KR20020032724A - Apparatus and Method for ISDN test in electronic exchange system - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An apparatus and method for testing an integrated services digital network of a full electronic telephone exchange system is provided to reduce the time for testing by simultaneously performing an in-test and an out-test, by applying to a full electronic telephone exchange system, and by reducing the number of a board for an ISDN test. CONSTITUTION: A control unit(31) controls the operation of each device for an ISDN(Integrated Services Digital Network) test. A mode connection unit(32) connects the control unit(31) to an NT mode unit(34) or an LT mode unit(36) according to a sort of a test. A clock generation unit(33) generates clocks for the ISDN test and provides the clocks to the mode connection unit(32). The NT mode and an interface unit(34,35) connects to the control unit(31) through the mode connection unit(32) and performs a test for a subscriber line. The LT mode and an interface unit(36,37) connects to the control unit(31) through the mode connection unit(32) and performs the test for the subscriber line. A line measuring unit(38) is connected to the control unit(31). In addition, the line measuring unit(38) measures subscriber lines.

Description

전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법 {Apparatus and Method for ISDN test in electronic exchange system}Apparatus and Method for ISDN test in electronic exchange system}

본 발명은 전전자 교환시스템의 종합정보통신망(Integrated Services Digital Network, 이하 ISDN) 시험장치에 관한 것으로, 특히 많은 시간이 소요되는 ISDN 인테스트(In Test)와 아웃테스트(Out Test)를 한 보드내에서 동시에 수행할 수 있도록 하여 보드의 종류수와 시험시간을 줄임으로써 제한된 시간내에 ISDN 시험이 가능하도록 한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법에 관한 것이다.The present invention relates to an integrated services digital network (ISDN) test apparatus of an electronic switching system, and in particular, a board that performs a lot of time-consuming ISDN in test and out test. The present invention relates to a total information communication network test apparatus and test method for an electronic switching system that enables ISDN testing within a limited time by reducing the number of board types and testing time.

일반적으로 전전자 교환기는 음성 데이터의 교환을 수행하는 동시에 디지털화된 데이터의 교환을 수행할 수 있다. ISDN 서비스는 전전자 교환기를 통한 디지털화된 데이터 교환의 대표적인 경우이다.In general, the electronic switchboard can perform the exchange of digitized data while simultaneously performing the exchange of voice data. ISDN service is a representative case of digitalized data exchange through electronic switchboards.

이러한 전전자 교환기내에는 ISDN 서비스의 안정성을 시험하기 위한 장치가 구비된다. 즉, ISDN 시험장치를 이용하여 해당 전전자 교환기가 ISDN 서비스를 안정적으로 수행할 수 있는지 여부를 감시하고 이상발생시 운용자에게 통지하여 적절한 조치를 취할 수 있도록 한다.The electronic switchboard is equipped with a device for testing the stability of the ISDN service. In other words, the ISDN test system is used to monitor whether the electronic switchboard can perform the ISDN service stably and to notify the operator in case of abnormality so that appropriate measures can be taken.

이하, 본 발명이 해소하고자 하는 ISDN 시험장치에 대한 종래기술을 설명한다.Hereinafter, the prior art for the ISDN test apparatus to be solved by the present invention.

먼저, 도1은 종래기술에 의한 ISDN 가입자 보드의 In Test를 위한 블록구성도이고, 도2는 종래기술에 의한 ISDN 가입자 선로의 Out Test를 위한 블록구성도이다.First, FIG. 1 is a block diagram for In Test of an ISDN subscriber board according to the prior art, and FIG. 2 is a block diagram for Out Test of an ISDN subscriber line according to the prior art.

상기 도1 및 도2에 도시된 바와 같이 종래의 ISDN 시험을 위한 장치는 두 개의 보드로 구분되어 있다. 하나의 보드는 ISDN 가입자 보드의 In Test를 위한 것이고, 다른 하나의 보드는 ISDN 선로 Out Test를 위한 보드이다.1 and 2, the apparatus for the conventional ISDN test is divided into two boards. One board is for In Test of the ISDN subscriber board, and the other board is for ISDN line out test.

이처럼 ISDN In Test를 위한 보드와 Out Test를 위한 보드를 분리하여 운용함으로써, ISDN 가입자 선로에 대한 인테스트와 ISDN 가입자 선로에 대한 아웃테스트를 동시에 수행할 수 있게 된다.In this way, by separating the board for the ISDN In Test and the board for the Out Test, it is possible to perform the in-test on the ISDN subscriber line and the out test on the ISDN subscriber line at the same time.

전전자 교환기내에서 ISDN 시험장치는 상위 제어계에 의해서 ISDN 가입자 보드 및 선로 시험을 실시한다. 상기 ISDN 시험은 교환기내에서 주기적으로 수행되며, 시험에는 일정시간이 소요된다. ISDN 시험의 결과는 운용자에게 보고된다.In the electronic switchboard, the ISDN tester conducts ISDN subscriber board and line tests by the host control system. The ISDN test is performed periodically in the exchange, and the test takes a certain time. The results of the ISDN test are reported to the operator.

도1에서 상위 제어계가 ISDN 가입자 보드에 대한 In Test를 명령하면, 제어부(11)는 상기 시험명령에 따라 네트워크 터미네이션 모드부(Network Termination Mode)(12)를 제어하여 가입자 보드 인터페이스부(13)를 통해 다수의 항목을 시험한다. 상기 네트워크 터미네이션 모드부(12)의 시험결과는 제어부(11)를 통해 각 항목별로 운용자에게 보고된다.In FIG. 1, when the upper control system commands an In Test for the ISDN subscriber board, the controller 11 controls the network termination mode 12 according to the test command to control the subscriber board interface 13. Test multiple items through The test result of the network termination mode unit 12 is reported to the operator for each item through the control unit 11.

