KR20010016828A

KR20010016828A - 티디엑스 시험대 정합장치

Info

Publication number: KR20010016828A
Application number: KR1019990031995A
Authority: KR
Inventors: 이덕남
Original assignee: 이덕남
Priority date: 1999-08-04
Filing date: 1999-08-04
Publication date: 2001-03-05
Also published as: KR100670240B1

Abstract

본 발명은 전화국에서 사용되는 TDX 전전자 교환기에 가입되어 있는 선로들을 동시에 여러대의 시험대에서 하나의 채널을 이용하여 시험할 수 있도록 전전자 교환기의 시험채널과 시험대를 연결하는 정합장치에 관한 것으로, 특히, 전전자 교환기로부터 가입된 선로들의 시험을 위해 인출된 하나의 시험채널을 이용하여 다수의 시험대를 동시에 운용하고, 일반 회선과 ISDN 회선을 동시에 시험할 수 있도록 하는 TDX 시험대 정합장치에 관한 것이다.

Description

티디엑스 시험대 정합장치{TDX Test Line Interface}

본 발명은 TDX(Time Division Exchange, 이하 TDX) 전전자 교환기에 가입되어 있는 선로들을 실험하기 위한 시험대와 상기 전전자 교환기를 연결하기 위한 정합장치에 관한 것으로, 특히, 전전자 교환기로부터 선로 시험을 하기 위해 인출된 하나의 시험 채널을 다수의 시험대에 연결하여 동시에 전전자 교환기에 가입되어 있는 다수의 선로를 시험할 수 있도록 전전자 교환기에서 인출된 시험 채널과 다수의 시험대를 연결하는 TDX 시험대 정합장치에 관한 것이다.

현재 국내에서 운용중인 교환기는 크게 3가지로서 전전자 교환기, 반전자 교환기, 국산 TDX 교환기로 구분할 수 있으며, 그에 따른 부속장비로서 이러한 장치의 유지보수를 위한 선로 시험대는 설치되어 있는 교환기의 종류에 따라서 사용되어 지고 있다.

본 발명에서는 전전자 교환기인 TDX 교환기에 가입되어 있는 가입자 선로를 시험하기 위한 시험대에 사용되는 정합장치에 관한 것이다.

일반적으로 시험대는 전화국의 각종 교환기에 가입되어 있는 가입자의 고장신고의 접수 및 가입자 선로, 전화기의 이상유무를 시험하기 위한 장치이다.

상기 TDX 교환기에 시험대를 연결하기 위해서는 전전자 교환기로부터 인출된 TEC(Test Equipment Control, 이하 TEC) 라인을 시험대에 연결하고 전전자 교환기의 CPU로부터 하나의 채널을 인출하여 단말기에 연결함으로써 시험대에서 각종 시험을 실시한 결과가 단말기의 모니터 상에 또는 단말기에 연결되어 있는 프린터를 통해 시험결과를 출력하였다.

상기 시험대는 교환기로부터 인출된 하나의 TEC 라인을 통하여 가입되어 있는 모든 선로를 시험할 수 있었다.

그러나 상술한 시험대는 하나의 TEC 라인에 하나의 시험대만이 연결되어 있고, 또한 CPU로부터 인출된 하나의 채널이 단말기에 연결되어 있으므로 한번에 한개의 가입선로만을 시험할 수 있었으며, 단말기에도 역시 시험한 선로에 대한 정보만이 표시되었다. 즉, 고장신고 접수가 동시에 다수가 발생할 경우 이상이 있는 가입선로들을 동시에 시험하여 즉각적인 조처를 하는데 문제점이 있었다.

따라서 본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 전전자 교환기와 시험대를 연결하는 TEC 라인과 채널에 동시에 여러대의 시험대를 연결할 수 있는 정합장치를 설치하여 동시에 여러 가입자선로를 시험하고 그 결과를 확인할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 다수의 가입자가 가입되어 있는 교환기와, 상기 교환기에 가입되어 있는 가입자선로를 시험하기 위한 시험대를 연결하는 정합장치에 있어서, 교환기에서 인출된 하나의 포트에 연결되어 다수의 포트로 분리하는 TDX 인터페이스 보드(Interface Bord, 이하 TIB)와, 상기 TDX 인터페이스 보드에서 연결되며 키 데이터(key data)를 분석하고 TDX 교환기로 가입자 번호를 송출하며 TDX 교환기의 데이터를 분석처리하여 포착한 결과 데이터를 단말기로 송출하는 다수의 메인 콘트롤 보드(Main Control Bord, 이하 MCB)와, 상기 각각의 메인콘트롤보드와 다수의 시험대를 일대일로 연결하며 키-패드 데이터(key-pad data)와 DTMF(Dual Tone Multi Frequency, 이하, DTMF) 톤 데이터를 수집하고 가입자 회선 연결 상태를 표시하며 시험대의 사용중을 표시하여 주는 다수의 KIB(Key-Pad Interface Bord, 이하 KIB)를 포함하는 TDX 시험대 정합장치를 특징으로 한다.

