KR200143217Y1

KR200143217Y1 - Circuit function inspection apparatus with oscilloscope function

Info

Publication number: KR200143217Y1
Application number: KR2019960060818U
Authority: KR
Inventors: 장희석
Original assignee: 전주범; 대우전자주식회사
Priority date: 1996-12-28
Filing date: 1996-12-28
Publication date: 1999-06-01
Also published as: KR19980047661U

Abstract

본 고안은 설정된 테스프포인트외에 작업자가 원하는 포인트에서의 신호파형을 검사할 수 있는 오실로스코프기능을 구비한 회로기능검사장치에 관한 것으로, 본 고안에 의한 회로기능검사장치는 작업자가 회로기판의 임의 포인트에 접촉시키는 프로브가 접속되는 외부채널단자와, 작업자의 온/오프스위칭조작에 따라 외부채널 단자 또는 수동지그에 연결되는 입력단자를 선택하도록 하는 온/오프스위치와, 상기 온/오프스위치 또는 상기 PC에 구비된 DIO 장치로부터의 제어신호에 따라서 릴레이의 스위칭동작을 제어하는 스위칭제어부와, 상기 스위칭제어부의 제어에 의하여 온/오프스위칭동작하여 먹스의 선택단자로 선택제어신호를 인가하는 릴레이와, 상기 외부채널단자와 수동지그에 두 입력단이 각각 연결되어 상기 릴레이의 스우칭에 따라 인가되는 선택신호에 따라서 외부채널단자에 연결된 입력단 또는 수동지그에 연결된 입력단 중 하나를 상기 PC의 A/D변환장치에 연결되는 출력단에 연결하는 먹스로 이루어진 제어박스를 구비한다.The present invention relates to a circuit function test apparatus having an oscilloscope function that can inspect a signal waveform at a point desired by an operator in addition to a set test point. The circuit function test apparatus according to the present invention provides an operator a random point on a circuit board. An on / off switch for selecting an external channel terminal to which a probe to be brought into contact with the probe is connected, an input terminal connected to an external channel terminal or a manual jig according to an operator's on / off switching operation, and the on / off switch or the PC A switching controller for controlling a switching operation of the relay according to a control signal from a DIO device provided in the apparatus, a relay for applying a selection control signal to a select terminal of a mux by performing an on / off switching operation under the control of the switching controller; Two input terminals are connected to the external channel terminal and the manual jig, respectively. Therefore, a selection signal and a control box made of a MUX for connecting one of the input terminals connected to an input or manual jig attached to the outer channel to an output terminal coupled to the A / D conversion device of the PC.

Description

Circuit function tester with oscilloscope function

본 고안은 회로기능검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 회로기판의 설정된 테스프포인트외에 작업자가 원하는 임의 포인트에서 신호파형을 검사할 수 있는 오실로스코프기능을 구비한 회로기능검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit function test apparatus, and more particularly, to a circuit function test apparatus having an oscilloscope function capable of inspecting a signal waveform at an arbitrary point desired by an operator in addition to a set test point of a circuit board.

일반적으로, 회로기능검사장치는 비디오 및 오디오신호를 처리하는 회로기판을 생산하는 공정 중 부품장착후 이면검사가 완료된 회로기판의 출력되는 신호를 검사하여 조정하는 공정에 사용되는 장치이며, 상기 피검사 회로기판은 비디오테이프레코더(VTR), 비디오카메라 및 텔레비젼(TV) 등에 포함하는 음성 및 영상을 처리하는 기판으로써, 이 회로기판으로 기준신호를 입력하여 입력된 신호가 처리된 후 출력되는 신호를 검사함으로써, 비디오신호가 깨끗하지 못한 경우나 비디오신호가 찌그러지는 경우 등의 원인진단과 원인제거대책을 마련할 수 있게 된다.In general, a circuit function inspection device is a device used in a process of inspecting and adjusting an output signal of a circuit board having a backside inspection completed after mounting a component during a process of producing a circuit board for processing video and audio signals. A circuit board is a board that processes audio and video signals included in a video tape recorder (VTR), a video camera, and a television (TV). The circuit board inputs a reference signal to the circuit board and inspects a signal output after the input signal is processed. By doing so, it is possible to provide cause diagnosis and countermeasures for the case where the video signal is not clean or the video signal is distorted.

