KR20030095127A

KR20030095127A - Ｌｃｄ모듈의 백라이트 시험장치 및 방법

Info

Publication number: KR20030095127A
Application number: KR1020020032658A
Authority: KR
Inventors: 박재규
Original assignee: (주)동아엘텍
Priority date: 2002-06-11
Filing date: 2002-06-11
Publication date: 2003-12-18
Also published as: KR100499065B1

Abstract

본 발명은 액정디스플레이 모듈(LCM: Liquid Crystal Dispaly Module)의 시험장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 LCD모듈 생산공정에서 LCM 백라이트의 특성도 시험할 수 있는 백라이트 시험기능이 구비된 LCD모듈의 시험장치 및 시험방법에 관한 것이다.

이러한 본 발명의 장치는 호스트 컴퓨터로부터 전달된 구동신호에 따라 파레트에 탑재된 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 LCD모듈시험시스템에 있어서, 상기 파레트가 외부 구동신호를 접속하기 위한 구동신호 접속부와 구동신호를 인가하기 위한 구동제어부, 인버터를 제어하기 위한 인버터 제어부, LCD모듈과 인버터측으로 공급할 전원을 발생하는 전원발생부로 이루어진 시험보드와, LCD 모듈의 백라이트 램프에 전원을 인가하기 위한 인버터보드와, 시험결과 상태를 표시하기 위한 상태표시보드로 이루어진다.

따라서, 본 발명에 따르면 6개 등까지의 LCD 모듈의 백라이트 특성을 시험할 수 있으므로 보다 정확한 시험을 가능하게 한다.

Description

ＬＣＤ모듈의 백라이트 시험장치 및 방법{Apparatus and method of testing backlight lamps of ＬＣＤ Module}

일반적으로, LCD 모듈(LCM)은 기판과 기판 사이에 액정이 주입된 패널과, 패널을 구동시키기 위한 구동부, 백라이트(backlight:B/L) 등을 포함하여 구성되는 디스플레이 소자로서, 노트북 PC와 TV, 모니터 등에 널리 사용된다.

이러한 LCD 모듈은 정밀한 반도체 기술을 바탕으로 제작되며, 무수히 많은 소자들을 포함하고 있는 복잡한 시스템이기 때문에 제조과정에서 정밀한 시험을 필요로 한다. 특히, LCD 생산 라인에서는 시험의 효율성을 향상시키기 위해서 생산된 LCD모듈을 싣고 생산라인을 따라 이동하면서 탑재된 LCD 모듈에 대해 다양한 시험을 수행할 수 있는 파레트가 사용된다. 통상, LCD모듈을 시험하기 위해서는 LCD를 동작시키기 위한 전원(Vdd1/Vdd2, data level, B/L 등)과 픽셀들을 구동하기 위한 구동신호(Vsync, Hsync, CLK, RGB 데이터 등)를 필요로 하는데, 시험을 위한 파레트는 이러한 신호들을 제공해야 한다.

그런데 종래의 파레트는 LCD 모듈의 백라이트를 시험하는 기능이 미비하여 충분한 시험이 이루어지지 못한 문제점이 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, LCD모듈의 백라이트 성능을 시험할 수 있는 백라이트 시험기능이 구비된 LCD모듈의 시험장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

도 1은 본 발명이 적용되는 LCD모듈 시험시스템의 개략도,

도 2는 본 발명에 따른 시험 시스템의 구성을 도시한 블럭도,

도 3은 본 발명에 따른 시험절차를 도시한 순서도,

도 4는 본 발명에 따른 백라이트 시험 구성의 상세도,

도 5는 본 발명에 따른 백라이트 시험 절차를 도시한 순서도,

도 6은 본 발명에 따른 시험의 메인 화면,

도 7은 본 발명에 따른 시스템 정보 화면,

도 8은 본 발명에 따른 LCM정보 화면.

