KR20010113769A - 평면형 광 도파로 디바이스 및 제작 방법 - Google Patents

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마이클 바치렌코
마크 시츠
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앤더슨 데릭 제이.
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Abstract

광신호를 처리하기 위한 디바이스로서, 상기 디바이스는 상기 광신호가 전파하는 평면형 실리카에 기초한 도파로 구조와 함께 모놀리식으로 집적된 처리 엘리먼트를 포함한다.

Description

평면형 광 도파로 디바이스 및 제작 방법 {OPTICAL PLANAR WAVEGUIDE DEVICE AND METHOD OF FABRICATION}
광회로의 활용은 고 대역폭 통신신호의 전송에서 점차 중요해지고 있다. 또한, 고속 스위칭, 파장 선택 및 필터링은 모든 광학 조밀 파장 분할 다중화(DWDM) 네트워크의 필수적인 구성요소가 되고 있다. 그러한 디바이스는 제조하기에 매우 복잡하며 비용이 많이 든다.
DWDM 시스템의 핵심에서 매우 중요한 또 다른 광 디바이스는 멀티 파장 트랜스미터이다. 멀티 파장 트랜스미터로 이용 가능한 것은 낮은 처프(chirp)와 더 큰 파장 안정성 및 제어를 제공하는 외부 공동(cavity) 실리카에 기초한 레이저 모듈에 근거한 것이다. 불행히도, 그러한 디바이스는 종종 최소 변조 능력을 갖는다. 고러한 모듈에서 광신호 변조 기능의 바람직한 포함은 그들의 성능을 강화시키며 제조 비용 효용성을 증가시킨다.
반도체에서 공지된 캐리어 주사/흡수 효과는 스위칭/변조가 나노초 (nanoseconds)이하의 요구된 시간 스케일로 수행되도록 허용한다. 반도체 기능을통합하는 현존하는 디바이스는 통상적으로 높은 성장온도를 수반하는 에피택시얼하게 성장되거나, 또는 단결정질 반도체 기판에서 제조된다. 높은 변조/스위칭 성능을 갖는 반면에, 그러한 디바이스는 제조하는데 비교적 비싸며, 반도체 도파로 재료의 활용 때문에 높은 삽입 손실을 받으며, 누화(cross talk)를 받으며, 파장 채널의 수가 제한된다.
최근, 스위칭을 수행하는 집적 반도체 광 증폭기(SOA) 게이트가 신호 루팅(routing)과 섬유 상호접속을 위해 사용되는 실리카에 기초한 도파로를 지닌 플랫폼 상에 집적되는 혼합 해결책이 제안되었다. 이러한 해결책은 다양한 실리카에 기초한 도파로를 지닌 반도체에서 빠른 스위칭을 갖는 이점을 겸비하고는 있지만, SOA 게이트는 단독 칩상에 제조될 필요가 있으며, 그리고 나서 모듈 내에 조립되고 배치 및 와이어 본딩이 필요하기 때문에, 대량 제조가능성과 비용의 견지에서는 여전히 이상적이지 못하다.
본 발명은 광 신호 처리를 위한 평면형 광 도파로 디바이스 및 그 제작에 관련된다.
도 1은 본 발명의 원리에 따라 제조된 디바이스를 도시한다.
도 2는 마흐-첸더(Mach-Zehnder) 배치로 도 1의 디바이스를 통합하는 공정을 도시한다.
본 발명은 광 신호 처리를 위한 디바이스를 제공하며, 상기 디바이스는 광 신호가 전파되는 평면형 실리카에 기초한 도파로 구조와 함께 모놀리식으로 집적된 처리 엘리먼트를 포함한다.
실제로, 처리 엘리먼트는 처리 엘리먼트의 굴절률이 광 신호의 변조를 이루기 위하여 변경 가능하도록 배치될 수 있다.
실제로, 처리 엘리먼트는 도파로 구조의 부분 내에 광 신호의 적어도 하나의 광 모드를 위한 효과적인 굴절률이 처리 엘리먼트의 부분의 굴절률에 의존하도록배치될 수 있다.
실제로, 처리 엘리먼트는 광 신호상의 광 신호 처리를 수행하기 위하여 배치될 수 있다.
