KR200476336Y1 - Apparatus for injection gas and apparatus for processing substrate including the same - Google Patents
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Abstract
본 고안은 세정이 용이한 가스 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는 것으로, 본 고안에 따른 가스 분사 장치는 몸체; 상기 몸체의 일측과 타측을 관통하도록 상기 몸체의 내부에 형성되어 외부로부터 제 1 가스가 공급되는 복수의 가스 공급 유로; 상기 복수의 가스 공급 유로에 연결되도록 상기 몸체에 천공되어 상기 복수의 가스 공급 유로로부터 공급되는 상기 제 1 가스를 분사하는 복수의 제 1 가스 분사 홀; 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀 각각의 주변에 위치하도록 상기 몸체에 천공되어 외부로부터 공급되는 제 2 가스를 분사하는 복수의 제 2 가스 분사 홀; 상기 몸체의 일측에 분리 가능하게 결합되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각의 일측을 밀봉하는 제 1 유로 밀봉 수단; 및 상기 몸체의 타측에 분리 가능하게 결합되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각의 타측을 밀봉하는 제 2 유로 밀봉 수단을 포함하여 구성될 수 있다.The present invention provides a gas injection apparatus that is easy to clean and a substrate processing apparatus including the gas injection apparatus, wherein the gas injection apparatus includes a body; A plurality of gas supply passages formed in the body so as to penetrate one side and the other side of the body and to which a first gas is supplied from the outside; A plurality of first gas injection holes formed in the body so as to be connected to the plurality of gas supply channels to inject the first gas supplied from the plurality of gas supply channels; A plurality of second gas injection holes arranged in the periphery of each of the plurality of first gas injection holes to inject a second gas supplied from the outside into the body; First channel sealing means detachably coupled to one side of the body to seal one side of each of the plurality of gas supply channels; And a second flow path sealing means removably coupled to the other side of the body to seal the other side of each of the plurality of gas supply flow paths.
Description
본 고안은 가스 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a gas injection apparatus and a substrate processing apparatus including the same.
일반적으로, 반도체 소자, 평판 디스플레이, 및 태양전지(Solar Cell) 등을 제조하기 위해서는 기판 표면에 소정의 박막층을 형성하여야 하며, 이를 위해서는 기판에 특정 물질의 박막을 증착하는 박막 증착 공정, 감광성 물질을 사용하여 박막을 선택적으로 노출시키는 포토 공정, 선택적으로 노출된 부분의 박막을 제거하여 패턴을 형성하는 식각 공정 등의 반도체 제조 공정을 수행하게 된다.Generally, in order to manufacture a semiconductor device, a flat panel display, and a solar cell, a predetermined thin film layer must be formed on the surface of a substrate. To this end, a thin film deposition process for depositing a thin film of a specific material on a substrate, A photolithography process for selectively exposing a thin film using the thin film, and an etching process for forming a pattern by selectively removing a thin film of the exposed portion.
이러한 반도체 제조 공정은 해당 공정을 위해 최적의 환경으로 설계된 기판 처리 장치의 내부에서 진행되며, 최근에는 플라즈마를 이용하여 증착 또는 식각 공정을 수행하는 기판 처리 장치가 많이 사용되고 있다.Such a semiconductor manufacturing process is performed inside a substrate processing apparatus designed for an optimum environment for the process, and recently, a substrate processing apparatus for performing a deposition or etching process using plasma is widely used.
플라즈마 강화 화학 기상 증착과 같은 기판 처리 장치는 챔버 내로 가스를 도입하기 위해 가스 분사 장치를 이용하게 된다.A substrate processing apparatus, such as a plasma enhanced chemical vapor deposition, utilizes a gas injection device to introduce gas into the chamber.
상기 가스 분사 장치는 판 형태의 몸체에 노즐 기능을 하는 다수의 분사 홀이 형성되어 각종 공정 가스를 기판 표면에 분사하는 역할을 한다. 이러한, 상기 가스 분사 장치의 재질로는 가공성 및 공정 가스와의 반응성 등을 고려하여 통상적으로 알루미늄 재질을 사용하고 있다.The gas injection device has a plurality of injection holes, which function as nozzles, in a plate-shaped body to inject various process gases onto the substrate surface. As the material of the gas injection device, aluminum material is usually used in consideration of processability and reactivity with the process gas.
종래의 가스 분사 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 판 형태의 몸체(10), 드릴 등의 기계 가공에 의해 몸체(10)의 가로 방향과 세로 방향을 따라 상기 몸체(10)의 내부에 천공된 후 양 끝단이 용접(22)에 의해 밀봉된 복수의 가스 유로(20), 및 상기 복수의 가스 유로(20) 각각에 연결되도록 상기 몸체(10)의 하면에 수직하게 천공된 복수의 분사 홀(30)을 포함한다. 이러한, 종래의 가스 분사 장치는 가스 공급관(40)을 통해 복수의 가스 유로(20) 각각에 주입되는 공정 가스를 복수의 분사 홀(30)을 통해 하향 분사하게 된다.1, a conventional gas injection device is formed by machining a plate-
이와 같은, 종래의 가스 분사 장치는 복수의 가스 유로(20) 각각의 양 끝단이 용접에 의해 영구적으로 밀봉됨으로써 가스 유로들(20) 및 분사 홀(30)을 세정하는데 어려움이 있으며, 완전히 세정되지 않고, 완전한 세정을 위해서는 장시간의 세정 시간이 필요하다는 문제점이 있다.In the conventional gas injection apparatus as described above, both ends of each of the plurality of
본 고안은 상술한 바와 같은 문제를 해결하고자 안출된 것으로, 세정이 용이한 가스 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는 것을 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a gas injection apparatus which is easy to clean and a substrate processing apparatus including the same.
또한 본 고안은 기판 처리 공정시 가스 분사 홀 각각의 형상에 대응되는 패턴이 기판에 전사되는 것을 방지할 수 있는 가스 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는 것을 다른 과제로 한다.It is another object of the present invention to provide a gas injection apparatus and a substrate processing apparatus including the same that can prevent a pattern corresponding to the shape of each gas injection hole from being transferred to a substrate during a substrate processing process.
전술한 과제를 해결하기 위한 본 고안에 따른 가스 분사 장치는 몸체; 상기 몸체의 일측과 타측을 관통하도록 상기 몸체의 내부에 형성되어 외부로부터 제 1 가스가 공급되는 복수의 가스 공급 유로; 상기 복수의 가스 공급 유로에 연결되도록 상기 몸체에 천공되어 상기 복수의 가스 공급 유로로부터 공급되는 상기 제 1 가스를 분사하는 복수의 제 1 가스 분사 홀; 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀 각각의 주변에 위치하도록 상기 몸체에 천공되어 외부로부터 공급되는 제 2 가스를 분사하는 복수의 제 2 가스 분사 홀; 상기 몸체의 일측에 분리 가능하게 결합되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각의 일측을 밀봉하는 제 1 유로 밀봉 수단; 및 상기 몸체의 타측에 분리 가능하게 결합되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각의 타측을 밀봉하는 제 2 유로 밀봉 수단을 포함하여 구성될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a gas injection device comprising: a body; A plurality of gas supply passages formed in the body so as to penetrate one side and the other side of the body and to which a first gas is supplied from the outside; A plurality of first gas injection holes formed in the body so as to be connected to the plurality of gas supply channels to inject the first gas supplied from the plurality of gas supply channels; A plurality of second gas injection holes arranged in the periphery of each of the plurality of first gas injection holes to inject a second gas supplied from the outside into the body; First channel sealing means detachably coupled to one side of the body to seal one side of each of the plurality of gas supply channels; And a second flow path sealing means removably coupled to the other side of the body to seal the other side of each of the plurality of gas supply flow paths.
