KR20040042283A - Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System - Google Patents

Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System Download PDF

Info

Publication number
KR20040042283A
KR20040042283A KR1020020070494A KR20020070494A KR20040042283A KR 20040042283 A KR20040042283 A KR 20040042283A KR 1020020070494 A KR1020020070494 A KR 1020020070494A KR 20020070494 A KR20020070494 A KR 20020070494A KR 20040042283 A KR20040042283 A KR 20040042283A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
testing
command
path
time slot
Prior art date
Application number
KR1020020070494A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김재권
Original Assignee
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR1020020070494A priority Critical patent/KR20040042283A/en
Publication of KR20040042283A publication Critical patent/KR20040042283A/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Abstract

PURPOSE: A subscriber interface testing method in an access gateway system is provided to reduce failure occurrence probability by enabling a main processor and a testing unit to directly communicate with each other by an IPC matching. CONSTITUTION: An MP(Main Processor) transmits a test path set-up command to a testing unit through a time slot allocated to the testing unit(S31). The testing unit receives the testing path set-up command, sets up testing between itself and a user according to the command, and reports testing path setting completion(S32). the MP transmits the testing command to the testing unit through time slots(S33). The testing unit performs a testing through the set testing unit and reports a corresponding result to the MP(S34). The MP transmits a testing path release command to the testing unit through time slots(S35).

Description

액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 방법{Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System}Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System

본 발명은 액세스 게이트웨이(Access Gateway) 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 방법에 관한 것으로, 특히 메인 프로세서(Main Processor)와 시험장치가IPC 정합에 의한 직접 통신을 통해 가입자 인터페이스 시험을 하도록 한 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a subscriber interface test method in an access gateway system, and more particularly, to an access gateway system in which a main processor and a test apparatus perform a subscriber interface test through direct communication by IPC matching. The present invention relates to a subscriber interface test method.

일반적으로, 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 시스템은 첨부한 도면 도 1에 도시된 바와 같이 메인 프로세서(Main Processor: MP)(10)와 상기 MP(10)와 GS(Global System) 버스(bus)로 연결되는 디바이스 프로세서(Device Processor: DP)(20)와 상기 DP(20)와 DA(Device Access) 버스로 연결되는 시험 장치(30) 및 해당 가입자 인터페이스 시험에 필요한 스위칭이나 알람 수집 또는 톤 발생 기능 등을 제공하는 하위 디바이스(40)로 구성된다.In general, a subscriber interface test system in an access gateway system includes a main processor (MP) 10 and the MP 10 and a global system (GS) bus as shown in FIG. 1. Switching or alarm collection or tone generation function required for the device processor (DP) 20 connected to the test device 30 and the test device 30 connected to the DP 20 and the DA (Device Access) bus and the corresponding subscriber interface test It consists of a lower device 40 that provides the back.

GS 버스는 프로세서간 통신을 위한 경로로서, MP(10)는 GS 버스를 통해 DP(20)와 시리얼(Serial)로 라운드 로빈(Round Robin)방식의 통신을 한다.The GS bus is a path for communication between processors, and the MP 10 communicates in a round robin manner to the DP 20 and serial through the GS bus.

DA 버스는 DP(20)와 시험 장치(30) 및 디바이스(40)간 통신 및 제어를 위한 경로로서, DP(20)는 DA 버스를 통해 시험 장치(30) 및 디바이스(40)와 핸드 쉐이크(Hand-Shake)방식의 통신을 한다.The DA bus is a path for communication and control between the DP 20, the test apparatus 30, and the device 40. The DP 20 may shake hands with the test apparatus 30 and the device 40 through the DA bus. Hand-Shake) communication.

상기와 같이 구성된 가입자 인터페이스 시험 시스템에서 MP(10)는 GS 버스를 통해 가입자 회로나 가입자 선로 등의 가입자 인터페이스 시험을 위한 시험 경로 설정 명령을 DP(20)로 전송하고, DP(20)는 이를 DA 버스를 통해 시험 장치(30)에 전송한다.In the subscriber interface test system configured as described above, the MP 10 transmits a test path setting command for a subscriber interface test, such as a subscriber circuit or a subscriber line, to the DP 20 through the GS bus, and the DP 20 transmits this to the DA 20. Transfer to test device 30 via bus.

