KR20020077596A - Method for retesting of test handler - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A method for retesting a test handler is provided to improve a work efficiency by proceeding a retest based on a reference automatically preset. CONSTITUTION: A method for retesting a test handler provided with a loading part, an unloading part, at least one test part and a robot picker includes the steps of: setting a retest automatic/manual modes and a retest reference value; inserting work materials into the loading part after finishing the setting and inputting a test start command;(S23-S25) preceding a corresponding test work by subsequently moving the work materials in the loading part to at least one test part by the robot picker in response to the test start command and receiving by classifying good/reject/retest in the unloading part based on the test result; and reworking the test by inserting the work material classified by the retest to the loading part if the retest mode is set to the automatic mode and the number of work materials classified by the retest is larger than the reference value(S24-S37).

Description

테스트 핸들러의 리테스트 방법{Method for retesting of test handler}Method for retesting of test handler}

본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 특히 테스트 핸들러의 리테스트 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a test handler, and more particularly, to a method of retesting a test handler.

도 1과 도 2는 일반적인 수평식 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 것으로, 핸들러의 베이스(1) 전방부 일측에는 테스트할 디바이스들이 채워진 트레이(11)들이 상하로 적층되어 있는 로딩부(10)가 설치되어 있고, 이 로딩부(10)의 양측으로는 테스트완료된 디바이스들 중 양품 및 재검사품으로 분류된 디바이스들이 각각 적재되는 다수의 양품 적재용 트레이(21)와 재검사품 적재용 트레이(22)를 구비하는 언로딩부(20)가 설치된다.1 and 2 show the configuration of a general horizontal test handler, one side of the base (1) front of the handler is provided with a loading unit 10 in which trays 11 filled with devices to be tested are stacked up and down. On both sides of the loading unit 10, a plurality of good quality stacking trays 21 and retestable stacking trays 22, each of which are classified as good and retested products, are loaded. The unloading unit 20 is installed.

그리고, 상기 베이스(1)의 전방부 타측에는 테스트 완료된 디바이스들중 불량품으로 판정된 디바이스들을 불량 등급에 따라 분류 적재하게 되는 다수의 불량품 적재용 트레이(23)들이 구비되어 있는 바, 실질적으로 상기 양품 적재용 트레이(21)와 재검사품 적재용 트레이(22) 및 불량품 적재용 트레이(23)들이 언로딩부(20)를 이루게 된다.In addition, the other side of the front part of the base 1 is provided with a plurality of defective goods stacking trays 23 for classifying and stacking devices determined as defective products among tested devices according to a defective grade. The stacking tray 21, the retesting stacking tray 22, and the defective stacking tray 23 form the unloading unit 20.

상기 로딩부(10)와 언로딩부(20)의 각 트레이들은 핸들러의 베이스(1) 상에서 전후로 이동가능하게 되어 있다.Each tray of the loading section 10 and the unloading section 20 is movable back and forth on the base 1 of the handler.

또한, 상기 베이스(1)의 중앙부분에는 상기 로딩부(10)의 트레이(11)로부터 이송되어 온 디바이스들을 재장착하기 위해 다수의 칸으로 구획되어 있는 로딩셔틀(51)이 구비되어 있다.In addition, the central portion of the base 1 is provided with a loading shuttle 51 partitioned into a plurality of compartments for remounting the devices transferred from the tray 11 of the loading unit 10.

그리고, 베이스(1)의 중간부분에는 베이스(1)의 상부를 가로지르도록 가이드프레임(31)이 설치되어 있으며, 이 가이드프레임(31)의 양측부에는 가이드프레임(31)을 따라 이동가능하도록 된 로딩헤드(32)와 제 1언로딩헤드(33) 및 제 2언로딩헤드(34)가 설치되어 있는데, 상기 로딩헤드(32)와 제 2언로딩헤드(34)는 가이드프레임(31)의 동일면상에 설치되어 서로 겹치지 않는 범위 내에서 각각 가이드프레임(31)의 일부분을 이동하도록 되어 있다.In addition, a guide frame 31 is installed at an intermediate portion of the base 1 to cross the upper portion of the base 1, and both sides of the guide frame 31 are movable along the guide frame 31. The loading head 32 and the first unloading head 33 and the second unloading head 34 are installed, and the loading head 32 and the second unloading head 34 are guide frames 31. Each part of the guide frame 31 is moved in the range which is installed on the same surface of each other and does not overlap each other.

