KR20020016117A - The Fabrication Process For Microphone Using The MEMS - Google Patents

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KR20020016117A
KR20020016117A KR1020000049271A KR20000049271A KR20020016117A KR 20020016117 A KR20020016117 A KR 20020016117A KR 1020000049271 A KR1020000049271 A KR 1020000049271A KR 20000049271 A KR20000049271 A KR 20000049271A KR 20020016117 A KR20020016117 A KR 20020016117A
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KR1020000049271A
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정우철
김광일
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신현준
재단법인 포항산업과학연구원
홍상복
포스코신기술연구조합
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Abstract

PURPOSE: A method for fabricating microphone using mems(micro electro mechanical systems) process is provided to fabricate a compact microphone with a simple and standard fabrication process using a MEMS(Micro Electro Mechanical Systems) process. CONSTITUTION: A diaphragm(30) is supported by an anchor part(31), and a gap(32) is formed around the diaphragm by a bulk etching process. Sound through the gap is vibrated in a space surrounded by the diaphragm and a bottom Al electrode and a space formed during etching a bottom bulk. These air vibration is transferred to the external through an external withdrawal electrode connected with a top Al electrode and the bottom Al electrode.

Description

MEMS 공정을 이용한 마이크로폰 제작방법{The Fabrication Process For Microphone Using The MEMS}The fabrication process for microphone using the MEMS

본 발명은 실리콘 웨이퍼 상에 MEMS 공정기술을 이용하여 초소형 마이크로폰(microphone)을 제작하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of fabricating a micro microphone using a MEMS process technology on a silicon wafer.

현재 사용되고 있는 마이크로폰은 주로 보청기 등의 의용기기 또는 소형화된 다기능 스마트 센서에 내장되거나 소형 정밀 기기등에 주로 사용되고 있다. 이러한 소형의 마이크로폰은, 현재까지는 기계적인 가공을 거쳐 제작되기 때문에 그 크기가 제한이 있다는 문제점이 있었다. 특히, 소형화된 각종 기기의 경우, 전자회로부는 집적화된 하나의 IC 형태로 제작되는 것이 일반적이고, 이러한 집적화를 통해 매우 작은 크기의 제품 제작이 가능하다.Currently used microphones are mainly used in medical devices such as hearing aids or miniaturized multifunctional smart sensors or small precision devices. Such compact microphones have a problem that their size is limited because they are manufactured through mechanical processing. In particular, in the case of various miniaturized devices, the electronic circuit unit is generally manufactured in the form of an integrated IC, and such integration enables production of a very small product.

반면에, 마이크로폰과 같은 기계적 가동부위가 포함되어 있는 부분은 최소한의 크기 이하로는 더 이상 축소가 어려운 물리적 한계가 있으므로 이러한 기계적 가동부가 포함되는 부분의 크기에 따라 집적도가 결정되고 최종 제품의 크기가 결정된다.On the other hand, since the part containing the mechanical moving parts such as the microphone has a physical limit that is hard to shrink any more than the minimum size, the degree of integration is determined by the size of the part including the mechanical moving part and the size of the final product is Is determined.

최근 미세 장치의 집적화를 위해 사용되는 방법으로 마이크로머시닝 (micromachining)을 이용한 반도체 가공기술이 있다. MEMS 로 불리는 이러한 기술은 기존의 플래너(planner) 기술로 대변되던 2차원의 실리콘 공정기술을 3차원의 입체구조물 가공을 가능한 영역으로 발전시키고 있다.Recently, as a method used for the integration of micro devices, there is a semiconductor processing technology using micromachining. This technology, called MEMS, is developing the two-dimensional silicon process technology, which has been represented by the planner technology, into an area capable of processing three-dimensional solid structures.

MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)란, 반도체 공정, 특히 집적회로 기술을 응용한 마이크로머시닝 기술을 이용하여 ㎛ 단위의 초소형 센서나 액추에이터 및 전기 기계적 구조물을 제작 실험하는 분야이다. 마이크로머시닝 기술에 의하여 제작된 미세 기계는 mm 이하의 크기 및 ㎛ 이하의 정밀도를 구현할 수 있다.MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) is a field for fabricating and experimenting microscopic sensors, actuators, and electromechanical structures in micrometers using micromachining technology using semiconductor processes, particularly integrated circuit technology. Micromachines manufactured by micromachining techniques can realize sizes of mm or less and precision of μm or less.

마이크로머시닝 기술의 장점은 초정밀 미세 가공을 통하여 소형화, 고성능화, 다기능화, 집적화가 가능하며, 안정성 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다는 것이다. 아울러, 일체화된 집적 시스템의 구현 가능으로 조립 필요성이 감소되며, 일괄공정으로 제작되므로 값싸게 양산이 가능하다.The advantages of micromachining technology are miniaturization, high performance, multifunctionality and integration through ultra-precision micromachining, and stability and reliability can be improved. In addition, as the integrated integrated system can be implemented, the necessity of assembly is reduced, and the mass production is possible because it is manufactured in a batch process.

MEMS에서 쓰이는 마이크로머시닝 기술은 크게 실리콘 벌크 에칭(bulk etching)에 의한 벌크 마이크로머시닝(bulk micromachining)과 실리콘 위에 다결정 실리콘, 실리콘 질화막 및 산화막, 금속막 등을 증착하고, 설계된 형상을 따라 식각하여 구조물을 제작하는 표면 마이크로머시닝(surface micromachining)으로 나눌 수 있다.The micromachining technology used in MEMS is largely bulk bulk micromachining by bulk etching silicon and deposit polycrystalline silicon, silicon nitride film, oxide film, and metal film on silicon, and etch the structure according to the designed shape. It can be divided into surface micromachining (surface micromachining) to be produced.

상기 벌크 마이크로머시닝은 알칼리 용액이 결정의 방향에 따라 실리콘 단결정 웨이퍼를 식각하여 원하는 3차원 구조물을 구현할 수 있으며, 정확한 식각 깊이와 형상 제어가 핵심이다.In the bulk micromachining, an alkaline solution may etch a silicon single crystal wafer according to a crystal direction to realize a desired three-dimensional structure, and precise etching depth and shape control are key.

상기 표면 마이크로머시닝은 실리콘 기판 위에 구조층과 희생층을 증착하고 식각하는 공정을 통해 미세 구조물을 형성한다. 즉, 희생층과 구조층을 기판 위에 형성시킨 후 희생층을 식각하여 구조층만 남게 하는 방법이다. 현재, 표면 마이크로머시닝 기술에는 실리콘 산화막을 형성하는 열산화 기술, 실리콘에 불순물을 주입하는 이온 주입 기술, 금속 박막을 형성하는 금속 공정, 질화막이나 다결정 실리콘을 형성하는 화학 기상증착 등 고집적 회로의 제작에 사용되는 첨단의 반도체 가공 기술이 응용되고 있다.The surface micromachining forms a microstructure through a process of depositing and etching a structural layer and a sacrificial layer on a silicon substrate. That is, the sacrificial layer and the structure layer is formed on the substrate and then the sacrificial layer is etched so that only the structure layer remains. At present, surface micromachining techniques include the production of highly integrated circuits such as a thermal oxidation technique for forming a silicon oxide film, an ion implantation technique for injecting impurities into silicon, a metal process for forming a metal thin film, and chemical vapor deposition for forming a nitride film or polycrystalline silicon. The advanced semiconductor processing technology used is applied.

이러한 MEMS 기술은 기계, 금속, 반도체, 자동차 등 산업 전분야에 걸쳐 점차 그 사용범위가 확장되고 있으나, 아직까지 초소형 마이크로폰을 제조하는데 이 기술을 적용하기 위한 표준적인 공정은 실용화되지 못하고 있는 실정이다.Such MEMS technology is gradually expanding its use in all fields of machinery, metals, semiconductors, automobiles, etc., but the standard process for applying this technology to manufacture micro microphones has not been put to practical use.

