KR200183616Y1 - Testing apparatus for resistor and capacitor - Google Patents
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- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
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Abstract
본 고안은 전자 또는 전기회로에 사용되는 측정기기에 관한 것으로, 특히 저항기 및 커패시터의 시험용 장치에 관한 것이다.The present invention relates to measuring instruments used in electronic or electrical circuits, and more particularly to a device for testing resistors and capacitors.
저항기 및 커패시터의 시험용 장치에 있어서, 시험용 저항기 또는 커패시터가 장착된 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100); 상기 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100)의 저항치 또는 커패시턴스를 표시하는 표시부(102); 손으로 잡기위해 절연체로 된 손잡이(104); 및 상기 손잡이(104)와 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100) 및 표시부(102)를 연결하는 지지대를 구비한다.An apparatus for testing resistors and capacitors, comprising: a test resistor or test capacitor (100) equipped with a test resistor or capacitor; A display unit 102 for displaying a resistance value or capacitance of the test resistor or the test capacitor 100; A handle 104 of insulator for holding by hand; And a support connecting the handle 104 to the test resistor or test capacitor 100 and the display unit 102.
따라서, 사용자는 설계하고자 하는 회로의 소정의 위치에 어느 정도의 저항치 또는 커패시턴스를 갖는 저항기 또는 커패시터를 사용해야 하는지를 알고자 할 때, 소정의 위치에 본 고안에 따른 저항 및 커패시터의 시험용 장치를 납땜하기 않고 접촉만 하여 간단하게 선별할 수 있다.Therefore, when a user wants to know how to use a resistor or a capacitor having a certain resistance or capacitance at a predetermined position of a circuit to be designed, the user does not solder the device for testing resistance and capacitor according to the present invention at a predetermined position. It can be selected simply by contact.
Description
본 고안은 전자 또는 전기회로에 사용되는 측정기기에 관한 것으로서, 특히 저항기 및 커패시터의 시험용 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a measuring device for use in electronic or electrical circuits, and more particularly to a device for testing resistors and capacitors.
일반적으로 전자 또는 전기적 회로에는 저항기 및 커패시터가 상당수를 차지한다. 또한, 칩(chip) 저항기나 칩(chip) 커패시터를 이용해 소정의 회로를 설계할 때, 여러번의 시행착오를 겪으며 여러 가지의 저항치 및 커패시턴스의 값들을 갖는 칩 저항기 및 칩 커패시터들을 납땜하고, 교체하여 또 납땜하고 또 교체하여 소정의 얻고자 하는 값을 찾게 된다.In general, a large number of resistors and capacitors in electronic or electrical circuits. In addition, when designing a circuit using chip resistors or chip capacitors, the chip resistors and chip capacitors having various trial and error values and having various resistance values and capacitance values are soldered and replaced. It is then soldered and replaced to find the desired value.
즉, 현재 납땜된 칩 저항기 및 칩 커패시터가 원하는 값이 아닐 때, 떼어내고 다시 다른 값을 갖는 칩 저항기 및 칩 커패시터들을 여러번 반복하는 시행착오를 겪게된다.That is, when the current soldered chip resistors and chip capacitors are not the desired values, they are subjected to trial and error by removing and repeating the chip resistors and chip capacitors having different values again and again.
이러한 종래의 기술은 여러번의 시행착오로 인한 번거로움을 감수해야 하는 불편함이 있었다.This conventional technology has been inconvenient to take the hassle of a number of trial and error.
본 고안의 목적은 상술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 개선하기 위하여 안출된 것으로서, 칩 저항기 및 칩 커패시터의 각각의 값들을 갖는 샘플을 각각 만들어 두고 회로기판 상에 용이하게 붙였다가 뗄 수 있는 저항기 및 커패시터의 시험용 장치를 제공함에 있다.An object of the present invention is to solve the problems of the prior art as described above, and to make a sample having the respective values of the chip resistor and chip capacitor, respectively, and to easily attach and detach on the circuit board An apparatus for testing a capacitor is provided.
