KR20040051522A - Method of forming and treating a metal film, semiconductor device and wiring board - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A treatment method for forming a metal film, a semiconductor device and a wiring board are provided to improve adhesion between the metal film and a surface of a resin member by coating thinly conditioning solutions on the resin member and irradiating UV(UltraViolet) rays thereon. CONSTITUTION: UV rays are irradiated on a surface of a resin member through conditioning solutions(S11). An electroless plating process is performed on the resin member(S5). An electroplating process is then performed on the resultant structure, so that a desired metal film is formed on the resin member(S6).

Description

금속막 형성 처리 방법, 반도체 장치 및 배선 기판{METHOD OF FORMING AND TREATING A METAL FILM, SEMICONDUCTOR DEVICE AND WIRING BOARD}METHOD OF FORMING AND TREATING A METAL FILM, SEMICONDUCTOR DEVICE AND WIRING BOARD}

본 발명은 수지 기재 상에 금속막을 형성하는 금속막 형성 처리 방법과, 수지 절연층 상에 금속막을 갖는 반도체 장치 및 배선 기판에 관한 것이고, 특히, 그 수지 절연층의 표면에 도금에 의해 형성된 금속막의 밀착력을 향상시킬 수 있는 금속막 형성 처리 방법, 반도체 장치 및 배선 기판에 관한 것이다.The present invention relates to a metal film forming processing method for forming a metal film on a resin substrate, a semiconductor device having a metal film on a resin insulating layer, and a wiring board, and in particular, a metal film formed by plating on the surface of the resin insulating layer. A metal film formation processing method, a semiconductor device, and a wiring board which can improve adhesive force.

종래 기술에 의한 금속막 형성 방법은, 예를 들어, 빌드업 기판이나, 이 기판을 사용한 반도체 패키지를 포함하는 배선 기판, 또는 반도체 소자 상에, 수지 절연층을 통하여 배선 패턴을 형성한 칩 사이즈 패키지라고 불리우는 반도체 장치에 적용되고 있다.In the metal film forming method according to the prior art, for example, a chip size package in which a wiring pattern is formed on a build-up substrate, a wiring board including a semiconductor package using the substrate, or a semiconductor element via a resin insulating layer. It is applied to the semiconductor device called.

예를 들어, 반도체 장치에 배선 패턴을 형성하는 경우에, 수지 절연층의 층간에 배선층을 적층하여 형성하기 위해서는, 폴리이미드, 에폭시 수지 등의 전기적 절연성을 갖는 기재를 하지(下地)로 하고, 그 위에 코팅하거나, 혹은 전기적 절연성을 갖는 수지 필름을 압착하여 수지 절연층을 형성한 후, 당해 수지 절연층의 표면상에 도금 등에 의해서 도전체층을 형성하고 있다. 수지 절연층의 표면에 형성한 도전체층을 소정의 패턴으로 에칭함으로써, 당해 수지 절연층의 표면에 배선 패턴을 형성할 수 있다. 혹은 수지 절연층 상에 미리 소정의 패턴으로 마스킹 후에, 도금 등에 의해 도전체층을 형성하여, 배선 패턴을 형성하고 있다.For example, when forming a wiring pattern in a semiconductor device, in order to laminate | stack and form a wiring layer between the layers of a resin insulating layer, the base material which has electrical insulation, such as a polyimide and an epoxy resin, shall be made into the base material, and After coating on top or crimping a resin film having electrical insulation to form a resin insulating layer, a conductor layer is formed on the surface of the resin insulating layer by plating or the like. By etching the conductor layer formed on the surface of the resin insulating layer in a predetermined pattern, a wiring pattern can be formed on the surface of the resin insulating layer. Alternatively, after masking in a predetermined pattern on the resin insulating layer in advance, a conductor layer is formed by plating or the like to form a wiring pattern.

그런데, 도금에 의해 수지 절연층의 표면에 도전체층을 형성하는 경우, 도금에 의해서 형성한 도전체층과 수지 절연층의 밀착성을 높이기 위해서, 예를 들어, 특개2002-57456호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 수지 절연층의 표면에 미리 조면화 처리(데스미어(desmear) 처리)를 행한 후, 도금을 실시하는 것이 종래부터 행하여지고 있다. 조면화 처리는 과망간산칼륨, 과망간산나트륨 등의 에칭액을 사용하여 수지 절연층의 표면을 에칭함으로써 행하여진다.By the way, when forming a conductor layer in the surface of a resin insulating layer by plating, in order to improve the adhesiveness of the conductor layer formed by plating and the resin insulating layer, it is disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-57456, for example. Similarly, after performing the roughening process (desmear process) on the surface of a resin insulating layer previously, plating is conventionally performed. The roughening process is performed by etching the surface of a resin insulating layer using etching liquids, such as potassium permanganate and sodium permanganate.

이 경우, 에칭액을 사용하여 수지 절연층의 표면을 조면화 처리에 의해 요철면으로 형성된 수지 절연층의 표면의 오목부에 도체가 충전됨으로써, 앵커 작용에 의해서 배선 패턴의 도전체가 수지 절연층에 밀착된다. 그러나, 수지 절연층의 표면의 요철이 커지면, 도체층을 에칭하여 배선 패턴을 형성할 때에, 표면의 요철이 패턴 형성의 정밀도에 영향을 미쳐서, 매우 미세한 배선 패턴을 정밀도 좋게 형성할 수 없는 문제가 생긴다In this case, the conductor is filled in the recessed part of the surface of the resin insulation layer formed by the roughening process on the surface of the resin insulation layer using the etching liquid, and the conductor of a wiring pattern adheres closely to the resin insulation layer by an anchor action. do. However, when the unevenness of the surface of the resin insulating layer becomes large, when the conductor layer is etched to form the wiring pattern, the unevenness of the surface affects the precision of the pattern formation, so that a very fine wiring pattern cannot be formed accurately. Occurs

수지 절연층의 표면에서의 표면 조도의 대소에 의해서, 도체층을 에칭하여 배선 패턴을 형성할 때에, 수지 절연층의 표면 조도가 크면 잠입량이 커지고, 표면 조도가 작으면 잠입량이 적어진다. 즉, 수지 절연층의 표면의 요철이 크면, 도체층을 에칭하여 배선 패턴을 형성할 때에, 에칭액이 요철부로부터 배선 패턴의 측면으로 들어가기 쉬워져서, 배선 패턴의 측면 부분이 부상(浮上)한 형상으로 된다. 이 때문에, 표면 조도가 큰 경우에는 배선 패턴을 미세화함이 곤란하게 된다.When the conductor layer is etched to form a wiring pattern by the magnitude of the surface roughness on the surface of the resin insulating layer, the larger the surface roughness of the resin insulating layer, the larger the amount of immersion, and the smaller the surface roughness, the less the amount of immersion. That is, when the unevenness of the surface of the resin insulating layer is large, when the conductor layer is etched to form the wiring pattern, the etching liquid easily enters the side surface of the wiring pattern from the uneven portion, and the side surface portion of the wiring pattern floats. Becomes For this reason, when surface roughness is large, it becomes difficult to refine | miniaturize a wiring pattern.

또한, 수지 절연층의 표면 조도가 커지면, 고주파 신호의 전송 손실이 커지는 문제가 있다. 전송 손실은 표면 조도가 작을수록 작아진다. 또한, 수지 절연층의 표면 조도가 커지면, 내 마이그레이션성이 저하하므로, 도전체층이 형성되는 수지 절연층의 표면 조도는 가능한 한 작은 편이 바람직하다고 말할 수 있다. 따라서, 수지 절연층 상으로의 도전체층의 형성시에는 수지 절연층의 표면 조도를 가능한 한 작게함과 동시에, 수지 절연층과 도전체층의 밀착성을 향상시킬 것이 요구된다.In addition, when the surface roughness of the resin insulating layer increases, there is a problem that the transmission loss of the high frequency signal increases. The transmission loss is smaller as the surface roughness is smaller. Moreover, since migration resistance falls when the surface roughness of a resin insulating layer becomes large, it can be said that the surface roughness of the resin insulating layer in which a conductor layer is formed is as small as possible. Therefore, when forming the conductor layer onto the resin insulating layer, it is required to make the surface roughness of the resin insulating layer as small as possible and to improve the adhesion between the resin insulating layer and the conductor layer.

통상, 반도체 장치 등에서는 수지 절연층 위에 도전체층을 형성하는 경우, 예를 들어, 무전해 동도금과, 이것에 이은 전해 동도금에 의해, 금속막을 형성하여 배선 기판으로 하고 있다. 그러나, 동도금은 니켈 도금 등과 비교하여, 수지 기재와의 밀착성이 낮기 때문에, 동도금에 의해서 도전체층으로 되는 금속막을 형성하는 경우에는, 이 금속막과 수지 기재와의 더욱 더 확실한 밀착성이 요구된다.Usually, in a semiconductor device, when forming a conductor layer on a resin insulating layer, a metal film is formed by electroless copper plating and electrolytic copper plating following this, and it is set as a wiring board. However, since copper plating has low adhesiveness with a resin base material compared with nickel plating etc., when forming the metal film which becomes a conductor layer by copper plating, even more reliable adhesiveness of this metal film and a resin base material is calculated | required.

그래서, 예를 들어, 특개평6-87964호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 이 밀착성을 향상시키기 위하여, 수지 기재의 표면을 개질한 후, 그 표면에 무전해 도금을 행하는 각종의 방법이 제안되어 있다. 예를 들어, 아민 화합물 가스 또는 아미드 화합물 가스 분위기하에 놓여진 수지 기재 표면에 대해서, 자외선 레이저를 조사하고, 그 후에 무전해 도금을 행하는 방법이 있다.Thus, for example, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. Hei 6-87964, in order to improve the adhesion, various methods of modifying the surface of the resin substrate and then electroless plating the surface have been proposed. have. For example, there exists a method of irradiating an ultraviolet laser to the surface of the resin base material placed in an amine compound gas or an amide compound gas atmosphere, and performing electroless plating after that.

또한, 예를 들어, 특개평8-253869호 공보에 개시되어 있는 바와 같은, 수지 기재에 무전해 도금을 위한 전처리로서, 수지 기재의 표면에 자외선을 조사하고, 그 후에, 그 수지 기재 표면에 무전해 도금을 행하는 방법이나, 예를 들어, 특개평 10-88361호 공보에 개시되어 있는 바와 같은, 폴리옥시에틸렌 결합을 갖는 비이온계 계면 활성제를 함유하는 알칼리 용액과 접촉시키는 표면 처리 공정을 행함으로써, 밀착성을 향상시키려는 방법이 제안되어 있다.For example, as a pretreatment for electroless plating on a resin substrate as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-253869, ultraviolet rays are irradiated onto the surface of the resin substrate, and then the surface of the resin substrate is electroless. By performing a method of performing plating and contacting with an alkaline solution containing a nonionic surfactant having a polyoxyethylene bond, for example, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-88361. Therefore, a method for improving the adhesion has been proposed.

또한 예를 들어, 특개평10-310873호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 수지 기재의 표면에, 자외선 조사에 의한 표면 개질한 후, 아미노계 관능기를 갖는 실란 커플링제를 흡착시키고, 주석-팔라듐계 촉매의 부여를 촉진함으로써, 수지 기재 상에 무전해 도금에 의해서 형성된 금속막의 밀착력을 향상시키는 방법도 제안되어 있다.For example, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-310873, after surface modification by ultraviolet irradiation on the surface of a resin substrate, a silane coupling agent having an amino-based group is adsorbed, and a tin-palladium-based The method of improving the adhesion of the metal film formed by electroless plating on the resin base material by promoting provision of a catalyst is also proposed.

한편, 자외선의 조사에 의해서 수지 기재의 표면을 개질하는 방법 외에, 예를 들어, 상기한 특개2002-57456호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 수지 기재의 표면에, 플라즈마 처리와 자외선 처리를 차례로 계속해서 행한 후, 무전해 도금을 실시함으로써, 무전해 동도금된 금속막과의 밀착성을 나타내는 관능기를 생성하여, 수지 기재의 표면 조도를 작게 하고 또 밀착성을 양호하게하는 방법이 제안되어 있다.On the other hand, in addition to the method of modifying the surface of the resin substrate by irradiation of ultraviolet rays, for example, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-57456, the surface of the resin substrate is sequentially subjected to plasma treatment and ultraviolet treatment. After carrying out by performing electroless plating, a method of producing a functional group exhibiting adhesion to an electroless copper plated metal film, reducing the surface roughness of the resin substrate and improving the adhesion is proposed.

