KR200397771Y1 - Probe structure for testing the printed wiring board - Google Patents

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KR200397771Y1
KR200397771Y1 KR20-2005-0019390U KR20050019390U KR200397771Y1 KR 200397771 Y1 KR200397771 Y1 KR 200397771Y1 KR 20050019390 U KR20050019390 U KR 20050019390U KR 200397771 Y1 KR200397771 Y1 KR 200397771Y1
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후앙 쳉 후아
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Abstract

본 고안은 제작이 간단하고 효과적으로 제조비용을 감소할 수 있으며 신뢰성이 높은 회복탄력을 구비하고 유지함에 편리한 프린트 배선판 시험장치에 사용하는 침관분리식 탐침구조를 제공하는 것이다. 본 고안은 좌체, 접속대, 시험대를 포함하고 시험대 상부에 복수의 탐침이 설치되고 상기 탐침은 침체, 침관 및 침관 내에 설치되는 스프링으로 구성되고 침관 저부에 상기 침관 내에 스프링을 끼운 후 상기 위치를 제한하는 제1 봉지부를 형성하고 스프링 상부와 하부에 집합부분을 설치하고 중단부분을 탄성신축부분으로 함과 동시에 스프링의 상부를 추대형상으로 형성하고 상기 침관에 스프링 하부의 집합부분에 설치된 함몰부를 봉지하여 고정하는 복수의 제2 봉지부를 설치한다. 상기 침체를 상기 침관 내에 끼우고 침체 저부와 스프링 상부를 상호적으로 접속시키고 상기 관체 내에 도선을 용접하고 각 탐침의 침관을 용접대 상부에 설치하고 상기 위치를 시험을 행하는 회로판상의 핀위치에 대응되게 탐침저부로부터 연결시켜 신장한 도선을 소켓에 접속하고 프린트 배선판 시험기의 컨넥터와 상기 소켓을 접속한다.The present invention aims to provide a pipe separation type probe structure for use in a printed wiring board test apparatus which is simple to manufacture, which can effectively reduce manufacturing cost, and has high reliability and resilience. The present invention includes a left body, a connecting rod, a test bench, and a plurality of probes are installed on the test bench, and the probe is composed of a recess, a needle and a spring installed in the needle, and the spring is inserted into the needle at the bottom of the needle to limit the position. Forming a first encapsulation part, and installing an assembly part at the upper and lower parts of the spring, and forming an upper end portion of the spring in the shape of an elastic part while stopping the elastic part, and encapsulating the recess provided in the assembly part of the lower part of the spring in the needle tube. A plurality of second sealing portions to be fixed are provided. Insert the stagnation into the needle tube, and mutually connect the bottom of the needle and the top of the spring, weld the conductors in the tube, and install the needle tube of each probe on the welding table, and correspond to the pin position on the circuit board to test the position. Connect the extended wire connected from the probe bottom to the socket, and connect the connector of the printed wiring board tester to the socket.

Description

프린트배선판 시험장치의 탐침구조{PROBE STRUCTURE FOR TESTING THE PRINTED WIRING BOARD}PROBE STRUCTURE FOR TESTING THE PRINTED WIRING BOARD}

본 고안은 프린트 배선판 시험장치의 탐침구조에 관한 것으로 보다 상세하게는 프린트 배선판시험장치 내에 설치하는 탐침구조에 있어서 계채용 침관분리방식을 채용하므로 제작이 간단하고 제조비용이 절감되며 신뢰성이 높은 회복탄력을 구비하고 유지함에 편리성이 높은 프린트 배선판 시험장치의 탐침구조에 관한 것이다.The present invention relates to a probe structure of a printed wiring board test apparatus, and more specifically, the adoption of a needle tube separation method in a probe structure installed in a printed wiring board test apparatus is simple, reduced manufacturing cost, and high recovery resilience. The present invention relates to a probe structure of a printed wiring board test apparatus having high convenience in providing and maintaining the same.