이에, 시험 장치(30)는 시험 대상 가입자와 사이에 시험 경로를 설정하고,상기 시험 경로 설정 명령에 대한 응답을 DA 버스를 통해 DP(40)에 전송한다.Accordingly, the test device 30 establishes a test path between the test subscriber and the test path, and transmits a response to the test path setting command to the DP 40 through the DA bus.

DP(20)는 시험 장치(30)로부터 전송받은 응답을 GS 버스를 통해 MP(10)에 보고한다.The DP 20 reports the response received from the test device 30 to the MP 10 via the GS bus.

시험 장치(30)측으로부터 시험 경로 설정 응답을 받은 MP(10)는 DP(20)를 통해 시험 장치(30)에 시험 항목을 전송한 후, 특정 시험 항목에 대한 시험 명령을 시험 장치(30)에 전송한다.After receiving the test path setting response from the test device 30, the MP 10 transmits a test item to the test device 30 through the DP 20, and then sends a test command for a specific test item to the test device 30. To transmit.

시험 장치(30)는 DA 버스를 통해 수신한 MP(10)의 특정 항목 시험 명령에 따라 가입자에 대한 시험을 수행하고, 시험 결과를 DA 버스를 통해 DP(20)에 보고한다.The test apparatus 30 performs a test for the subscriber according to a specific item test command of the MP 10 received through the DA bus, and reports the test result to the DP 20 through the DA bus.

DP(20)는 시험 장치(30)로부터 수신한 시험 결과를 GS 버스를 통해 MP(10)에 보고하고, 시험 결과를 수신한 MP(10)는 시험 경로 해제 명령을 DP(20)를 통해 시험 장치에 전송하여 시험 경로를 해제하게 한다.The DP 20 reports the test result received from the test apparatus 30 to the MP 10 via the GS bus, and the MP 10 receiving the test result tests the test path release command through the DP 20. Send to device to release test path.

전술한 종래 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 시스템은 MP가 시험 장치와 직접 통신이 불가능한 구조이고, MP와 시험 장치간의 통신을 위해서는 별도의 DP가 필요하게 되고 MP와 DP간 통신을 위한 GS 버스 및 DP와 시험 장치간 통신을 위한 DA 버스가 필요하게 된다.The subscriber interface test system in the above-described conventional access gateway system has a structure in which the MP cannot directly communicate with the test apparatus, a separate DP is required for communication between the MP and the test apparatus, and a GS bus and A DA bus is required for communication between the DP and the test device.

그러나, MP와 시험 장치간 통신 매개체인 DP에 장애가 발생한 경우 MP와 시험 장치간 통신이 불가능하게 되고, 별도의 DP의 추가로 인해 시스템 장애 발생시 디버깅이 어려워지며 시스템 기능 확장이 용이하지 않은 문제점이 있었다.However, when the DP, the communication medium between the MP and the test device, fails, communication between the MP and the test device becomes impossible, and when a system failure occurs due to the addition of a separate DP, debugging becomes difficult and system functions cannot be easily expanded. .

본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로 그 목적은, MP와 시험 장치가 IPC 정합하여 시험 장치에 할당된 타임 슬롯을 이용해 직접 통신하면서 가입자 인터페이스 시험을 수행하도록 하는데 있다.The present invention has been made to solve the above-described problems, and its object is to allow the MP and the test device to perform a subscriber interface test while directly communicating using a time slot allocated to the test device by IPC matching.

도 1은 종래 가입자 인터페이스 시험 시스템의 구성 블록도.1 is a block diagram of a conventional subscriber interface test system.

도 2는 본 발명에 따른 가입자 인터페이스 시험 시스템의 구성 블록도.2 is a block diagram of a subscriber interface test system according to the present invention;

도 3은 도 2에 있어 가입자 인터페이스 시험 동작을 설명하기 위한 플로우챠트.3 is a flowchart for explaining a subscriber interface test operation in FIG.