본 발명은 MEMS 기술을 이용하여 보다 단순하고 표준화된 제작공정으로 제작이 가능한 용량형 초소형 마이크로폰의 제조공정을 제공하는 것이다.The present invention provides a manufacturing process of a capacitive micro microphone that can be manufactured in a simpler and more standardized manufacturing process using MEMS technology.

도 1은 본 발명에 따른 마이크로폰의 제조공정 순서도;1 is a flow chart of a manufacturing process of a microphone according to the present invention;

도 2a 내지 도 2h는 본 발명에 따른 마이크로폰 제조공정 단계에 따른 단면 개략도; 및2A-2H are cross-sectional schematics of microphone manufacturing process steps in accordance with the present invention; And

도 3은 본 발명에 따른 마이크로폰 제조공정으로 얻어진 최종 마이크로폰의 형상이다.3 is a shape of a final microphone obtained by a microphone manufacturing process according to the present invention.

* 도면의 주요 부분의 간단한 설명* Brief description of the main parts of the drawing

30 : 다이아프램 31 : 앵커30: diaphragm 31: anchor

32 : 갭(gab)32: gab

본 발명에 따른 MEMS 공정을 이용한 마이크로폰 제조방법에 따르면, Si 기판상에 SiO2층 및 SOI층이 소정 두께로 적층된 웨이퍼의 상부 및 하부를 벌크에칭하여 웨이퍼 중앙부위에 소정 형태의 다이아프램을 형성하는 기계구조물 형성공정; 상기 다이아프램상에 상부 Al 전극을 형성하는 제1 진공증착공정; 강화유리상에 상기 상부 Al 전극에 대응하는 하부 Al 전극을 형성하는 제2 진공증착공정; 및 상기 상부 및 하부 Al 전극이 서로 마주보도록 상기 강화유리와 상기 기계구조물을 결합시키는 양극접합공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.According to the method of manufacturing a microphone using the MEMS process according to the present invention, a diaphragm of a predetermined shape is formed on a center portion of a wafer by bulk etching the upper and lower portions of a wafer on which a SiO 2 layer and an SOI layer are stacked on a Si substrate with a predetermined thickness. Mechanical structure forming process; A first vacuum deposition step of forming an upper Al electrode on the diaphragm; A second vacuum deposition step of forming a lower Al electrode corresponding to the upper Al electrode on the tempered glass; And an anode bonding process for bonding the tempered glass and the mechanical structure such that the upper and lower Al electrodes face each other.

이하, 첨부된 도면을 참고하여, 본 발명의 양호한 실시예를 설명하도록 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described a preferred embodiment of the present invention.

본 발명에 따른 MEMS 공정을 이용한 마이크로 폰 제작공정의 한 예는 구체적으로 다음과 같다.One example of a microphone manufacturing process using the MEMS process according to the present invention is as follows.

먼저, 도 2a와 같이 Si 기판상에 SiO2와 SOI 층이 소정 두께로 적층된 약 10㎛ 두께의 웨이퍼를 준비한다. 이렇게 준비된 웨이퍼를, 도 2b에 도시된 바와 같이 산화공정을 수행하여 상기 웨이퍼의 상하에 벌크 에칭 마스크 역할을 할 약 1㎛ 두께의 SiO2막을 형성한다. 상기 산화공정은 우수하고 두꺼운 SiO2박막을 얻기 위해 먼저 건식 산화(dry oxidation)로 0.1 내지 0.2㎛ 정도의 막을 형성한 다음, 습식 산화(wet oxidation) 공정을 수행하여 0.8 내지 1㎛ 정도의 막을 형성하고, 다시 건식 산화공정을 통해 0.1㎛ 정도의 SiO2막을 형성하는 것으로 수행되는 것이 바람직하다. 이때 얻어지는 SiO2박막은 상기 웨이퍼를 에칭하기 위한 용액인 TMAH 및 KOH 등과 반응하지 않으므로, 장시간에 걸친 벌크 에칭 공정에서도 충분한 마스크 작용을 할 수 있다.First, as shown in FIG. 2A, a wafer having a thickness of about 10 μm in which SiO 2 and SOI layers are stacked on a Si substrate to a predetermined thickness is prepared. The wafer thus prepared is subjected to an oxidation process as shown in FIG. 2B to form an SiO 2 film having a thickness of about 1 μm to serve as a bulk etching mask above and below the wafer. In order to obtain an excellent and thick SiO 2 thin film, the oxidation process is first performed by dry oxidation to form a film having a thickness of about 0.1 to 0.2 μm, followed by a wet oxidation process to form a film having a thickness of about 0.8 to 1 μm. And, it is preferably carried out by forming a SiO 2 film of about 0.1㎛ through a dry oxidation process. The SiO 2 thin film obtained at this time does not react with TMAH, KOH, or the like, which is a solution for etching the wafer, and thus may have a sufficient mask function even in a bulk etching process for a long time.

