KR20030055134A - Method for manufacturing display device and apparatus therefor - Google Patents

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Abstract

본 발명은 표시장치의 제조방법과 그 제조장치에 관한 것으로서, 액정표시장치(12)의 화상 검사를 실시하기 위한 화상 테스트 데이터를 선택하는 테스트 데이터 선택 공정과, 제조 번호를 읽어들이는 제조번호 읽기 공정과, 화상 테스트 데이터에 대응한 E-EDID정보 중 규정의 제조 데이터를 화상 검사장치에서 호출하고, 이 호출한 규정의 제조 데이터와, 읽어들이는 제조 번호와, 타이머가 계측하고 있는 현재의 제조 년주(年週)를 E-EDID정보로서 ROM(18)에 기록하는 E-EDID정보 기록 공정과, 선택한 화상 테스트 데이터에 의해 화상 검사를 실시하는 화상 검사 공정으로 이루어지며, 액정표시장치(12)에 설치된 ROM(18)으로 E-EDID정보를 기록하는 방법으로서, 기록하는 작업 공정을 화상 검사와 연속해서 동일한 장치를 이용하여 실시하는 방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a display device and a device for manufacturing the same. In the process and the E-EDID information corresponding to the image test data, the image inspection apparatus calls the manufacturing data of the regulation, and the manufacturing data of the called regulation, the serial number to be read out, and the current production measured by the timer. A liquid crystal display device (12) comprising an E-EDID information recording process for recording a year's week as E-EDID information in the ROM 18, and an image inspection process for performing an image inspection with selected image test data. A method of recording E-EDID information into a ROM 18 installed in the memory device, the method comprising: performing a recording process by using the same apparatus continuously as an image inspection; It shall be.

Description

표시장치의 제조방법과 그 제조장치{METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE AND APPARATUS THEREFOR}Method for manufacturing display device and manufacturing device therefor {METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE AND APPARATUS THEREFOR}

본 발명은 액정표시장치, 유기EL표시장치, CRT 등의 표시장치의 E-EDID 정보를 기록하기 위한 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a manufacturing method for recording E-EDID information of a display device such as a liquid crystal display device, an organic EL display device, a CRT, or the like.

비디오 관련 기술의 표준화를 진행하고, 그래픽스 환경의 표준의 책정과 지원을 실시하는 비디오 전자공학협회(베사)(Video Electronics Standards Association; VESA)가 존재한다.The Video Electronics Standards Association (VESA) exists to standardize video technology and to set and support standards for graphics environments.

이 VESA가 컴퓨터·디스플레이에 관한 4개의 표준 사양을 2000년 2월 1일에 새롭게 밝히고 있다.The VESA unveils four standard specifications for computer displays on February 1, 2000.

제 1 표준 사양은 Enhanced Extended Identification Data(E-EDID)이다. 이 E-EDID는 디스플레이의 기능이나 ID를 호스트·컴퓨터에 전달하기 위한 데이터·포맷을 규정하는 것이며, 데이터는 128바이트로 구성되어 있다.The first standard specification is Enhanced Extended Identification Data (E-EDID). This E-EDID specifies the data format for transmitting the display function and ID to the host computer, and the data consists of 128 bytes.

제 2 표준 사양은 확장 디스플레이 데이터채널(Enhanced Display Data Channel)(E-DDC)이며, 이 E-DDC는 디스플레이와 호스트·컴퓨터간의 통신 채널을 정하는 사양이며, 데이터는 양방향에서 주고 받는다. 그리고, 환경(configuration)의 설정이나 제어를 이 채널을 사용하여 실시하는 것이며, 큰 데이터량을 취급할 수 있도록 기존의 DDC를 확장한 것이다.The second standard specification is an Enhanced Display Data Channel (E-DDC), which is a specification for establishing a communication channel between a display and a host and a computer, and data is exchanged in both directions. The configuration and control of the configuration is performed using this channel, and the existing DDC is extended to handle a large amount of data.

제 3 표준 사양은 VESA 범용 타이밍 포뮬라(Generalized Timing Formula)(GTF)이며, 이 GTF는 디스플레이의 타이밍을 생성하는 방식에 관해 정해진 것이며, 디스플레이의 재생률(refresh rate)을 고정하거나 미리 설정할 필요가 없어진다.The third standard specification is the VESA Generalized Timing Formula (GTF), which is defined on how to generate the timing of the display, eliminating the need to fix or preset the refresh rate of the display.

제 4 표준 사양은 영상신호 표준(Video Signal Standard)(VSIS)이며, 이 VSIS는 아날로그 비디오 신호를 표준화하는 것이며, 디스플레이나 그래픽스 카드의 발전에 대응한 것이다.The fourth standard specification is the Video Signal Standard (VSIS), which standardizes analog video signals and corresponds to the development of displays and graphics cards.

최근, 상기에서 설명한 E-EDID 정보를 액정표시장치에 기록하여 판매하는 제조업체가 나타나고 있다. 그 이유는 이 E-EDID정보를 기록하는 것에 의해 그 액정표시장치의 이력을 판별할 수 있기 때문이다.Recently, manufacturers that record and sell the above-described E-EDID information on a liquid crystal display have been shown. This is because the history of the liquid crystal display device can be determined by recording the E-EDID information.

그리고, 이 E-EDID 정보를 액정표시장치에 기억시키기 위해 액정표시장치의 구동회로에 ROM IC를 설치하고 있다.In order to store the E-EDID information in the liquid crystal display device, a ROM IC is provided in the driving circuit of the liquid crystal display device.

이 기억시키는 방법으로는 액정표시장치가 완성되어 화상 검사가 합격이 된 제품에 대해 이 E-EDID 정보를 기록하고 있다.In this storing method, the E-EDID information is recorded for a product in which a liquid crystal display device is completed and the image inspection has passed.

그러나, 이 E-EDID 정보를 기록하기 위해서는 다시 기록장치를 접속하고, 또 그 액정표시장치의 종류 등을 다시 입력하는 공정이 늘어나게 되어 작업공정이 증가하는 문제점이 있다.However, in order to record the E-EDID information, there is a problem in that the process of connecting the recording apparatus again and inputting the type of the liquid crystal display and the like again increases, which increases the working process.

따라서, 본 발명은 상기 문제점을 감안하여 표시장치에 제조 이력 데이터를 기록하는 경우에 작업 공정을 증가시키지 않고 기록할 수 있는 표시장치의 제조방법을 제공하는 것이다.Accordingly, in view of the above problems, the present invention provides a manufacturing method of a display device which can record the manufacturing history data on the display device without increasing the work process.