현재 기술에서 프린트 배선판은 전자부품의 회로설계를 완료한 후 시험을 행함에 설계된 회로의 단선, 단락이 없는가를 확인하지 않으면 안된다. 현재 채용된 회로시험기는 전용의 시험대를 회로시험기에 접속하여 구성하고 상기 시험대의 상부표면에는 복수의 표면에 돌출한 탐침이 설계되어 있다. 상기 탐침은 시험을 행한 회로판의 저면에 돌출한 각 핀의 위치에 대응하여 설치되며 탐침저부에 설치된 스프링이 하압시험 후의 회복탄력을 제공하고 또한 각 탐침이 침관 내에 설치되고 도선을 접속하여 회로시험기의 대응하는 삽입공 내에 도통된다. 회로판의 시험시에는 시험을 행한 회로판을 시험대의 탐침상에 놓고 하압하고 탐침과 회로판저면의 핀을 접촉시키면 회로시험기는 회로판상의 회로에 단선/단락이 없는지를 표시한다. 상기 장치에 있어서 스프링은 직접탐침의 저부에 설치되지만 탐침의 수치가 매우 작기 때문에 제조산업상의 어려움이 있고 침관을 전용 시험대에 설치할 때도 설치/분리가 어려우며 비용이 높고 교환에도 불편함이 있는 문제점이 있다.In the current technology, printed wiring boards must verify that there are no disconnections or short-circuits in the circuits designed for testing after completing the circuit design of the electronic components. The circuit tester currently employed is constructed by connecting a dedicated test bench to the circuit tester, and a probe protruding from a plurality of surfaces is designed on the upper surface of the test bench. The probe is installed in correspondence with the position of each pin protruding from the bottom of the circuit board under test, and the spring installed on the bottom of the probe provides resilience after the lower pressure test, and each probe is installed in the needle tube, and the conductors are connected to each other. It is conducted in the corresponding insertion hole. When testing a circuit board, place the tested circuit board on the test bench, press down and contact the probe with the pin on the bottom of the circuit board. The circuit tester indicates that there is no disconnection or short circuit in the circuit on the circuit board. In the above device, the spring is installed at the bottom of the direct probe, but because the number of the probe is very small, there is a problem in manufacturing industry, and even when installing the needle tube on a dedicated test bench, installation / removal is difficult, high cost, and inconvenience in exchange. .

또한, 시장에는 복합식 회로검사기가 있지만 이것은 검사를 행하는 회로판의 각 핀에 대응하는 위치에 맞추어지는 복수의 탐침을 접속판내에 설치하고 상기 탐침은 저부에 접속부를 구비한 침체와, 말단에 도선을 접속한 스프링 등을 포함하고 상기 침체는 직접 치도구에 설치되고 스프링의 상부에는 위치하지 않고 또한 접속부와 스프링의 상부는 상호 접촉하여 도통되고 스프링 상부는 일체로 감겨 성형의 지지저면을 구비하고 침체의 접속부를 접속하는 것이 가능하기 때문에 별도 침관과 지지부재를 가공하는 필요가 없고 비용을 줄이는 목적을 달성할 수 있다. 그러나 상기 시험시에 있어서 스프링은 직접 접속판 내에 설치되고 또한 스프링의 상부에 탐침을 접속하는 오목(凹)형 지지저면을 구비하고 있기 때문에 스프링이 접속판의 공벽과 마찰을 발생하고 탐침과 스프링이 걸릴 수 있으며 이 경우 회복하기가 어려운 상황이 되고 탐침을 검사를 행하는 회로판의 핀에 접속시킬 수 없게 된다. 따라서 시험 오차가 쉽게 발생할 수 있는 상황이 될 수 있다. 또한 검사를 행하는 회로판의 체적이 작기 때문에 탐침 및 스프링의 체적도 상대적으로 작아지는 것이 필요하고 생산/제조에 어려움이 있을 수 있으므로 개량이 필요하다.In addition, there is a complex circuit tester on the market, which is provided with a plurality of probes fitted in the connection boards corresponding to the positions of the pins of the circuit board to be inspected. The recess is directly installed in the toothpaste and is not located at the top of the spring, and the connecting portion and the upper portion of the spring are in contact with each other and the upper portion of the spring is integrally wound to provide a supporting bottom of the molding and the connecting portion of the recess Since it is possible to connect the need not to process a separate acupuncture and support member can achieve the purpose of reducing costs. In the test, however, the spring is directly installed in the connecting plate and has a concave support bottom which connects the probe to the upper part of the spring, so that the spring generates friction with the hollow wall of the connecting plate and the probe and the spring In this case, it becomes difficult to recover and the probe cannot be connected to the pin of the circuit board to be inspected. Therefore, a test error can easily occur. In addition, since the volume of the circuit board to be inspected is small, the volume of the probe and the spring needs to be relatively small, and there may be difficulties in production / manufacturing, and thus improvement is necessary.

