KR200380799Y1 - lamp test control system for local control device - Google Patents
lamp test control system for local control device Download PDFInfo
- Publication number
- KR200380799Y1 KR200380799Y1 KR20-2005-0000627U KR20050000627U KR200380799Y1 KR 200380799 Y1 KR200380799 Y1 KR 200380799Y1 KR 20050000627 U KR20050000627 U KR 20050000627U KR 200380799 Y1 KR200380799 Y1 KR 200380799Y1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- lamp
- test
- unit
- alarm
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B47/00—Circuit arrangements for operating light sources in general, i.e. where the type of light source is not relevant
- H05B47/20—Responsive to malfunctions or to light source life; for protection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B47/00—Circuit arrangements for operating light sources in general, i.e. where the type of light source is not relevant
- H05B47/10—Controlling the light source
- H05B47/175—Controlling the light source by remote control
Landscapes
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
Abstract
본 고안은 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어시스템에 관한 것으로, 이러한 본 고안은, 임의 채널 변경이 가능한 하나의 제어기를 통해 램프의 상태신호와 경보신호를 선택적으로 테스트하는 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어시스템을 구성함으로써, 별도의 부가회로없이 간단한 부하를 바로 연결하여 그 테스트가 이루어지도록 하여 주변회로를 최대한 단순화시킴은 물론, 종래와 같이 릴레이회로의 설계에 따른 인건비 및 작업시간이 많이 소요되는 문제를 개선하고, 아울러 릴레이 회로의 탑재에 따른 제어기의 패널 크기 상승으로 초래되는 설비 공간이 과다하게 소요되는 단점을 개선할 수 있도록 하는 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어 시스템을 제공한다.The present invention relates to a lamp test control system for local control, and the present invention constitutes a lamp test control system for local control to selectively test the status signal and alarm signal of the lamp through one controller capable of changing an arbitrary channel. By simplifying the peripheral circuit as much as possible by simply connecting a simple load without additional circuitry to make the test, as well as improving the problem of the labor cost and work time according to the design of the relay circuit as in the prior art, In addition, the present invention provides a lamp test control system for local control to improve the disadvantage of excessive facility space caused by the increase in the panel size of the controller according to the mounting of the relay circuit.
Description
본 고안은 로컬 컨트롤용 램프 테스트에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 제어 포인트가 수 십 개 정도에 지나지 않은 작은 로컬 현장에서 임의 채널 변경이 가능한 하나의 제어기를 통해 램프의 상태신호(state signal)와 경보신호(alarm signal)를 선택적으로 테스트할 수 있도록 하는 로컬 컨트롤용 램프테스트 제어 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a lamp test for local control, and more specifically, state signal and alarm of a lamp through a single controller capable of changing a random channel in a small local site with only a few dozen control points. The present invention relates to a lamp test control system for local control that allows selective testing of alarm signals.
일반적으로, 제어 포인트가 수 백 개인 램프 시스템의 경우에는 각 램프가 통신으로 연결되며, 이는 기능도 많은 고가의 제어기를 사용한다.In general, in the case of lamp systems with hundreds of control points, each lamp is connected in communication, which uses expensive controllers with many functions.
반면, 제어 포인트가 수 십 개인 로컬 현장의 램프 시스템에서는 상기와 같은 제어기를 사용할 경우 프로그램의 운용이 복잡할 뿐만아니라 그 제어기의 가격이 고가인 관계로, 수 십 개의 제어 포인트에 대응하는 릴레이(relay)회로가 적용되는 제어기를 사용하였다.On the other hand, in a local lamp system with dozens of control points, relays corresponding to dozens of control points are not only complicated because of the complicated operation of the program, but also because of the high price of the controller. The controller to which the circuit is applied was used.
그러나, 상기와 같이 릴레이 회로가 적용되는 제어기를 사용하는 경우 그 릴레이 회로로 인해 공간을 많이 차지하면서 제어기의 패널 크기가 커지고, 아울러 설비비용이 상승함은 물론, 설계자의 복잡한 수작업이 필요하므로 시간과 인건비가 많이 소요되는 구조적인 단점이 있다.However, in the case of using the controller to which the relay circuit is applied as described above, the panel size of the controller is increased while occupying a lot of space due to the relay circuit, and the equipment cost is increased, as well as complicated manual work of the designer is required. There is a structural disadvantage that requires a lot of labor costs.