예를들면 회로기판의 설정된 테스트포인트로부터 복합영상신호인 비디오신호, 휘도신호, 크로마신호, 오디오신호 등 다수의 신호가 출력되는데, 상기 출력되는 다수의 신호중에서 검사할 신호를 선택하고, 이 신호를 검사하여 규격치가 되도록 해당 조정볼륨을 조정하게 되는 것이다.For example, a plurality of signals, such as a video signal, a luminance signal, a chroma signal, and an audio signal, are output from a set test point of a circuit board, and a signal to be inspected is selected from the plurality of output signals. Check and adjust the adjustment volume to be the standard value.

제1도에 종래의 회로기능검사장치의 개략적인 구성을 보였으며, 그 동작을 살펴보면 다음과 같다.Figure 1 shows a schematic configuration of a conventional circuit function test apparatus, the operation of which is as follows.

수동지그(15)는 피검사 회로기판(도시생략)에 동작전원과 기준테스트신호를 인가한후, 상기 신호인가에 따른 회로기판으로부터의 출력신호를 씨알티(16)에 인가하여 씨알티(16)의 화면상에 테스트패턴이 나타나도록 하고, 설정된 테스트포인트에서의 검출신호를 제어박스(14)로 인가한다.The passive jig 15 applies an operating power source and a reference test signal to the circuit board under test (not shown), and then applies an output signal from the circuit board according to the application of the signal to the center board 16 so that the terminal board can be connected to the center board 16. The test pattern is displayed on the screen, and the detection signal at the set test point is applied to the control box 14.

이에 제어박스(14)는 DIO장치(117)로부터 인가되는 제어신호에 따라 상기 수동지그(15)로부터 입력된 검출신호를 증폭처리하여 A/D변환장치(15)로 인가한다. 상기 A/D 변환장치는 비디오트리거장치(116)의 트리거신호에 따라 동작하여 제어박스914)로부터 입력되는 검출신호를 디지탈신호로 변환하고, 제어장치(111)는 상기 A/D변환장치(115)로부터 출력되는 디지탈검출신호를 체크하여 그 주파수를 계측하고 양불여부를 판단한다. 또한 그래픽장치(114)를 제어하여 모니터(13)상에 상기 검출신호의 파형이 나타나도록 한다.Accordingly, the control box 14 amplifies the detection signal input from the manual jig 15 according to the control signal applied from the DIO device 117 and applies it to the A / D conversion device 15. The A / D conversion device operates according to the trigger signal of the video trigger device 116 to convert the detection signal input from the control box 914 into a digital signal, and the control device 111 is the A / D conversion device 115. Check the digital detection signal output from), measure its frequency, and determine whether it is ok or not. In addition, the graphics device 114 is controlled to display the waveform of the detection signal on the monitor 13.

그런데, 이와같이 구성된 종래의 회로기능검사장치는 수동지그의 픽스쳐에 의하여 결정되는 설정된 테스트포인트에서만 신호를 검출할 수 있기 때문에, 예를들어 회로기판의 고장수리나 조정시에 상기 설정된 테스트포인터외의 임의포인트에서 신호를 검출하여 파형을 분석하고자 할 때 별도의 오실로스코프를 구비하여야 하는 문제점이 있었으며, 그로인하여 별도의 오실로스코프가 필요해 짐에 따라 비용이 증가하고 또한 고장수리나 조정시간이 연장되고 작업자에게 일률적인 검사 및 조정작업이 이루어지지 않은 작업효율이 떨어지는 문제점이 있었다.However, since the conventional circuit function inspection apparatus configured as described above can detect the signal only at the set test point determined by the fixture of the manual jig, for example, any point other than the test pointer set above when the circuit board is repaired or adjusted. There was a problem that a separate oscilloscope should be provided when detecting a signal and analyzing a waveform. Therefore, as a separate oscilloscope is needed, the cost increases and the troubleshooting or adjustment time is extended and the inspection is uniform to the operator. And there was a problem that the work efficiency is not falling adjustment work.

본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점들을 해결하고자 안출된 것으로써, 그 목적은 픽스쳐에 의하여 결정되는 설정된 테스트포인트외에서도 신호를 검출하여 파형을 분석할 수 있는 오실로스코프기능을 구비한 회로기능검사장치를 제공하는 데 있는 것이다.The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and its object is to provide a circuit function inspection apparatus having an oscilloscope function capable of analyzing a waveform by detecting a signal in addition to a set test point determined by a fixture. It is to provide.