상기 제 1 유로 밀봉 수단은 상기 몸체의 일측면을 덮는 밀봉 플레이트; 상기 몸체의 일측면과 상기 밀봉 플레이트의 내측면 사이에 개재된 개스킷; 및 상기 밀봉 플레이트를 상기 몸체의 일측면에 분리 가능하게 결합시키는 복수의 체결 부재를 포함하여 구성될 수 있다.The first flow path sealing means includes a sealing plate covering one side of the body; A gasket interposed between one side of the body and an inner side of the sealing plate; And a plurality of fastening members detachably coupling the sealing plate to one side of the body.
상기 제 1 유로 밀봉 수단 각각은 싱기 밀봉 플레이트의 내측면으로부터 돌출되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각의 일측에 삽입되는 복수의 삽입 돌기를 더 포함하여 구성될 수 있다.Each of the first flow path sealing members may further include a plurality of insertion protrusions protruding from an inner surface of the squeeze seal plate and inserted into one side of each of the plurality of gas supply passages.
상기 밀봉 플레이트는 상기 복수의 가스 공급 유로 중 적어도 2개의 가스 공급 유로를 함께 밀봉하기 위해 복수의 분할되고, 상기 개스킷은 상기 복수의 분할된 밀봉 플레이트 각각과 상기 몸체의 일측면 사이에 개재될 수 있다.The sealing plate may be divided into a plurality of portions so as to seal together at least two gas supply passages of the plurality of gas supply passages, and the gasket may be interposed between each of the plurality of divided sealing plates and one side of the body .
상기 복수의 제 1 가스 분사 홀들은 상기 가스 공급 유로의 길이 방향을 따라 지그재그 형태로 배치되고, 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀들은 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀들 사이에 지그재그 형태로 배치될 수 있다.The plurality of first gas injection holes may be arranged in a zigzag form along the longitudinal direction of the gas supply passage and the plurality of second gas injection holes may be arranged in a zigzag form between the plurality of first gas injection holes .
상기 가스 분사 장치는 상기 몸체에 형성되어 외부로부터 공급되는 상기 제 1 가스를 1차적으로 버퍼링하여 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각에 공급하는 제 1 가스 공통 공급 부재를 더 포함하여 구성될 수 있다.The gas injection device may further include a first gas common supply member formed in the body and first buffering the first gas supplied from the outside to supply the first gas to each of the plurality of first gas supply channels .
상기 제 1 가스 공통 공급 부재는 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각에 교차하도록 상기 몸체의 상면으로부터 오목하게 형성된 제 1 가스 공통 유로; 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각과 상기 제 1 가스 공통 유로의 교차 부분에 형성되어 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각을 상기 제 1 가스 공통 유로에 연통시키는 복수의 공통 연결 유로; 상기 제 1 가스 공통 유로의 상부를 밀봉하여 상기 복수의 공통 연결 유로 각각에 연통되는 제 1 가스 버퍼링 공간을 마련하는 공통 유로 커버; 및 상기 공통 유로 커버에 삽입 설치되어 상기 제 1 가스 버퍼링 공간에 상기 제 1 가스를 주입하는 제 1 가스 주입 포트를 포함하여 구성될 수 있다.Wherein the first gas common supply member includes: a first gas common flow channel formed to be concave from an upper surface of the body so as to cross each of the plurality of first gas supply channels; A plurality of common connection flow paths formed at intersections of each of the plurality of first gas supply channels and the first gas common channel and communicating each of the plurality of first gas supply channels with the first gas common channel; A common channel cover for sealing an upper portion of the first gas common flow path to provide a first gas buffering space communicating with each of the plurality of common connection flow paths; And a first gas injection port inserted in the common channel cover for injecting the first gas into the first gas buffering space.
전술한 과제를 해결하기 위한 본 고안에 따른 기판 처리 장치는 공정 챔버; 공정 챔버의 상부를 덮는 챔버 리드; 상기 공정 챔버의 내부에 설치되어 기판을 지지하는 기판 지지 수단; 및 상기 기판 지지 수단에 마주보도록 상기 챔버 리드의 하면에 결합된 가스 분사 수단을 포함하며, 상기 가스 분사 수단은 상기 가스 분사 장치를 포함하여 구성될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus comprising: a process chamber; A chamber lid covering the top of the process chamber; A substrate supporting means installed inside the process chamber to support the substrate; And a gas injection means coupled to a lower surface of the chamber lid so as to face the substrate support means, wherein the gas injection means may comprise the gas injection device.
상기 기판 처리 장치는 상기 챔버 리드의 하면과 상기 가스 분사 수단의 몸체 사이에 마련되어 외부로부터 상기 제 2 가스가 공급되는 제 2 가스 버퍼링 공간을 더 포함하여 구성될 수 있다.The substrate processing apparatus may further include a second gas buffering space provided between the lower surface of the chamber lid and the body of the gas injection means and supplied with the second gas from the outside.
상기 기판 처리 장치는 상기 챔버 리드의 하면에 결합되어 외부로부터 공급되는 제 2 가스의 흐름을 조절하여 상기 제 2 가스 버퍼링 공간으로 공급하는 배플 플레이트(Baffle plate)를 더 포함하여 구성될 수 있다.The substrate processing apparatus may further include a baffle plate coupled to a bottom surface of the chamber lid to adjust a flow of a second gas supplied from the outside to supply the second gas to the second gas buffering space.
본 고안에 따르면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, the following effects can be obtained.
첫째, 가스 분사 장치의 세정시, 유로 밀봉 수단의 분리를 통해 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각의 양 끝단을 외부로 노출시킬 수 있어 가스 분사 장치의 세정을 용이하게 할 수 있으며, 세정 시간을 감소시킬 수 있다는 효과가 있다.First, when cleaning the gas injection device, both ends of each of the plurality of first gas supply channels may be exposed to the outside through separation of the flow path sealing means, thereby facilitating the cleaning of the gas injection device, There is an effect that it can be reduced.
둘째, 복수의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀 각각이 지그재그 형태로 배치됨으로써 기판 처리 공정시 가스 분사 홀 각각의 형상에 대응되는 패턴이 기판에 전사되는 것을 방지할 수 있다는 효과가 있다.Second, since the plurality of first and second gas injection holes are arranged in a zigzag manner, the pattern corresponding to the shape of each gas injection hole can be prevented from being transferred to the substrate during the substrate processing step.
도 1은 종래의 가스 분사 장치를 개략적으로 나타내는 단면도이다.
도 2는 본 고안에 따른 가스 분사 장치의 일부를 절개하여 나타내는 단면 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 I-I'선의 단면을 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 고안에 따른 유로 밀봉 수단의 분해 사시도이다.
도 5는 도 2 및 도 3에 도시된 가스 공급 유로 및 공통 가스 유로를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 고안의 일 실시 예에 따른 가스 분사 홀의 배치 구조를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 고안에 따른 기판 처리 장치를 개략적으로 나타내는 단면도이다.1 is a cross-sectional view schematically showing a conventional gas injection device.
2 is a cross-sectional perspective view showing a part of the gas injection apparatus according to the present invention in an incision.
3 is a cross-sectional view showing a cross section taken along the line I-I 'shown in FIG.
4 is an exploded perspective view of the flow path sealing means according to the present invention.
Fig. 5 is a view for explaining the gas supply passage and the common gas passage shown in Figs. 2 and 3. Fig.
6 is a view for explaining an arrangement structure of a gas injection hole according to an embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view schematically showing a substrate processing apparatus according to the present invention.
본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. It should be noted that, in the specification of the present invention, the same reference numerals as in the drawings denote the same elements, but they are numbered as much as possible even if they are shown in different drawings.
한편, 본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다. Meanwhile, the meaning of the terms described in the present specification should be understood as follows.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제 1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다.The word " first, "" second," and the like, used to distinguish one element from another, are to be understood to include plural representations unless the context clearly dictates otherwise. The scope of the right should not be limited by these terms.