도 1은 본 발명의 한 실시예를 나타내는 화상검사장치와 액정표시장치의 블록도,1 is a block diagram of an image inspection device and a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention;

도 2는 화상검사 및 기록 공정의 제 1 플로우차트,2 is a first flowchart of an image inspection and recording process;

도 3은 화상검사 및 기록 공정의 제 2 플로우차트,3 is a second flowchart of an image inspection and recording process;

도 4는 E-EDID의 정보의 표를 나타내는 도면 및4 is a diagram showing a table of information of an E-EDID and

도 5는 도 4의 표의 계속되는 도면이다.5 is a continuation of the table of FIG. 4.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

10 : 화상검사장치 12 : 액정표시장치10: image inspection device 12: liquid crystal display device

14 : 구동회로기판 16 : 커넥터14: driving circuit board 16: connector

18 : ROM 20 : 바코드18: ROM 20: Barcode

22 : 타이머 24 : 오퍼레이션BOX22: timer 24: operation box

26 : 제 1 하드디스크 드라이브 28 : 제 2 하드디스크 드라이브26: first hard disk drive 28: second hard disk drive

30 : 바코드리더30: barcode reader

청구항 1의 발명은 액정표시장치, 유기EL표시장치, CRT 등의 표시장치에 설치된 기록매체로 제조번호, 제조 년주(年週) 및 표시장치의 사양 데이터를 포함하는 제조 이력 데이터를 기록하기 위한 표시장치의 제조방법에 있어서, 상기 표시장치의 화상 검사를 실시하기 위해, 화상 검사장치에 기억된 상기 표시장치에 적응한 화상 테스트 데이터를 선택하는 테스트 데이터 선택 공정과, 상기 표시장치의 제조번호를 읽어들이는 제조번호 읽기 공정과, 상기 선택한 화상 테스트 데이터에 대응한 표시장치에 관한 제조 이력 데이터 중, 상기 사양 데이터를 상기 화상 검사장치로부터 호출하고, 이 호출한 사양 데이터와 상기 읽어들이는 제조번호와, 상기 화상 검사 장치의 타이머가 계측하고 있는 현재의 제조 년주를 제조 이력 데이터로서 상기 기록 매체에 기록하는 제조 이력 데이터 기록 공정과, 상기 선택한 화상 테스트 데이터에 의해 상기 표시장치의 화상검사를 상기 화상검사장치에 의해 실시하는 화상검사공정을 갖는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법이다.The invention of claim 1 is a display for recording manufacturing history data including a manufacturing number, a manufacturing year week, and specification data of a display device on a recording medium installed in a display device such as a liquid crystal display device, an organic EL display device, a CRT, or the like. In the manufacturing method of the apparatus, in order to perform the image inspection of the display apparatus, a test data selection process of selecting image test data adapted to the display apparatus stored in the image inspection apparatus, and the manufacturing number of the display apparatus are read. The specification data is called from the image inspection apparatus among the manufacturing serial number reading process to be entered and manufacturing history data relating to the display device corresponding to the selected image test data, and the called specification data and the serial number to be read out are And the current manufacturing year week measured by the timer of the image inspection apparatus to the recording medium as production history data. By the lock manufacturing history data recording step, the selected image data to the test method of manufacturing a display device characterized in that it has an image inspection process performed by the image testing device for testing an image of the display device.

청구항 2의 발명은 상기 선택한 화상 테스트 데이터에 대응한 표시장치의 종류가 제조 이력 데이터를 기록하는 종류의 경우에는 상기 읽기 공정을 실시하고, 제조 이력 데이터를 기록하지 않는 종류의 경우에는 상기 화상 검사 공정을 실시하는 것을 특징으로 하는 청구항 1에 기재된 표시장치의 제조방법이다.The invention according to claim 2 is characterized in that the reading process is performed when the type of the display device corresponding to the selected image test data is a type for recording manufacturing history data, and the image inspection step when the kind is not recorded. The manufacturing method of the display apparatus of Claim 1 which implements.

청구항 3의 발명은 제조 이력 데이터가 상기 기록매체에 이미 기록되어 있는 경우에는 상기 기록매체에 기록되어 있는 제조 이력 데이터를 판독하는 제조 이력 데이터 판독 공정과, 상기 판독한 제조 이력 데이터가 정상인지 이상인지를 판별하는 판별 공정과, 상기 제조 이력 데이터가 정상인 경우에는 상기 화상 검사장치가 계측하고 있는 현재의 제조 년주를 상기 판독한 제조 이력 데이터에 덮어 쓰기하여 상기 화상 검사 공정을 실시하고, 상기 제조 이력 데이터가 이상인 경우에는 상기제조 이력 데이터 기록 공정을 실시하는 것을 특징으로 하는 청구항 1에 기재된 표시장치의 제조방법이다.The invention according to claim 3 is a manufacturing history data reading step of reading manufacturing history data recorded on the recording medium when the manufacturing history data is already recorded on the recording medium, and whether the read manufacturing history data is normal or abnormal. A discrimination process of determining the difference and, if the production history data is normal, the image inspection process is performed by overwriting the current manufacturing year week measured by the image inspection apparatus with the read manufacturing history data. If above, the manufacturing method of the display device according to claim 1, wherein the manufacturing history data recording process is performed.

청구항 4의 발명은 표시장치의 품종마다 대응하는 복수의 화상 테스트 데이터 및 상기 복수의 화상 테스트 데이터의 각각에 대응하는 상기 표시 사이즈 데이터가 축적된 제 1 메모리부와, 상기 제조번호를 기억하는 제 2 메모리부와, 년주(年週) 데이터를 계측하는 타이머와, 상기 표시장치에 접속되는 인터페이스부와, 상기 제 1 메모리부 및 제 2 메모리부에 축적된 각 데이터 및 상기 년주 데이터를 상기 인터페이스로 송출하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조장치이다.The invention of claim 4 further comprises: a first memory unit in which a plurality of image test data corresponding to each type of display device and the display size data corresponding to each of the plurality of image test data are accumulated; The memory unit, a timer for measuring yearly week data, an interface part connected to the display device, and each data accumulated in the first and second memory parts and the yearly week data are sent to the interface. It is a manufacturing apparatus of the display apparatus characterized by including the control part.

본 발명에서는 제조 이력 데이터의 기록과 화상 검사를 공통 화상 검사장치를 이용한 일련의 단계로서 처리할 수 있기 때문에 생산 효율을 비약적으로 향상시킬 수 있다.In the present invention, since the recording of the manufacturing history data and the image inspection can be processed as a series of steps using a common image inspection apparatus, the production efficiency can be dramatically improved.

