KR20030005140A - Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking - Google Patents

Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking Download PDF

Info

Publication number
KR20030005140A
KR20030005140A KR1020010039918A KR20010039918A KR20030005140A KR 20030005140 A KR20030005140 A KR 20030005140A KR 1020010039918 A KR1020010039918 A KR 1020010039918A KR 20010039918 A KR20010039918 A KR 20010039918A KR 20030005140 A KR20030005140 A KR 20030005140A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
defective
main controller
information
sub
call
Prior art date
Application number
KR1020010039918A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이영득
Original Assignee
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자 주식회사 filed Critical 삼성전자 주식회사
Priority to KR1020010039918A priority Critical patent/KR20030005140A/en
Publication of KR20030005140A publication Critical patent/KR20030005140A/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/32Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/324Display of status information
    • G06F11/327Alarm or error message display
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/32Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/324Display of status information
    • G06F11/328Computer systems status display

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

PURPOSE: An electronic device having a self-diagnosis function using an I2 C communication and a method for a self-diagnosis thereof are provided to recognize information with respect to an inferior IC(Integrated Circuit) quickly. CONSTITUTION: An input unit(10) includes an inferior key(12) in order for a user of a technician of a device to request a display of an inferior IC. Sub controllers(20a-20e) are connected to a main controller(60) through a data line and a clock line(L2). If a call signal is received from the main controller(60) through inherent information of each sub controller(20a-20e), the sub controller(20a-20e) transmits a response signal corresponded to the call signal. An IC registration unit(30) registers inherent information with respect to each IC which communicates to the main controller(60). An inferior IC registration unit(40) registers information of an IC judged as an inferior IC. An LCD(50) displays information with respect to an inferior IC received from the main controller(60) on a screen. The main controller(60) performs a communication with the sub controllers(20a-20e) for controlling each function performing block connected to the sub controllers(20a-20e).

Description

아이스퀘어씨 통신을 이용한 자기진단 기능을 갖는 전자기기 및 그 자기진단방법{Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking}Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking}

본 발명은 전자기기에 관한 것으로서, 특히 집적화된 메인 콘트롤러 및 적어도 하나 이상의 서브콘트롤러를 포함하는 복수의 IC(Intergrated Circuit)들이인쇄회로기판에 실장되어 상호 통신을 수행하며 기능수행블록들을 제어하도록 하는 전자기기 및 그 전자기기의 제어방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic device. In particular, a plurality of integrated circuits (ICs) including an integrated main controller and at least one subcontroller are mounted on a printed circuit board to perform communication with each other and to control functional blocks. The present invention relates to a control method of a device and an electronic device thereof.

최근 전자제품의 내부에는 적어도 수개에서 많게는 수십개의 IC칩이 인쇄회로기판(Printed Circuit Board : PCB) 상에 실장되어 있다. 이러한 IC칩들 중에는 사운드출력부, 앰프, 서보모터 등과 같은 기능수행블록들을 각각 직접적으로 제어하도록 마련된 서브콘트롤러들 및 각 서브콘트롤러들을 제어하는 메인콘트롤러가 포함된다. 그리고 메인콘트롤러는 서브콘트롤러에 연결된 각 기능수행블록들을 동작시키려 할 때, 각 서브콘트롤러와 상호 통신을 행하여 기능수행블록을 제어하도록 하고 있다. 이렇게 IC들간에 발생되는 통신을 소위 아이스퀘어씨(I²C) 통신 또는 아이투씨(I2C) 통신이라 할 수 있다.Recently, at least several to several tens of IC chips are mounted on printed circuit boards (PCBs) in electronic products. Among these IC chips, sub-controllers are provided to directly control functional blocks such as a sound output unit, an amplifier, a servomotor, and the like, and a main controller for controlling each sub-controller. When the main controller attempts to operate each function execution block connected to the subcontroller, the main controller communicates with each subcontroller to control the function execution block. The communication generated between the ICs may be referred to as so-called I²C communication or I2C communication.