"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.It should be understood that the terms "comprises" or "having" does not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.
"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제1항목, 제2항목 및 제3항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제1항목, 제2항목 또는 제3항목 각각 뿐만 아니라 제1항목, 제2항목 및 제3항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미한다.It should be understood that the term "at least one" includes all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of "at least one of the first item, the second item and the third item" means not only the first item, the second item or the third item, but also the second item and the second item among the first item, Means any combination of items that can be presented from more than one.
이하에서는 본 고안에 따른 가스 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of a gas injection apparatus and a substrate processing apparatus including the same according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 고안에 따른 가스 분사 장치의 일부를 절개하여 나타내는 단면 사시도이고, 도 3은 도 2에 도시된 I-I'선의 단면을 나타내는 단면도이고, 도 4는 본 고안에 따른 유로 밀봉 수단의 분해 사시도이며, 도 5는 도 2 및 도 3에 도시된 가스 공급 유로 및 공통 가스 유로를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line I-I 'of FIG. 2, and FIG. 4 is a cross-sectional view of the gas- Fig. 5 is a view for explaining the gas supply passage and the common gas passage shown in Figs. 2 and 3. Fig.
도 2 내지 도 5를 참조하면, 본 고안에 따른 가스 분사 장치(100)는 몸체(110), 복수의 제 1 가스 공급 유로(120), 복수의 제 1 가스 분사 홀(130), 복수의 제 2 가스 분사 홀(140), 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160)을 포함하여 구성될 수 있다.2 to 5, the
상기 몸체(110)는 판 형태의 금속 재질, 예를 들어, 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성된다. 이러한, 상기 몸체(110)는 공정 챔버(미도시)의 상부를 덮는 챔버 리드(chamber lid)의 하면에 분리 가능하게 장착됨으로써 공정 챔버의 바닥면에 설치되어 있는 기판 지지 수단(미도시)에 마주보게 된다. 이때, 상기 몸체(110)와 상기 챔버 리드 사이에는 외부로부터 제 2 가스가 공급되는 제 2 가스 버퍼링 공간(미도시)이 마련된다.The
상기 제 2 가스는 기판에 형성될 박막의 주성분을 포함하는 소스 가스일 수 있다. 이 경우, 상기 제 2 가스는 산화막, HQ(hydroquinone) 산화막, High-K 물질의 박막, 실리콘(Si), 티탄족 원소(Ti, Zr, Hf 등), 또는 알루미늄(Al) 물질을 포함하는 소스 가스로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 실리콘(Si) 물질을 포함하는 소스 가스는 실란(Silane; SiH4), 디실란(Disilane; Si2H6), 트리실란(Trisilane; Si3H8), HCD(Hexachlorosilane), TSA(Trisilylamine), TriDMAS(Tri-dimethylaminosilane), DCS(Dichlorosilane), 또는 TEOS(Tetraethylorthosilicate) 등이 될 수 있다.The second gas may be a source gas including a main component of the thin film to be formed on the substrate. In this case, the second gas may be at least one selected from the group consisting of an oxide film, a hydroquinone oxide film, a thin film of a high-K material, silicon (Si), a titanium group element (Ti, Zr, Hf, Gas. For example, a source gas containing a silicon (Si) material can be formed using a silane (SiH4), disilane (Si2H6), trisilane (Si3H8), HCD (Hexachlorosilane), TSA (Trisilylamine) Tri-dimethylaminosilane, DCS (dichlorosilane), or TEOS (tetraethylorthosilicate).
상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각은 제 1 방향(Y)에 나란하도록 상기 몸체(110)의 내부에 일정한 간격으로 형성되어 외부로부터 공급되는 제 1 가스를 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각에 공급한다. 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각은 드릴(drill) 가공에 의해 상기 몸체(110)의 일측면과 타측면을 관통하도록 형성되고, 양 끝단 부분은 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160)에 의해 밀봉된다. 이러한, 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각은 해당하는 제 1 가스 분사 홀(130)에 연결되는 것으로, 제 1 가스 분사 홀(130)들의 형성 위치에 대응되도록 상기 제 1 방향(Y)에 수평 방향으로 수직한 제 2 방향(X)을 따라 일정한 간격 또는 미리 설정된 간격으로 형성된다.Each of the plurality of first
상기 제 1 가스는 소스 가스와 반응하여 박막을 형성하는 반응 가스일 수 있다. 이 경우, 상기 제 1 가스는 수소(H2), 질소(N2), 아산화질소(N2O), 산소(O2), 또는 암모니아(NH3) 등이 될 수 있는데, 이에 한정되지 않고, 기판(S)에 증착될 박막의 물질에 따라 선택될 수 있다. 나아가, 상기 제 1 가스는 플라즈마 발생(plasma Ignition)을 위한 보조 가스와 함께 공급될 수 있으며, 이 경우, 상기 보조 가스는 아르곤(Ar), 제논(Ze), 또는 헬륨(He) 등의 비반응성 가스가 될 수 있다.The first gas may be a reactive gas that reacts with the source gas to form a thin film. In this case, the first gas may be hydrogen (H2), nitrogen (N2), nitrous oxide (N2O), oxygen (O2), ammonia (NH3) And may be selected depending on the material of the thin film to be deposited. Further, the first gas may be supplied together with an auxiliary gas for plasma ignition. In this case, the auxiliary gas may be a non-reactive gas such as argon (Ar), xenon (Ze), or helium It can be a gas.
상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각은 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 중 해당하는 가스 공급 유로에 연통되도록 상기 몸체(110)의 하면으로부터 수직 방향(Z)으로 천공됨으로써 해당하는 가스 공급 유로(120)로부터 공급되는 제 1 가스를 기판(S) 상에 하향 분사한다. 즉, 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 하부에는 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130)이 형성되어 있고, 하나의 가스 공급 유로(120)의 하부에 형성되는 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130)은 가스 공급 유로(120)의 길이방향인 제 1 방향(Y)을 따라 지그재그 형태로 배치된다.Each of the plurality of first
일 실시 예에 따른 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각은 상기 몸체(110)의 하면으로부터 상기 가스 공급 유로(120) 쪽으로 갈수록 직경이 변하는 경사면을 가지도록 수직하게 천공된 제 1 가스 분사구(130a), 및 상기 제 1 가스 분사구(130a)와 상기 가스 공급 유로(120)가 서로 연통되도록 천공된 제 1 가스 연결 유로(130b)를 포함하여 이루어질 수 있다.Each of the plurality of first
상기 제 1 가스 분사구(130a)는 상기 몸체(110)의 하면으로부터 이등변 삼각 형태의 단면, 윗변이 아랫변보다 작은 사다리꼴 형태의 단면과 상기 이등변 삼각 형태의 단면이 서로 조합된 단면을 가지도록 천공될 수 있으나, 이에 한정되지 않고, 분사되는 제 1 가스의 분사 면적, 분사 각도, 및 분사량 중 적어도 하나에 최적화되도록 설정된 형태를 가질 수 있다.The first gas injection opening 130a is formed so as to have an isosceles triangular cross-section from the lower surface of the
일 예에 따른 제 1 가스 연결 유로(130b)는 상기 제 1 가스 분사구(130a)의 상면 중심부에 연통되도록 드릴 가공에 의해 상기 제 1 가스 분사구(130a)의 중심부와 상기 가스 공급 유로(120) 사이에 천공될 수 있다. 이 경우, 서로 연통된 상기 제 1 가스 분사구(130a)와 상기 제 1 가스 연결 유로(130b)는 상하로 반전된 깔대기 모양을 가지도록 상기 몸체(110)에 수직하게 천공된다.The first
다른 예에 따른 제 1 가스 연결 유로(130b)는 상기 제 1 가스 분사구(130a)의 경사면에 연통되도록 드릴 가공에 의해 상기 제 1 가스 분사구(130a)의 일측 경사면과 상기 가스 공급 유로(120) 사이에 천공될 수 있다. 이 경우, 서로 연통된 상기 제 1 가스 분사구(130a)와 상기 제 1 가스 연결 유로(130b) 각각의 중심부는 상기 몸체(110)의 수직 방향을 기준으로 일정한 거리만큼 엇갈리게 천공된다. 이러한, 다른 예에 따른 제 1 가스 연결 유로(130b)에 의해 상기 제 1 가스 분사구(130a)에 공급되는 제 1 가스의 경로가 상기 제 1 가스 분사구(130a)의 경사면에 의해 변경되어 수직하게 분사되지 않고 경사지게 분사됨으로써 제 1 가스의 수직 분사에 의한 가스 분사구(130a)의 형태가 기판에 전사되는 것이 방지될 수 있다.The first
상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 상기 몸체(110)를 수직 관통하도록 수직 방향(Z)으로 천공됨으로써 상기 제 2 가스 버퍼링 공간으로부터 공급되는 제 2 가스를 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각에서 분사되는 제 1 가스의 주변에 분사한다. 즉, 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140)은 상기 제 2 방향(X)을 기준으로, 인접한 제 1 가스 분사 홀(130)들 사이사이에 배치되면서 상기 제 1 방향(Y)을 따라 지그재그 형태로 배치된다.Each of the plurality of second gas injection holes (140) is perforated in a vertical direction (Z) so as to vertically penetrate the body (110), thereby passing a second gas supplied from the second gas buffering space to the plurality of first gas injection holes To the periphery of the first gas injected in each of the holes (130). That is, the plurality of second gas injection holes 140 are arranged between the adjacent first gas injection holes 130 with respect to the second direction X, .