도1는 본 발명에 따른 TDX 시험대 정합장치의 구성을 나타낸 블럭도.

도2은 본 발명에 따른 TDX 시험대 정합장치에 사용되는 MCB 보드의 구성을 나타낸 나타낸 블럭도.

도3는 본 발명에 따른 TDX 시험대 정합장치에 사용되는 KIB 카드의 구성을 나타낸 블럭도.

도4는 본 발명에 다른 TDX 시험대 정합장치에 사용되는 TIB의 구성을 나타낸 블럭도.

〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉

1 : 정합장치 2 : TDX 인터페이스 보드

3 : 메인 콘트롤 보드 4 : 키-패드 인터페이스 보드

5 : 시험대 6 : 전 인터페이스 로직

7,12, 18 : 콘트롤 로직 8 : 후 인터페이스 로직

9 : 리셋 스위치 10 : CPU

11 : 메모리 13 : SIO

14,19 : 인터페이스 로직 15 : 키-패드 데이터 처리부

16 : DTMF 톤 처리부 17 : 상태표시부

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.

도1은 본 발명에 따른 TDX 정합장치의 구성을 나타낸 것으로서, 상기 정합장치(1)는 TDX 교환기의 하나의 포트와 연결되는 TIB(2)와, 상기 TIB(2)에 연결되며 시험대(5)의 키 데이터를 분석하고 TDX 교환기로 가입자 번호를 송출하며 TDX 교환기의 데이터를 분석 처리하고 시험대(5)에서 포착된 결과 데이터를 단말기로 송출하는 다수의 MCB(3)와, 상기 각각의 MCB(3)에 연결되며 키-패드 데이터와 DTMF 톤 데이터를 수집하고 가입자 회선 연결상태를 표시하며 시험대의 사용중임을 표시하는 다수의 KIB(4)로 구성되어 있다. 즉 본 발명의 정합장치(1)는 TIB(2)와, 다수의 MCB(3) 그리고 다수의 KIB(4)로 구성되며, 이에 따라 하나의 정합장치(1)에 의해 교환대에 다수의 시험대(5)를 연결하여 동시에 여러 선로를 시험할 수 있다.

또한, 상기 TIB(2)는 도2에 도시된 바와 같이 구성되는데, 상기 TIB(2)는 MCB(3)와 TDX 교환기를 연결하는 기능 즉, 교환기로부터 인출된 하나의 포트를 다수의 시험대와 연결하기 위해 다수의 MCB(3)에 연결하게 된다. 따라서 상기 TIB(2)는 다수의 MCB(3)와 일대일로 연결하기 위한 다수의 전 인터페이스 로직(6)과, 상기 다수의 전 인터페이스 로직(6)의 데이터를 취합하여 전송하는 콘트롤 로직(7)과, 상기 콘트롤 로직(7)에서 전송되어 취합된 데이터를 TDX 교환기로 전송하는 후 인터페이스 로직(8)으로 구성된다. 상기 전 인터페이스 로직(6)은 후술하는 MCB(3)에 SIO 유니트(13)에서 전송받은 데이터 신호를 판별하여 콘트롤 로직(7)으로 전송하고, 상기 콘트롤 로직(7)으로부터 전송받은 데이터 신호를 판별하여 후술하는 MCB(3)의 SIO 유니트(13)로 데이터를 전송한다. 또한, 상기 콘트롤 로직(7)은 상기 전후 인터페이스 로직(6,8)으로부터 전송받은 데이터 신호를 판별하여 후전 인터페이스 로직(8,6)으로 전송한다. 또한, 상기 후 인터페이스 로직(8)은 상기 콘트롤 로직(7)으로부터 받은 데이터 신호를 TDX 교환기로 전송하고, TDX 교환기로부터 전송받은 데이터 신호를 콘트롤 로직(7)으로 전송한다.