본 고안은 상술한 종래 구조의 문제점을 감안하여 고안자의 당해업자에 있어서의 오랜 경험에 기반하여 연구를 거듭하여 참신한 프린트배선판 시험장치의 탐침구조를 제공하는 것이다.The present invention has been made in view of the above-described problems of the conventional structure, and provides a probe structure of a novel printed wiring board test apparatus based on a long experience in the person skilled in the art.

본 고안의 주목적은 제작이 간단하고 효과적으로 제조비용을 감소할 수 있으며 신뢰성이 높은 회복탄력을 구비하고 유지함에 편리한 프린트 배선판 시험장치에 사용하는 침관분리식 탐침구조를 제공하는 것이다.The main object of the present invention is to provide a pipe separation type probe structure for use in a printed wiring board test apparatus which is simple to manufacture and can effectively reduce manufacturing cost and is equipped with and maintains a reliable resilience.

본 고안의 다른 목적은 스프링 및 침체를 동시에 작게 제작할 수 있고 탐침의 배열간격을 축소하고 소형으로 정밀한 프린트 배선판의 시험에 편리한 탐침구조를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a probe structure that can be made at the same time the spring and stagnation can be made small, reducing the spacing interval of the probe and convenient for testing small and precise printed wiring board.

상술한 목적을 달성하기 위해 본 고안의 프린트 배선판 시험장치의 탐침구조는 상기 프린트 배선판 시험장치가 좌체, 접속대, 시험대를 포함하고 시험대 상부에 복수의 탐침이 설치되고 상기 탐침은 침체, 침관 및 침관 내에 설치되는 스프링으로 구성되고 침관저부에 제1 봉지부를 형성하고 침관내에 스프링을 끼운 후 상기 위치를 제한하고 스프링 상부와 하부를 각각 집합부분으로 하고 중단부분을 탄성신축부분으로 함과 동시에 스프링의 상부를 추대형상으로 형성하고 침관외부로부터 내측으로 복수의 제2 봉지부를 설치하고 상기 제2봉지부가 스프링하부의 집합부분에 설치된 함몰부를 봉지하여 고정하고 침체를 침관내에 끼워 침체저면과 스프링 상부를 상호 접촉시키고 제1 봉지부 하방의 관체내에 도선을 용접하고 각 탐침의 침관을 접속대 상부에 위치하고 상기 위치를 시험을 행하는 회로판상의 핀위치에 대응되게 탐침저부로부터 연결되어 신장한 도선을 소켓에 접속하고 프린트 배선판 시험기의 컨넥터와 상기 소켓을 접속한다.In order to achieve the above object, the probe structure of the printed wiring board test apparatus of the present invention has the printed wiring board test apparatus including a left body, a connecting rod, and a test bench, and a plurality of probes are installed on the test bench, and the probe is a stagnation, acupuncture and acupuncture tube. It consists of a spring installed in the inside of the needle tube to form a first encapsulation part, and the spring is inserted into the needle tube to limit the position, the upper and lower parts of the spring as an assembly portion, and the stop portion as an elastic stretch portion and at the same time The upper part is formed in the shape of a bolt, and a plurality of second encapsulation parts are installed from the outside of the acupuncture tube to the inside, and the second encapsulation part is sealed by fixing a recess provided in an assembly part of the lower part of the spring. Contact each other, weld the conductors in the tube below the first encapsulation, The conductive wires connected to the sockets are connected to the sockets and connected to the sockets of the printed wiring board tester.