본 발명에 있어서, 제조 이력 데이터는 표시장치의 제조번호 데이터, 제조 년주 데이터 및 당해 표시장치의 품종을 식별하는 사양 데이터를 포함한다. 제조 번호 데이터는 본 발명의 제조공정에 앞서 바코드 시일(seal) 등의 형성에 의해 표시장치에 부여된 시리얼 번호이다. 단 이에 한정되지 않고 표시장치의 ROM-IC에 시리얼 번호를 기억시켜 두는 수법을 이용해도 좋다.In the present invention, the manufacturing history data includes manufacturing number data, manufacturing year week data of the display device, and specification data for identifying the variety of the display device. The serial number data is a serial number given to the display device by the formation of a barcode seal or the like prior to the manufacturing process of the present invention. However, the present invention is not limited thereto, and a method of storing the serial number in the ROM-IC of the display device may be used.

제조 년주 데이터는 서력(西曆)의 제조년 데이터와 제조주 데이터(1∼53주, 윤년(閏年)은 54주)에 의해 구성되고, 본 발명의 제조 이력 데이터 기록 공정의 시점에서 검사장치의 타이머가 계측하고 있는 년주 데이터가 표시장치의 기억매체에기록된다.The manufacturing year week data is composed of manufacturing year data of the west calendar and manufacturing week data (1 to 53 weeks, and 54 weeks for leap year), and at the time of the manufacturing history data recording process of the present invention, the timer of the inspection apparatus is The measured year week data is recorded in the storage medium of the display device.

또, 사양 데이터는 표시장치의 화면의 종횡 사이즈의 데이터, 각종 추장(推奬) 타이밍(수평표시기간, 수평 블랭킹, 수직표시기간, 수직 블랭킹 등)의 데이터 등, 여러가지 사양 데이터중에서 당해 표시장치의 품종(표시 장치 메이커가 관리하는 표시장치의 형번(型番))을 식별 가능한 데이터의 조합에 의해 구성된다. 이 사양 데이터의 조합은 사용자로부터의 요구에 따라서 변경 가능하지만, E-EDID 사양 등 규격화된 기종 코드에 준거하는 것이 바람직하다. 또 이 E-EDID 사양은 앞에서 설명한 바와 같이 일반적으로 입수 가능하다.Further, the specification data is a variety of display apparatuses from among various specification data such as data of the vertical and horizontal size of the screen of the display device, data of various recommended timings (horizontal display period, horizontal blanking, vertical display period, vertical blanking, etc.). (The model number of the display device managed by the display device manufacturer) is constituted by a combination of data that can be identified. The combination of the specification data can be changed in accordance with the request from the user, but it is preferable to comply with the standardized model code such as the E-EDID specification. This E-EDID specification is generally available as described above.

또, 화상 테스트 데이터는 표시장치를 구동하는 각종 타이밍 신호, 화상 데이터 등으로 구성되며, 화면 사이즈나 동작 타이밍, 구동 전압 등이 다른 품종의 각각에 대응하는 복수 종류의 테스트 데이터가 검사장치에 내장되는 하드디스크 등 드라이브 등의 제 1 메모리부에 축적되어 있다. 검사장치의 오퍼레이터는 검사 대상의 표시장치의 품종(형번)을 표시장치에 부착된 시일 등으로 확인하고, 검사장치의 모니터에 표시된 테스트 데이터의 파일명(형번과 같은 형식의 파일명으로서 표시된다)중에서 검사 대상의 형번과 일치하는 파일명을 선택한다.Further, the image test data is composed of various timing signals, image data, etc. for driving the display device, and a plurality of types of test data corresponding to each of the varieties having different screen sizes, operation timings, driving voltages, etc. are incorporated in the inspection device. Accumulated in a first memory unit such as a drive such as a hard disk. The operator of the inspection apparatus checks the type (model number) of the display apparatus to be inspected by a seal attached to the display apparatus, and inspects among the file names of the test data displayed on the monitor of the inspection apparatus (displayed as a file name in the same format as the model number). Select the file name that matches the model number.

그 테스트 데이터의 파일명이 선택되면, 마찬가지로 검사장치에 내장되는 하드디스크 드라이브 등의 제 1 메모리부에 축적되어 있는 사양 데이터중에서 당해 선택된 테스트데이터의 파일명과 일치하는 파일명(즉 검사 대상의 표시장치의 형번과 일치하는 파일명)의 사양 데이터가 자동적으로 선택되도록 프로그래밍되어 있다. 이 선택된 사양 데이터는 제조 이력 기록 공정에 있어서 이미 검사장치에 내장되는 RAM(랜덤 액세스 메모리) 등의 기억장치에 의해 구성되는 제 2 메모리부에 들어 있는 제조번호 데이터 및 타이머가 계측하는 년주 데이터와 맞춰 인터페이스부로 송출되고, 표시장치의 기억매체로 취입된다. 또 테스트데이터와 사양 데이터는 각각 검사장치에 내장되는 별개의 하드디스크장치에 축적되도록 해도 좋다.If the file name of the test data is selected, the file name corresponding to the file name of the selected test data among the specification data stored in the first memory unit such as a hard disk drive included in the test apparatus, that is, the model number of the display device to be inspected. The specification data of the file name corresponding to 'is programmed to be selected automatically. The selected specification data is matched with the manufacturing number data contained in the second memory unit constituted by a storage device such as RAM (random access memory) already built in the inspection apparatus in the manufacturing history recording process and the yearly week data measured by the timer. It is sent to the interface unit and taken into the storage medium of the display device. The test data and the specification data may be stored in separate hard disk devices each built in the inspection apparatus.

그리고 화상 검사공정에 있어서는, 선택된 테스트 데이터에 의해 표시장치가 구동되고, 그 점등상태를 시야 또는 카메라 등을 이용하여 관찰하는 것에 의해 표시결함의 유무가 검사된다. 테스트데이터에 포함되는 화상 데이터는 검사에 이용하는 화상 패턴(전면(全面) 점등, 바둑무늬 표시 등)의 종류나 표시의 순번에 따라서 임의의 화상 데이터로 할 수 있다. 또, 검사장치 시스템을 구성하는 각각의 하드웨어 자체(제어장치, 기억장치, 인터페이스부)는 각각 당업자에게 주지된 구성을 이용할 수 있고, 본 발명의 주지를 이탈하지 않는 범위에서 여러가지 구성을 취할 수 있다.In the image inspection step, the display device is driven by the selected test data, and the presence or absence of display defects is inspected by observing the lighting state using a visual field or a camera. The image data included in the test data can be arbitrary image data depending on the kind of the image pattern (full surface lighting, checkerboard display, etc.) used for inspection and the order of display. In addition, each hardware itself (control device, memory device, interface unit) constituting the inspection device system can use a configuration well known to those skilled in the art, and can take various configurations without departing from the scope of the present invention. .

