KR200421209Y1 - 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치 - Google Patents

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Abstract

본 고안은 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치와 관련된 것이다. 시험용 탐침 장치는 상부 고정 플레이트, 하부 고정 플레이트, 상부 고정 플레이트와 하부 고정 플레이트 사이에 설치되어 있는 시험용 탐침 시트(test probe seat), 하부 로케이팅 플레이트(lower locating plate), 탄성 천, 상부 고정 플레이트에 순서대로 설치된 상부 로케이팅 플레이트(upper locating plate)로 구성되어 있다. 복수의 시험용 탐침, 압축 스프링(compression spring), 리드선(lead wire)이 회로 기판의 검사 지점의 위치에 따라 배열된 시험용 탐침 시트의 탐침 구멍(probe hole)들 안에 각각 설치되어 있다. 또한 상부 고정 플레이트, 하부 로케이팅 플레이트, 탄성 천, 상부 로케이팅 플레이트는 각각 탐침 구멍에 적합한 다수의 관통 구멍을 모두 가지고 있다. 회로 기판이 시험용 탐침 장치에 놓여지면, 관통 구멍을 통해 나올 수 있는 시험용 탐침은 회로 기판의 시험 지점에 접촉할 수 있고, 리드선의 한쪽 끝부분은 압축 스프링에 접촉할 수 있도록 하부 고정 플레이트의 전선 구멍 안에서 T형 헤드(T shape head)쪽으로 눌려진 상태로 멈춰져 있다. 리드선의 다른 끝부분은 시험 장치에 연결하기 위한 전선 구멍으로부터 나와 있다. 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 어떠한 용접 부위도 가지고 있지 않기 때문에 시험용 탐침은 회로 기판의 조밀한 검사 지점에 적합하고 검사 과정에서 더욱 정확할 수 있도록 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선의 저항력과 크기를 효과적으로 줄일 수 있다.
회로 기판, 상부 고정 플레이트, 하부 고정 플레이트, 시험용 탐침 시트, 하부 로케이팅 플레이트, 탄성 천, 상부 로케이팅 플레이트, 압축 스프링, 시험용 탐침, 리드선

Description

회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치{Test Probe Apparatus for Detecting Circuit Board}
첨부한 도면은 본 고안의 바람직한 구체예들과 작동 방식들을 설명하고 유사한 참고 특징을 여러 관점에서 동일하거나 유사한 부분으로 명시한다.
제1도는 본 고안에 따른 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치의 부분 단면도이다.
제2도는 회로 기판의 검사를 위한 종래의 시험용 탐침 장치의 부분 단면도이다.
제3도는 회로 기판의 검사를 위한 또 다른 종래의 시험용 탐침 장치의 부분 단면도이다.
* 도면의 주요부호에 대한 간단한 설명 *
10 : 회로 기판 20 : 상부 로케이팅 플레이트
21 : 탄성 천 22 : 하부 로케이팅 플레이트
23: 상부 고정 플레이트 24 : 시험용 탐침 시트
25 : 하부 고정 플레이트 26 : 시험용 탐침
27 : 압축 스프링 28 : 리드선
241 : 탐침 구멍 251 : 전선 구멍
281 : T형 헤드
201, 211, 221, 231 : 관통 구멍
고안의 분야
본 고안은 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치에 관한 것이다. 보다 구체적으로 시험용 탐침 장치는 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선의 저항력과 크기를 줄이기 위해, 조밀한 회로 기판에 적합한 용접한 부위가 없는 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선을 가지고 있다.
고안의 배경
기술 발전에 의해 회로 기판은 정밀하게 아주 작은 크기로 제조될 수 있다. 그러한 회로 기판의 복잡한 회로는 그 회로가 어떠한 문제점을 가지고 있는 지에 대해 확인하기 위해서는 시험용 탐침 장치에 의해 검사되어져야 한다. 도 2는 회로 기판의 검사를 위한 종래의 시험용 탐침 장치를 나타낸다. 시험용 탐침 장치는 고정 플레이트(B), 시험용 탐침 시트(C), 로케이팅 소켓(locating socket)(D), 다수 의 시험용 탐침(E)을 가지고 있고, 시험용 탐침 시트(C)는 회로 기판(A)의 검사되는 회로의 위치에 따라 배열된 다수의 탐침 구멍(C1)을 가지고 있다. 탐침 구멍 안의 각각의 로케이팅 소켓(D)은 시험용 탐침(E)과 압축 스프링(G)이 설치되어 있는 탐침 튜브(probe tube)를 가지고 있다. 시험용 탐침(E)은 탐침 튜브의 외부까지 뻗을 수 있고 탐침 튜브의 내부 플랜지(inner flange)(F1)에 의해 위치가 정하여진다. 또한 각각 의 로케이팅 소켓(D)의 바닥 끝부분은 시험 장치에 연결된 전선을 가지고 있다. 고정 플레이트(B)는 시험용 탐침 시트(C)에 설치되어 있고 시험용 탐침 시트(C)의 탐침 구멍에 적합한 다수의 관통 구멍(B1)을 가지고 있다. 또한 회로 기판(A)의 테스트 지점(test position)에 접촉할 수 있도록 관통 구멍(B1)의 외부까지 뻗을 수 있다.