상기 로딩헤드(32)는 로딩부(10)의 트레이(11)에 적재되어 있는 디바이스들을 파지하여 상기 로딩셔틀(51)로 이송하여 장착하는 역할을 하고, 상기 제 1,2언로딩헤드(33, 34)는 테스트 완료된 디바이스들을 언로딩부(20)의 각 트레이(21, 22, 23)에 분류 적재하는 역할을 담당하게 된다.The loading head 32 is responsible for holding and loading the devices loaded on the tray 11 of the loading unit 10 to the loading shuttle 51, and the first and second unloading heads 33. , 34 serves to classify and load the tested devices into the trays 21, 22, and 23 of the unloading unit 20.

한편, 상기 베이스(1)의 전방부에는 디바이스가 채워진 로딩셔틀(51)이 얹혀져 이송되면서 로딩셔틀(51) 상의 디바이스들이 예열되는 가열플레이트(41) 및, 상기 로딩셔틀(51)을 가열플레이트(41)상에서 이송시키는 이송실린더(42)로 구성된 예열부(40)가 설치되어 있다.Meanwhile, a heating plate 41 in which the devices on the loading shuttle 51 are preheated while the loading shuttle 51 filled with the device is mounted on the front part of the base 1, and the loading shuttle 51 is heated by the heating plate ( The preheating part 40 which consists of the transfer cylinder 42 which conveys on 41 is provided.

상기 가열플레이트(41)는 온도제어가 용이하도록 전기적 에너지에 의해 작동되는 것이 바람직하다.The heating plate 41 is preferably operated by electrical energy to facilitate temperature control.

상기 예열부(40)의 가열플레이트(41)는 베이스(1)의 후방에 설치되어 디바이스의 테스트를 수행하는 테스트챔버(60)까지 이어져 있는 바, 예열부(40)를 통과한 로딩셔틀(51)은 테스트챔버(60) 내로 이송된다.The heating plate 41 of the preheater 40 is installed at the rear of the base 1 and extends to the test chamber 60 for testing the device, and the loading shuttle 51 passing through the preheater 40. ) Is transferred into the test chamber 60.

한편, 디바이스의 상온상태 테스트를 수행할 때에는 로딩셔틀(51) 상의 디바이스를 예열시킬 필요가 없는 바, 상기 예열부(40)의 로딩셔틀 진입부에는 디바이스의 상온상태 테스트시 상기 로딩셔틀(51)이 예열부(40)의 전경로를 거치지 않고 최단경로로 테스트챔버(60) 인근 위치로 이송될 수 있도록 하기 위한 로딩셔틀 직송장치(45)가 구비되어 있다.On the other hand, when performing the room temperature test of the device does not need to preheat the device on the loading shuttle 51, the loading shuttle entry portion of the preheater 40, the loading shuttle 51 during the room temperature test of the device The loading shuttle directing device 45 is provided to be transported to the position near the test chamber 60 in the shortest path without passing through the foreground path of the preheater 40.

그리고, 상기 테스트챔버(60)는 디바이스의 고온상태 테스트시 주위 온도를 일정상태로 유지하기 위하여 대략 밀폐된 공간을 이루도록 되어 있는데, 상기 테스트챔버(60) 내에는 예열부(40)를 통해 이송된 로딩셔틀(51) 상의 디바이스를 장착하여 테스트를 수행하는 테스트소켓(61)과, 이 테스트소켓(61)에서 테스트 완료된 디바이스를 재장착하는 언로딩셔틀(55) 및, 상기 로딩셔틀(51)의 테스트할 디바이스를 테스트소켓(61)으로, 테스트소켓(61)의 테스트 완료된 디바이스를 언로딩셔틀(55)로 연속적으로 이송하기 위한 인덱스장치(62) 및, 디바이스의 고온 상태 테스트시 상기 테스트소켓(61)에 고온의 가스를 공급하기 위한 열공급덕트(63)가 설치되어 있다.In addition, the test chamber 60 is configured to form a substantially closed space in order to maintain the ambient temperature at a constant state during the high temperature test of the device. The test chamber 60 is transferred through the preheater 40 in the test chamber 60. A test socket 61 for mounting a device on the loading shuttle 51 to perform a test; an unloading shuttle 55 for remounting the device tested in the test socket 61; An index device 62 for continuously transferring the device to be tested to the test socket 61, the tested device of the test socket 61 to the unloading shuttle 55, and the test socket during the high temperature state test of the device ( A heat supply duct 63 for supplying a high temperature gas to 61 is provided.