다음으로, 상기 웨이퍼 상부에 섬모양의 다이아프램(도 3의 "30"참조)을 형성하기 위해 다이아프램 주위의 SiO2를 제거하고 포토마스크를 사용하여 외부전극인출용 p+ 도우핑 영역을 확산시킨다. 이때 도 3에 도시된 바와 같이, 다이아프램을 지지할 복수개의 앵커(도 3의 "31"참조)가 형성되도록 SiO2를 제거하여 p+ 확산을 수행한다.Next, SiO 2 around the diaphragm is removed to form an island-like diaphragm (see “30” in FIG. 3) on the wafer, and the p + doping region for external electrode withdrawal is diffused using a photomask. . In this case, as shown in FIG. 3, SiO 2 is removed to form p + diffusion so that a plurality of anchors (see “31” in FIG. 3) are formed to support the diaphragm.

그리고, 에멀전 마스크(emulsion mask)를 사용하여 웨이퍼의 상부 및 하부의 에칭될 부분의 SiO2막을 제거하고(도 2c), 다음으로 TMAH을 에칭용액으로 사용하여 벌크 에칭공정을 수행하여(도 2d) 다이아프램(30)을 형성한다. 웨이퍼의 상부와 하부를 각각 별도 공정으로 벌크에칭을 하여도 무방하지만, 제작공정의 단순화를 위해서는 상부 및 하부를 동시에 에칭하는 것이 바람직하다. 에칭용액으로 TMAH 용액을 사용하는 경우, 방향에 따른 에칭속도의 차이와 Si 및 SiO2의 에칭속도 차이가 거의 1000:1 에 달하므로, 상부 두께가 하부 두께보다 작아도, 구체적으로, 도 2에 따른 실시예에서 상부 두께는 약 10-15㎛ 정도이고, 하부 두께는 약 400-500㎛ 일지라도, 먼저 에칭이 끝난 상부 에칭 부분이 하부 에칭이 끝나는 동안 오버 에칭되는 경우는 없게된다.Then, an emulsion mask was used to remove the SiO 2 films of the portions to be etched from the upper and lower portions of the wafer (FIG. 2C), and then a bulk etching process was performed using TMAH as an etching solution (FIG. 2D). The diaphragm 30 is formed. Although the upper and lower portions of the wafer may be bulk etched in separate processes, it is preferable to simultaneously etch the upper and lower portions to simplify the manufacturing process. When the TMAH solution is used as the etching solution, the difference in etching rate and the etching rate difference of Si and SiO 2 are almost 1000: 1 according to the direction, so that even if the upper thickness is smaller than the lower thickness, specifically, according to FIG. 2. In an embodiment the top thickness is about 10-15 μm and the bottom thickness is about 400-500 μm, but the first etched top etch portion is not overetched while the bottom etch finishes.