도 4는 본 발명에 따른 MP와 시험 장치간 메시지 흐름도.4 is a message flow diagram between an MP and a test apparatus according to the present invention;

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10, 100 : 메인 프로세서(MP) 20 : 디바이스 프로세서(DP)10, 100: main processor (MP) 20: device processor (DP)

30, 300 : 시험 장치 40, 400 : 하위 디바이스30, 300: test apparatus 40, 400: subordinate device

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 방법은, MP에서 시험 장치에 할당된 타임 슬롯을 통해 시험 경로 설정 명령을 해당 시험 장치로 전송하는 과정과; 상기 시험 장치에서 타임 슬롯의 주기적인 감시를 통해 MP의 시험 경로 설정 명령을 전송받아 시험 경로를 설정하는 과정과; 상기 MP의 시험 명령에 따라 상기 시험 경로를 통해 시험을 수행하고 시험 결과를 상기 타임 슬롯을 통해 MP에 보고하는 과정과; 상기 MP에서 시험 결과를 보고받고 상기 타임 슬롯을 통해 시험 경로 해제 명령을 시험 장치로 전송하여 해당 시험 경로를 해제하게 하는 과정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.A subscriber interface test method in an access gateway system of the present invention for achieving the above object comprises the steps of: transmitting a test path setup command to a corresponding test device through a time slot allocated to the test device in the MP; Establishing a test path by receiving a test path setting command of the MP through periodic monitoring of a time slot in the test device; Performing a test through the test path according to the test command of the MP and reporting a test result to the MP through the time slot; And receiving a test result from the MP and transmitting a test path release command to a test device through the time slot to release the test path.

바람직하게는, 상기 시험 경로 설정 명령과 시험 명령과 시험 결과 보고 및 시험 경로 해제 명령은 MP와 시험 장치간에 연결된 분할 다중 버스 상에서 상기 타임 슬롯을 통해 전송되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the test path setting command, the test command, the test result report and the test path release command are transmitted through the time slot on a divided multiple bus connected between the MP and the test apparatus.

이하, 본 발명에 따른 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 시스템은 첨부한 도면 도 2에 도시된 바와 같이 가입자 인터페이스 시험을 제어하는 MP(100)와 상기 MP(100)와 IPC(Inter Processor Communication)를 위해 분할 다중(Division Multiplex) 버스로 연결되어 MP(100)의 제어에 따라 해당 시험을 수행하는 시험 장치(300) 및 해당 가입자 인터페이스 시험에 필요한 스위칭이나 알람 수집 또는 톤 발생 기능 등을 제공하는 다수의 하위 디바이스(400)로 구성된다.The subscriber interface test system in the access gateway system according to the present invention is divided for the MP 100 and the MP 100 and the IPC (Inter Processor Communication) for controlling the subscriber interface test as shown in FIG. 2. A test device 300 connected to a division multiplex bus and performing the test under the control of the MP 100, and a plurality of sub-devices that provide switching, alarm collection, or tone generation functions required for the subscriber interface test. It consists of 400.

MP(100)는 IPC를 위해 시험 장치(300)에 할당된 타임 슬롯(Time Slot)으로 해당 시험 장치(300)에 시험 경로 설정 명령을 전송하여 시험 경로를 설정하게 한다. 그리고, 시험 항목을 전송한 다음 특정 항목의 시험 명령을 시험 장치(300)에 전송하여 가입자 인터페이스의 특정 항목을 시험하게 한다. 그 후, 시험 장치(300)로부터 시험 결과를 보고 받고 해당 시험 경로 해제 명령을 시험 장치(300)에 전송하여 해당 시험 경로를 해제하게 한다.The MP 100 transmits a test path setting command to the corresponding test device 300 in a time slot allocated to the test device 300 for IPC to set up a test path. Then, the test item is transmitted and then a test command of the specific item is transmitted to the test apparatus 300 to test the specific item of the subscriber interface. Thereafter, the test result is reported from the test device 300, and the test path release command is transmitted to the test device 300 to release the test path.

시험 장치(300)는 내부에 IPC 정합을 위한 정합 프로세서(도면에 도시되지 않음) 예컨대, MPC860(Motorola)을 구비하고, 자신에게 할당된 타임 슬롯을 주기적으로 감시하여 타임 슬롯을 통해 전송되는 MP(100)의 제어 명령에 따라 가입자 인터페이스 시험을 수행한다.The test apparatus 300 includes a matching processor (not shown in the drawing) for example, MPC860 (Motorola) for IPC matching therein, and periodically monitors a time slot allocated to itself and transmits an MP ( The subscriber interface test is performed according to the control command of 100).

