KR20030097630A - 광 기록 캐리어의 정보층에 마크들을 기록하는 방법 및 장치 - Google Patents

광 기록 캐리어의 정보층에 마크들을 기록하는 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 상 변화 타입 캐리어에서 마크들을 기록하는 방법 및 기록 장치에 관한 것이다. 일반적으로, nT 마크들은 (n-2) 또는 (n-1) 기입 펄스들(도 1b)의 시퀀스에 의해 기록된다. 느린 냉각 스택들에서, 이것은 낮은 품질의 마크들을 초래한다. 본 발명은 m개의 기입 펄스들을 적용함으로서 기입 펄스들의 시퀀스에서의 펄스들 사이에서 냉각 기간을 증가시키는 것을 제시하고, 여기서 m은 n/α(α는 1보다 큰 정수)에 의존한다. 실시예에서, 기입 펄스들 m의 수는 n/α에 가장 가까운 정수값이다. 양호한 실시예에서, α는 3으로 세팅된다.

Description

광 기록 캐리어의 정보층에 마크들을 기록하는 방법 및 장치{Method and device for recording marks in an information layer of an optical record carrier}
결정 상 및 비정질 상 사이에서 역으로 변화가능한 상을 갖는 정보층은 일반적으로, 상 변화층(phase-change layer)으로 공지되어 있다. 광 신호들의 기록 동작은 이러한 층에서의 기록 재료가 방사빔의 조사 조건들을 변화시킴으로서 비정질상 및 결정 상 사이에서 역으로 상 변화되는 방법과 같이 실행되어 그에 의해 상 변화층에 신호들을 기록하기 위한 것인 반면에, 기록된 신호들의 플레이백 동작(playback operation)은 상 변화층의 비정질 및 결정 상들 사이에서 광 성질들에서의 차이들을 검출함으로서 실행되어 그에 의해 기록된 신호들을 산출하기 위한 것이다. 그러한 상 변화층은 기입 파워 레벨 및 삭제 파워 레벨 사이에서 방사빔의 파워를 변조함으로서 기록되고 삭제될 정보를 허용한다.
기록 캐리어의 상 변화층에 정보를 기록하는 서두부에 따른 방법은 미국 특허 5,412,626로부터 예로서 공지되어 있다. nT 마크는 기입 파워 레벨을 갖는 n-2 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록된다. 기록될 마크들 사이의 이전 기록된 마크들은 시퀀스들 사이에서의 삭제 파워를 적용하여 상기 방법이 직접 기록(DOW: direct-overwrite) 모드에서 사용되도록 허용함으로서, 즉 기록 캐리어의 정보층에 기록되도록 정보를 기록하고, 동시에 정보층에 이전에 기록된 정보를 삭제하도록 함으로서 삭제된다.
미국 특허 5,732,062에는 서두부에 따른 대안적 방법이 기재되어 있다. 여기서 nT 마크는 n-1 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록된다. 이전 또는 기록될 다음의 마크의 기록동안 누적된 열에 대해 보상하기 위해, 펄스들의 시퀀스에서의 첫번째 또는 마지막 기입 펄스의 기입 파워 레벨은 그 시퀀스에 남아있는 기입 펄스들의 파워 레벨보다 높다. 열 누적은 기록된 마크들의 왜곡을 야기시킨다.
2개의 인수에 의한 상기 기록 캐리어의 용량의 증가는 제 2 정보층을 삽임함으로써 쉽게 달성될 수 있다. 두 정보층들에 액세스할 수 있도록, 방출 소스에 더가까운 층이 양호하게는, 완벽하게 또는 부분적으로 투명해야 한다. 그러한 투명한 정보층은 정보층의 스택 디자인의 변화를 필요로 한다. 상 변화 타입의 정보층의 표준 스택은 금속 미러층(metal mirror layer), 유전 간섭층들(dielectric interference layers), 및 상 변화층으로 구성된다. 그러나, 그러한 스택을 갖는 정보층은 금속 미러층 때문에 투명하지 않다. 그러므로, 이러한 금속 미러층은 스택으로부터 제거되야 한다.