상기 로딩셔틀(51)은 테스트챔버(60) 내에서 이동가능하도록 되어 있는 바, 테스트할 디바이스들이 모두 이송되어 빈 로딩셔틀(51)은 테스트챔버(60) 후방측으로 이송된 다음 다시 언로딩셔틀(55) 위치로 이송되어 언로딩셔틀(55)의 역할을 하게 된다.Since the loading shuttle 51 is movable in the test chamber 60, all the devices to be tested are transferred so that the empty loading shuttle 51 is transferred to the rear side of the test chamber 60, and then the unloading shuttle ( 55) is moved to the position to act as the unloading shuttle (55).

테스트 완료된 디바이스들이 모두 채워진 언로딩셔틀(55)은 테스트챔버(60)의 외부로 인출되어 베이스(1) 중간의 가이드프레임(31) 위치로 이동가능하도록 되어 있다.The unloading shuttle 55 filled with all the tested devices is drawn out of the test chamber 60 to be moved to the position of the guide frame 31 in the middle of the base 1.

한편, 상기 테스트챔버(60)의 전방 일측에는 테스트 완료된 디바이스들중 불량으로 판정된 디바이스들이 일시적으로 장착되는 버퍼부(71)가 가이드프레임(31)의 일측에서 타측방향으로 왕복이동 가능하게 설치되어 있다.On the other hand, the front side of the test chamber 60, the buffer unit 71 is temporarily installed on the side of the guide frame 31 to the reciprocating movement is installed on the other side of the device that is determined to be defective among the tested devices have.

또한, 상기 베이스(1)의 후방 일측에는 상기 로딩부(10)에서부터 이송되어 온 빈 트레이(11)들을 언로딩부(20)의 양품 적재용 트레이(21)와 재검사품 적재용 트레이(22)로 사용하기 위하여 양측으로 배분하여 주는 트레이 트랜스퍼(80;tray transfer)가 설치되어 있다.In addition, on the rear side of the base 1, the empty trays 11 transferred from the loading unit 10 are loaded with the good goods stacking tray 21 of the unloading unit 20 and the trays for retesting item loading 22. Tray transfer (80; tray transfer) is provided to distribute to both sides for use.

이하, 상기와 같은 구성으로 이루어진 수평식 핸들러의 작동에 대해 설명한다.Hereinafter, the operation of the horizontal handler having the above configuration will be described.

먼저, 로딩부(10)에 테스트할 디바이스들이 채워진 다수의 트레이(11)들을 상하로 적층한 상태에서 핸들러의 작동이 개시되면, 상기 로딩부(10)에 적층된 트레이(11)들 중 가장 하단의 트레이부터 순차적으로 베이스 후방으로 이동한다.First, when the operation of the handler is started while the plurality of trays 11 filled with devices to be tested in the loading unit 10 are stacked up and down, the bottom of the trays 11 stacked on the loading unit 10 are started. The tray moves sequentially from the rear of the base.

로딩부(10)에서 후방으로 이동한 트레이(11)는 베이스(1) 중간의 가이드프레임(31) 전방측에서 일시 정지하며 디바이스의 취출에 따라 단계적으로 진행하게 되는데, 이 때 상기 가이드프레임(31) 상의 로딩헤드(32)가 상기 트레이(11)와 로딩셔틀(51) 사이에서 왕복이동하며 트레이(11) 내의 디바이스를 로딩셔틀(51)로 옮겨 장착하게 된다.The tray 11 moved backward from the loading unit 10 pauses at the front side of the guide frame 31 in the middle of the base 1 and proceeds step by step as the device is taken out. At this time, the guide frame 31 The loading head 32 on) moves reciprocally between the tray 11 and the loading shuttle 51 and moves the device in the tray 11 to the loading shuttle 51 for mounting.