☞도면의 주요부분에 대한 부호의 설명☜

202: PLC204: 바코드 리더

206: ID카드 리더208: 정합부

210: 시험용 컴퓨터220: 파레트

230: LCD시험보드231: 외부 LCM구동신호 접속부

232: 구동제어부233: VBL전원발생부

234: 인버터 제어부240: 인버터 보드

242-1~242-6: 인버터250: 상태표시보드

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 장치는 호스트 컴퓨터로부터 전달된 구동신호에 따라 파레트에 탑재된 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 LCD모듈시험시스템에 있어서, 상기 파레트가

외부 구동신호를 접속하기 위한 구동신호 접속부와 구동신호를 인가하기 위한 구동제어부, 인버터를 제어하기 위한 인버터 제어부, LCD모듈과 인버터측으로 공급할 전원을 발생하는 전원발생부로 이루어진 시험보드와, LCD 모듈의 백라이트 램프에 전원을 인가하기 위한 인버터보드와, 시험결과 상태를 표시하기 위한 상태표시보드로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 방법은, 호스트 컴퓨터로부터 전달된 구동신호에 따라 파레트에 탑재된 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 LCD모듈의 시험방법에 있어서, 파레트가 도착하면 파레트 아이디를 읽는 단계; 호스트 컴퓨터로부터 모델정보를 전달받아 실제모델과 일치하면 시험 데이터를 파레트에 다운로드하여 이이피롬에 저장하는 단계; 전원(VBL과 VBR)을 설정하는 단계; 램프(CCFL)를 시험하는 단계; 시험결과를 저장하고 전송하는 단계; 및 시험결과에 따라 도그핀을 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명하기로 한다.

먼저, LCD 모듈은 백라이트의 광원으로서 냉음극 형광등(CCFL: Cold Cathode Fluorescent Lamp)을 이용한다. 기존의 일반 형광등은 필라멘트로 음극을 가열하여 열전자를 발생시켜 방전하는 방식으로 HCFL(Hot Cathode Fluorescent Lamp)라 하는데, 이러한 HCFL은 전극의 구조를 소형화하기 어려운 문제점이 있다. CCFL은 필라멘트가 없는 간단한 구조로서 LCD 백라이트에 널리 사용되고 있는데, CCFL은 전자를 방출하기 위해 고압의 전압을 양극에 인가하여 충돌전리에 의한 방전을 사용하므로 인버터를 필요로 한다. 즉, LCD모듈의 백라이트 전원으로 사용되는 인버터는 직류전압을 입력받아 일정한 주파수의 교류전압을 출력한다.

도 1은 본 발명에 따라 파레트를 이용하여 조운(zone)을 이동하면서 LCD 모듈을 시험하는 개념을 도시한 도면이다. 도 1을 참조하면, LCD 생산/시험 라인은 시험대상 LCD모듈을 탑재하고 LCD모듈에 요구되는 구동신호와 전원을 제공하기 위한 파레트(110), 파레트(110)를 이송하기 위한 이송벨트(120), 파레트(110)에 실린 LCD모듈을 시험하기 위한 4개의 시험조운(a~d)으로 이루어진다. 그리고 각 시험조운은 시험 프로그램이 탑재된 컴퓨터시스템(102a, 102b, 102d)을 구비하고 있어 시험할 LCD모듈을 탑재한 파레트(110)가 도착하면 자동으로 접속하여 해당 LCD모듈에 맞는 설정값과 시험방식으로 LCD모듈 테스트를 수행한다. 이 때 각 컴퓨터는 LAN을 통해 메인 컴퓨터와 연결될 수 있다.

예컨대, 제1 시험조운(a)은 인라인(In-line) 시험조운으로서 파레트에 LCD모듈을 탑재하고 시험대상인 LCD모듈에 요구되는 시험패턴이나 방식을 설정한다. 이와 같은 설정값은 미리 컴퓨터상에 설정한 후 메인 컴퓨터나 PC로부터 다운받아 파레트에 실린 LCD모듈 종류에 따라 자동으로 설정할 수 있도록 되어 있다. 제 1 시험조운(a)에서 시험이 끝나면, 파레트(110)는 이송벨트(120)에 의해 제2 시험조운(b)으로 이동되어 시험된다. 제2 시험조운(b)이 외부패턴을 이용한 시험조운이라면 외부에서 제공되는 시험패턴에 따라 파레트(110)에 탑재된 LCD모듈을 시험하게 된다. 제2 조운에서 시험이 끝나면 파레트(110)는 이송벨트(120)에 의해 제3 시험조운(c)으로 이동한다. 만일, 제3 시험조운(c)이 번인 챔버(환경시험조)라면 정해진 온습도 환경에서 LCD모듈을 정해진 시간동안 시험하게 된다. 제3 조운에서 시험이 끝나면 파레트(110)는 다시 제4 시험조운(d)으로 이동되어 최종 시험이 이루어지고, 시험결과에 따라 양/부가 결정됨과 아울러 해당 LCD모듈에 대한 시험을 완료하게 된다,

이와 같이 파레트(110)는 시험대상인 LCD모듈을 탑재한 후 시험라인에서 이송벨트(120)에 의해 각 조운을 이동하면서 LCD모듈을 시험하게 된다.