즉, 시험 장치(300)는 MP(100)로부터 시험 경로 설정 명령이 전송되면 해당 시험 경로를 설정한 후 이에 대한 응답으로 MP(100)에 시험 경로 설정 보고를 하고, MP(100)로부터 시험 항목과 특정 항목의 시험 명령을 전송받아 해당 항목의 시험을 수행한 다음 시험 결과를 MP(100)에 보고하며, MP(100)로부터 시험 경로 해제 명령이 전송되면 해당 시험 경로를 해제한 다음 MP(100)에 시험 경로 해제 보고를 한다.That is, when the test path setting command is transmitted from the MP 100, the test apparatus 300 sets the corresponding test path and reports the test path setting to the MP 100 in response thereto, and the test item from the MP 100. After receiving the test command of the specific item and performing the test of the item, and reports the test result to the MP (100) .When the test path release command is transmitted from the MP (100), the test path is released and then the MP (100). Report the release of the test path.

상기와 같은 가입자 인터페이스 시험 장치는 MP(100)가 분할 다중 버스를 통해 시험 장치(300)에 직접 연결되므로 소용량의 액세스 게이트웨이 시스템에 구현되는 것이 바람직하다.The subscriber interface test apparatus as described above is preferably implemented in a small capacity access gateway system because the MP 100 is directly connected to the test apparatus 300 through a divided multiple bus.

그리고, MP(100)는 시험 장치(300)와 분할 다중 버스를 통해 시리얼(Serial) 통신을 하므로 시험 장치(300)에 할당된 타임 슬롯(Time-Slot) 식별자와 디바이스 식별자 정보를 통해 시험 장치(300)를 다른 하위 디바이스(400)와 구별하고, 각 시험 항목의 식별자 정보를 통해 시험 장치(300)가 특정 항목의 시험을 수행하게 한다.In addition, since the MP 100 performs serial communication with the test apparatus 300 through the split multiple bus, the test apparatus (Time-Slot) and device identifier information assigned to the test apparatus 300 may be used. The 300 is distinguished from other lower devices 400, and the test apparatus 300 performs a test of a specific item through identifier information of each test item.

상기와 같은 구성의 가입자 인터페이스 시험 시스템의 동작을 첨부한 도면 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.An operation of the subscriber interface test system having the above configuration will be described with reference to FIG. 3.

먼저, MP(100)는 시험 장치(300)에 할당된 타임 슬롯을 통해 시험 경로 설정 명령을 시험 장치로 전송한다(S31).First, the MP 100 transmits a test path setting command to a test device through a time slot allocated to the test device 300 (S31).

그러면, 시험 장치(300)는 자신에게 할당된 타임 슬롯의 주기적인 감시를 통해 상기 MP(100)의 시험 경로 설정 명령을 수신하고, 해당 명령에 따라 가입자와의 사이에 시험 경로를 설정한 후, 상기 타임 슬롯을 통해 시험 경로 설정 완료를MP(100)에 보고한다(S32).Then, the test device 300 receives a test path setting command of the MP 100 through periodic monitoring of the time slot assigned to the test device 300 and sets a test path with the subscriber according to the corresponding command. The completion of the test path setting is reported to the MP 100 through the time slot (S32).

이에, MP(100)는 타임 슬롯을 통해 시험 명령을 시험 장치(300)로 전송하고(S33), 시험 장치(300)는 해당 명령에 따라 상기 설정된 시험 경로를 통해 시험을 수행하고 그 결과를 MP(100)에 보고한다(S34).Accordingly, the MP 100 transmits a test command to the test device 300 through a time slot (S33), and the test device 300 performs a test through the set test path according to the corresponding command and outputs the MP. Report to 100 (S34).

상기 시험 결과를 보고받은 MP(100)는 타임 슬롯을 통해 시험 경로 해제 명령을 시험 장치(300)로 전송하여 상기 설정된 시험 경로를 해제하게 한다(S35).The MP 100 receiving the test result reports the test path release command to the test device 300 through the time slot to release the set test path (S35).

상기와 같은 가입자 시험 시스템의 시험 동작을 MP(100)와 시험 장치(300)간 메시지 흐름도인 도 4를 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.The test operation of the subscriber test system as described above will be described in detail with reference to FIG. 4, which is a message flow diagram between the MP 100 and the test device 300.