메인콘트롤러와 서브콘트롤러 사이에서 I²C 통신이 이루어지는 과정을 간략하게 설명하면 다음과 같다.A brief description of the process of I²C communication between the main controller and the subcontroller follows.

먼저, 메인콘트롤러는 데이터라인과 클럭라인을 통하여 연결된 모든 서브콘트롤러IC들에게 원하는 서브콘트롤러의 IC별 고유이름(어드레스)을 호출한다. 그러면 그 해당 서브콘트롤러에서는 메인콘트롤러에 응답(Acknowledge)신호를 전송한다. 응답신호를 받은 메인콘트롤러는 해당 서브콘트롤러가 데이터 수신 가능 상태로 판단하고, 기능수행블록에 관한 제어데이터를 전송한다. 그러면 해당하는 서브콘트롤러에서는 전송된 제어데이터에 따라 연결된 기능수행블록을 제어한다.First, the main controller calls the IC specific name (address) of the desired subcontroller to all the subcontroller ICs connected through the data line and the clock line. The subcontroller then sends an acknowledgment signal to the main controller. The main controller receiving the response signal determines that the corresponding subcontroller is capable of receiving data, and transmits control data regarding the function execution block. Then, the corresponding subcontroller controls the connected function execution block according to the transmitted control data.

그러나 위와 같은 종래의 전자기기에 있어서는, 기기 내부의 회로 구성이 IC화 됨에 따라 소형화 및 경량화 그리고 생산성 등의 이점을 가지고 있지만 기기의이상 동작시 불량 IC의 확인에 어려움이 따르는 문제점이 있었다. 또한 장비가 없는 경우에는 기기전체를 바꾸지 않는 이상 불량 문제를 개선시키기 어렵다는 문제점이 있었다. 즉, IC의 불량확인은 기술자들이 기기의 동작 상태에 따라 추정되는 IC 단자를 오실로스코프와 같은 장비를 이용하여 검측하게 되는데, 이때, 추정한 IC의 불량이 검출되지 않는다면 모든 IC를 검측해야 하므로 시간의 소비가 많아져 이용자에 대한 서비스 질이 떨어지는 문제점이 있었다.However, in the conventional electronic device as described above, as the circuit configuration inside the device is IC, it has advantages such as miniaturization, light weight, and productivity. In addition, in the absence of equipment, there was a problem that it is difficult to improve the failure problem unless the entire device is changed. That is, in order to check the IC failure, technicians detect the IC terminal, which is estimated according to the operation state of the device, using equipment such as an oscilloscope. In this case, if the estimated failure of the IC is not detected, all ICs must be detected. There was a problem that the consumption of the service quality of the user is lowered due to the increased consumption.

본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 불량IC에 대한 정보를 이용자 또는 기술자가 신속하게 파악할 수 있도록 하는 자기진단 기능을 갖는 전자기기 및 그 제어방법을 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide an electronic device having a self-diagnosis function and a control method thereof so that a user or a technician can quickly grasp information on the defective IC in order to solve the above problems.

도 1은 본 발명에 따른 아이스퀘어씨(I²C) 통신을 이용한 자기진단 기능을 갖는 전자기기의 개략적인 블록도이고,1 is a schematic block diagram of an electronic device having a self-diagnostic function using ice square (I²C) communication according to the present invention,

도 2는 도 1에 보인 전자기기의 제어동작을 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating a control operation of the electronic device shown in FIG. 1.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