처리 엘리먼트는 반도체 컴포넌트를 포함한다. 반도체 컴포넌트는 실리콘을 포함할 수 있다. 반도체 컴포넌트는 수소화 비결정질 실리콘을 포함한다. 이와는 달리, 반도체 컴포넌트는 다결정질 실리콘을 포함한다.
이와는 달리, 처리 엘리먼트는 광 신호를 변조하기 위한 전자-광학 재료를 포함한다. 재료는 높은 X2를 갖는다. 한 실시예에서, 재료는 바륨 티탄산염을 포함한다.
처리 엘리먼트와 도파로 구조사이의 광 모드 전송과 관련된 광 신호 손실이 감소되도록 처리 엘리먼트와 도파로 구조의 기하학적 모양과 공간적 관계가 선택될 수 있다.
실제로, 처리 엘리먼트는 광 신호의 적어도 일부를 대응하는 전기적 신호로 변환하도록 배치될 수 있다. 처리 엘리먼트는 반도체 컴포넌트를 포함한다. 반도체 컴포넌트는 광 신호의 파장에서 감광도를 나타내기 위하여 선택된 밴드갭을 갖는다. 반도체 컴포넌트는 수소화 실리콘 및 수소화 게르마늄을 포함한다.
도파로 구조 및 처리 엘리먼트는 처리 엘리먼트를 위한 전기 회로를 포함하는 기판상에 모놀리식으로 집적된다. 기판은 실리콘 웨이퍼를 포함한다.
본 발명은 평면형 실리카에 기초한 도파로 구조와 함께 처리 엘리먼트를 모놀리식으로 집적하는 방법을 제공하는 것으로 달리 정의될 수 있다.
본 방법은 실리카에 기초한 도파로 구조를 형성하기 위하여 공동 캐소드(hollow cathode) 플라즈마 강화 화학 증착(PECVD)을 활용하는 단계를 포함한다.
실리카에 기초한 도파로 구조의 적어도 일부는 처리 엘리먼트를 형성한 수에 형성될 수 있다.
본 방법은 반도체 처리 엘리먼트를 형성하기 위하여 비결정질 실리콘의 고체상태 결정화의 단계를 포함한다.
본 방법은 반도체 처리 엘리먼트의 형성을 위하여 수소화 비결정질 실리콘을 적층하기 위해 PECVD를 활용하는 단계를 포함한다.
본 방법은 처리 엘리먼트를 모놀리식으로 집적하는 단계의 부분으로서 도파로 구조의 클래딩 층의 일부를 제거하는 단계를 포함한다.
본 발명의 범주 내에 있는 다른 형태가 있더라도, 이제 본 발명의 바람직한 형태가 이하의 도면을 참조로 상술될 것이다.
바람직한 실시예에서, 실리카에 기초한 도파로와 반도체 캐리어 주사/흡수 엘리먼트는 모놀리식으로 집적된다. 배치(batch) 처리 기술이 제조 공정내내 활용될 수 있기 때문에, 대안적인 혼합 집적과 비교하여 상당한 비용 절감을 가져온다.
이제 도 1에 대하여 설명하면, 기판(2)상에 형성된 예시적인 디바이스(1)의 횡단면이 도시되며, 본 실시예에서 박막 비결정질 실리콘, 다결정질 실리콘 또는 실리콘/게르마늄 p-i-n 구조를 포함하는 반도체 컴포넌트(7)를 활용한다. 광신호를 전기 신호로 변환하기 위하여 도파로(4)내의 광신호의 대량 및 신속한 위상/진폭 변조가 자유 캐리어 주사/흡수 메커니즘을 통하거나 또는 실리콘-게르마늄 구조의 경우에 성취될 수 있도록 실리카에 기초한 채널 도파로 구조(40)내에 통합된다.
비결정질 실리콘 구조의 활용을 통하여, 동작 속도는 증가될 수 있는데, 그 이유는 비결정질 재료내의 캐리어 수명 시간이 본질적으로 작기 때문이다. 또한, 변화 가능한 입자 크기를 갖는 다결정질 실리콘의 사용은 동작 전류를 감소시키기 위한 반도체 질(즉, 결함 밀도와 재결합 비율)과 고속 변조를 성취하기 위한 캐리어 수명 시간사이의 존속 가능한 타협점을 찾기 위한 추가적인 장치를 제공한다. 일반적으로 입자 크기가 증가하게 되면, 다결정질 실리콘의 특성은 결정질 실리콘의 특성이나 그와 반대의 특성에 가까워진다. 전체적으로, 반도체 재료의 변조속도는 실리카에 기초한 디바이스의 고 기능성과 성능과 결합하기 때문에, 이는 DWDM 변조된 소스의 제조를 위한 매우 뛰어난 기술을 허용한다.