이상과 같이, 반도체 장치 등에 사용되고 있는 수지 절연층인 수지 기재 위에 도전체층으로 되는 금속막을 형성할 때, 수지 기재와 금속막의 밀착성을 향상시키는 각종의 방법이 있고, 그 밀착성을 나타내는 필 강도가 실용적으로 되는 충분한 크기를 갖고, 밀착성을 향상시킨 방법도 있다.As mentioned above, when forming the metal film which becomes a conductor layer on the resin base material which is a resin insulation layer used for a semiconductor device etc., there are various methods of improving the adhesiveness of a resin base material and a metal film, and the peeling strength which shows the adhesiveness is practically practical. There is also a method having a sufficient size to improve the adhesion.

그러나, 이들의 각 방법에서는 수지 기재 표면을 에칭하여 조면화 처리가 실시되는 것을 전제로 하는 것이다. 이 에칭 처리는 일반적으로, 크롬산·황산 혼합액, 중크롬산·황산 혼합액, 염소산, 황산·과염소산 혼합액 등의 강산화성의 에칭 처리액에 수지 기재를 침지하여 행하여진다. 그런데, 이 에칭 처리액은 위험성,공해성이 높은 약액이기 때문에, 그 취급이나 배출 처리에 대해서는 충분한 주의가 필요하여, 금속막 형성에서의 도금 처리 공정 중에서는 작업 부담이 커지게 된다.However, in each of these methods, the surface of the resin substrate is etched and the roughening treatment is performed. This etching process is generally performed by immersing a resin base material in strong oxidizing etching process liquids, such as a chromic acid and a sulfuric acid liquid mixture, a dichromic acid and a sulfuric acid liquid mixture, a chloric acid, a sulfuric acid, and a perchloric acid liquid mixture. By the way, since this etching process liquid is a chemical liquid with high risk and high pollution, sufficient care is needed about the handling and discharge process, and work load becomes large during the plating process in metal film formation.

또한, 상술의 각 방법에서는 수지 기재와 금속막의 밀착성을 향상할 수 있어도, 자외선을 조사할 뿐만 아니라, 그 조사 후에, 수지 기재 표면의 개질을 촉진하기 위한 처리제를, 통상의 처리 공정에서의 처리액과는 별도로 준비할 필요가 있어, 처리 공정수가 증가하여, 처리 비용이 드는 문제가 있다.In addition, even if the adhesiveness of a resin base material and a metal film can be improved by each said method, not only irradiating an ultraviolet-ray, but also after that irradiation, the processing agent for promoting the modification of the surface of a resin base material is a process liquid in a normal processing process. It is necessary to prepare separately from this, and there is a problem that the number of treatment steps increases, resulting in a treatment cost.

또한, 수지 기재의 표면의 개질시, 자외선 조사에 이어서 플라즈마 처리를 실시하는 경우에는, 자외선 조사의 장치 외에, 플라즈마 처리 장치를 설치하지 않으면 안 되고, 이 플라즈마 장치의 설치는 설비 비용을 증대시키는 요인으로 되어, 염가의 제품의 제공에 문제로 된다.In the case of modifying the surface of the resin substrate, in the case of performing a plasma treatment subsequent to ultraviolet irradiation, a plasma processing apparatus must be provided in addition to the apparatus for ultraviolet irradiation, and the installation of the plasma apparatus increases the equipment cost. It becomes a problem in providing a cheap product.

그래서, 본 발명은 반도체 장치 등의 수지 기재의 표면에 금속막을 형성하는 종래의 금속막 형성에서의 각 처리 공정의 처리액을 그대로 사용하고, 자외선 조사의 효과가 지속되고 있는 동안에 다음 처리 공정이 행하여지도록 하여, 수지 기재와 금속막의 밀착성을 간단히 향상시킬 수 있는 금속막 형성 처리 방법과, 이 금속막 형성 처리 방법을 적용하여 형성된 금속막을 수지 기재 상에 갖는 반도체 장치 및 회로 배선 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Therefore, the present invention uses the processing liquid of each processing step in the conventional metal film formation which forms a metal film on the surface of a resin substrate such as a semiconductor device as it is, and the next processing step is performed while the effect of ultraviolet irradiation is continued. To provide a semiconductor film and a circuit wiring device having a metal film forming processing method that can easily improve the adhesion between the resin substrate and the metal film, and a metal film formed by applying the metal film forming processing method on the resin substrate. It is done.

도 1은 제1 실시 형태에 의한 금속막 형성 처리 방법의 처리 순서를 설명하는 플로차트.1 is a flowchart for explaining a processing procedure of the metal film formation processing method according to the first embodiment.

도 2는 제1 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법의 컨디쇼닝 처리 공정중에서 방사선 조사를 행하는 실시예를 설명하는 도면.FIG. 2 is a view for explaining an example of performing irradiation with radiation during a conditioning treatment step of the metal film formation processing method of the first embodiment; FIG.

도 3은 제2 실시 형태에 의한 금속막 형성 처리 방법의 처리 순서를 설명하는 플로차트.3 is a flowchart for explaining a processing procedure of the metal film formation processing method according to the second embodiment.

도 4는 제2 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법의 컨디쇼닝 처리 공정중에서 방사선 조사를 행하는 실시예를 설명하는 도면.FIG. 4 is a view for explaining an example of performing radiation irradiation during a conditioning treatment step of the metal film formation processing method of the second embodiment; FIG.

도 5는 다른 실시 형태를 조합한 금속막 형성 처리 방법의 처리 순서를 설명하는 플로차트.5 is a flowchart for explaining a processing sequence of a metal film formation processing method in which another embodiment is combined;

도 6은 본 발명의 기초로 되는 금속막 형성 방법의 처리 순서를 설명하는 플로차트.6 is a flowchart for explaining a processing procedure of the metal film forming method of the present invention.

도 7의 (A) 내지 (E)는 도 6에 나타낸 금속막 형성 방법에서의 처리 공정을 설명하는 도면.7A to 7E are diagrams for describing processing steps in the metal film forming method shown in FIG. 6.

도 8은 본 발명의 기초로 되는 다른 금속막 형성 방법의 처리 순서를 설명하는 플로차트.8 is a flowchart for explaining a processing procedure of another metal film forming method of the present invention.

이상의 과제를 해결하기 위해, 본 발명에서는 도금핵 생성 공정과 무전해 도금 공정에 따라 처리하여, 수지 기재의 표면에 금속막을 형성 처리하고, 혹은 그무전해 도금 공정 후에, 전해 도금 공정에 의한 처리가 행하여져, 수지 기재의 표면에 금속막을 형성 처리하는 금속막 형성 처리 방법에서, 상기 무전해 도금 공정전에 사용되는 처리액을 통하여 상기 표면에 자외선을 조사하는 것으로 하였다.In order to solve the above problems, in the present invention, the treatment is performed in accordance with the plating nucleation step and the electroless plating step to form a metal film on the surface of the resin substrate, or after the electroless plating step, the treatment by the electrolytic plating step is performed. In the metal film formation processing method which performs a metal film formation process on the surface of a resin base material, it is supposed to irradiate an ultraviolet-ray to the said surface through the process liquid used before the said electroless plating process.

그리고, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정전에 상기 표면을 전처리하는 컨디쇼닝 처리액으로 하고, 혹은 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액으로 하고, 또, 상기 자외선의 조사는 상기 컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와 상기 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하도록 하였다.The treatment liquid may be a conditioning treatment liquid for pretreatment of the surface before the plating nucleation process, or a catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation process. It was carried out in both the case of passing through the conditioning treatment liquid and the case of passing through the catalizing treatment liquid.

또한 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액이 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되도록 했다.Further, the conditioning treatment liquid or the catalyzing treatment liquid was interposed thinly between the glass plate and the surface.

또한, 본 발명에서는 상술한 금속막 형성 처리 방법에 의해 수지 절연층상에 형성된 금속막을 갖는 반도체 장치로 하고, 또한, 상술한 금속막 형성 처리 방법에 의해 수지 기재 상에 형성된 금속막을 갖는 배선 기판으로 했다.In addition, in this invention, it was set as the semiconductor device which has a metal film formed on the resin insulating layer by the metal film formation processing method mentioned above, and it was set as the wiring board which has a metal film formed on the resin base material by the metal film formation processing method mentioned above. .

다음에, 본 발명의 금속막 형성 방법에 관한 실시 형태에 대해서, 도면을 참조하면서 설명한다.Next, embodiment which concerns on the metal film formation method of this invention is described, referring drawings.

종래에는 수지 기재 표면으로의 금속막의 형성에는 도금법이 사용되고 있다. 이 도금법은, 예를 들어, 폴리이미드 등의 수지 기재 표면에 동에 의한 금속막을 형성하는 경우, 수지 표면의 탈지 등의 전처리 공정, 에칭 처리 공정, 카탈라이징(catalyzing) 처리 공정, 액셀레이팅(accelerating) 처리 공정, 무전해 동도금 처리 공정, 전해 동도금 처리 공정으로 되는 것이 일반적이다.Conventionally, the plating method is used for formation of the metal film on the resin base material surface. This plating method is, for example, in the case of forming a copper metal film on the surface of a resin substrate such as polyimide, a pretreatment process such as degreasing of the resin surface, an etching treatment process, a catalizing treatment process, and an accelerating process. ) It is common to become a treatment process, an electroless copper plating process, and an electrolytic copper plating process.

이와 같이, 수지 기재 표면에 직접 도금 처리를 행하지 않고, 각종의 처리 공정을 거친 후 도금 처리를 행하는 것은, 수지가 물에 젖기 어려운 소수성을 갖기 때문이다. 수지 기재 표면에 도금 처리를 그대로 행하면, 그 표면에 금속막을 형성할 수 없다. 도금과 같이, 수용액 중에서 표면 처리를 행하는 경우에는, 수지 기재 표면을 물에 젖기 쉬운 친수성으로 하지 않으면 안된다. 그리고, 수지 기재 표면과 도금 금속이 밀착하기 위해서는, 수지 기재 표면을 친수성화한 후 수지 표면에 극성기를 만들어 활성화하고, 수지 표면에 미세 구멍 등의 요철을 갖는 조면화가 실시된다. 이 처리가 에칭 처리이다.As described above, the plating treatment is performed after various treatment steps without performing plating treatment directly on the surface of the resin substrate, because the resin has hydrophobicity which is hard to get wet with water. If the plating process is performed on the surface of the resin substrate as it is, a metal film cannot be formed on the surface. When performing surface treatment in aqueous solution like plating, the surface of a resin base material must be made hydrophilic which is easy to get wet with water. In order for the surface of the resin substrate and the plating metal to be in close contact with each other, the surface of the resin substrate is made hydrophilic, and then a polar group is formed on the surface of the resin to activate the surface, and roughening is performed with irregularities such as fine pores on the surface of the resin. This process is an etching process.

또한, 도금핵 석출을 위하여, 수지 표면에 팔라듐(Pd) 활성화가 필요하므로, PdCl2와 SnCl2를 함유하는 카탈라이징 처리액에 침지하여, 수지 표면에 촉매 금속을 흡착시킨다. 이 처리가 카탈라이징 처리이다.Further, in order to deposit the plated nuclei, palladium (Pd) activation is required on the resin surface, so that it is immersed in a catalizing treatment liquid containing PdCl 2 and SnCl 2 to adsorb the catalyst metal on the resin surface. This process is a catalizing process.

카탈라이징 처리 공정이 행하여지면, 수지 기재 표면에 Pd와 Sn의 착염이 흡착되므로, 액셀레이팅 처리 공정에서, HCl 또는 H2SO4, 혹은 NH4F·HF 등을 포함하는 액셀레이팅 처리액 중에서, 도금핵으로 되는 팔라듐 금속을 수지 표면에 석출시킨다.When the catalizing treatment step is performed, the complex salt of Pd and Sn is adsorbed on the surface of the resin substrate, and therefore, in the accelerator treatment step, in the accelerator treatment solution containing HCl or H 2 SO 4 , NH 4 FHF, or the like, The palladium metal which becomes a plating nucleus is deposited on the resin surface.