일 실시 예에 따른 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 상기 몸체(110)의 하면으로부터 상면으로 갈수록 직경이 변하는 경사면을 가지도록 수직하게 천공된 제 2 가스 분사구(140a), 및 상기 몸체(110)의 상면으로부터 제 2 가스 분사구(140a)에 연통되도록 천공된 제 2 가스 연결 유로(140b)를 포함하여 이루어질 수 있다.Each of the plurality of second gas injection holes 140 according to an embodiment includes a second
상기 제 2 가스 분사구(140a)는 상기 몸체(110)의 하면으로부터 이등변 삼각 형태의 단면, 윗변이 아랫변보다 작은 사다리꼴 형태의 단면과 상기 이등변 삼각 형태의 단면이 서로 조합된 단면을 가지도록 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않고, 분사되는 제 2 가스의 분사 면적, 분사 각도, 및 분사량 중 적어도 어느 하나에 최적화되도록 설정된 형태를 가질 수 있다.The second gas injection opening 140a is formed so as to have an isosceles triangular cross section from the lower surface of the
일 예에 따른 제 2 가스 연결 유로(140b)는 상기 제 2 가스 분사구(140a)의 상면 중심부에 연통되도록 드릴 가공에 의해 상기 몸체(110)의 상면으로부터 천공될 수 있다. 이 경우, 서로 연통된 상기 제 2 가스 분사구(140a)와 상기 제 2 가스 연결 유로(140b)는 상하로 반전된 깔대기 모양을 가지도록 상기 몸체(110)에 수직하게 천공된다.The second
다른 예에 따른 제 2 가스 연결 유로(140b)는 상기 제 2 가스 분사구(140a)의 경사면에 연통되도록 드릴 가공에 의해 상기 몸체(110)의 상면으로부터 천공될 수 있다. 이 경우, 서로 연통된 상기 제 2 가스 분사구(140a)와 상기 제 2 가스 연결 유로(140b) 각각의 중심부는 상기 몸체(110)의 수직 방향을 기준으로 일정한 거리만큼 엇갈리게 천공된다. 이러한, 다른 예에 따른 제 2 가스 연결 유로(140b)에 의해 상기 제 2 가스 분사구(140a)에 공급되는 제 2 가스의 경로가 상기 제 2 가스 분사구(140a)의 경사면에 의해 변경되어 수직하게 분사되지 않고 경사지게 분사됨으로써 제 2 가스의 수직 분사에 의한 가스 분사구(140a)의 형태가 기판에 전사되는 것이 방지될 수 있다.The second
상기 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160) 각각은 상기 몸체(110)의 양 측면에 분리 가능하게 결합되어 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 양 끝단을 밀봉한다. 즉, 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160) 각각은 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 내부 공간을 외부로부터 밀폐시킴과 동시에 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각에 공급되는 제 1 가스의 외부 누출을 원천적으로 방지한다. 그리고, 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160) 각각은 본 고안에 따른 가스 분사 장치(100)의 세정시, 상기 몸체(110)로부터 분리되어 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 양 끝단을 외부로 노출시킴으로써 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120), 복수의 제 1 가스 분사 홀(130), 및 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각의 세정을 용이하게 한다.Each of the first and second flow
상기 제 1 유로 밀봉 수단(150)은 밀봉 플레이트(151), 복수의 삽입 돌기(153), 복수의 체결 부재(155), 및 개스킷(gasket; 157)을 포함하여 이루어질 수 있다.The first flow path sealing means 150 may include a sealing
상기 밀봉 플레이트(151)는 상기 몸체(110)의 일측면을 덮을 수 있는 일정한 두께와 높이를 가지도록 평판 형태로 형성된다. 여기서, 상기 몸체(110)의 일측면에는 상기 밀봉 플레이트(151)가 삽입 결합되는 플레이트 삽입 홈이 형성되어 있을 수도 있다.The sealing
상기 복수의 삽입 돌기(153) 각각은 상기 몸체(110)의 일측면에 마주보는 상기 밀봉 플레이트(151)의 내측면으로부터 일정한 높이를 가지도록 돌출되어 해당하는 상기 제 1 가스 공급 유로(120)의 일측 끝단 부분에 삽입된다. 이를 위해, 상기 삽입 돌기(153) 각각은 상기 제 1 가스 공급 유로(120)에 삽입 가능한 직경을 가지도록 원기둥 형태로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 복수의 삽입 돌기(153)는 상기 제 1 가스 공급 유로(120)의 일측 끝단 부분에 삽입되어 상기 밀봉 플레이트(151)의 결합 위치를 설정하는 플레이트 정렬 수단으로서의 기능도 함께할 수 있다.Each of the plurality of
상기 복수의 체결 부재(155) 각각은 상기 밀봉 플레이트(151)를 통해 상기 몸체(110)의 일측면에 결합됨으로써 상기 몸체(110)의 일측면에 상기 밀봉 플레이트(151)를 분리 가능하게 결합시킨다. 일 예에 따른 복수의 체결 부재(155) 각각은 나사 또는 볼트 등으로 이루어질 수 있다. 여기서, 상기 밀봉 플레이트(151)에는 상기 체결 부재(155)가 삽입되는 복수의 체결 부재 삽입 홀(155a)이 형성되어 있으며, 상기 몸체(110)의 일측면에는 상기 체결 부재(155)와 나사 결합되는 나사홀(155b)이 형성되어 있다.Each of the plurality of
상기 개스킷(157)은 상기 몸체(110)의 일측면과 상기 밀봉 플레이트(151)의 내측면 사이에 개재됨으로써 상기 복수의 체결 부재(155)에 의해 상기 몸체(110)의 일측면에 결합된 밀봉 플레이트(151)와 상기 몸체(110) 사이를 밀봉한다. 여기서, 상기 몸체(110)의 일측면에 마주보는 상기 밀봉 플레이트(151)의 내측면에는 상기 개스킷(157)이 삽입되는 상기 개스킷 삽입 홈(157a)이 형성되어 있을 수 있으나, 이에 한정되지 않고, 상기 개스킷 삽입 홈(157a)은 상기 몸체(110)의 일측면 및/또는 상기 밀봉 플레이트(151)의 내측면에 형성될 수 있다.The
상기 제 2 유로 밀봉 수단(160)은 상기 몸체(110)의 타측에 분리 가능하게 결합되는 것을 제외하고는 전술한 제 1 유로 밀봉 수단(150)과 동일하게 밀봉 플레이트(151), 복수의 삽입 돌기(153), 복수의 체결 부재(155), 및 개스킷(157)을 포함하여 이루어지기 때문에 동일한 도면 부호를 부여하고, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.The second flow path sealing means 160 may include a sealing