그리고 도2에서 상위 제어계가 ISDN 가입자 선로에 대한 Out Test를 명령하면, 제어부(21)는 선로 터미네이션 모드부(Line Termin0ation Mode)(22)와 선로시험 측정부(25)를 제어하여 가입자 선로 인터페이스부(23)를 통해 선로에 대한 각종 시험을 수행한다.When the upper control system commands an out test for the ISDN subscriber line in FIG. 2, the control unit 21 controls the line termination mode unit 22 and the line test measurement unit 25 to control the subscriber line interface unit. Various tests of the track are carried out through (23).

Out Test는 선로 터미네이션 모드에서 수행되는데, 선로의 상태에 대한 일반적인 시험항목은 선로 터미네이션 모드부(22)에 의해 시험되고 선로의 전기적인 특성에 대한 시험은 선로시험 측정부(25)에 의해 수행된다. 제어부(21)는 Out Test의 수행결과를 운용자에게 보고된다.Out test is performed in the line termination mode. A general test item for the state of the line is tested by the line termination mode unit 22 and a test on the electrical characteristics of the line is performed by the line test measurement unit 25. . The controller 21 reports the result of performing the Out Test to the operator.

상기 Out Test의 시험주기는 클럭생성부(24)가 공급하는 기준클럭에 따라 결정된다.The test period of the Out Test is determined according to the reference clock supplied by the clock generator 24.

이때 Out Test 중 네트워크 터미네이션 모드는 운용자가 지시하는 경우에만 수행되며, In Test와 Out Test 중 선로 시험은 미리 세팅된 일정한 시간적 간격에 따라 주기적으로 수행된다.At this time, the network termination mode during the out test is performed only when instructed by the operator, and the line test during the in test and the out test is performed periodically according to a predetermined time interval.

상기 선로 터미네이션 시험은 주로 선로에 대한 전기적인 특성을 시험하는 것으로써, 교환시스템은 주기적으로 일반가입자가 연결되어 있는 선로에 대한 시험을 수행하고 그에 대한 결과를 보고하게 된다. 이러한 가입자 선로에 대한 주기적인 시험을 통해 운용자는 해당 선로의 상태를 인지할 수 있게 된다.The line termination test is mainly for testing the electrical characteristics of the line, and the exchange system periodically performs a test on the line to which the general subscriber is connected and reports the result thereof. Periodic testing of these subscriber lines will allow the operator to recognize the condition of the line.

이처럼 ISDN 시험장치는 In Test와 Out Test를 위한 보드로 각각 분리되어 운용되므로, 각 보드의 제어부(11, 21)는 ISDN 시험동작을 독립적으로 제어하여 In Test와 Out Test를 동시에 수행할 수 있게 된다.In this way, the ISDN test apparatus is separately operated as a board for In Test and Out Test, so that the controllers 11 and 21 of each board independently control the ISDN test operation so that In Test and Out Test can be performed simultaneously. .

상기 In Test와 Out Test를 시험하는 버스는 따로 설정되어 있기 때문에 시험 수행에 따른 제약은 없다. 그러나 In Test를 하든지 Out Test를 하든지 간에 시험용 버스는 ISDN 가입자 보드를 공유하기 때문에 이러한 경우를 고려하여야 한다.Since the buses for testing the In Test and Out Test are set separately, there is no restriction in performing the test. However, this case must be taken into consideration because the test bus shares the ISDN subscriber board, whether In Test or Out Test.

한편, U-라인 인터페이스를 수행하는 디바이스들간에는 상충되는 부분이 없어 선로 터미네이션 및 네트워크 터미네이션 시험에 따른 제약은 없다. 상기 U-라인은 가입자와 네트워크간 연결경로를 지칭하는 것으로 ISDN 시험시에는 일반 가입자 대신 시험장치가 사용된다.On the other hand, there is no conflict between the devices performing the U-line interface, so there are no restrictions on the line termination and network termination tests. The U-line refers to a connection path between a subscriber and a network. In the ISDN test, a test apparatus is used instead of a general subscriber.

이상의 설명은 전전자 교환기 STAREX TX-1A에 적용되는 ISDN 시험장치에 대한 것으로, In Test와 Out Test를 수행하는 보드가 분리되어 있기에 구현될 수 있는 동작이다.The above description is for the ISDN test apparatus applied to the electronic switch STAREX TX-1A, the operation that can be implemented because the board performing the In Test and Out Test is separated.

한편, STAREX TX-1A 이외의 기종에 적용되는 ISDN 시험장치의 경우에는 In Test와 Out Test를 하나의 보드에서 수행하므로 In Test와 Out Test는 동시에 수행되지 않는다. 즉, In Test가 수행되는 동안에는 Out Test가 이루어지지 않고, In Test가 종료된 다음에 Out Test가 가능하게 된다.On the other hand, in the case of ISDN test apparatus applied to models other than STAREX TX-1A, In Test and Out Test are performed on one board, so In Test and Out Test are not performed at the same time. That is, Out Test is not performed while In Test is performed, and Out Test is possible after In Test is finished.