제1도는 종래의 회로기능검사시스템의 간략한 구성을 보이는 블록도이다.1 is a block diagram showing a simplified configuration of a conventional circuit function inspection system.

제2도는 본 고안에 의한 회로기능검사시스템의 제어박스의 내부구성을 보이는 블록도이다.2 is a block diagram showing the internal configuration of the control box of the circuit function inspection system according to the present invention.

제3도는 본 고안에 의한 제어박스의 외관을 보이는 사시도이다.3 is a perspective view showing the appearance of a control box according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

20 : 제어박스(control box) 21 : 수동지그20: control box 21: manual jig

201 : 스위칭제어부 202, 203 : 릴레이 1, 2201: Switching control unit 202, 203: Relay 1, 2

204, 205 : 먹스 1, 2(multiplexer) P1, P2 : 프로브204, 205: mux 1, 2 (multiplexer) P1, P2: probe

상기와 같은 본 고안의 목적을 이루기 위한 기술적인 수단으로써, 본 고안은 회로기판의 설정된 테스트포인트에서 신호를 검출하여 제어박스로 인가하는 수동지그와 입력되는 검출신호를 PC의 A/D변환장치로 인가하는 제어박스와 상기 제어박스로로부터 인가된 검출신호를 디지탈신호로 변환하여 양불검사를 하고 이 신호를 그래픽 처리하여 모니터로 인가하는 PC와 상기 검출신호의 파형이 디스플레이되는 모니터로 이루어지는 회로기능검사장치에 있어서, 상기 제어박스가 작업자가 회로기판의 임의 포인트에 접촉시키는 프로브가 접속되는 외부채널단자와, 작업자의 온/오프스위칭조작에 따라 외부채널단자 또는 수동지그에 연결되는 입력단자를 선택하도록 하는 온/오프스위치와, 상기 온/오프스위치 또는 상기 PC에 구비된 DIO장치로부터의 제어신호에 따라서 릴레이의 스위칭동작을 제어하는 스위칭제어부와, 상기 스위칭제어부의 제어에 의하여 온/오프스위칭동작하여 먹스의 선택단자로 선택제어신호를 인가하는 릴레이와, 상기 외부채널단자와 수동지그에 두 입력단이 각각 연결되어 상기 릴레이의 스위칭에 따라 인가되는 선택신호에 따라서 외부채널단자에 연결된 입력단 또는 수동지그에 연결된 입력단중 하나를 상기 PC의 A/D변환장치에 연결되는 출력단에 연결하는 먹스를 구비함에 의한다.As a technical means for achieving the object of the present invention as described above, the present invention detects the signal at the set test point of the circuit board and applies a manual jig and input detection signal to the A / D conversion device of the PC Circuit function test consisting of a control box to be applied, a detection signal applied from the control box to a digital signal, a good test and a graphic processing of the signal, and a monitor to display the waveform of the detection signal. In the apparatus, the control box is configured to select an external channel terminal to which a probe that a worker contacts an arbitrary point on a circuit board is connected, and an input terminal connected to an external channel terminal or a manual jig according to the operator's on / off switching operation. On / off switch, and control from the on / off switch or DIO device provided in the PC A switching control unit for controlling the switching operation of the relay according to the call; a relay for applying a selection control signal to the select terminal of the mux by performing on / off switching operation under the control of the switching control unit; Each input terminal is connected to a mux for connecting one of an input terminal connected to an external channel terminal or an input terminal connected to a manual jig to an output terminal connected to the A / D converter of the PC according to a selection signal applied according to the switching of the relay. By

이하 첨부단 도면을 참조하여 본 고안의 구성 및 작용을 상세하게 설명하겠다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the configuration and operation of the present invention.