도 2는 본 발명에 따른 시험장치의 전체 구성 예로서, 본 발명의 시험장치는 PLC(202)와 연결되어 시험을 지시하는 시험용 PC(210)와, 바코드 리더(204), ID카드 리드/라이트(206), 정합부(208), 파레트(220)로 이루어지고, 파레트(220)에는 LCD시험보드(230), 인버터보드(240), 상태 표시보드(250)가 설치되어 있다. LCD시험보드(230)는 외부 LCM구동신호 접속부(231)와, 구동제어부(232), VBL 전원 발생부(233), 인버터 제어부(234)로 이루어지고, 인버터 보드(240)는 6개의 인버터(242-1~242-6)로 각각 구성된다. 여기서, VBL은 약 12~18V의 인버터 입력전원이고, VBR은 0~3V에서 0.1V단위로 가변할 수 있는 인버터 휘도(Inverter Brightness) 전원이다.

도 2를 참조하면, PLC(202)는 LCD모듈 생산공정을 전반적으로 제어하는 호스트 시스템이고, 시험용 PC(210)는 본 발명에 따른 시험을 수행하는 TAB 프로그램과 LIS 프로그램이 탑재되어 시험을 제어한다. 시험용 PC(210)와 파레트(220)는 정합부(208)를 통해 상호 접촉되어 신호를 공급하여 시험하고, 시험이 완료되면 다시 분리되도록 되어 있다.

컴퓨터(PC:210)는 본 발명에 따른 시험 프로그램(TAB & LIS)을 탑재하여 바코드 리더(204)와 아이디카드 리드/라이트(206) 등을 통해 파레트(220)에 탑재된 LCD모듈의 모델정보 등을 읽어 LCD 구동정보를 파레트(220)에 전송한다. 컴퓨터(210)에서 운영되는 시험 프로그램에 의해 제공되는 메인 콘솔 화면은 도 6 내지 도 10에 도시된 바와 같다.

파레트에 탑재된 시험보드(230)는 시험용 PC(210)로부터 전달된 구동신호에 따라 LCM모듈을 구동하여 패턴시험을 한다. 특히, 본 발명에 따른 시험보드(230)는 LCM의 백라이트(CCFL)에 대한 불량검출 기능과, 각 CCFL에 대하여 일정한 등전류를 제공하는 기능을 수행한다.

인버터 보드(240)는 LCM의 백라이트에 전원을 공급하여 백라이트의 특성을 시험하고, 이와 같은 시험결과는 상태표시보드(250)에 표시된다. 즉, LCD시험보드(230)는 PC(210)로부터 LCD모듈에 대한 시험정보를 다운받아 내부의 이이피롬(EEPROM)에 저장하고, 구동신호를 발생하여 버퍼보드를 통해 LCD모듈에 제공하며, LCD모듈로 인가되는 Vdd, B/L 전압/전류 값을 감시한 값을 설정된 제한치(limit)와 비교하여 제한치를 벗어나면 상태 표시보드(250)에 상태정보를 전달하여 이를 표시하게 한다. 인버터 보드(240)는 6개의 인버터를 구비하여 하나 내지 여섯개의 LCD모듈의 백라이트를 위한 전원을 발생하여 제공한다. 버퍼보드(미도시)는 LCD시험보드(230)로부터 구동신호를 전달받아 LCD타입에 따라 요구되는 TTL구동신호, LVDS구동신호, TMDS구동신호 중 어느 한 신호로 변환하여 LCD모듈에 제공한다. 그리고 상태표시보드(250)는 LCD시험보드 (230)로부터 전달받은 제어신호에 따라 해당 램프를 온/오프한다.

도 3은 본 발명에 따른 시험절차를 도시한 순서도이고, 도 4는 본 발명에 따른 백라이트 시험 구성의 상세도이며, 도 5는 본 발명에 따른 백라이트 시험 절차를 도시한 순서도이다.