따라서 하나의 보드가 In Test와 Out Test 기능을 모두 구비하는 경우에는 보드의 종류수가 더 필요하거나 시험의 수행에 많은 시간을 필요로 하게 된다.Therefore, when one board is equipped with both In Test and Out Test functions, the number of types of boards is needed more or a lot of time is required to perform the test.

그러나 상기 설명한 종래기술은, ISDN 시험장치에서 In Test와 Out Test를 동시에 수행하기 위해서는 보드가 분리되어야만 하는 단점이 있었다. 즉, 하나의 보드가 In Test와 Out Test 기능을 구비하는 경우에도 In Test와 Out Test는 순차적으로 수행되어야만 하고 동시 수행은 불가능하였던 것이다.However, the above-described prior art has a disadvantage in that the board must be separated to simultaneously perform the In Test and the Out Test in the ISDN test apparatus. In other words, even if one board has In Test and Out Test functions, In Test and Out Test should be performed sequentially and simultaneous execution was not possible.

이에 본 발명은 상기와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 제안된 것으로, 본 발명의 목적은 전전자 교환시스템의 ISDN 시험장치에 있어서, 많은 시간이 소요되는 ISDN 인테스트(In Test)와 아웃테스트(Out Test)를 한 보드내에서 동시에 수행할 수 있도록 하여 보드의 종류수와 시험시간을 줄임으로써 제한된 시간내에 ISDN 시험이 가능하도록 한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법을 제공하는 데 있다.Accordingly, the present invention has been proposed to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is an ISDN in test and an out test that require a lot of time in an ISDN test apparatus of an electronic switching system. Provides a total information communication network test apparatus and test method of an electronic switching system that enables ISDN testing within a limited time by reducing the number of types of boards and testing time by performing (Out Test) at the same time. There is.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치는, ISDN 시험을 위한 각 디바이스의 동작을 제어하는 제어부와; 상기 제어부를 시험종류에 따라 NT 모드부 또는 LT 모드부로 연결하는 모드 연결부와; ISDN 시험을 위한 클럭을 생성하여 상기 모드 연결부로 공급하는 클럭생성부와; 상기 모드 연결부를 통해 제어부와 연결되어 가입자 보드에 대한 시험을 수행하는 NT 모드 및 인터페이스부와; 상기 모드 연결부를 통해 제어부와 연결되어 가입자 선로에 대한 시험을 수행하는 LT 모드 및 인터페이스부와; 상기 제어부와 연결되어 가입자 선로에 대한 선로측정을 수행하는 선로측정부로 이루어짐을 그 기술적 구성상의 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the integrated information communication network test apparatus of the all-electronic switching system according to the present invention includes a control unit for controlling the operation of each device for the ISDN test; A mode connection unit connecting the control unit to an NT mode unit or an LT mode unit according to a test type; A clock generator which generates a clock for an ISDN test and supplies the clock to the mode connection unit; An NT mode and interface unit connected to the control unit through the mode connection unit to perform a test on the subscriber board; An LT mode and an interface unit connected to the control unit through the mode connection unit to perform a test on the subscriber line; It is characterized in that the technical configuration consisting of a line measuring unit connected to the control unit for performing a line measurement for the subscriber line.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험방법은, In Test 모드에서 모드 연결부가 제어부와 NT 모드부간을 연결시키는 단계와; 상기 단계에서 선로측정 시험의 지시여부에 따라 In Test만을 단독으로 수행하거나 In Test 수행과 동시에 선로측정 시험을 수행하고 보고하는 단계와; Out Test 모드에서 제어부와 LT 모드부간을 연결시켜 Out Test를 수행하는 단계와; Out Test 항목이 선로측정 시험인 상태에서 In Test가 지시되면, 선로측정 시험 및 In Test를 동시에 수행하고 그 결과를 제어부에 보고하는 단계와; 선로측정 시험 및 In Test의 동시 수행상태가 아닌 경우에는 해당 항목의 Out Test를 수행하고 제어부에 보고하는 단계를 수행함을 그 기술적 구성상의 특징으로한다.In order to achieve the above object, the integrated information communication network test method of the electronic switching system according to the present invention includes the steps of connecting a mode connection unit between a control unit and an NT mode unit in an In Test mode; Performing only the In Test alone or performing and reporting the line measurement test simultaneously with performing the In Test according to the instruction of the line measurement test in the step; Performing an Out Test by connecting the control unit and the LT mode unit in the Out Test mode; If In Test is indicated while the Out Test item is a line measurement test, simultaneously performing the line measurement test and the In Test and reporting the result to the controller; In the case where the line measurement test and the In Test are not simultaneously performed, the Out Test of the corresponding item and the step of reporting to the control unit are characterized by the technical configuration.

도1은 종래기술에 의한 ISDN 가입자 보드의 In Test를 위한 블록구성도이고,1 is a block diagram for In Test of an ISDN subscriber board according to the prior art,

도2는 종래기술에 의한 ISDN 가입자 선로의 Out Test를 위한 블록구성도이다.Figure 2 is a block diagram for the out test of the ISDN subscriber line according to the prior art.

도3은 본 발명의 일실시예에 의한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법의 블록구성도이고,3 is a block diagram of an integrated information communication network test apparatus and test method thereof of an electronic switching system according to an embodiment of the present invention;

도4는 도3에서 모드 연결부의 상세구성도이며,4 is a detailed configuration diagram of the mode connection unit in FIG.

