디스플레이 영역(411)에 배치될 수 있다.In this embodiment, the
일 실시예에서, 칩(100)의 연결패드(예컨대, 제1 연결패드(110), 제2 연결패드(120) 또는 제3 연결패드(130)) 및 대응하는 팬아웃 라인(470)은 대응하는 도전성 연결 부재(예컨대, 납볼)를 구비할 수 있다.In one embodiment, the connection pads of the chip 100 (eg, the
일 실시예에서, 칩(100)은 예를 들어 디스플레이 드라이버 IC(display driver IC, DDIC)를 포함한다.In one embodiment,
일 실시예에서, 디스플레이 패널(400)은 터치 디스플레이 패널일 수 있고 칩(100)은 예를 들어 터치 감지 및 디스플레이 통합 IC(sensing touch display integration IC, STDI IC) 또는 터치 디스플레이 드라이버 통합 IC(touch with display driver integration IC, TDDI IC)를 포함한다. 또한 디스플레이 패널(400)의 디스플레이 영역(416) 내의 터치 감지 소자는 대응하는 팬아웃 라인(470)과 제1 연결패드 그룹(G1) 중 대응하는 연결패드(예컨대, 제1 연결패드(110), 제2 연결패드(120) 또는 제3 연결패드(130))를 통해 칩(100)에 전기적으로 연결될 수 있다.In one embodiment, the
본 실시예에서, 더미패드(119)는 팬아웃 라인(479)(즉, 팬아웃 라인(470) 중 하나)에 전기적으로 연결될 수 있고, 더미패드(119)는 모든 복수의 디스플레이 유닛(460)과 전기적으로 연결되지 않을 수 있다.In this embodiment, the
본 실시예에서, 더미패드(119)는 접지될 수 있다.In this embodiment, the
본 실시예에서, 칩(100)의 제4 연결패드(140)는 다른 적절한 전자 부품(480)(예컨대, 연성 인쇄 회로 기판(flexible printed circuit board, FPC board))에 전기적으로 연결될 수 있으나 본 고안은 여기에 국한되지 않는다.In this embodiment, the
따라서 본 고안은 칩의 제1 연결패드 그룹의 분포 방식으로 칩에 힘을 가하여 칩의 제1 연결패드 그룹과 다른 부품을 서로 결합할 때, 상기 힘을 비교적 균일하게 하거나 완화시킬 수 있다. 또는 제1 연결패드 그룹과 다른 부품을 서로 결합한 후 그 사이에 갖는 접합력을 비교적 균일하게 하거나 완화시킬 수 있다. 이를 통해 칩과 다른 부품간 상호 접합 수율을 높일 수 있고 접합 실패(failed bonding) 또는 접합 후 박리(peeling after bonding) 가능성을 낮출 수 있다. 따라서 상기 칩을 구비한 디스플레이 패널은 칩과 팬아웃 라인 사이의 접합 수율 또는 접합 품질이 비교적 우수하다. 또한 칩의 복수의 제1 연결패드 분포 방식을 통해, 레이아웃 설계에서 디스플레이 패널의 팬아웃 라인을 덜 제한할 수 있다. 즉, 레이아웃 설계에서 팬아웃 라인의 유연성을 높일 수 있다.Therefore, according to the present invention, when a force is applied to the chip in a distribution manner of the first connection pad group of the chip to couple the first connection pad group of the chip and other components, the force can be relatively uniform or alleviated. Alternatively, after the first connection pad group and other components are coupled to each other, bonding force between them may be relatively uniform or alleviated. Through this, the mutual bonding yield between the chip and other parts can be increased and the possibility of failed bonding or peeling after bonding can be reduced. Accordingly, the display panel including the chip has a relatively excellent bonding yield or bonding quality between the chip and the fan-out line. In addition, the fan-out line of the display panel can be less restricted in the layout design through the distribution method of the plurality of first connection pads of the chip. That is, the flexibility of fan-out lines can be increased in layout design.