가입자 회로나 가입자 선로 등의 가입자 인터페이스의 이상 유무 검사를 위해서 시험장치(300)에 시험 명령을 주기적으로 전송하여 해당 검사를 하여야 하는 MP(100)는 분할 다중 버스를 통해 시험 버스(Test Bus) 연결을 위한 시험 경로 설정 명령을 시험 장치(300)로 전송한다(S41).In order to check whether there is an error in the subscriber interface such as the subscriber circuit or the subscriber line, the MP 100 which must periodically transmit a test command to the test apparatus 300 to perform the corresponding test is connected to a test bus through a split multiple bus. The test path setting command for transmitting to the test device 300 (S41).

이때, MP(100)는 해당 시험 장치(300)에 할당된 타임 슬롯을 통해서 시험 장치(300)에 시험 경로 설정 명령을 전송한다.In this case, the MP 100 transmits a test path setting command to the test device 300 through a time slot assigned to the test device 300.

시험 장치(300)는 분할 다중 버스에서 해당 타임 슬롯의 주기적인 감시를 통해 시험 경로 설정 명령을 전송받아 시험 대상 가입자와의 사이에 시험 경로를 설정하고(S42), 상기 타임 슬롯을 통해 시험 경로 설정 보고를 한다(S43).The test apparatus 300 receives a test path setting command through periodic monitoring of a corresponding time slot in a divided multiple bus, sets up a test path with a test target subscriber (S42), and sets a test path through the time slot. Report (S43).

이때, 시험 장치(300)는 MP(100)에서 자신을 식별할 수 있도록 자신의 아이디(ID)인 시험 장치 식별자를 함께 전송한다.At this time, the test apparatus 300 transmits the test apparatus identifier which is its ID (ID) together so that the MP 100 can identify itself.

그러면, MP(100)는 상기 시험 장치 식별자를 통해 시험 장치(300)를 타 하위 디바이스(400)와 구별한 다음 상기 시험 경로 설정 보고를 확인한 후, 타임 슬롯을 통해 시험 항목과 함께 특정 시험 항목에 대한 시험 명령을 시험 장치(300)로 전송한다(S44).Then, the MP 100 distinguishes the test apparatus 300 from other lower devices 400 through the test apparatus identifier, checks the test path setting report, and then attaches a test item to a specific test item through a time slot. The test command is transmitted to the test device 300 (S44).

시험 장치(300)는 타임 슬롯의 주기적 감시를 통해 상기 시험 항목과 특정 시험 항목에 대한 시험 명령을 전송받아 시험 대상 가입자와 사이에 설정된 시험 경로를 통해 특정 항목을 시험한 후(S45), 시험 결과를 상기 타임 슬롯을 통해 MP(100)에 보고한다(S46).The test device 300 receives a test command for the test item and a specific test item through periodic monitoring of a time slot, tests a specific item through a test path established between the test target subscriber and the test result (S45). Report to the MP 100 through the time slot (S46).

이때, 시험 장치(300)는 MP(100)에서 자신과 시험한 항목을 식별할 수 있도록 시험 장치 식별자와 시험 항목 식별자를 함께 전송한다.At this time, the test device 300 transmits the test device identifier and the test item identifier together so that the MP 100 can identify the item tested with itself.

이에, MP(100)는 상기 시험 장치 식별자와 시험 항목 식별자를 통해 시험 장치(300)와 시험 항목을 식별하여 해당 시험 결과를 확인한 후 가입자 인터페이스 시험을 종료하기 위해 시험 경로 해제 명령을 상기 타임 슬롯을 통해 시험 장치로 전송한다(S47).Accordingly, the MP 100 identifies the test device 300 and the test item through the test device identifier and the test item identifier, checks the test result, and then sends a test path release command to terminate the subscriber interface test. Transfer to the test device through (S47).

시험 장치(300)는 타임 슬롯의 주기적 감시를 통해 상기 시험 경로 해제 명령을 전송받아 시험 경로를 해제한 후(S48), 타임 슬롯을 통해 시험 장치 식별자가 포함된 시험 경로 해제 보고를 MP(100)로 전송한다(S49).After the test device 300 receives the test path release command through periodic monitoring of a time slot and releases the test path (S48), the test device 300 reports a test path release report including the test device identifier through the time slot. Transfer to (S49).

또한, 본 발명에 따른 실시 예는 상술한 것으로 한정되지 않고, 본 발명과 관련하여 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 범위 내에서 여러 가지의 대안, 수정및 변경하여 실시할 수 있다.In addition, the embodiment according to the present invention is not limited to the above description, and various alternatives, modifications, and changes can be made within the scope apparent to those skilled in the art.