(발명의 실시형태)Embodiment of the Invention

이하, 본 발명의 한 실시예의 화상검사장치(10)를 이용하여 액정표시장치(12)의 화상검사 및 제조 이력 데이터를 기록하는 공정에 대해 도 1부터 도 5에 기초하여 설명한다. 또 본 실시예에서는 E-EDID 사양에 준거하여 제조 이력 데이터를 구성한다.Hereinafter, the process of recording the image inspection and manufacturing history data of the liquid crystal display device 12 using the image inspection device 10 of one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, the manufacturing history data is constructed based on the E-EDID specification.

(1) 액정표시장치(12)의 구성(1) Configuration of Liquid Crystal Display 12

도 1은 화상검사장치(10) 및 액정표시장치(12)의 관계를 나타내는 블록도이다.1 is a block diagram showing the relationship between the image inspecting apparatus 10 and the liquid crystal display apparatus 12.

본 실시예에 있어서, 검사 대상의 표시장치(12)는 주지된 TFT 액정 모듈에 의해 구성된다. 즉, 도 1에 나타내는 바와 같이 TFT 어레이를 포함한 2장의 유리기판 사이에 액정을 봉입한 액정 셀(13)의 내면측에 설치되어 있는 구동회로기판(14)에는 TFT어레이를 구동하는 주사선 구동 회로 및 신호선 구동회로에 의해 구성되는 주변 구동회로 IC를 향해 외부로부터 입력되는 화상 데이터나 그외의 클럭 신호 등의 제어신호를 배분하는 도시하지 않은 컨트롤러IC가 탑재되고, 또 E-EDID 정보를 기억하기 위한 ROM(18)도 탑재되어 있다. 그리고 컨트롤러IC 외부로부터의 제어 신호를 입력하고, ROM(18)에 E-EDID 정보를 입력하기 위한 복수의 단자를 갖는 커넥터(16)가 설치되어 있다. 또, 액정표시장치의 내면측에는 이 액정표시장치(12)의 제조번호를 나타내는 바코드 시일(20)이 부착되어 있다.In this embodiment, the display device 12 to be inspected is constituted by a well-known TFT liquid crystal module. That is, as shown in Fig. 1, the driving circuit board 14 provided on the inner surface side of the liquid crystal cell 13 in which the liquid crystal is sealed between two glass substrates including the TFT array is provided with a scanning line driving circuit for driving a TFT array; A non-illustrated controller IC for distributing control signals such as image data and other clock signals input from the outside toward the peripheral drive circuit IC constituted by the signal line driver circuit, and a ROM for storing E-EDID information. 18 is also mounted. Then, a connector 16 having a plurality of terminals for inputting control signals from outside the controller IC and for inputting E-EDID information to the ROM 18 is provided. Moreover, the bar code seal 20 which shows the manufacture number of this liquid crystal display device 12 is affixed on the inner surface side of a liquid crystal display device.

(2) 화상검사장치(10)의 구성(2) Configuration of Image Inspection Apparatus 10

화상검사장치(10)는 액정표시장치(12)로 화상 검사를 실시하기 위한 화상 데이터를 포함하는 테스트 데이터를 출력하고, 또 화상 검사에 앞서 E-EDID 정보의 기록, 판독, 이것들의 확인을 실시하는 기능을 갖고, E-EDID 정보의 처리와 연속해서 화상 검사를 실시하는 것이다. 화상 검사 장치(10)는 컴퓨터를 주체로 구성되며, 구체적으로는 제어장치인 CPU(25)와 현재의 년월일 및 시각 및 주(週) 계측하는 타이머(22)를 갖고 있다.The image inspection device 10 outputs test data including image data for image inspection to the liquid crystal display device 12, and records, reads and confirms these E-EDID information prior to the image inspection. The image inspection is performed continuously with the processing of the E-EDID information. The image inspection apparatus 10 mainly comprises a computer, and specifically includes a CPU 25 which is a control device and a timer 22 for measuring the current year, month, date, time, and week.

또, 각 종류의 액정표시장치(12)에 대응한 화상검사를 실시하기 위한 테스트 데이터가 하드디스크로 구성되는 제 1 하드디스크 드라이브(26)에 기억되고, 또 이 테스트데이터에 1 대 1로 대응한 E-EDID 정보가 제 2 하드디스크 드라이브(28)에기록되어 있다. 이 E-EDID 정보는 소정의 형식(예를 들면, 엑셀(등록 상표))의 파일 형식으로 기록되어 있다.In addition, test data for performing image inspection corresponding to each type of liquid crystal display device 12 is stored in the first hard disk drive 26 that is constituted by a hard disk, and corresponds one-to-one to this test data. One E-EDID information is recorded in the second hard disk drive 28. This E-EDID information is recorded in the file format of a predetermined format (for example, Excel (registered trademark)).

또, 화상검사장치는 액정표시장치(12)의 커넥터(16)에 접속되는 커넥터 케이블을 향해 기억부에 축적된 검사용 각종 데이터나 E-EDID 정보를 출력하기 위한 도시하지 않은 인터페이스부가 설치되어 있다. 이 인터페이스부는 컴퓨터의 하드웨어 구성으로서 주지된 것을 이용할 수 있다.In addition, the image inspection apparatus is provided with an interface unit (not shown) for outputting the inspection data or the E-EDID information accumulated in the storage unit toward the connector cable connected to the connector 16 of the liquid crystal display device 12. . This interface unit can use a well-known thing as a hardware structure of a computer.

그리고, 테스트 데이터를 선택하면 그 선택된 테스트 데이터에 대응하는 E-EDID 정보가 호출되어 온다. 또, 각 테스트데이터에는 E-EDID 정보를 필요로 하고 있는 종류인지, 필요로 하고 있지 않은 정보인지를 판별하기 위한 E-EDID 플래그(flag)가 설치되어 있다. 이 E-EDID 플래그가 ON인 경우에는 제 2 하드디스크 드라이브(28)로부터 E-EDID 정보를 호출해 온다.When the test data is selected, the E-EDID information corresponding to the selected test data is called. Each test data is provided with an E-EDID flag for determining whether the E-EDID information is required or not. When this E-EDID flag is ON, the E-EDID information is called from the second hard disk drive 28.