도 1은 본 고안에 따른 저항기 및 커패시터의 시험용 장치를 보이는 도면이다.1 is a view showing an apparatus for testing a resistor and a capacitor according to the present invention.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 저항기 및 커패시터의 시험용 장치는Apparatus for testing resistors and capacitors according to the present invention for achieving the object as described above
저항기 및 커패시터의 시험용 장치에 있어서, 시험용 저항기 또는 커패시터가 장착된 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터; 상기 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터의 저항치 또는 커패시턴스를 표시하는 표시부; 손으로 잡기위해 절연체로된 손잡이; 및 상기 손잡이와 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터 및 표시부를 연결하는 지지대를 구비한다.An apparatus for testing resistors and capacitors, comprising: a test resistor or test capacitor equipped with a test resistor or capacitor; A display unit displaying a resistance value or capacitance of the test resistor or test capacitor; Insulated handle for holding by hand; And a support connecting the handle to the test resistor or the test capacitor and the display unit.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.
도 1은 본 고안에 따른 저항기 및 커패시터의 시험용 장치를 보이는 도면이다.1 is a view showing an apparatus for testing a resistor and a capacitor according to the present invention.
도 1에 도시된 장치는 시험용 저항기 또는 캐패시터가 장착된 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100), 저항치 또는 커패시턴스를 표시하는 표시부(102), 절연체로 된 손잡이(104), 손잡이(104)와 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100)를 연결하는 지지대(106)로 구성된다.The device shown in FIG. 1 includes a test resistor or test capacitor 100 equipped with a test resistor or capacitor, a display portion 102 indicating a resistance value or capacitance, a handle 104 made of an insulator, a handle 104 and a test resistor or It consists of a support (106) connecting the test capacitor (100).
이어서, 도 1을 참조하여 본 고안을 설명하면 다음과 같다.Next, the present invention will be described with reference to FIG. 1.
시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100)는 날카로운 핀과 동일하게 뾰족한 부분이 돌출되어 있다. 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터는 일예로서 100 오옴짜리 저항기라 하면, 표시부(102)에 100 오옴이라고 표시된다. 또한 10 마이크로 패럿짜리 커패시터라면, 표시부(102)에 10 마이크로 패럿으로 표시된다. 이때 손잡이(104)는 절연체로 되어 시험용 저항기 또는 시험용 커패시터(100)의 용량에 아무런 영향을 주지 못한다.The test resistor or test capacitor 100 protrudes from the same pointed point as the sharp pin. For example, if the test resistor or the test capacitor is a 100-ohm resistor, the display unit 102 displays 100 ohms. In addition, in the case of a 10 microfarad capacitor, 10 microfarads are displayed on the display unit 102. At this time, the handle 104 becomes an insulator and does not affect the capacity of the test resistor or the test capacitor 100.
상술한 바와 같은 본 고안에 따른 저항기 및 커패시터의 시험용 장치에 의하면, 사용자는 설계하고자 하는 회로의 소정의 위치에 어느 정도의 저항치 또는 커패시턴스를 갖는 저항기 또는 커패시터를 사용해야 하는지를 알고자 할 때 소정 위치에 본 고안에 따른 저항기 및 커패시터의 시험용 장치를 납땜하지 않고 접촉만 하여 간단하게 선별할 수 있다.According to the apparatus for testing resistors and capacitors according to the present invention as described above, the user can see a predetermined position when a resistor or a capacitor having a resistance value or capacitance should be used at a predetermined position of a circuit to be designed. The test device for resistors and capacitors according to the invention can be selected simply by contact without soldering.
Claims (1)
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR2019960022136U KR200183616Y1 (en) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | Testing apparatus for resistor and capacitor |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| KR2019960022136U KR200183616Y1 (en) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | Testing apparatus for resistor and capacitor |
Publications (2)
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| KR980009262U KR980009262U (en) | 1998-04-30 |
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Family
ID=19462387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019960022136U KR200183616Y1 (en) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | Testing apparatus for resistor and capacitor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200183616Y1 (en) |
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1996
- 1996-07-25 KR KR2019960022136U patent/KR200183616Y1/en not_active IP Right Cessation
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| KR980009262U (en) | 1998-04-30 |
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