KR20020001973A - Apparatus for auto-controlling pressure of etching solution with vision system - Google Patents

Apparatus for auto-controlling pressure of etching solution with vision system Download PDF

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조근창
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Abstract

PURPOSE: An apparatus for automatically controlling a spray pressure of etching liquid with an image system is provided to control the rate and quantity of etching liquid sprayed to the surface of a material. CONSTITUTION: An image system takes a picture of the surface of a material(8) from which photoresist is eliminated, and acquires digitalized image data. A proportional control valve(2) is so installed in a pipe connecting an etching cell(6) with an etching liquid tank(7) that the proportional control valve controls the rate and quantity of etching liquid sprayed from an etching liquid spraying nozzle supplied to the pipe up to the surface of the material. A control unit(15) compares a width value of a line and space of the material with a previously-inputted permissible value through image data acquired by the image system to uniformly etch the material and control switch-on/off of the proportional control valve. The control unit is electrically connected to the image system and the proportional control valve, respectively.

Description

영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치 {Apparatus for auto-controlling pressure of etching solution with vision system}Apparatus for auto-controlling pressure of etching solution with vision system}

본 발명은 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 영상시스템을 이용하여 에칭액 분사노즐의 분사압력을 자동으로 조절함으로써 리드프레임이나 인쇄회로기판과 같은 반도체 조립에 필요한 자재의 균일한 에칭 정도를 유지할 수 있는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an automatic control apparatus for etching liquid injection pressure having an imaging system. More particularly, the present invention relates to a semiconductor assembly such as a lead frame or a printed circuit board by automatically adjusting the spray pressure of the etching liquid injection nozzle using the imaging system. The present invention relates to an apparatus capable of maintaining a uniform degree of etching of necessary materials.

통상적으로, 자재에 있어서 상하 또는 좌우의 편차를 유발하기 때문에 자재의 에칭 속도를 조절하는 것은 리드프레임이나 인쇄회로기판에서 라인 및 여유폭을 균일하게 하기 위하여 매우 중요하다. 에칭 속도는 노즐의 분사압력에 매우 민감하므로 분사압력을 미세하게 조절함으로써 에칭 속도를 대체로 조절할 수 있다. 자재 각 부분의 분사압력을 조절하기 위해서는 각각의 위치에서 에칭 속도를 측정해야 하는데, 현재까지는 이러한 작업을 오프라인으로 진행하여 전술된 바와 같이 많은 시간과 자재의 손실이 발생되었으며 순간적인 변화나 지속적인 변화에 적극적으로 대처할 수 없었다.In general, controlling the etching rate of the material is very important to uniform the line and the margin width in the lead frame or the printed circuit board because it causes a vertical or horizontal deviation in the material. Since the etching rate is very sensitive to the injection pressure of the nozzle, the etching rate can be generally controlled by finely controlling the injection pressure. In order to control the injection pressure of each part of the material, the etching rate must be measured at each position. Until now, this work has been performed off-line, and as described above, a lot of time and material loss have occurred, I could not cope actively.

미국특허 제5,002,627호(Scheithauer et al.)는 에칭전에 자재의 두께를 측정하고 이를 토대로 노즐의 분사압력을 제어함으로써 자재의 두께 변화에도 불구하고 일정한 패턴을 얻을 수 있는 장치를 개재하고 있다. 그러나, 이러한 장치는 자재의 에칭전 두께를 측정하는 것이기 때문에 에칭에 있어서의 다른 중요한 인자들을 간과할 가능성이 있었다.US Pat. No. 5,002,627 (Scheithauer et al.) Discloses a device that can obtain a constant pattern despite the thickness change of the material by measuring the thickness of the material prior to etching and controlling the spray pressure of the nozzle based on this. However, since such an apparatus is to measure the thickness of the material before etching, it is possible to overlook other important factors in etching.

이에 본 발명은 전술된 문제점을 극복하기 위해 창출된 것으로, 본 발명의 목적은 리드프레임 또는 인쇄회로기판과 같은 반도체 조립에 필요한 자재의 균일한 에칭 품질을 구현할 수 있는 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치를 제공함에 있다.Accordingly, the present invention has been made to overcome the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an etching liquid injection pressure having an imaging system capable of realizing uniform etching quality of materials required for assembling semiconductors such as lead frames or printed circuit boards. It is to provide an automatic control device of.