회로 기판(A)이 시험용 탐침 장치에 놓여지면, 시험용 탐침의 위쪽 끝부분(E)은 회로의 정상 여부를 확인하기 위해 회로 기판(A)의 테스트 지점에 정밀하게 접촉할 수 있고 리드선에 의해 신호를 시험 장치에 전송할 수 있다. 압축 스프링(G)은 회로 기판(A)이 시험용 탐침 시트(C)에 놓여질 때 시험용 탐침이 테스트 지점을 손상시키지 않고 회로 기판(A)의 테스트 지점에 접촉할 수 있도록 아래 방향의 힘을 적절하게 흡수하여 준다. 그러나 시험용 탐침(E)의 크기는 회로 기판의 테스트 지점의 조밀도에 의해 결정되고 따라서 시험용 탐침(E)은 회로 기판이 매우 조밀한 테스트 지점을 가지고 있다면 매우 작은 크기로 제조되어져야 한다. 그러므로 회로 기판의 조밀한 테스트 지점에 접촉하는 매우 작은 시험용 탐침들을 생산하는 것은 제조업자들에게 매우 어려운 일일 것이다.
도 3은 시험용 탐침 시트(I), 상부 고정 플레이트(J), 하부 고정 플레이트(K), 복수의 탐침 로케이팅 플레이트(probe locating plate)(L)로 이루어진 회로 기판의 검사를 위한 종래의 시험용 탐침 장치를 나타낸다. 시험용 탐침 시트(I)는 상부 고정 플레이트(J)와 하부 고정 플레이트(K)의 사이에 고정되어 있고 회로 기판(A)의 테스트 지점의 위치에 따라 배열된 복수의 탐침 구멍(I1)을 가지고 있다. 시험용 탐침(E)의 바닥 끝부분은 탐침 구멍(I1)에 설치된 나선형의 스프링(M)과 용접되어 있고, 리드선(H)은 나선형의 스프링(M)의 다른 한쪽 끝부분과 용접되어 있고 테스트 장치와 연결된 하부 고정 플레이트(K)의 관통 구멍(K1)을 통해 나간다. 시험용 탐침 시트(I)의 위에 설치된 적어도 하나 또는 그 이상의 탐침 로케이팅 플레이트(L)는 각각 복수의 로케이팅 구멍(L1)을 가지고 있다. 시험용 탐침(E)들은 회로 기판(A)의 테스트 지점에 접촉할 수 있도록 상부 고정 플레이트(J)의 구멍(J1)과 각각의 로케이팅 플레이트(L)의 로케이팅 구멍(L1)을 관통하고 있다.
상부 고정 플레이트(J)에 있는 구멍(J1)의 위치와 각각의 로케이팅 플레이트(L)의 맞은 편 로케이팅 구멍의 위치는 수직선 뿐만 아니라 경사선에 놓여 있을 수 있다. 나선형의 스프링(M)은 탐침 구멍(I1)에 설치되어져야 하므로 나선형의 스프링(M)과 리드선(H) 사이의 용접 부위의 크기는 하부 고정 플레이트(K)의 구멍(K1)의 직경보다 더 커야한다. 이는 탐침 구멍(I1)의 직경은 나선형의 스프링과 용접 부위의 크기에 의해 제한되어 진다는 것을 의미한다. 따라서 회로 기판이 매우 조밀한 테스트 지점을 가지고 있다면, 탐침 구멍(K1)은 테스트 지점에 적합하지 않을 수 있다. 동시에 시험용 탐침(E)은 회로 기판(A)의 조밀한 테스트 지점에 접촉하기 위해서 이러한 탐침 로케이팅 플레이트(L)에 있는 로케이팅 구멍(L1)에 의해 경사각을 형성하며 밀려 올라갈 수 있다. 그러나 탐침 로케이팅 플레이트(L)에 있는 로케이팅 구멍(L1)에 접촉되어 있는 시험용 탐침(E)들은 테스트 정확도에 영향을 미치는 더 큰 저항력을 발생시킬 수 있고 시험용 탐침(E)들은 시험용 탐침(E)들과 로케이팅 구멍(L1)들 사이에서 발생하는 마찰력에 의해 닳거나 구부려 질 수 있다.
