JPH04150442A - Interface testing system - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明はインタフェース試験方式に関し、コネクタを共
用する複数のインタフェースを試験する場合の試験操作
および試験用の接続ケーブルを削減することを目的とし
、
1つのコネクタを複数種別のインタフェースで共用し、
接続されたケーブルにより対応するインタフェース処理
を行う装置の試験方式であって、該コネクタに接続され
、すべての前記インタフェースの信号線を合わせ持つ接
続ケーブルと、該接続ケーブルを介し、複数種別のイン
タフェース機能を順次設定しそれぞれ試験する試験部と
を設け、1つのコネクタを共用するすべてのインタフェ
ースの信号線を合わせ持つ該接続ケーブルを前記コネク
タに接続して複数種別の該インタフェース機能を連続的
に試験するように構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] The present invention relates to an interface test method, and aims to reduce test operations and test connection cables when testing multiple interfaces that share a connector. shared by multiple types of interfaces,
A testing method for devices that performs corresponding interface processing using connected cables, which includes a connecting cable that is connected to the connector and has all the signal lines of the interface, and multiple types of interface functions through the connecting cable. A test section is provided to sequentially set and test each of the interfaces, and the connection cable having the signal lines of all the interfaces that share one connector is connected to the connector to continuously test the functions of the multiple types of interfaces. Configure it as follows.
本発明はコネクタを共用する複数種別のインタフェース
を試験するインタフェース試験方式の改良に関する。The present invention relates to an improvement in an interface testing method for testing multiple types of interfaces that share a connector.
第4図は通信制御装置例を表す図、第5図は従来の試験
方法説明図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of a communication control device, and FIG. 5 is an explanatory diagram of a conventional test method.
通信回線を使用してデータ通信を行う場合、回線終端装
置として、DTE (モデム)またはDSUが使用され
る。このモデムおよびDSUと、データ通信装置とのイ
ンタフェースとして、CCITT勧告に基づ(vシリー
ズインタフェース(以下■インタフェースと称する)お
よびXシリーズインタフェース(Xインタフェース)が
それぞれ用いられており、装置側では、通信回線の種別
に対応できるよう両方のインタフェースを備えている。When data communication is performed using a communication line, a DTE (modem) or DSU is used as a line terminating device. Based on the CCITT recommendations, the V series interface (hereinafter referred to as ■ interface) and the X series interface (X interface) are used as interfaces between this modem and DSU and data communication equipment, and the equipment Both interfaces are provided to support different line types.
第4図は装置側の通信制御装置10の構成を示したもの
で、DSU17との間でデータのやりとりを行うXイン
タフェース部12と、モデム1日との間でデータのやり
とりを行う■インタフェース部13と、これらのインタ
フェース部のうち、いずれか一方を制御して通信処理を
行う制御部11とを備えており、DSU17またはモデ
ム18は1つのコネクタ14を介して接続される。FIG. 4 shows the configuration of the communication control device 10 on the device side, which includes an X interface unit 12 that exchanges data with the DSU 17, and an interface unit that exchanges data with the modem 1. 13 and a control section 11 that controls one of these interface sections to perform communication processing, and the DSU 17 or modem 18 is connected via one connector 14.
通信制御装置10には、通信回線に対応するDSU17
およびモデム18のうち、いずれか一方が接続されるの
で、装置小型化のためにコネクタ14は共用する構造と
なっており、Xインタフェース部12および■インタフ
ェース部13からの信号線はそれぞれコネクタ14の異
なるビンに接続されるか、または共用できる信号線は同
じビンに接続されて切替えられるようになっており、D
SU17と接続する場合はX用接続ケーブル15、モデ
ム18と接続する場合は■用接続ケーブル16のごとく
、それぞれ不要の信号線を省いた専用の接続ケーブルが
使用される。The communication control device 10 includes a DSU 17 corresponding to a communication line.
and modem 18, so the connector 14 is shared in order to make the device more compact, and the signal lines from the X interface section 12 and the ■interface section 13 are connected to the Signal lines that are connected to different bins or can be shared are connected to the same bin and can be switched.
When connecting to the SU 17, dedicated connection cables are used such as the connection cable 15 for X, and the connection cable 16 for connection to modem 18, each of which has unnecessary signal lines omitted.
第5図はこのような通信制御装置を複数持つ場合の試験
方法を示したもので、通信制御装置10と通信制御装置
20との間を試験対象のインタフェース専用の接続ケー
ブルで接続し、上位装置1にロードされたX、 IF試
験部2aおよびV、 IF試験部2bをそれぞれ起動し
て折り返し試験を行っている。Fig. 5 shows a test method when there is a plurality of such communication control devices, in which the communication control device 10 and the communication control device 20 are connected with a connection cable dedicated to the interface to be tested, and the host device 1, the IF test section 2a and V, and the IF test section 2b loaded in the IF test section 2b are activated to perform a return test.