10 : 입력부 12 : 불량IC표시요청 키10: input part 12: bad IC display request key

20 : 서브콘트롤부 30 : IC등록부20: sub control unit 30: IC register

40 : 불량IC등록부 50 : LCD40: bad IC register 50: LCD

60 : 메인콘트롤러 L1 : 데이터라인60: main controller L1: data line

L2 : 클럭라인L2: Clock Line

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 I²C 통신을 이용한 자기진단 기능을 갖는 전자기기는 시스템에 연결된 각 기능수행블록을 각각 직접적으로 제어하며, 각각 고유하게 주어진 IC 정보의 호출에 대하여 응답신호를 전송하는 적어도 하나 이상의 서브콘트롤러들; 불량 IC에 대한 고유 정보를 저장하기 위한 불량IC등록부; 상기 불량IC에 대한 정보가 외부에 인식되도록 표시하는 표시부; 및 상기 서브콘트롤러들 각각에 대하여 주기적으로 호출신호를 전송하고, 그 호출에 대한 응답이 없는 서브콘트롤러에 대하여 그 고유정보를 상기 불량IC등록부에 등록시키며, 상기 표시부에 표시되도록 제어하는 메인콘트롤러;를 포함한다.To achieve the above object, an electronic device having a self-diagnosis function using I²C communication of the present invention directly controls each function execution block connected to a system, and transmits a response signal for each uniquely called IC information call. At least one or more subcontrollers; A defective IC registration unit for storing unique information on the defective IC; A display unit which displays the information on the defective IC to be recognized externally; And a main controller which transmits a call signal to each of the sub-controllers periodically, registers the unique information in the defective IC register for the sub-controller that has no response to the call, and controls the sub-controller to be displayed on the display unit. Include.

또한, 상기 전자기기는 불량IC의 표시를 요청할 수 있는 입력부를 더 포함하며, 상기 메인콘트롤러는 상기 입력부를 통한 불량IC의 표시 요구가 검출되면 상기 불량IC등록부에 저장된 불량IC의 정보를 상기 표시부에 표시되도록 제어한다. 이때 상기 표시부는 화면으로 출력될 수 있으며, 음성으로 출력될 수도 있다.The electronic device may further include an input unit for requesting display of the defective IC, and the main controller may display information on the defective IC stored in the defective IC registration unit when the display request of the defective IC through the input unit is detected. Control to be displayed. In this case, the display unit may be output as a screen, or may be output as a voice.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전자기기의 자기진단방법은 메인콘트롤러와 적어도 하나 이상의 서브콘트롤러가 서로 아이스퀘어씨 통신을 수행하며, 상기 서브콘트롤러들 각각에 연결된 기능수행블록을 제어하도록 구성된 전자기기의 자기진단방법에 있어서, 상기 메인콘트롤러는 상기 서브콘트롤러들 각각에 대하여 고유정보를 통해 주기적으로 호출하는 단계; 상기 서브콘트롤러 각각의 고유정보를 통한 호출에 대하여 해당 서브콘트롤러로부터 응답이 있는가를 파악하는 단계; 상기 호출 대상 서브콘트롤러로부터 응답이 없으면 상기 호출 대상 서브콘트롤러에 대한 정보를 불량IC로 등록하는 단계; 및 등록된 상기 불량IC의 고유정보를 표시하는 단계;를 포함한다.Self-diagnosis method of an electronic device according to the present invention for achieving the above object is a main controller and at least one sub-controller to perform ice square communication with each other, and configured to control the function execution block connected to each of the sub-controllers A method of self-diagnosis of an electronic device, the main controller periodically calling each of the sub-controllers through unique information; Determining whether there is a response from the corresponding subcontroller to the call through the unique information of each of the subcontrollers; If there is no response from the call target subcontroller, registering information on the call target subcontroller as a bad IC; And displaying the unique information of the registered defective IC.

위의 과정에서 상기 서브콘트롤러로부터 호출에 대한 응답이 있으면 상기 호출 대상 서브콘트롤러가 불량IC로 등록되어 있는가를 파악하는 단계; 및 호출에 대하여 응답한 상기 서브콘트롤러가 불량IC로 등록되어 있으면 등록된 정보를 삭제시키는 단계를 더 포함한다.Determining whether the called sub-controller is registered as a bad IC if there is a response to the call from the sub-controller in the above process; And deleting the registered information if the subcontroller responding to the call is registered as a bad IC.

