KR200158887Y1 - Jig for probe card manufacture - Google Patents

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권호택
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Abstract

본 고안은 기판 두께별로 전용 지그를 제조하여 프로브 카드(PROBE CARD)제조 시간을 절감하고,트리밍(TRIMMING)시의 생산성을 향상시킬수 있도록 하는 프로브 카드 제조용 지그에 관한 것으로,지그(10)의 중심부분에 기판(20)을 위치시키고,상기 기판(20)의 주위에 프로브 카드(30)를 고정시키며,상기 프로브 카드(30)위에 납땜으로 프로브 핀(40)을 고정시켜 상기 프로브 핀(40)이 기판(30)표면에 접촉되게 하므로 프로브 핀(40)이 기판(20)위의 저항값을 측정하도록 한 것이다.The present invention relates to a jig for manufacturing a probe card to reduce the production time of the probe card (PROBE CARD) by manufacturing a dedicated jig for each substrate thickness, and to improve the productivity during trimming, the central part of the jig 10 Positioning the substrate 20 on, fixing the probe card 30 around the substrate 20, and fixing the probe pin 40 by soldering on the probe card 30, the probe pin 40 is Since the contact with the surface of the substrate 30, the probe pin 40 is to measure the resistance value on the substrate 20.

Description

프로브 카드 제조용 지그Jig for Probe Card Manufacturing

본 고안은 기판 두께별로 전용 지그를 제조하여 프로브 카드(PROBE CARD)제조 시간을 절감하고,트리밍(TRIMMING)시의 생산성을 향상시킬수 있도록 하는 프로브 카드 제조용 지그에 관한 것이다.The present invention relates to a jig for manufacturing a probe card that can reduce the production time of the probe card (PROBE CARD) by manufacturing a dedicated jig for each substrate thickness, and improve the productivity during trimming.

종래에는,도 1에 도시된 바와같이,프로브 카드(1)에 납땜으로 프로브 핀(2)을 고정하고,이 프로브 핀(2)을 프로브 카드(1)의 중심 부분에 위치시킨 상태에서,지그(4)를 사용하여 기판(3)을 상하,좌우로 조정하는 수단에 의해 적정한 높이를 유지시켜 사용하였다.Conventionally, as shown in Fig. 1, the probe pin 2 is fixed to the probe card 1 by soldering, and in the state where the probe pin 2 is positioned at the center portion of the probe card 1, the jig Using (4), the board | substrate 3 was hold | maintained and used by the means which adjusted up, down, left, and right.

그러나,종래에는,프로브 카드(1)를,예를들어,100회 제조시,마모가 발생되어 정확한 위치(높이)설정이 불가능하므로 오동작이 발생하는 문제가 있었다.However, in the past, when the probe card 1 was manufactured 100 times, for example, wear occurred and a correct position (height) could not be set, there was a problem of malfunction.

또한,좌우의 높이가 일정하지 않기 때문에 접촉면의 오차가 발생하는 문제가 있었으며,프로브 핀(2)의 마모로 장기간 사용할수 없는 문제도 있을뿐만 아니라 트리밍시 접촉이 원활하게 이루어지지 않아 에러가 발생되는 문제도 있었다.In addition, there is a problem that the contact surface error occurs because the height of the left and right is not constant, and there is a problem that can not be used for a long time due to the wear of the probe pin (2) and the error occurs because the contact is not made smoothly during trimming There was a problem.

본 고안은 이와같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로,레이저 트리머에 프로브 카드를 고정시켜 프로브 핀이 기판위의 저항값을 측정하도록 하는 프로브 카드 제조용 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an object of the present invention is to provide a jig for manufacturing a probe card to fix the probe card to the laser trimmer to measure the resistance value on the probe pin.

이와같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은 지그의 중심 부분에 기판을 위치시키고,상기 기판의 주위에 프로브 카드를 고정시키며,상기 프로브 카드위에 납땜으로 프로브 핀을 고정시켜 상기 프로브 핀이 기판의 표면에 접촉되도록 구성함을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is to position the substrate in the center portion of the jig, to fix the probe card around the substrate, and to fix the probe pin by soldering on the probe card to the probe pin on the surface of the substrate And configured to be in contact.

도 1a 및 도 1b는 종래의 지그를 설명하기 위한 도면.1A and 1B are views for explaining a conventional jig.

도 2는 본 고안의 프로브 카드 제조용 지그의 구성을 나타낸 단면도.Figure 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the jig for producing a probe card of the present invention.

도 3은 본 고안의 프로브 카드의 평면도.3 is a plan view of the probe card of the present invention.