도 1은 본 발명에 의한 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치를 개략적으로 나타내는 측면도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a side view schematically showing an automatic control apparatus for etching liquid injection pressure provided with an imaging system according to the present invention.

도 2는 도 1의 평면도.2 is a plan view of FIG.

<<도면의 주요부분에 대한 설명>><< Description of main part of drawing >>

1 : 압력 계장기 2 : 비례밸브1: Pressure instrument 2: Proportional valve

3 : 펌프 4,5 : 매니폴드3: pump 4,5: manifold

6 : 에칭셀 7 : 에칭액 탱크6: etching cell 7: etching liquid tank

8 : 자재 9 : PR 제거셀8: Material 9: PR removal cell

10 : PR 제거액 탱크 11 : CCD 카메라10 PR removal liquid tank 11: CCD camera

12 : 터미널 블록 13 : 프레임 그래버12 Terminal Block 13: Frame Grabber

14 : 데이타 획득보드 15 : 컴퓨터14: data acquisition board 15: computer

이러한 본 발명의 목적은 인라인 설치된 밀폐구조를 갖는 에칭셀과 PR제거셀을 자재가 연속적으로 통과하면서 가압된 에칭액과 PR제거액에 의해 상기 자재의 표면 및 PR을 제거하는 장치에 있어서, PR이 제거된 상기 자재의 표면을 촬영하여 디지털화된 영상자료를 획득하는 영상시스템과; 상기 에칭셀과 에칭액 탱크를 연결하는 배관에 제공된 에칭액 분사노즐로부터 상기 자재의 표면에 분사되는 에칭액의 속도와 양을 조절하도록 상기 배관에 제공된 비례제어밸브와; 상기 영상시스템과 상기 비례제어밸브에 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 자재의 균일한 에칭 정도를 유지하도록 상기 영상시스템에 의해 수집된 영상자료를 통해 상기 자재의 라인 및 스페이스의 폭의 값과 기입력된 허용치와 비교하여 상기 각 비례제어밸브의 개폐정도를 조절하는 제어수단을 포함하여 구성된 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치에 의해 달성될 수 있다.The object of the present invention is to remove the surface and PR of the material by the pressurized etching solution and PR removal liquid while the material continuously passes through the etching cell and PR removal cell having an in-line sealed structure, PR is removed An imaging system for photographing the surface of the material to obtain digitized image data; A proportional control valve provided in the piping to adjust the speed and the amount of the etching liquid injected onto the surface of the material from the etching liquid injection nozzle provided in the piping connecting the etching cell and the etching liquid tank; It is electrically connected to the imaging system and the proportional control valve, and inputs the value of the width of the line and the space of the material through the image data collected by the imaging system to maintain a uniform etching degree of the material. It can be achieved by the automatic control of the etching liquid injection pressure having an imaging system comprising a control means for adjusting the opening and closing degree of each proportional control valve compared to the allowable value.

여기서, 영상시스템은 자재의 표면을 촬영하도록 에칭된 자재의 적어도 일면에 이격설치된 CCD 카메라와, CCD 카메라로부터의 촬영된 영상을 디지털화된 영상자료로 변환하는 프레임 그래버를 구비한다.Here, the imaging system includes a CCD camera spaced apart on at least one surface of the material etched to photograph the surface of the material, and a frame grabber for converting the photographed image from the CCD camera into digitized image data.

그리고, 제어수단은 프레임 그래버를 내장한 컴퓨터이다.The control means is a computer incorporating a frame grabber.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 의한 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치를 개략적으로 나타내는 측면도이고, 도 2는 도 1의 평면도이다.FIG. 1 is a side view schematically showing an apparatus for automatically controlling etching liquid injection pressure provided with an imaging system according to the present invention, and FIG. 2 is a plan view of FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 자동제어장치는 PR(Photo Resist)이 도포된 리드프레임 또는 인쇄회로기판과 같은 자재(이하 "자재"라 한다)(8)의 균일한 에칭정도를 구현하도록 자재(8)의 표면을 촬영하는 CCD 카메라(11)와 프레임 그래버(12) 그리고, DAB(Data Acquisition Board; 또는 PLC)(14)를 포함하는 영상시스템과, 영상시스템에 의해 수집된 자료를 분석하여 에칭액 탱크(7)와 에칭셀(6)의 연결부에 제공된 비례제어밸브(2)의 개폐정도를 제어하는 컴퓨터와 같은 제어수단(15)을 포함하여 구성된다.1 and 2, the automatic control device according to the present invention is a uniform etching degree of the material (hereinafter referred to as "material") 8, such as a lead frame or a printed circuit board coated with PR (Photo Resist) An imaging system including a CCD camera 11 and a frame grabber 12 and a DAB (Data Acquisition Board (PLC)) 14 for photographing the surface of the material 8 to implement the And a control means 15 such as a computer for analyzing the data and controlling the opening and closing degree of the proportional control valve 2 provided at the connection portion between the etching liquid tank 7 and the etching cell 6.