본 발명의 한 실시예에서, 실리카에 기초한 도파로속에 비결정질 반도체의 통합은 저온 실리카 적층 기술의 사용을 통하여 성취될 수 있다는 것이 인식되었다. 고온은 재료의 반도체 특성과 p-i-n 캐리어 주사 구조를 파괴한다. 확인된 적당한 적층 기술중 한 형태는 CM. Horwitz, S. Boronkay, R. Gross와 K.E. Davies의 PCT/AU/96/00563호인 "감광 도파로의 제작을 위한 방법 및 장치"에 개시되어 있으며, 저온 공동 캐소드-플라즈마 강화 화학 증착(HS-PECVD) 공정을 개시하는 J. Vac. Sci technology AG의 페이지 1837내지 1884(1998년)까지의 "공동 캐소드 에칭 및 증착"이다.
반도체 컴포넌트는 이하의 예시적인 방법에 의해 비결정질 실리콘 내에 p-i-n 구조로서 형성될 수 있으며, 상기 예시적인 방법은 S. Guba, X. Xu, J. Yang 과 A. Banerjee의 "고 증착비율 비결정질 실리콘에 기초한 다중접합 솔라 셀"(Appl. Phys. Lett. 66(5), pp 595-597, 1995)이다.
도 1에서 제조된 디바이스가 도시되며, 반도체 컴포넌트(7)와 상호작용하는 실리카에 기초한 채널 도파로 구조(40)의 코어(4)내에서 빛이 전파하며, 반도체 컴포넌트는 코어(4) 내부에 통합되거나 코어에 충분히 근접하게 위치함으로써, 도파로의 기본적인 광학 모드의 효율적인 굴절률이 실리카층(3, 4, 5)의 굴절률과 반도체 컴포넌트(7)의 굴절률에 의해 결정된다.
반도체의 굴절률이 전기 신호를 전극(8, 9)에 인가함으로써 캐리어 주사에 의해 변화될 때, 반도체 근처의 실리카에 기초한 도파로내에서 전파하는 기본적인 모드의 효율적인 굴절률도 변화된다. 이는 예를 들면, 마흐-첸더 구성에서 유도된 위상 변이를 사용함으로써 매우 빠른(반도체내에서 소수 캐리어 수명시간의 시간 스케일 상에서) 변조 또는 스위칭을 위해 활용될 수 있다.
도 2는 시스템 내에서 2개의 암 마흐-첸더중 하나의 암의 코어(42)상에 반도체 층(47)이 형성되는 예시적인 마흐-첸더 배치를 도시한다. 반도체(47)를 사용함으로써, 암(42)의 일부의 굴절률은 출력 암(11, 13)사이의 강도 변조를 가져오는 위상 변이를 생성하도록 암(10)에 관하여 변조된다.
더욱이, 기초 모드의 효율적인 굴절률내의 변화를 활용하기 위한 다른 응용예가 착수될 수 있다. 예를 들면, 굴절률내의 변화는 모드 굴절률 변화가 반도체 층의 존재에 의해 유도되는 실리카에 기초한 도파로의 영역 내에 형성된 브래그 회절격자의 피크 스펙트럼 위치를 변화시키기 위하여 활용될 수 있다. 피크 스펙트럼 위치의 변이는 신호의 큰 변조나 상이한 파장 사이의 선택을 제공할 수 있다.
그러나, 다른 응용예에서, 다중모드 간섭(MMI) 디바이스 또는 도파로 배열 회절격자(WAG)의 다중모드 영역내의 반도체에 의해 유도된 굴절률 변화는 상이한 출력 포트 사이의 신속한 파장 스위칭을 위해 사용될 수 있다.