그러나, 정보층의 스택으로부터 금속 미러층을 생략하는 것은 공지된 방법들이 이러한 마크들을 기록하기 위해 사용될 때 낮은 품질의 마크들을 나타내는 것으로 관찰된다. 이러한 마크들은, 예를 들어 감소된 마크 길이를 갖는다. 또한, 이러한 마크들은 플레이백 동안에 재생되어 기록된 신호들의 감소된 변조를 나타내는 것으로 관찰된다(상기 변조에는 마크를 갖는 정보층상의 영역에서 발생한 신호들의 진폭에서 마크를 갖지 않는 정보층상의 영역에서 발생한 신호의 진폭까지 차이점이 존재한다).
본 발명은 기록 캐리어에 nT의 시간 길이를 갖는 마크들을 기록하는 방법에 관한 것으로서, 상기 기록 캐리어는 펄스화된 방사빔(pulsed radiation beam)에 의해 정보층을 조사(irradiation)함으로서 결정 상(crystal phase) 및 비정질 상(amorphous phase) 사이에서 역으로 변화가능한 상을 갖는 상기 정보층을 포함하고, 각 마크는 m개의 펄스들의 시퀀스에 의해 기입되고, n은 1보다 큰 정수를 나타내고, T는 기준 클럭의 하나의 기간의 길이를 나타내며, m은 1보다 크거나 같고 n보다 작거나 같은 정수를 나타낸다.
본 발명은 또한, 기록 캐리어에 마크들을 기록하는 기록 장치에 관한 것으로서, 상기 기록 캐리어는 상기 방법을 실행할 수 있는, 결정 상 및 비정질 상 사이에서 역으로 변화가능한 상을 갖는 정보층을 포함한다.
도 1은 6T 마크를 기록하는 본 발명에 따른 방법 및 공지된 방법을 도시한 도면.
도 2는 2T로부터 8T까지의 시간 길이를 갖는 마크들을 기록하는 본 발명에 따른 방법을 도시한 도면.
본 발명의 목적은 서두에서 기술된 종류의 마크들의 기록 방법을 제공하는 것으로서, 상기 방법은 양호한 품질의 기록된 마크들을 나타낸다(즉, 기록된 정보를 재생하기 위해 충분한 변조를 갖는 플레이백 동안 재생되어 기록된 신호들을 나타내고 마크 길이를 정정한다).
이러한 목적은 서두부의 방법이 n/α에 의존하여 m이 세트되는 것을 특징을 할 때 달성되고, α은 1보다 큰 정수이다.
정보층의 스택으로부터 금속 미러층을 생략하는 것이 정보층의 광 동작에 대한 시퀀스들을 갖을 뿐만 아니라 명백히 그것의 온도 특성들에 대한 시퀀스들도 갖는다는 것이 관찰되었다. 금속은 간섭층들 및 상 변화층 보다 훨씬 높은 열 전도성을 갖는다. 이러한 금속 미러층의 열 전도성은 비정질 마크들의 실제 기입 프로세스에 대해 이점들로 나타난다. 기입 프로세스 동안, 상 변화 재료는 기입 펄스에 의해 섭씨 수백도까지 가열된다. 그 후에, 상 변화 재료는 용해된(즉, 비정질의) 재료의 재결정화를 방지하도록 급속히 냉각된다. 성공적인 이러한 프로세스를 위해서, 냉각 시간이 재결정화 시간보다 짧을 필요가 있다. 금속 미러층의 큰 열 전도성 및 열 용량은 용해된 상 변화 재료로부터 급속히 열을 제거한다. 그러나, 그러한 냉각 금속 미러층의 감소된 양을 갖거나 갖지 않는 (반)투명 정보층에 있어서, 냉각 시간은 재결정화하기 위한 상 변화 재료 시간 공급을 더 길게하는 것으로 보여진다. 이것은 낮은 품질의 마크들을 나타낸다.