도5는 도3에 의한 장치에 적용되는 시험방법의 흐름도이다.5 is a flowchart of a test method applied to the apparatus according to FIG.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

31 : 제어부32 : 모드 연결부31 control unit 32 mode connection unit

33 : 클럭생성부34 : NT 모드부33: clock generator 34: NT mode

35 : 인테스트 인터페이스부36 : LT 모드부35: in-test interface unit 36: LT mode unit

37 : 아웃테스트 인터페이스부38 : 선로측정부37: out test interface unit 38: line measurement unit

이하, 상기와 같은 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법의 기술적 사상에 따른 일실시예에 의거 본 발명의 구성 및 동작을 상세히 설명한다.Hereinafter, the configuration and operation of the present invention will be described in detail based on an embodiment according to the technical idea of the integrated information communication network test apparatus and test method thereof of the all-electronic switching system.

먼저, 도3은 본 발명의 일실시예에 의한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법의 블록구성도이고, 도4는 도3에서 모드 연결부의 상세구성도이며, 도5는 도3에 의한 장치에 적용되는 시험방법의 흐름도이다.First, FIG. 3 is a block diagram of an integrated information communication network test apparatus and test method thereof of an electronic switching system according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a detailed block diagram of a mode connection unit in FIG. 3 is a flowchart of a test method applied to the apparatus according to FIG. 3.

상기 도3에 도시된 바와 같이 본 발명에 의한 장치의 적절한 실시예는, ISDN 시험을 위한 각 디바이스의 동작을 제어하는 제어부(31)와; 상기 제어부(31)를 시험종류에 따라 NT 모드부(34) 또는 LT 모드부(36)로 연결하는 모드 연결부(32)와; ISDN 시험을 위한 클럭을 생성하여 상기 모드 연결부(32)로 공급하는 클럭생성부(33)와; 상기 모드 연결부(32)를 통해 제어부(31)와 연결되어 가입자 보드에 대한 시험을 수행하는 NT 모드 및 인터페이스부(34, 35)와; 상기 모드 연결부(32)를 통해 제어부(31)와 연결되어 가입자 선로에 대한 시험을 수행하는 LT 모드 및 인터페이스부(36, 37)와; 상기 제어부(31)와 연결되어 가입자 선로에 대한 선로측정을 수행하는 선로측정부(38)로 구성된다.As shown in FIG. 3, a suitable embodiment of the apparatus according to the present invention comprises: a control unit 31 for controlling the operation of each device for ISDN testing; A mode connection part 32 connecting the control part 31 to the NT mode part 34 or the LT mode part 36 according to a test type; A clock generator 33 which generates a clock for an ISDN test and supplies the clock to the mode connection unit 32; An NT mode and interface unit (34, 35) connected to the control unit (31) through the mode connection unit (32) to test the subscriber board; An LT mode and interface unit (36, 37) connected to the control unit (31) through the mode connection unit (32) to test the subscriber line; It is connected to the control unit 31 is composed of a line measuring unit 38 for performing a line measurement for the subscriber line.

그리고 도5에 도시된 바와 같이 본 발명에 의한 방법은, In Test 모드에서 모드 연결부(32)가 제어부(31)와 NT 모드부(34)간을 연결시켜 In Test가 수행하는단계(ST11)와; 상기 단계(ST11)에서 선로측정 시험의 지시여부에 따라 In Test만을 단독으로 수행하거나 In Test 수행과 동시에 선로측정 시험을 수행하고 보고하는 단계(ST12~ST15)와; Out Test 모드에서 제어부(31)와 LT 모드부(36)간을 연결시켜 Out Test를 수행하는 단계(ST21)와; Out Test 항목이 선로측정 시험인 상태에서 In Test가 지시되면, 선로측정 시험 및 In Test를 동시에 수행하고 그 결과를 제어부(31)에 보고하는 단계(ST22~ST24)와; 선로측정 시험 및 In Test의 동시 수행상태가 아닌 경우에는 해당 항목의 Out Test를 수행하고 제어부(31)에 보고하는 단계(ST25~ST26)로 구성된다.As shown in FIG. 5, the method according to the present invention includes a step of connecting the control unit 31 and the NT mode unit 34 between the control unit 31 and the NT mode unit 34 in an In Test mode, and performing an In Test (ST11). ; Performing only the In Test alone or performing and reporting the line measurement test simultaneously with performing the In Test according to whether the line measurement test is instructed in the step ST11 (ST12 to ST15); Performing an Out Test by connecting the control unit 31 and the LT mode unit 36 in the Out Test mode (ST21); If In Test is indicated while the Out Test item is a line measurement test, performing the line measurement test and the In Test at the same time and reporting the result to the control unit 31 (ST22 to ST24); In the case of not performing the line measurement test and the In Test at the same time, it performs the Out Test of the corresponding item and reports to the control unit 31 (ST25 to ST26).

본 실시예에서 제어부(31)는 MC68302 프로세서를 사용하여 U-라인 인터페이스를 용이하도록 한다.In this embodiment, the control unit 31 facilitates the U-line interface using the MC68302 processor.

NT 모드부(33)와 LT 모드부(36)는 각각의 모드에 대한 하드웨어 세팅이 다르므로 개별적인 디바이스를 채용하여야 한다. 그래서 NT 모드부(33)와 LT 모드부(36)는 SIEMENS PEB2091을 각각 채용한다.The NT mode unit 33 and the LT mode unit 36 have different hardware settings for each mode, and therefore, individual devices must be employed. Thus, the NT mode unit 33 and the LT mode unit 36 employ SIEMENS PEB2091, respectively.