100, 200, 300: 칩
S1: 제1 측면
S2: 제2 측면
S3: 제3 측면
S4: 제4 측면
101: 활성면
102: 중심선
108: 구동 소자
D1: 제1 연장 방향
D2: 제2 연장 방향
G1: 제1 연결패드 그룹
G2: 제2 연결패드 그룹
110, 115, 116, 210, 211, 211', 212, 212', 213, 214: 제1 연결패드
119, 139: 더미패드
211d, 212d, 213d, 214d: 연결패드 연장 방향
A1, A2, A3, A4: 연결패드 끼인각
120: 제2 연결패드
130, 230: 제3 연결패드
140: 제4 연결패드
R0: 단위 분포 범위
R1: 영역
400: 디스플레이 패널
410: 기판
411: 비디스플레이 영역
416: 디스플레이 영역
460: 디스플레이 유닛
470, 479: 팬아웃 라인
480: 전자 부품100, 200, 300: chips
S1: first aspect
S2: Second aspect
S3: Third aspect
S4: Fourth aspect
101: active side
102: center line
108: drive element
D1: first extension direction
D2: second extension direction
G1: first connection pad group
G2: second connection pad group
110, 115, 116, 210, 211, 211', 212, 212', 213, 214: first connection pad
119, 139: dummy pad
211d, 212d, 213d, 214d: connection pad extension direction
A1, A2, A3, A4: Include angle of connection pad
120: second connection pad
130, 230: third connection pad
140: fourth connection pad
R0: unit distribution range
R1: area
400: display panel
410: substrate
411: non-display area
416: display area
460: display unit
470, 479: fanout line
480: electronic components
Claims (10)
상기 제1 측면이 제1 연장 방향을 갖고 상기 제2 측면이 제2 연장 방향을 가지며, 상기 제1 연장 방향이 상기 제2 연장 방향과 다르고 상기 칩은,
상기 제1 연장 방향을 따라 분포하는 제1 연결패드 그룹으로서, 상기 제1 연결 패드 그룹은 복수의 제1 연결 패드 및 복수의 제2 연결 패드를 가지고, 상기 복수의 제1 연결 패드는 상기 칩의 중심선과 중첩되지 않는 제1 분포 범위를 가지며, 상기 복수의 제2 연결 패드는 상기 칩의 상기 중심선과 중첩되는 제2 분포 범위를 가지고, 상기 제2 연장 방향에서, 상기 제1 분포 범위의 최대 크기는 상기 제2 분포 범위의 최대 크기보다 큰, 상기 제1 연결패드 그룹; 및
상기 제1 연장 방향을 따라 분포하는 제2 연결패드 그룹으로서, 상기 제2 연결 패드 그룹과 상기 제1 측면 사이의 거리는 상기 제1 연결 패드 그룹과 상기 제1 측면 사이의 거리보다 큰, 상기 제2 연결패드 그룹을 포함하며,
단위 분포 범위 내에서, 상기 제2 복수의 연결 패드는 제2 분포 밀도를 가지고, 상기 제1 복수의 연결 패드는 제1 분포 밀도를 가지며, 상기 제1 분포 밀도는 상기 제2 분포 밀도보다 작고,
상기 제2 연장 방향에서, 상기 복수의 제1 연결 패드 중 2개의 인접한 제1 연결 패드 사이의 거리는 상기 복수의 제2 연결 패드 중 2개의 인접한 제2 연결 패드 사이의 거리보다 큰, 칩.
A chip having a first side and a second side connected to the first side,
wherein the first side surface has a first extension direction and the second side surface has a second extension direction, the first extension direction being different from the second extension direction, and the chip comprising:
A first connection pad group distributed along the first extension direction, wherein the first connection pad group has a plurality of first connection pads and a plurality of second connection pads, the plurality of first connection pads of the chip a first distribution range not overlapping a center line, the plurality of second connection pads having a second distribution range overlapping the center line of the chip, and a maximum size of the first distribution range in the second extension direction; is larger than the maximum size of the second distribution range, the first connection pad group; and
A second connection pad group distributed along the first extension direction, wherein a distance between the second connection pad group and the first side surface is greater than a distance between the first connection pad group and the first side surface. Includes a group of connection pads,
Within the unit distribution range, the second plurality of connection pads have a second distribution density, the first plurality of connection pads have a first distribution density, and the first distribution density is smaller than the second distribution density;
in the second extension direction, a distance between two adjacent first connection pads of the plurality of first connection pads is greater than a distance between two adjacent second connection pads of the plurality of second connection pads.
상기 제1 연장 방향은 상기 제2 연장 방향과 수직인, 칩.
The method of claim 1,
wherein the first direction of extension is perpendicular to the second direction of extension.
상기 제2 연장 방향에서의 상기 제2 연결패드 그룹의 분포 범위는 일치하는, 칩.
The method of claim 1,
and distribution ranges of the second connection pad group in the second extension direction coincide.
상기 제1 연결패드 그룹은 복수의 제1 연결패드를 포함하고 상기 제2 연장 방향에서 일부 상기 복수의 제1 연결패드가 부분적으로 중첩되고 완전하게 중첩되지 않는, 칩.
The method of claim 1,
wherein the first connection pad group includes a plurality of first connection pads, and in the second extending direction, some of the plurality of first connection pads partially overlap and do not completely overlap.