본 발명에 따른 방법은 기입 펄스들의 시퀀스에서 2개의 연속적인 기입 펄스들 사이에 보다 긴 냉각 기간을 허용한다. 이러한 증가된 냉각 기간은 양호한 품질을 갖는 마크들을 나타낸다.
공지된 방법들을 통해, nT의 시간 길이를 갖는 마크는 n-2 또는 n-1 기입 펄스들을 포함하는 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록된다. 특히 보다 긴 마크들에 대해서, 이것은 다수의 기입 펄스들을 나타내어, 결과적으로 기입 펄스들 사이에서 냉각시키기 위한 충분한 가능성이 없는 상 변화층에서의 누적된 대량의 열을 나타낸다. 그러나, 기입 펄스들의 수(m)가 n/α(m ≥1)에 가장 가까운 가장 가까운 정수와 같게 세팅되는 본 발명에 따른 실시예에 있어서, 기입 펄스들의 수는 기입 펄스들 사이에서의 냉각 기간의 현저한 증가를 나타내며 감소된다.
본 발명의 추가적이 실시예에 있어서, 기입 펄스들의 수(m)는 n/α(m ≥1) 보다 크거나 같은 가장 가까운 정수와 같다.
양호한 결과들은 2의 값에 α를 세팅함으로서 얻어진다. 추가적인 향상은 기입 펄스들의 시퀀스에서의 기입 펄스들 사이에서 보다 긴 냉각 간격들을 나타내는 α가 3의 값에 세팅되는 본 발명에 따른 방법의 양호한 실시예에서 얻어진다. 상기 방법의 이러한 실시예에서, 6T 마크들은 공지된 방법들에서 시퀀스가 4(n-2) 또는 5(n-1) 기입 펄스들을 포함할 수 있는 반면, 단지 2개의 기입 펄스들을 포함하는 기입 펄스들의 시퀀스를 사용하여 기록된다.
nT 마크들이, m은 n/α보다 크거나 같은 가장 가까운 정수로써, m개의 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록될 때, 서로 다른 마크 길이인 α는 기입 펄스들의 시퀀스에서 기입 펄스들의 동일한 수에 의해 기록된다. 예를 들어, α가 3으로 세팅될 때, 4T, 5T, 및 6T 마크들은 2개의 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 모두 기록된다. 이러한 이유로, 기입 펄스들의 추가적인 양호한 튜닝이 요구될 수 있다. 본 발명에 따른 방법의 실시예에 있어서, 시퀀스에서 기입 펄스들의 적어도 하나의 포지션은 n에 의존하여 세팅된다. 본 발명에 따른 방법의 부가의 실시예에서는 기입 펄스들의 적어도 하나의 파워가 n에 의존하여 세팅된다. 본 발명에 따른 방법의 추가적 실시예에서, 기입 펄스들의 적어도 하나의 지속 기간은 n에 의존하여 세팅된다.
n에 의존하는 상술된 파라미터들(즉, 펄스 위치, 펄스 파워, 펄스 지속 기간)의 조정은 단일 파라미터에만 또는 이러한 파라미터들의 임의의 조합에 적용될 수 있다. 또한, 이러한 파라미터들은 기입 펄스들의 시퀀스에서의 단일 펄스들에 대해, 또는 대안적으로 펄스들의 시퀀스에서 여러 펄스들에 대해 조정될 수 있다.
피크 기입 파워 레벨이 제한될 때(방사 소스, 또는 기록 캐리어에 의해 부과된 제한들 때문에), 보다 긴 기입 펄스를 얻기 위해 펄스 지속 기간을 조정하여 전체 기입 파워를 증가시키는 것이 특히 유리하다. 보다 긴 펄스 지속 기간을 사용하는 능력은 일반적으로, 보다 낮은 방사 파워들의 사용을 허용한다.