또한, 상기 과정중 등록된 상기 불량IC의 고유정보 표시 단계는 외부로부터 불량IC에 대한 표시요청이 있는가를 검출하는 단계; 및 불량IC에 대한 표시요청이 있으면 표시하는 단계;를 포함한다.In addition, the step of displaying the unique information of the defective IC registered during the process may include detecting whether there is a display request for the defective IC from the outside; And displaying a display request for a defective IC.

이상과 같은 전자기기 및 전자기기의 제어방법은 기기의 이상 동작 발생시사용자 또는 에프터 서비스 기술자가 손쉽게 손상된 IC 정보를 파악할 수 있어 기기의 불량 개선에 따른 시간을 절약할 수 있게 된다.As described above, the electronic device and the control method of the electronic device can easily detect damaged IC information when the user or an after-service technician encounters an abnormal operation of the device, thereby saving time due to the improvement of the failure of the device.

이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 자기진단 기능을 갖는 전자기기의 개략적인 블록도이다.1 is a schematic block diagram of an electronic device having a self-diagnostic function according to the present invention.

전자기기는 입력부(10), 각각 IC화된 서브콘트롤러들(20a~20e)로 이루어진 서브콘트롤부(20), IC등록부(30), 불량IC등록부(40), LCD(50) 및 메인콘트롤러(60)를 포함한다.The electronic device includes an input unit 10, a sub-control unit 20 consisting of IC-controlled sub-controllers 20a to 20e, an IC register 30, a defective IC register 40, an LCD 50, and a main controller 60, respectively. ).

입력부(10)는 기기의 사용자 또는 기술자가 불량IC의 표시를 요청할 수 있도록 불량IC표시요청키(12)가 마련된다.The input unit 10 is provided with a defective IC display request key 12 so that a user or a technician of the apparatus can request display of the defective IC.

서브콘트롤부(20)는 각각 연결된 기능수행블록(미도시)을 제어하는 IC화 된 서브콘트롤러들(20a~20e)로 구성되며, 여기서 각 서브콘트롤러(20a~20e)는 메인콘트롤러(50)와 각각 데이터라인(L1) 및 클럭라인(L2)으로 연결된다. 그리고 각 서브콘트롤러(20a~20e)는 각각 고유한 IC정보, 예를 들면 IC이름을 가지며, 메인콘트롤러(60)로부터의 자신의 고유정보를 통한 호출신호가 수신되면, 그 호출신호에 대응하는 응답신호를 전송한다. 서브콘트롤러들(20a~20e)로는 기기에 따라 사운드처리부(20a), 앰프조정부(20b), 스위칭부(30c), 서보제어부(30d), I/O확장처리부(30e) 등이 포함될 수 있다.The sub-control unit 20 is composed of ICized sub-controllers (20a ~ 20e) for controlling the function execution block (not shown), respectively, where each sub-controller (20a ~ 20e) and the main controller (50) The data line L1 and the clock line L2 are connected to each other. Each of the subcontrollers 20a to 20e has unique IC information, for example, an IC name, and when a call signal through its own information from the main controller 60 is received, a response corresponding to the call signal is received. Send a signal. The subcontrollers 20a to 20e may include a sound processor 20a, an amplifier adjusting unit 20b, a switching unit 30c, a servo controller 30d, an I / O expansion processor 30e, and the like depending on the device.

IC등록부(30)는 메인콘트롤러(60)와 통신 가능한 모든 IC 각각에 대한 고유정보가 등록된다.The IC registration unit 30 registers unique information for each IC that can communicate with the main controller 60.

불량IC등록부(40)는 불량IC로 판단된 IC에 대한 정보가 등록되며, 불량IC에 대한 정보의 등록 및 삭제를 위하여 EEPROM(Electically Eraseble and Programable ROM)이 이용될 수 있다.The defective IC registration unit 40 registers information on the IC determined as a defective IC, and EEPROM (Electically Eraseble and Programmable ROM) may be used to register and delete information about the defective IC.