한편, 상부 벌크에칭시, 형성될 다이아프램을 지지해주는 앵커부(31)가 제거되지 않도록 한다. 상기 앵커부는 형성되는 다이아프램의 크기 및 형상에 따라 외부에서 인가되는 음파에 반응하는 부분이 되므로 각각에 따른 형상비 및 질량 구성과 면적 등에 따른 응답특성은 가변적이다. 도 2에 도시된 본 발명의 한 실시예로 형성된 다이아프램의 크기는 약 300x300㎛ 이고, 앵커부는 폭이 약 30㎛이고 길이는 약 50㎛ 이었다.On the other hand, during the upper bulk etching, the anchor portion 31 supporting the diaphragm to be formed is not removed. Since the anchor portion becomes a portion responding to sound waves applied from the outside according to the size and shape of the diaphragm to be formed, the response characteristics according to the shape ratio and mass composition and area according to each is variable. The size of the diaphragm formed in one embodiment of the present invention shown in FIG. 2 was about 300 × 300 μm, and the anchor portion was about 30 μm wide and about 50 μm long.

원하는 깊이까지 벌크 에칭이 완료되면, 마스크로 사용했던 상기 SiO2막을 에칭하여 제거한다(도 2e). 도 2e에 도시되어 있듯이, 웨이퍼 상부에 섬모양의 다이아프램이 공중에 떠있는 형상이 되며, 시야 각도상 도면상에는 앵커(31)가 도시되어 있지 않다. 다음으로, 섀도우마스크를 사용하여 도면상의 화살표 방향으로, Al을 진공증착하여 원하는 두께의 Al 상부전극을 형성한다(도 2f). Al 상부전극은 앞서 외부 전극인출용으로 형성된 p+ 도우핑 확산영역과 연결된다.Once the bulk etch to the desired depth is complete, the SiO 2 film used as a mask is etched away (FIG. 2E). As shown in FIG. 2E, an island-like diaphragm floats in the air on the wafer, and the anchor 31 is not shown in view of the viewing angle. Next, Al is vacuum-deposited in the direction of the arrow on the drawing using a shadow mask to form an Al upper electrode of a desired thickness (FIG. 2F). The Al upper electrode is connected to a p + doped diffusion region previously formed for external electrode withdrawal.

동일한 섀도우마스크를 사용하여 강화유리(pyrex glass)상에 Al 하부전극을 형성하기 위한 Al 진공증착을 수행한다(도 2e). 본 발명에 따른 제조방법에 있어서 상기 강화유리판의 크기는 상기 웨이퍼보다 약간 큰 것이 바람직하다. 상부 Al 전극형성에 사용된 것과 동일한 섀도우마스크 및 공정을 사용했기 때문에 강화 유리상에 증착되는 Al 하부전극은 상부 Al 전극과 그 크기와 두께가 동일하게 형성된다.The same shadow mask was used to perform Al vacuum deposition to form an Al bottom electrode on pyrex glass (FIG. 2E). In the manufacturing method according to the invention, the size of the tempered glass sheet is preferably slightly larger than the wafer. Since the same shadow mask and process used for forming the upper Al electrode were used, the Al lower electrode deposited on the tempered glass was formed in the same size and thickness as the upper Al electrode.

최종적으로 상기 상부 및 하부 Al 막 사이의 용량 변화를 이용하여 마이크로폰의 동작이 가능하게 되는 것이므로 이들 두 부분의 Al 진공증착은 주의 깊게 이루어져야 한다.Finally, since the operation of the microphone is enabled by using the capacity change between the upper and lower Al films, Al vacuum deposition of these two parts should be done carefully.

한편, 본 발명에 따라 제조된 마이크로폰의 구조에서는, 상부전극부분 및 하부전극부분의 인출선은 다이아프램의 바깥 부분에 형성되어야 한다. 이러한 구조를 형성하기 위해, 상부전극의 경우에는 앞서 설명한 바와 같이 앵커부분을 p+로 도우핑하여 전극인출부분으로 사용하게 되는데, 즉 공중에 떠있는 다이아프램에서 외부로 연결되는 경로가 되는 상기 앵커부가 전극 역할을 하게 되는 것이다.On the other hand, in the structure of the microphone manufactured according to the present invention, the lead line of the upper electrode portion and the lower electrode portion should be formed on the outer portion of the diaphragm. In order to form such a structure, in the case of the upper electrode, as described above, the anchor portion is doped with p + to be used as the electrode lead-out portion, that is, the anchor portion which is a path connected to the outside from the diaphragm floating in the air It will act as an electrode.