〈 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 〉<Description of reference numerals for the main parts of the drawings>

10:지그 20:기판10: jig 20: substrate

30:프로브 카드 40:프로브 핀30: Probe card 40: Probe pin

도 2는 본 고안의 프로브 카드 제조용 지그의 구성을 단면으로 나타낸 것으로,지그(10)의 중심 부분에 기판(20)을 위치시키고,상기 기판(20)의 주위에 프로브 카드(30)를 고정시키며,상기 프로브 카드(30)위에 납땜으로 프로브 핀(40)을 고정시켜 상기 프로브 핀(40)이 기판(30)의 표면에 접촉되도록 구성한 것으로, 도면중 미설명 부호 50은 프로브 카드를 고정시키기 위한 고정틀이다.2 is a cross-sectional view showing the configuration of a jig for manufacturing a probe card according to the present invention. The substrate 20 is positioned at a central portion of the jig 10, and the probe card 30 is fixed around the substrate 20. , The probe pin 40 is fixed to the probe card 30 by soldering on the probe card 30, and the probe pin 40 is configured to be in contact with the surface of the substrate 30. It is a fixed frame.

도 3은 상기 프로브 카드(30)의 평면으로 도시한 것이다.3 is a plan view of the probe card 30.

이와같이 구성된 본 고안은 기판(20)의 두께 및 사이즈별로 지그(10)의 깊이와 넓이를 각각 다르게 제조한다.The present invention configured as described above manufactures the depth and the width of the jig 10 differently according to the thickness and size of the substrate 20.

즉,기판(20)이 두꺼울때에는,지그(10)도 두껍게 제조하고,반대로 기판이 얇을 때에는 지그(10)를 얇게 제조한다.That is, when the substrate 20 is thick, the jig 10 is also made thick, while when the substrate is thin, the jig 10 is made thin.

또한,기판(20)이 클때에는,지그(10)도 크게 제조하고,기판(20)이 작을때에는 지그(10)도 작게 제조한다.In addition, when the substrate 20 is large, the jig 10 is also made large, and when the substrate 20 is small, the jig 10 is also made small.

다시 말해서,본 고안에서는 기판 두께별로 전용 지그를 제조한다.In other words, in the present invention, a dedicated jig is manufactured for each substrate thickness.

이렇게,지그(10)에 기판(20)을 위치시키면,프로브 카드(30)상면에 고정된 프로브 핀(40)이 기판(20)에 접촉된다.As such, when the substrate 20 is positioned on the jig 10, the probe pin 40 fixed to the upper surface of the probe card 30 contacts the substrate 20.

따라서,레이저 트리머에 프로브 카드(30)가 고정되어 있어 프로브 핀(40)이 기판(20)위의 저항값을 측정하게 되며,프로브 핀(40)의 정확한 위치 설정이 가능하여 정확한 포인트를 설정할수 있다.Therefore, the probe card 30 is fixed to the laser trimmer, so that the probe pin 40 measures the resistance value on the substrate 20, and the precise position of the probe pin 40 can be set to set an accurate point. have.

또한,제품의 트리밍시,모든 프로브 핀(40)이 일정한 압력이므로 에러를 완전히 제거할수 있게 된다.In addition, when trimming the product, since all the probe pins 40 are constant pressure, the error can be completely eliminated.

본 고안의 프로브 카드 제조용 지그에 의하면,제품의 트리밍시 프로브 핀(40)이 일정한 압력이어서 에러가 발생하지 않으므로 생산성을 향상시킬수 있고,정확한 포인트 설정이 가능하며,프로브 핀(40)을 기존의 3회에서 본 고안의 경우에는 100회 이상 사용 가능하다.According to the jig for manufacturing a probe card of the present invention, since the probe pin 40 is a constant pressure when trimming the product, an error does not occur and thus productivity can be improved, and an accurate point setting can be performed. In the case of the present invention can be used more than 100 times.

또한,프로브 카드(30)의 제조 시간을 절감할수 있는 유익한 효과를 갖는다.In addition, it has a beneficial effect that can reduce the manufacturing time of the probe card (30).

Claims (2)

지그(10)의 중심 부분에 기판(20)을 위치시키고,상기 기판(20)의 주위에 프로브 카드(30)를 고정시키며,상기 프로브 카드(30)위에 납땜으로 프로브 핀(40)을 고정시켜 상기 프로브 핀(40)이 기판(20)의 표면에 접촉되도록 구성한 것을 특징으로 하는 프로브 카드 제조용 지그.Positioning the substrate 20 in the central portion of the jig 10, fixing the probe card 30 around the substrate 20, and fixing the probe pin 40 by soldering on the probe card 30 Jig for producing a probe card, characterized in that the probe pin 40 is configured to contact the surface of the substrate (20). 제 1항에 있어서, 상기 지그(10)가 기판(20)의 두께및 사이즈에 따라 깊이와 넓이가 다르게 형성됨을 특징으로 하는 프로브 카드 제조용 지그.The jig for manufacturing a probe card according to claim 1, wherein the jig (10) is formed in a different depth and width depending on the thickness and size of the substrate (20).
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