이어서, 디바이스가 모두 취출된 트레이는 베이스 후방의 트레이 트랜스퍼(80)로 이송되는 한편, 디바이스가 모두 채워진 로딩셔틀(51)은 예열부(40)의 가열플레이트(41) 상으로 이송되어 예열되거나, 혹은 로딩셔틀 직송장치(45)에 의해 예열부(40)의 후방부로 바로 이송된다.Subsequently, the trays from which the devices are all taken out are transferred to the tray transfer 80 behind the base, while the loading shuttle 51 filled with all the devices is transferred onto the heating plate 41 of the preheater 40 and preheated. Or it is directly conveyed to the rear part of the preheating part 40 by the loading shuttle transfer device 45.

상기 예열부(40)를 경유한 로딩셔틀(51)은 베이스(1) 후방의 테스트챔버(60)로 이송되고, 이 테스트챔버(60) 내에서는 인덱스장치(62)에 의해 로딩셔틀(51)의 디바이스들이 연속적으로 이송되며 테스트소켓(61)에 장착되어 테스트가 수행된 다음, 테스트 완료된 디바이스들은 다시 인덱스장치(62)에 의해 로딩셔틀(51) 반대편에 위치한 언로딩셔틀(55)에 장착된다.The loading shuttle 51 via the preheater 40 is transferred to the test chamber 60 behind the base 1, and in this test chamber 60 the loading shuttle 51 is provided by the indexing device 62. Devices are continuously transported and mounted on the test socket 61 to perform the test, and then the tested devices are again mounted on the unloading shuttle 55 opposite the loading shuttle 51 by the indexing device 62. .

상기 언로딩셔틀(55)에 테스트 완료된 디바이스들이 모두 장착되면, 언로딩셔틀(55)은 테스트챔버(60)의 전방부를 통해 인출되어 가이드프레임(31) 바로 하측에 위치하게 되고, 이어서 가이드프레임(31)의 제 1언로딩헤드(33)가 가이드프레임(31)을 따라 이동하면서 언로딩셔틀(55)의 디바이스를 테스트결과에 따라 언로딩부(20)의 각 트레이(21, 22, 23)에 분류 적재하게 되는데, 양품으로 판정된 디바이스들은 양품 적재용 트레이(21)에, 재검사가 필요한 재검사품으로 판정된 디바이스들은 재검사품 적재용 트레이(22)에 적재되고, 불량으로 판정된 디바이스들은 일단 버퍼부(71)에 적재된다.When all the tested devices are mounted on the unloading shuttle 55, the unloading shuttle 55 is drawn out through the front part of the test chamber 60 to be located directly below the guide frame 31, and then the guide frame ( The first unloading head 33 of 31 moves along the guide frame 31 and moves the devices of the unloading shuttle 55 to the trays 21, 22, and 23 of the unloading unit 20 according to the test result. The devices that are determined to be good are loaded into the good loading tray 21, the devices that are determined to be re-inspected needing to be retested are loaded into the retestable loading tray 22, and the devices determined to be defective are It is loaded in the buffer part 71.

이어, 버퍼부(71)가 가이드프레임(31)의 반대편 위치로 이동하면 가이드프레임(31)의 제 2언로딩헤드(34)가 이동하면서 버퍼부(71) 상의 불량 디바이스들을 불량품 적재용 트레이(23)들에 적재한다.Subsequently, when the buffer unit 71 moves to a position opposite to the guide frame 31, the second unloading head 34 of the guide frame 31 moves, and the defective devices on the buffer unit 71 may be replaced with a tray for loading defective products. 23) in the

한편, 로딩부에 적재되어 있던 디바이스들의 테스트가 완료되면, 언로딩부(20)의 재검사품 적재용 트레이(22)에 적재된 디바이스들에 대한 리테스트(Retest)가 이루어져야 하는데, 이때 작업자는 상기 트레이(22)에 적재된디바이스의 양을 파악하고 리테스트가 필요하다 생각될 경우 리테스트 명령을 입력해야 한다.On the other hand, when the testing of the devices loaded in the loading unit is completed, a test (Retest) for the devices loaded on the re-inspection loading tray 22 of the unloading unit 20 should be made, wherein the worker It is necessary to know the amount of devices loaded on the tray 22 and input a retest command if it is necessary to retest.