다음에 상기 TIB(2)와 연결되는 다수의 MCB(3)는 도3에 도시된 바와 같이, SIO 유니트(13), 콘트롤 로직(12), CPU(10), 메모리(11), 리셋스위치(10) 그리고 인터페이스 로직(14)으로 구성되는데, 상기 리셋(Reset) 스위치(10)는 초기 전원이 들어올 경우 자동으로 리셋되어 MCB를 초기화 하며 만약 불량 데이터가 포착될 경우에는 임의로 리셋 스위치(10)를 눌러 초기화 시킬 수 있으며, CPU(11)는 KIB(4)와 연결되는 인터페이스 로직(14)으로부터 전송받은 신호를 판별하여 메모리(11)로 전송하고, 메모리(11)에서 전송받은 신호를 콘트롤 로직(12)과 인터페이스 로직(14)으로 전송하여 콘트롤 로직(12)과 인터페이스 로직(14)의 기능을 수행할 수 있도록 데이터로 명령하며, 상기 메모리(11)는 상기 CPU(10)에서 전송받은 신호를 판별하여 필요에 의해 다시 CPU(10)로 전송하거나 콘트롤 로직(12)으로 신호를 전송한다. 또한 상기 콘트롤 로직(12)은 CPU(10)에서 받은 신호를 판별하여 메모리(11)로 신호를 보내고 콘트롤 로직(12), SIO 유니트(13), 인터페이스 로직(14)으로 신호를 전송하여 각 유니트에서 일을 수행할 수 있도록신호명령을 내린다. 그리고 상기 SIO 유니트(13)는 상기 콘트롤 로직(12)으로부터 받은 신호를 판별하여 메모리로(11) 신호를 전송하고 결과를 전송받아서 인터페이스 로직(14)으로 데이터를 전송하여 일을 수행할 수 있도록 명령 데이터를 전송하고, 각 유니트에서 받은 데이터를 판별하여 VFD표시기에 데이터를 전송한다. 또한 상기 인터페이스 로직(14)은 KIB(4)에서 데이터를 전송받아 CPU(10), SIO 유니트(13)에 데이터를 전송하고 그 결과치를 다시 KIB(4)에 데이터로 전송한다.

상기 MCB(3)의 인터페이스 로직(14)과 시험대(5)에 연결되는 KIB(4)는 도4에 도시된 바와 같이 인터페이스로직(19), 콘트롤 로직(18), 키-패드 데이터 처리부(15), DTMF 톤 처리부(16) 그리고 상태 표시부(17)로 구성된다. 상기 키-패드 데이터 처리부(15)는 시험대의 푸쉬버튼 스위치의 조작에 의해 제공되는 키 데이터를 전송받아 그 데이터를 조합하여 인터페이스 로직(19)으로 조합한 값을 전송하며, 상기 DTMF 톤 처리부(16)는 시험대의 DTMF용 키 패드에서 데이터를 전송받아 그 데이터를 조합하고 그 조합된 결과치를 콘트롤 로직(18)으로 전송한다. 또한, 상기 인터페이스 로직(19)은 상기 키-패드 데이터 처리부(15)와 콘트롤 로직(18)으로 부터 전송받은 데이터를 MCB(3)로 전송하며, 콘트롤 로직(18)은 상기 DTMF 톤 처리부(16)에서 전송받은 데이터를 판별하여 인터페이스 로직(19)과 상태 표시부(17)로 전송한다.

상술한 바와 같이 본 발명은 하나의 TIB와, 다수의 MCB 및 KIB로 구성된 시험대 정합장치를 제공하여 TDX 교환기에서 인출되는 하나의 시험포트를 이용하여 다수의 시험대를 연결함으로써 동시에 상기 교환기에 가입되어 있는 여러 선로들을 시험할 수 있다.

본 발명은 상술한 바와 같이 교환기로부터 인출된 하나의 시험 포트와 여러대의 시험대를 동시에 연결할 수 있는 시험대 정합장치를 제공함으로써 교환기에 가입되어 있는 선로를 시험대가 정합장치에 연결되어 있는 수만큼 동시에 선로를 점검할 수 있으므로 가입자가 선로 고장으로 인해 격는 어려움을 즉시 해소할 수 있으며, 적은 인력으로도 많은 선로를 관리할 수 있다는 장점이 있다.