선로측정부(38)는 가입자 선로에 대한 전기적인 특성을 측정하기 위한 DSP(Digital Signal Processing) 및 측정회로로 구성된다. 상기 선로측정부(38)의 구성은 종래기술과 같으며, 이에 대해선 특정 디바이스에 대한 제약은 없다.The line measuring unit 38 is composed of a digital signal processing (DSP) and a measuring circuit for measuring electrical characteristics of a subscriber line. The configuration of the line measuring unit 38 is the same as in the prior art, and there is no restriction on a specific device.

본 발명에 의한 장치에서 In Test와 Out Test를 위한 기능블록은 서로 구분되어 있어야 한다.In the apparatus according to the present invention, functional blocks for In Test and Out Test should be distinguished from each other.

그리고 Out Test중에는 선로측정 시험뿐만 아니라 네트워크 터미네이션(Network Termination, NT)에 대한 On Demand 시험항목이 포함된다.In addition, out test includes on-demand test items for network termination (NT) as well as line measurement test.

그러나 하나의 보드내에 In Test와 Out Test 기능이 구현되면 일반 가입자에 연결이 되어 있는 NT 모드에서의 시험에 제약이 따르게 된다. 즉, ISDN 가입자에 대한 In Test가 행해지고 있으면 NT 모드에 대한 항목은 시험이 불가능하게 된다.However, if In Test and Out Test functions are implemented in one board, the test in NT mode connected to the general subscriber will be limited. That is, if In Test is performed for the ISDN subscriber, the item for NT mode cannot be tested.

상기 제약을 고려하여 구성되는 본 발명에 의한 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.The operation of the apparatus according to the present invention configured in consideration of the above constraints is as follows.

ISDN 가입자 보드에 대해서 시험은 상위 제어계의 시험명령에 의해 시작된다.For ISDN subscriber boards, the test is initiated by a test command from the upper control system.

도4에는 In Test와 Out Test 수행시 모드 연결부(32)의 신호연결 방향이 도시되어 있다.4 shows the signal connection direction of the mode connection unit 32 when In Test and Out Test are performed.

이때 모드 연결부(32)는 다수의 논리합 게이트(51~53) 및 논리곱 게이트(54~61)를 포함하여 구성되는 것으로, 도4에 사용된 표기방식은 FSC, DCL, DD 및 DU 각각에 대하여 신호의 연결방향을 지시하도록 한다. 예를 들어, LT 모드부(36)의 입출력 신호는 FSC_LT, DCL_LT, DD_LT 및 DU_LT 등으로 표기된다.In this case, the mode connection unit 32 includes a plurality of OR gates 51 to 53 and AND gates 54 to 61. The notation method used in FIG. 4 is used for FSC, DCL, DD, and DU, respectively. Indicate the direction of signal connection. For example, the input / output signal of the LT mode unit 36 is represented by FSC_LT, DCL_LT, DD_LT, DU_LT, and the like.

그래서 상위 제어계가 In Test 시험을 지시하면, 제어부(31)는 모드 연결부(32)를 제어하여 NT 모드부(34)와 제어부(31)간 연결경로를 활성화시킨다.Thus, when the upper control system instructs the In Test test, the control unit 31 controls the mode connection unit 32 to activate the connection path between the NT mode unit 34 and the control unit 31.

NT 모드부(34)는 FSC(Frame Synchronous Clock)와 DCL(Data Clock)에 대한 신호를 제어부(31)로 전달한다. 그러면 NT 모드부(34)에 연결된 DD(Data Down) 및 DU(Data Up)가 제어부(31)로 연결된다.The NT mode unit 34 transmits a signal for a frame synchronous clock (FSC) and a data clock (DCL) to the controller 31. Then, DD (Data Down) and DU (Data Up) connected to the NT mode unit 34 are connected to the control unit 31.

상기 연결을 위한 신호처리를 보다 상세히 설명하기로 한다.Signal processing for the connection will be described in more detail.

상기 NT 모드부(34)가 FSC_PNT와 DCL_PNT를 전달하면, 제3 논리곱게이트(56)와 제4 논리곱 게이트(57)로 각각 입력된다. 이때 제3 논리곱 게이트(56) 및 제4 논리곱 게이트(57)는 NT 모드를 활성화하기 위한 신호인 NT와 FSC_PNT와 DCL_PNT를 각각 논리곱 연산하여 그 연산결과를 FSC_NT와 DCL_NT로써 출력하게 된다.When the NT mode unit 34 transmits FSC_PNT and DCL_PNT, the NT mode unit 34 is input to the third AND gate 56 and the fourth AND gate 57, respectively. At this time, the third AND gate 56 and the fourth AND gate 57 perform an AND operation on NT, FSC_PNT, and DCL_PNT, which are signals for activating the NT mode, and output the result of the operation as FSC_NT and DCL_NT.

상기 FSC_NT는 제1 논리합 게이트(51)로 입력되어 FSC_LT와 논리합 연산되고, 그 연산결과가 FSC_CPU로써 제어부(31)로 전달된다. 그리고 상기 DCL_NT는 제2 논리합 게이트(52)로 입력되어 DCL_LT와 논리합 연산되고, 그 연산결과가 DCL_CPU로써 제어부(31)로 전달된다.The FSC_NT is input to the first AND gate 51 and is ORed with the FSC_LT, and the result of the operation is transferred to the controller 31 as the FSC_CPU. The DCL_NT is input to the second OR gate 52 and is ORed with the DCL_LT, and the operation result is transferred to the controller 31 as the DCL_CPU.