상술한 구조에 의해 종래의 탐침에 있어서 스프링을 직접 탐침의 침체저부에 고정할 때 침체의 체적이 작기 때문에 제조가 어렵고 스프링을 고정할 필요가 있어서 제조가 보다 곤란하다는 문제를 철저하게 해결하는 것이 가능하다. 본 고안의 탐침은 침관분리방식을 채용하고 스프링을 침관 내부에 설치하기 때문에 제조가 간단하고 제조 비용이 감축될 수 있고 사용시에 무엇보다 고장이 일어나기 쉬운 스프링 부분이 있지만 상기 고장시에는 직접 침관을 분리하여 교환하는 것이 가능하며침체를 모아 교환할 필요가 있고 교환의 수순도 간단하다. 또한 본 고안은 스프링을 침관 내에 설치하고 있기 때문에 사용시에 스프링이 직접 접속대와 접속하고 걸려 있으므로 고장이 발생하지 않는다. 탐침의 침체와 시험을 행하는 회로판의 핀의 양호한 접곳을 확보할 수 있고 신리성이 높은 회복탄력을 얻을 수 있다. 또한 스프링의 상부와 하부에 감겨진 방식으로 집합부분을 형성하고 중단부에는 탄성신축부분을 설치하고 스프링의 상부와 침체의 저면을 접촉시키기 때문에 스프링 및 침체를 동시에 작게 만드는 것이 가능하고 탐침의 배열간격을 축소할 수 있고 소형으로서 정밀한 프린트 배선판의 시험에 편리하다.With the above structure, it is possible to thoroughly solve the problem that manufacturing is difficult because the volume of the stagnation is small when the spring is directly fixed to the stagnation bottom of the probe in the conventional probe, and it is necessary to fix the spring, which makes manufacturing more difficult. Do. The probe of the present invention adopts the needle tube separation method and installs the spring inside the needle tube, so the manufacturing is simple, and the manufacturing cost can be reduced, and there is a spring part which is more prone to failure in use. It is possible to exchange them by collecting the stagnation, and the procedure of exchange is simple. In addition, the present invention is because the spring is installed in the acupuncture tube, the spring is connected directly to the connecting rod in use does not cause a failure. The stagnation of the probe and the good contact of the pins of the circuit board to be tested can be ensured, and a high recovery elasticity can be obtained. In addition, it is possible to make the spring and stagnation small at the same time because the assembly part is formed by winding the top and bottom of the spring and the elastic extension part is installed at the stop and the top and bottom of the stagnation contact each other. It is compact and convenient for the test of precise printed wiring board.

이하, 본 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 고안을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 고안의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 상세히 설명하기로 한다. 본 고안의 목적, 작용, 효과를 포함하여 기타 다른 목적들, 특징점들, 그리고 작동상의 이점들이 바람직한 실시예의 설명에 의해 보다 명확해질 것이다.Hereinafter, in order to be described in detail so that those skilled in the art can easily implement the present invention, the most preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. . Other objects, features, and operational advantages, including the object, operation, and effect of the present invention, will become more apparent from the description of the preferred embodiment.