〔発明が解決しようとする課題]
Xインタフェースおよび■インタフェースを1つのコネ
クタ14に持つ上記通信制御装置の試験では、それぞれ
専用の接続ケーブルで折り返し接続し、対応する試験部
をそれぞれ起動して試験を行っている。[Problems to be Solved by the Invention] In testing the above-mentioned communication control device that has an Is going.
このため、試験用の接続ケーブルがインタフェース種別
分必要であるとともに、接続替えと、個別の試験部を起
動する操作が必要で、試験に手間がかかるという課題が
ある。For this reason, test connection cables are required for each interface type, as well as connection changes and operations to start up individual test units, which poses a problem in that testing is time-consuming.
本発明は、上記課題に鑑み、複数種別のインタフェース
を1つのコネクタに持つ装置のインタフェース機能を効
率的に試験するインタフェース試験方式を提供すること
を目的とする。In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an interface test method for efficiently testing the interface function of a device having multiple types of interfaces in one connector.
〔課題を解決するための手段]
第1図本発明の原理図において、
14はコネクタで、複数種別のインタフェースに共通に
使用される。[Means for Solving the Problems] In FIG. 1, a diagram showing the principle of the present invention, 14 is a connector, which is commonly used for multiple types of interfaces.
3は接続ケーブルで、コネクタ14に接続され、すべて
のインタフェースの信号線を合わせ持つ。A connection cable 3 is connected to the connector 14 and has signal lines for all interfaces.
2は試験部で、接続ケーブル3を介し、複数種別のイン
タフェース機能を順次設定しそれぞれ試験する。Reference numeral 2 denotes a test section which sequentially sets a plurality of types of interface functions via a connection cable 3 and tests each one.
[作 用〕
試験部2を試験対象装置のコネクタ14にすべてのイン
タフェースの信号線を合わせ持つ接続ケーブル3で接続
する。[Operation] The test section 2 is connected to the connector 14 of the device to be tested using the connection cable 3 that includes signal lines of all interfaces.
起動された試験部2は、順次インタフェース機能を設定
し、それぞれそのインタフェースの信号線を選択して所
定の試験を遂行する。The activated test section 2 sequentially sets the interface functions, selects the signal line of each interface, and performs a predetermined test.
信号線が共用され相手先の信号線配置が異なる場合は、
接続ケーブル内に結線変更機構を設け、インタフェース
設定により切替わるようにすれば、同様に連続的に試験
することができる。If the signal line is shared and the signal line arrangement of the other party is different,
If a connection change mechanism is provided in the connection cable and the connection is changed according to the interface settings, continuous testing can be performed in the same way.
以上のごとく、接続ケーブル3によってコネクタ14を
共用するすべてのインタフェースの信号線が試験部2に
接続されているので、試験部2はすべてのインタフェー
スを連続的に試験することができ、1回のケーブル接続
ですむとともに、起動操作をその都度行う必要がないの
で、効率的に試験できる。As described above, since the signal lines of all the interfaces that share the connector 14 are connected to the test section 2 by the connection cable 3, the test section 2 can test all the interfaces continuously, and only one test is required. Testing can be done efficiently because all you need is a cable connection and there is no need to perform startup operations each time.
本発明の実施例を図を用いて詳細に説明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第2図は一実施例の構成図、第3図は他の実施例を表す
図である。FIG. 2 is a block diagram of one embodiment, and FIG. 3 is a diagram showing another embodiment.
第2図は同一機能を備えた通信制御装置10および通信
制御装置20との間で接続ケーブル3により直接接続し
て折り返し試験を行う場合の構成例を示したものである
。図中、
10および20の通信制御装置は、それぞれXインタフ
ェース部12.22、■インタフェース部13.23を
それぞれ持ち、コネクタ14.24を介し、モデムまた
はDSUに接続される。そして、モデムまたはDSUか
ら出力される識別信号により、対応するインタフェース
が起動される。FIG. 2 shows a configuration example in which a loopback test is performed by directly connecting communication control device 10 and communication control device 20 having the same functions through connection cable 3. In the figure, communication control devices 10 and 20 have an X interface section 12.22 and a ■ interface section 13.23, respectively, and are connected to a modem or DSU via a connector 14.24. Then, the corresponding interface is activated by an identification signal output from the modem or DSU.
14および24のコネクタは、それぞれXインタフェー
ス部12と■インタフェース部13およびXインタフェ
ース部22と■インタフェース部23とで共用されるコ
ネクタで、インタフェース間でコネクタビンが独立に使
用されているか、またはその一部が共用されている。The connectors 14 and 24 are shared by the X interface section 12 and the ■interface section 13, and the X interface section 22 and the ■interface section 23, respectively.The connector bins are used independently between the interfaces, or the Some are shared.