도 3을 참조하면, 시험용 PC(210)의 TAB 프로그램은 파레트가 도착하면, 바코드 리더를 통해 파레트 아이디를 읽어 오고, 카드리더를 통해 PID를 읽어 온다(S1~S3). 이어 호스트 컴퓨터(관리PC)로부터 모델정보를 다운받아 LIS 프로그램에 전달한다(S4,S5).

LIS 프로그램은 모델정보를 입력받아 실제모델과 일치하는지 비교하여 일치하면, 파레트의 펌웨어(F/W)로 데이터를 다운로드한다(S6~S8).

파레트의 펌웨어는 전원이 온되면 시험조운을 인식한 후 플릭커/최종 시험조운이면 LIS 프로그램으로부터 데이터를 수신한다(S31,S32). 이어 전송 에러 여부를 판단하기 위해 첵섬(CS)값을 검사하여 정상이면 파레트의 이이피롬에 저장한다(S9,S10). 이어 VBL과 VBR을 설정하고 CCFL을 시험한다(S12,S13).

CCFL시험을 위한 구성은 도 4에 도시된 바와 같이, 각 CCFL(CCLF1~CCFL6)에 인버터(242-1~242-6)의 하이(High)와 로우(Low) 단자가 연결되어 있다. 즉, 인버터1(242-1)은 CCFL1에 전원을 공급하고, 인터버2(242-2)는 CCFL2에 전원을 공급하며, 동일한 방식으로 인버터6(242-6)은 CCFL6에 전원을 공급한다.

그리고 이와 같은 시험 구성에서 CCFL을 시험하는 절차는 도 5에 도시된 바와 같이, 인버터1과 인버터6을 온시킨 후 CCFL1과 CCFL6을 검사(501,502)하여 정상이면, 다시 인버터2과 인버터5을 온시킨 후 CCFL2과 CCFL5를 검사한다(503,504). 동일한 방식으로, 인버터3과 인버터4를 온시킨 후 CCFL3과 CCFL4를 검사(505,506)하여 모두 정상이면, CCFL 정상을 표시하고, 어느 한 과정에서라도 CCFL에 이상이 검출되면 LCM 불량을 표시한 후 도그핀을 "01"로 표시한다(507,508).

이와 같이 CCFL을 시험한 후 상태를 출력함과 아울러 그 결과를 저장하고,결과값을 LIS 프로그램으로 전달한다(S14,S15). LIS 프로그램은 처리결과를 판별하여 정상이면 LIPA에 ST=2, IN=0으로 기록하고. 비정상이면 ST=2, IN=X로 표시하며 결과를 TAB 프로그램으로 전송한다(S16~S19).

TAB 프로그램은 LIPA 파일(LIPA.ini)을 검사한 후 PID를 호스트 컴퓨터(관리PC)로 전송하고, 호스트 컴퓨터로부터 백라이트램프의 정보 파일(bllamp정보. txt)을 전달받아 시험결과가 정상이면 도그핀을 "11"로, 파레트에 이상이 있으면 도그핀을 "10"으로, LCM모듈에 이상이 있으면 도그핀을 "01"로 설정한 후 PLC를 작동시켜 시험을 종료한다. 이때 시험결과는 백라이트 검사 파일(blchk.txt)에 저장한다(S20~S24). 도 3에서 단계 S33은 재시도를 나타내고, 2회 이상 재시도 후에도 상태가 에러이면 도그핀을 "10"으로 하여 에러를 표시한다(S34). S35는 모델정보를 나타내고, S36, S38은 백라이트 검사파일(blchk.txt)을 나타내며, S37은 백라이트 램프 정보파일(bllamp정보.txt)을 나타낸다.

도 6은 본 발명에 따른 LIS 프로그램의 메인 화면으로서, 메인화면은 좌측의 상태 콘솔화면과, 우측의 제어 콘솔화면으로 구분되어 있으며, 원하는 정보를 설정하기 위해 제어 콘솔화면의 "정보제어"에서 해당 박스를 클릭하여 입력한다. 즉, 시험 프로그램이 설정과 관련된 데이터를 파레트로 제공하기 위해서는 해당 LCD모듈이 미리 등록되어 있어야 하는데, 신규 모델일 경우에는 투입 전에 시험 프로그램에서 신규 LCD모듈을 등록해야 한다.