LCD(50)는 메인콘트롤러(60)로부터 전달받은 불량IC에 대한 정보를 화면에 표시한다.The LCD 50 displays information on the defective IC received from the main controller 60 on the screen.

메인콘트롤러(60)는 각 서브콘트롤러(20a~20e)에 연결된 각 기능수행블록들을 제어하기 위하여 서브콘트롤러들(20a~20e) 각각과 통신을 수행한다. 그리고 주기적으로 각 서브콘트롤러(20a~20e)에 호출신호를 전송하고, 그 호출에 대한 응답이 없는 서브콘트롤러에 대한 정보를 불량IC등록부(40)에 등록시킨다. 또한, 메인콘트롤러(60)는 불량IC에 대한 고유정보가 LCD(50)에 표시되도록 제어한다. 여기서 불량IC에 대한 정보의 표시는 문자발생기(On Screen Display : OSD)를 통해 각 IC의 고유이름이 화면에 표시될 수 있도록 한다. 또한, 메인콘트롤러(60)는 불량IC에 대한 정보를 사운드처리부(30a) 및 엠프(30b)를 통해 음성으로 표시되도록 할 수 있으며, 물론, 화면표시 및 음성 모두 표시할 수도 있다. 또한, 메인콘트롤러(60)는 불량IC에 대한 정보의 표시를 불량IC의 검출시 곧 바로 표시되도록 제어 할 수 있으며, 입력부(10)를 통한 표시요청이 있는 경우에만 표시되도록 제어할 수도 있다.The main controller 60 communicates with each of the sub-controllers 20a-20e to control each function execution block connected to each of the sub-controllers 20a-20e. Then, a call signal is periodically transmitted to each subcontroller 20a to 20e, and information about the subcontroller having no response to the call is registered in the defective IC registration unit 40. In addition, the main controller 60 controls so that the unique information on the defective IC is displayed on the LCD (50). Here, the display of the information about the defective IC allows the unique name of each IC to be displayed on the screen through an On Screen Display (OSD). In addition, the main controller 60 may display the information on the defective IC through the sound processing unit 30a and the amplifier 30b as a voice, and of course, both the screen display and the voice may be displayed. In addition, the main controller 60 may control the display of information on the defective IC to be displayed immediately upon detection of the defective IC, or may be controlled to be displayed only when there is a display request through the input unit 10.

도 2는 도 1에 보인 본 발명에 따른 전자기기의 제어방법을 설명하는 순서도이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating a control method of an electronic device according to the present invention shown in FIG. 1.

먼저, 메인콘트롤러(60)는 주기적으로 IC등록부(30)에 등록된서브콘트롤러(20a~20e)들을 각각 호출한다(S10). 그리고 각 서브콘트롤러(20a~20e)로부터 응답이 있는가를 파악한다(S20). 예를 들어 메인콘트롤러(60)에서 사운드처리부(20a)를 호출 했다고 할 때, 사운드처리부(20a)로부터 호출에 대한 응답이 없으면 사운드처리부(20a)의 IC이름을 불량IC등록부(40)에 등록시킨다(S21). 한편, 사운드처리부(20a)로부터 호출에 대한 응답이 검출된 경우에는 사운드처리부(20a)가 이전에 불량IC등록부(40)에 등록되었는가를 파악한다(S30). 이때, 사운드처리부(20a)가 불량IC등록부(40)에 불량IC로 등록되어 있다면, 메인콘트롤러(60)는 불량IC등록부(40)에 저장된 사운드처리부(20a)에 대한 정보를 삭제한다(S40). 반면, 메인콘트롤러(60)는 사운드처리부(20a)가 불량IC등록부(40)에 불량IC로 등록되어 있지 않았다면, 다음 서브콘트롤러, 예를 들어, 엠프(20b)를 호출하거나 모든 IC에 대한 호출을 마친 경우라면 기본모드로 복귀한다(S50).First, the main controller 60 periodically calls the sub-controllers 20a to 20e registered in the IC registration unit 30 (S10). Then, it is determined whether there is a response from each subcontroller 20a to 20e (S20). For example, when the sound processor 20a is called by the main controller 60, if there is no response from the sound processor 20a, the IC name of the sound processor 20a is registered in the bad IC register 40. (S21). On the other hand, when a response to the call is detected from the sound processing unit 20a, it is determined whether the sound processing unit 20a has been previously registered in the defective IC registration unit 40 (S30). At this time, if the sound processing unit 20a is registered as a bad IC in the bad IC registration unit 40, the main controller 60 deletes information on the sound processing unit 20a stored in the bad IC registration unit 40 (S40). . On the other hand, if the sound processing unit 20a is not registered as a bad IC in the bad IC register 40, the main controller 60 calls the next subcontroller, for example, the amplifier 20b or calls for all ICs. If it is finished, return to the default mode (S50).

