KR20040056237A - 과도현상 영향 분석 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (1)
- 동시측정 대상 전기패널의 각 PT(11) 및 CT(12)에 측정기를 연결하여 각 전기패널별 과도상태 3상 전압 및 전류 변동을 측정기로 측정하는 단계와, 다수의 동시측정 대상 전기패널 중 어느 하나에서 과도 상태 전압, 전류신호가 측정되면 해당 측정기에서는 미리 설정해 놓은 트리거링 방식에 따라 이벤트신호를 발생하여 동시간대에 측정중인 다른 측정기기에 이 이벤트신호를 전달하는 단계와, 측정기에 상기 이벤트신호가 입력되면 해당 측정기에 마련된 저장장치에 이벤트 발생전,후의 시간대에 해당되는 데이터를 저장하는 단계와, 상기 측정기(15-1~15-n)들에 저장된 데이터들을 분석용 컴퓨터(16)에 전송 입력하여 각 채널별로 버퍼에 분리 저장하고 각 채널별로 분리된 버퍼의 정보들로부터 원하는 형태에 맞도록 데이터를 가공, 처리하여 분석하는 단계와, 상기 분석용 컴퓨터에서 생성된 초기화 등에 관련된 각종 파라미터 및 프로그램과 프로그램 수행에 관련된 인터럽트 신호를 발생시켜 측정기에 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 과도현상 영향 분석 방법.
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KR100439686B1 (ko) * | 2001-11-05 | 2004-07-12 | 주식회사프로컴시스템 | 전력계통상태감시장치 |
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2002
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