하부전극의 경우에는, 본 발명에 따른 적절한 실시예에 따르면, 앞서 언급한 바와 같이 상부구조물보다는 약간 큰 강화유리판을 사용하는데, 상기 강화유리판의 하부전극 부분에서 Al 패턴을 연결하여 외부로 전선을 인출할 수 있도록 한다.In the case of the lower electrode, according to a preferred embodiment of the present invention, as mentioned above, a tempered glass plate slightly larger than the upper structure is used, and an Al pattern is connected to the lower electrode part of the tempered glass plate to draw out the wire to the outside. Do it.

마지막으로 상부 구조물인 웨이퍼상의 다이아프램부와 하부 구조물인 강화유리 부분을 양극 접합(anodic bonding)을 사용하여 부착하여 전체 제작 공정을 마무리 한다(도 2h).Finally, the diaphragm portion on the wafer, which is the upper structure, and the tempered glass portion, which is the lower structure, are attached by using anodic bonding to finish the entire manufacturing process (FIG. 2H).

도 3에 본원에 따른 MEMS 기술을 사용한 소형 마이크로폰의 평면도 및 측단면도가 도시되어 있다. 도 3을 참고하면, 다이아프램(30)이 앵커부(31)에 지지되어 있고 다이아프램(30) 주변에 상기 벌크에칭 공정으로 형성된 갭(32)을 볼 수 있다. 상기 갭(32)을 통해 들어온 음향은 다이아프램(30)과 하부 Al 전극 및 하부 벌크에칭시 형성된 공간으로 둘러싸인 내부에서 울리게 되고, 이러한 공기 진동량은 상기 상부 및 하부 Al 전극과 연결된 외부인출전극을 통해 외부로 전달된다.3 is a plan view and a cross-sectional side view of a small microphone using MEMS technology according to the present application. Referring to FIG. 3, the gap 32 is supported by the anchor portion 31 and the bulk etching process is formed around the diaphragm 30. The sound coming through the gap 32 is ringed in the interior surrounded by the diaphragm 30, the lower Al electrode, and the space formed during lower bulk etching, and the amount of air vibration is applied to the external drawing electrode connected to the upper and lower Al electrodes. It is passed to the outside.

지금까지 MEMS 기술을 이용한 마이크로폰의 제조 공정을 양호한 실시예로 설명하였으나, 본 발명은 이것으로 제한되는 것이 아니라 오직 첨부된 특허청구범위로 제한되는 것이고, 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 상기 특허청구범위의 범위 및 정신을 벗어나지 않고 다양한 수정 및 변형을 할 수 있음을 명백한 것이다. 예를들어, 도면에서는 다이아프램 및 웨이퍼 형태가 사각형으로 도시되어 있으나, 이 형태는 원형 등과 같이 제작자의 의도에 따라 충분히 다른 형태로 제조가능하다.So far, the manufacturing process of the microphone using MEMS technology has been described as a preferred embodiment, but the present invention is not limited thereto, but only by the appended claims, and those skilled in the art have the above patents It will be apparent that various modifications and variations can be made without departing from the scope and spirit of the claims. For example, although the diaphragm and wafer shapes are shown in a quadrangular shape in the drawings, the shapes may be manufactured in sufficiently different shapes according to the intention of the manufacturer, such as a circular shape.

본 발명에 따른 마이크로폰의 제작공정에 따르면, 보다 간편하고 단순하게 MEMS 기술을 사용하여 보다 간편하고 단순하면서도 그 크기를 수십㎛ 정도로 소형화 할 수 있어서, 기존의 기계식 제품에 비해 보다 초소형의 제품생산이 가능하고, 또한, 주변회로와 함께 하나의 집적회로를 구성할 때 집적화가 가능하다는 장점이 있다.According to the manufacturing process of the microphone according to the present invention, by using MEMS technology more simply and simply, the size can be reduced to several tens of micrometers, it is possible to produce a more compact product than conventional mechanical products In addition, there is an advantage in that integration is possible when configuring an integrated circuit together with a peripheral circuit.