이는 사용자에 의해 E-EDID 정보를 표시장치에 기억시키는 요구가 있는 경우와 없는 경우가 있고, 양쪽에 대처하기 위한 테스트데이터를 입력한 시점에서 E-EDID의 기록이 필요한지 불필요한지를 확정시키기 위해서이다. 따라서, 플래그가 OFF인 표시장치에는 후술하는 바와 같이 E-EDID 정보의 기록은 실시되지 않고 직접 검사 공정을 실시하는 것에 의해 공정을 단축하여 생산효율을 향상시킬 수 있다.This is because there is a case where there is a request for storing the E-EDID information in the display device by the user, and there is a case in which the E-EDID recording is required or unnecessary at the time of inputting test data for coping with both. Therefore, as described later, the display device with the flag OFF is not written with E-EDID information, but by performing the direct inspection process, the process can be shortened to improve production efficiency.

또, 검사원이 조작하기 위한 오퍼레이션 BOX(24)가 접속되고, 또 바코드 리더(30)가 접속되어 있다. 오퍼레이션 BOX(24)에는 액정디스플레이를 이용한 터치패널이 설치되어 있고, 표시장치의 형번(예:△××××(△는 알파벳, ×는 0∼9까지의 정수))과 같은 형식으로 표시되는 테스트데이터명 중에서 검사대상이 되는 표시장치의 형번과 일치하는 이름의 파일을 선택한다.Moreover, the operation BOX 24 for an inspector to operate is connected, and the barcode reader 30 is connected. The operation box 24 is provided with a touch panel using a liquid crystal display, and is displayed in the same format as the model number of the display device (e.g., Δ ×××× (Δ is an alphabet, × is an integer from 0 to 9)). From the test data names, select a file whose name matches the model number of the display device to be inspected.

(3) E-EDID 정보의 내용(3) Contents of E-EDID Information

계속해서 E-EDID 사양으로 정해져 있는 제조 이력 데이터에 대해 도 4 및 도 5에 기초하여 설명한다.Subsequently, manufacturing history data defined in the E-EDID specification will be described based on FIGS. 4 and 5.

E-EDID 정보는 어드레스가 00에서 127까지의 128바이트의 데이터로 구성되고, 각 어드레스에 그 액정표시장치(12)에 관한 제조 이력 데이터가 기록되어 있다.The E-EDID information is composed of 128 bytes of data whose addresses are from 00 to 127, and manufacturing history data relating to the liquid crystal display device 12 is recorded in each address.

예를 들면, 어드레스(16)에는 제조주(製造週)가 기록되고, 어드레스(17)에는 제조년이 기록되고, 어드레스(21) 및 어드레스(22)에는 최대 수평 표시 사이즈와 최대 수직 표시 사이즈가 기록되어 있다. 어드레스(127)에는 어드레스 00에서 126에 있는 모든 데이터를 가산하여 이루어진 Check Sum이 기록되어 있다.For example, the manufacturing stock is recorded in the address 16, the manufacturing year is recorded in the address 17, and the maximum horizontal display size and the maximum vertical display size are recorded in the addresses 21 and 22. It is. In the address 127, a check sum made by adding all the data at addresses 00 to 126 is recorded.

이 Check Sum은 이 E-EDID 정보가 정상인지 이상인지를 판단하기 위한 것이며, E-EDID 사양으로 규격화된 것이다. 어드레스 00에서 126에 있는 모든 데이터를 가산하여 이루어진 Check Sum 데이터의 하부 2행이 00이면 정상이고, 00이외의 숫자이면 이상인 것을 나타내고 있다.This check sum is for determining whether the E-EDID information is normal or abnormal, and is standardized by the E-EDID specification. If the lower two rows of the Check Sum data formed by adding all the data at addresses 126 to 126 are 00, it is normal.

(4) 화상검사 및 E-EDID 정보를 기록하는 공정(4) process of recording image inspection and E-EDID information

이하, 도 2 및 도 3의 플로우차트에 기초하여 액정표시장치(12)에서 화상검사 및 E-EDID 정보를 기록하는 공정에 대해 설명한다.Hereinafter, the process of recording the image inspection and the E-EDID information in the liquid crystal display device 12 will be described based on the flowcharts of FIGS. 2 and 3.

이 공정은 액정표시장치(12)의 최종 공정에 위치하는 것이며, 액정표시장치(12)는 모두 조립된 상태로 실시하는 공정이다. 최초로, 액정표시장치(12)의 커넥터(16)에 검사장치(10)의 커넥터 케이블을 접속한다.This process is located in the final process of the liquid crystal display device 12, and the liquid crystal display device 12 is a process performed in the state assembled together. First, the connector cable of the inspection apparatus 10 is connected to the connector 16 of the liquid crystal display device 12.

우선 화상검사에 앞서 E-EDID 정보의 확인을 실시한다.First, the E-EDID information is checked prior to the image inspection.

단계 1에 있어서, 대상이 되는 액정표시장치(12)에 E-EDID 정보를 변경하여 좋은지 여부를 판단한다. 즉, 액정표시장치(12)에 E-EDID 정보가 기록되어 있지 않은 경우에는 새롭게 E-EDID 정보를 기록하게 되고, 이미 E-EDID 정보가 기록되어 있는 경우에는 덮어쓰기 하여 E-EDID 정보를 기록하여 좋은지 여부를 판단한다. E-EDID 정보가 이미 기록되어 있는 상태로서는 화상검사 공정을 한번 실시하여 불합격이 되어 조정되어 다시 화상 검사를 실시하는 경우의 액정표시장치(12)가 해당한다.In step 1, it is determined whether or not E-EDID information is changed in the liquid crystal display device 12 as a target. In other words, when the E-EDID information is not recorded in the liquid crystal display device 12, the E-EDID information is newly recorded. If the E-EDID information is already recorded, the E-EDID information is overwritten. Determine whether it is good. As the state where the E-EDID information has already been recorded, the liquid crystal display device 12 in the case where the image inspection process is performed once, fails to be adjusted, and the image inspection is performed again, corresponds.

그리고, E-EDID 정보를 변경해도 좋은 경우에는 단계 2로 진행하고, 변경이 금지되는 경우에는 단계 3으로 진행한다.If the E-EDID information may be changed, the process proceeds to step 2, and if the change is prohibited, the process proceeds to step 3.

단계 2에서 E-EDID 정보를 변경해도 좋기 때문에 액정표시장치(12)의 종류에 따른 화상 검사를 하기 위한 테스트데이터를 선택한 단계 4로 진행한다.Since the E-EDID information may be changed in step 2, the process proceeds to step 4 in which test data for image inspection according to the type of the liquid crystal display device 12 is selected.