또한, 종래 로컬 현장에서의 램프 테스트 제어기는 램프의 상태신호와 경보신호 테스트를 동시에 하지 못하였으며, 이에따라 종래의 로컬 현장에서는 램프의 상태신호 테스트용 제어기와 램프의 경보신호 테스트용 제어기를 별도로 구비할 수 밖에 없는 불편함이 따랐다.In addition, the conventional lamp test controller at the local site was not able to test the status signal and alarm signal test of the lamp at the same time, accordingly, in the conventional local site, a controller for testing the status signal of the lamp and the alarm signal test of the lamp separately. There was nothing but inconvenience.
따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서 본 고안은, 임의 채널 변경이 가능한 하나의 제어기를 통해 램프의 상태신호(state signal)와 경보신호(alarm signal)를 선택적으로 테스트하는 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어시스템을 구성함으로써, 별도의 부가회로없이 간단한 부하(예; 램프)를 바로 연결하여 그 테스트가 이루어지도록 하여 주변회로를 최대한 단순화시킴은 물론, 종래와 같이 릴레이회로의 설계에 따른 인건비 및 작업시간이 많이 소요되는 문제를 개선하고, 아울러 릴레이 회로의 탑재에 따른 제어기의 패널 크기 상승으로 초래되는 설비 공간이 과다하게 소요되는 단점을 개선할 수 있도록 하는 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어 시스템을 제공하려는데 그 목적이 있는 것이다. Therefore, the present invention has been devised to solve the conventional problems as described above, and the present invention, through the one controller that can change the arbitrary channel selectively the state signal (alarm signal) and alarm signal (alarm signal) of the lamp By configuring a lamp test control system for local control to test, it is possible to connect a simple load (e.g. lamp) directly without any additional circuit so that the test can be made, and to simplify the peripheral circuit as much as possible. Lamp test for local control to improve the labor cost and time-consuming problem according to design, and to improve the disadvantage of excessive facility space caused by the increase of panel size of controller by mounting relay circuit The aim is to provide a control system.
상기 목적 달성을 위한 본 고안 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어시스템은,The lamp test control system for local design of the present invention for achieving the above object,
램프 테스트를 위한 신호 입력부와, 상기 신호 입력부의 입력신호에 따라 램프 테스트의 실행을 제어하는 중앙처리부, 및 상기 중앙처리부의 제어로부터 램프 테스트를 위한 신호를 출력하는 신호 출력부로 구성함을 특징으로 한다.And a signal input unit for controlling a lamp test according to an input signal of the signal input unit, and a signal output unit for outputting a signal for a lamp test from the control of the central processing unit. .
본 고안의 다른 일면에 따라, 상기 신호 입력부는, 램프 테스트 구동을 위한 조작신호 입력부, 테스트를 위한 램프 연결용의 보드 확장부, 램프의 상태신호와 경보신호를 테스트할 수 있는 모드를 설정하는 상태/알람 변환신호 입력부, 상기 상태/알람 변환신호 입력부로부터 테스트 모드 설정시 램프의 상태신호 또는 경보신호를 테스트할 수 있는 디지털신호를 입력하는 디지털신호 입력부를 포함하여 구성함을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, the signal input unit, the operation signal input unit for driving the lamp test, the board expansion unit for connecting the lamp for the test, a state for setting the mode to test the status signal and alarm signal of the lamp And a digital signal input unit for inputting a digital signal capable of testing a status signal or an alarm signal of a lamp when the test mode is set from the alarm conversion signal input unit and the state / alarm conversion signal input unit.
본 고안의 또 다른 일면에 따라, 상기 신호 출력부는, 중앙처리부의 제어신호로부터 램프 테스트를 위한 신호를 출력하는 디지털신호 출력부, 상기 중앙처리부의 제어신호로부터 램프의 경보신호를 출력하는 경보신호 출력부, 및 상기 중앙처리부의 제어신호로부터 램프의 상태신호를 표시하는 상태신호 표시부로 구성함을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, the signal output unit, a digital signal output unit for outputting a signal for the lamp test from the control signal of the central processing unit, an alarm signal output for outputting the alarm signal of the lamp from the control signal of the central processing unit And a state signal display unit for displaying the state signal of the lamp from the control signal of the central processing unit.
이하, 첨부된 도면에 의해 본 고안의 바람직한 일실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention by the accompanying drawings as follows.
도 1은 본 고안의 일실시예로 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어 시스템에 대한 블럭도이다.1 is a block diagram of a lamp test control system for local control according to an embodiment of the present invention.