한편, 도 4에서는 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160) 각각이 하나의 밀봉 플레이트(151)와 하나의 개스킷(157)을 포함하여 구성되는 것으로 도시하였지만, 이에 한정되지 않고, 상기 밀봉 플레이트(151)는 상기 복수의 가스 공급 유로(120)를 2개 이상의 가스 공급 유로 단위로 밀봉하기 위한 복수의 분할 플레이트를 포함하여 구성될 수 있다. 이 경우, 상기 복수의 분할 플레이트 각각과 상기 몸체(110) 사이에는 상기 개스킷(157)이 개재된다. 결과적으로, 상기 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160) 각각은 제 1 가스 공급 유로(120)의 개수에 따라 하나 이상의 밀봉 플레이트(151)를 포함하여 구성될 수 있으나, 조립 및/또는 세정의 편의를 위해, 하나의 밀봉 플레이트를 포함하거나, 2개 또는 3개의 분할 플레이트를 포함하여 구성되는 것이 바람직하다. 상기 제 1 및 제 2 유로 밀봉 수단(150, 160) 각각이 복수의 분할 플레이트로 이루어지는 경우, 복수의 가스 공급 유로(120)는 상기 유로 밀봉 수단의 구성에 따라 복수의 그룹으로 그룹화되고, 각 그룹의 가스 공급 유로(120)에 대한 세정 공정은 각 그룹마다 개별적으로 수행되거나 동시에 수행될 수 있다.4, each of the first and second flow
상기 본 고안에 따른 가스 분사 장치(100)는 외부로부터 공급되는 제 1 가스를 1차적으로 버퍼링하여 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각에 공급하기 위한, 가스 공통 공급 부재(170)를 더 포함하여 구성될 수 있다.The
상기 가스 공통 공급 부재(170)는 제 1 가스 공통 유로(171), 복수의 공통 연결 유로(173), 공통 유로 커버(175), 및 제 1 가스 주입 포트(177)를 포함하여 구성될 수 있다.The gas
상기 제 1 가스 공통 유로(171)는 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 일측 또는 양측에 교차하도록 상기 몸체(110)의 일측 또는 양측 상면으로부터 일정한 폭과 깊이를 가지도록 오목하게 형성된다. 즉, 상기 오목한 제 1 가스 공통 유로(171)의 각 측면에는 단턱면이 형성되어 있다.The first gas
상기 복수의 공통 연결 유로(173) 각각은 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각과 상기 제 1 가스 공통 유로(171)의 교차 부분에 수직하게 천공되어 상기 제 1 가스 공통 유로(171)를 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각에 연통시킨다. 이러한, 상기 복수의 공통 연결 유로(173) 각각은 상기 제 1 가스 공통 유로(171)의 바닥면에 대한 드릴 가공에 의해 해당하는 제 1 가스 공급 유로(120)에 연통되도록 형성될 수 있다.Each of the plurality of common
상기 공통 유로 커버(175)는 상기 제 1 가스 공통 유로(171)에 삽입되어 상기 제 1 가스 공통 유로(171)의 상부를 밀봉함으로써 상기 제 1 가스 공통 유로(171)에 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)을 마련한다. 즉, 상기 공통 유로 커버(175)는 상기 제 1 가스 공통 유로(171)의 각 측면에 형성되어 있는 단턱면에 안착되어 상기 제 1 가스 공통 유로(171)의 상부를 밀봉한다. 이에 따라, 상기 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)은 상기 제 1 가스 공통 유로(171)의 바닥면과 상기 공통 유로 커버(175)의 하면 사이에 마련된다. 여기서, 상기 공통 유로 커버(175)와 상기 제 1 가스 공통 유로(171) 사이에는 상기 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)의 폐쇄(또는 밀폐)를 위한 밀폐 부재(미도시)가 개재될 수 있다.The
상기 제 1 가스 주입 포트(177)는 외부의 제 1 가스 공급 장치(미도시)로부터 공급되는 제 1 가스를 상기 공통 유로 커버(175)를 통해 상기 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)에 주입한다. 이러한, 상기 제 1 가스 주입 포트(177)는 상기 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)의 중간 부분에 중첩되는 상기 공통 유로 커버(175)와 상기 몸체(110)의 상면에 장착될 수 있다. 이에 따라, 상기 제 1 가스는 상기 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)에서 1차적으로 확산 및 버퍼링된 후, 상기 복수의 공통 연결 유로(173) 각각을 통해 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각에 공급되어 2차적으로 확산 및 버퍼링된 이후에 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각을 통해 기판 상에 분사되거나 복수의 제 2 가스 분사 홀(140)에서 분사되는 제 2 가스의 주변에 분사되게 된다.The first
한편, 전술한 바와 같이, 복수의 가스 공급 유로(120)가 복수의 그룹으로 그룹화되어 있는 경우, 상기 가스 공통 공급 부재(170)는 상기 각 그룹의 가스 공급 유로(120) 각각에 개별적으로 제 1 가스를 공급하도록 복수로 구성될 수 있다.On the other hand, as described above, when the plurality of
이와 같은, 본 고안에 따르면, 복수의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140) 각각이 지그재그 형태로 배치됨으로써 기판 처리 공정시 가스 분사 홀 각각의 형상에 대응되는 패턴이 기판(S)에 전사되는 것을 방지할 수 있다. 그리고, 상기 지그재그 형태로 배치된 복수의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140) 각각의 배치 구조는 다양한 형태로 변형될 수 있다.According to the present invention, since the plurality of first and second gas injection holes 130 and 140 are arranged in a zigzag manner, a pattern corresponding to the shape of each gas injection hole is formed on the substrate S It can be prevented from being transferred. In addition, the arrangement structure of each of the plurality of first and second gas injection holes 130 and 140 disposed in the zigzag shape may be modified into various shapes.
도 6은 본 고안의 일 실시 예에 따른 가스 분사 홀의 배치 구조를 설명하기 위한 도면이다.6 is a view for explaining an arrangement structure of a gas injection hole according to an embodiment of the present invention.
도 6을 참조하면, 본 고안의 일 실시 예에 따른 가스 분사 홀의 배치 구조는 상기 복수의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140) 각각이 제 1 방향(Y)을 따라 지그재그 형태로 배치될 수 있다.Referring to FIG. 6, the arrangement of the gas injection holes according to an embodiment of the present invention is such that each of the plurality of first and second gas injection holes 130 and 140 is arranged in a zigzag manner along the first direction Y .