영상시스템은 릴투릴 타입의 리드프레임이나 스트립 상태의 인쇄회로기판과 같은 자재(8)의 표면에 PR이 완전히 제거된 상태의 표면을 적어도 일면 이상 촬영할 수 있도록 자재(8)의 상부면 또는 하부면에 설치된 CCD 카메라(11)와, 이 카메라(11)에 의해 촬영된 자재의 표면 영상을 디지털화된 영상자료로 변환하는 프레임 그래버(13)로 구성되어 있다. 여기서, 프레임 그래버(13)는 컴퓨터와 같은 제어수단(15)에 내장되어 있다.The imaging system is configured to capture at least one or more surfaces of the material 8, such as a reel-to-reel type lead frame or a printed circuit board in a strip state, so that at least one or more surfaces of the material 8 are completely removed. And a frame grabber 13 for converting the surface image of the material photographed by the camera 11 into digitized image data. Here, the frame grabber 13 is embedded in a control means 15 such as a computer.

본 영상시스템에서 획득되는 자재(8)의 표면 영상에는 라인과 스페이스의 폭으로, 여기서, 라인은 에칭에 의해 남아있는 부분으로 철(凸)부분이고, 스페이스는 에칭에 의해 제거된 요(凹)부분이다. 즉, CCD 카메라(11)에 의해 촬영된 영상은 프레임 그래버(13)를 통해 디지털화된 영상정보로 제어수단(15)에 전송되어 미리 입력된 허용치와 비교된다.The surface image of the material 8 obtained in the present imaging system is the width of the line and the space, where the line is the iron portion as the remaining portion by etching, and the space is the yaw removed by the etching. Part. That is, the image photographed by the CCD camera 11 is transmitted to the control means 15 as digitized image information through the frame grabber 13, and compared with the previously input allowance.

본 발명은 에칭셀(6)과 PR제거셀(9)이 인라인 설치된 실시예에 적용된 것으로, 각 에칭셀(6)과 PR제거셀(9)에 그에 대응된 에칭액 탱크(7)와 PR제거액 탱크(10)와 배관에 의해 연결되어 있으며, 각 탱크(7)(10)에 저장된 용액들은 펌프(3)에 의해 적정압으로 가압된다. 여기서, 에칭셀(6)은 2개 또는 그 이상으로 이루어지며, 각 에칭셀(6)에는 일반적으로 상하와 좌우 4개의 매니폴드(4)(5)가 설치되어 있으며, 에칭셀과 매니폴드의 갯수는 자재의 두께 및 넓이 그리고 에칭 조건에 따라 변경될 수 있다.The present invention is applied to the embodiment in which the etching cell 6 and the PR removing cell 9 are installed inline, and the etching tank 7 and the PR removing tank corresponding to each of the etching cell 6 and the PR removing cell 9 are corresponding thereto. It is connected by the pipe 10 and the solutions stored in each of the tanks 7 and 10 are pressurized to a proper pressure by the pump 3. Here, the etching cells 6 are composed of two or more, and each of the etching cells 6 is generally provided with four manifolds 4 and 5 on the upper and lower sides and the left and right sides of the etching cells 6. The number can vary depending on the thickness and width of the material and the etching conditions.

또한, 자재(8)가 에칭셀(6)을 통과한 후에는 자재 표면에 부착되어 있는 PR을 제거하고 전술된 영상시스템에 의해 표면이 촬영된다. 여기서, 도 1 및 도 2에는 에칭셀(6)과 PR제거셀(9)에 부설되는 수세 및 건조셀이 각기 생략되어 있다.In addition, after the material 8 has passed through the etching cell 6, the PR attached to the material surface is removed and the surface is photographed by the imaging system described above. 1 and 2 omit water washing and drying cells attached to the etching cell 6 and the PR removing cell 9, respectively.