제2도는 본 고안에 의한 회로기능검사장치에 구비되는 제어박스의 내부구성을 보이는 블록도로써, 작업자가 조작하여 제어박스(20)의 신호선택을 명령할 수 있는 온/오프스위치(200)와, 상기 온/오프스위치(200)의 스위칭상태 및 PC에 구비되는 DIO장치(도시생략)로부터의 제어명령에 따라서 두 릴레이1,2(202), (203)의 스위칭동작을 제어하는 스위칭제어부(201)와, 상기 스위칭제어부(201)로부터의 제어에 따라서 스위칭동작하여 각각 먹스1,2(204),(205)에 선택제어신호를 인가하는 릴레이1,2(202),(203)와, 입력단이 프로브1,2(P1, P2)에 접속되는 외부 채널단자(CH1, CH2)와 수동지그(도시생략)의 채널1,2출력단에 각각 연결되어 상기 릴레이1,2(202),(203)로부터의 선택제어신호에 따라서 외부채널신호 또는 수동지그의 채널신호를 선택하여 A/D변환장치(도시생략)로 출력하는 멀티플레서1,2(이하, 먹스1,2라한다)(204),(205)를 구비한다.2 is a block diagram showing the internal configuration of the control box provided in the circuit function inspection apparatus according to the present invention, the on / off switch 200 that can be operated by the operator to command the signal selection of the control box 20 and Switching control unit for controlling the switching operation of the two relays 1, 2 (202), (203) according to the switching state of the on / off switch 200 and a control command from the DIO device (not shown) included in the PC ( 201 and relays 1, 2 (202), (203) for applying a selection control signal to the mux 1, 2 (204), (205) by switching operation according to the control from the switching controller (201); The input terminals are connected to the external channel terminals CH1 and CH2 connected to the probes 1 and 2 (P1 and P2) and the channel 1 and 2 output terminals of the manual jig (not shown), respectively. The external channel signal or the manual jig channel signal is selected and output to the A / D converter (not shown) according to the selection control signal from And a tea player standing 1,2 (hereinafter referred to as MUX 1, 2) 204, 205.

제3도는 상기 제2도에 보인 제어박스의 외부 구조를 보이는 사시도로써, 수동지그(21)와 케이블로 연결되는 제어박스(20)에 프로브1,2(P1,P2)에 각각 접속되는 외부채널단자(CH1, CH2)는 BNC 컨넥터(connector)로 구성하고, 작업자가 온조작함으로써 외부 채널단자 (CH1,CH2)를 선택하는 온/오프스위치가(SW1)가 장착된다.3 is a perspective view showing the external structure of the control box shown in FIG. 2, the external channels connected to the probes 1, 2 (P1, P2), respectively, to the control box 20 connected by a cable to the manual jig 21; The terminals CH1 and CH2 are constituted by BNC connectors, and the on / off switch SW1 for selecting the external channel terminals CH1 and CH2 is mounted by the operator on-operation.

상기에서 채널수는 한정되지 않으며 본 발명의 응용 및 변경에 따라 더 많아질 수 있다.The number of channels in the above is not limited and may be increased according to the application and modification of the present invention.

상술한 구성에 따른 본 발명의 동작을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.The operation of the present invention according to the above-described configuration will be described with reference to the accompanying drawings.

제2도에서, 스위칭제어부(201)는 PC이 DIO장치(도시생략)로부터의 제어신호 또는 온/오프스위치(200)의 스위칭신호에 따라서 상기 릴레이1,2(202),(203)의 스위칭동작을 제어하게 되며, 상기 릴레이1,2(202),(203)의 스위칭동작에 따라 먹스1,2(204),(205)의 선택단자로 논리0 또는 논리 1이 인가된다.In FIG. 2, the switching controller 201 allows the PC to switch the relays 1, 2 202 and 203 according to a control signal from a DIO device (not shown) or a switching signal of the on / off switch 200. The operation is controlled, and logic 0 or logic 1 is applied to the selection terminals of the mux 1, 2 204, and 205 according to the switching operation of the relays 1, 2 202, and 203.

이에 먹스1,2(204),(205)는 상기 선택단자로 입력되는 논리 0 또는 논리 1에 따라서 각각 두 입력단자(A와B),(A'와 B')중 하나(A,A' 또는 B,B')를 선택한다.The mux 1, 2 (204), and 205 are one of two input terminals (A and B) and (A 'and B'), respectively, according to logic 0 or logic 1 input to the selection terminal. Or B, B ').

예를들어, 온/오프스위치(200)가 오프상태이거나 DIO장치로부터 수동지그선택신호가 입력되면, 스위칭제어부(201)는 릴레이1,2(202),(203)가 오프스위칭되도록 제어한다. 이에 상기 릴레이1,2(202),(203)는 오프스위칭되어 각각 먹스1,2(204),(205)의 선택단자 논리 0신호(예를들어, 로우레벨신호)를 인가한다.For example, when the on / off switch 200 is off or a manual jig selection signal is input from the DIO device, the switching controller 201 controls the relays 1, 2 202, and 203 to be off-switched. Accordingly, the relays 1, 2 202, and 203 are off-switched to apply select terminal logic 0 signals (eg, low level signals) of the mux 1, 2 204, and 205, respectively.