재검사 명령이 입력되면, 베이스(1)의 전방에 위치되어 있던 재검사품 적재용 트레이(22)는 후방으로 이동하여 트레이 트랜스퍼(80) 위치까지 이동한 다음, 다시 로딩부(10)와 일치하는 위치에서 베이스(1)의 전방으로 이동하여 가이드프레임(31)의 바로 하부에서 일시 정지하며 디바이스의 취출 여부에 따라 단계적으로 전진한다.When the re-inspection command is input, the re-inspection product loading tray 22 located in front of the base 1 moves backward to the position of the tray transfer 80, and then again coincides with the loading unit 10. Moves to the front of the base 1 and pauses immediately under the guide frame 31, and advances step by step depending on whether the device is taken out.

이때, 가이드프레임(31) 상의 로딩헤드(32)가 재검사품 적재용 트레이(22)의 디바이스를 집어 로딩셔틀(51)로 이송 장착하며, 이후의 과정은 전술한 바와 동일하며, 재검사품 적재용 트레이(22)의 디바이스들이 모두 테스트 완료되어 언로딩되면 작업은 종료된다.At this time, the loading head 32 on the guide frame 31 picks up the device of the tray 22 for re-inspecting article loading and transports it to the loading shuttle 51, and the subsequent procedure is the same as described above, When all the devices of the tray 22 have been tested and unloaded, the operation is finished.

종래의 기술에 따른 테스트 핸들러는 작업자가 직접 리테스트 판정된 자재량을 파악하고 리테스트 명령을 입력해야하므로 작업자를 번거롭게 하고 비효율적인 리테스트가 수행되어 전체적인 작업효율이 저하되는 문제점이 있다.The test handler according to the related art has a problem in that the operator needs to directly grasp the amount of material that has been determined to be retested and input a retest command.

따라서 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 자동으로 기설정된 기준에 따른 리테스트를 수행하여 작업효율을 향상시킬 수 있도록 한 테스트 핸들러의 리테스트 방법을 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for retesting a test handler that can improve work efficiency by automatically performing a retest according to a predetermined criterion. .

도 1은 일반적인 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도1 is a plan view showing the configuration of a typical test handler

도 2는 도 1의 사시도2 is a perspective view of FIG. 1

도 3은 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 리테스트 방법을 나타낸 플로우챠트3 is a flowchart illustrating a retest method of a test handler according to the present invention.

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 - 베이스 10 - 로딩부1-Base 10-Loading Section

11 - 트레이 20 - 언로딩부11-Tray 20-Unloading Section

21 - 양품 적재용 트레이 22 - 재검사품 적재용 트레이21-Tray for loading good goods 22-Tray for loading retest items