도1, 도2 및 도3에 도시된 바와 같이 본 고안의 프린트 배선판 시험장치의 탐침구조는 프린트 배선판 시험장치(1)가 좌체(10, 접속대(20), 시험대(30)를 포함하여 구성되고 시험대(30) 상부에 복수의 탐침(40)이 삽입 설치된다. 상기 탐침(40)은 침체(41), 침관(42) 및 침관(42) 내에 설치된 스프링(43)으로 구성되고 침관(42) 저부에 제1봉지부(42a)를 형성하고 스프링(43)을 끼운 후 상기 위치를 제한한다. 스프링(43) 상부와 하부는 각각 집합부분(43a)으로 하고 중단부분은 탄성신축부분(43b)으로 한다. 상기 스프링(43) 상부는 추대형상으로 설치되고 침관(42)은 외부로부터 내측으로 향한 복수의 제2봉지부(42b)를 형성한다. 상기 제2봉지부(42b)로부터 스프링(43) 하부의 집합부분(43a)으로 설치된 함몰부(43a1)를 걸어서 고정한다. 또한 침체(41)를 상기 침관(42) 내에 끼우고 침체(41) 저부와 스프링(43) 상부를 상호 접촉시키고 제1봉지부(42a)를 하방의 관내에 도선(44)을 용접하고 각 탐침(40)의 침관(42)을 접속대(20) 상부에 설치하고 상기 위치를 시험을 행하는 회로판상의 핀 위치에 대응시켜 탐침(10) 저부로부터 연결되어 신장된 도선(44)을 소켓(45)에 접속하고 상기 소켓(45)에 프린트 배선판 시험기의 컨넥터를 접속한다.As shown in Fig. 1, Fig. 2 and Fig. 3, the probe structure of the printed wiring board test apparatus of the present invention includes a printed wiring board testing apparatus 1 including a seat 10, a connection table 20, and a test bench 30. And a plurality of probes 40 are inserted and installed on an upper portion of the test bench 30. The probes 40 are composed of a stagnation 41, a needle tube 42, and a spring 43 installed in the needle tube 42 and the needle tube 42 The first encapsulation portion 42a is formed at the bottom and the spring 43 is inserted, and then the position is restricted. The upper and lower portions of the spring 43 are the aggregate portions 43a, respectively, and the stop portion is the elastic elastic portion 43b. The upper portion of the spring 43 is provided in a thrust shape, and the needle pipe 42 forms a plurality of second encapsulation portions 42b directed from the outside to the inner side. 43) Hook and fix the depression 43a1 provided by the lower assembly part 43a. The bottom of the sieve 41 and the upper portion of the spring 43 are brought into contact with each other, the first sealing portion 42a is welded to the conductive wire 44 in the lower pipe, and the needle pipe 42 of each probe 40 is connected to the connecting rod 20. Connected to the socket 45, the conductor wire 44 connected to the bottom of the probe 10 is installed in the upper part and corresponds to the pin position on the circuit board for the test. The connector of the printed wiring board tester is connected to the socket 45. Connect

상술한 바와 같이 본 고안에 의한 프린트 기판상 시험장치의 탐침구조는 상기 탐치에 침관 분리식의 설계를 채용하고 제고가 간단하고 제조비용을 감소할 수 있을 뿐만 아니라 신뢰성이 높은 회복탄력을 구비하고 유지함에도 편리하다. 또한 상기 구조의 개량에 의해 스프링 및 침체를 동시에 작게 제작하는 것이 가능하고 탐침의 배열간격을 축소시킬 수 있어서 소형으로 정밀한 프린트 배선판의 시험에 편리하다. 따라서 본 고안은 실용성과 진보성을 동시에 구비하고 있는 것이다.As described above, the probe structure of the test apparatus on the printed board according to the present invention adopts the design of the needle tube separation type in the probe, and it is easy to improve the manufacturing cost and reduce the manufacturing cost, and also maintain and maintain the reliable resilience. It is also convenient for the ship. In addition, the spring and stagnation can be made small at the same time by the improvement of the structure, and the arrangement interval of the probe can be reduced, which is convenient for the test of a small and precise printed wiring board. Therefore, the present invention is equipped with practicality and progressiveness at the same time.