도 1에 도시된 바와같이, 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어 시스템은 신호 입력부(100), 중앙처리부(200), 신호 출력부(300), 전원부(400)로 구성된다.As shown in FIG. 1, the lamp test control system for local control includes a signal input unit 100, a central processing unit 200, a signal output unit 300, and a power supply unit 400.
상기 신호 입력부(100)는 램프 테스트를 위한 신호를 중앙처리부(200)로 입력하는 것으로, 조작신호 입력부(11), 보드 확장부(12), 상태/알람 변환신호 입력부(13), 디지털신호 입력부(14)를 포함한다.The signal input unit 100 inputs a signal for a lamp test to the central processing unit 200, and includes a manipulation signal input unit 11, a board expansion unit 12, a status / alarm conversion signal input unit 13, and a digital signal input unit. (14).
이때 상기 조작신호 입력부(11)는 램프 테스트의 구동신호를 중앙처리부(200)로 입력함은 물론, 전원부(400)의 전원이 공급되도록 한다.In this case, the manipulation signal input unit 11 inputs the driving signal of the lamp test to the central processing unit 200 and also supplies power to the power supply unit 400.
상기 보드 확장부(12)는 테스트용 램프의 확장이 가능하도록 하는 보드 연결용의 인터페이스이다.The board expansion unit 12 is an interface for board connection to enable expansion of the test lamp.
상기 상태/알람 변환신호 입력부(13)는 램프의 상태신호와 경보신호를 테스트하기 위한 변환스위칭부로, 이는 하나의 제어기를 통해 램프의 상태신호를 테스트할 수 있음은 물론, 램프의 경보신호를 동시에 테스트할 수 있도록 중앙처리부(200)로 통보하는 것이다.The state / alarm conversion signal input unit 13 is a conversion switching unit for testing the state signal and the alarm signal of the lamp, which can test the state signal of the lamp through one controller as well as simultaneously display the alarm signal of the lamp. Notify the central processing unit 200 to be tested.
상기 디지털신호 입력부(14)는 상태/알람 변환신호 입력부(13)로부터 테스트 모드 설정이 이루어질 때 그 모드에 따른 램프의 상태신호 또는 경보신호를 테스트하기 위한 디지털신호를 중앙처리부(200)로 입력한다.When the test mode is set from the state / alarm conversion signal input unit 13, the digital signal input unit 14 inputs a digital signal for testing a state signal or an alarm signal of a lamp according to the mode to the central processing unit 200. .
상기 중앙처리부(200)는 신호 입력부(100)의 각 구성요소로부터 출력되는 신호를 토대로 신호 출력부(300)를 제어하기 위한 램프 테스트의 실행 제어신호를 출력하도록 구성된다.The central processing unit 200 is configured to output an execution control signal of a ramp test for controlling the signal output unit 300 based on a signal output from each component of the signal input unit 100.
상기 신호 출력부(300)는 중앙처리부(200)의 제어신호로부터 램프 테스트를 위한 신호를 출력하는 것으로, 디지털신호 출력부(21), 경보신호 출력부(22), 상태신호 표시부(23)를 포함한다.The signal output unit 300 outputs a signal for a lamp test from the control signal of the central processing unit 200. The signal output unit 300 includes a digital signal output unit 21, an alarm signal output unit 22, and a status signal display unit 23. Include.
상기 디지털신호 출력부(21)는 중앙처리부(200)의 제어시 디지털신호 입력부(14)에서 입력한 디지털신호를 테스트할 램프로 출력하기 위한 것이다.The digital signal output unit 21 is for outputting the digital signal input from the digital signal input unit 14 to the lamp to be tested when the central processing unit 200 controls it.
상기 경보신호 출력부(22)는 상기 디지털신호 출력부(21)로부터 경보신호 테스트용 디지털신호가 출력될 때 램프의 경보신호를 출력하는 것이고, 상기 상태신호 표시부(23)는 디지털신호 출력부(21)로부터 상태신호 테스트용 디지털신호가 출력될 때 램프의 상태를 표시하도록 구성된다.The alarm signal output unit 22 outputs an alarm signal of a lamp when an alarm signal test digital signal is output from the digital signal output unit 21, and the status signal display unit 23 outputs a digital signal output unit ( And a status of the lamp when the digital signal for status signal test is outputted.
여기서, 도 2는 본 고안의 일실시예로 로컬 컨트롤용 램프 테스트 흐름도를 도시한 것이다.2 is a flowchart illustrating a lamp test for local control according to an embodiment of the present invention.
