JPH02124654A - Terminal test equipment - Google Patents
Terminal test equipmentInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は端末試験機に関し、特にI SDNユーザ網に
接続する端末の試験に使用する端末試験機に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a terminal testing machine, and more particularly to a terminal testing machine used for testing terminals connected to an ISDN user network.
従来の端末試験機は、第2図に示すように、端末25,
26.27.28がそれぞれ接続された基本インタフェ
ース回路20.21の、それぞれのB1 + 82チャ
ネル同士を固定的に接続し、基本インタフェース回路2
0.21のDチャネルは、呼情報の制御を行う汎用のプ
ロトコルアナライザ23.24を接続するための専用イ
ンタフェース回路22に接続していた。この回路の試験
の方法は、例えば、端末25からの発呼に対しては、プ
ロトコルアナライザ23のキー操作を行って呼制御情報
を送受し、端末27への着呼に対しては、プロトコルア
ナライザ24のキー操作を行って呼制御情報を送受し、
それによって端末25と端末27とを接続し、相互に通
話およびデータの通信試験を行わせるものであった。As shown in FIG. 2, the conventional terminal testing machine has terminals 25,
The B1 + 82 channels of the basic interface circuits 20 and 21 to which 26, 27, and 28 are connected are fixedly connected to each other, and the basic interface circuit 2
The 0.21 D channel was connected to a dedicated interface circuit 22 for connecting general-purpose protocol analyzers 23 and 24 for controlling call information. For example, in response to a call originating from the terminal 25, key operations on the protocol analyzer 23 are performed to transmit and receive call control information, and in response to an incoming call to the terminal 27, the protocol analyzer Send and receive call control information by performing 24 key operations,
Thereby, the terminal 25 and the terminal 27 were connected to each other, and a call and data communication test was performed with each other.
上述した従来の端末試験機は、回線制御の目的で、基本
インタフェース回路ごとにプロトコルアナライザを接続
している。その接続のためには専用インタフェース回路
が必要であり、プロトコルアナライザも複数個使用する
ことになるので試験機の規模が大きくなる。又、端末間
の通信を行わせるには、複数のプロトコルアナライザの
キー操作を行って呼制御情報を送受しなければならず、
操作が複雑であるため実時間での呼制御の試験ができな
い。さらに、基本インタフェース回路の、それぞれのB
1.B2チャネル同士を固定的に接続しているので、B
、、B2チャネルにまたがる接続の試験ができないとい
う問題点がある。In the conventional terminal tester described above, a protocol analyzer is connected to each basic interface circuit for the purpose of line control. A dedicated interface circuit is required for this connection, and multiple protocol analyzers are also used, which increases the scale of the test equipment. In addition, in order to communicate between terminals, it is necessary to perform key operations on multiple protocol analyzers to send and receive call control information.
Due to the complexity of operation, testing of call control in real time is not possible. Furthermore, each B of the basic interface circuit
1. Since the B2 channels are fixedly connected, the B
, , there is a problem in that it is not possible to test connections across B2 channels.
本発明の目的は、専用の処理装置とB、、B2チャネル
に接続した切替回路とを設けることにより、経済的で操
作が簡単なしかもB、、B2チャネルにまたがる接続の
試験も含めて実時間での通信試験を行うことができる端
末試験機を提供することにある。The purpose of the present invention is to provide an economical and simple operation by providing a dedicated processing unit and a switching circuit connected to channels B, B, and B2, as well as real-time testing, including testing connections across channels B, B, and B2. The purpose of the present invention is to provide a terminal testing machine that can perform communication tests.
本発明の端末試験機は、プログラムを実行し各種装置お
よび各種回路を制御する中央処理装置と、前記プログラ
ムを格納する記憶装置と、外部との情報の入出力を制御
する入出力制御装置と、CCITT勧告■430基本ユ
ーザ網インタフェースに基ずき2B+Dの形式でチャネ
ルを構成した二つの基本インタフェース回路と、その二
つの基本インタフェース回路の二つのBチャネルと接続
する切替回路と、前記基本インタフェース回路に接続し
Dチャネルのプロトコルの制御を行う二つのLAPD回
路とを有する構成である。The terminal tester of the present invention includes a central processing unit that executes a program and controls various devices and circuits, a storage device that stores the program, and an input/output control device that controls input and output of information to and from the outside. CCITT Recommendation ■Two basic interface circuits that configure channels in the 2B+D format based on the 430 basic user network interface, a switching circuit that connects the two B channels of the two basic interface circuits, and a This configuration includes two LAPD circuits that are connected and control the D channel protocol.