이러한 체계로 NT 모드부(36)로부터 제어부(31)로 FSC와 DCL 신호의 전달이 수행되며, 제어부(31)는 상기 FSC와 DCL 신호를 수신하여 NT 모드부(34)에 연결된 DD(Data Down) 및 DU(Data Up)를 연결하게 된다.In this system, the FSC and the DCL signals are transmitted from the NT mode unit 36 to the control unit 31, and the control unit 31 receives the FSC and DCL signals and connects the DD (Data Down) connected to the NT mode unit 34. ) And DU (Data Up).

즉, 제어부(31)의 DD 신호는 제5 논리곱 게이트(58)와 제7 논리곱 게이트(60)로 각각 입력되는데, NT 모드가 활성화되는 상태이므로 제5 논리곱 게이트(58)의 출력은 유효하지 않게 된다. 이와는 달리, 제7 논리곱 게이트(60)는 NT 신호가 유효하므로 DD를 수신하여 논리곱 연산한 결과에 따라 DD_NT를 출력하게 된다. 상기 DD_NT는 NT 모드부(36)로 전달됨으로써 데이터 다운을 위한 경로가 연결된다.That is, the DD signal of the control unit 31 is respectively input to the fifth AND gate 58 and the seventh AND gate 60. Since the NT mode is activated, the output of the fifth AND gate 58 is It becomes invalid. In contrast, since the NT signal is valid, the seventh AND gate 60 receives DD and outputs DD_NT according to a result of the AND operation. The DD_NT is transferred to the NT mode unit 36 so that a path for data down is connected.

그리고 NT 모드부(36)는 데이터 업에 대한 연결을 위하여 DU_NT 신호를 출력하게 된다. DU_NT는 제8 논리곱 게이트(61)로 입력되어 NT 신호와 논리곱 연산된다. 이때 NT 신호가 유효한 상태이면, DU_NT를 통과시켜 제3 논리합 게이트(53)로전달한다. 제3 논리합 게이트(53)는 DU_NT와 DU_LT 신호를 논리합 연산한 결과를 DU 신호로써 제어부(31)로 전달함으로써 데이터 업을 위한 연결이 이루어지도록 한다.The NT mode unit 36 outputs a DU_NT signal for connection to data up. DU_NT is input to the eighth AND gate 61 to perform an AND operation on the NT signal. At this time, if the NT signal is in a valid state, the DU_NT is passed through to the third logical sum gate 53. The third OR gate 53 transmits the result of the OR operation of the DU_NT and the DU_LT signal to the controller 31 as the DU signal so that the connection for data up is made.

이러한 체계로 모드 연결부(32)가 동작하는 바, 상기 설명한 신호 이외의 다른 일련의 신호들이 연결되는 체계에 대한 나열적인 설명은 생략한다.Since the mode connection unit 32 operates in such a scheme, a description of a scheme in which a series of signals other than the above-described signals are connected is omitted.

상기 동작으로 연결설정이 이루어지면 In Test를 수행하기 위한 연결이 완료된다. 이때 시험용 버스에 대한 연결은 별도로 존재하게 된다.When the connection is established by the above operation, the connection for performing the In Test is completed. There is a separate connection to the test bus.

In Test는 각 시험항목별로 수행되며, 시험주기를 세팅하여 일정시간마다 모든 ISDN 가입자 보드에 대한 시험을 수행할 수도 있다.In Test is performed for each test item, and a test period may be set to perform a test on all ISDN subscriber boards at a predetermined time.

그리고 Out Test는 상위 제어계의 시험명령을 수신하는 제어부(31)가 선로측정부(38)를 제어하여 선로에 대한 전기적인 특성을 시험하게 된다. 상기 선로측정부(38)에 의한 선로특성 시험시 모드 연결부(32)의 각 신호연결 동작은 불필요하게 된다.In the Out Test, the control unit 31 receiving the test command of the upper control system controls the line measuring unit 38 to test the electrical characteristics of the line. In the line characteristic test by the line measuring unit 38, each signal connection operation of the mode connecting unit 32 becomes unnecessary.

즉, Out Test에 의한 선로특성 시험은 선로측정부(38)와 아웃테스트 인터페이스부(37)간의 연결이 이루어진 상태에서 수행되는 것이다. 이러한 연결상태에서 선로측정부(38)는 선로에 대한 각종 측정을 수행한 후 그 결과를 제어부(31)에 보고하게 되며, 제어부(31)는 선로측정에 따른 결과를 상위 제어계에 보고함으로써 운용자가 시험결과를 인지할 수 있도록 한다.That is, the line characteristic test by the Out Test is performed in a state where the connection between the line measuring unit 38 and the out test interface unit 37 is made. In this connection state, the line measuring unit 38 performs various measurements on the line and then reports the result to the control unit 31. The control unit 31 reports the result according to the line measurement to the upper control system. Ensure test results are recognizable.

이처럼 In Test와 Out Test를 동시에 수행할 수 있는 것은 Out Test의 경우 주로 선로측정만을 주기적으로 수행하며 선로측정부(38)가 자체적인 시험을 수행할수 있어 선로측정시 제어부(31)가 제약을 받지 않으므로 가능하게 된다.As such, the In Test and the Out Test can be performed at the same time in the case of the Out Test mainly performs only the line measurement periodically and the line measuring unit 38 can perform its own test, so that the control unit 31 is not restricted when measuring the line. So it is possible.