그 다음에, 무전해 도금 처리 공정에서, 수지 표면에 석출한 도금핵의 촉매 작용에 의해서, 동금속이 수지 표면에 무전해 도금되어, 수지 표면 전체면에 금속막을 형성한다. 무전해 도금에 의한 금속막은 전해 도금을 행하기 위한 급전층(給電層)의 역할을 갖는 것으로, 통상, 0.5~2.0㎛정도의 두께이다. 이 후에, 전해 동도금 처리 공정에 의해서, 배선 패턴 등에 사용할 수 있는 소정의 두께로 될 때까지 전해 동도금을 행하여, 금속막이 형성된다.Next, in the electroless plating process, the copper metal is electroless plated on the resin surface by the catalytic action of the plating nucleus deposited on the resin surface to form a metal film on the entire resin surface. The metal film by electroless plating has a role of a power feeding layer for electrolytic plating, and is about 0.5-2.0 micrometers in thickness normally. Thereafter, the electrolytic copper plating process is performed to electrolytic copper plating until a predetermined thickness that can be used for a wiring pattern or the like is formed to form a metal film.

이상의 처리 공정이 일반적인 수지 기재 표면상에 동금속막을 형성할 때의 형성 방법이지만, 본 실시 형태로 하기 전에, 이 형성 방법 중에서 위험성 및 공해성이 모두 높은 에칭 처리를 행하지 않아, 금속막 형성 방법의 처리 공정을 간단화한 것으로서, 도 6에 나타내는 바와 같은 금속막 형성 처리를 시도했다.Although the above-mentioned processing process is a formation method at the time of forming a copper metal film on the surface of a general resin base material, before carrying out this embodiment, the etching process of both high risk and pollution is not performed in this formation method, As a simplification of the treatment step, a metal film formation treatment as shown in Fig. 6 was attempted.

도 6에 나타난 수지 기재 표면으로의 금속막 형성에서는 컨디쇼닝 처리 공정(S1), 프리디핑 처리 공정(S2), 카탈라이징 처리 공정(S3), 액셀레이팅 처리 공정(S4), 무전해 동도금 처리 공정(S5), 그리고 전해 동도금 처리 공정(S6)를 순차 행하도록 되어 있다.In the formation of the metal film on the surface of the resin substrate shown in Fig. 6, the conditioning treatment step (S1), the pre-dipping step (S2), the catalizing step (S3), the accelerating step (S4), and the electroless copper plating step (S5) And the electrolytic copper plating process S6 is performed in order.

여기서, 도 6에 나타낸 금속막 형성 처리 방법이 종래에서의 금속막 형성 방법과 다른 것은, 에칭 처리 공정이 생략되어 있고, 컨디쇼닝 처리 공정(S1)에서, 수지 기재 표면에 대해서, 탈지 등의 전처리를 실시하고, 그 후에, 수지 기재 표면의 친수성화와 활성화하기 위한 프리디핑 처리(S2)가 행하여지고, 계속해서, 카탈라이징 처리 공정(S4)이 행하여지는 것이다. 프리디핑 처리 공정(S2)에는 도금핵으로 되는 Pd와 Sn에 의한 착염의 흡착을 촉진하는 효과도 있다.Here, the metal film forming treatment method shown in FIG. 6 is different from the conventional metal film forming method, and the etching treatment step is omitted, and in the conditioning treatment step (S1), pretreatment such as degreasing to the surface of the resin substrate is performed. After that, a predipping treatment (S2) for hydrophilizing and activating the surface of the resin substrate is performed, followed by a catalizing treatment (S4). In the pre-diffusing treatment step (S2), there is also an effect of promoting the adsorption of the complex salt by Pd and Sn as the plating nucleus.

도 7의 (A) 내지 (E)에, 도 6에 나타낸 금속막 형성 방법의 처리 공정에 의한 순서에 따라서, 모식적으로 금속막의 형성 공정을 도시하였다. 도 7의 (A)는 컨디쇼닝 처리 공정(S1)에 대응하며, 수지 기재(1)의 표면에 컨디쇼닝 처리액(2)을 접촉시켜, 도금을 실시하는 수지 표면의 전처리를 행하는 상태를 나타내고 있다.7A to 7E schematically show a metal film forming step in accordance with the procedure by the processing step of the metal film forming method shown in FIG. 6. FIG. 7A corresponds to the conditioning treatment step S1 and shows a state in which the conditioning treatment liquid 2 is brought into contact with the surface of the resin substrate 1 to pretreat the surface of the resin to be plated. have.

도 7의 (B)는 프리디핑 처리 공정(S2)에 대응하며, 수지 기재(1)의 표면에 프리디핑 처리액(3)을 접촉시켜서, 그 표면의 활성화 처리를 행하는 상태를 나타내고 있다. 또한, 도 7의 (A) 및 도 7의 (B)에서는 컨디쇼닝 처리액(2) 또는 프리디핑 처리액(3)이 수지 기재(1)의 표면상에 놓여진 상태로 나타나 있지만, 수지 기재(1)의 표면의 처리에 주목하여 모식적으로 표현한 것이고, 실제의 처리 공정에서는 수지 기재(1)는 각 처리액 중에 침지하여 처리되고 있다.FIG. 7B corresponds to the pre-dipping treatment step S2, and shows a state in which the pre-dipping treatment liquid 3 is brought into contact with the surface of the resin substrate 1 to perform the activation treatment of the surface thereof. In addition, in FIG. 7A and FIG. 7B, although the conditioning treatment liquid 2 or the pre-dipping treatment liquid 3 is shown on the surface of the resin base material 1, the resin base material ( It pays attention to the surface treatment of 1), and was represented typically, and the resin base material 1 is immersed in each process liquid and processed in an actual process process.

그 다음에, 도 7의 (C)는 수지 기재(1)의 표면에서, Pd 활성화가 종료된 상태, 즉, 카탈라이징 처리 공정(S3)과 액셀레이팅 처리 공정(S4)이 행하여져, 도금핵(4)이 석출된 상태를 나타내고 있다. 도면 중에서는 도금핵(4)이 5개의 검은 환으로 나타나고 있지만, 이것은 도면을 보기 쉽게 간단화하기 위해서 확대해 도시한 것이고, 실제로는 미세한 것으로, 좀 더 다수의 핵이 석출되어 있다.Next, in FIG. 7C, the surface of the resin substrate 1 is in a state in which Pd activation is completed, that is, a catalizing treatment step S3 and an accelerator treatment step S4 are performed. 4) shows a state of precipitation. Although the plating nucleus 4 is shown by five black rings in the figure, this is enlarged and shown in order to simplify the drawing, and in fact, it is minute and many more nucleus are deposited.

도 7의 (D)는 무전해 도금 처리 공정(S5)에 대응하며, 수지 기재(1)의 표면에 도금핵(4)가 석출된 후에 무전해 동도금 처리를 행하고 있는 상태를 나타내고 있다. Pd의 촉매 작용에 의해, 도금핵(4)의 표면에 동금속(5)이 도금되어 있다. 또한, 무전해 도금이 더욱 계속되어, 수지 기재(1)의 표면 전체에 걸쳐 연속한 동금속이 도금된다.FIG. 7D corresponds to the electroless plating treatment step S5 and shows a state in which the electroless copper plating treatment is performed after the plating nucleus 4 is deposited on the surface of the resin substrate 1. By the catalytic action of Pd, the copper metal 5 is plated on the surface of the plating nucleus 4. In addition, electroless plating further continues, and a continuous copper metal is plated over the entire surface of the resin substrate 1.

도 7의 (E)는 전해 동도금 처리 공정(S6)에 대응하며, 수지 기재(1)의 표면 전체가 동금속(5)으로 무전해 도금된 후 전해 동도금이 행하여져서 금속막(6)이 형성된 상태를 나타내고 있다. 이것으로, 도 6에 나타낸 금속막 형성 처리 방법의 순서에 따라, 수지 기재(1)의 표면상으로의 도전체층으로 되는 금속막이 형성된다.7E corresponds to the electrolytic copper plating treatment step S6, wherein the entire surface of the resin substrate 1 is electroless plated with copper metal 5, followed by electrolytic copper plating to form a metal film 6. It shows the state. Thereby, according to the procedure of the metal film formation processing method shown in FIG. 6, the metal film used as a conductor layer on the surface of the resin base material 1 is formed.

그런데, 이 금속막 형성 처리 방법에서는 에칭 처리 공정을 생략했기 때문에, 수지 기재와 금속막의 밀착성이 약해져서 충분한 필 강도치가 얻어지지 않았다. 그래서, 이 금속막 형성 방법에 의해 수지 기재와 금속막의 밀착도를 올리기 위해서, 자외선을 수지 기재 표면에 조사하는 개량을 행했다. 그 자외선 조사를 행하는 금속막 형성 방법을 도 8에 나타냈다.By the way, since the etching process process was abbreviate | omitted in this metal film formation processing method, the adhesiveness of a resin base material and a metal film became weak, and sufficient peeling strength value was not obtained. Then, in order to raise the adhesiveness of a resin base material and a metal film by this metal film formation method, improvement which irradiated the ultraviolet-ray to the resin base material surface was performed. The metal film formation method which irradiates an ultraviolet-ray is shown in FIG.

도 8에 나타낸 금속막 형성 처리 방법은 도 6에 나타낸 방법의 각 처리 공정을 기본으로 하여, 동일한 처리 공정(S1~S6)을 구비하고 있다. 도 8의 금속막 형성 처리 방법에서는 컨디쇼닝 처리 공정(S1)이 행하여지기 전에, 자외선 처리 공정(S0)이 행하여진다.The metal film formation processing method shown in FIG. 8 is equipped with the same processing process (S1-S6) based on each processing process of the method shown in FIG. In the metal film formation processing method of FIG. 8, the ultraviolet treatment step S0 is performed before the conditioning treatment step S1 is performed.

자외선을 수지 기재의 표면에 조사함으로써, 예를 들어, 유전체 배리어 방전 엑시머램프에 의한 172nm의 단색광을 사용하면, 폴리이미드 수지 등의 표면이 활성화됨이 알려져 있다. 자외선의 파장은 긴 것이라도, 조사에 의한 활성화 효과가 나타나지만, 그 파장이 짧을수록, 그 활성화 효과가 큼이 실증되었다(예를 들어, 상기한 특개2002-57456호 공보 참조). 그러나, 이 자외선에 의한 조사 효과는 단시간 밖에 지속되지 않아, Pd 활성화 처리나 무전해 동도금 처리까지 계속되지 않았다. 그 때문에, 자외선 조사에 의한 활성화 효과가 있어도, 수지 기재와 금속막의 밀착도를 향상시킴까지는 이르지 않았다.By irradiating the surface of a resin base material with ultraviolet rays, when monochromatic light of 172 nm by a dielectric barrier discharge excimer lamp is used, it is known that the surface of polyimide resin etc. is activated. Although the wavelength of ultraviolet rays is long, the activating effect by irradiation appears, but the shorter the wavelength, the greater the activating effect has been demonstrated (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2002-57456). However, this ultraviolet irradiation effect lasted only a short time, and did not continue until Pd activation treatment or electroless copper plating treatment. Therefore, even if there is an activation effect by ultraviolet irradiation, it did not reach to improve the adhesiveness of a resin base material and a metal film.

도 8에 나타낸 금속막 형성 처리 방법에서는, 자외선 조사 처리 공정(S0)이 컨디쇼닝 처리 공정(S1)의 앞에서 단독으로 행하여짐에 대해, 수지 기재 표면으로의 자외선 조사를 그 표면의 컨디쇼닝 처리 또는 카탈라이징 처리와 동시에 행하는것이 시도되었다. 즉, 도 7의 (A)에 나타낸 컨디쇼닝 처리의 상태, 또는 도 7의 (B)에 나타낸 카탈라이징 처리의 상태에서, 수지 기재(1)의 상방으로부터, 컨디쇼닝 처리액(2) 또는 카탈라이징 처리액(3)을 통하여, 수지 기재(1)의 표면에 자외선을 조사했다.In the metal film forming treatment method shown in FIG. 8, the ultraviolet irradiation treatment step (S0) is performed alone in front of the conditioning treatment step (S1). Attempts have been made to run simultaneously with the catalysis process. That is, in the state of the conditioning process shown to FIG. 7A, or the state of the catalizing process shown to FIG. 7B, from the upper side of the resin base material 1, the conditioning process liquid 2 or a catalyst The ultraviolet-ray was irradiated to the surface of the resin base material 1 through the rising process liquid 3.