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.
プログラムを実行し各種装置および各種回路を制御する
中央処理装置1は、共通バスを介してプログラムを格納
する記憶装置2と、外部との情報の入出力を制御する入
出力制御装置3と、2B+Dの形式でチャネルを構成し
た基本インタフェース回路4,5と、基本インタフェー
ス回路4.5の二つのBチャネルと接続する切替回路6
と、基本インタフェース回路4,5に接続しDチャネル
のプロトコルの制御を行うLAPD回路7,8とに接続
している。基本インタフェース回路4゜5と切替回路6
との間は、B1チャネル9,10とB2チャネル11.
12とで接続している。基本インタフェース回路4は、
基本インタフェース線13を介して端末15.16と接
続し、基本インタフェース回路5は、基本インタフェー
ス線14を介して端末17.18と接続している。A central processing unit 1 that executes programs and controls various devices and circuits includes a storage device 2 that stores programs via a common bus, an input/output control device 3 that controls input and output of information to and from the outside, and a 2B+D Basic interface circuits 4 and 5 having channels configured in the format, and a switching circuit 6 that connects to the two B channels of the basic interface circuit 4.5.
and LAPD circuits 7 and 8 which are connected to the basic interface circuits 4 and 5 and control the D channel protocol. Basic interface circuit 4゜5 and switching circuit 6
Between B1 channels 9 and 10 and B2 channels 11.
It is connected with 12. The basic interface circuit 4 is
It is connected via a basic interface line 13 to a terminal 15.16, and the basic interface circuit 5 is connected via a basic interface line 14 to a terminal 17.18.
次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.
端末15の扱者が端末17に対して発呼する試験を行う
場合、端末15と中央処理装置1とは、LAPD回路7
と基本インタフェース回路4と基本インタフェース線1
3とを介して呼制御情報の送受を行い、使用する通信チ
ャネルを決定する。When the operator of the terminal 15 performs a test in which a call is made to the terminal 17, the terminal 15 and the central processing unit 1 are connected to the LAPD circuit 7.
and basic interface circuit 4 and basic interface line 1
3, and determines the communication channel to be used.
ここではB1チャネルとする。中央処理装置1は、呼制
御情報を受け、接続先が端末17であることを認識する
と、端末17に対してLAPD回路8と基本インタフェ
ース回路5と基本インタフェース線14とを介して呼制
御情報を送出する。端末17が応答すると中央処理装置
1は、切替回路6を制御してBlチャネル9とB、チャ
ネル10とを接続するので、端末15と端末17とは通
信可能となり、端末相互の通信試験を行うことができる
。次に、端末17からこの呼を端末16に転送するよう
要求されたとする。中央処理装置1は、現在使用してい
るB、チャネル9,10を保留状態とし、端末17から
受けた呼制御情報により、端末15と端末17との接続
の場合と同様、LAPD回路7と基本インタフェース回
路4と基本インタフェース線13とを介して呼制御情報
を端末16に送出し、切替回路6を制御して空きのB2
チャネル11とB2チャネル12とを接続するので、端
末17と端末16とは通信可能となり、端末相互の通信
試験を行うことができる。Here, it is assumed to be the B1 channel. When the central processing unit 1 receives the call control information and recognizes that the connection destination is the terminal 17, it transmits the call control information to the terminal 17 via the LAPD circuit 8, the basic interface circuit 5, and the basic interface line 14. Send. When the terminal 17 responds, the central processing unit 1 controls the switching circuit 6 to connect the Bl channel 9 to the B channel 10, so that the terminal 15 and the terminal 17 can communicate with each other, and a communication test between the terminals is performed. be able to. Next, assume that terminal 17 requests to transfer this call to terminal 16. The central processing unit 1 puts the B channels 9 and 10 currently in use on hold, and uses the call control information received from the terminal 17 to connect the LAPD circuit 7 and the basic The call control information is sent to the terminal 16 via the interface circuit 4 and the basic interface line 13, and the switching circuit 6 is controlled to switch to the vacant B2.