이상과 같이, 본 발명은 액세스 게이트웨이 시스템에서 메인 프로세서와 시험장치가 IPC 정합에 의해 직접 통신을 함으로써, 정합 구간의 감소로 인해 장애 발생 확률이 감소하고 기능 확장 및 장애 발생시 디버깅이 용이한 효과가 있다.As described above, in the present invention, since the main processor and the test apparatus directly communicate by IPC matching in the access gateway system, the probability of failure is reduced due to the reduction of the matching interval, and the function is easy to expand and debug when failure occurs. .

Claims (2)

MP에서 시험 장치에 할당된 타임 슬롯을 통해 시험 경로 설정 명령을 해당 시험 장치로 전송하는 과정과;Transmitting, by the MP, a test path setting command to a corresponding test device through a time slot allocated to the test device; 상기 시험 장치에서 타임 슬롯의 주기적인 감시를 통해 MP의 시험 경로 설정 명령을 전송받아 시험 경로를 설정하는 과정과;Establishing a test path by receiving a test path setting command of the MP through periodic monitoring of a time slot in the test device; 상기 MP의 시험 명령에 따라 상기 시험 경로를 통해 시험을 수행하고 시험 결과를 상기 타임 슬롯을 통해 MP에 보고하는 과정과;Performing a test through the test path according to the test command of the MP and reporting a test result to the MP through the time slot; 상기 MP에서 시험 결과를 보고받고 상기 타임 슬롯을 통해 시험 경로 해제 명령을 시험 장치로 전송하여 해당 시험 경로를 해제하게 하는 과정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 방법.And receiving a test result from the MP and transmitting a test path release command to a test device through the time slot to release the test path. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 시험 경로 설정 명령과 시험 명령과 시험 결과 보고 및 시험 경로 해제 명령은 MP와 시험 장치간에 연결된 분할 다중 버스 상에서 상기 타임 슬롯을 통해 전송되는 것을 특징으로 하는 액세스 게이트웨이 시스템에서의 가입자 인터페이스 시험 방법.And wherein the test path setup command, test command, test result report, and test path release command are transmitted over the time slot on a divided multiple bus connected between an MP and a test device.
KR1020020070494A 2002-11-13 2002-11-13 Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System KR20040042283A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020070494A KR20040042283A (en) 2002-11-13 2002-11-13 Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020070494A KR20040042283A (en) 2002-11-13 2002-11-13 Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20040042283A true KR20040042283A (en) 2004-05-20

Family

ID=37339085

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020070494A KR20040042283A (en) 2002-11-13 2002-11-13 Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20040042283A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6038288A (en) System and method for maintenance arbitration at a switching node
US6957369B2 (en) Hidden failure detection
KR20040042283A (en) Method for Testing of Subscriber Interface in Access Gateway System
JP2006261972A (en) Subscriber line transmitter
JP2962062B2 (en) Processor monitoring method
JP2002064490A (en) Method for separating failed part
KR100236828B1 (en) Apparatus and method of digital trunk test in time division exchanger
KR100321441B1 (en) Method for attending trunk audit function in an exchange
KR100211889B1 (en) Stand alone function processing method of remote access switching module of time division exchange-10 series
JP3358801B2 (en) Transmit burst reception monitor circuit
KR100273964B1 (en) The function reporting status of terrestrial circuit per link in pcs system
KR100366541B1 (en) Method for testing signal link path by ass-t section in mobile communication msc system
JP2006020143A (en) Radio base station device
KR960016602A (en) Load generation circuit and method for testing all electronic switch for mobile communication
JP2605619B2 (en) Notification method of maintenance operation information
JPH04260232A (en) Control channel monitor system for mobile communication system
KR100644284B1 (en) Method for diagnosing a management communication channel between a manager and an agent for a fiber loop carrier
KR100239053B1 (en) Trunk state outputing method of tdx
KR19990061879A (en) How to change the connection link between private exchange units
KR100468570B1 (en) Apparatus for error detection of data transmission between units in wireless local loop
KR19990049296A (en) Functional verification device and method of next generation mobile communication system
KR100600948B1 (en) Digital subscriber's test method using analog subscriber's test equipment and switching resource
KR100326117B1 (en) Data link failure processing method
JP3272114B2 (en) Monitoring test method in distributed system.
CN117439628A (en) Communication terminal equipment

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
WITN Withdrawal due to no request for examination