그리하여, 먹스1,2(204),(205)는 수동지그와 연결된 입력단(B와 B')을 출력단(0, 0')에 연결한다. 이에 수동지그로부터 입력되는 검출신호(CH1, CH2)가 A/D변환장치(도시생략)의 채널 1,2보드로 입력된다.Thus, the mux 1, 2 (204), 205 connects the input terminals (B and B ') connected to the passive jig to the output terminals (0, 0'). Accordingly, the detection signals CH1 and CH2 input from the passive jig are input to the channels 1,2 boards of the A / D converter (not shown).

여기에서 채널1신호는 채널2신호는 검출신호로써, 채널1신호는 디지탈변환되며 채널2신호는 채널1신호의 디지탈변한시 트리거하기 위하여 사용된다. 따라서, 채널수는 한정된 것이 아니다.Here, the channel 1 signal is a channel 2 signal as a detection signal, the channel 1 signal is digitally converted, and the channel 2 signal is used to trigger on the digital change of the channel 1 signal. Therefore, the number of channels is not limited.

반대로, 온/오프스우치(200)가 온상태이거나 DIO장치로부터 외부채널단자를 선택하라는 제어신호가 인가되면, 스위칭제어부(201)는 릴레이1,2(202),(203)가 온스위칭되도록 제어하고, 이에 릴레이1,2(204),(205)는 온스위칭되어 각각 먹스1,2(204)(205)의 선택단자에 논리 1신호(예를들어, 하이레벨신호)를 인가한다.On the contrary, when the on / off switch 200 is turned on or a control signal is applied to select an external channel terminal from the DIO device, the switching controller 201 causes the relays 1, 2 202, and 203 to be ounce-shifted. The relays 1, 2 204 and 205 are ounce-positioned to apply a logic 1 signal (e.g., a high level signal) to the selection terminals of the mux 1, 2 204 and 205, respectively.

이에, 먹스1,2(204),(205)는 프로브1,2(제3도의 P1,P2)가 접속된 외부채널단자에 연결되는 입력단(즉, A와 A')를 출력단(0,0')에 연결한다.Accordingly, the mux 1, 2 204, 205 outputs an input terminal (i.e., A and A ') connected to an external channel terminal to which probes 1 and 2 (P1 and P2 in FIG. 3) are connected. ').

그리하여, 프로브(P1,P2)가 접촉된 회로기판상의 임의 포인트로부터 검출된 신호가 먹스1,2(204,205)를 통해 A/D변화장치(도시생략)의 채널1,2보드로 인가된다.Thus, a signal detected from any point on the circuit board to which the probes P1 and P2 are in contact is applied to the channel 1 and 2 boards of the A / D changer (not shown) via the mux 1 and 2 204 and 205.

제2도 및 제3도에서, 외부 채널단자(CH1,CH2)는 프로브1,2(P1,P2)에 접촉된고, 상기 프로브1,2(P1,P2)는 고장수리시 또는 조정시에 작업자가 우너하는 회로기판상의 임의 포인트에 접촉시키게 되는 것이다.2 and 3, the external channel terminals CH1 and CH2 are in contact with the probes 1 and 2 (P1 and P2), and the probes 1 and 2 (P1 and P2) are used for troubleshooting or adjustment. The operator will come into contact with any point on the circuit board that is struck.