그러나, 수지 기재(1)의 상방으로부터, 컨디쇼닝 처리액(2) 또는 카탈라이징 처리액(3)을 통하여, 수지 기재(1)의 표면에 자외선을 조사하여, 수지 기재(1) 위에 동금속막(6)을 형성하여 보면, 형성된 동금속막(6)과 수지 기재(1)의 밀착도에 개선이 보이지 않았다.However, ultraviolet rays are irradiated to the surface of the resin substrate 1 through the conditioning treatment liquid 2 or the catalizing treatment liquid 3 from above the resin substrate 1, and the copper metal is placed on the resin substrate 1. When the film 6 was formed, no improvement was observed in the adhesion between the formed copper metal film 6 and the resin substrate 1.

그래서, 컨디쇼닝 처리액(2) 또는 카탈라이징 처리액(3)이 수지 기재(1)의 표면에서 얇게, 예를 들어, 10㎛정도의 두께가 되도록, 처리액 위에 커버 유리판을 놓고, 이 커버 유리판을 통하여 수지 기재(1)의 표면에, 172nm의 파장을 갖는 자외선을 조사한 후에, 수지 기재(1) 위에 동금속막(6)을 형성한 결과, 형성된 동금속막(6)과 수지 기재(1)의 밀착도가 큰폭으로 개선되어, 실용에 제공할 수 있는 충분한 크기의 필 강도치가 얻어졌다.Thus, the cover glass plate is placed on the treatment liquid so that the conditioning treatment liquid 2 or the catalyzing treatment liquid 3 is thin on the surface of the resin substrate 1, for example, about 10 μm. After irradiating the surface of the resin base material 1 with the ultraviolet-ray which has a wavelength of 172 nm through the glass plate, the copper metal film 6 and the resin base material formed as a result of forming the copper metal film 6 on the resin base material 1 ( The adhesion of 1) was greatly improved, and a peel strength value of sufficient size that could be provided for practical use was obtained.

이 밀착도의 개선 효과는 수지 표면에 자외선이 얇은 처리액을 통하여 조사되었을 때, 그 표면의 수지 분자가 활성화되어 반응성이 높아진 그 시점에서, 수지와 처리액이 공존함으로써, 처리액 중의 성분과 수지의 분자가 화학적으로 강하게 결합되어, 활성화가 촉진되어 지속함에 의한 것이다.The effect of improving the adhesion is that when the surface of the resin is irradiated with ultraviolet light through a thin treatment liquid, when the resin molecules on the surface are activated and the reactivity becomes high, the resin and the treatment liquid coexist so that the components of the treatment liquid and the resin This is because the molecule is chemically bound strongly and the activation is accelerated and continued.

그 때문에, 본 실시 형태에 의한 금속막 형성 처리 방법에서는, 수지 기재와 금속막의 밀착도를 향상시키기 위해서, 자외선 조사의 타이밍을, 수지 기재 표면에처리액이 존재할 때에 행하도록 하여, 자외선 조사에 의한 활성화가 높아져서, 이 활성화가 지속하고 있는 동안에 금속막이 형성되도록 연구하였다.Therefore, in the metal film formation processing method by this embodiment, in order to improve the adhesiveness of a resin base material and a metal film, the timing of an ultraviolet irradiation is made when a processing liquid exists on the surface of a resin base material, and activation by ultraviolet irradiation is carried out. Was increased so that the metal film was formed while this activation continued.

도 1에, 본 발명에 의한 금속막 형성 방법의 제1 실시 형태의 처리 공정에 대해서 나타냈다. 동일 도면의 제1 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법은 도 8에 나타낸 자외선 조사 처리 공정(S0)과 컨디쇼닝 처리 공정(S1)이 결합되어, 컨디쇼닝 처리액의 존재시에 자외선 조사를 행하는 경우를 나타내고 있다. 그 때문에, 제1 실시 형태의 금속막 형성 방법의 각 처리 공정은 도 8에 나타난 금속막 형성 처리 방법을 기본으로 하고 있어, 동일한 처리 공정에는 동일한 부호를 붙인다.In FIG. 1, it showed about the processing process of 1st Embodiment of the metal film formation method by this invention. In the metal film forming treatment method of the first embodiment of the same drawing, the ultraviolet irradiation treatment step S0 and the conditioning treatment step S1 shown in FIG. 8 are combined to perform ultraviolet irradiation in the presence of the conditioning treatment liquid. Indicates. Therefore, each treatment process of the metal film formation method of 1st Embodiment is based on the metal film formation treatment method shown in FIG. 8, and attaches the same code | symbol to the same process process.

따라서, 제1 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서는 도 8의 자외선 조사 처리 공정(S0)과 컨디쇼닝 처리 공정(S1)은 컨디쇼닝 및 자외선 조사처리공정(S11)으로 치환되어 있지만, 프리디핑 처리 공정(S2), 카탈라이징 처리 공정(S3), 액셀레이팅 처리 공정(S4), 무전해 동도금 처리 공정(S5), 그리고 전해 동도금 처리 공정(S6)의 각 공정은 변화가 없으며, 도 6의 금속막 형성 처리 방법에서의 각 공정의 처리와 같으므로, 여기에서는, 처리 공정(S2) 이후의 각 공정의 설명을 생략한다.Therefore, in the metal film forming treatment method of the first embodiment, the ultraviolet irradiation treatment step S0 and the conditioning treatment step S1 of FIG. 8 are replaced with the conditioning and ultraviolet irradiation treatment step S11, but the pre-diffusing treatment is performed. Each step of the step (S2), the catalizing step (S3), the accelerating step (S4), the electroless copper plating step (S5), and the electrolytic copper plating step (S6) is unchanged, and the metal of FIG. Since it is the same as the process of each process in a film formation processing method, description of each process after a process process (S2) is abbreviate | omitted here.

제1 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서 특징으로 하고 있는 컨디쇼닝 및 자외선 조사 처리 공정(S11)에 대해서, 도 2를 참조하여 설명한다. 도 2에서는 모식적으로, 또한 부분적으로 확대해 나타내고 있다. 예를 들어, 반도체 장치에서 적층 형성된 수지 절연층 상에 동금속막을 형성하는 경우를 나타내고 있다.The conditioning and ultraviolet irradiation processing step (S11) characterized by the metal film formation processing method of the first embodiment will be described with reference to FIG. 2. In FIG. 2, it expands typically and partially. For example, the case where a copper metal film is formed on the resin insulating layer laminated | stacked by the semiconductor device is shown.

수지 절연층으로 되어 있는 수지 기재(1)의 표면상에, 컨디쇼닝 처리액(2)의층을 형성한다. 이 층을 형성할 때에는 컨디쇼닝 처리액(2) 위에 커버 유리판(7)을 놓아, 컨디쇼닝 처리액(2)의 층의 두께가 10㎛정도로 한다. 커버 유리(7)는 컨디쇼닝 처리액(2)의 층을 수지 표면상에 균일하게 얇게 형성하기 위한 것이다.On the surface of the resin base material 1 which becomes a resin insulating layer, the layer of the conditioning process liquid 2 is formed. When forming this layer, the cover glass plate 7 is placed on the conditioning liquid 2, and the thickness of the conditioning liquid 2 is about 10 micrometers. The cover glass 7 is for forming the layer of the conditioning treatment liquid 2 uniformly and thinly on the resin surface.

커버 유리판(7)의 상방으로부터, 자외선이 수지 기재(1)의 표면을 향해 조사된다. 자외선에는 예를 들어, 유전체 배리어 방전 엑시머램프에 의한 172nm의 단색광이 사용된다. 이 자외선이 폴리이미드 수지 등의 표면에서, 컨디쇼닝 처리액(2)의 존재하에서 수지 표면에 조사되면, 그 표면의 활성화가 촉진되어 강화된다.Ultraviolet rays are irradiated toward the surface of the resin substrate 1 from above the cover glass plate 7. As ultraviolet light, for example, monochromatic light of 172 nm by a dielectric barrier discharge excimer lamp is used. When the ultraviolet rays are irradiated to the resin surface in the presence of the conditioning treatment liquid 2 on the surface of the polyimide resin or the like, activation of the surface is promoted and strengthened.

제1 실시 형태의 경우, 수지 표면의 활성화가 촉진되므로, 컨디쇼닝 처리로서의 처리 시간은 도 8의 금속막 형성 처리 방법에서의 컨디쇼닝 처리 공정(S1)의 처리 시간보다 짧아도 좋다. 또한, 여기서 컨디쇼닝 처리에 사용되는 처리액은, 특별 사양의 처리액을 준비할 필요가 없고, 통상적으로 컨디쇼닝 처리에 사용되는 처리액이 그대로 사용된다.In the case of the first embodiment, since activation of the surface of the resin is promoted, the treatment time as the conditioning treatment may be shorter than the treatment time of the conditioning treatment step S1 in the metal film formation treatment method of FIG. 8. In addition, the processing liquid used for the conditioning process here does not need to prepare the processing liquid of a special specification, and the processing liquid used for the conditioning process is normally used as it is.

도 2에 나타내는 컨디쇼닝·자외선 조사 처리 공정(S11)이 행하여진 후에는 도 1에 나타내는 바와 같이, 통상의 Pd 활성화 처리, 무전해 동도금 처리, 전해 동도금 처리가 순차 행하여져서, 동에 의한 금속막(6)이 수지 기재(1) 위에 형성된다.After the conditioning and ultraviolet irradiation treatment step (S11) shown in FIG. 2 is performed, as shown in FIG. 1, normal Pd activation process, electroless copper plating process, and electrolytic copper plating process are performed in order, and the metal film by copper (6) is formed on the resin base material 1.

다음에, 도 3에, 본 발명에 의한 금속막 형성 방법의 제2 실시 형태의 처리 공정에 대해서 나타냈다. 제1 실시 형태에서는 도 8에 나타낸 자외선 조사 처리 공정(S0)과 컨디쇼닝 처리 공정(S1)이 결합되어, 컨디쇼닝 처리액의 존재시에 자외선 조사를 행하는 경우였으나, 동일 도면의 제2 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법은 도 8에 나타낸 자외선 조사 처리 공정(S0)과 카탈라이징 처리 공정(S3)이 결합되어, 카탈라이징 처리액의 존재시에 자외선 조사가 행하여지도록 했다.Next, FIG. 3 showed the processing process of 2nd Embodiment of the metal film formation method by this invention. In the first embodiment, the ultraviolet irradiation treatment step S0 and the conditioning treatment step S1 shown in FIG. 8 are combined to perform ultraviolet irradiation in the presence of the conditioning treatment liquid. In the metal film forming treatment method, the ultraviolet irradiation treatment step (S0) and the catalizing treatment step (S3) shown in FIG. 8 were combined to allow ultraviolet irradiation to be performed in the presence of the catalyzing treatment liquid.

그 때문에, 제2 실시 형태의 금속막 형성 방법의 각 처리 공정은 도 8에 나타난 금속막 형성 처리 방법을 기본으로 하고 있으므로, 동일한 처리 공정에는 동일한 부호를 붙였다. 따라서, 제2 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서는 도 8의 자외선 조사 처리 공정(S0)과 카탈라이징 처리 공정(S3)에 대해서, 카탈라이징·자외선 조사 처리 공정(S31)으로 치환되어 있고, 컨디쇼닝 처리 공정(S1), 프리디핑 처리 공정(S2), 액셀레이팅 처리 공정(S4), 무전해 동도금 처리 공정(S5), 그리고 전해 동도금 처리 공정(S6)의 각 공정은 변화가 없고, 이들의 각 공정은 도 6의 금속막 형성 처리 방법에서의 각 공정의 처리와 같으므로, 여기에서는 처리 공정(S31) 이외의 각 공정의 설명을 생략한다.Therefore, since each processing process of the metal film formation method of 2nd Embodiment is based on the metal film formation processing method shown in FIG. 8, the same code | symbol is attached | subjected to the same process process. Therefore, in the metal film formation processing method of 2nd Embodiment, it replaces the ultraviolet irradiation process (S0) and the catalizing process (S3) of FIG. 8 by the catalizing and ultraviolet irradiation process (S31), and is conditioned The steps of the shoning treatment step (S1), the pre-dipping treatment step (S2), the acceleratoring treatment step (S4), the electroless copper plating treatment step (S5), and the electrolytic copper plating treatment step (S6) remain unchanged. Since each process is the same as the process of each process in the metal film formation treatment method of FIG. 6, description of each process other than a process process S31 is abbreviate | omitted here.

