KR20040041326A - 와이티에프의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기 - Google Patents
와이티에프의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기에 관한 것으로, 상세하게는 외부의 제어에 따라 전류가 제어되어 중심 주파수를 가변시키는 YTF와, 상기 YTF를 통과한 주파수를 중간 주파수로 변환시키는 수신부와, 상기 스펙트럼 분석기의 온도를 측정하는 온도 센서와, 온도 및 주파수에 따른 중심 주파수의 변동량을 측정하여 이에 해당되는 보상값이 룩-업 테이블 형태로 기저장되는 메모리와, 상기 온도 센서로부터 출력되는 신호로 현재 온도를 확인하고, 시스템의 설정 주파수를 통해 주파수를 확인하여 상기 메모리에서 현재 온도 및 주파수에 대응되는 보상값을 통해 상기 YTF로 인가되는 전류를 제어하여 상기 YTF의 중심 주파수를 보상하고, 상기 수신부를 통해 변환된 중간 주파수를 처리하여 영상 신호로 출력하는 신호처리/제어부와, 상기 신호처리/제어부로부터 출력되는 영상 신호를 디스플레이하는 화면표시장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.
따라서 상기와 같이 구성된 본 발명에 따르면 스펙트럼 분석기 내부의 온도에 따라 가변되는 YTF의 중심 주파수 변동량만큼 중심 주파수를 보상해줌으로써 스펙트럼 분석기의 온도에 따른 레벨 정확도를 높이도록 하는데 있다
Description
본 발명은 스펙트럼 분석기에 관한 것으로, 상세하게는 온도 및 주파수에 따라 YTF의 중심 주파수를 보상하는 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기에 관한 것이다.
일반적으로 YTF(Yttrium Iron Garnet Tuned Filter)는 스펙트럼 분석기의 측정 주파수 범위를 확장하기 위해 필수적으로 사용되는 부품으로, 전압을 제어하여 이에 흐르는 전류량을 조절함으로써 중심 주파수를 가변시킨다.
이러한 YTF가 사용된 스펙트럼 분석기는 도 1에 도시된 바와 같이 YTF(1)를 통해 입력 신호가 통과하면 YTF(1)의 중심 주파수는 스펙트럼 분석기에서 스위프하는 주파수에 맞게 신호처리/제어부(3)에 의해 제어된다.
YTF(1)를 통과한 신호는 수신부(2)에서 중간 주파수로 변환되고, 이는 신호처리/제어부(3)에서 신호처리되어 화면표시장치(4)에 의해 디스플레이되게 된다.
그러나 이러한 종래의 YTF는 특성상 온도에 따라 중심 주파수가 변동되는데, 설정된 중심 주파수에 따라 변동량이 달라지고, 이러한 변동은 도 2에 도시된 바와 같이 통과 대역에서의 리플에 의해 통과 신호의 레벨에 영향을 주게되며, 스펙트럼 분석기의 온도에 따라 레벨 정확도를 저하시키는 원인이 되는 문제점이 있다.
따라서 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 스펙트럼 분석기 내부의 온도에 따라 가변되는 YTF의 중심 주파수 변동량만큼 중심 주파수를 보상해줌으로써 스펙트럼 분석기의 온도에 따른 레벨 정확도를 높이도록 하는데 있다.
도 1은 종래의 스펙트럼 분석기의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도
도 2는 도 1의 스펙트럼 분석기의 YTF의 온도 특성을 나타낸 그래프
도 3은 본 발명에 따른 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도
<도면중 주요부분에 대한 부호의 설명>
110 : YTF120 : 수신부
130 : 신호처리/제어부140 : 온도 센서
150 : 메모리160 : 화면표시장치
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,
스펙트럼 분석기에 있어서,
외부의 제어에 따라 전류가 제어되어 중심 주파수를 가변시키는 YTF와,
상기 YTF를 통과한 주파수를 중간 주파수로 변환시키는 수신부와,
상기 스펙트럼 분석기의 온도를 측정하는 온도 센서와,
온도 및 주파수에 따른 중심 주파수의 변동량을 측정하여 이에 해당되는 보상값이 룩-업 테이블 형태로 기저장되는 메모리와,
상기 온도 센서로부터 출력되는 신호로 현재 온도를 확인하고, 시스템의 설정 주파수를 통해 주파수를 확인하여 상기 메모리에서 현재 온도 및 주파수에 대응되는 보상값을 통해 상기 YTF로 인가되는 전류를 제어하여 상기 YTF의 중심 주파수를 보상하고, 상기 수신부를 통해 변환된 중간 주파수를 처리하여 영상 신호로 출력하는 신호처리/제어부와,
상기 신호처리/제어부로부터 출력되는 영상 신호를 디스플레이하는 화면표시장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 의한 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기의 구성을 도 3을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명에 따른 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기(100)는, YTF(110)와, 수신부(120)와, 신호처리/제어부(130)와, 온도 센서(140)와, 메모리(150)와, 화면표시장치(160)로 구성된다.
YTF(110)는 신호처리/제어부(130)의 제어에 따라 전류가 제어되어 중심 주파수를 가변시킨다.
수신부(120)는 YTF(110)를 통과한 주파수를 중간 주파수로 변환시킨다.