그러므로, 본 고안에 의한 회로기능검사시스템은 피검사 회로기판의 기능을 검사하는 경우에는 제어박스(20)가 수동지그에 의하여 설정된 테스트포인트로부터 검출된 신호를 PC의 A/D변환장치에 인가하여 일반적인 기능검사를 수행하고, 상기 검사에서 문제가 발생한 경우, 즉 회로기판의 고장수리나 조정을 하고자 하는 경우에는 제어박스(20)의 외부채널단자(CH1,CH2)에 각각 프로브1,2(P1,P2)를 연결하고, 상기 프로브1,2(P1,P2)를 회로기판상의 원하는 포인트(예를들어 수리나 조정을 요구하는 부품)에 접촉시키고, 상기 제어박스(20)에 구비되는 온/오프스위치(SW1)를 온시킴으로써,상기 프로브1,2(P1,P2)에 의하여 검출된 신호가 제어박스(20)를 통해 PC의 A/D변환장치로 입력되도록 한다.Therefore, the circuit function inspection system according to the present invention applies the signal detected from the test point set by the manual jig to the A / D conversion device of the PC when the function of the circuit board under test is checked. When a general functional test is performed and a problem occurs in the test, that is, when the circuit board is to be repaired or adjusted, the probes 1 and 2 (P1) are connected to the external channel terminals CH1 and CH2 of the control box 20, respectively. , P2) and the probes 1 and 2 (P1 and P2) are brought into contact with a desired point (for example, a part requiring repair or adjustment) on a circuit board, and the ON / OFF provided in the control box 20 By turning off the switch SW1, the signals detected by the probes 1 and 2 (P1 and P2) are input to the A / D converter of the PC through the control box 20.

그리고, 상기와 같이, PC의 A/D변환장치로 입력된 프로브1,2(P1,P2)에 의하여 임의로 검출된 신호 또는 수동지그를 통해 입력되는 설정된 검출신호는 A/D변환장치에 의하여디지탈신호로 변환되고, 제어장치에 의해서 양호/불량여부가 검사됨과 동시에 제어장치에 의하여 그래픽장치를 통해 모니터상에 그 검출된 신호의 파형이 디스플레이된다.As described above, a signal arbitrarily detected by the probes 1 and 2 (P1 and P2) input to the A / D converter of the PC or the set detection signal input through the manual jig is digital by the A / D converter. The signal is converted into a signal, the good / fail is checked by the control device, and the waveform of the detected signal is displayed on the monitor through the graphic device by the control device.

따라서, 본 고안에 의한 회로기능검사장치는 회로기판의 임의포인트로부터 신호를 검출하여 분석할 수 있게 됨으로써, 고장수리시나 조정시에 별도의 오실로스코프를 구비할 필요가 없게 된다.Accordingly, the circuit function inspection apparatus according to the present invention can detect and analyze a signal from an arbitrary point of a circuit board, thereby eliminating the need for a separate oscilloscope at the time of troubleshooting or adjustment.

이와같이, 본 고안에 의한 회로기능검사장치는 처음에 설정된 테스트포인트로부터 처리신호를 검출하여 일반적인 회로기판의 기능을 검사할 수 있을 뿐만 아니라 검사된 회로기판에 문제가 발생하는 등에 의하여, 고장수리나 조정이 요구되는 경우, 설정되지 않는 테스트포인트와의 회로기판을 임의 포인트로부터 신호를 검출하여 검사할 수 있는 효과가 있으며, 그리하여, 고장수리나 조정시에 별도의 오실로스코프가 필요치 않게 되는 우수한 효과가 있는 것이다.As described above, the circuit function inspection apparatus according to the present invention not only detects the processing signal from the initially set test point, but also checks the function of the general circuit board, and also repairs or adjusts the fault by causing a problem in the inspected circuit board. If this is required, there is an effect that a circuit board with a test point that is not set can be detected by inspecting a signal from an arbitrary point, so that an extra oscilloscope is not required for troubleshooting or adjustment. .

Claims

A digital signal is used to detect a signal at a set test point of a circuit board and to apply a control signal to the control box and a control box to apply an input detection signal to an A / D conversion device of a PC and a detection signal applied from the control box as a digital signal. A circuit function inspection apparatus comprising a PC which converts and conducts a defect test, performs a graphic processing of the signal, and applies the monitor to a monitor, and a monitor on which a waveform of the detected signal is displayed, wherein the control box causes the operator to contact an arbitrary point on the circuit board. An on / off switch for selecting an external channel terminal to which a probe is connected, an input terminal connected to an external channel terminal or a manual jig according to an on / off switching operation of an operator, and an on / off switch or a PC A switching controller for controlling a switching operation of the relay in accordance with a control signal from the DIO device; A relay for applying a selection control signal to a selection terminal of an on / off switching driver type mux under the control of a fisherman, and two input terminals are connected to the external channel terminal and a manual jig, respectively, to a selection signal applied according to switching of the relay. Therefore, a horo function tester having an oscilloscope function comprising a mux for connecting one of an input terminal connected to an external channel terminal or an input terminal connected to a manual jig to an output terminal connected to the A / D converter of the PC. .