23 - 불량품 적재용 트레이 31 - 가이드프레임23-Tray for loading defective items 31-Guide frame

32 - 로딩헤드 33 - 제 1언로딩헤드32-loading head 33-first unloading head

34 - 제 2언로딩헤드 40 - 예열부34-2nd unloading head 40-Preheater

41 - 가열플레이트 42 - 이송실린더41-Heating Plate 42-Transfer Cylinder

45 - 로딩셔틀 직송장치 51 - 로딩셔틀45-Loading Shuttle Conveyor 51-Loading Shuttle

55 - 언로딩셔틀 60 - 테스트챔버55-Unloading shuttle 60-Test chamber

61 - 테스트소켓 62 - 인덱스장치61-test socket 62-indexer

71 - 버퍼부 80 - 트레이 트랜스퍼71-Buffer section 80-Tray transfer

본 발명에 따른 테스트 핸들러의 리테스트 방법은 로딩부, 언로딩부, 적어도하나 이상의 테스트부 및 로봇 픽커를 구비한 테스트 핸들러에 있어서, 작업자가 리테스트 자동/수동 모드 및 리테스트 기준값을 설정하는 단계와, 설정 완료후 로딩부에 자재를 투입하고 테스트 시작명령을 입력하는 단계와, 테스트 시작명령에 따라 로봇 픽커가 로딩부의 자재를 테스트부로 순차적으로 이송하여 해당 테스트 작업을 수행하고 테스트 결과에 따라 언로딩부에 양호/불량/리테스트로 분류하여 수납하는 단계와, 리테스트 모드가 자동모드로 설정되어 있고 리테스트로 분류된 자재의 수가 기준값 이상이면 리테스트로 분류된 자재들을 로딩부에 투입하여 테스트를 재수행하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.Retest method of the test handler according to the present invention is a test handler having a loading unit, an unloading unit, at least one test unit and a robot picker, the step of the operator to set the retest automatic / manual mode and the retest reference value And, after the setting is completed, the material is put into the loading unit and the test start command is input.In accordance with the test start command, the robot picker sequentially transfers the material of the loading unit to the test unit to perform the corresponding test work and according to the test result. If the retest mode is set to automatic mode and the number of materials classified as a retest is greater than or equal to the reference value, the materials classified as retest are put into the loading unit. Characterized in that it comprises a step of re-running the test.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 리테스트 방법의 바람직한 일실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of a retest method of a test handler according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 리테스트 방법을 나타낸 플로우챠트이다.3 is a flowchart illustrating a retest method of a test handler according to the present invention.

본 발명에 따른 테스트 핸들러의 리테스트 방법은 도 3에 도시된 바와 같이, 먼저, 테스트 작업 시작에 앞서, 리테스트 온/오프 여부 즉, 작업자가 테스트 작업후 리테스트(Retest)로 분류될 자재에 대한 리테스트 수행여부를 설정한다(S21).Retest method of the test handler according to the present invention, as shown in Figure 3, first, prior to the start of the test work, whether the re-test on / off, that is, the operator to the material to be classified as a test (Retest) after the test work Set whether or not to perform the retest (S21).

이어서 리테스트 작업을 자동으로 수행할 것인지 아니면 수동으로 수행할 것인지 여부를 설정한다(S22).Subsequently, it is set whether to perform the retest operation automatically or manually (S22).

그리고 상기 단계(S22)에서 리테스트가 자동으로 설정된 경우, 자동 리테스를 수행하기 위한 기준값을 설정한다(S23). 이때 기준값은 동일 생산조건 하에서 생산된 동일 모델로서 테스트를 수행할 자재량의 단위를 나타내는 로트(LOT)에 대한 테스트 작업완료후 한 로트의 총 자재량중 리테스트 판정될 자재량이 어느 정도일 때 자동으로 리테스트를 수행할지를 판단하기 위한 값으로, 예를 들어, 20%로 설정할 경우, 한 로트(LOT)의 자재량이 100라면 기준값은 20개가 되는 것이다.When the retest is automatically set in the step S22, a reference value for performing the automatic test is set (S23). At this time, the reference value is the same model produced under the same production conditions. After completion of the test work on the lot that indicates the unit of the quantity of material to be tested, the total value of one lot is automatically determined when the quantity of material to be retested is determined. A value for determining whether to perform a retest. For example, if it is set to 20%, the reference value is 20 if the material quantity of one lot is 100.

이어서 작업자는 로딩 올(ALL) 온/오프를 설정한다(S24). 이때 한 로트의 모든 자재가 로딩되었을 경우 작업자는 로딩 올 '온'을 설정하고, 로딩해야할 자재가 더 있는 경우 로딩 올 '오프'로 설정한다.Subsequently, the operator sets loading ALL on / off (S24). At this time, when all the materials of one lot are loaded, the operator sets the loading all 'on', and if there is more material to be loaded, the loading all 'off'.