본 발명에 따른 방법이 냉각 시간이 중요한 상 변화 타입의 다중 정보층들 또는 단일 정보층을 포함하는 기록 캐리어를 사용하는 임의의 고속 광 기록 시스템에서 유리하게 사용될 수 있다는 사실에 주목된다. 본 발명에 따른 방법에 의해 소개된 바와 같이, 보다 긴 냉각 기간은 보다 긴 냉각 기간을 허용한다.
본 발명의 부가의 목적은 본 발명에 따른 방법을 실행하는 기록 장치를 제공하는 것이다.
이러한 목적은 서두부의 기록 장치가 본 발명에 따른 방법들의 어떠한 것도 실행하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 할 때, 달성된다.
본 발명의 이러한 목적들 및 다른 목적들, 특징들, 및 이점들은 첨부된 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예의 상세한 설명을 통해 명백해진다.
도 1은 '하이(high)' 부분(11) 및 '로우(low)' 부분(12)을 갖는 기준 클럭의 클럭 신호(10)를 도시한 도면이다. 하나의 '하이' 부분 및 하나의 '로우' 부분의 조합은 이러한 기준 클럭의 하나의 기간 T를 함께 형성한다. 도 1b는 기록 캐리어의 정보층에 기록될 신호(20)를 도시한 도면이다. 이러한 신호(20)에서 '하이' 부분(21)은 이러한 '하이' 부분의 지속 기간에 대응하는 길이를 갖는 마크로서 정보층에 기록된다. 마크들의 길이는 종종, 대응하는 기준 클럭 기간들 T의 수로 표현된다. 이러한 예에 있어서, 기록될 마크의 길이, 즉 신호(20)의 '하이' 부분(21)의 길이는 6T이다.
기록될 신호(20)는 결정 상 및 비정질 상 사이에 역으로 변화가능한 상을 갖는 정보층에 방사빔을 조사함으로서 기록된다. 방사빔은 제어 신호(30, 40)에 의해 제어되는 방사 소스에 의해 생성된다. 이러한 제어 신호의 파워 레벨은 방사 소스에 의해 조사된 방사빔의 파워에 대응한다. 도 1c는 종래 기술로부터 공지된 방법에 적용된 펄스화된 제어 신호(30)를 도시한다. 6T 마크를 기록할 때, 이러한 제어 신호(30)에서 기입 펄스들의 시퀀스는 기입 파워 레벨(31)을 갖는 5개(즉, n-1)의 기입 펄스들(35)을 포함한다. 기입 펄스들의 시퀀스에서의 기입 펄스들(35) 사이에는 냉각 기간들(36)이 존재한다. 기입 펄스들의 시퀀스 전후에, 제어 신호(30)는 이전 기록된 마크들을 지우기 위해 충분한 삭제 파워 레벨(33)을 갖는다.
도 1d는 α가 3으로 세팅되는 본 발명에 따른 방법에 적용된 펄스화된 제어 신호(40)를 도시한다. 6T 마크를 기록할 때, 이러한 제어 신호(40)에서 기입 펄스들의 시퀀스는 기입 파워 레벨(41)을 갖는 2개(즉, n/3)의 기입 펄스들(45)만을 포함한다. 기입 펄스들의 이러한 시퀀스에서 기입 펄스들(41) 사이에는 냉각 기간들(46)이 존재한다. 이러한 냉각 기간들(46)의 지속 기간은 기록될 마크의 길이가 동일하게 남아있는 동안 냉각 기간들(36)에 대해 현저히 증가된다. 이러한 증가된 냉각 기간들 때문에, 재결정화는 발생하지 않고 실제 기록된 마크들의 길이는 희망된 길이(즉, 6T)에 매우 잘 대응한다. 종래 기술로부터 공지된 방법을 적용할 때[즉, 제어 신호(30)], 상 변화층에서의 열의 누적은 재결정화 효과를 나타내고, 그 결과 6T의 희망된 길이 보다 현저하게 짧은 실제 기록된 마크를 나타낼 것이다.
