KR20030003683A - Test apparatus used in confidence test of electronic device and module - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 전자 부품 및 모듈의 신뢰성을 테스트하기 위한 리니어 테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 피씨 슬롯에 간편하게 장착할 수 있고, 내부로 인가되는 전압 및 전류를 정밀하게 제어하여 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있는 리니어 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a linear test device for testing the reliability of electronic components and modules, and more particularly, can be easily mounted in the PC slot, and precisely control the voltage and current applied internally to obtain accurate test results. A linear test apparatus that can be used.
종래에는 개발된 각종 전자 부품 및 부품의 모듈별로 그 신뢰성을 테스트하기 위한 테스트 장치를 개별적으로 각각 주문 제작하여 사용하였다. 이처럼 부품 및 모듈에 따라 개별적으로 주문 제작된 테스트 장치는, 새로운 하이브라이드 IC, 회로기판(PCB) 또는 신규 개발된 부품 및 모듈에 호환적으로 사용할 수 없는 단점이 있다. 따라서, 주문 제작된 테스트 장치가 없을 경우에는 고가의 각종 계측장비를 이용하는 복잡한 테스트 과정을 거쳐 일일이 수작업으로 부품의 신뢰성을 확인함으로써, 시간 및 비용이 크게 소요되었다. 또한, 부품의 전량을 테스트하는 것이 실질적으로 불가능하여 무작위로 선별된 샘플에 대해서만 그 신뢰성을 테스트함으로써, 양산된 전체 부품중의 양호한 부품의 비율을 나타내는 수율(yield)이 저하되는 문제점이 있었다.In the related art, test devices for testing the reliability of various developed electronic components and modules were individually manufactured and used individually. As such, the test device customized to each component and module is not compatible with a new hybrid IC, a circuit board (PCB), or a newly developed component and module. Therefore, in the absence of a custom-made test apparatus, a complicated test process using various kinds of expensive measuring equipment is required to check the reliability of the components by hand, which takes a great deal of time and money. In addition, it was practically impossible to test the entire quantity of the parts, so that the reliability was tested only for samples randomly selected, so that a yield indicating a good part ratio in the total parts produced was lowered.
따라서, 본 분야에서는 상기와 같은 문제점을 해소하기 위하여, 피씨(Personal Computer:PC)를 이용한 범용 테스트 장치를 개발하였다. 상기 피씨를 이용한 범용 테스트 장치를 구현하기 위해서는, 피씨상에서의 정밀 전압 및 전류원 보드 설계 기술을 확보하여 정확한 전압 및 전류를 테스트 장치 내부로 인가하는 것이 필수적이다. 그러나, 종래에는 전압 및 전류를 아날로그 방식으로 제어함으로써, 테스트 장치 내부로 인가되는 전압 및 전류의 정확도가 불안정하여 테스트 결과의 신뢰성이 저하되었다. 뿐만 아니라 불안정한 전압 및 전류를 조절하기 위한 수작업이 수반되므로, 시간 및 비용이 크게 소요되는 종래의 문제점을 여전히 해소하지 못하고 있는 실정이다.Therefore, in this field, in order to solve the above problems, a general-purpose test apparatus using PC (Personal Computer: PC) has been developed. In order to implement a general-purpose test apparatus using the PC, it is essential to secure a precision voltage and current source board design technology on the PC and to apply the correct voltage and current into the test apparatus. However, conventionally, by controlling the voltage and the current in an analog manner, the accuracy of the voltage and the current applied into the test apparatus is unstable and the reliability of the test result is lowered. In addition, since the manual work for adjusting the unstable voltage and current is accompanied, the situation is still not solved the conventional problem that takes a great deal of time and money.
따라서, 본 발명의 목적은 상기한 종래의 문제점을 해소할 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an improved linear test apparatus that can solve the above-mentioned conventional problems.
본 발명의 다른 목적은, 내부로 인가되는 전압 및 전류가 정확하게 제어되는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an improved linear test apparatus in which the voltage and current applied therein are precisely controlled.
본 발명의 다른 목적은, 부품 또는 모듈 테스트에 소요되는 비용 및 시간을 단축시킬 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an improved linear test apparatus that can reduce the cost and time required for testing a part or module.
본 발명의 다른 목적은, 여러 부품의 성능을 테스트할 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an improved linear test apparatus that can test the performance of various components.