에칭셀(6)과 에칭액 탱크(7)를 연결하는 배관에는 비례제어밸브(2)와 용액의 압력을 나타내고 그 압력치를 제어수단(15)에 전송하도록 압력 계장기(1)가 각기 제공되어 있다. 따라서, 전술된 바와 같이, PR이 완전히 제거되고 수세 및 건조가 완료된 자재(8)는 CCD 카메라(11)에 의해 상하좌우면, 예컨대 적어도 일면이상 라인과 스페이스의 폭이 명확하게 촬영되어 제어수단(15)에 의해 분석되고, 그 결과에 따라 가장 바람직한 에칭액의 분사압력을 결정하여 전술된 비례제어밸브(2)를 조절함으로써 원하는 자재(8)의 균일한 에칭정도를 구현하고자 구성되어 있다.In the piping connecting the etching cell 6 and the etching liquid tank 7, the pressure instrument 1 is provided to indicate the pressure of the proportional control valve 2 and the solution and to transmit the pressure value to the control means 15, respectively. . Therefore, as described above, when the PR 8 is completely removed and the water washing and drying are completed, the width of the line and the space is clearly photographed by the CCD camera 11, for example, at least one surface or more, so that the control means ( 15), and according to the result, it is configured to realize the uniform etching degree of the desired material 8 by determining the injection pressure of the most preferable etching liquid and adjusting the proportional control valve 2 described above.

자재(8)의 에칭속도는 자재(8)의 표면에 분사되는 에칭액의 분사압력(분사속도, 분사량)에 밀접한 관계가 있기 때문에 본 발명에서는 에칭이 완료된 자재(8)의 표면을 촬영하여 그를 기초로하여 실시간으로 비례제어밸브(2)를 조절함으로써 실제 자재(8)의 표면에 분사되는 에칭액의 적정 분사압력(분사속도, 분사량)을 유지하여 원하는 자재의 에칭정도를 유지하도록 하였다. 여기서, 미설명번호 12는 터미널 블록이다. 터미널 블록과 DAB는 PLC로 대체 가능하다.Since the etching rate of the material 8 is closely related to the injection pressure (injection rate, injection amount) of the etching liquid sprayed on the surface of the material 8, in the present invention, the surface of the material 8 on which the etching is completed is photographed and based on it. By adjusting the proportional control valve 2 in real time, the proper injection pressure (injection speed, injection amount) of the etching liquid sprayed on the surface of the actual material 8 was maintained to maintain the etching degree of the desired material. Here, reference numeral 12 is a terminal block. Terminal blocks and DABs can be replaced with PLCs.

여기서, 에칭을 진행하다보면 여러가지 이유로 인해 라인과 스페이스의 폭이 변화된다. 자재(8)의 두께는 향상 일정한 것이 원칙이지만, 어느 부분이 약간 두꺼우면 그 부분에서는 동일한 에칭 속도라하더라도 라인/스페이스 비율이 커지게 되고, 얇은 자재에서는 반대의 현상이 야기된다. 또한, 에칭이 진행되면서 노즐이 전해질이나 PR 찌꺼기 등에 의해 막히게 되면, 에칭액의 유량이 적어지고 에칭속도가 떨어져 라인/스페이스 비율이 감소된다.Here, as the etching proceeds, the widths of lines and spaces change for various reasons. In principle, the thickness of the material 8 is improved and constant, but if a portion is slightly thick, the line / space ratio becomes large even at the same etching rate in that portion, and in the thin material, the opposite phenomenon is caused. In addition, when the nozzle is clogged by the electrolyte, PR residues, or the like as the etching proceeds, the flow rate of the etching liquid decreases and the etching rate decreases, thereby reducing the line / space ratio.