도 2는 α가 3으로 세트되는 본 발명에 따른 방법을 적용한 2T에서 8T까지의 길이를 갖는 마크들을 기록하는 제어 신호들(401 내지 407)을 도시한다. α가 3에 세팅되기 때문에, 2T 및 3T 마크는 2개의 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록된다; 4T, 5T, 및 6T 마크는 3개의 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록된다; 그리고, 7T 및 8T 마크는 3개의 기입 펄스들의 시퀀스에 의해 기록된다. n에 의존하는 부가의 양호한 튜닝이 적용된다: 기입 펄스들(431, 461, 481)은 기입 펄스(452)가 증가된 기입 파워 레벨(455)을 갖는 동안 확장된 지속 기간을 갖는다.
상술된 실시예가 본 발명을 제한하기 보다는 본 기술의 숙련자들이 첨부된 특허 청구의 범위로부터 벗어나지 않고 대안들을 디자인할 수 있다는 것을 예시한다는 사실에 주목해야 한다. 특히, 본 발명이 다중층 기록 캐리어들을 통한 사용에만 제한되지 않는다는 사실에 주목해야 한다. 앞에서 기술된 바와 같이, 본 발명은 또한, 고속 기록 시스템들에 적용될 때 특히 유리하다.

Claims (7)

  1. 기록 캐리어에서 nT의 시간 길이를 갖는 마크들을 기록하는 방법으로서, n은 1보다 큰 정수이고 T는 기준 클럭의 하나의 기간의 길이를 나타내고, 상기 기록 캐리어는 펄스화된 방사빔(pulsed radiation beam)에 의해 정보층을 조사(irradiating)함으로서 결정 상(crystal phase) 및 비정질 상(amorphous phase) 사이에서 역으로 변화가능한 상을 갖는 상기 정보층을 포함하고, 각 마크는 m개의 펄스들의 시퀀스에 의해 기입되며, m은 1보다 크거나 같고 n보다 작거나 같은 정수를 나타내는, 상기 기록 방법에 있어서,
    m이 n/α에 의존하여 세팅되고, α가 1보다 큰 정수인 것을 특징으로 하는 기록 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    m이 n/α보다 크거나 같은 가장 가까운 정수로 세팅되는 것을 특징으로 하는 기록 방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    α가 3으로 세팅되는 것을 특징으로 하는 기록 방법.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    펄스들의 시퀀스에서 적어도 하나의 펄스의 위치가 n에 의존하여 세팅되는 것을 특징으로 하는 기록 방법.
  5. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    펄스들의 시퀀스에서 적어도 하나의 펄스의 파워가 n에 의존하여 세팅되는 것을 특징으로 하는 기록 방법.
  6. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    펄스들의 시퀀스에서 적어도 하나의 펄스의 지속 시간이 n에 의존하여 세팅되는 것을 특징으로 하는 기록 방법.
  7. 기록 캐리어에서 nT의 시간 길이를 갖는 마크들을 기록하는 기록 장치로서, n은 1보다 큰 정수이고 T는 기준 클럭의 하나의 기간의 길이를 나타내고, 상기 기록 캐리어는 펄스화된 방사빔에 의해 정보층을 조사함으로서 결정 상 및 비정질 상 사이에서 역으로 변화가능한 상을 갖는 상기 정보층을 포함하고, 각 마크는 m개의 펄스들의 시퀀스들에 의해 기입되며, m은 1보다 크거나 같고 n보다 작거나 같은 정수를 나타내는, 상기 기록 장치에 있어서,
    청구항 1 내지 청구항 6에 따른 방법들의 어느 한 항을 실행하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 장치.
KR1020027017691A 2001-04-26 2002-04-22 광 기록 캐리어의 정보층에 마크들을 기록하는 방법 및 장치 KR100882147B1 (ko)

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