또한, 회로 기판은 현재 매우 복잡하고 조밀하게 제조된다. 그러한 종류의 종래의 시험용 탐침 장치에 있어서, 로케이팅 플레이트의 경사각은 범위에 있어서 제한되어진다. 따라서 우리는 회로 기판의 조밀한 테스트 지점에 적합하게 하기 위하여 경사진 형태의 시험용 탐침을 적용한 탐침 로케이팅 플레이트가 필요하며 그러한 종래의 시험용 탐침 장치를 생산하고 조합하기 위해 더 많은 시간과 비용을 투자하여야 한다.
본 고안의 목적은 회로 기판을 검사하기 위한 시험용 탐침 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 고안의 다른 목적은 복잡하고 조밀한 회로 기판의 테스트 지점에 적합한 시험용 탐침 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 고안의 또 다른 목적은 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 어떠한 용접 부위도 가지고 있지 않기 때문에 쉽게 설치되고 제조될 수 있는 시험용 탐침 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 고안의 또 다른 목적은 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 어떠한 용접 부위도 가지고 있지 않기 때문에 상호간의 저항력을 줄여 시험의 정확도를 증가시킬 수 있는 시험용 탐침 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 고안의 상기 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 고안에 의하여 모두 달성될 수 있다.
고안의 요약
본 고안의 주요한 목적은 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치를 제공하기 위한 것이다. 본 고안에 따른 시험용 탐침 장치는 상부 고정 플레이트, 하부 고정 플레이트, 상부 고정 플레이트와 하부 고정 플레이트 사이에 설치되어 있는 시험용 탐침 시트(test probe seat), 하부 로케이팅 플레이트(lower locating plate), 탄성 천(elastic cloth), 상부 고정 플레이트에 차례대로 설치된 상부 로케이팅 플레이트(upper locating plate)로 구성되어 있다. 복수의 시험용 탐침, 압축 스프링(compression spring), 리드선이 회로 기판의 테스트 지점의 위치에 따라 배열된 시험용 탐침 시트의 탐침 구멍(probe hole)들 안에 각각 설치되어 있다. 시험용 탐침, 압축 스프링(compression spring), 리드선의 저항력과 크기는 상호간에 어떠한 용접 부위도 가지고 있지 않기 때문에 효과적으로 줄일 수 있다.
본 고안의 또 다른 목적은 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 어떠한 용접 부위도 가지고 있지 않기 때문에 쉽게 설치되고 제조될 수 있는 시험용 탐침 장치를 제공하기 위한 것이다.
고안의 구체예에 대한 상세한 설명
도 1을 참조하면, 본 고안은 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치에 관한 것으로 시험용 탐침 시트(test probe seat)(24), 상부 고정 플레이트(23), 하부 고정 플레이트(25), 상부 로케이팅 플레이트(upper locating plate)(20), 하부 로케이팅 플레이트(lower locating plate)(22), 탄성 천(elastic cloth)(21), 복수의 시험용 탐침(26), 압축 스프링(27), 리드선(28)으로 구성되어 있다. 시험용 탐침 시트(test probe seat)(24)는 상부 고정 플레이트(23)와 하부 고정 플레이트(25)의 사이에 고정되어 있고, 하부 로케이팅 플레이트(22), 탄성 천(21), 상부 로케이팅 플레이트(20)은 상부 고정 플레이트(23)에 차례대로 설치되어 있다. 시험용 탐침 시트(24)는 회로 기판(10)의 테스트 지점의 위치에 따라 배열된 다수의 탐침 구멍(241)을 가지고 있다. 또한 상부 고정 플레이트(23), 하부 로케이팅 플레이트(22), 탄성 천(21), 상부 로케이팅 플레이트(20)는 각각 시험용 탐침 시트(24)에 있는 탐침 구멍(241)에 적합한 다수의 관통 구멍(231, 221, 211, 201)을 모두 가지고 있다. 또한 하부 고정 플레이트(25)는 탐침 구멍(241)에 적합한 복수의 와이어 구멍(251)을 가지고 있다. 압축 스프링(27)은 탐침 구멍(241)들에 각각 설치되어 있고 시험용 탐침(26)들은 회로 기판(10)의 테스트 지점에 접촉할 수 있도록 관통 구멍(231, 221, 211, 201)을 통해 나올 수 있다. 리드선(28)의 한쪽 끝부분은 압축 스프링(27)의 바닥에 접촉되도록 T형 헤드(T shape head)(281)의 안쪽으로 눌려진 상태로 멈춰 있고, 리드선(28)의 다른 끝부분은 테스트 장치에 연결하기 위한 와이어 구멍(251)을 관통하고 있다.