신규모델 등록을 하기 위해 "정보제어"에서 해당 박스(시스템정보, LCM정보, 패턴정보, 수동시험모드 중 어느 하나)를 클릭하면 패스워드 입력을 요구하는 창이나타나고 패스워드를 입력하면 해당 입력화면이 나타난다. 이 때 'LCM정보' 박스는 LCD를 신규등록하거나 등록 LCD의 정보 즉, LCD 해상도, 구동 타이밍, 구동전압, 구동 패턴 파일, 리미트(limit) 정보를 추가, 변경, 삭제할 때에 사용하는 것이고, '패턴정보' 박스는 내부 시험 또는 에이징 챔버에서 구동하고자 패턴을 생성 또는 구동패턴에 대해 정보를 추가하거나 변경, 삭제할 때에 사용한다. 그리고 '시스템정보' 박스는 내부 시험을 수행할 것인지에 대한 정보를 변경할 때에 사용하는 것이다.

정보제어의 '시스템정보' 박스를 클릭하면 도 7에 도시된 바와 같은 시스템 정보화면이 열린다. 도 7을 참조하면, '구동 조운(ZONE) 선택'의 박스는 시스템이 에이징(AGING) 조운인지 파이널(FINAL) 조운인지를 구별하기 위해 사용되고, '생산라인 설정' 박스는 라인 아이디를 선택한다. 그리고 LCD 모드제어, 포트선택, 프리 에이징 제어 등이 있으며, 잔상 패턴정보 설정과 FPGA 다운로드정보 등이 표시되어 입력할 수 있다.

'LCM정보' 박스를 클릭하면, 도 8에 도시된 바와 같은 LCM정보화면이 나타난다. LCD모듈을 신규등록할 때는 "New Model Information"에서 모델 이름을 설정하고, "Inverter Setting Information"에서는 사용 인버터의 온/오프, 셧 다운 온/오프 등을 설정한다. 그리고 "Voltage Limit Information"에서 VBL의 상한과 하한을 설정하고 "Current Limit Information"에서 IBL의 상한과 하한을 설정한다. "VBL Setting"와 "VBR Setting"에서 VBL과 VBR을 설정하고 "등록" 버튼을 클릭하여 등록한다. 여기서, LCM 정보화면에는 CCFL 시험시간을 설정하고, CCFL타입을 설정할 수 있도록 되어 있다.

이어서, 상기와 같이 구성되는 본 발명의 동작을 도 3을 참조하여 설명한다.

도 3을 참조하면, 시험조운에 파레트가 도착하면 자동으로 접촉이 이루어지게 된다. 이 때 자동 접속 커넥터를 통하여 LCD 모듈을 구동하기 위한 정보 데이터 및 입력전압과 외부 검사기 패턴신호가 입력된다.

이어 자동접촉 성공여부를 판단하여 실패하면 시간을 검사한 후 정해진 시간을 초과하면 자동접속 실패 에러를 발생한 후 종료한다.

자동접촉(AUTO-CONTAC)이 성공하면, 전원을 투입 및 리셋한 후 컴퓨터의 시험 프로그램으로부터 LCD 품종, 동작전원, 데이터 신호 레벨, 디스플레이 패턴, 디스플레이 타임, 전류전압 값 등 각종 정보를 받아 파레트 어셈블리내의 이이피롬에 저장한다. 컴퓨터로부터 전달받은 정보에 의해 파레트 어셈블리는 LCD 구동클럭, 패널 동작전원, 데이터 신호 레벨 등을 결정한다.

이와 같이 설정이 완료되면 외부 패턴에 의한 시험인지 혹은 내부 패턴에 의한 시험인지를 선택하고, LCD구동 전원을 투입한 후 선택에 따라 LCD를 구동하기 위한 내부 패턴 혹은 외부패턴신호로 LCD를 구동한다. 즉, 파레트 어셈블리는 컴퓨터로부터 전달된 설정정보에 따라 VCC, VDD, B/L 전원 및 LCD 구동신호 및 데이터신호를 출력한다. 이 때 VCC, VDD는 LCD모듈로 입력되고, BL전원은 인버터를 통해 공급되어 LCD모듈의 백라이트를 점등하게 된다. 외부 검사기 패턴신호 즉, 외부 구동신호 및 데이터 신호는 PC측 커넥터를 통해 파레트 어셈블리로 입력되어 버퍼 보드를 통해 LCD모듈로 전달된다.