본 발명의 다른 목적은, 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an improved linear test apparatus that can improve the reliability of the test results.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위해서 본 발명에서는, 호스트 피씨에 의해 가변적으로 정밀 조정될 수 있는 전압 및 전류를 발생시키는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부와; 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 출력 신호값들을 측정한 뒤, 이를 16비트 고해상도 아날로그/디지털 변환기를 통해 디지털화하여 상기 호스트 피씨의 모니터상에 디스플레이하는 측정 보드부와; 상기 호스트 피씨를 이용하여 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 인가신호 및 데이터 측정 지점이 손쉽게 선택될 수 있도록 하기 위하여, 다수개의 측정 단자를 제어하는 외부 제어용 입/출력 보드부와; 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 출력 신호값들을 선택하여, 이를 상기측정 보드부로 전달하는 릴레이 메트릭스부로 구성됨을 특징으로 하며, 상기 호스트 피씨의 슬롯에 장착되는 리니어 테스트 장치를 제공한다.In order to achieve the above objects of the present invention, there is provided a precision voltage and current supply circuit for generating a voltage and current that can be variably finely adjusted by a host PC; A measurement board unit for measuring output signal values at a desired point for a reliability test and digitizing them through a 16-bit high resolution analog-to-digital converter and displaying them on the monitor of the host PC; An external control input / output board unit for controlling a plurality of measurement terminals so that the application signal and the data measurement point of the point where the reliability test is desired can be easily selected using the host PC; It is characterized by consisting of a relay matrix unit for selecting the output signal values of the desired point for the reliability test, and transfers them to the measurement board unit, and provides a linear test apparatus mounted in the slot of the host PC.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 리니어 테스트 장치의 블록 구성도를 나타낸다.1 shows a block diagram of a linear test apparatus according to a preferred embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명에 따른 상기 리니어 테스트 장치에 적용되는 정밀 전압 및 전류 공급 회로의 블록 구성도이다.2 is a block diagram of a precision voltage and current supply circuit applied to the linear test apparatus according to the present invention.
도 3은 상기 정밀 전압 및 전류 공급 회로의 설계도를 나타낸다.3 shows a schematic diagram of the precision voltage and current supply circuit.
도 4는 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치의 전체 설계도를 나타낸다.4 shows the overall design of a linear test apparatus according to the invention.
<도면의 주요부분에 대한 설명><Description of main parts of drawing>
1:호스트 피씨2:인터페이스 보오드1: Host PC 2: Interface Board
3:데이터 버스4:고전력 V/I 소스 보드3: data bus 4: high-power V / I source board
5:미디엄 전력 V/I 소스 보드6:정밀 전압 및 전류 공급 회로5: Medium power V / I source board 6: Precision voltage and current supply circuit
7:측정 보드8:외부 제어용 입/출력 보드7: Measuring board 8: I / O board for external control
9:릴레이 메트릭스10:리니어 테스트 장치9: relay matrix 10: linear test device
11:시험 부품 및 모듈11: test parts and modules
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면들을 참조하여 상세히 설명하고자 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 리니어 테스트부(10)의 블록 구성도를 나타낸 것으로서, 본 발명을 보다 용이하게 설명하기 위하여 상기 리니어 테스트부(10)가 장착되는 호스트 피씨 및 테스트 대상인 시험 부품 및 모듈을 도면상에 함께 도시하였다.1 is a block diagram of a linear test unit 10 according to a preferred embodiment of the present invention. In order to explain the present invention more easily, the host PC and the test subject to which the linear test unit 10 is mounted are tested. The parts and modules are shown together in the drawings.