이와같이 구성된 본 고안의 일실시예에 대한 작용을 첨부된 도 1 및 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Referring to Figures 1 and 2 attached to the operation of one embodiment of the present invention configured as described above are as follows.
먼저, 신호 입력부(100)내의 보드 확장부(12)에 테스트할 램프를 연결시킨 상태에서 조작신호 입력부(11)를 통해 시스템의 각 구성요소로 전원부(400)의 전원을 공급함은 물론, 램프 테스트의 구동신호를 중앙처리부(200)로 출력한다.First, while the lamp to be tested is connected to the board expansion unit 12 in the signal input unit 100, the power supply unit 400 supplies power to each component of the system through the operation signal input unit 11, as well as the lamp test. The driving signal of the output to the central processing unit 200.
이후, 상기 신호 입력부(100)내의 상태/알람 변환신호 입력부(13)를 통해 램프의 테스트 모드 즉, 상태신호를 테스트할 것인지, 아니면 경보신호를 테스트할 것인지를 모드 선택할 수 있게 된다.Thereafter, the mode / alarm conversion signal input unit 13 in the signal input unit 100 may select a test mode of the lamp, that is, whether to test a state signal or an alarm signal.
이때, 사용자가 상태/알람 변환신호 입력부(13)를 통해 램프의 경보신호 테스트를 위한 모드를 설정하는 경우, 사용자는 먼저 디지털신호 입력부(14)를 통해 경보신호 테스트를 위한 디지털신호를 중앙처리부(200)로 입력한다.At this time, when the user sets the mode for the alarm signal test of the lamp through the state / alarm conversion signal input unit 13, the user first through the digital signal input unit 14, the digital signal for the alarm signal test through the central processing unit ( 200).
그러면, 상기 중앙처리부(200)는 입력되는 경보신호 테스트의 디지털신호에 따라 신호 출력부(300)내의 디지털신호 출력부(21)를 제어하게 되는 바, 상기 디지털신호 출력부(21)는 램프의 경보신호를 테스트하기 위한 디지털신호를 출력하게 된다.Then, the central processing unit 200 is to control the digital signal output unit 21 in the signal output unit 300 according to the digital signal of the alarm signal test input, the digital signal output unit 21 of the lamp The digital signal for testing the alarm signal is output.
이때, 상기 신호 출력부(300)내의 경보신호 출력부(22)는 정상적인 경우 램프의 경보신호를 테스트하기 위한 부저음을 출력하지만, 오류인 경우에는 부저음을 출력하지 못하게 되는 것이다.At this time, the alarm signal output unit 22 in the signal output unit 300 outputs a buzzer sound for testing an alarm signal of a lamp in a normal case, but fails to output a buzzer sound in case of an error.
한편, 사용자가 상태/알람 변환신호 입력부(13)를 통해 램프의 상태신호 테스트를 위한 모드를 설정하는 경우, 사용자는 먼저 디지털신호 입력부(14)를 통해 상태신호 테스트를 위한 디지털신호를 중앙처리부(200)로 입력한다.On the other hand, when the user sets the mode for the state signal test of the lamp through the state / alarm conversion signal input unit 13, the user first through the digital signal input unit 14, the digital signal for the state signal test through the central processing unit ( 200).
그러면, 상기 중앙처리부(200)는 입력되는 상태신호 테스트의 디지털신호에 따라 신호 출력부(300)내의 디지털신호 출력부(21)를 제어하게 되는 바, 상기 디지털신호 출력부(21)는 램프의 상태신호를 테스트하기 위한 디지털신호를 출력하게 된다.Then, the central processing unit 200 controls the digital signal output unit 21 in the signal output unit 300 according to the input digital signal of the state signal test, and the digital signal output unit 21 is the lamp of the lamp. A digital signal for testing the status signal is output.
이때, 상기 신호 출력부(300)내의 상태신호 출력부(23)는 램프의 상태가 정상적인지 아니면 비정상적인지를 표시하게 되는 것이다.At this time, the state signal output unit 23 in the signal output unit 300 is to indicate whether the state of the lamp is normal or abnormal.