그런데 In Test가 수행되는 도중에는 LT 모드부(36)에 대한 연결을 설정할 수 없다.However, during the In Test, the connection to the LT mode unit 36 cannot be established.

따라서 In Test 수행중 일반 가입자에 연결된 NT 모드에서 시험을 수행하고자 하는 경우에는 In Test를 중지시키고 Out Test 항목중에서 NT 시험환경을 설정하여야 한다.Therefore, if you want to perform the test in NT mode connected to the general subscriber during In Test, you must stop the In Test and set the NT test environment in the Out Test category.

즉, 상위 제어계가 NT 모드 활성화 항목에 대한 시험명령을 전달하면, 도4에서 제어부(31)와 LT 모드부(36)간에 DD와 DU 연결이 이루어지고 클럭생성부(33)가 공급하는 클럭과 FSC를 전달하기 위한 연결이 설정된다.That is, when the upper control system transmits a test command for the NT mode activation item, a DD and DU connection is made between the control unit 31 and the LT mode unit 36 in FIG. 4 and the clock supplied from the clock generation unit 33 A connection is established to carry the FSC.

이러한 동작으로 Out Test 항목중에서 NT 시험환경을 위한 연결설정이 이루어지면, 각 시험항목에 따른 시험을 수행할 수 있게 된다.With this operation, if the connection setup for NT test environment is made among the Out Test items, the test according to each test item can be performed.

이때 NT 시험환경을 위한 연결설정이 이루어지면 다른 시험은 불가능한 상태가 된다. 이미 Out Test 버스에 대한 시험이 진행중인 상태에서는 Out Test 버스가 점유되므로, 선로측정 시험이 불가능한 상태가 되는 것이다.At this time, if connection setting for NT test environment is made, other test is impossible. If the test on the Out Test bus is already in progress, the Out Test bus is occupied, making the line measurement test impossible.

따라서 Out Test 중 NT에 대한 제약사항만을 고려한다면 Out Test 중 선로측정 시험을 하면서 In Test 시험이 가능하고 In Test 시험을 진행하면서도 Out Test 인 선로측정 시험은 가능하게 되는 것이다.Therefore, considering only NT constraints in the out test, the in test test is possible while the line measurement test is performed during the out test, and the out test in-line measurement test is possible while the in test test is in progress.

이러한 동작은 본 발명에 의한 시험방법을 통해 보다 구체화된다.This operation is more specified through the test method according to the present invention.

도5에서 상위 제어계가 In Test를 지시한 경우에는 In Test 모드로 동작하여 모드 연결부(32)가 제어부(31)와 NT 모드부(34)간을 연결시키게 된다(ST11). 그러면 In Test가 수행되며, In Test와 동시에 선로측정 시험을 수행할 수도 있다(ST12~ST13).When the upper control system instructs In Test in FIG. 5, the mode control unit 32 connects the control unit 31 and the NT mode unit 34 by operating in the In Test mode (ST11). Then In Test is performed, and the line measurement test can be performed simultaneously with In Test (ST12 ~ ST13).

그리고 선로측정 시험이 동시에 수행되지 않는 경우에는 In Test만을 단독으로 수행하고 그 결과를 상위 제어계에 보고한다(ST14~ST15)If the line measurement test is not performed at the same time, only In Test is performed alone and the result is reported to the upper control system (ST14 to ST15).

한편, In Test 수행도중에 Out Test중 NT 시험을 위한 환경설정이 필요한 경우에는 In Test를 종료하고 Out Test 모드로 전환하게 된다.On the other hand, if it is necessary to set the environment for NT test during Out Test during In Test, In Test is terminated and the mode is changed to Out Test mode.

Out Test 모드는 상위 제어계의 명령에 의해 시작되며, 제어부(31)와 LT 모드부(36)간을 연결시키게 된다(21).Out Test mode is started by the command of the upper control system, it is connected to the control unit 31 and the LT mode unit 36 (21).

Out Test 모드에서는 선로측정 시험과 동시에 In Test를 수행할 수 있으므로, 선로측정 시험이 수행되는 상태에서 상위 제어계가 In Test를 지시하면 선로측정 시험 및 In Test에 따른 결과는 각각 제어부(31)로 보고된다(ST22~ST24).In Out Test mode, In Test can be performed simultaneously with the line measurement test. When the upper control system instructs In Test while the line measurement test is being performed, the results of the line measurement test and the In Test are reported to the controller 31, respectively. (ST22 to ST24).

상기에서 선로측정 시험만이 단독으로 수행되는 경우와 선로측정 시험 이외의 항목에 대한 시험이 수행되는 경우는 종래기술과 동일하게 동작하여 Out Test를 수행하게 된다(ST25~ST26).In the case where only the line measurement test is performed alone and the test for items other than the line measurement test is performed in the same manner as in the prior art to perform the Out Test (ST25 ~ ST26).