단계 3에서는 E-EDID 정보의 변경이 금지되어 있으므로 그 액정표시장치(12)에 관해 유틸리티 메뉴(utility menu)로 리드 체크 모드(READCHEK 모드)로 설정한다. 이 리드체크 모드라는 것은 이미 기록되어 있는 E-EDID 정보가 정상인지 이상인지를 판단하기 위한 모드이며, 그 후의 단계에서 실시하는 것이다.In step 3, since the change of the E-EDID information is prohibited, the LCD 12 is set to the read check mode (READCHEK mode) in the utility menu. This read check mode is a mode for determining whether the E-EDID information already recorded is normal or abnormal, and is performed in a later step.

단계 4에서 화상 검사장치(10)로부터 호출된 화상 검사에 관한 테스트 데이터에 있어서 E-EDID 플래그가 ON인지 OFF인지를 판단한다. 즉, E-EDID 플래그가 OFF일 때는 E-EDID 정보를 기록하지 않고 검사공정을 실시한다. 한편, E-EDID 플래그가 ON이 되어 있는 경우에는 단계 5로 진행한다.In step 4, it is determined whether the E-EDID flag is ON or OFF in the test data concerning the image inspection called from the image inspection apparatus 10. That is, when the E-EDID flag is OFF, the inspection process is performed without recording the E-EDID information. On the other hand, if the E-EDID flag is ON, the process proceeds to step 5.

단계 5에서 테스트 데이터에 대응한 E-EDID 정보가 제 2 하드디스크 드라이브(28)에 있는지 여부를 판단한다. 이 E-EDID 정보는 테스트 데이터와 마찬가지로 표시장치의 형번(예:△××××(△는 알파벳, ×는 0∼9까지의 정수))과 같은 형식의 파일명으로 보존되어 있고, 테스트 데이터와 E-EDID정보는 서로 다른 식별자(. edi 등)에 의해 식별된다. 검사장치는 테스트 데이터의 파일명과 일치하는 파일명의 E-EDID정보를 검색하도록 프로그래밍되어 있다. 그리고, 제 2 하드디스크 드라이브(28)에 E-EDID정보가 기록되어 있지 않으면 오프레이션 BOX(24)에서 에러 표시를 실시하여 종료한다. E-EDID정보가 있는 경우에는 단계 6으로 진행한다.In step 5, it is determined whether the E-EDID information corresponding to the test data exists in the second hard disk drive 28. Similar to the test data, this E-EDID information is stored in a file name having the same format as that of the display device model number (e.g., Δ ×××× (Δ is an alphabet, × is an integer from 0 to 9)). E-EDID information is identified by different identifiers (.edi, etc.). The inspection apparatus is programmed to retrieve the E-EDID information of the file name that matches the file name of the test data. If E-EDID information is not recorded in the second hard disk drive 28, the operation BOX 24 displays an error display and ends. If there is E-EDID information, the flow proceeds to step 6.

단계 6에서 T, 화상검사장치(10)의 제 1 하드디스크 드라이브(26)에서 테스트 데이터를 판독하여, 화상 검사의 준비를 실시한다. 그리고, 바코드 리더(30)에 의해 제조번호가 읽어들이도록 한다.In step 6, T, test data is read from the first hard disk drive 26 of the image inspection apparatus 10 to prepare for image inspection. Then, the serial number is read by the barcode reader 30.

단계 7에서, 바코드 리더(30)에 의해 액정표시장치(10)의 내면측에 있는 바코드(20)를 판독, 제조번호를 화상검사장치(10)에 입력하고, 이 화상검사장치(10)에 내장된 RAM 등의 기억장치에 의해 구성되는 제 2 기억부(도시하지 않음)에 기억시킨다.In step 7, the barcode reader 30 on the inner surface side of the liquid crystal display device 10 is read by the barcode reader 30, and the serial number is input to the image inspection apparatus 10, and the image inspection apparatus 10 is read. The second storage unit (not shown) constitutes a storage device such as a built-in RAM.

단계 8에서, 판독한 제조번호의 하부 5 행이 숫자인지 여부를 판단하여 숫자가 아니면 단계 6으로 되돌아가 제조번호의 판독을 다시 지시한다. 이 판단을 실시하는 것은 액정표시장치(10)의 내면측에는 제조번호 이외의 정보를 입력한 바코드가 복수 부착되어 있으므로, 잘못해서 그외의 정보를 입력한 경우에는 다시한번읽기를 지시하기 위한 것이다. 제조번호인 하부 5행이 숫자인 경우에는 단계 9로 진행한다.In step 8, it is determined whether the lower five rows of the read serial number are numeric, and if not, the flow returns to step 6 to instruct the reading of the serial number again. This determination is made for instructing reading once again when a plurality of barcodes for inputting information other than the serial number are attached to the inner surface side of the liquid crystal display device 10. Proceed to step 9 if the lower five rows of the manufacturing number are numbers.

단계 9에서, 과거 1일 이내에 판독한 제조번호인지 여부를 판단한다. 같은 제조번호인 경우에는 단계 10으로 진행한다. 그리고, 다른 제조번호의 경우에는 단계 12로 진행한다.In step 9, it is determined whether the serial number has been read within the past day. If the same serial number, go to step 10. In case of another serial number, the process proceeds to step 12.

단계 10에서는 과거 1일 이내에 판독한 제조번호와 같기 때문에, 오퍼레이션 BOX(24)의 램프를 점멸시켜 검사원에게 주의를 재촉하고, 단계 11에서 검사원이 그것을 승인한 경우에는 오퍼레이션 BOX(24)의 커서 키가 눌려져 단계 12로 진행하고, 커서 키가 눌려지지 않은 경우에는 단계 6으로 복귀하여 다시 제조번호를 판독하는 공정을 실시한다.In step 10, since it is the same as the serial number read out in the past 1 day, the lamp of the operation box 24 flashes to prompt the inspector, and if the inspector approves it in step 11, the cursor key of the operation box 24 is used. Is pressed to proceed to step 12. If the cursor key is not pressed, the process returns to step 6 to read the manufacturing number again.

단계 12에서, 화상 검사를 개시하기 위한 오퍼레이션 BOX(24)의 테스트 개시 키가 입력된다.In step 12, the test start key of the operation BOX 24 for starting the image inspection is input.

단계 13에서 리드 체크 모드인지 여부를 판단한다. 리드 체크 모드이면 액정표시장치(12)의 ROM(18)에 기록되어 있는 E-EDID 정보가 정상인지 여부를 판단할 필요가 있으므로 단계 14로 진행하고, 리드 체크 모드가 아니면 단계 16으로 진행한다.In step 13, it is determined whether the mode is in the read check mode. In the read check mode, it is necessary to determine whether or not the E-EDID information recorded in the ROM 18 of the liquid crystal display device 12 is normal.