도면을 참조하면, 호스트 피씨(1)는 인터페이스 보드(2)를 통하여 데이터 버스(3)와 연결된다. 상기 데이터 버스(3)에는 본 발명에 따른 정밀 전압 및 전류 공급 회로(6), 측정 보드(7) 및 외부 제어용 입/출력 보드(8)가 연결되어 있다. 그리고, 상기 정밀 전압 및 전류 공급 회로(6), 측정 보드(7) 및 외부 제어용 입/출력보드(8)는 신호인가 및 측정을 위해 구현된 릴레이 메트릭스(9)에 연결되어 있다. 상기 정밀 전압 및 전류 공급 회로(6), 측정 보드(7) 및 외부 제어용 입/출력 보드(8), 신호인가 및 측정을 위해 구현된 릴레이 메트릭스(9)는 본 발명에 따라 구현된 리니어 테스트부(10)로서, 상기 릴레이 메트릭스(9)는 테스트 대상이 되는 시험 부품 및 모듈(11)과 연결되어 있다.Referring to the drawings, the host PC 1 is connected to the data bus 3 through the interface board 2. The data bus 3 is connected with a precision voltage and current supply circuit 6, a measurement board 7 and an external control input / output board 8 according to the invention. The precision voltage and current supply circuit 6, the measurement board 7 and the external control input / output board 8 are connected to a relay matrix 9 implemented for signal application and measurement. The precision voltage and current supply circuit 6, the measurement board 7 and the external control input / output board 8, the relay matrix 9 for signal application and measurement are linear test units implemented according to the present invention. As 10, the relay matrix 9 is connected to a test component and a module 11 to be tested.
상기 리니어 테스트기(10)에 포함되는 상기 정밀 전압 및 전류 공급 회로(4)는, 상기 리니어 테스트기(10)의 핵심 구성으로서, 고전력을 발생시키는 고전력 전압/전류 소스 보드(4)와 중간 정도의 전력을 발생시키는 미디엄 전력 전압/전류 소스 보드(5)로 구성된다. 상기 정밀 전압 및 전류 공급 회로(4)는 상기 호스트 피씨(1)에 의해 그 전압 및 전류가 가변적으로 정밀 조정될 수 있다. 그리고, 정밀 조정된 전압 및 전류에 대한 신호들은 상기 릴레이 메트릭스를 통하여, 테스트하고자 하는 부품 및 모듈의 원하는 지점으로 인가되어 진다.The precision voltage and current supply circuit 4 included in the linear tester 10 is a core configuration of the linear tester 10 and has a power of about the same level as the high power voltage / current source board 4 that generates high power. It consists of a medium power voltage / current source board (5) which generates the power. The precision voltage and current supply circuit 4 can be precisely adjusted in its voltage and current by the host PC 1. Signals for precisely regulated voltages and currents are then applied to the desired points of the component and module under test via the relay matrix.
상기 측정 보드(7)에서는 사용자(즉, 테스트 작업자)가 측정을 원하는 지점의, 예컨대 전압, 전류, 주파수 사이클, 라이징 타임(rising time), 폴링 타임(falling time)등과 같은 출력 신호값들을 상기 릴레이 메트릭스(9)를 통하여 획득한 뒤, 이러한 아날로그 신호 데이터를 16비트 고해상도 아날로그/디지털 변화기를 통해 디지털 신호 데이터로 변환한다. 그리고 나서, 상기 디지털 신호 데이터를 사용자 호스트 피씨의 모니터상에 디스플레이되도록 한다. 이처럼, 전압, 전력, 주파수 사이클등에 대한 디지털 신호 데이터가 모니터상에 디스플레이되면 사용자는 이러한 디지털 신호 데이터를 용이하게 확인 할 수 있는데, 특히 정밀 전압 및전류 공급 회로(4)로부터 출력되는 전압 및 전류에 대한 디지털 신호 데이터를 실시간 확인하고 정밀하게 제어함으로써, 부품 및 모듈에 대한 보다 정확한 테스트를 실시할 수 있게 된다.The measuring board 7 relays the output signal values such as voltage, current, frequency cycle, rising time, falling time, etc. at the point where the user (i.e., the test operator) wants to measure. After acquisition through the matrix 9, this analog signal data is converted into digital signal data via a 16-bit high resolution analog / digital transducer. The digital signal data is then displayed on a monitor of the user host PC. As such, when digital signal data for voltage, power, frequency cycles, etc. are displayed on the monitor, the user can easily check the digital signal data, in particular with respect to the voltage and current output from the precision voltage and current supply circuit 4. Real-time verification and precise control of digital signal data allows for more accurate testing of components and modules.