Claims (4)

MEMS를 이용한 초소형 마이크로폰의 제작방법에 있어서,In the method of manufacturing a micro microphone using MEMS, Si 기판상에 SiO2층 및 SOI층이 소정 두께로 적층된 웨이퍼의 상부 및 하부를 벌크에칭하여 웨이퍼 중앙부위에 소정 형태의 다이아프램을 형성하는 기계구조물 형성공정;A mechanical structure forming step of forming a diaphragm of a predetermined type on the center of the wafer by bulk etching the upper and lower portions of the wafer on which the SiO 2 layer and the SOI layer are laminated on the Si substrate to a predetermined thickness; 상기 다이아프램상에 상부 Al 전극을 형성하는 제1 진공증착공정;A first vacuum deposition step of forming an upper Al electrode on the diaphragm; 강화유리상에 상기 상부 Al 전극에 대응하는 하부 Al 전극을 형성하는 제2 진공증착공정; 및A second vacuum deposition step of forming a lower Al electrode corresponding to the upper Al electrode on the tempered glass; And 상기 상부 및 하부 Al 전극이 서로 마주보도록 상기 강화유리와 상기 기계구조물을 결합시키는 양극접합공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 MEMS를 이용한 초소형 마이크로폰의 제작방법.And an anode bonding process for bonding the tempered glass and the mechanical structure such that the upper and lower Al electrodes face each other. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기계구조물 형성공정은:The mechanical structure forming process is: 상기 웨이퍼의 상하부에 벌크 에칭 마스크인 SiO2막을 소정 두께로 성장시키는 산화공정;An oxidation process of growing a SiO 2 film, which is a bulk etching mask, on the upper and lower portions of the wafer to a predetermined thickness; 상기 웨이퍼의 상부에 상기 다이아프램의 외부전극 인출선용 p+ 도우핑 영역을 확산시키는 공정;Diffusing a p + doping region for an external electrode leader line of the diaphragm on the wafer; 상기 상부 및 하부의 SiO2막을 각각 소정범위 제거한 후 상기 웨이퍼의 SiO2층까지 벌크에칭하여 다이아프램을 형성하는 공정; 및Removing the upper and lower SiO 2 films by a predetermined range and then bulk etching the SiO 2 layer of the wafer to form a diaphragm; And 상기 벌크에칭 후 제거되지 않은 상하부 SiO2막을 제거하는 에칭공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 MEMS를 이용한 초소형 마이크로폰의 제조방법.And an etching process for removing upper and lower SiO 2 films not removed after the bulk etching. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 벌크 에칭 마스크인 SiO2막을 형성하는 산화공정은:An oxidation process for forming the SiO 2 film as the bulk etching mask is: 약 0.1∼0.2㎛ 두께의 SiO2막을 형성시키는 건식산화공정;Dry oxidation to form a SiO 2 film having a thickness of about 0.1 to 0.2 μm; 약 0.8∼1㎛ 두께의 SiO2막을 형성시키는 습식산화공정; 및A wet oxidation process for forming a SiO 2 film about 0.8-1 μm thick; And 약 0.1㎛ 두께의 SiO2막을 형성시키는 건식산화공정으로 수행되는 것을 특징으로 하는 MEMS를 이용한 초소형 마이크로폰의 제작방법.A method of manufacturing a micro microphone using MEMS, characterized in that it is carried out by a dry oxidation process to form a SiO 2 film having a thickness of about 0.1 μm. 제 1 항 내지 제 3 항중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 제1 진공증착공정 및 제2 진공증착공정은 동일한 섀도우 마스크를 사용하는 것을 특징으로 하는 MEMS를 이용한 초소형 마이크로폰의 제작방법.The first vacuum deposition process and the second vacuum deposition process is a method of manufacturing a micro microphone using a MEMS, characterized in that using the same shadow mask.
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