단계 14에서, 액정표시장치(12)의 ROM(18)으로부터 기록되어 있는 E-EDID정보를 읽어들이고, 단계 15에서 그 읽어들인 E-EDID정보의 Check sum이 0인지(즉, 정상인지) 여부를 판단한다. 제조이면 단계 19로 진행한다. 또, 이상이면 한번 더 E-EDID정보를 기록할 필요가 있기 때문에 단계 16로 진행한다.In step 14, the E-EDID information recorded from the ROM 18 of the liquid crystal display 12 is read out, and in step 15, the check sum of the read E-EDID information is 0 (i.e., normal). Judge. If yes, proceed to step 19. If it is abnormal, the E-EDID information needs to be recorded once again, and the flow proceeds to step 16.

단계 16에서, E-EDID정보를 검사장치의 인터페이스부로부터 송출하여 액정표시장치(12)의 ROM(18)에 E-EDID정보를 기록한다. 이 기록되는 E-EDID정보는 테스트 데이터에 대응한 E-EDID정보로서, 제조번호는 바코드 리더(30)로부터 판독한 제조번호를 기록하고, 제조 년주는 화상검사장치(10)의 타이머(22)가 계측하고 있는 현재의 년주를 실시간으로 기록한다.In step 16, the E-EDID information is sent out from the interface of the inspection apparatus, and the E-EDID information is recorded in the ROM 18 of the liquid crystal display 12. The recorded E-EDID information is E-EDID information corresponding to the test data. The manufacturing number records the manufacturing number read from the barcode reader 30, and the manufacturing year week is the timer 22 of the image inspection apparatus 10. Records the current year week that is being measured in real time.

단계 17에 있어서, 화상 검사 장치(10)는 기록한 E-EDID정보를 다시 판독하고, 단계 18에서 그 읽어들인 E-EDID정보가 정상인지 또는 이상인지를 검사한다. 이 때문에 판독한 Check Sum이 기록한 Check Sum과 같은지 여부, 또는 Check Sum이 0인지 여부를 판단한다. Check Sum이 같을 때, 또는 0일 때는 정상으로 E-EDID정보가 기록되었다고 판단하여 단계 19로 진행한다. 그 이외이면 에러표시를 하여 검사를 종료한다.In step 17, the image inspection apparatus 10 reads back the recorded E-EDID information, and checks in step 18 whether the read-out E-EDID information is normal or abnormal. For this reason, it is determined whether the read Check Sum is equal to the recorded Check Sum or whether the Check Sum is zero. When the Check Sum is the same or 0, it is determined that the E-EDID information is recorded normally, and the flow proceeds to step 19. Otherwise, the error is indicated and the test is finished.

단계 19에서는 오퍼레이션 BOX(24)에 방금 판독한 E-EDID정보의 제조 년주를 표시하고, 단계 20에서 통상의 화상 검사를 실시한다. 즉, 테스트데이터 선택 단계(2)에서 선택된 테스트 데이터를 검사장치의 인터페이스부터로부터 액정표시장치(12)로 송출하여 액정표시장치를 점등시켜 표시 결함의 유무를 시야나 카메라를 이용하여 확인한다.In step 19, the manufacturing year week of the E-EDID information just read is displayed in the operation BOX 24, and in step 20, normal image inspection is performed. That is, the test data selected in the test data selection step (2) is sent from the interface of the inspection apparatus to the liquid crystal display device 12, the liquid crystal display device is turned on, and the presence or absence of display defects is checked using a visual field or a camera.

이와 같이 하여, E-EDID정보의 기록과 화상 검사를 동일 장치를 이용하여 연속해서 실시하기 때문에 작업 공정을 간략화할 수 있다.In this way, since the recording of the E-EDID information and the image inspection are carried out continuously using the same apparatus, the work process can be simplified.

또, E-EDID정보를 기록하고, 정상으로 기록되어 있는 것이 확인되지 않으면 다음 단계로 진행할 수 없도록 되어 있으므로, E-EDID정보의 기록 망각 방지 기능,체크 기능을 프로그램 제어에 의해 부여할 수 있었다.In addition, if the E-EDID information is recorded, and if it is confirmed that it is normally recorded, it is impossible to proceed to the next step. Therefore, the function of preventing the forgetting and checking the recording of the E-EDID information can be given by the program control.

또, 제조번호를 바코드 리더(30)로 입력하고 나서 E-EDID 정보를 기록하고, 또 확인 기능이 있으므로 잘못된 제조 번호 등이 입력되는 일이 없다.In addition, since the E-EDID information is recorded after inputting the serial number into the barcode reader 30, and a confirmation function is provided, an incorrect serial number or the like is not entered.

또, E-EDID정보의 덮어쓰기가 금지된 액정표시장치(12)라도 리드 체크 모드에 있어서 기록되어 있는 E-EDID 정보가 정상인지 이상인지를 판단할 수 있다.In addition, even in the liquid crystal display device 12 in which overwriting of the E-EDID information is prohibited, it is possible to determine whether the E-EDID information recorded in the read check mode is normal or abnormal.

상기 실시예에서는 액정표시장치에서 설명했지만, 이를 대신하여 유기EL표시장치나 브라운관의 CRT의 표시장치라도 마찬가지로 화상 검사 공정과 연속해서 E-EDID정보를 기록할 수 있다.In the above embodiment, the liquid crystal display device has been described, but instead of the organic EL display device or the CRT display device of the CRT, the E-EDID information can be recorded in succession with the image inspection process.

또, 화상 검사 장치를 구성하는 각종 하드웨어는 컴퓨터 시스템으로서 주지된 것을 이용할 수 있고, 본 발명의 주지를 이탈하지 않는 범위에서 여러가지 변경이 가능하다. 예를 들면 제 1 메모리부와 제 2 메모리부를 단일 하드디스크 드라이브 장치로 구성해도 좋다. 또, 하드디스크 드라이브장치와 RAM 등 기능이 다른 기억장치를 적절히 조합하여 이용할 수도 있다.Moreover, the various hardware which comprises an image inspection apparatus can use the well-known thing as a computer system, and various changes are possible in the range which does not deviate from the well-known of this invention. For example, the first memory unit and the second memory unit may be configured as a single hard disk drive device. In addition, a hard disk drive device and a storage device having different functions such as RAM can be used in combination as appropriate.

이상으로 본 발명에 의하면 표시장치에 화상 검사와 연속해서 E-EDID정보를 기록할 수 있고, 작업 공정을 간략화할 수 있고, 또 그 기록 공정에 있어서 미스(miss)를 제어할 수 있다.As described above, according to the present invention, the E-EDID information can be recorded on the display device in succession to the image inspection, the work process can be simplified, and the miss can be controlled in the recording process.