구체적으로, 본 고안의 일 실시 예에 따른 가스 분사 홀의 배치 구조에 있어서, 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각은 제 2 방향(X)을 따라 제 1 피치(Pitch)(P1)를 가지도록 나란하게 배치됨과 동시에 제 1 방향(Y)을 따라 제 1 지그재그 형태(Z1)로 배치된다. 예를 들어, 상하로 인접한 제 1 가스 분사 홀(130)들 각각은 상기 제 1 피치(P1)의 제 1 기준선(CL1)에서 제 1 거리(d1)만큼씩 좌우로 쉬프트됨으로써 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각은 제 1 방향(Y)을 따라 제 1 지그재그 형태(Z1)로 배치된다. 이에 따라, 상하로 인접한 제 1 가스 분사 홀(130)들 각각은 제 1 방향(Y)을 기준으로 절반 이상 서로 중첩되게 된다.Specifically, in the arrangement structure of the gas injection holes according to an embodiment of the present invention, each of the plurality of first gas injection holes 130 has a first pitch P1 along the second direction X (Z1) along the first direction (Y). For example, each of the first gas injection holes 130 adjacent to the upper and lower sides is shifted leftward and rightward by a first distance d1 from the first reference line CL1 of the first pitch P1, Each of the gas injection holes 130 is arranged in the first zigzag shape Z1 along the first direction Y. [ Accordingly, each of the first gas injection holes 130 adjacent to each other is overlapped with each other by more than half with respect to the first direction (Y).
상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 상기 제 2 방향(X)을 기준으로, 인접한 제 1 가스 분사 홀(130)들 사이사이에 배치되면서 상기 제 1 방향(Y)을 따라 제 2 지그재그 형태(Z2)로 배치된다. 예를 들어, 상하로 인접한 제 2 가스 분사 홀(140)들 각각은 상기 제 1 피치(P1)의 중심 선상인 제 2 기준선(CL2)에서 상기 제 1 거리(d1)보다 긴 제 2 거리(d2)만큼씩 좌우로 쉬프트됨으로써 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 제 1 방향(Y)을 따라 제 2 지그재그 형태(Z2)로 배치된다. 여기서, 상기 제 2 지그재그 형태(Z2)의 각도(θ2)는 상기 제 1 지그재그 형태(Z1)의 각도(θ1)보다 작을 수 있다. 이에 따라, 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 상기 제 1 지그재그 형태(Z1)로 배치된 제 1 가스 분사 홀(130)들에 인접하도록 상기 제 2 지그재그 형태(Z2)로 배치됨으로써 제 2 방향(X)을 따라 서로 인접한 하나의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140) 각각이 하나의 공정 가스 분사 그룹을 이루게 되고, 상기 공정 가스 분사 그룹은 제 1 방향(Y)을 따라 지그재그 형태로 배치되게 된다.Each of the plurality of second gas injection holes 140 is disposed between the adjacent first gas injection holes 130 with respect to the second direction X, And are arranged in a zigzag form Z2. For example, each of the second gas injection holes 140 adjacent to the upper and lower sides may have a second distance d2 that is longer than the first distance d1 at a second reference line CL2 that is a center line of the first pitch P1 ) So that each of the plurality of second gas injection holes 140 is arranged in the second zigzag shape Z2 along the first direction Y. [ Here, the angle? 2 of the second zigzag shape Z2 may be smaller than the angle? 1 of the first zigzag shape Z1. Each of the plurality of second gas injection holes 140 is disposed in the second zigzag shape Z2 so as to be adjacent to the first gas injection holes 130 arranged in the first zigzag shape Z1 Each of the first and second gas injection holes 130 and 140 adjacent to each other along the second direction X constitutes one process gas injection group and the process gas injection group has a first direction Y And are arranged in a zigzag manner.
한편, 상하로 인접한 제 2 가스 분사 홀(140)들 각각은 상기 제 1 피치(P1)의 중심 선상인 제 2 기준선(CL2)에서 상기 제 1 거리(d1)만큼씩 좌우로 쉬프트됨으로써 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 제 1 방향(Y)을 따라 제 1 지그재그 형태(Z1)로 배치될 수도 있다. 이 경우, 상기 복수의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140) 각각은 제 1 지그재그 형태(Z1)를 가지도록 나란하게 배치되게 된다.On the other hand, each of the upper and lower second gas injection holes 140 is shifted leftward and rightward by the first distance d1 from the second reference line CL2, which is the center line of the first pitch P1, Each of the second gas injection holes 140 may be disposed in the first zigzag shape Z1 along the first direction Y. [ In this case, each of the plurality of first and second gas injection holes 130 and 140 is arranged in parallel so as to have the first zigzag shape Z1.
다른 한편, 상기 제 1 방향(X)으로 배치된 인접한 제 1 가스 분사 홀(130)들 간의 상기 제 1 피치(P1)는 제 2 가스 분사 홀(140) 간의 피치보다 3배 크게 설정되며, 상기 제 1 및 제 2 방향(Y, X) 각각에 따른 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140)들 간의 피치는 상기 제 1 피치(P1)의 1/3이 되도록 동일하게 설정될 수도 있다. 이 경우, 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각은 제 1 가스 분사 홀(130)들 사이사이에 제 1 지그재그 형태(Z1)를 가지면서 2열로 배치되게 된다.On the other hand, the first pitch P1 between adjacent first gas injection holes 130 arranged in the first direction X is set to be three times larger than the pitch between the second gas injection holes 140, The pitch between the first and second gas injection holes 130 and 140 along the first and second directions Y and X may be set to be equal to 1/3 of the first pitch P1 . In this case, each of the plurality of second gas injection holes 140 is arranged in two rows with the first zigzag shape Z1 between the first gas injection holes 130. [
이상과 같은, 본 고안에 따른 가스 분사 장치(100)는 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 양 끝단 각각을 밀봉하는 유로 밀봉 수단(150, 160)이 몸체(110)의 양 측면에 분리 가능하게 결합됨으로써, 가스 분사 장치(100)의 세정시, 유로 밀봉 수단(150, 160)의 분리를 통해 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 양 끝단을 외부로 노출시킬 수 있어 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120), 복수의 제 1 가스 분사 홀(130), 및 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각을 용이하게 세정할 수 있으며, 세정 시간을 감소시킬 수 있다.The
한편, 전술한 설명에서는 제 1 가스가 반응 가스이고, 제 2 가스가 소스 가스인 것으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않고, 제 1 가스는 전술한 소스 가스이고, 제 2 가스가 전술한 반응 가스일 수도 있다.In the above description, the first gas is the reactive gas and the second gas is the source gas. However, the present invention is not limited to this, and the first gas may be the source gas described above, and the second gas may be the above- have.
도 9는 본 고안에 따른 기판 처리 장치를 개략적으로 나타내는 단면도이다.9 is a cross-sectional view schematically showing a substrate processing apparatus according to the present invention.