상기 외부 제어용 입/출력 보드(8)는 상기 호스트 피씨(1)에서 릴레이 메트릭스(9)를 제어하여 사용자가 테스트를 원하는 지점의 인가신호 및 데이터 측정 지점이 손쉽게 선택될 수 있도록 하기 위하여 수많은 측정 단자를 제어하는 기능을 수행한다.The external control input / output board 8 controls a number of measurement terminals to control the relay matrix 9 in the host PC 1 so that an application signal and a data measurement point of a point that a user wants to test can be easily selected. Perform a function to control.
이와 같이, 본 발명에서는 호스트 피씨 슬롯에 간편하게 장착할 수 있는 리니어 테스트부(10)를 제공한다. 그리고, 호스트 피씨상에서 프로그램만 간단히 변경하여 리니어 테스트부(10)로 인가하고자 하는 전압 및 전류값을 매우 정밀하게 제어함으로써, 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트를 보다 효과적이고 정확하게 수행할 수 있게 된다.As described above, the present invention provides a linear test unit 10 that can be easily mounted in the host PC slot. In addition, by simply changing the program on the host PC to control the voltage and current values to be applied to the linear test unit 10 very precisely, the reliability test of the components and modules can be performed more effectively and accurately.
도 2는 본 발명에 따른 상기 리니어 테스트부(10)의 정밀 전압 및 전류 공급 회로(6)의 블록 구성도이다.2 is a block diagram of the precision voltage and current supply circuit 6 of the linear test unit 10 according to the present invention.
도 3은 상기 정밀 전압 및 전류 공급 회로(6)의 설계도를 나타낸다.3 shows a design diagram of the precision voltage and current supply circuit 6.
도 4는 본 발명에 따른 리니어 테스트부(10)의 전체 설계도르 나타낸다.4 shows an overall design diagram of the linear test unit 10 according to the present invention.
상기한 바와 같이, 본 발명에 따라 구현된 리니어 테스트 장치는 모든 PCB, 전자 부품, 부품 모듈, 자동차 관련 하이브리드 IC의 신뢰성을 테스트하는데 적합하게 사용될 수 있다. 그리고, 종래와 같은 복잡한 계측기기들을 구비함이 없이 호스트 피씨의 슬롯에 간단히 장착시켜 사용할 수 있으므로, 실용적이면서도 효율적인 신뢰성 테스트를 실현할 수 있다. 또한, 대부분 수입에 의존하던 종래의 계측기기들을 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치로 대치함으로써, 외화 낭비를 줄일 수 있는 부가적인 효과가 발생한다.As described above, the linear test apparatus implemented according to the present invention can be suitably used to test the reliability of all PCBs, electronic components, component modules, and automotive-related hybrid ICs. In addition, since the conventional PC can be simply mounted in a slot of the host PC without having complicated measuring devices, a practical and efficient reliability test can be realized. In addition, by replacing the conventional measuring instruments, which were mostly imported, with the linear test apparatus according to the present invention, an additional effect of reducing foreign currency waste occurs.
상기한 본 발명은 도면에 따라 설명되고 예를들어 한정되었지만 사안에 따라 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 분야에 통상의 지식을 가진자들에게 있어서는 여러 가지 변화와 변경이 가능함은 물론이다.The present invention described above is described according to the drawings and limited by way of example, but various changes and modifications are possible to those skilled in the art without departing from the technical spirit of the present invention according to the matter. to be.
상술한 바와 같이, 본 발명에서는 각종 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어 테스트 장치를 제작함에 있어서, 사용자의 호스트 피씨에 의해 가변적으로 정밀 조정된 전압 및 전류를 발생시킬 수 있는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부를 적용함으로써, 양호한 신뢰성 테스트 결과를 얻을 수 있다.As described above, in the present invention, in manufacturing a linear test apparatus used for reliability testing of various electronic components and modules, a precision voltage and current capable of generating a voltage and a current that are variably precisely adjusted by a host PC of a user. By applying the supply circuit portion, good reliability test results can be obtained.
또한, 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치는 범용 피씨의 슬롯에 장착하여 사용할 수 있도록 하고, 간단한 프로그램 변경으로 전자 부품 및 모듈의 신뢰성을 테스트함으로써, 테스트에 소요되는 비용 및 시간을 단축시킬 수 있는 효과를 거둘 수 있다.In addition, the linear test apparatus according to the present invention can be mounted and used in the slot of the general purpose PC, and by testing the reliability of the electronic components and modules with a simple program change, the cost and time required for the test can be shortened. You can reap.
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