위와 같이 인쇄회로기판에 실장된 IC들을 진단하는 과정에서 메인콘트롤러(60)는 호출에 응답이 없는 호출 대상 서브콘트롤러에 대하여 곧 바로 표시부에 불량IC로 표시되도록 할 수 있다(S22). 또한, 메인콘트롤러는 입력부를 통해 불량IC에 대한 표시요청(S60)이 있는 경우에 불량IC등록부(40)를 참조하여 LCD(50)에 불량IC가 표시되도록 할 수도 있다.In the process of diagnosing ICs mounted on the printed circuit board as described above, the main controller 60 may immediately display a defective IC on the display unit for the call target subcontroller that does not respond to the call (S22). In addition, when there is a display request (S60) for the defective IC through the input unit, the main controller may cause the defective IC to be displayed on the LCD 50 with reference to the defective IC register 40.

한편, 위의 불량IC에 대한 표시방법은 OSD를 통해 불량IC의 이름을 LCD(50)에 표시되도록 할 수 있으며, 사운드처리부(20a) 및 엠프(20b)를 통해 미리 기억되어 있는 IC에 대한 음성정보를 음성으로 출력할 수도 있다.On the other hand, the display method for the defective IC can be displayed on the LCD 50, the name of the defective IC through the OSD, the voice for the IC stored in advance through the sound processing unit 20a and the amplifier (20b) Information can also be output by voice.

결국, 이상에서 살펴본 바와 같은 본 발명의 전자기기는 불량IC에 대한 정보를 외부에서 손쉽게 파악할 수 있도록 함에 따라 기기의 불량 개선을 위해 종전과 같이 불량IC의 확인작업에 요구되던 검측시간을 단축할 수 있게 된다.As a result, as described above, the electronic device of the present invention can easily grasp information on the defective IC from the outside, thereby reducing the detection time required for checking the defective IC as in the past to improve the defect of the apparatus. Will be.

이상과 같은 본 발명에 따른 I²C 통신을 이용한 자기진단기능을 갖는 전자기기는 마련된 IC들에 대한 손상여부를 주기적으로 진단하여 손상된 경우 그에 대한 정보를 표시해주므로 교체 및 보수등이 용이하여 생산현장에서는 생산성을 향상시킬 수 있게 되며, 애프터 서비스 현장에서는 신속한 서비스가 가능하게 된다.The electronic device having the self-diagnosis function using the I²C communication according to the present invention as described above periodically diagnoses the damage to the provided ICs and displays information about the damage if it is damaged. It is possible to improve the quality of the product and to provide a quick service at the after-sales service site.