도 9를 참조하면, 본 고안에 따른 기판 처리 장치는 공정 챔버(210), 챔버 리드(230), 기판 지지 수단(250), 및 가스 분사 수단(270)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 9, the substrate processing apparatus according to the present invention includes a
상기 공정 챔버(210)는 상부가 개구된 "U"자 형태로 형성된다. 이러한, 상기 공정 챔버(210)의 일측에는 기판이 출입하는 기판 출입구(미도시)가 형성되고, 바닥면에는 공정 공간의 가스를 배기하기 위한 적어도 하나의 배기구(212)가 형성된다.The
상기 챔버 리드(230)는 공정 챔버(210)의 상부에 설치되어 공정 챔버(210)의 상부를 덮는다. 이때, 상기 공정 챔버(210)와 상기 챔버 리드(230) 간의 결합 부분에는 오-링(O-ring) 등과 같은 절연 부재(220)가 개재된다. 상기 절연 부재(220)는 상기 챔버 리드(230)와 상기 공정 챔버(210) 사이를 밀봉함과 아울러 상기 챔버 리드(230)와 상기 공정 챔버(210)를 전기적으로 분리시키는 역할을 한다.The
상기 챔버 리드(230)의 상면에는 외부의 제 2 가스 공급 장치(미도시)에 연결된 제 2 가스 공급관(240)이 설치된다. 상기 챔버 리드(230)의 하면에는 계단 형태의 단턱부(231)를 가지도록 오목한 홈부(233)가 형성되어 있다. 그리고, 상기 홈부(233)에는 상기 제 2 가스 공급관(240)에 연통되는 제 2 가스 주입구가 형성되어 있다.A second
상기 단턱부(231)에는 배플 플레이트(Baffle plate)(290)가 장착될 수 있다. 이 경우, 상기 챔버 리드(230)의 하면과 상기 배플 플레이트(290) 사이에는 제 2 가스 공급관(240)으로부터 제 2 가스가 주입되는 제 2 가스 주입 공간(GIS)이 마련된다. 이에 따라, 상기 배플 플레이트(290)는 상기 제 2 가스 주입 공간(GIS)에 주입되는 제 2 가스를 확산 및 분배함으로써 상기 가스 분사 수단(270)에 공급되는 제 2 가스의 흐름을 조절하거나 균일하게 한다. 이를 위해, 상기 배플 플레이트(290)에는 제 2 가스를 확산 및 분배하기 위해 규칙적 또는 불규칙적으로 형성된 복수의 가스 분배용 슬릿(slit) 또는 홀(hole)이 형성되어 있다. 이러한, 상기 배플 플레이트(290)는 생략 가능하다.A
상기 챔버 리드(230)는 전원 케이블(310)을 통해 외부의 전원 공급 수단(300)에 연결됨으로써 상기 전원 공급 수단(300)으로부터 플라즈마 전원을 인가받는다. 여기서, 상기 전원 케이블(310)에는 임피던스 매칭 회로(320)가 설치될 수 있다. 상기 임피던스 매칭 회로(320)는 상기 챔버 리드(230)에 공급되는 플라즈마 전원의 부하 임피던스와 소스 임피던스를 정합시키기 위한 적어도 2개의 임피던스 소자(미도시)를 포함하여 이루어질 수 있으며, 상기 임피던스 소자는 가변 커패시터 및 가변 인덕터 중 적어도 하나로 이루어질 수 있다.The
상기 기판 지지 수단(250)은 상기 공정 챔버(210)에 설치되어 기판 반송 장치(미도시)에 의해 공정 공간으로 반입되는 기판(S)을 지지한다. 이때, 상기 기판 지지 수단(250)은 상기 공정 챔버(210)에 승강 가능하게 설치될 수 있는데, 이 경우, 상기 기판 지지 수단(250)은 공정 챔버(210)의 바닥면을 관통하는 승강축(252)에 의해 승강 가능하게 결합됨으로써 승강 장치(미도시)의 구동에 따른 승강축(252)의 승강에 따라 공정 위치 또는 기판 로딩 및 언로딩 위치로 승강된다. 상기 승강축(252)과 상기 공정 챔버(210) 사이는 벨로우즈(254)에 의해 밀봉된다.The substrate supporting means 250 supports the substrate S which is installed in the
상기 가스 분사 수단(270)은 상기 기판 지지 수단(250)에 마주보도록 상기 챔버 리드(230)의 하면에 결합되어 외부로부터 공급되는 제 1 및 제 2 가스를 기판(S) 상에 분사한다. 이러한, 상기 가스 분사 수단(270)은 도 2 내지 도 8에 도시된 본 고안에 따른 가스 분사 장치(100)로 구성되는 것으로, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다. 이와 같은, 상기 가스 분사 수단(270)은 제 1 및 제 2 가스를 분사하게 된다. 이때, 상기 제 2 가스는 상기 제 2 가스 공급관(240)을 통해 상기 제 2 가스 주입 공간(GIS)에 공급되면서 상기 배플 플레이트(290)에 의해 확산 및 분배됨과 동시에 복수의 제 2 가스 분사 홀(140)을 통해 기판(S) 상에 분사되게 된다. 이와 동시에, 상기 제 1 가스는 상기 챔버 리드(230)에 형성되어 있는 포트 설치홈(235)에 설치된 상기 제 1 가스 주입 포트(177)를 통해 상기 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)에 주입되어 1차적으로 확산 및 버퍼링된 후, 상기 복수의 공통 연결 유로(175)를 통해 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각에 공급되어 2차적으로 확산 및 버퍼링된 이후에 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각을 통해 기판(S) 상에 분사되거나 복수의 제 2 가스 분사 홀(140)에서 분사되는 상기 제 2 가스의 주변에 분사되게 된다.The gas injection means 270 is coupled to the lower surface of the
이와 같은, 본 고안의 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 이용한 박막 증착 공정을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.The thin film deposition process using the substrate processing apparatus according to the embodiment of the present invention will be described briefly as follows.
먼저, 복수의 기판(S) 또는 하나의 대면적 기판(S)을 기판 지지 수단(250)에 로딩하여 안착시킨다.First, a plurality of substrates S or one large-area substrate S are loaded into the substrate holding means 250 and are then placed thereon.
그런 다음, 상기 제 1 가스 주입 포트(177)를 통해 상기 가스 분사 수단(270)의 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)에 제 1 가스를 주입함과 동시에 상기 제 2 가스 공급관(240)을 통해 제 2 가스 버퍼링 공간(GBS2)에 제 2 가스를 주입한다. 이에 따라, 상기 제 2 가스는 제 2 가스 버퍼링 공간(GBS2) 및 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각을 통해 기판(S) 상에 분사된다. 이와 동시에, 상기 제 1 가스는 제 1 가스 버퍼링 공간(GBS1)과 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각과 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀(130) 각각을 통해, 상기 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각에서 분사되는 제 2 가스의 주변 및 기판(S) 상에 분사된다.Then, the first gas is injected into the first gas buffering space GBS1 of the gas injection means 270 through the first
상기 제 1 및 제 2 가스 각각을 분사하면서, 전원 공급 수단(300)을 통해 플라즈마 전원을 챔버 리드(230)에 공급하여 챔버 리드(230)를 통해 가스 분사 수단(270)에 플라즈마 전원을 인가한다. 이에 따라, 상기 기판 지지 수단(250)과 상기 가스 분사 수단(270) 사이에 플라즈마가 형성된다.The plasma power is supplied to the
따라서, 상기 가스 분사 수단(270)으로부터 분사되는 제 1 가스, 또는 제 1 및 제 2 가스는 상기 플라즈마에 의해 활성화되어 기판(S) 상에 분사됨으로써 기판(S)의 상면에는 상기 제 1 및 제 2 가스의 반응에 의해 소정의 박막이 증착되게 된다.Therefore, the first gas or the first and second gases injected from the gas injection means 270 are activated by the plasma and are sprayed onto the substrate S, A predetermined thin film is deposited by the reaction of the two gases.
이상과 같은, 본 고안에 따른 기판 처리 장치는 전술한 가스 분사 장치(100)로 구성되는 가스 분사 수단(270)을 포함하여 구성됨으로써 가스 분사 수단(270)의 세정시, 유로 밀봉 수단(150, 160)의 분리를 통해 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120) 각각의 양 끝단을 외부로 노출시킬 수 있어 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로(120), 복수의 제 1 가스 분사 홀(130), 및 복수의 제 2 가스 분사 홀(140) 각각을 용이하게 세정할 수 있으며, 세정 시간을 감소시킬 수 있다.The substrate processing apparatus according to the present invention includes the gas injection means 270 constituted of the
또한, 본 고안에 따른 기판 처리 장치는 복수의 제 1 및 제 2 가스 분사 홀(130, 140) 각각이 지그재그 형태로 배치됨으로써 기판 처리 공정시 가스 분사 홀 각각의 형상에 대응되는 패턴이 기판에 전사되는 것을 방지할 수 있다.In the substrate processing apparatus according to the present invention, a plurality of first and second gas injection holes (130, 140) are arranged in a zigzag manner, so that a pattern corresponding to the shape of each gas injection hole Can be prevented.
이상에서 설명한 본 고안은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 고안의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 고안이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the inventions. Will be clear to those who have knowledge of.