또한, 본 발명의 정합장치는 TDX 전전자 교환기에 물려 있는 일반 전화회선 뿐만아니라 ISDN 회선도 동시에 시험할 수 있다.

Claims

다수의 가입자가 가입되어 있는 교환기와 상기 교환기에 가입되어 있는 가입자선로를 시험하기 위한 시험대를 연결하는 정합장치에 있어서,

교환기에서 인출된 하나의 포드에 연결되어 다수의 포트로 분리하는 TDX 인터페이스 보드와,

상기 TDX 인터페이스 보드에서 연결되며 키 데이터를 분석하고 TDX 교환기로 가입자 번호를 송출하며 TDX 교환기의 데이터를 분석처리하여 포착한 결과 데이터를 단말기로 송출하는 다수의 메인 콘트롤 보드와,

상기 각각의 메인 콘트롤 보드와 다수의 시험대를 일대일로 연결하며 키-패드 데이터와 DTMF 톤 데이터를 수집하고 가입자 회선 연결 상태를 표시하며 시험대의 사용중을 표시하여 주는 다수의 KIB를 포함하는 TDX 시험대 전합장치.
제 1 항에 있어서,

상기 TDX 인터페이스 보드는 TIB는 다수의 MCB와 일대일로 연결하기 위한 다수의 전 인터페이스 로직과, 상기 다수의 전 인터페이스 로직의 데이터를 취합하여 전송하는 콘트롤 로직과, 상기 콘트롤 로직에서 전송된 취합 데이터를 TDX 교환기로 전송하는 후 인터페이스 로직을 포함하는 것을 특징으로 하는 TDX 시험대 정합장치.
제 1 항에 있어서,

상기 메인 콘트롤 보드는 초기 전원이 들어올 경우 자동으로 리셋되어 메인 콘트롤 보드를 초기화 하며 만일 불량 데이터가 포착될 경우에는 임의로 작동시켜 메인 콘트롤 보드를 초기화 시킬 수 있는 리셋 스위치와, 상기 키-패드 인터페이스 보드와 연결되는 인터페이스 로직으로부터 전송받은 신호를 판별하여 메모리로 전송하고 메모리에서 전송받은 신호를 콘트롤 로직과 인터페이스 로직으로 전송하여 콘트롤 로직과 인터페이스 로직을 실행할 수 있도록 데이터로 명령하는 CPU와, 상기 CPU에서 전송받은 신호를 판별하여 다시 CPU로 전송하거나 콘트롤 로직으로 신호를 전송하는 메모리와, 상기 CPU에서 받은 신호를 판별하여 상기 메모리로 신호를 보내고 SIO와 인터페이스 로직으로 신호를 전송하여 각 유니트에서 일을 수행할 수 있도록신호 명령하는 콘트롤 로직과, 상기 콘트롤 로직으로부터 받은 신호를 판별하여 메모리로 신호를 전송하고 결과를 전송받아서 인터페이스 로직으로 데이터를 전송하여 일을 수행할 수 있도록 명령 데이터를 전송하고 각 유니트에서 받은 데이터를 판병하여 VFD표시기에 데이터를 전송하는 SIO와, 상기 키-패드 인터페이스 로직에서 데이터를 전송받아 CPU, SIO에 데이터를 전송하고 그 결과치를 다시 키-패드 인터페이스 보드에 데이터를 전송하는 인터페이스 로직을 포함하는 것을 특징으로 하는 TDX 시험대 정합장치.
제 1 항에 있어서,

상기 키-패드 인터페이스 보드는 시험대의 푸쉬버튼 스위치의 조작에 의해 제공되는 키 데이터를 전송받아 그 데이터를 조합하여 인터페이스 로직으로 조합한 값을 전송하는 키-패드 데이터 처리부와, 상기 시험대의 DTMF용 키 패드에서 데이터를 전송받아 그 데이터를 조합하고 그 조합된 결과치를 콘트롤 로직으로 전송하는 DTMF 톤 처리부와, 상기 키-패드 데이터 처리부와 콘트롤 로직으로 부터 전송받은 데이터를 MCB로 전송하는 인터페이스 로직과, 콘트로로 로직은 DTMF 톤 처리부에서 전송받은 데이터를 판별하여 인터페이스 로직과 상태 표시부로 전송하는 콘트롤 로직과, 상기 콘트롤 로직으로부터 데이터를 전송받아 시험대의 상태를 표시하는 상태표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 TDX 시험대 정합장치.