Claims (4)

표시장치에 설치된 기록매체로 당해 표시장치의 제조번호 데이터, 제조 년주(年週) 데이터 및 당해 표시장치의 품종을 식별하는 사양 데이터를 포함하는 제조 이력 데이터를 기록하기 위한 표시장치의 제조방법에 있어서,In the manufacturing method of the display device for recording the manufacturing history data including the manufacturing number data of the display device, the manufacturing year week data and the specification data for identifying the varieties of the display device on a recording medium provided in the display device, , 표시장치의 품종마다 대응하는 복수의 화상 테스트 데이터 및 상기 복수의 화상 테스트 데이터의 각각에 대응하는 상기 사양 데이터가 축적된 제 1 메모리부와, 상기 제조번호를 기억하는 제 2 메모리부와, 년주 데이터를 계측하는 타이머와, 상기 표시장치에 접속되는 인터페이스부와, 상기 제 1 메모리 및 제 2 메모리부에 축적된 각 데이터 및 상기 년주 데이터를 상기 인터페이스로 송출하는 제어부를 구비하는 화상 검사장치에 상기 표시장치를 접속하는 공정;A first memory unit in which a plurality of image test data corresponding to each type of display device and the specification data corresponding to each of the plurality of image test data are accumulated, a second memory unit storing the serial number, and yearly data The display unit having a timer for measuring the number of times, an interface unit connected to the display device, and a control unit for transmitting the data accumulated in the first and second memory units and the yearly week data to the interface. Connecting the apparatus; 상기 제 1 메모리에 축적된 상기 복수의 화상 테스트 데이터중에서 상기 표시장치에 적응한 화상 테스트 데이터를 선택하는 테스트 데이터 선택 공정;A test data selection step of selecting image test data adapted to the display device from among the plurality of image test data accumulated in the first memory; 상기 표시장치에 부여된 제조번호 데이터를 상기 화상검사장치에 입력하여 상기 제 2 메모리부에 기억시키는 제조번호 데이터 읽기 공정;A manufacturing number data reading step of inputting the manufacturing number data given to the display device into the image inspection apparatus and storing the manufacturing number data in the second memory unit; 상기 제 1 메모리부에 축적된 상기 사양 데이터 중, 상기 테스트 데이터 선택 공정에서 선택된 화상 테스트 데이터에 대응하는 상기 사양 데이터와, 상기 제조번호 읽기 공정에서 상기 제 2 메모리부에 기억된 상기 제조번호와, 상기 타이머가 계측하고 있는 현재의 년주 데이터를 상기 인터페이스부를 통하여 상기 기록매체에 기록하는 제조 이력 데이터 기록 공정; 및Among the specification data accumulated in the first memory unit, the specification data corresponding to the image test data selected in the test data selection process, the production number stored in the second memory unit in the manufacturing number reading process, A manufacturing history data recording process of recording current year-week data measured by the timer on the recording medium through the interface unit; And 상기 제조 이력 데이터 기록 공정에 계속해서, 상기 테스트 데이터 선택 공정에서 선택된 상기 화상 테스트 데이터를 상기 인터페이스부를 통해 상기 표시장치로 송출하여 상기 표시장치의 점등 검사를 실시하는 화상 검사 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.And an image inspection step of sending out the image test data selected in the test data selection step to the display device via the interface unit and performing a lighting test of the display device following the manufacturing history data recording step. Method for manufacturing a display device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 화상 테스트 데이터는 상기 제조 이력 데이터의 요부(要部) 판별 데이터를 포함하고, 상기 테스트 데이터 선택공정으로 선택된 화상 테스트 데이터의 요부 판별 데이터가 제조 이력 데이터 불요를 나타내는 데이터인 경우는 상기 제조번호 데이터 읽기 공정 및 제조 이력 데이터 기록 공정을 생략하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.The image test data includes essential part discrimination data of the manufacturing history data, and when the main part discrimination data of the image test data selected in the test data selection process is data indicating manufacturing history data unnecessary, the production number data A manufacturing method of a display device, characterized in that a reading step and a manufacturing history data writing step are omitted. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 테스트 데이터 선택 공정앞에 상기 기록매체상의 상기 제조 이력 데이터의 유무를 검출하는 검출 공정;A detection step of detecting the presence or absence of the manufacturing history data on the recording medium before the test data selection step; 상기 검출공정으로 검출된 제조 이력 데이터를 판독하여 상기 제 2 기억부에 기억시키는 제조 이력 데이터 판독 공정;A manufacturing history data reading step of reading the manufacturing history data detected by the detecting step and storing it in the second storage unit; 상기 제 2 기억부에 기억된 제조 이력 데이터에 포함되는 각 사양 데이터를 합계한 합계값에 의해 당해 제조 이력 데이터의 양부(良否)를 판정하는 판정 공정; 및A determination step of determining whether or not the production history data is determined based on the total value of the sum of the respective specification data included in the production history data stored in the second storage unit; And 상기 제조 이력 데이터가 이상이라고 판단된 경우는 계속해서 상기 기록 공정을 실시하고, 상기 제조 이력 데이터가 정상이라고 판단된 경우는 상기 기록 공정과 대체하여 상기 표시장치의 기억매체에 상기 타이머가 계측하고 있는 현재의 제조 년주를 덮어쓰기하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조방법.If it is determined that the manufacturing history data is abnormal, the recording process is continued. If it is determined that the manufacturing history data is normal, the timer measures the storage medium of the display device in place of the recording process. A method of manufacturing a display device, characterized by overwriting the current week of manufacture. 표시장치의 품종마다 대응하는 복수의 화상 테스트 데이터 및 상기 복수의 화상 테스트 데이터의 각각에 대응하는 상기 표시 사이즈 데이터가 축적된 제 1 메모리부와, 상기 제조번호를 기억하는 제 2 메모리부와, 년주 데이터를 계측하는 타이머와, 상기 표시장치에 접속되는 인터페이스부와, 상기 제 1 메모리부 및 제 2 메모리부에 축적된 각 데이터 및 상기 년주 데이터를 상기 인터페이스로 송출하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 제조장치.A first memory unit in which a plurality of image test data corresponding to each type of display device and the display size data corresponding to each of the plurality of image test data are accumulated, a second memory unit storing the serial number, and yearly weeks And a timer for measuring data, an interface unit connected to the display device, and a control unit for transmitting the data accumulated in the first and second memory units and the yearly week data to the interface. Manufacturing apparatus for display device.
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