KR200445465Y1 - 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치 - Google Patents
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- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
Abstract
Description
평균 검출감도 | 증감율(%) | ||
A(without sampler) | B(with sampler) | ||
C(247nm) | 2893.33 | 4166.67 | 44.01 |
Ar(687nm) | 4031.67 | 4273.33 | 5.99 |
Cl(834nm) | 2064.33 | 2707.00 | 31.13 |
Cl(838nm) | 9477.27 | 12261.67 | 29.44 |
Claims (8)
- 분석 대상물이 이동되는 진공라인에 체결되어 상기 진공 라인으로부터 상기 분석 대상물을 유입 받는 시료 도입부;제1 플랜지에 의해 상기 시료 도입부와 체결되고, 상기 시료 도입부으로 유입되는 상기 분석대상물을 플라즈마 상태로 여기시켜 상기 분석 대상물의 분체를 형성하는 플라즈마 생성부;제2 플랜지에 의해 상기 플라즈마 생성부와 체결되고, 상기 플라즈마 생성부에서 생성된 분석 대상물의 분체로부터 방출되는 광을 파장별로 검출하는 분광 검출부; 및상기 분광 검출부에 분체가 흡착되어 상기 분광 검출부의 검출 감도가 감소되는 것을 방지하기 위해 상기 분광 검출부에 포함된 윈도우를 커버하면서 상기 광을 투과시키는 개구부를 갖는 보호부를 포함하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 시료 도입부 내부에 삽입되고, 상기 진공 라인에 체결된 시료 도입부 내에서 흐르는 분석 대상물의 일부를 상기 플라즈마 생성부의 내부 로 유입시키는 제1 유로와 상기 플라즈마 생성부에서 생성된 분석 대상물의 분체를 상기 진공라인으로 배출시키는 제2 유로를 포함하는 분석 대상물 유/출입부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 분석 대상물 유/출입부는상기 플라즈마 생성부와 마주보는 부분이 개폐된 구조를 갖고, 상기 시료 도입부에 삽입되는 부분에서 상기 분석 대상물을 유입 받는 입구가 형성된 제1 유로를 갖는 유입관; 및상기 플라즈마 생성부와 마주보는 부분이 개폐된 구조를 갖고, 상기 시료 도입부에 삽입되는 부분에서 상기 분석 대상물의 분체를 배출되는 출구가 형성된 제2 유로를 갖는 배출관을 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 분석 대상물 유/출입부는상기 플라즈마 생성부와 마주보는 부분이 개폐된 구조를 갖고, 상기 시료 도입부에 삽입되는 부분에서 상기 분석 대상물을 유입 받는 입구가 형성된 반구형 실린더 형상의 유로를 갖는 유입관; 및상기 유입관이 삽입되어 상기 유입관에 의해 정의되는 제2 유로를 포함하는 배출관을 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 분석 대상물 유/출입부의 제1 유로에 체결되고, 상기 제1 유로를 통해 유입되는 상기 분석 대상물을 상기 플라즈마 생성부의 중심으로 포커싱 되도록 제공하는 중심채널 형성부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 보호부는 중심에 개구가 형성된 콘(Cone)형상, 반구 형상 또는 삼각 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
- 제1항에 있어서, 검출 감도를 향상시키기 위해 상기 분광 검출부의 내부 및 윈도우의 온도를 50 내지 500℃ 상승시키는 히터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마를 이용한 소형화된 시료 검출 장치.
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KR200445465Y1 true KR200445465Y1 (ko) | 2009-08-04 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20010058418A (ko) | 1999-12-11 | 2001-07-06 | 서영철 | 고주파 시료반응기를 이용한 중금속검출기 및중금속검출방법 |
KR200230275Y1 (ko) * | 2001-02-09 | 2001-07-19 | (주) 셀라이트 | 시료 검출 장치 |
KR20050025010A (ko) | 2003-09-05 | 2005-03-11 | 구일교 | 플라즈마 분자발광분광법을 이용한 황 화합물 미량 분석법 |
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2007
- 2007-08-28 KR KR2020070014252U patent/KR200445465Y1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
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