Claims (9)

기능에 따른 동작을 직접적으로 수행하도록 구성된 기능수행블록들을 각각 직접적으로 제어하며, 각각 고유하게 주어진 IC 정보의 호출에 대하여 응답신호를 전송하는 적어도 하나 이상의 서브콘트롤러들;At least one subcontroller that directly controls each function execution block configured to directly perform an operation according to a function, each of which transmits a response signal to a call of uniquely given IC information; 불량 IC에 대한 정보를 저장하기 위한 불량IC등록부; 및A bad IC register for storing information on the bad IC; And 상기 서브콘트롤러들에 대하여 연결라인을 통해 각각 호출신호를 전송하고, 그 호출에 대한 응답이 없는 서브콘트롤러에 대하여 그 고유정보를 상기 불량IC등록부에 등록되도록 제어하는 메인콘트롤러;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기기.And a main controller for transmitting the call signal to each of the subcontrollers through a connection line, and controlling the unique information to be registered in the defective IC register for the subcontroller having no response to the call. Electronics. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 불량 IC에 대한 정보가 외부에 인식되도록 표시하는 표시부를 더 포함하며,It further includes a display unit for displaying the information about the defective IC to be recognized externally, 상기 메인콘트롤러는 호출에 대한 응답이 없는 서브콘트롤러에 대하여 상기 표시부에서 표시되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 전자기기.The main controller is to control the display to be displayed on the display for the sub-controller does not respond to the call. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 불량IC에 대한 표시의 요청명령을 입력하기 위한 입력부를 더 포함하며,It further includes an input unit for inputting a request command of the indication for the defective IC, 상기 메인콘트롤러는 상기 입력부를 통한 불량IC의 표시 요구가 검출되면 상기 불량IC등록부에 저장된 불량IC의 정보를 상기 표시부에 표시되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 전자기기.And the main controller controls to display the information on the defective IC stored in the defective IC register in the display unit when a display request of the defective IC through the input unit is detected. 제 2항 내지 제 3항에 있어서,The method according to claim 2, wherein 상기 표시부는 상기 불량IC에 대한 정보를 화면 및/또는 음성으로 출력되도록 하는 화면표시부 및/또는 음성출력부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기기.And the display unit includes a screen display unit and / or a voice output unit for outputting information about the defective IC to a screen and / or a voice. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 메인콘트롤러는 상기 불량IC등록부에 고유정보가 저장된 서브콘트롤러에 대하여 주기적으로 호출신호를 전송하며, 그 호출신호에 대한 응답이 있는 경우, 상기 불량IC등록부에 등록된 상기 서브콘트롤러의 고유정보를 삭제시키는 것을 특징으로 하는 전자기기.The main controller periodically transmits a call signal to a sub-controller having unique information stored in the bad IC register. If there is a response to the call signal, the main controller deletes unique information of the sub-controller registered in the bad IC register. Electronic device characterized in that. 기능에 따른 동작을 직접 수행하도록 구성된 적어도 하나 이상의 기능수행블록, 상기 기능수행블록을 각각 제어하는 적어도 하나 이상의 서브콘트롤러들, 및 상기 서브콘트롤러와 통신을 수행하며, 상기 서브콘트롤러들 각각에 연결된 기능수행블록을 제어하는 메인콘틀로러를 갖는 전자기기의 자기진단방법에 있어서,At least one function execution block configured to directly perform an operation according to a function, at least one subcontroller respectively controlling the function execution block, and a function execution connected to each of the subcontrollers in communication with the subcontroller In the self-diagnosis method of the electronic device having a main controller to control the block, 상기 메인콘트롤러로부터 각각의 상기 서브콘트롤러에 호출신호를 전송하는 단계;Transmitting a call signal from the main controller to each of the subcontrollers; 상기 호출신호에 대하여 해당 서브콘트롤러로부터 응답이 있는가를 판단하는 단계; 및Determining whether there is a response from the sub-controller to the call signal; And 상기 호출 대상 서브콘트롤러로부터 응답이 없으면 상기 호출 대상 서브콘트롤러를 불량IC로 등록하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기기의 자기진단방법.And if there is no response from the call target subcontroller, registering the call target subcontroller as a bad IC. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 호출 대상 서브콘트롤러로부터 응답이 없으면 등록된 상기 불량IC의 고유정보를 표시하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기기의 자기진단방법.And displaying the unique information of the registered defective IC if there is no response from the call target subcontroller. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 불량IC에 대한 표시요청이 있는가를 검출하는 단계를 더 포함하며,Detecting whether there is a display request for the defective IC; 상기 표시단계는 불량IC에 대한 표시요청이 검출된 경우에 수행되는 것을 특징으로 하는 전자기기의 자기진단방법.And the displaying step is performed when a display request for a defective IC is detected. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 서브콘트롤러로부터 호출에 대한 응답이 있으면 상기 호출 대상 서브콘트롤러가 불량IC로 등록되어 있는가를 판단하는 단계; 및Determining whether the called sub-controller is registered as a bad IC if there is a response to the call from the sub-controller; And 상기 호출에 응답한 서브콘트롤러가 불량IC로 등록되어 있으면 등록된 정보를 삭제시키는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기기의 자기진단방법.And deleting the registered information if the sub-controller responding to the call is registered as a bad IC.
KR1020010039918A 2001-07-05 2001-07-05 Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking KR20030005140A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010039918A KR20030005140A (en) 2001-07-05 2001-07-05 Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010039918A KR20030005140A (en) 2001-07-05 2001-07-05 Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20030005140A true KR20030005140A (en) 2003-01-17