제2 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서 특징으로 하고 있는 카탈라이징·자외선 조사 처리 공정(S31)에 대해서, 도 4를 참조하여 설명한다. 도 4에서는 도 2의 경우와 마찬가지로, 모식적으로, 또한 부분적으로 확대하여 나타내고 있다. 예를 들어, 반도체 장치에서 적층 형성된 수지 절연층 상에 동금속막을 형성하는 경우를 나타내고 있다.The catalizing ultraviolet irradiation treatment step (S31) characterized by the metal film formation processing method of the second embodiment will be described with reference to FIG. 4. In FIG. 4, similarly to the case of FIG. 2, the diagram is schematically and partially enlarged. For example, the case where a copper metal film is formed on the resin insulating layer laminated | stacked by the semiconductor device is shown.

수지 절연층으로 되어 있는 수지 기재(1)의 표면상에, 카탈라이징 처리액(3)의 층을 형성한다. 이 층의 형성 방법은 도 2의 경우와 같고, 컨디쇼닝 처리액(2) 대신에 카탈라이징 처리액(3)을 사용했을 뿐이다. 카탈라이징 처리액(3) 위에 커버 유리판(7)을 놓고, 카탈라이징 처리액(3)의 층의 두께가 10㎛정도로 한다.On the surface of the resin base material 1 which becomes a resin insulating layer, the layer of the catalizing process liquid 3 is formed. The formation method of this layer was the same as that of FIG. 2, and only the catalizing process liquid 3 was used instead of the conditioning process liquid 2. As shown in FIG. The cover glass plate 7 is placed on the catalyzing liquid 3, and the thickness of the layer of the catalizing liquid 3 is about 10 mu m.

커버 유리판(7)의 상방으로부터, 자외선이 수지 기재(1)의 표면을 향해 조사된다. 자외선으로는, 예를 들어, 유전체 배리어 방전 엑시머램프에 의한 172nm의 단색광이 사용된다. 이 자외선이 폴리이미드 수지 등의 표면에서, 카탈라이징 처리액(3)의 존재하에서 수지 표면에 조사되면, 그 표면의 활성화가 촉진되어 강화된다.Ultraviolet rays are irradiated toward the surface of the resin substrate 1 from above the cover glass plate 7. As the ultraviolet ray, for example, monochromatic light of 172 nm by a dielectric barrier discharge excimer lamp is used. When this ultraviolet ray is irradiated to the resin surface in the presence of the catalizing treatment liquid 3 on the surface of the polyimide resin or the like, activation of the surface is promoted and strengthened.

제2 실시 형태의 경우, 수지 표면의 활성화가 촉진되므로, 카탈라이징 처리로서의 처리 시간은 도 8의 금속막 형성 처리 방법에서의 카탈라이징 처리 공정(S3)의 처리시간보다 짧아도 좋다. 또한, 여기에서도, 카탈라이징 처리에 사용되는 처리액으로는 특별 사양의 처리액을 준비할 필요가 없고, 통상적으로 사용되고 있는 카탈라이징 처리액이 그대로 사용된다.In the case of the second embodiment, since activation of the surface of the resin is promoted, the processing time as the catalizing treatment may be shorter than the processing time of the catalizing treatment step (S3) in the metal film forming treatment method of FIG. 8. In addition, here, it is not necessary to prepare the process liquid of a special specification as a process liquid used for a catalizing process, and the catalizing process liquid currently used is used as it is.

도 4에 나타내는 카탈라이징 및 자외선 조사 처리 공정(S31)이 행하여진 후에는 도 3에 나타내는 바와 같이, 통상의 Pd 흡착 처리, 무전해 동도금 처리, 전해 동도금 처리가 순차 행하여져서, 동에 의한 금속막(6)이 수지 기재(1) 위에 형성된다.After the catalizing and ultraviolet irradiation treatment step (S31) shown in FIG. 4 is performed, as shown in FIG. 3, normal Pd adsorption treatment, electroless copper plating process, and electrolytic copper plating process are performed sequentially, and the metal film by copper (6) is formed on the resin base material 1.

이상에서 설명한 제1 및 제2 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서는, 컨디쇼닝 처리액 또는 카탈라이징 처리액의 어느 하나의 처리액의 존재하에서, 수지 표면에 자외선이 조사되는 것이었지만, 도 6에 나타내는 금속막 형성 처리 방법에서의 컨디쇼닝 처리 공정(S1), 카탈라이징 처리 공정(S3)의 양쪽에 대해서, 각 처리액의 존재하에, 수지 표면에 자외선을 조사해도, 수지 표면의 활성화를 보다 일층 강화할 수 있다.In the metal film formation processing methods of the first and second embodiments described above, ultraviolet rays are irradiated to the surface of the resin in the presence of either the processing liquid of the conditioning treatment liquid or the catalizing treatment liquid. In both the conditioning treatment process (S1) and the catalizing treatment process (S3) in the metal film forming treatment method shown, even if the resin surface is irradiated with ultraviolet rays, the activation of the resin surface is further layered. I can strengthen it.

도 6에 나타난 금속막 형성 처리 방법에서의 처리 공정의 각각에 대해서, 자외선 조사를 실시한 제3 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법의 처리 순서를, 도 5에 나타냈다. 도 5에 나타난 제3 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법은 컨디쇼닝 처리 공정(S1)이 제1 실시 형태의 컨디쇼닝 및 자외선 조사 처리 공정(S11)으로, 그리고, 카탈라이징 처리 공정(S3)이 제2 실시 형태의 카탈라이징 및 자외선 조사 처리 공정(S31)으로 치환되어 있다.The processing procedure of the metal film formation processing method of 3rd Embodiment which performed ultraviolet irradiation about each of the processing processes in the metal film formation processing method shown in FIG. 6 was shown in FIG. In the metal film forming treatment method of the third embodiment shown in FIG. 5, the conditioning treatment step (S1) is the conditioning and ultraviolet irradiation treatment step (S11) of the first embodiment, and the catalizing treatment step (S3) is performed. It is substituted by the catalizing and ultraviolet irradiation process process S31 of 2nd Embodiment.

또한 제3 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서는, 도 6의 금속막 형성 처리 방법에서의 무전해 동도금 처리 공정(S5)에서도, 자외선 조사를 행하고 있다. 이 무전해 동도금 처리 공정에서는 무전해 동도금 처리 자체를 2단계로 분할하여, 무전해 동도금 처리 공정(S51)과 (S54)로 나누어, 무전해 동도금 처리의 도중에서도 자외선 조사를 실시하고 있다.Moreover, in the metal film formation processing method of 3rd Embodiment, ultraviolet irradiation is also performed also in the electroless copper plating process S5 in the metal film formation processing method of FIG. In this electroless copper plating process, the electroless copper plating process itself is divided into two stages, divided into an electroless copper plating process (S51) and (S54), and ultraviolet irradiation is performed even during the electroless copper plating process.

이 처리 공정(S51)에 의한 도금 처리 후에, 자외선 조사 처리 공정(S52)에 의해, 수지 기재의 표면에 대한 자외선 조사가, 수지 기재 표면이 노출하는 부분과, 무전해 동도금에 의한 동금속막이 혼재할 때에 행하여진다. 이 자외선 조사에 의해서, 수지 표면과, 무전해 도금에 의해서 석출하는 동금속의 밀착도가 향상된다.After the plating process by this processing process (S51), the ultraviolet irradiation to the surface of a resin base material exposes the part which the surface of a resin base material exposes by the ultraviolet irradiation process process (S52), and the copper metal film by electroless copper plating is mixed. It is done when By this ultraviolet irradiation, the adhesiveness of the resin surface and the copper metal which precipitates by electroless plating improves.

또한, 무전해 동도금 처리 공정의 도중에서, 수지 표면에 자외선 조사를 실시하는 경우에도, 커버 유리판을 수지 표면에 놓은 후, 그 커버 유리판을 통하여, 수지 표면에 자외선 조사를 행하면, 동금속막의 밀착도를 일층 향상시킬 수 있다.In addition, even when ultraviolet-ray irradiation is performed on the resin surface in the middle of an electroless copper plating process, when the cover glass plate is placed on the resin surface and the ultraviolet-ray is irradiated to the resin surface through the cover glass plate, the adhesion degree of the copper metal film is improved. I can improve it further.

자외선 조사 처리 공정(S52)이 종료된 후에는 석출하고 있는 동금속의 표면을 청정화하는 산처리 공정(S53)을 거치고, 나머지의 무전해 동도금 처리가 무전해 동도금 처리 공정(S54)에서 행하여진다. 계속해서, 통상의 전해 동도금 처리 공정(S6)이 행하여져서, 석출한 동금속 위에 동금속막이 형성된다. 또한, 처리 공정(S51)에서 형성된 동금속막이 전해 동도금 처리에서의 급전층으로 될 수 있는 막두께인 경우에는 처리 공정(S54)의 무전해 동도금 처리를 생략할 수 있다.After the ultraviolet irradiation treatment step S52 is completed, the acid treatment step S53 is performed to clean the surface of the deposited copper metal, and the remaining electroless copper plating treatment is performed in the electroless copper plating treatment step S54. Then, normal electrolytic copper plating process S6 is performed, and a copper metal film is formed on the deposited copper metal. In the case where the copper metal film formed in the processing step S51 is a film thickness capable of becoming a feed layer in the electrolytic copper plating process, the electroless copper plating process in the processing step S54 can be omitted.

이상에 의해, 수지 표면상에서의 처리액의 존재하에서, 그 표면에 자외선 조사를 실시함으로써, 자외선 조사 효과에 의한 수지 표면이 활성화하여 반응성이 높아졌을 그 때에, 처리액 중의 성분과 수지 표면의 분자가 화학적으로 강하게 결합되어, 무전해 동도금의 동금속이 그 수지 표면에 강하게 부착되게 된다.By the above, by irradiating the surface with ultraviolet-ray in the presence of the processing liquid on the resin surface, when the resin surface by the ultraviolet irradiation effect was activated and the reactivity became high, the component in a processing liquid and the molecule | numerator of the resin surface became By chemically strong bonding, the copper metal of the electroless copper plating is strongly adhered to the resin surface.

그 때문에, 제1 내지 제3 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에 의하면, 수지 기재 표면상에 형성된 금속막과 수지 기재의 밀착도는 처리액 존재하, 자외선 조사 효과에 의한 수지 표면의 활성화의 강화에 의해 향상되었다. 또한, 자외선 조사의 타이밍을 연구하는 것만으로, 종래의 수지 기재 표면에 금속막을 형성하는 방법에서 행하여지는 각 처리 공정에서의 각종의 처리액을 그대로 사용할 수 있어, 특별한 처리를 준비할 필요가 없다.Therefore, according to the metal film formation processing methods of 1st-3rd embodiment, the adhesiveness of the metal film formed on the resin base material surface and the resin base material is in the presence of a process liquid, and is used for strengthening activation of the resin surface by an ultraviolet irradiation effect. Was improved. Moreover, only by studying the timing of ultraviolet irradiation, various process liquids in each process process performed by the method of forming a metal film on the surface of the conventional resin base material can be used as it is, and there is no need to prepare a special process.

또한, 지금까지 설명한 제1 내지 제3 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서는 도금핵 생성 처리 공정, 무전해 도금 처리 공정 및 전해 도금 처리 공정을 거쳐서, 수지 기재 표면에 금속막을 형성하고 있었지만, 수지 기재 표면상에 형성된 금속막과 수지 기재의 밀착도가 처리액 존재하, 자외선 조사 효과에 의한 수지 표면의 활성화의 강화에 따라 향상되는 것이다. 그래서, 금속막 형성의 일부인 전해 도금 처리 공정을 행하지 않고, 무전해 도금 처리 공정만으로, 수지 기판상에 금속막을 형성하는 경우라도, 각 처리액의 존재하에서, 자외선을 조사할 수 있어, 그 밀착도가 조사 효과에 의해서 향상되는 것이므로, 무전해 도금 처리 공정만으로 금속막을 형성하는 경우에도, 본 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법을 적용할 수 있다.In addition, in the metal film formation processing methods of the first to the third embodiments described so far, the metal film is formed on the surface of the resin substrate through the plating nucleation treatment process, the electroless plating treatment process, and the electrolytic plating treatment process. The degree of adhesion between the metal film formed on the surface and the resin substrate is improved in accordance with the strengthening of activation of the resin surface due to the ultraviolet irradiation effect in the presence of the treatment liquid. Therefore, even when the metal film is formed on the resin substrate only by the electroless plating process without performing the electrolytic plating process that is part of the metal film formation, ultraviolet rays can be irradiated in the presence of the respective treatment liquids, and the adhesion degree is Since it improves by irradiation effect, even when forming a metal film only by an electroless-plating process, the metal film formation processing method of this embodiment can be applied.