이와 같이 LCD모듈을 설정된 구동패턴에 따라 구동하여 패턴을 디스플레이하면서 LCD모듈로 인가되는 전원들의 전압/전류값을 모니터링한다. 센싱된 전압/전류값은 A/D변환기를 통하여 CPU가 읽어 가고, 이를 다시 컴퓨터로 전송한다. 만일, 전류 센싱값이 설정된 제한치(limit) 보다 크거나 작을 경우에는 과전류 또는 무점등임을 나타낸다. 또한 VDD와 출력신호에 대한 체크를 하여 이상 유무를 PC로 전송한다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 LCD모듈을 생산 및 시험하는 라인에서 시험대상 LCD모듈에 요구되는 각종 파라메터를 미리 설정한 후 시험중에는 시험대상 LCD모듈에 따라 자동으로 설정된 값을 다운 받아 시험할 수 있도록 함으로써 LCD모듈의 시험시간을 단축하고, 시험을 효율적으로 수행할 수 있는 효과가 있다. 특히, 본 발명에 따르면 6개 등까지의 LCD 모듈의 백라이트 특성을 시험할 수 있으므로 보다 정확한 시험을 가능하게 한다.

또한 기존에는 여러 개의 CCFL중에 불량 CCFL이 포함된 경우에도 제품이 출시되거나 어떠한 CCFL이 불량인지 판단하는데 어려움이 있었다. 그러나 본 발명의 원리를 적용하면 LCM에 탑제된 CCFL중에서 불량 CCFL이 몇 번째 등(CCFL)인지 또한 원인(예컨대, CCFL 고압 Cable High Open, Low Open, High Short, Low Short, 누설, High-Low 역삽 등)을 찾을 수 있다. 따라서 LCM의 정확한 제품시험을 수행하여 제품의 불량을 차단함으로써 신뢰를 향상시킨다. 또한 CCFL이 불량인 경우는LCM의 시험을 사전에 중지하기 위해 상태보드에 LCM NG(Not Good) LED를 점등하여 기존에 불량 LCM을 검사하는 시간을 없앨 수 있다.

Claims

호스트 컴퓨터로부터 전달된 구동신호에 따라 파레트에 탑재된 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 LCD모듈시험시스템에 있어서,

상기 파레트가

외부 구동신호를 접속하기 위한 구동신호 접속부와 구동신호를 인가하기 위한 구동제어부, 인버터를 제어하기 위한 인버터 제어부, LCD모듈과 인버터측으로 공급할 전원을 발생하는 전원발생부로 이루어진 시험보드와,

LCD 모듈의 백라이트 램프에 전원을 인가하기 위한 인버터보드와,

시험결과 상태를 표시하기 위한 상태표시보드로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험장치.
제1항에 있어서, 상기 인버터보드는 적어도 하나 이상의 인버터로 구성된 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험장치.
호스트 컴퓨터로부터 전달된 구동신호에 따라 파레트에 탑재된 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 LCD모듈의 시험방법에 있어서,

파레트가 도착하면 파레트 아이디를 읽는 단계;

호스트 컴퓨터로부터 모델정보를 전달받아 실제모델과 일치하면 시험 데이터를 파레트에 다운로드하여 이이피롬에 저장하는 단계;

전원(VBL과 VBR)을 설정하는 단계;

램프(CCFL)를 시험하는 단계;

시험결과를 저장하고 전송하는 단계; 및

시험결과에 따라 도그핀을 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험 방법.
제3항에 있어서, 상기 시험방법은,

전송시 첵섬값으로 에러 전달 여부를 확인하고, 시험결과 정상이면 도그핀을 11로, 파레트 이상이면 도그핀을 10으로, LCM이 이상이면 도그핀을 01로 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험방법.
제3항에 있어서, 상기 램프(CCFL)를 시험하는 단계는, 해당 램프의 전원을 온하고 램프의 휘도를 체크하는 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험방법.
제3항에 있어서, 상기 램프(CCFL)를 시험하는 단계는, 해당 램프의 전원을 온하고 램프의 불량을 체크하는 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험방법.
제3항에 있어서, 상기 램프(CCFL)가 불량인 경우는 LCM의 NG상태를 상태보드에 표시하여 불량 LCM시험시간을 줄일 수 있는 것을 특징으로 하는 LCD모듈의 백라이트 시험방법.