이상에서 설명한 바와같이 본 고안은 임의 채널 변경이 가능한 하나의 제어기를 통해 램프의 상태신호와 경보신호를 선택적으로 테스트하는 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어시스템을 구성함으로써, 별도의 부가회로없이 간단한 부하를 바로 연결하여 그 테스트가 이루어지도록 하여 주변회로를 최대한 단순화시킴은 물론, 종래와 같이 릴레이회로의 설계에 따른 인건비 및 작업시간이 많이 소요되는 문제를 개선하고, 아울러 릴레이 회로의 탑재에 따른 제어기의 패널 크기 상승으로 초래되는 설비 공간이 과다하게 소요되는 단점을 개선하는 효과를 제공한다. As described above, the present invention configures a lamp test control system for local control to selectively test the status signal and the alarm signal of the lamp through one controller that can change an arbitrary channel, thereby providing a simple load without additional circuitry. By simplifying the peripheral circuit as much as possible by connecting the test and improving the labor cost and work time according to the design of the relay circuit, as well as the conventional panel size of the controller according to the mounting of the relay circuit It provides the effect of improving the disadvantage of excessively occupying the installation space resulting from the rise.
도 1은 본 고안의 일실시예로 로컬 컨트롤용 램프 테스트 제어 시스템에 대한 블럭도.1 is a block diagram of a lamp test control system for local control in one embodiment of the present invention;
도 2는 본 고안의 일실시예로 로컬 컨트롤용 램프 테스트 흐름도.2 is a lamp test flowchart for local control in one embodiment of the present invention;
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
11: 조작신호 입력부, 12: 보드 확장부,11: operation signal input, 12: board extension,
13: 상태/알람 변환신호 입력부, 14: 디지털신호 입력부,13: status / alarm conversion signal input, 14: digital signal input,
21: 디지털신호 출력부, 22: 경보신호 출력부,21: digital signal output unit, 22: alarm signal output unit,
23: 상태신호 표시부, 100: 신호 입력부,23: status signal display section, 100: signal input section,
200: 중앙처리부, 300: 신호 출력부200: central processing unit, 300: signal output unit
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20-2005-0000627U KR200380799Y1 (en) | 2005-01-10 | 2005-01-10 | lamp test control system for local control device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20-2005-0000627U KR200380799Y1 (en) | 2005-01-10 | 2005-01-10 | lamp test control system for local control device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR200380799Y1 true KR200380799Y1 (en) | 2005-04-07 |
Family
ID=43682407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR20-2005-0000627U KR200380799Y1 (en) | 2005-01-10 | 2005-01-10 | lamp test control system for local control device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200380799Y1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100721411B1 (en) * | 2006-06-15 | 2007-05-23 | (주)에코션 | Cup holder |
-
2005
- 2005-01-10 KR KR20-2005-0000627U patent/KR200380799Y1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100721411B1 (en) * | 2006-06-15 | 2007-05-23 | (주)에코션 | Cup holder |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20120290858A1 (en) | Power Control for PXI Express Controller | |
| WO2007049210A3 (en) | Analog ic having test arrangement and test method for such an ic | |
| KR200380799Y1 (en) | lamp test control system for local control device | |
| JP5288541B2 (en) | Welding power source | |
| KR101058088B1 (en) | Testing apparatus of display module | |
| JP2005191522A (en) | Voltage supply parameter measurement device in wafer burn-in system | |
| KR100632711B1 (en) | Motor control system | |
| JP5423243B2 (en) | FA system and its setting display device | |
| JP2018191463A (en) | Testing device of distribution board | |
| US7058842B2 (en) | Microcontroller with multiple function blocks and clock signal control | |
| KR101690016B1 (en) | Installation for examinating programmable logic controller | |
| JP5029073B2 (en) | Semiconductor device and method for testing semiconductor device | |
| JPH10123204A (en) | Dc parallel measuring circuit | |
| CN210575025U (en) | Power supply circuit of display panel | |
| KR100475576B1 (en) | Computer system and method of controlling the same | |
| KR20060040872A (en) | Selection and control device for microphone | |
| US10120362B2 (en) | Output adjustment device of analog output module | |
| KR200374941Y1 (en) | Selection and Control Device for Microphone | |
| KR20110133957A (en) | The method of reset for micro process | |
| KR100835466B1 (en) | Structure for increasing the functions of pin electronics | |
| JP5583742B2 (en) | Signal switching device | |
| KR200269695Y1 (en) | Apparatus for controlling a universal signal input/output | |
| KR19990020318A (en) | Display unit control and method in wireless communication system | |
| KR101415045B1 (en) | Electronic system having multi switch and operation recognition method of the multi switch | |
| CN116879654A (en) | Aging system, method and storage medium |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| REGI | Registration of establishment | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20060323 Year of fee payment: 3 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |