KR20000042725A - Signal generating device of multi-function tester - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 검사대상을 검사하기 위해 신호를 발생하는 신호발생장치에 있어서, 사용자의 설정에 따라 저장되어 있는 파형 데이터를 아날로그화하여 신호를 발생함으로써 다양한 파형과 전압의 신호를 발생할 수 있는 다기능 검사기의 신호발생장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention is a signal generator for generating a signal for inspecting a test object, a multi-function tester capable of generating signals of various waveforms and voltages by generating signals by analogizing waveform data stored according to a user's setting The present invention relates to a signal generating apparatus and method.
도 1에는 일반적인 검사대상을 검사하는 예를 설명하기 위한 도면이 도시된다.1 is a view for explaining an example of inspecting a general inspection object.
도 1에 도시된 바와 같이, PCB(Printed Circuit Board)에 실장된 검사대상인 부품들을 검사하기 위해서는 다양한 전원을 공급하는 전원공급장치(1)를 통해 PCB(3)로 소정전원을 공급하는 한편, 상용 주파수의 신호를 발생하는 상용 장비인 신호발생장치(2)를 통해 PCB(3)로 소정신호를 공급한다.As shown in FIG. 1, in order to inspect components to be inspected mounted on a printed circuit board (PCB), predetermined power is supplied to the PCB 3 through a power supply 1 supplying various powers, and commercially available. A predetermined signal is supplied to the PCB 3 through a signal generator 2, which is a commercial equipment for generating a signal of frequency.
그 후, 검사기(7)(예를 들면, 테스터기, 오실로스코프 등)를 통해 PCB(3)에 실장된 검사대상인 부품들을 측정하여 PCB(3)에 실장된 검사대상인 부품들의 불량 여부를 검사하였다.Thereafter, the parts to be inspected mounted on the PCB 3 were measured by using an inspector 7 (eg, a tester, an oscilloscope, etc.) to inspect whether the parts to be inspected mounted on the PCB 3 were defective.
그러나, 상술한 바와 같이 구성되어 수행되는 종래의 신호발생장치는 다양한 주파수의 신호는 발생할 수 있지만 다양한 파형과 다양한 전압의 신호를 발생하지 못한다는 문제가 있다.However, the conventional signal generator configured and performed as described above has a problem in that signals of various frequencies may be generated, but signals of various waveforms and various voltages may not be generated.
또한, 필요한 전압 크기로(1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp)만들기 위해 부가 회로가 필요하고, 상용 장비인 신호발생장치의 제어에 필요한 프로그램 설계에 어려움이 있고, 상용 장비인 신호발생장치는 부피가 크므로 휴대형 장비에 비적합하고, 가격이 고가라는 문제가 있다.In addition, additional circuits are required to make the required voltage level (1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp), and there is a difficulty in designing a program necessary for the control of the signal generator, which is commercial equipment, and the signal generator, which is commercial equipment, is bulky. It is not suitable for portable equipment, and the price is expensive.
따라서, 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로, 사용자의 설정에 따라 저장되어 있는 파형 데이터를 아날로그화하여 신호를 발생하여 다양한 파형과 전압의 신호를 발생하기 위한 다기능 검사기의 신호발생장치 및 방법을 제공하는 데에 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention is to solve this problem, and to generate a signal by analogizing the waveform data stored in accordance with the user's settings to generate a signal of a variety of waveforms and voltage signal generator and method The purpose is to provide.
도 1은 일반적인 검사대상을 검사하는 예를 설명하기 위한 도면,1 is a view for explaining an example of inspecting a general inspection object;
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치의 구성도,2 is a block diagram of a signal generator of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention,
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치의 구성을 도시한 블럭도,3 is a block diagram showing the configuration of a signal generator of a multi-function tester according to an embodiment of the present invention;
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치의 일예를 설명하기 위한 도면,4A to 4D are views for explaining an example of a signal generator of a multifunctional tester according to an embodiment of the present invention;
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생방법의 구성을 도시한 플로우챠트.5 is a flow chart showing the configuration of a signal generation method of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10 : PC 11 : 키입력부10: PC 11: key input unit
12 : 표시부 20 : 통신부12: display unit 20: communication unit
30 : 주제어부 40 : 제어신호부30: main control part 40: control signal part
50 : 데이터 버퍼 60 : 주메모리부50: data buffer 60: main memory section
70 : 기본주파수 발생부 80 : 주파수 설정부70: basic frequency generating unit 80: frequency setting unit
90 : 주파수 분주부 100 : 주소신호 발생부90: frequency divider 100: address signal generator
110 : D/A 변환부 120 : 전압범위 선택부110: D / A converter 120: voltage range selector
130 : 버퍼 140 : 필터130: buffer 140: filter
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치는, 검사대상을 검사하기 위해 신호를 발생하는 신호발생장치에 있어서: 주파수를 설정하기 위한 주파수 설정부; 다수개의 기본주파수를 발생하는 기본주파수 발생부; 상기 기본주파수 발생부로부터의 기본주파수를 분주하여 클럭주파수를 공급하는 주파수 분주부; 상기 주파수 분주부로부터의 클럭주파수에 따라 주소신호를 발생하는 주소신호 발생부; 상기 주소신호 발생부로부터의 주소신호에 따라 다수개의 파형 데이터를 발생하는 주메모리부; 상기 주메모리부로부터의 파형 데이터를 아날로그화하는 D/A 변환부; 상기 D/A 변환부로부터의 아날로그화된 신호를 다수개의 전압 범위중 설정된 전압으로 공급하는 전압범위 선택부; 상기 전압범위 선택부로부터의 설정된 전압의 신호를 임피던스 매칭하는 버퍼; 상기 버퍼로부터의 임피던스 매칭된 신호를 필터링하여 검사대상에 공급하는 필터; 상기 검사대상에 따른 초기값을 설정하기 위한 키입력부를 구비한 PC; 상기 PC의 키입력부를 통해 설정된 초기값에 따라 주파수 설정부와 기본주파수 발생부 및 주파수 분주부를 통해 클럭주파수를 주소신호 발생부로 공급한 후 주메모리부를 통해 발생된 파형 데이터를 D/A 변환부를 통해 아날로그화한 다음, 전압범위 선택부를 통해 설정된 전압을 공급하여 버퍼와 필터를 통해 검사대상에 신호를 공급하는 주제어부; 그리고 상기 PC와 주제어부를 연결하는 통신부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a signal generator of a multifunction tester according to an embodiment of the present invention includes a signal generator for generating a signal for inspecting an inspection object, the apparatus comprising: a frequency setting unit for setting a frequency; A fundamental frequency generator for generating a plurality of fundamental frequencies; A frequency divider for dividing the fundamental frequency from the basic frequency generator to supply a clock frequency; An address signal generator for generating an address signal according to a clock frequency from the frequency divider; A main memory unit for generating a plurality of waveform data according to the address signal from the address signal generator; A D / A converter for analogizing waveform data from the main memory unit; A voltage range selector configured to supply an analogized signal from the D / A converter to a set voltage among a plurality of voltage ranges; A buffer which impedance-matches the signal of the set voltage from the voltage range selector; A filter for filtering an impedance matched signal from the buffer and supplying the filtered signal to a test target; A PC having a key input unit for setting an initial value according to the inspection target; After the clock frequency is supplied to the address signal generator through the frequency setting unit, the basic frequency generator, and the frequency divider according to the initial value set through the key input unit of the PC, the waveform data generated through the main memory unit is converted into the D / A converter. A main control unit for supplying a signal to a test target through a buffer and a filter by analogizing through and supplying a voltage set through a voltage range selector; And it characterized in that it comprises a communication unit for connecting the PC and the main control unit.
그리고, 상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생방법은, 검사대상을 검사하기 위한 다기능 검사기에 있어서: 다기능 검사기가 온 상태인 경우 초기값을 설정하는 단계(S1,S2); 그 단계(S2)에서 초기값이 설정된 후 설정된 초기값에 따른 파형 데이터를 발생하는 단계(S3); 그 단계(S3)에서 발생된 파형 데이터를 아날로그 변환하여 아날로그화하는 단계(S4); 그 단계(S4)에서 파형 데이터가 아날로그화된 후 설정된 전압을 선택하는 단계(S5); 그 단계(S5)에서 설정된 전압이 선택된 후 선택된 전압의 신호를 필터링하는 단계(S6); 그 단계(S6)에서 선택된 전압의 신호가 필터링된 후 필터링된 신호를 검사대상에 공급하는 단계(S7); 그 단계(S7)에서 필터링된 신호가 검사대상에 공급된 후 초기값이 재설정되었는가를 판단하는 단계(S8); 그리고 그 단계(S8)에서 초기값이 재설정되지 않은 경우 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하는 단계(S9)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.And, in order to achieve the above object, the signal generation method of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention, in the multi-function tester for inspecting the test object: setting an initial value when the multi-function tester is in the ON state (S1 , S2); Generating waveform data according to the set initial value after the initial value is set in the step S2; Analog converting and analogizing waveform data generated in the step S3 (S4); Selecting the set voltage after the waveform data is analogized in the step S4 (S5); Filtering the signal of the selected voltage after the voltage set in the step S5 is selected (S6); Supplying the filtered signal to the inspection target after the signal of the voltage selected in the step S6 is filtered (S7); Determining whether the initial value is reset after the signal filtered in the step S7 is supplied to the inspection object (S8); And if the initial value is not reset in the step (S8) is characterized in that it comprises a step (S9) to determine whether the multi-function checker is off.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2에는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치가 구성도로 도시되고, 도 3에는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치의 구성이 블럭도로 도시된다.2 is a block diagram showing a signal generator of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a block diagram showing the configuration of the signal generator of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치는, PC(10), 통신부(20), 주제어부(30), 제어신호부(40), 데이터 버퍼(50), 주메모리부(60), 기본주파수 발생부(70), 주파수 설정부(80), 주파수 분주부(90), 주소신호 발생부(100), D/A 변환부(110), 전압범위 선택부(120), 버퍼(130), 그리고 필터(140)를 포함하여 구성된다.2 and 3, the signal generator of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention, the PC 10, the communication unit 20, the main control unit 30, the control signal unit 40, Data buffer 50, main memory unit 60, basic frequency generator 70, frequency setter 80, frequency divider 90, address signal generator 100, D / A converter 110 ), A voltage range selector 120, a buffer 130, and a filter 140.
PC(10)는 검사대상에 따른 초기값(파형(정현파, 삼각파, 사각파), 주파수(30.5HZ, 99.2HZ, 488.3HZ, 976.6HZ, 1953HZ, 20KHZ), 전압(1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp), 신호 데이터(128, 256, 512, 1024))을 설정하기 위한 키입력부(11)를 구비함과 더불어 결과를 표시하는 표시부(12)를 구비하고, 통신부(20)는 PC(10)와 주제어부(30)를 연결하는 것으로 RS233C 등으로 이루어져 있다.The PC 10 has an initial value (waveform (sine wave, triangle wave, square wave), frequency (30.5HZ, 99.2HZ, 488.3HZ, 976.6HZ, 1953HZ, 20KHZ), voltage (1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp) according to the inspection object. And a key input unit 11 for setting signal data (128, 256, 512, 1024) and a display unit 12 for displaying the result. The main control unit 30 is connected to the RS233C.
주제어부(30)는 PC(10)의 키입력부(11)를 통해 설정된 초기값에 따라 주파수 설정부(80)와 기본주파수 발생부(70) 및 주파수 분주부(90)를 통해 클럭주파수를 주소신호 발생부(100)로 공급한 후 주메모리부(60)를 통해 발생된 파형 데이터를 D/A 변환부(110)를 통해 아날로그화한 다음, 전압범위 선택부(120)를 통해 설정된 전압을 공급하여 버퍼(130)와 필터(140)를 통해 검사대상에 신호를 공급하고, 제어신호부(40)는 주제어부(30)의 제어에 의해 제어신호를 발생한다.The main controller 30 addresses the clock frequency through the frequency setting unit 80, the basic frequency generator 70, and the frequency divider 90 according to the initial value set through the key input unit 11 of the PC 10. After supplying the signal generator 100, the waveform data generated through the main memory unit 60 is analogized through the D / A converter 110, and then the voltage set by the voltage range selector 120 is converted. By supplying a signal to the inspection object through the buffer 130 and the filter 140, the control signal unit 40 generates a control signal under the control of the main controller 30.
데이터 버퍼(데이터 Buffer)(50)는 주제어부(30)와 주메모리부(60)간의 데이터의 속도나 시간 등을 조정하고, 주메모리부(60)는 다수개의 파형 데이터(예를 들면, 정현파, 삼각파, 사각파)를 구비하여 주소신호 발생부(100)로부터의 주소신호에 따라 다수개의 파형 데이터를 발생하는 것으로, 3개의 파형을 저장할 수 있는 방이 1024byte크기로 3개 설정되어 있다.The data buffer 50 adjusts the speed and time of the data between the main control unit 30 and the main memory unit 60, and the main memory unit 60 includes a plurality of waveform data (for example, sine waves). And a triangular wave and a square wave) to generate a plurality of waveform data according to the address signal from the address signal generator 100, and three rooms having three waveforms can be stored in a size of 1024 bytes.
기본주파수 발생부(70)는 1MHZ, 100MHZ를 기본 클럭으로 함과 더불어 다수개의 기본주파수(예를 들면, 30.5HZ, 99.2HZ, 488.3HZ, 976.6HZ, 1953HZ, 20KHZ)를 구비하여 기본주파수를 발생하고, 주파수 설정부(80)는 주파수를 설정하기 위한 것이다.The basic frequency generator 70 generates 1FHZ and 100MHZ as base clocks, and also includes a plurality of base frequencies (for example, 30.5HZ, 99.2HZ, 488.3HZ, 976.6HZ, 1953HZ, and 20KHZ). The frequency setting unit 80 is for setting the frequency.