굴절률내의 신속한 변화를 제공하는 반도체내의 캐리어 주사 효과에 덧붙여, 자유 캐리어 흡수 효과는 광 신호 변조 또는 감쇠를 위해 사용될 수도 있다. 이러한 경우에, 구동 전기 신호는 반도체 상호작용 영역의 출력에서 빛의 강도(캐리어 주사내의 위상이 아님)를 결정한다.
그러한 디바이스의 실제적인 구현에서, 채널 도파로의 순수 실리카와 실리카/반도체 영역사이의 단열적인 변화의 문제는 이러한 변화와 관련된 손실을 최소화하기 위하여 바람직하게 조절된다.
실제로, 변조(캐리어 주사 또는 흡수)의 가장 적당한 형태는 예를 들면, 초 고진공(Ultra-High-Vacuum) PECVD 장치로 생산된 비결정질 실리콘 재료를 위하여 실험적으로 결정되어야 한다. 만약 적절한 가열 싱크가 제공되지 않고/또는 동작전류가 낮게 유지되지 않는다면, 캐리어 흡수와 반대되는 캐리어 주사는 더 작은 전력 요구를 갖지만 동시에, (반대방향으로 굴절률을 유도하는) 동시적인 열-광 효과에 의해 오프-세트될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에서, 반도체 컴포넌트는 광 신호를 전기 신호로 변화하여 검출기 기능을 수행하도록 사용될 수 있다. 그러한 목적을 위하여, 반도체 컴포넌트는 광 신호 파장에서 흡수를 나타내도록 설계되고 제작된다.
(반도체 정션 밴드 갭에 의해 결정된) 필수적인 흡수는 반도체 재료의 합성을 변화시킴으로써 만들어질 수 있다. 예를 들면, 순수 비결정질 실리콘에 기초한 p-i-n 구조는 1.5 미크론 통신 파장에서 흡수가 거의 없지만, Ge과 함께 도핑을 하면 밴드 갭을 감소시킬 수 있으며, 적외선내의 필수적인 감광도를 제공할 수 있다.
그러한 집적된 광검출기의 실제적인 구현에서, 크기와 후방 반사와 같은 문제가 다루어져야 한다. 크기는 검출기 용량을 결정할 수 있으며, 차례로 최대 성취가능한 대역폭을 결정한다. 높은 광 전환 효율은 반도체 컴포넌트 크기를 최소화하는 것이 (그럼으로써 대역폭을 증가시킴) 요구될 것이다. 후방 반사의 효과는 유전체(예를 들면, 질화 실리콘)반사 방지 코팅을 사용하거나 또는 반도체 컴포넌트가 형성되는 도파로 말단면을 비스듬히 함으로써 최소화될 수 있다.
검출기 응용을 위한 반도체 컴포넌트는 예를 들면, IEEE Transactions on Electron Devices, 40(4), pp 721-726, 1993에 개시된 Hwang SB, Fang YK, Chen KH, Liu CR, Hwang JD, Chou MH 의 "고이득 IR 광학 검출기를 위한 a-Sic:H 배리어 강화층을 갖는 a-SiH/a-Si, Ge:H 벌크 배리어 광트랜지스터"에 의해 제조될 수 있다.
모듈레이터로서 반도체 컴포넌트의 사용에 기초한 집적된 트랜스미터 모듈을 결합하면, 반도체 컴포넌트의 추가적인 검출기 기능은 중요한 상승적인 효과를 제공할 수 있다. 이는 광학 근거리 통신망을 위한 저가의 트랜시버 제조를 가능하게 한다.
다른 바람직한 실시예에서, 실리콘 기판은 디바이스 구조를 위해 사용되며, 검출기용 모듈레이터나 증폭기 회로를 위한 구동 회로는 집적된 실리카에 기초한 반도체 컴포넌트의 제조 전에 실리콘 기판내에서 제작된다. 이는 배치(batch) IC 기술에 의해 대량 제작된 각각의 단일 칩의 기능성의 증가를 통하여 추가적인 비용 절감을 허용한다. 또한, 실리카에 기초한 평면형 도파로 컴포넌트의 제작을 위한 저온 기술은 본 발명의 실시예의 구현을 허용한다는 것이 인식되었다.