3の接続ケーブルは、Xインタフェースおよび■インタ
フェースの信号線を合わせ持ち、その信号線3cはコネ
クタ3aおよびコネクタ3bをそれぞれコネクタ14お
よびコネクタ24に装着することによって、通信制御装
置10と通信制御装置20とが直接接続される。The connection cable 3 has signal lines for the X interface and the are directly connected.
2は上位装置1にロードされた試験部(テストプログラ
ム)で、Xインタフェース機能の折り返し試験を行うX
、IP試験部2aと、■インタフェース機能の折り返し
試験を行うV、 IP試験部2bとを備え、X、 IF
試験とV、 IF試験とを連続して行う。2 is a test section (test program) loaded into the host device 1, which performs a return test of the X interface function.
, an IP test section 2a, and an IP test section 2b, which performs a return test of the interface function, X, IF.
The test and the V and IF tests are conducted consecutively.
以上の構成において、接続ケーブル3によって、コネク
タ14とコネクタ24との間を直接接続し、試験部2を
起動する。In the above configuration, the connector 14 and the connector 24 are directly connected by the connection cable 3, and the test section 2 is activated.
まず、X、 IP試験部2aが動作し、制御部11およ
び制御部21にXインタフェース機能を設定した後、通
信制御装置10を送信側として試験用データを送信し、
通信制御装置20より受信したデータと比較し、また逆
に通信制御袋N20を送信側として送信データと通信制
御装置10で受信された受信データとを比較する等によ
り試験を行う。First, the X and IP test section 2a operates, and after setting the X interface function in the control section 11 and the control section 21, transmits test data with the communication control device 10 as the transmitting side,
The test is performed by comparing the data received from the communication control device 20, and conversely by comparing the transmitted data with the received data received by the communication control device 10 using the communication control bag N20 as the transmitting side.
Xインタフェース機能の試験が終了すると、試験部2は
■インタフェースを設定した後、Xインタフェース機能
試験と同様の試験を行う。When the test of the X interface function is completed, the test section 2 performs the same test as the X interface function test after setting the interface.
以上のごとく、コネクタ14.24を共用するXインタ
フェース、■インタフェースの双方の48 号WAを合
わせ持つ接続ケーブル3により、双方のインタフェース
機能試験を連続的に行うことができる。As described above, by using the connecting cable 3 having both the No. 48 WA of the X interface and the ■ interface, which share the connectors 14 and 24, it is possible to continuously perform the function test of both interfaces.
第3図は他の実施例を示したもので、Aインタフェース
とBインタフェースとが1つのコネクタ14のビンを共
用し、且つ共用した信号線の相手先コネクタのビン配置
が異なる場合を示したもので、インタフェース設定によ
り結線を変更する。FIG. 3 shows another embodiment, in which the A interface and the B interface share the bins of one connector 14, and the bin arrangement of the mating connector of the shared signal line is different. Change the wiring using the interface settings.
接続ケーブル28内に設けられた結線変更機構25の監
視回路26はインタフェース設定信号Sに応じて、切替
回路27を制御して結線を切り替える。The monitoring circuit 26 of the connection change mechanism 25 provided in the connection cable 28 controls the switching circuit 27 in response to the interface setting signal S to switch the connection.
これにより、試験部2がインタフェースを設定すること
により、接続ケーブル28が切り換えられるから、前述
の実施例と同じようにAインタフェース機能とBインタ
フェース機能とを連続して試験することが可能となる。As a result, the connection cable 28 is switched by the test section 2 setting the interface, so that it is possible to test the A interface function and the B interface function continuously in the same way as in the previous embodiment.
以上のごとく、1つのコネクタ14をインタフェースと
して持つ複数種別のインクフェース機能を、すべてのイ
ンタフェースの信号線を合わせ持つ接続ケーブルで接続
することにより、接続ケーブルを取り替えることなく連
続的に試験することが可能となる。As described above, by connecting multiple types of ink face functions that have one connector 14 as an interface with a connection cable that includes the signal lines of all interfaces, it is possible to test continuously without replacing the connection cables. It becomes possible.
なお、以上の実施例は回線を介して通信を行う通信制御
装置を例としたが、外部装置と直接接続する場合のイン
タフェース試験に適用できることは勿論である。Note that although the above embodiments have been exemplified by a communication control device that communicates via a line, it is of course applicable to an interface test when directly connected to an external device.