그리고 테스트 작업을 시작하여 테스트 결과에 따른 분류작업을 수행한다(S25). 즉, 테스트 수행후 테스트 결과에 따라 자재를 제2 언로딩부(8)에 량품과 불량품 및 리테스트로 분류하여 해당 트레이에 수납한다.Then, the test operation is started to perform the classification work according to the test result (S25). That is, according to the test result after the test is performed, the material is classified into a good product, a defective product and a retest in the second unloading unit 8 and stored in the tray.

이어서 테스트할 자재가 남아 있는지 판단하고(S26), 테스트할 자재가 남아 있을 경우 테스트 및 분류 작업을 계속 수행한다(S25).Subsequently, it is determined whether the material to be tested remains (S26), and if the material to be tested remains, the test and classification work is continued (S25).

한편, 상기 판단결과(S26), 테스트할 자재가 더 이상 없는 경우 로딩 올(ALL)이 '온'설정되어 있는지 판단한다(S27).On the other hand, the determination result (S26), if there is no more material to test, it is determined whether the loading all (ALL) is set to 'on' (S27).

이어서 상기 판단결과(S27), 로딩 올 '온'으로 설정되어 있으면 해당 로트의 모든 자재가 로딩완료되고 테스트가 완료된 것이므로 상기 리테스트 판정된 자재에 대한 리테스트 여부를 파악하기 위해 리테스트 '온'으로 설정되어 있는지 판단하고(S30), 리테스트 '온'으로 설정되어 있으면 리테스트 자동/수동 설정여부를 판단한다(S31).Subsequently, when the determination result (S27), the loading all 'on' is set to all the materials of the lot is completed loading and the test is completed, the retest 'on' to determine whether the retest for the retested material If it is set to (S30), and if the retest 'on' is set to determine whether the automatic retest / manual setting (S31).

한편, 상기 판단결과(S27), 로딩 올 '오프'로 설정되어 있으면 작업자를 호출한다(S28). 따라서 작업자가 해당 로트의 남은 자재를 테스트 할 수 있도록 로딩한다. 그리고 로트 앤드(LOT END) 즉, 로트에 대한 테스트작업 완료여부를 파악하고 로트 앤드가 아니면 상기 새로 로딩된 자재에 대한 테스트 및 분류를 수행하고(S25)(S26), 로트 앤드이면 테스트 작업이 완료되고 리테스트 과정이 남은 것을 의미하므로 리테스트 '온' 설정 판단단계(S30)를 수행한다.On the other hand, if the determination result (S27), the loading all 'off' is set to call the worker (S28). Therefore, it is loaded for the operator to test the remaining material in the lot. And if the lot end (LOT END), that is, the lot and the end of the test work to determine whether or not the end of the lot and the newly loaded material is tested and classified (S25) (S26), if the end and the test work is completed And since the retest process means that the retest 'on' setting determination step (S30) is performed.

이어서 상기 판단결과(S31), 리테스트 자동으로 설정되어 있으면 상기 리테스트로 분류된 자재량이 기설정된 기준값 이상인지 판단한다(S32).Subsequently, when the determination result S31 is automatically set to the retest, it is determined whether the amount of material classified as the retest is equal to or greater than a predetermined reference value (S32).

그리고 상기 판단결과(S32), 리테스트로 분류된 자재량이 기준값 미만이면 리테스트를 수행하지 않고 현재 로트(LOT)에 대한 테스트를 종료한다. 예를 들어, 기준값이 20%이고, 한 로트의 전체 자재량이 100개인데, 리테스트 판정된 자재가 10개일 경우 리테스트를 수행하지 않는 것이다.If the determination result (S32), the amount of material classified as a retest is less than the reference value, the test for the current lot (LOT) is terminated without performing the retest. For example, if the reference value is 20% and the total quantity of materials in one lot is 100, but there are 10 materials that have been retested, the retest is not performed.