Since the channel 11 and the B2 channel 12 are connected, the terminal 17 and the terminal 16 can communicate with each other, and a communication test between the terminals can be performed.
次に、端末17を復旧させると、中央処理装置1は、保
留状態のB1チャネル9とB2チャネル11とを切替回
路6を制御して接続するので、端6一
末15と端末16とは通信可能となり、端末相互の通信
試験を行うことができる。同時にB1チャネル10とB
2チャネル12とを復旧させる。端末15と端末16と
の通信試験が終了すると、中央処理装置1は各端末と呼
制御情報の送受を行い、各装置を復旧させ、もとの状態
に戻す。Next, when the terminal 17 is restored, the central processing unit 1 controls the switching circuit 6 to connect the B1 channel 9 and the B2 channel 11 that are on hold, so that the terminal 6 to 15 and the terminal 16 are not able to communicate with each other. This makes it possible to perform communication tests between terminals. B1 channel 10 and B at the same time
2 channel 12 will be restored. When the communication test between the terminals 15 and 16 is completed, the central processing unit 1 sends and receives call control information to and from each terminal, and restores each device to its original state.
以上説明したように、本発明は、専用の処理装置とB、
、B2チャネルに接続した切替回路とを設けることによ
り、経済的で操作が簡単なしかもB、、B2チャネルに
またがる接続の試験も含めて実時間での通信試験を行う
ことができる効果が有る。As explained above, the present invention includes a dedicated processing device, B,
By providing a switching circuit connected to the B, , and B2 channels, it is economical and easy to operate, and it is also possible to perform communication tests in real time, including tests of connections spanning the B, , and B2 channels.
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は従来
の端末試験機ブロック図である。
基本インタフェース回路4,51・・・・・・中央処理
装置、2・・・・・・記憶装置、3・・・・・・入出力
制御装置、4.5,20.21・・・・・・基本インタ
フェース回路、6・・・・・・切替回路、7,8・・・
・・・LAPD回路、9゜10・・・・・・B1チャネ
ル、11.12・・・・・・B2チャネル、13.14
・・・・・・基本インタフェース線、15.16,17
,18,25,26,27゜28・・・・・・端末、2
2・・・・・・専用インタフェース回路、23.24・
・・・・・プロトコルアナライザ。
代理人 弁理士 内 原 晋
第
2図FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of a conventional terminal testing machine. Basic interface circuits 4, 51... Central processing unit, 2... Storage device, 3... Input/output control device, 4.5, 20.21...・Basic interface circuit, 6...Switching circuit, 7, 8...
...LAPD circuit, 9°10...B1 channel, 11.12...B2 channel, 13.14
...Basic interface line, 15.16,17
, 18, 25, 26, 27° 28...terminal, 2
2... Dedicated interface circuit, 23.24.
...protocol analyzer. Agent: Susumu Uchihara, patent attorney Figure 2
Claims (1)
る中央処理装置と、前記プログラムを格納する記憶装置
と、外部との情報の入出力を制御する入出力制御装置と
、CCITT勧告I430基本ユーザ網インタフェース
に基ずき2B+Dの形式でチャネルを構成した二つの基
本インタフェース回路と、その二つの基本インタフェー
ス回路の二つのBチャネルと接続する切替回路と、前記
基本インタフェース回路に接続しDチャネルのプロトコ
ルの制御を行う二つのLAPD回路とを有することを特
徴とする端末試験機。A central processing unit that executes programs and controls various devices and circuits, a storage device that stores the programs, an input/output control device that controls input and output of information to and from the outside, and a CCITT recommendation I430 basic user network interface. Two basic interface circuits that configure channels in the basic 2B+D format, a switching circuit that connects to the two B channels of the two basic interface circuits, and a switching circuit that connects to the basic interface circuit and controls the protocol of the D channel. A terminal testing machine characterized by having two LAPD circuits.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63278875A JPH02124654A (en) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | Terminal test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63278875A JPH02124654A (en) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | Terminal test equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02124654A true JPH02124654A (en) | 1990-05-11 |
Family
ID=17603334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63278875A Pending JPH02124654A (en) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | Terminal test equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02124654A (en) |
-
1988
- 1988-11-02 JP JP63278875A patent/JPH02124654A/en active Pending
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