100: 가스 분사 장치 110: 몸체
120: 제 1 가스 공급 유로 130: 제 1 가스 분사 홀
140: 제 2 가스 분사 홀 150, 160: 유로 밀봉 수단
151: 밀봉 플레이트 153: 삽입 돌기
155: 체결 부재 157: 개스킷
170: 가스 공통 공급 부재 171: 제 1 가스 공통 유로
173: 공통 연결 유로 175: 공통 유로 커버
177: 제 1 가스 주입 포트 210: 공정 챔버
230: 챔버 리드 240: 제 2 가스 공급관
250: 기판 지지 수단 270: 가스 분사 수단100: gas injection device 110: body
120: first gas supply passage 130: first gas injection hole
140: second
151: sealing plate 153: insertion projection
155: fastening member 157: gasket
170: gas common supply member 171: first common gas flow channel
173: common connection channel 175: common channel cover
177: First gas injection port 210: Process chamber
230: chamber lead 240: second gas supply pipe
250: substrate holding means 270: gas spraying means
Claims (10)
상기 몸체의 내부에 형성되어 외부로부터 제 1 가스가 공급되는 복수의 가스 공급 유로;
상기 복수의 가스 공급 유로 각각과 연통되도록 상기 몸체의 하면으로부터 천공되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각으로부터 공급되는 상기 제 1 가스를 분사하는 복수의 제 1 가스 분사 홀; 및
상기 복수의 가스 공급 유로 중 적어도 2개 이상의 가스 공급 유로를 함께 밀봉하도록 상기 몸체의 일측에 분리 가능하게 결합된 제 1 유로 밀봉 수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 가스 분사 장치.Body;
A plurality of gas supply passages formed in the body and supplied with a first gas from the outside;
A plurality of first gas injection holes formed in the lower surface of the body so as to communicate with the plurality of gas supply channels and injecting the first gas supplied from each of the plurality of gas supply channels; And
And first flow path sealing means detachably coupled to one side of the body so as to seal together at least two or more gas supply flow paths of the plurality of gas supply flow paths.
상기 제 1 유로 밀봉 수단은,
상기 복수의 가스 공급 유로 중 적어도 2개 이상의 가스 공급 유로를 함께 밀봉하도록 상기 몸체의 일측면에 분리 가능하게 결합된 복수의 분할 플레이트;
상기 복수의 분할 플레이트 각각과 상기 몸체의 일측면 사이에 개재된 개스킷; 및
상기 복수의 분할 플레이트를 상기 몸체의 일측면에 분리 가능하게 결합시키는 복수의 체결 부재를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 가스 분사 장치.The method according to claim 1,
The first flow path sealing means
A plurality of partition plates detachably coupled to one side of the body to seal together at least two gas supply passages of the plurality of gas supply passages;
A gasket interposed between each of the plurality of partition plates and one side of the body; And
And a plurality of coupling members detachably coupling the plurality of partition plates to one side surface of the body.
상기 제 1 유로 밀봉 수단은 상기 복수의 분할 플레이트 각각의 내측면으로부터 돌출되어 상기 복수의 가스 공급 유로 각각의 일측에 삽입되는 복수의 삽입 돌기를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 가스 분사 장치.3. The method of claim 2,
Wherein the first flow path sealing means further comprises a plurality of insertion protrusions protruding from the inner surface of each of the plurality of division plates and inserted into one side of each of the plurality of gas supply passages.
상기 복수의 제 1 가스 분사 홀 각각의 주변에 위치하도록 상기 몸체에 천공되어 외부로부터 공급되는 제 2 가스를 분사하는 복수의 제 2 가스 분사 홀을 더 포함하고,
상기 복수의 제 1 가스 분사 홀들은 상기 가스 공급 유로의 길이 방향을 따라 지그재그 형태로 배치되고,
상기 복수의 제 2 가스 분사 홀들은 상기 복수의 제 1 가스 분사 홀들 사이에 지그재그 형태로 배치된 것을 특징으로 하는 가스 분사 장치.The method according to claim 1,
Further comprising a plurality of second gas injection holes for injecting a second gas, which is pierced into the body so as to be positioned around each of the plurality of first gas injection holes,
Wherein the plurality of first gas injection holes are arranged in a zigzag shape along the longitudinal direction of the gas supply passage,
Wherein the plurality of second gas injection holes are arranged in a zigzag manner between the plurality of first gas injection holes.
상기 몸체에 형성되어 외부로부터 공급되는 상기 제 1 가스를 1차적으로 버퍼링하여 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각에 공급하는 제 1 가스 공통 공급 부재를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 가스 분사 장치.The method according to claim 1,
Further comprising: a first gas common supply member formed on the body for primarily buffering the first gas supplied from the outside and supplying the first gas to each of the plurality of first gas supply channels.
상기 제 1 가스 공통 공급 부재는,
상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각에 교차하도록 상기 몸체의 상면으로부터 오목하게 형성된 제 1 가스 공통 유로;
상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각과 상기 제 1 가스 공통 유로의 교차 부분에 형성되어 상기 복수의 제 1 가스 공급 유로 각각을 상기 제 1 가스 공통 유로에 연통시키는 복수의 공통 연결 유로;
상기 제 1 가스 공통 유로의 상부를 밀봉하여 상기 복수의 공통 연결 유로 각각에 연통되는 제 1 가스 버퍼링 공간을 마련하는 공통 유로 커버; 및
상기 공통 유로 커버에 삽입 설치되어 상기 제 1 가스 버퍼링 공간에 상기 제 1 가스를 주입하는 제 1 가스 주입 포트를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 가스 분사 장치.The method according to claim 6,
Wherein the first gas common supply member comprises:
A first gas common flow channel formed to be concave from an upper surface of the body so as to cross each of the plurality of first gas supply channels;
A plurality of common connection flow paths formed at intersections of each of the plurality of first gas supply channels and the first gas common channel and communicating each of the plurality of first gas supply channels with the first gas common channel;
A common channel cover for sealing an upper portion of the first gas common flow path to provide a first gas buffering space communicating with each of the plurality of common connection flow paths; And
And a first gas injection port inserted in the common channel cover for injecting the first gas into the first gas buffering space.
공정 챔버의 상부를 덮는 챔버 리드;
상기 공정 챔버의 내부에 설치되어 기판을 지지하는 기판 지지 수단; 및
상기 기판 지지 수단에 마주보도록 상기 챔버 리드의 하면에 결합된 가스 분사 수단을 포함하며,
상기 가스 분사 수단은 청구항 1 내지 청구항 3, 및 청구항 5 내지 청구항 7 중 어느 하나의 청구항에 기재된 가스 분사 장치를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.A process chamber;
A chamber lid covering the top of the process chamber;
A substrate supporting means installed inside the process chamber to support the substrate; And
And gas injection means coupled to a lower surface of the chamber lid to face the substrate support means,
Wherein the gas injection means comprises the gas injection device according to any one of claims 1 to 3, and claims 5 to 7.
상기 챔버 리드의 하면과 상기 가스 분사 수단의 몸체 사이에 마련되어 외부로부터 제 2 가스가 공급되는 제 2 가스 버퍼링 공간을 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.9. The method of claim 8,
And a second gas buffering space provided between the lower surface of the chamber lid and the body of the gas injecting unit to supply a second gas from the outside.
상기 챔버 리드의 하면에 결합되어 외부로부터 공급되는 제 2 가스의 흐름을 조절하여 상기 제 2 가스 버퍼링 공간으로 공급하는 배플 플레이트(Baffle plate)를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.10. The method of claim 9,
Further comprising a baffle plate coupled to a bottom surface of the chamber lid to adjust a flow of a second gas supplied from the outside to supply the second gas to the second gas buffering space.
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KR20130029587A (en) * | 2011-09-15 | 2013-03-25 | 엘아이지에이디피 주식회사 | A gas supply unit of a chemical vapor deposition apparatus and a method for manufacturing thereof |
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