또한 수지 기재에 대해서, 주로 폴리이미드 수지를 예로 하였지만, 본 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법은 폴리이미드 수지에 한정되지 않고, 에폭시 수지, 폴리테트라플루오로에틸렌 등의 불소계 수지, 아크릴로니트릴·부타디엔·스티렌 수지, 폴리카보네이트 수지 등에도 적용 가능하다. 자외선 조사에 의해서 수지 표면이 개질되어 활성화되는 것이면, 특별히 그 재질에 대해서 한정되지 않으며, 금속막의 밀착도를 향상시키는 효과를 발휘한다. 이들 수지 기재상에 금속막을 형성하는 경우에는, 조사하는 자외선의 파장은 그 재질에 따라 최적인 것이 선택되는 것은 당연한 일이다.Moreover, although the polyimide resin was mainly mentioned about the resin base material, the metal film formation treatment method of this embodiment is not limited to polyimide resin, Fluorine-type resins, such as an epoxy resin and polytetrafluoroethylene, acrylonitrile butadiene Applicable to styrene resin, polycarbonate resin and the like. If the resin surface is modified and activated by ultraviolet irradiation, it will not specifically limit about the material, It has the effect of improving the adhesiveness of a metal film. When forming a metal film on these resin substrates, it is natural that the wavelength of the ultraviolet-ray to irradiate is selected optimally according to the material.

또한, 본 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법은 반도체 장치에서 적층된 수지 절연층 위에, 동금속막을 형성하는 경우를 예로 하여 설명하였지만, 적용 대상에 대해서는 반도체 장치에 한정되지 않고, 수지를 기재로 하는 기판, 혹은 플렉시블 시트에 의한 회로 배선 장치, 빌드업 배선 기판을 사용한 반도체 패키지에서의 금속막 형성에도 적용된다.In addition, although the metal film formation processing method of this embodiment demonstrated the case where a copper metal film is formed on the resin insulating layer laminated | stacked in the semiconductor device as an example, it is not limited to a semiconductor device about an application object, It is based on resin The present invention is also applied to the formation of a metal film in a semiconductor package using a circuit wiring apparatus or a build-up wiring substrate using a substrate or a flexible sheet.

또한 수지 기재의 표면에 형성된 금속막에, 예를 들어, 내식성이 요구되는경우와 같이, 전해 도금의 금속으로서, 동 대신에, 니켈, 크롬 등의 다른 금속을 사용할 수 있다.In addition, other metals such as nickel and chromium may be used for the metal film formed on the surface of the resin substrate, for example, instead of copper as the metal for electroplating, as in the case where corrosion resistance is required.

이하에, 본 실시 형태에 의한 금속 형성 처리 방법의 구체적인 예에 대해서 설명한다. 이 설명에서는 반도체 장치에서 적층된 폴리이미드 수지에 의한 수지 절연층 상에 동금속막을 형성하는 경우를 나타내고 있다. 그리고, 실시예를 설명하기 앞서, 본 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에 의해 수반되는 효과를 나타내기 위해서, 참고로서의 비교예를 나타냈다.Below, the specific example of the metal formation processing method by this embodiment is demonstrated. In this description, a case of forming a copper metal film on a resin insulating layer made of a polyimide resin laminated in a semiconductor device is shown. And before demonstrating an Example, the comparative example as a reference was shown in order to show the effect accompanying the metal film formation processing method of this embodiment.

[비교예 l][Comparative Example l]

비교예 1에 의한 금속막의 형성은 도 6에 나타낸 금속막 형성 처리 방법의 각 처리 공정에 따라 행하여졌다.Formation of the metal film by the comparative example 1 was performed according to each processing process of the metal film formation processing method shown in FIG.

컨디쇼닝 처리 공정(S1)에서, 계면 활성제를 함유하는 아토테크 사제의 상품명 컨디셔나네오팩트 U의 컨디쇼닝 처리액(처리액 1L중에 원액 30mL를 함유)을 사용하여, 45℃에서 5분간, 폴리이미드 수지의 표면을 청정화했다. 다음 프리디핑 처리 공정(S2)에서, 염화나트륨(NaCl)과 황산수소나트륨(NaHSO4)을 함유하는 시프레이 사제의 상품명 카타프렙 404의 프리디핑 처리액(처리액 1L중에 원액 200mL를 함유)를 사용하여, 처리시간 1분으로, 폴리이미드 수지 표면에서의 도금핵 흡착을 위한 처리를 행했다.In the conditioning treatment step (S1), the polyether was treated at 45 ° C for 5 minutes using a conditioning treatment liquid (containing 30 mL of the stock solution in 1 L of the treatment liquid) manufactured by Atotech Co., Ltd. The surface of the mid resin was cleaned. In the next pre-dipping treatment step (S2), a pre-dipping treatment solution (containing 200 mL of the stock solution in 1 L of the treatment solution) of the brand name cataprep 404 manufactured by Shiprey Co., Ltd. containing sodium chloride (NaCl) and sodium hydrogen sulfate (NaHSO 4 ). In addition, the treatment for plating nuclei adsorption on the surface of the polyimide resin was performed in one minute of treatment time.

그 다음에, 카탈라이징 처리 공정(S3)에서, 카탈리스트로서, 상기한 시프레이 사제의 상품명 카타프렙 404 (처리액 1L중에 원액 250mL를 함유)와,염화팔라듐(PdCl) 및 염화제1주석(SnCl2)을 함유하는 동일 사제의 상품명 카타포지트 44 (처리액 1L중에 원액 33mL를 함유)의 혼합 처리액을 사용하여, 45℃에서 5분간의 카탈라이징 처리를 행하여, Pd와 Sn의 착염을 흡착시켰다. 그 후에, 액셀레이팅 처리 공정(S4)에서, 붕불화수소산(HBF4)을 함유하는 시프레이 사제의 상품명 액셀레이터 19E (처리액 1L중에 원액 40mL를 포함함)에 의해, 처리 시간 8분의 액셀레이팅 처리를 행하여, 폴리이미드 수지 표면에 도금핵으로서 Pd를 석출시켰다.Subsequently, in the catalizing treatment step (S3), as catalyst, the above-mentioned cataprep 404 manufactured by Shiprey Co., Ltd. (containing 250 mL of the stock solution in 1 L of the treating solution), palladium chloride (PdCl) and stannous chloride (SnCl). 2 ) Catalizing treatment was carried out at 45 ° C. for 5 minutes using a mixed treatment solution of trade name cataposit 44 (containing 33 mL of the stock solution in 1 L of the treatment solution) containing the same product to adsorb the complex salt of Pd and Sn. I was. Thereafter, in the accelerator treatment step (S4), an accelerator treatment for 8 minutes of treatment time was performed by Shipley's trade name accelerator 19E (containing 40 mL of the stock solution in 1 L of the treatment solution) containing hydrofluoric acid (HBF 4 ). Pd was deposited as a plating nucleus on the surface of the polyimide resin.

또한, 무전해 동도금 처리 공정(S5)에서, Pd를 촉매로 하여, 통상적으로 사용되고 있는 시프레이 사제의 상품명 큐포지트 328으로, 처리 시간 8분의 무전해 동도금을 행하여, 0.1㎛두께의 동금속을 석출시켰다. 여기서, 큐포지트 328은 황산동(CuSO4·5H2O)를 함유하는 큐포지트 328A (처리액 1L중, 120mL)와, 로셀염(C4H4O6K·Na) 및 수산화나트륨(NaOH)을 함유하는 큐포지트 328L(처리액 1L중, 100mL)와, 포름알데히드(HCHO)를 함유하는 큐포지트 328C (처리액 1L중, 15mL)로 되어 있다.In the electroless copper plating treatment step (S5), electroless copper plating was carried out for 8 minutes by electrolytic copper plating under the trade name Cupposit 328 manufactured by Shiprey Co., Ltd., using Pd as a catalyst. Precipitated. Here, the cupposit 328 is cupposit 328A containing copper sulfate (CuSO 4 · 5H 2 O) (120 mL in 1 L of the treatment solution), rossel salt (C 4 H 4 O 6 K · Na), and sodium hydroxide ( It consists of 328L of cupposite (100 mL in 1 L of treatment liquid) containing NaOH) and cupposit 328C (15 mL of 1 L of treatment liquid) containing formaldehyde (HCHO).

계속해서, 전해 동도금 처리 공정(S6)에서, 통상적으로 사용되고 있는 매루텍스 사제의 상품명 카파그림 125를 사용하여, 통전량 2A/dm2에 의한 40분의 전해 동도금을 행하여, l8㎛의 동금속막이 형성되었다.Subsequently, in the electrolytic copper plating treatment step (S6), 40 minutes of electrolytic copper plating was carried out using an electric current of 2 A / dm 2 , using a trade name KappaPix 125 manufactured by Maltex Co., Ltd. Formed.

이상과 같이 하여, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막이 형성되었다. 또한, 폴리이미드 수지와 금속막의 밀착도를 측정한 결과,필 강도(peel strength) 100gf/cm 정도가 얻어졌다.As mentioned above, the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin. In addition, as a result of measuring the adhesion between the polyimide resin and the metal film, a peel strength of about 100 gf / cm was obtained.

[비교예 2]Comparative Example 2

비교예 2에 관한 금속막의 형성은 도 8에 나타낸 금속막 형성 처리 방법의 각 처리 공정에 따라 행하여졌다. 도 8의 금속막 형성 처리 방법은 도 6의 금속막 형성 처리 방법에서의 각 처리 공정의 실시 전에, 자외선 조사 처리 공정(S0)이 부가되어 있을 뿐이다.Formation of the metal film concerning the comparative example 2 was performed according to each processing process of the metal film formation processing method shown in FIG. In the metal film forming treatment method of FIG. 8, the ultraviolet irradiation treatment step S0 is added before the execution of each treatment step in the metal film forming treatment method of FIG. 6.

그 때문에, 도 8에 나타낸 처리 공정(S1) 내지 (S6)는 비교예 1에서 나타낸 처리 공정(S1) 내지 (S6)에서의 각 처리와 완전히 동일하므로, 여기서의 설명을 생략하지만, 자외선 조사 처리 공정(S0)에서는 폴리이미드 수지의 표면에, 172nm의 파장을 갖는 자외선을 조도 13.44mW/cm2로 120초간 조사했다. 이 자외선 조사된 수지 기재에 대해서, 각 처리 공정 (S1) 내지 (S6)에서의 처리가 순차 실시되었다.Therefore, the treatment steps (S1) to (S6) shown in FIG. 8 are completely the same as the treatments in the treatment steps (S1) to (S6) shown in Comparative Example 1, and thus the description thereof is omitted, but the ultraviolet irradiation treatment In the step (S0), ultraviolet rays having a wavelength of 172 nm were irradiated on the surface of the polyimide resin at an illuminance of 13.44 mW / cm 2 for 120 seconds. About this ultraviolet-ray irradiated resin base material, the process in each processing process (S1)-(S6) was performed sequentially.

이상과 같이 하여, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막이 형성되었다. 또한, 폴리이미드 수지와 금속막의 밀착도를 측정한 결과, 필 강도 122gf/cm정도가 얻어졌다.As mentioned above, the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin. Moreover, as a result of measuring the adhesiveness of a polyimide resin and a metal film, the peeling strength about 122 gf / cm was obtained.

[실시예 1]Example 1

실시예 1은 도 1에 나타낸 금속막 형성 처리 방법에 따라서, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막을 형성한 경우이다. 도 1의 금속막 형성 처리 방법은 도 6의 금속막 형성 방법을 기본으로 하여, 컨디쇼닝 처리 공정(S1)을, 컨디쇼닝 및 자외선 조사 처리 공정(S11)으로 치환한 것이다. 그 때문에, 폴리이미드 수지 기재의 표면에 동금속막을 형성하는 처리 공정은 비교예 1에서의 처리 공정을 기본으로 하여 실시되었다.Example 1 is a case where the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin according to the metal film formation processing method shown in FIG. The metal film formation processing method of FIG. 1 replaces the conditioning process S1 with the conditioning and ultraviolet irradiation process S11 based on the metal film formation method of FIG. Therefore, the processing process of forming a copper metal film on the surface of a polyimide resin base material was performed based on the processing process in the comparative example 1.