반면에 에칭액은 일반적으로 50℃ 이상의 온도를 유지하므로 장시간 사용한 노즐은 점점 오리피스가 넓어져 유량이 증가하고 그에 따른 라인/스페이스 비율이 증가된다. 이러한 여러 가지 이유로 인해 에칭 과정중에도 라인과 스페이스의 폭은 계속해서 조금씩 변화한다. 따라서. 본 발명은 영상시스템을 통해 실시간적으로 에칭공정이 완료된 자재(8)를 측정하고 이 값을 토대로 제어수단(15)에 기입력된 허용치와 비교하여 과에칭된 경우에는 비례제어밸브(2)를 조절하여 에칭액 분사노즐로부터 분사되는 에칭액의 양을 감소시키고 이와는 반대인 경우에는 비례제어밸브(2)를 조절하여 에칭액의 분사양을 증가시킴으로써 원하는 자재의 에칭 정도를 유지할 수 있다.On the other hand, since the etching solution generally maintains a temperature of 50 ° C. or more, the nozzle used for a long time gradually widens the orifice, thereby increasing the flow rate and thus increasing the line / space ratio. For these reasons, the widths of lines and spaces continue to change little by little during the etching process. therefore. According to the present invention, a proportional control valve (2) is measured in the case of over-etching by measuring the material (8) in which the etching process is completed in real time through an imaging system and comparing it with the allowable value inputted to the control means (15) based on this value. By adjusting the amount of etching liquid injected from the etching liquid injection nozzle, and vice versa, it is possible to maintain the etching degree of the desired material by adjusting the proportional control valve 2 to increase the injection amount of the etching liquid.

이상에서 설명된 본 발명의 구조는 에칭공정이 완료된 자재의 라인과 스페이스의 폭을 영상시스템으로 실시간 측정하여 그에 대응된 비례제어밸브를 조절함으로써 실제 자재의 표면에 분사되는 에칭액의 속도와 양을 조절함으로써 균일한 에칭정도를 유지할 수 있는 효과가 있다.The structure of the present invention described above adjusts the speed and the amount of the etching solution sprayed on the surface of the actual material by measuring the width of the line and space of the material after the etching process is completed in real time by controlling the proportional control valve corresponding thereto. By doing so, there is an effect of maintaining a uniform etching degree.

Claims (3)

인라인 설치된 밀폐구조를 갖는 에칭셀과 PR제거셀을 자재가 연속적으로 통과하면서 가압된 에칭액과 PR제거액에 의해 상기 자재의 표면 및 PR을 제거하는 장치에 있어서,In the apparatus for removing the surface and PR of the material by the pressurized etchant and PR removal liquid while the material continuously passes through the etching cell and PR removal cell having an in-line sealed structure, PR이 제거된 상기 자재(8)의 표면을 촬영하여 디지털화된 영상자료를 획득하는 영상시스템과;An imaging system for photographing the surface of the material 8 from which the PR has been removed to obtain digitized image data; 상기 에칭셀(6)과 에칭액 탱크(7)를 연결하는 배관에 제공된 에칭액 분사노즐로부터 상기 자재(8)의 표면에 분사되는 에칭액의 속도와 양을 조절하도록 상기 배관에 제공된 비례제어밸브(2)와;Proportional control valve (2) provided in the pipe to adjust the speed and the amount of the etching liquid injected to the surface of the material (8) from the etching liquid injection nozzle provided in the pipe connecting the etching cell (6) and the etching liquid tank (7) Wow; 상기 영상시스템과 상기 비례제어밸브(2)에 각기 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 자재(8)의 균일한 에칭 정도를 유지하도록 상기 영상시스템에 의해 획득된 영상자료를 통해 상기 자재(8)의 라인 및 스페이스의 폭의 값과 기입력된 허용치와 비교하여 상기 각 비례제어밸브(2)의 개폐정도를 조절하는 제어수단(15)을 포함하여 구성된 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치.A line of material (8) through the image data obtained by the imaging system, each electrically connected to the imaging system and the proportional control valve (2), to maintain a uniform degree of etching of the material (8). And control means (15) for adjusting the opening / closing degree of each proportional control valve (2) by comparing the value of the width of the space with the preset allowable value. 제1항에 있어서, 상기 영상시스템은 상기 자재(8)의 표면을 촬영하도록 에칭된 상기 자재(8)의 적어도 일면에 이격설치된 CCD 카메라(11)와, 상기 CCD 카메라(11)로부터의 촬영된 영상을 디지털화된 영상자료로 변환하는 프레임 그래버(13)를 구비하는 것을 특징으로 하는 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치.2. The imaging system according to claim 1, wherein the imaging system includes a CCD camera (11) spaced apart from at least one surface of the material (8) etched to photograph the surface of the material (8) and a photographed image from the CCD camera (11). And a frame grabber (13) for converting the image into digitized image data. 제2항에 있어서, 상기 제어수단(15)은 상기 프레임 그래버(13)를 내장한 컴퓨터인 것을 특징으로 하는 영상시스템을 구비한 에칭액 분사압력의 자동제어장치.3. The apparatus of claim 2, wherein the control means (15) is a computer incorporating the frame grabber (13).
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