회로 기판(10)이 시험용 탐침 장치에 놓여지면, 압축 스프링(27)은 시험용 탐침(26)이 테스트 지점을 손상시키지 않고 회로 기판(10)의 테스트 지점에 접촉할 수 있도록 아래 방향의 힘을 적절하게 흡수하여 준다. 또한 상부 고정 플레이트(23), 하부 로케이팅 플레이트(22), 상부 로케이팅 플레이트(20)에 있는 관통 구멍들(231, 221, 201)은 수직으로 시험용 탐침(26)을 회로 기판(10)에 접촉할 수 있도록 조절하고 탄성 천(21)은 시험용 탐침(26)이 탐침 구멍(241)으로부터 이탈하는 것을 방지하기 위한 적절한 마찰력을 제공할 수 있다. 회로 기판(10)의 테스트 지점에 접촉하고 있는 시험용 탐침(26)은 회로의 정상 유무를 조사하기 위해 압축 스프링(27)을 통해 테스트 장치와 리드선(28)에 신호를 전송할 수 있다.
따라서 본 고안은 하기의 이점을 가지고 있다.
(1) 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 용접 부위 없이 상호간에 접촉할 수 있어서 탐침 구멍의 직경은 회로 기판의 조밀한 테스트 지점에 적합한 최소한의 크기로 축소될 수 있다. 수직으로 테스트 지점에 접촉하고 있는 시험용 탐침은 회로 기판이나 상호간의 손상을 방지할 수 있다. 또한, 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 상호간에 용접 부위를 가지고 있지 않기 때문에 효과적으로 상호간의 저항력을 줄일 수 있고, 따라서 테스트의 정확도는 낮은 저항력에 의해 증가되어 질 수 있다.
(2) 시험용 탐침 장치는 탐침 구멍에 설치된 시험용 탐침, 압축 스프링, 리 드선은 어떠한 용접 부위를 가지고 있지 않기 때문에 쉽게 제조되고 설치될 수 있어서 제조하는데 드는 비용과 시간을 효과적으로 줄일 수 있다.
본 고안은 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선은 어떠한 용접 부위도 가지고 있지 않기 때문에 조밀한 회로 기판의 검사에 적합하고, 상호간의 저항력을 줄여서 검사의 정확도를 증가시키고 제조하는데 드는 비용과 시간을 줄일 수 있는 시험용 탐침 장치를 제공하는 효과를 갖는다.
비록 본 고안은 바람직한 구체예와 관련하여 설명되었으나, 하기의 실용신안청구범위에서 청구된 고안의 사상 및 그 영역을 이탈하지 않으면서 다양한 변화 및 변경이 있을 수 있음을 이해하여야 할 것이다.

Claims (2)

  1. 회로 기판의 테스트 지점의 위치에 따라 배열된 복수의 탐침 구멍을 가진 시험용 탐침 시트;
    각각 상기 시험용 탐침 시트의 탐침 구멍에 대응하는 복수의 관통 구멍과 와이어 구멍을 가지며, 그 사이에 상기 시험용 탐침 시트가 고정되어 있는 상부 고정 플레이트 및 하부 고정 플레이트;
    상기 시험용 탐침 시트의 탐침 구멍에 대응하는 복수의 관통 구멍을 각각 가지며, 상기 상부 고정 플레이트에 차례대로 설치된 상기 하부 로케이팅 플레이트, 탄성 천, 상부 로케이팅 플레이트; 및
    상기 탐침 구멍에 각각 설치된 복수의 시험용 탐침, 압축 스프링, 리드선;
    을 포함하여 이루어지고, 상기 시험용 탐침은 상기 압축 스프링 위에 놓여져 있고, 상기 시험용 탐침의 상단부는 회로 기판의 테스트 지점에 접촉하기 위해서 상기 상부 고정 플레이트, 상기 하부 로케이팅 플레이트, 상기 탄성 천, 상기 상부 로케이팅 플레이트에 있는 상기 관통 구멍을 통해 연장되며, 상기 리드선의 한쪽 끝부분은 상기 압축 스프링의 바닥에 접촉 또는 매달리도록 T형 헤드의 안쪽으로 눌려진 상태로 멈춰 있고, 상기 리드선의 다른 끝부분은 시험 장치에 연결하기 위한 와이어 구멍을 관통하고 있는 것을 특징으로 하는 회로 기판의 검사를 위한 시험용 탐침 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 탄성 천은 상기 시험용 탐침이 탐침 구멍으로부터 이탈하는 것을 방지하기 위한 충분한 마찰력을 제공할 수 있는 것을 특징으로 하는 회로 기판의 시험을 위한 시험용 탐침 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100864435B1 (ko) * 2006-05-12 2008-10-20 니혼덴산리드가부시키가이샤 기판검사용 접촉자, 기판검사용 치구 및 기판검사장치
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