비교예 1에서는 컨디쇼닝 처리 공정(S1)에서, 계면 활성제를 함유하는 아토테크 사제의 상품명 컨디셔나네오팩트 U의 컨디쇼닝 처리액(처리액 1L중에 원액 30mL를 함유)을 사용하여, 45℃에서 5분간, 폴리이미드 수지의 표면을 청정화하였지만, 실시예 l에서는 도 2에 나타내는 바와 같이, 동일한 아토테크 사제의 상품명 컨디셔나네오팩트 U의 컨디쇼닝 처리액(2)을, 커버 유리판(7)과 수지(1) 사이에 두께 10㎛의 층으로 개재시키고, 172nm의 파장을 갖는 자외선을 조도 13.44mW/cm2로 상방으로부터 조사하면서, 120초간의 처리를 행했다.In Comparative Example 1, at a temperature of 45 ° C. in a conditioning treatment step (S1), a conditioning treatment solution (containing 30 mL of the stock solution in 1 L of the treatment solution) manufactured by Atotech Co., Ltd. Although the surface of the polyimide resin was cleaned for 5 minutes, in Example 1, as shown in FIG. 2, the conditioning treatment liquid 2 of the brand name Conditioner Neo Pact U made from the same Atotech Co., Ltd. was covered with the cover glass plate 7. The treatment was performed for 120 seconds while interposing a resin having a thickness of 10 µm between the resins 1 and irradiating an ultraviolet ray having a wavelength of 172 nm from the upper side with an illuminance of 13.44 mW / cm 2 .

처리 공정(S11)에 의한 수지 표면의 활성화 처리가 종료된 후에는 비교예 1의 금속막 형성 처리 방법에 의한 각 처리 공정이 행하여졌다.After the activation process of the resin surface by processing process (S11) was complete | finished, each processing process by the metal film formation processing method of the comparative example 1 was performed.

이상과 같이 하여, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막이 형성되었다. 그리고, 폴리이미드 수지와 금속막의 밀착도를 측정한 결과, 실용에 제공가능한 570gf/cm이상의 필 강도치가 얻어졌다.As mentioned above, the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin. And as a result of measuring the adhesiveness of a polyimide resin and a metal film, the peel strength value of 570 gf / cm or more which can be provided practically was obtained.

[실시예 2]Example 2

실시예 2는 도 3에서 나타낸 금속막 형성 처리 방법에 따라서, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막을 형성한 경우이다. 도 3의 금속막 형성 처리 방법은 도 6의 금속막 형성 방법을 기본으로 하지만, 카탈라이징 처리 공정(S3)을, 카탈라이징 및 자외선 조사 처리 공정(S31)로 치환한 것이다.그 때문에, 실시예 2에서의 폴리이미드 수지 기재의 표면에 동금속막을 형성하는 처리 공정은 비교예 1에서의 처리 공정을 기본으로 하여, 동일하게 실시되었다Example 2 is a case where the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin according to the metal film formation processing method shown in FIG. Although the metal film formation processing method of FIG. 3 is based on the metal film formation method of FIG. 6, the catalizing process S3 is substituted by the catalizing and ultraviolet irradiation process S31. Therefore, an Example The treatment process of forming a copper metal film on the surface of the polyimide resin base material in 2 was performed similarly based on the treatment process in Comparative Example 1.

비교예 1에서는 카탈라이징 처리 공정(S3)에서, 카탈리스트로서, 상기한 시프레이 사제의 상품명 카타프렙 404 (처리액 1L중에 원액 250mL를 함유)과, 염화팔라듐(PdCl2) 및 염화제1주석(SnCl2)을 함유하는 동일 사제의 상품명 카타포지트 44 (처리액 1L중에 원액 33mL를 함유)의 혼합 처리액을 사용하여, 45℃에서 5분간의 카탈라이징 처리를 행하여, Pd와 Sn의 착염을 흡착시켰지만, 실시예 2에서는 카탈리스트로는 동일한 시프레이 사제의 상품명 카타프렙 404와 상품명 카타포지트 44의 혼합액을 사용하고, 이 카탈리스트를, 도 4에 나타내는 바와 같이, 커버 유리판(7)과 수지(1) 사이에, 두께 10㎛의 층으로 개재시키고, 172nm의 파장을 갖는 자외선을, 조도 13.44mW/cm2로 상방으로부터 조사하면서 120 초간 처리를 행했다.In Comparative Example 1, in the catalizing treatment step (S3), the cataprep 404 (prepared with 250 mL of the stock solution in 1 L of the treating solution), palladium chloride (PdCl 2 ), and stannous chloride (manufactured by Shipley) were used as the catalyst. Catalizing treatment was carried out at 45 ° C. for 5 minutes using a mixed treatment solution of cataposit 44 (containing 33 mL of the stock solution in 1 L of the treatment solution) manufactured by the same company containing SnCl 2 ) to form a complex salt of Pd and Sn. Although adsorbed, in Example 2, the mixed liquid of the same brand name cataprep 404 and the brand name cataposit 44 made by Shipley Co. is used as the catalyst, and this catalyst is shown in FIG. 4, and the cover glass plate 7 and the resin ( 1), it interposed in the layer of thickness 10micrometer, and the process was performed for 120 second, irradiating the ultraviolet-ray which has a wavelength of 172nm from upper direction with illuminance 13.44mW / cm <2> .

이상과 같이 하여, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막이 형성되었다. 그리고, 폴리이미드 수지와 금속막의 밀착도를 측정한 결과, 실용에 제공가능한 700gf/cm이상의 필 강도치가 얻어졌다.As mentioned above, the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin. And as a result of measuring the adhesiveness of a polyimide resin and a metal film, the peel strength value of 700 gf / cm or more which can be provided practically was obtained.

[실시예 3]Example 3

실시예 3은 도 5에 나타난 제3 실시 형태에 의한 금속막 형성 처리 방법에 따라서, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막을 형성한 경우이다. 도 5의 금속막 형성 처리 방법은 도 6의 금속막 형성 방법을 기본으로하지만, 제1 및 제2 실시 형태를 조합한 것으로, 컨디쇼닝 처리 공정(S1)을 컨디쇼닝 및 자외선 조사 처리 공정(S11)으로 치환하고, 카탈라이징 처리 공정(S3)을 카탈라이징 및 자외선 조사 처리 공정(S31)으로 치환되어 있다.Example 3 is a case where the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin according to the metal film formation processing method by 3rd Embodiment shown in FIG. Although the metal film formation processing method of FIG. 5 is based on the metal film formation method of FIG. 6, it combines the 1st and 2nd embodiment, and the conditioning and ultraviolet irradiation process process (S11) is carried out in the conditioning process process (S1). ), And the catalizing treatment step (S3) is replaced by the catalizing and ultraviolet irradiation treatment step (S31).

그 때문에, 컨디쇼닝 및 자외선 조사 처리 공정(S11)에서는 상기한 아토테크 사제의 상품명 컨디쇼나네오팩트 U의 컨디쇼닝 처리액(2)을 커버 유리판(7)과 수지(1) 사이에 두께 10㎛의 층으로 개재시키고, 172nm의 파장을 갖는 자외선을 조도 13.44mW/cm2로 상방으로부터 조사하면서 120초간의 처리를 행하고, 카탈라이징 및 자외선 조사 처리 공정(S31)에서는 카탈리스트로는 상기한 시프레이 사제의 상품명 카타프렙 404와 상품명 카타포지트 44를 사용하여, 커버 유리판(7)과 수지(1) 사이에 두께 10㎛의 층으로 개재시키고, 172nm의 파장을 갖는 자외선을 역시 조도 13.44mW/cm2로 상방으로부터 조사하면서 120초간 처리를 행했다.Therefore, in the conditioning and ultraviolet irradiation processing process (S11), the conditioning treatment liquid 2 of the above-mentioned Atotech Co., Ltd. brand name Conditiona NeoPact U is 10 micrometers in thickness between the cover glass plate 7 and resin 1 120 seconds of irradiation with ultraviolet rays having a wavelength of 172 nm, and irradiated from above with an illuminance of 13.44 mW / cm 2, and in the catalizing and ultraviolet irradiation treatment step (S31), the catalyst was prepared by Name ka tarp rep 404 and trade name Kata opposite to bit 44 using a cover glass plate (7) and the resin (1) with the interposed layer having a thickness 10㎛, ultraviolet light having a wavelength of 172nm is also roughness 13.44mW / cm 2 between the The treatment was performed for 120 seconds while irradiating from above.

또한 제3 실시 형태의 금속막 형성 처리 방법에서는 무전해 동도금 처리의 도중에도, 수지 표면에 대한 자외선 조사를 행하고 있다. 비교예 1에서는 무전해 동도금 처리는 상기한 시프레이 사제의 상품명 큐포지트 328을 사용하여 8분간의 도금 처리가 행하여졌지만, 무전해 동도금 처리를, 2단계로 나누어 행하도록 하여, 수지 기재의 표면에 대한 자외선 조사가 수지 기재 표면이 노출하는 부분과, 무전해 동도금에 의한 동금속막이 혼재하는 무전해 도금 처리의 도중에서 행하도록 했다. 이것에 의해, 수지 기재와 무전해 동도금에 의한 동금속과의 밀착도를 향상시킬 수 있었다.Moreover, in the metal film formation processing method of 3rd Embodiment, the ultraviolet-ray irradiation to the resin surface is performed also in the middle of an electroless copper plating process. In Comparative Example 1, the electroless copper plating treatment was performed for 8 minutes using the above-mentioned brand name Cuposite 328 manufactured by Shipley, but the electroless copper plating treatment was carried out in two stages. Ultraviolet irradiation was performed in the middle of the electroless plating process in which the portion exposed by the surface of the resin substrate and the copper metal film by electroless copper plating were mixed. Thereby, the adhesiveness of the resin base material and the copper metal by electroless copper plating was able to be improved.

무전해 동도금 처리 공정(S51)에서, Pd를 촉매로 하여, 상기한 시프레이 사제의 상품명 큐포지트 328에 의한 무전해 동도금 처리액에 침지하여, 처리 시간 2분의 무전해 동도금을 행했다. 이 시점에서, 도금된 동금속은 수지 표면상의 막두께로 환산하여 0.025㎛의 두께이었다. 그리고, 해당 피처리물을 이 무전해 동도금 처리액으로부터 빼내서, 자외선 처리 공정(S52)에서, 172nm의 파장을 갖는 자외선을 조도 13. 44mW/cm2로 해당 피처리물의 표면에 대해서 120초간 조사했다.In electroless copper plating process (S51), using Pd as a catalyst, it was immersed in the electroless copper plating process liquid by the above brand name cupid 328 by Shipley, and electroless copper plating was performed for 2 minutes of processing time. At this point, the plated copper metal was 0.025 µm thick in terms of the film thickness on the resin surface. And the to-be-processed object was removed from this electroless copper plating process liquid, and the ultraviolet-ray which has a wavelength of 172nm was irradiated to the surface of the said to-be-processed object for 120 second at roughness 13.44mW / cm <2> in an ultraviolet-ray processing process (S52). .

그 후, 산처리 공정(S53)에서, 10% 황산에 의한 처리액을 사용하여 10 초간의 산처리를 행하여, Pd의 도금핵을 촉매로 하여 부착한 동금속의 표면을 청정화했다. 또한 무전해 동도금 처리 공정(S54)에서, 추가의 무전해 동도금을 행하기 위해서, 자외선 조사된 피처리물을 상기한 무전해 동도금 처리액에 재차 침지하여 6분간의 무전해 동도금 처리를 실시하여, 0.075㎛의 동금속막을 얻었다.Thereafter, in an acid treatment step (S53), an acid treatment was performed for 10 seconds using a treatment solution with 10% sulfuric acid to clean the surface of the copper metal attached with the plating nuclei of Pd as a catalyst. In addition, in order to perform further electroless copper plating in the electroless copper plating treatment step (S54), the treated object irradiated with ultraviolet rays is again immersed in the electroless copper plating treatment liquid described above and subjected to electroless copper plating treatment for 6 minutes, A copper metal film of 0.075 탆 was obtained.