Family

ID=27713457

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020010039918A KR20030005140A (en) 2001-07-05 2001-07-05 Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20030005140A (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970004917A (en) * 1995-06-12 1997-01-29 구자홍 Defective IC Check Method
KR970009437A (en) * 1995-07-03 1997-02-24 구자홍 Self-diagnosis device and method for electronic products
KR19990018639A (en) * 1997-08-28 1999-03-15 구자홍 Apparatus and method for transmitting magnetic diagnostic data of electronic device
US6233635B1 (en) * 1997-07-10 2001-05-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Diagnostic/control system using a multi-level I2C bus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970004917A (en) * 1995-06-12 1997-01-29 구자홍 Defective IC Check Method
KR970009437A (en) * 1995-07-03 1997-02-24 구자홍 Self-diagnosis device and method for electronic products
US6233635B1 (en) * 1997-07-10 2001-05-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Diagnostic/control system using a multi-level I2C bus
KR19990018639A (en) * 1997-08-28 1999-03-15 구자홍 Apparatus and method for transmitting magnetic diagnostic data of electronic device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06249919A (en) Interterminal-connection test method of semiconductor integrated circuit device
US20140009280A1 (en) Fire alarm system
KR20030005140A (en) Electric device having self-check function using I2C communication and method for self-checking
US20040205378A1 (en) Method of identifying connection error and electronic apparatus using same
WO2015199285A1 (en) System for configuring reference information of system monitoring and predicting abnormality of smt manufacturing line, and control method therefor
JPH0435283A (en) Television receiver
KR100508590B1 (en) Device and method for detecting abnormality of link between main board and node of communication system
KR20050113798A (en) A control facilities card inspection device
JPH11103307A (en) Transmission system with trigger function and method for measuring time interval of its input output signal
CN117970074A (en) Test system and method of operation thereof
KR100542311B1 (en) Aging monitoring system using photo electric switch
JP2001177215A (en) Method and device for inspecting printed board and electronic equipment
KR100225735B1 (en) Test controlling method by displaying idle message full electronic telephone exchange
KR0151960B1 (en) Apparatus for testing the screen of vcr
JP2005316544A (en) Communication module, output module, link module, and measuring device
KR100308035B1 (en) TV repair method and failure history device
KR19990074195A (en) Off-line teach device of soldering tester and its method
JP2000028663A (en) Clock interrupt-testing circuit
JP2020155599A (en) Failure prediction apparatus, printed circuit board, and failure prediction method
JP2001217520A (en) Control circuit board
JPH04293200A (en) Building control device
JPH04282707A (en) Controller with failure diagnostic function for producing equipment
KR19980072411A (en) Communication line inspection device and inspection method of BUS system
JP2003057291A (en) Burn-in tester system
KR20070012018A (en) Plasma display panel having trouble self-check function

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application