また、折り返し試験のみではなく、第1図のように、試
験部2にインタフェース機能を備える場合に適用できる
ことも勿論である。Furthermore, it goes without saying that the present invention can be applied not only to repeat tests, but also to cases where the test section 2 is equipped with an interface function, as shown in FIG.
〔発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、複数のインタフ
ェースを1つのコネクタに持ち、接続ケーブルにより選
択的にインタフェース処理を行う装置のインタフェース
試験を、1回のケーブル接続により連続して実行するた
め、試験の手間を省く、試験に必要なケーブル数を1本
にできる等多大の効果がある。[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, an interface test of a device that has a plurality of interfaces in one connector and performs interface processing selectively using a connecting cable can be performed continuously by one cable connection. Since the test is carried out in the same way, it has many advantages, such as saving the trouble of testing and reducing the number of cables required for the test to one.
第1図は本発明の原理図、第2図は一実施例の構成図、
第3図は他の実施例を表す図、第4図は通信制御装置例
を表す図、第5図は従来の試験方法説明図である。
図中、1は上位装置、2は試験部、2aはX、 TF試
験部、2bはV、TF試験部、3,28は接続ケーブル
、3a、 3bはコネクタ、10.20は通信制御装置
、11゜21は制御部、12.22はXインタフェース
部、1323はVインタフェース部、14.24はコネ
クタ、15はX用接続ケーブル、16はV剛接続ケーブ
ル、17はDSU、18はモデム、25は結線変更機構
、26は監視回路、27は切替回路である。
杏諷Fig. 1 is a principle diagram of the present invention, Fig. 2 is a configuration diagram of an embodiment,
FIG. 3 is a diagram showing another embodiment, FIG. 4 is a diagram showing an example of a communication control device, and FIG. 5 is a diagram explaining a conventional test method. In the figure, 1 is a host device, 2 is a test section, 2a is an X, TF test section, 2b is a V, TF test section, 3 and 28 are connection cables, 3a and 3b are connectors, 10.20 is a communication control device, 11゜21 is a control unit, 12.22 is an X interface unit, 1323 is a V interface unit, 14.24 is a connector, 15 is an X connection cable, 16 is a V rigid connection cable, 17 is a DSU, 18 is a modem, 25 26 is a monitoring circuit, and 27 is a switching circuit. Apricot
Claims (1)
ースで共用し、接続されたケーブルにより対応するイン
タフェース処理を行う装置の試験方式であって、 該コネクタ(14)に接続され、すべての前記インタフ
ェースの信号線を合わせ持つ接続ケーブル(3)と、 該接続ケーブル(3)を介し、複数種別のインタフェー
ス機能を順次設定しそれぞれ試験する試験部(2)と を設け、1つのコネクタ(14)を共用するすべてのイ
ンタフェースの信号線を合わせ持つ該接続ケーブル(3
)を前記コネクタ(14)に接続して複数種別の該イン
タフェース機能を連続的に試験することを特徴とするイ
ンタフェース試験方式。 [2]該コネクタに接続される信号線が異なるインタフ
ェース間で共用され、且つその信号線が相手先の信号線
配列と異なる場合、インタフェース機能設定に応じて信
号線を切替える結線変更機構を該接続ケーブル内に設け
たことを特徴とする請求項(1)記載のインタフェース
試験方式。[Scope of Claims] [1] A testing method for a device in which one connector (14) is shared by multiple types of interfaces and the corresponding interface processing is performed using a connected cable, the test method comprising: connecting to the connector (14); a connecting cable (3) having signal lines of all the interfaces, and a testing section (2) for sequentially setting and testing each of the plurality of types of interface functions via the connecting cable (3); The connection cable (3) has signal lines for all interfaces that share one connector (14).
) is connected to the connector (14) to continuously test a plurality of types of interface functions. [2] If the signal line connected to the connector is shared between different interfaces, and the signal line is different from the signal line arrangement of the other party, connect a connection change mechanism that switches the signal line according to the interface function settings. The interface test method according to claim 1, wherein the interface test method is provided within a cable.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2273892A JPH04150442A (en) | 1990-10-12 | 1990-10-12 | Interface testing system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2273892A JPH04150442A (en) | 1990-10-12 | 1990-10-12 | Interface testing system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH04150442A true JPH04150442A (en) | 1992-05-22 |
Family
ID=17534029
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2273892A Pending JPH04150442A (en) | 1990-10-12 | 1990-10-12 | Interface testing system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04150442A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000025232A (en) * | 1998-10-09 | 2000-05-06 | 김영환 | Bit error rate test board supporting multiple driver/receiver in cdma system |
-
1990
- 1990-10-12 JP JP2273892A patent/JPH04150442A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000025232A (en) * | 1998-10-09 | 2000-05-06 | 김영환 | Bit error rate test board supporting multiple driver/receiver in cdma system |
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