참고로, 여기에서 개시되는 실시예는 여러가지 실시 가능한 예 중에서 당업자의 이해를 돕기 위하여 가장 바람직한 실시예를 선정하여 제시한 것일 뿐, 본 고안의 기술적 사상이 반드시 이 실시예에만 의해서 한정되거나 제한되는 것은 아니고, 본 고안의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 다양한 변화와 부가 및 변경이 가능함은 물론, 균등한 타의 실시예가 가능함을 밝혀 둔다.For reference, the embodiments disclosed herein are only presented by selecting the most preferred embodiment in order to help those skilled in the art from the various possible examples, the technical spirit of the present invention is not necessarily limited or limited only by this embodiment In addition, various changes, additions and changes are possible within the scope without departing from the technical spirit of the present invention, as well as other embodiments that are equally clear.

도1은 본 고안의 프린트 배선기판시험장치의 입체분해도이고,1 is a three-dimensional exploded view of a printed wiring board test apparatus of the present invention,

도2는 본 고안의 프린트 배선기판시험장치의 단면도이고,2 is a cross-sectional view of a printed wiring board test apparatus of the present invention,

도3은 본 고안의 탐침의 단면도이다.3 is a cross-sectional view of the probe of the present invention.

[부호의 설명][Description of the code]

1 ... 프린트 배선판시험장치 10 ... 좌체1 ... printed wiring board tester 10 ... left body

20 ... 접속대 30 ... 시험대20 ... connecting rod 30 ... test bench

40 ... 탐침 41 ... 침체40 ... Probes 41 ... Stagnation

42 ... 침관 42a ... 제1 봉지부42 ... acupuncture 42a ... first encapsulation

42b ... 제2 봉지부 43a ... 집합부분42b ... second encapsulation 43a ... assembly part

43b ... 탄성신축부분 43a1 ... 함몰부43b ... elastic part 43a1 ... recessed part

43 ... 스프링 44 ... 도선43 ... Spring 44 ... Lead

45 ... 소켓45 ... socket

Claims (2)

좌체, 접속대, 시험대를 포함하고 상기 시험대에 복수의 탐침을 구비하고 상기 탐침은 침체, 침관 및 상기 침관 내에 설치된 스프링으로 구성되고 상기 침관 저부에 제1봉지부을 설치하고 상기 제1 봉지부로 상기 스프링을 구비한 후 상기 위치를 제한하고 스프링의 상부를 추대형상으로 형성하고 침관 외부로부터 내측으로 향해 복수의 제2봉지부를 형성하고 상기 제2봉지부로 스프링하부를 걸어 고정하고 상기 침체를 상기 침관 내에 설치하고 상기 침체저부와 스프링상부를 상호 접촉시켜 상기 제1 봉지부 하방의 관체 내에 도선을 용접하여 설치되는 것을 특징으로 하는 리드배선판 시험장치의 탐침구조.And a plurality of probes on the test bench, the probe comprising a stagnation, a needle tube, and a spring installed in the needle tube, and a first encapsulation part is installed at the bottom of the needle tube, and the spring is used as the first encapsulation part. After limiting the position and forming the upper portion of the spring in the shape of a bolt, forming a plurality of second encapsulation from the outside of the acupuncture tube to the inside, and fastening the lower part of the spring to the second encapsulation and installing the stagnation in the needle tube And welding the conductors in the tubular body below the first encapsulation part by contacting the stagnation bottom part and the spring top part with each other. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 스프링의 상부와 하부에 각각 집합부분을 설치하고 중단부분을 탄성신축부분으로 형성하고 상기 스프링의 하부를 추대형상으로 설치하는 것을 특징으로 하는 리드배선판 시험장치의 탐침구조.Probe structure of the lead wiring board test apparatus, characterized in that the assembly portion is installed on the upper and lower portions of the spring, respectively, the interruption portion is formed as an elastic expansion portion, and the lower portion of the spring is installed in the shape of a bolt.
KR20-2005-0019390U 2005-07-04 2005-07-04 Probe structure for testing the printed wiring board KR200397771Y1 (en)

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