다른 실시예에서, 처리 엘리먼트는 실리카에 기초한 도파로내에서 전파하는 광 신호를 변조하기 위한 전자-광 재료를 포함한다. 재료는 높은 X2(예를 들면, 바륨 티탄산염)를 갖는다.
당해분야의 통상의 지식을 갖는 자는 본 발명의 정신과 범주를 벗어나지 않으면서 많은 변화 및/또는 개조가 행해질 수 있다는 것을 알 수 있을 것이다. 그러므로, 본 실시예는 예시적이며 제한되지 않는 모든 면이 고려될 것이다.
예를 들면, 다른 적층 기술이 졸-겔 적층기술을 포함하는 실리카에 기초한 도파로를 위해 사용될 수 있다.

Claims (24)

  1. 광신호를 전파하는 평면형 실리카에 기초한 도파로와 함께 모놀리식으로 집적된 처리 엘리먼트를 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트의 일부 굴절률이 광신호의 변조를 달성하기 위하여 변경 가능한 방식으로 상기 처리 엘리먼트가 배치되는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    도파로 구조의 부분 내에서 광신호의 적어도 하나의 광학 모드를 위한 효율적인 굴절률이 처리 엘리먼트의 일부의 굴절률에 의존하는 방식으로 상기 처리 엘리먼트가 배치되는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  4. 제 1항 내지 제 3항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트는 상기 광신호상의 광신호 처리를 수행하기 위해 배치되는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  5. 제 1항 내지 제 4항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트는 광신호를 변조하기 위한 전자-광 재료를 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 전자-광 재료는 높은 X2를 갖는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 재료는 바륨 티탄산염을 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  8. 제 1항 내지 제 7항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트는 반도체 컴포넌트를 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 반도체 컴포넌트는 실리콘을 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 반도체 컴포넌트는 수소화 비결정질 실리콘을 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  11. 제 9항에 있어서,
    상기 반도체 컴포넌트는 다결정질 실리콘을 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  12. 제 8항에 있어서,
    다결정질 실리콘의 입자 크기는 제어 캐리어 수명시간을 조절함으로써 성취가능한 변조 주파수를 제어하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  13. 제 1항 내지 제 12항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트와 도파로 구조 사이의 광학 모드 전송과 관련된 광신호 손실이 감소되도록 상기 처리 엘리먼트와 상기 도파로 구조의 기하학적 모양 및 공간적인 관계가 선택되는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  14. 제 1항에 있어서,
    광신호의 적어도 일부를 대응하는 전기적 신호로 변환시키기 위하여 상기 처리 엘리먼트가 배치되는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  15. 제 14항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트는 반도체 컴포넌트를 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  16. 제 15항에 있어서,
    상기 반도체 컴포넌트는 상기 광신호의 파장에서 흡수를 나타내도록 선택된 밴드갭을 갖는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  17. 제 15항 또는 제 16항에 있어서,
    상기 반도체 컴포넌트는 수소화 실리콘과 수소화 게르마늄을 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  18. 제 1항 내지 제 17항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 도파로 구조와 상기 처리 엘리먼트는 상기 처리 엘리먼트를 위한 전기 회로를 포함하는 기판상에 모놀리식으로 집적되는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  19. 제 18항에 있어서,
    상기 기판은 실리콘 웨이퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 처리를 위한 디바이스.
  20. 실리카에 기초한 도파로 구조를 형성하기 위해 공동(hollow) 캐소드 플라즈마 강화 화학 증착(PECVD)을 활용하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평면형 실리카에 기초한 도파로 구조를 갖는 처리 엘리먼트를 모놀리식으로 집적하는 방법.
  21. 제 20항에 있어서,
    상기 실리카에 기초한 도파로 구조의 적어도 일부는 상기 처리 엘리먼트를 형성한 후에 형성되는 것을 특징으로 하는 방법.
  22. 상기 반도체 처리 엘리먼트을 형성하기 위하여 비결정질 실리콘의 고체 상태 결정화의 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  23. 상기 반도체 처리 엘리먼트의 형성을 위한 수소화 비결정질 실리콘을 적층하기 위하여 PECVD를 활용하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  24. 제 20항 내지 제 23항중 어느 한 항에 있어서,
    상기 처리 엘리먼트를 모놀리식으로 집적하는 단계의 일부로서 상기 도파로 구조의 클래딩 층의 일부를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
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