신호처리/제어부(130)는 온도 센서(140)로부터 출력되는 신호로 현재 온도를 확인하고, 시스템의 설정 주파수를 통해 주파수를 확인하여 메모리(150)에서 현재 온도 및 주파수에 대응되는 보상값을 통해 YTF(110)로 인가되는 전류를 제어하여 YTF(110)의 중심 주파수를 보상하고, 수신부(120)를 통해 변환된 중간 주파수를 처리하여 영상 신호로 출력한다.
온도 센서(140)는 스펙트럼 분석기(100)의 내부의 온도를 측정한다. 여기에서 온도 센서(140)는 기존에 스펙트럼 분석기 내부에 존재하는 것을 사용한다.
메모리(150)는 온도 및 주파수에 따른 중심 주파수의 변동량을 측정하여 이에 해당되는 보상값이 룩-업 테이블 형태로 기저장된다.
화면표시장치(160)는 신호처리/제어부(130)로부터 출력되는 영상 신호를 디스플레이한다.
이하 본 발명에 따른 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기의 동작을 도 3을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
먼저 시스템에서 주파수가 설정되면 신호처리/제어부(130)는 YTF(110)를 제어하여 희망하는 주파수가 통과되도록 한다.
이와 동시에 신호처리/제어부(130)는 온도 센서(140)로부터 출력되는 신호로 현재 온도를 확인하고, 시스템의 설정 주파수를 통해 주파수를 확인하여 메모리(150)에서 현재 온도 및 주파수에 대응되는 보상값을 찾는다.
그리하여 신호처리/제어부(130)는 검색된 보상값을 통해 YTF(110)로 인가되는 전류의 양을 제어하여 YTF(110)의 중심 주파수를 보상한다. 여기에서 신호처리/제어부(130)는 온도 센서(140)를 통해 온도를 지속적으로 체크하여 온도에 따라 변동되는 YTF(110)의 중심 주파수를 보상한다.
그리하여 YTF(110)를 통해 통과한 신호는 수신부(120)에서 중간 주파수로 변환되고, 이는 신호처리/제어부(130)에서 신호처리되어 화면표시장치(160)에 디스플레이되게 된다.
따라서 온도에 따라 중심 주파수가 가변되는 YTF를 온도 및 주파수에 따라 YTF로 인가되는 전류를 제어하여 이의 중심 주파수를 보상할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기에 의하면, 스펙트럼 분석기 내부의 온도에 따라 가변되는 YTF의 중심 주파수 변동량만큼 중심 주파수를 보상해줌으로써 스펙트럼 분석기의 온도에 따른 레벨 정확도를 높일 수 있다.
Claims (1)
- 스펙트럼 분석기에 있어서,외부의 제어에 따라 전류가 제어되어 중심 주파수를 가변시키는 YTF와,상기 YTF를 통과한 주파수를 중간 주파수로 변환시키는 수신부와,상기 스펙트럼 분석기의 온도를 측정하는 온도 센서와,온도 및 주파수에 따른 중심 주파수의 변동량을 측정하여 이에 해당되는 보상값이 룩-업 테이블 형태로 기저장되는 메모리와,상기 온도 센서로부터 출력되는 신호로 현재 온도를 확인하고, 시스템의 설정 주파수를 통해 주파수를 확인하여 상기 메모리에서 현재 온도 및 주파수에 대응되는 보상값을 통해 상기 YTF로 인가되는 전류를 제어하여 상기 YTF의 중심 주파수를 보상하고, 상기 수신부를 통해 변환된 중간 주파수를 처리하여 영상 신호로 출력하는 신호처리/제어부와,상기 신호처리/제어부로부터 출력되는 영상 신호를 디스플레이하는 화면표시장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 YTF의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기.
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Cited By (4)
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|---|---|---|---|---|
| KR100824017B1 (ko) * | 2006-10-27 | 2008-04-22 | 주식회사 지에스인스트루먼트 | 전자 계측장비를 위한 중간주파수 변환장치 |
| KR101044001B1 (ko) * | 2008-12-31 | 2011-06-24 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 스펙트럼 분석기의 조정 방법 |
| CN104460797A (zh) * | 2014-10-22 | 2015-03-25 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种高精度宽频谱分析仪的ytf压控电流驱动系统 |
| CN116131763A (zh) * | 2023-04-04 | 2023-05-16 | 成都威频科技有限公司 | 一种yto驱动系统及电流补偿方法 |
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| JPH10170569A (ja) * | 1996-12-09 | 1998-06-26 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザー |
| JPH11304853A (ja) * | 1998-04-17 | 1999-11-05 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
| JP2000002729A (ja) * | 1998-06-15 | 2000-01-07 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
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Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100824017B1 (ko) * | 2006-10-27 | 2008-04-22 | 주식회사 지에스인스트루먼트 | 전자 계측장비를 위한 중간주파수 변환장치 |
| KR101044001B1 (ko) * | 2008-12-31 | 2011-06-24 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 스펙트럼 분석기의 조정 방법 |
| CN104460797A (zh) * | 2014-10-22 | 2015-03-25 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种高精度宽频谱分析仪的ytf压控电流驱动系统 |
| CN116131763A (zh) * | 2023-04-04 | 2023-05-16 | 成都威频科技有限公司 | 一种yto驱动系统及电流补偿方法 |
| CN116131763B (zh) * | 2023-04-04 | 2023-08-08 | 成都威频科技有限公司 | 一种yto驱动系统及电流补偿方法 |
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