또한, 계속해서, 비교예 1의 경우와 마찬가지로, 전해 동도금 처리 공정(S6)에서, 상기한 매루텍스 사제의 상품명 카파글림 125를 사용하여, 통전량 2A/dm2로 40분간 전해 동도금을 행하여 18㎛의 동금속막을 형성했다.In addition, similarly to the case of Comparative Example 1, in the electrolytic copper plating treatment step (S6), electrolytic copper plating was performed for 40 minutes at an electric current of 2 A / dm 2 using the tradename Kappaglim 125 manufactured by Maltex Co., Ltd. A micron copper metal film was formed.

이상과 같이 하여, 폴리이미드 수지를 기재로 하는 절연층 상에, 동에 의한 금속막이 형성되었다. 또한, 폴리이미드 수지와 금속막의 밀착도를 측정한 결과, 실시예 1 또는 2에서 얻어진 필 강도치보다 높은 1050gf/cm 이상의 필 강도치가 얻어졌다.As mentioned above, the metal film by copper was formed on the insulating layer based on polyimide resin. Moreover, as a result of measuring the adhesiveness of a polyimide resin and a metal film, the peel strength value 1050gf / cm or more higher than the peel strength value obtained in Example 1 or 2 was obtained.

이와 같이, 상술한 실시예에 의한 금속막 형성 처리 방법에 의하면, 수지 기재의 표면에 대한 자외선 조사가 처리액의 존재하에서 행하여지므로, 그 표면의 활성화가 지속되고 있는 동안에 무전해 도금의 동금속의 그 표면으로의 부착이 행하여져서, 그 밀착성이 강하게 되어, 비교예 1 및 비교예 2의 금속막 형성의 경우보다, 수지 표면과 금속막의 밀착도를 향상시킬 수 있음을 알았다.As described above, according to the metal film forming treatment method according to the embodiment described above, since ultraviolet irradiation to the surface of the resin substrate is performed in the presence of the treatment liquid, the copper metal of the electroless plating of the electroless plating is continued while the surface activation is continued. It was found that adhesion to the surface was performed, and the adhesion thereof became strong, and the adhesion between the resin surface and the metal film could be improved, as compared with the case of the metal film formation of Comparative Examples 1 and 2.

이상과 같이 본 발명에 의한 금속막 형성 처리 방법에서는 수지 표면으로의 자외선 처리를 각 처리 공정에서 사용되는 처리액의 존재하에서 행하도록 하였으므로, 수지 표면의 자외선 조사에 의한 활성화가 촉진되어, 그 효과가 지속되고 있는 동안에 무전해 도금이 가능해져서, 자외선 조사 효과에 의한 수지 표면과 석출 금속의 밀착도를 향상시킬 수 있어, 통상적으로 행하여지고 있는 수지 표면에 대한 에칭 처리를 실시하지 않아도, 금속막을 실사용에 제공할 수 있는 밀착도가 얻어졌다.As described above, in the metal film forming treatment method according to the present invention, ultraviolet treatment to the resin surface is performed in the presence of a treatment liquid used in each treatment step, so that activation by ultraviolet irradiation of the resin surface is promoted, and the effect thereof is improved. Electroless plating becomes possible while it is being continued, and the adhesiveness of the resin surface and precipitation metal by the ultraviolet irradiation effect can be improved, and a metal film is used for practical use, even without performing the etching process with respect to the conventionally performed resin surface. The degree of adhesion that can be provided was obtained.

또한 에칭 처리액을 사용하지 않기 때문에, 위험성, 공해성에의 대응이 용이하게 되어, 그 취급이나 배출 처리가 경감되어서 작업 부담이 감소된다.In addition, since the etching treatment liquid is not used, it is easy to cope with danger and pollution, and the handling and discharge treatment are reduced, and the work load is reduced.

또한, 본 발명에 의한 금속막 형성 처리 방법에서는 자외선 조사의 타이밍을 연구하여, 각 처리 공정에서 사용하는 처리액이 존재하고 있을 때에 행하도록 하여, 수지 기재와 금속막의 밀착성을 향상시키고 있으므로, 수지 기재 표면의 개질을 촉진하기 위한 처리제를 통상의 처리 공정에서의 처리액과 별도로 준비할 필요가 없어져서, 통상의 처리액을 그대로 사용할 수 있어, 에칭 처리를 생략한 만큼 처리 공정수가 감소되어 처리 비용도 저감된다.In addition, in the metal film forming treatment method according to the present invention, the timing of ultraviolet irradiation is studied to be performed when the treatment liquid used in each treatment step is present, and thus the adhesion between the resin substrate and the metal film is improved. It is not necessary to prepare a treatment agent for promoting surface modification separately from the treatment liquid in a normal treatment step, and thus the usual treatment liquid can be used as it is. do.

또한 수지 기재의 표면의 개질에 대해서, 자외선 조사의 장치 외에, 특별한 처리 장치를 설치할 필요가 없고, 종래에 사용되고 있던 각 처리액을 그대로 사용할 수 있으므로, 설비 비용의 증대로 연결되지 않아 염가의 제품을 제공할 수 있다.In addition, for the modification of the surface of the resin substrate, it is not necessary to provide a special treatment device other than the device for ultraviolet irradiation, and each treatment liquid used in the past can be used as it is. Can provide.

본 발명에 의한 수지 기재의 표면에 금속막을 형성하는 방법을, 반도체 장치에서의 적층 절연층 상의 금속막 형성에 적용할 수 있고, 또한, 수지 기판이나 플렉시블 시트상에도 간단히 금속막을 형성할 수 있게 되어 염가의 제품을 제공할 수 있다.The method of forming a metal film on the surface of the resin substrate according to the present invention can be applied to the formation of a metal film on a laminated insulating layer in a semiconductor device, and the metal film can also be easily formed on a resin substrate or a flexible sheet. Inexpensive products can be provided.

Claims (24)

도금핵 생성 공정과 무전해 도금 공정에 따라 처리하여, 수지 기재의 표면에 금속막을 형성 처리하는 방법으로서,As a method of forming and processing a metal film on the surface of a resin substrate by treating in accordance with a plating nucleation process and an electroless plating process, 상기 무전해 도금 공정 전에 사용되는 처리액을 통하여 상기 표면에 자외선을 조사하는 금속막 형성 처리 방법.A metal film forming treatment method of irradiating ultraviolet rays to the surface through a treatment liquid used before the electroless plating process. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무전해 도금 공정의 후에, 전해 도금 공정에 의한 처리가 행하여지는 금속막 형성 처리 방법.The metal film formation processing method in which the process by an electrolytic plating process is performed after the said electroless plating process. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정 전에 상기 표면을 전처리하는 컨디쇼닝 처리액인 금속막 형성 처리 방법.And the treatment liquid is a conditioning treatment liquid for pretreating the surface before the plating nucleation step. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 자외선의 조사는 상기 컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와, 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하는 금속막 형성 처리 방법.The irradiation of the ultraviolet rays is carried out both in the case of passing through the conditioning treatment liquid and in the case of passing through the catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation step. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액은 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되는 금속막 형성 처리 방법.The conditioning treatment liquid or the catalyzing treatment liquid is a thin film interposed between the glass plate and the surface in a thin layer formation method. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액인 금속막 형성 처리 방법.And the treatment liquid is a catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation step. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 자외선의 조사는 상기 도금핵 생성 공정 전에 상기 표면을 전처리하는 컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와 상기 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하는 금속막 형성 처리 방법.The irradiation of the ultraviolet rays is carried out both in the case of passing through the conditioning treatment liquid for pretreating the surface before the plating nucleation step and in the case of passing through the catalizing treatment liquid. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액은 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되는 금속막 형성 처리 방법.The conditioning treatment liquid or the catalyzing treatment liquid is a thin film interposed between the glass plate and the surface in a thin layer formation method. 수지 절연층 상에 도금에 의해 형성되는 금속막을 갖는 반도체 장치로서,A semiconductor device having a metal film formed by plating on a resin insulating layer, 상기 금속막은 도금핵 생성 공정과, 사용되는 처리액을 통하여 상기 표면에 자외선을 조사하는 것을 포함하는 무전해 도금 공정이 처리되어 상기 수지 기재의표면에 형성되는 반도체 장치.And the metal film is formed on the surface of the resin substrate by a plating nucleation process and an electroless plating process including irradiating ultraviolet rays to the surface through a processing liquid used. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 무전해 도금 공정의 후에, 전해 도금 공정에 의한 처리가 행하여지는 반도체 장치.The semiconductor device after the said electroless plating process is performed by the electrolytic plating process. 제9항 또는 제10항에 있어서,The method of claim 9 or 10, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정 전에 상기 표면을 전처리하는 컨디쇼닝 처리액인 반도체 장치.And the treatment liquid is a conditioning treatment liquid for pretreating the surface before the plating nucleation step. 제11항에 있어서,The method of claim 11, 상기 자외선의 조사는 상기 컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와, 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하는 반도체 장치.The irradiation of the ultraviolet rays is carried out both in the case of passing through the conditioning treatment liquid and in the case of passing through the catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation step. 제12항에 있어서,The method of claim 12, 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액은 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되는 반도체 장치.And the conditioning treatment liquid or the catalyzing treatment liquid is interposed in a thin layer between the glass plate and the surface. 제9항 또는 제10항에 있어서,The method of claim 9 or 10, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액인 반도체 장치.And the treatment liquid is a catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation process. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 자외선의 조사는 상기 도금핵 생성 공정 전에 상기 표면을 전처리하는 컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와 상기 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하는 반도체 장치.The irradiation of the ultraviolet rays is carried out both in the case of passing through the conditioning treatment liquid for pretreating the surface before the plating nucleation step and in the case of passing through the catalizing treatment liquid. 제15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액은 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되는 반도체 장치The conditioning device or the catalyzing solution is a semiconductor device in which a thin layer is interposed between a glass plate and the surface. 수지 절연층 상에 도금에 의해 형성되는 금속막을 갖는 배선 기판으로서,As a wiring board which has a metal film formed by plating on a resin insulating layer, 상기 금속막은 도금핵 생성 공정과, 사용되는 처리액을 통하여 상기 표면에 자외선을 조사하는 것을 포함하는 무전해 도금 공정이 처리되어 상기 수지 기재의 표면에 형성되는 배선 기판.And the metal film is formed on the surface of the resin substrate by a plating nucleation process and an electroless plating process including irradiating ultraviolet rays to the surface through a processing liquid used. 제17항에 있어서,The method of claim 17, 상기 무전해 도금 공정 후에, 전해 도금 공정에 의한 처리가 행하여지는 배선 기판.After the electroless plating process, the wiring board is processed by the electrolytic plating process. 제17항 또는 제18항에 있어서,The method of claim 17 or 18, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정 전에 상기 표면을 전처리하는 컨디쇼닝 처리액인 배선 기판.And said processing liquid is a conditioning treatment liquid for pretreating said surface before said plating nucleation process. 제19항에 있어서,The method of claim 19, 상기 자외선의 조사는 상기 컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와, 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하는 배선 기판.Irradiation of the ultraviolet rays is carried out both in the case of passing through the conditioning treatment liquid and in the case of passing through the catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation step. 제20항에 있어서,The method of claim 20, 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액은 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되는 배선 기판.And the conditioning treatment liquid or the catalizing treatment liquid is interposed thinly between the glass plate and the surface in a layered manner. 제17항 또는 제18항에 있어서,The method of claim 17 or 18, 상기 처리액은 상기 도금핵 생성 공정에서 상기 표면에 적용되는 카탈라이징 처리액인 배선 기판.And the processing liquid is a catalizing treatment liquid applied to the surface in the plating nucleation process. 제22항에 있어서,The method of claim 22, 상기 자외선의 조사는 상기 도금핵 생성 공정 전에 상기 표면을 전처리하는컨디쇼닝 처리액을 통하는 경우와 상기 카탈라이징 처리액을 통하는 경우의 양쪽 모두에서 실시하는 배선 기판.Irradiation of the ultraviolet rays is carried out both in the case of passing through the conditioning treatment liquid for pretreating the surface before the plating nucleation step and in the case of passing through the catalizing treatment liquid. 제23항에 있어서,The method of claim 23, wherein 상기 컨디쇼닝 처리액 또는 상기 카탈라이징 처리액은 유리판과 상기 표면 사이에 얇게 층상으로 개재되는 배선 기판.And the conditioning treatment liquid or the catalizing treatment liquid is interposed thinly between the glass plate and the surface in a layered manner.
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