상기 제1 연결패드 그룹은 복수의 제1 연결패드를 포함하고 각각의 상기 복수의 제1 연결패드가 대응하는 연결패드 연장 방향에서 최대 크기를 가지며, 상기 복수의 제1 연결패드의 상기 복수의 연결패드 연장 방향은 상기 제2 연장 방향과 다른, 칩.
The method of claim 1,
The first connection pad group includes a plurality of first connection pads, each of the plurality of first connection pads has a maximum size in a corresponding connection pad extension direction, and the plurality of connections of the plurality of first connection pads wherein the pad extension direction is different from the second extension direction.
각각의 상기 복수의 연결패드 연장 방향과 상기 제2 연장 방향 사이에 대응하는 연결패드 끼인각이 있으며, 상기 복수의 연결패드 끼인각의 각도는 상기 중심선에서 상기 제2 측면을 향해 점진적으로 90°에 가까워지는, 칩.
The method of claim 6,
There is a corresponding connection pad included angle between each of the plurality of connection pad extension directions and the second extension direction, and the angle of the plurality of connection pad included angles gradually approaches 90° from the center line toward the second side surface. , chips.
청구항 1 내지 청구항 3 및 청구항 5 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 따른 칩;
디스플레이 영역과 비디스플레이 영역을 구비하는 기판;
상기 기판의 상기 디스플레이 영역에 배치되는 복수의 디스플레이 유닛; 및
상기 디스플레이 영역에서 상기 비디스플레이 영역으로 연장되는 복수의 팬아웃 라인을 포함하며,
상기 칩은 상기 기판의 상기 비디스플레이 영역에 배치되고, 상기 복수의 디스플레이 유닛이 상기 복수의 팬아웃 라인 중 적어도 일부를 통해 상기 칩의 상기 제1 연결패드 그룹의 적어도 일부에 전기적으로 연결되는, 디스플레이 패널.
In the display panel,
The chip according to any one of claims 1 to 3 and claims 5 to 7;
a substrate having a display area and a non-display area;
a plurality of display units disposed in the display area of the substrate; and
a plurality of fan-out lines extending from the display area to the non-display area;
wherein the chip is disposed in the non-display area of the substrate, and the plurality of display units are electrically connected to at least a portion of the first connection pad group of the chip through at least a portion of the plurality of fan-out lines. panel.
상기 칩의 상기 제1 연결패드 그룹은 적어도 하나의 더미패드를 포함하고, 상기 적어도 하나의 더미패드는 상기 칩의 상기 제1 측면 또는 상기 제2 측면에 가장 가까운 연결패드이며, 상기 적어도 하나의 더미패드는 적어도 하나의 상기 복수의 팬아웃 라인과 전기적으로 연결되고, 상기 적어도 하나의 더미패드는 모든 상기 복수의 디스플레이 유닛과 전기적으로 연결되지 않는, 디스플레이 패널.
The method of claim 8,
The first connection pad group of the chip includes at least one dummy pad, the at least one dummy pad is a connection pad closest to the first or second side of the chip, wherein a pad is electrically connected to at least one of the plurality of fan-out lines, and wherein the at least one dummy pad is not electrically connected to all of the plurality of display units.
상기 적어도 하나의 더미패드는 접지되는, 디스플레이 패널.The method of claim 9,
Wherein the at least one dummy pad is grounded.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109211346 | 2020-08-31 | ||
TW109211346U TWM605386U (en) | 2020-08-31 | 2020-08-31 | Chip and display panel |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220000573U KR20220000573U (en) | 2022-03-08 |
KR200496376Y1 true KR200496376Y1 (en) | 2023-01-13 |
Family
ID=74670415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2020200004753U KR200496376Y1 (en) | 2020-08-31 | 2020-12-23 | Chip and display panel |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR200496376Y1 (en) |
TW (1) | TWM605386U (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI812326B (en) * | 2022-02-14 | 2023-08-11 | 瑞鼎科技股份有限公司 | Touch and display driver integration ( tddi) integrated circuit |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11344720A (en) * | 1998-06-01 | 1999-12-14 | Casio Comput Co Ltd | Connecting structure of flexible connector |
KR101051013B1 (en) * | 2003-12-16 | 2011-07-21 | 삼성전자주식회사 | Driving chip and display device having same |
KR102505862B1 (en) * | 2018-05-15 | 2023-03-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display panel and display device including the same |
-
2020
- 2020-08-31 TW TW109211346U patent/TWM605386U/en unknown
- 2020-12-23 KR KR2020200004753U patent/KR200496376Y1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220000573U (en) | 2022-03-08 |
TWM605386U (en) | 2020-12-11 |
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