이처럼 본 발명은 하나의 보드에서 In Test와 Out Test를 동시에 수행할 수 있도록 하는 것이다.As such, the present invention is to enable the In Test and Out Test at the same time on one board.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였으나, 본 발명은 다양한 변화와 변경 및 균등물을 사용할 수 있다. 본 발명은 상기 실시예를 적절히 변형하여 동일하게 응용할 수 있음이 명확하다. 따라서 상기 기재 내용은 하기 특허청구범위의 한계에 의해 정해지는 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니다.Although the preferred embodiment of the present invention has been described above, the present invention may use various changes, modifications, and equivalents. It is clear that the present invention can be applied in the same manner by appropriately modifying the above embodiments. Accordingly, the above description does not limit the scope of the invention as defined by the limitations of the following claims.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 의한 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치 및 그 시험방법은, 한 보드내에 In Test와 Out Test 기능을 구현할 수 있고 상기 양 시험을 동시에 수행하는 것이 가능하게 되는 효과가 있다.As described above, the integrated information communication network test apparatus and test method thereof of the electronic switching system according to the present invention can implement the In Test and Out Test functions in one board, and both tests can be performed simultaneously. It works.

그래서 종래 한 보드내에 In Test와 Out Test 기능이 구현되어 있는 경우에 동시에 시험을 수행할 수 없었던 단점과, In Test와 Out Test를 동시에 수행하려면 서로 독립된 보드상에 각 시험기능을 구현하여야 했던 단점을 극복할 수 있게 된다.Therefore, when the In Test and Out Test functions are implemented in one board, it is impossible to perform the test at the same time, and to perform the In Test and Out Test at the same time, each test function must be implemented on the boards that are independent of each other. You can overcome it.

따라서 본 발명에 의한 장치를 전전자 교환시스템에 적용함으로써, ISDN 시험을 위한 보드의 종류수를 줄이고 동시시험을 통해 시험에 필요한 시간을 단축시키는 효과를 갖게 된다.Therefore, by applying the device according to the present invention to the all-electronic switching system, it has the effect of reducing the number of types of boards for the ISDN test and the time required for the test through the simultaneous test.

Claims (4)

ISDN 시험을 위한 각 디바이스의 동작을 제어하는 제어부와;A control unit controlling an operation of each device for an ISDN test; 상기 제어부를 시험종류에 따라 NT 모드부 또는 LT 모드부로 연결하는 모드 연결부와;A mode connection unit connecting the control unit to an NT mode unit or an LT mode unit according to a test type; ISDN 시험을 위한 클럭을 생성하여 상기 모드 연결부로 공급하는 클럭생성부와;A clock generator which generates a clock for an ISDN test and supplies the clock to the mode connection unit; 상기 모드 연결부를 통해 제어부와 연결되어 가입자 보드에 대한 시험을 수행하는 NT 모드 및 인터페이스부와;An NT mode and interface unit connected to the control unit through the mode connection unit to perform a test on the subscriber board; 상기 모드 연결부를 통해 제어부와 연결되어 가입자 선로에 대한 시험을 수행하는 LT 모드 및 인터페이스부와;An LT mode and an interface unit connected to the control unit through the mode connection unit to perform a test on the subscriber line; 상기 제어부와 연결되어 가입자 선로에 대한 선로측정을 수행하는 선로측정부로 구성된 것을 특징으로 하는 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치.Comprehensive information communication network test apparatus of the all-electronic switching system characterized in that it is connected to the control unit consisting of a line measuring unit for performing a line measurement for the subscriber line. 제 1항에 있어서, 상기 모드 연결부는,The method of claim 1, wherein the mode connection unit, 시험 종류에 따라 상기 제어부의 제어를 받아 동작하는 것으로, 가입자 보드에 대한 In Test 수행시에는 제어부와 NT 모드부간을 연결하여 시험경로를 구성하고, 가입자 선로에 대한 Out Test시에는 제어부와 LT 모드부간을 연결하여 시험경로를 구성하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험장치.It operates under the control of the control unit according to the test type. When performing the In Test on the subscriber board, the test path is connected between the control unit and the NT mode unit, and during the out test for the subscriber line, the test unit is connected between the control unit and the LT mode unit. Comprehensive information communication network test apparatus of the electronic switching system, characterized in that for configuring the test path by connecting the. In Test 모드에서 모드 연결부가 제어부와 NT 모드부간을 연결시키는 단계와;Connecting, by the mode connection unit, the control unit and the NT mode unit in the In Test mode; 상기 단계에서 선로측정 시험의 지시여부에 따라 In Test만을 단독으로 수행하거나 In Test 수행과 동시에 선로측정 시험을 수행하고 보고하는 단계와;Performing only the In Test alone or performing and reporting the line measurement test simultaneously with performing the In Test according to the instruction of the line measurement test in the step; Out Test 모드에서 제어부와 LT 모드부간을 연결시켜 Out Test를 수행하는 단계와;Performing an Out Test by connecting the control unit and the LT mode unit in the Out Test mode; Out Test 항목이 선로측정 시험인 상태에서 In Test가 지시되면, 선로측정 시험 및 In Test를 동시에 수행하고 그 결과를 제어부에 보고하는 단계와;If In Test is indicated while the Out Test item is a line measurement test, simultaneously performing the line measurement test and the In Test and reporting the result to the controller; 선로측정 시험 및 In Test의 동시 수행상태가 아닌 경우에는 해당 항목의 Out Test를 수행하고 제어부에 보고하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험방법.In the case where the line measurement test and the In Test are not simultaneously performed, the Out Test of the corresponding item and reporting to the controller are performed. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 In Test 모드에서 NT 시험환경 설정이 필요한 Out Test가 지시되는 경우에는 수행중인 In Test를 종료한 후에 해당 Out Test를 순차적으로 수행하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환시스템의 종합정보통신망 시험방법.In the In Test mode, when the Out Test is required to set the NT test environment is indicated, after the end of the In Test is performed, the outgoing test of the integrated electronic communication system, characterized in that to perform sequentially.
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