한편, 상기 판단결과(S32), 리테스트로 분류된 자재량이 기준값 이상이면 상기 제2 언로딩부(8)의 트레이중 리테스트로 분류된 트레이를 로딩부(2)에 로딩하여 1차 및 2차 테스트를 재수행한다(S33). 예를 들어, 기준값이 20%이고, 한 로트의 전체 자재량이 100개인데, 리테스트 판정된 자재가 25개일 경우 리테스트를 수행하고 로트 앤드한다(S38).On the other hand, in the determination result (S32), if the amount of material classified as a retest is greater than or equal to the reference value, the tray classified as a retest among the trays of the second unloading unit 8 is loaded into the loading unit 2 and the first and second units. The vehicle test is performed again (S33). For example, if the reference value is 20% and the total amount of materials in one lot is 100, but there are 25 materials that have been retested, the test is performed and lot ends (S38).

한편, 상기 판단결과(S31), 리테스트 수동으로 설정되어 있으면, 작업자를 호출한다(S34).On the other hand, if the determination result (S31), the retest manually is set, the operator is called (S34).

이어서 작업자가 리테스트에 필요한 소정의 조치를 수행한다(S35). 즉, 제2 언로딩부(8)의 트레이중 리테스트 판정에 해당하는 트레이를 직접 로딩부(2)에 로딩하는 것이다.Subsequently, the operator performs a predetermined action necessary for the retest (S35). That is, the tray corresponding to the retest determination of the trays of the second unloading unit 8 is directly loaded into the loading unit 2.

그리고 작업자가 리테스트를 선택하는지 판단하고(S36), 리테스트를 선택하면 로딩부(2)에 로딩된 자재들에 대한 리테스트를 수행하고(S37), 로트 앤드한다(S38).Then, it is determined whether the operator selects the retest (S36), and when the retest is selected, the test is performed on the materials loaded in the loading unit 2 (S37), and the lot ends (S38).

본 발명에 따른 테스트 핸들러의 리테스트 방법은 작업자의 설정에 따라 자동으로 리테스트를 수행하므로 작업자가 수동으로 리테스트 여부를 판단하고 해당 작업을 수행함에 따른 비효율성을 해소하여 작업효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The retest method of the test handler according to the present invention automatically performs a retest according to the operator's setting, so that the operator can determine whether to retest manually and solve the inefficiency of performing the work to improve the work efficiency. It has an effect.

Claims (3)

로딩부, 언로딩부, 적어도 하나 이상의 테스트부 및 로봇 픽커를 구비한 테스트 핸들러에 있어서,A test handler comprising a loading part, an unloading part, at least one test part and a robot picker, 작업자가 리테스트 자동/수동 모드 및 리테스트 기준값을 설정하는 단계,The operator sets the retest auto / manual mode and the retest threshold, 상기 설정 완료후 상기 로딩부에 자재를 투입하고 테스트 시작명령을 입력하는 단계,Inputting a material to the loading unit and inputting a test start command after the setting is completed; 상기 테스트 시작명령에 따라 상기 로봇 픽커가 상기 로딩부의 자재를 상기 적어도 하나 이상의 테스트부로 순차적으로 이송하여 해당 테스트 작업을 수행하고 테스트 결과에 따라 상기 언로딩부에 양호/불량/리테스트로 분류하여 수납하는 단계,According to the test start command, the robot picker sequentially transfers the material of the loading unit to the at least one test unit to perform a corresponding test operation and classifies and stores the unloading unit as good / bad / retest according to a test result. Steps, 상기 리테스트 모드가 자동모드로 설정되어 있고 상기 리테스트로 분류된 자재의 수가 상기 기준값 이상이면 상기 리테스트로 분류된 자재들을 상기 로딩부에 투입하여 테스트를 재수행하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 리테스트 방법.And if the retest mode is set to the automatic mode and the number of materials classified as the retest is greater than or equal to the reference value, inserting the materials classified as the retest into the loading unit and performing the test again. How to retest a test handler. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 기준값은 전체 자재중 리테스트 판정된 자재의 수임을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 리테스트 방법.The reference value is a retest method of a test handler, characterized in that the number of the retested material of the total material. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 리테스트 모드가 수동모드로 설정되어 있으면 전체 자재에 대한 테스트 종료후 작업자를 호출하는 단계를 더 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 리테스트 방법.If the retest mode is set to the manual mode further comprises the step of calling the operator after the test for the entire material retest method of the test handler, characterized in that made.
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