주파수 분주부(90)는 기본주파수 발생부(70)로부터의 기본주파수를 분주(예를 들면, 1/2분주)하여 클럭주파수를 공급하고, 주소신호 발생부(100)는 주파수 분주부(90)로부터의 클럭주파수에 따라 주소신호(예를 들면, 128, 256, 512, 1024)를 발생하는 것으로 내부에 3개의 카운터와 신호 데이터 선택부(128, 256, 512의 분해능 설정 가능)가 구성되어 있다.The frequency divider 90 divides (eg, divides 1/2) the fundamental frequency from the basic frequency generator 70 to supply a clock frequency, and the address signal generator 100 supplies the frequency divider 90 By generating an address signal (e.g., 128, 256, 512, 1024) according to the clock frequency from the system, three counters and a signal data selector (resolution of 128, 256, 512 can be set) are configured. have.
D/A 변환부(110)는 주메모리부(60)로부터의 파형 데이터를 아날로그로 변환하여 아날로그화하고, 전압범위 선택부(120)는 D/A 변환부(110)로부터의 아날로그화된 파형을 다수개의 전압 범위(예를 들면, 1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp) 중 설정된 전압으로 공급한다.The D / A converter 110 converts the waveform data from the main memory unit 60 into analog and analogizes it, and the voltage range selector 120 analogizes the waveform from the D / A converter 110. Is supplied at a set voltage among a plurality of voltage ranges (for example, 1 Vpp, 2 Vpp, 10 Vpp, and 20 Vpp).
버퍼(buffer)(130)는 전압범위 선택부(120)로부터의 설정된 전압의 신호를 임피던스 매칭(impedence matching)하고, 필터(filter)(140)는 버퍼(130)로부터의 임피던스 매칭된 신호를 필터링하는 것으로 Low pass filter로 이루어져 있고, (200)은 검사대상이다.The buffer 130 performs impedance matching on the signal of the set voltage from the voltage range selector 120, and the filter 140 filters the impedance matched signal from the buffer 130. It consists of a low pass filter, and (200) is the inspection target.
도 4a 내지 도 4d에는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치의 일예를 설명하기 위한 도면이 도시된다.4A to 4D are diagrams for explaining an example of a signal generator of a multifunction tester according to an embodiment of the present invention.
도 4a는 사용자에 의해 신호 데이터가 128로 설정된 경우 128개의 데이터로 1주기가 구성된 파형을 도시한 도면이고, 도 4b 내지 도 4d는 사용자에 의해 전압이 2Vpp로 설정된 경우 파형의 변화를 도시한 도면으로, 도 4b의 파형이 전압범위 선택부로부터의 도 4c의 파형과 합쳐져 도 4d의 파형이 공급된다.4A is a diagram illustrating a waveform in which one cycle is composed of 128 data when the signal data is set to 128 by the user, and FIGS. 4B to 4D are diagrams illustrating a change in waveform when the voltage is set to 2Vpp by the user. Thus, the waveform of FIG. 4B is combined with the waveform of FIG. 4C from the voltage range selector to supply the waveform of FIG. 4D.
이와 같이 구성되는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치는, 사용자가 다기능 검사기로부터의 소정신호가 검사대상(200)에 공급되도록 다기능 검사기와 검사대상(200)을 연결한 후 PC(10)의 키입력부(11)를 통해 검사대상(200)의 종류와 용량에 따라 초기값(예를 들면, 파형: 정현파, 주파수: 976.6HZ, 전압: 2Vpp, 신호 데이터: 128)을 설정하면 그에 따른 키신호가 통신부(20)를 통해 주제어부(30)로 입력된다.Signal generation device of the multi-function tester according to an embodiment of the present invention configured as described above, after the user connects the multi-function tester and the test target 200 so that a predetermined signal from the multi-function tester is supplied to the test target 200 When the initial value (for example, waveform: sine wave, frequency: 976.6HZ, voltage: 2Vpp, signal data: 128) is set according to the type and capacity of the inspection target 200 through the key input unit 11 of (10). The corresponding key signal is input to the main controller 30 through the communication unit 20.
그에 따라, 주제어부(30)에서 입력된 키신호에 따른 설정된 초기값에 따라 주파수 설정부(80)와 기본주파수 발생부(70) 및 주파수 분주부(90)를 통해 클럭주파수를 주소신호 발생부(100)로 공급하기 위한 제어신호를 발생한다.Accordingly, the address signal generator generates a clock frequency through the frequency setting unit 80, the basic frequency generator 70, and the frequency divider 90 according to the set initial value according to the key signal input from the main controller 30. A control signal for supplying to 100 is generated.
이때, 주파수 설정부(80)에 입력되는 데이터는 기본 주파수(1MHZ)×1/2분주×1/n(주파수 설정부 입력)×1/2분주=976.6HZ×128(1주기 데이터) 에 의해 구해진 n=2 (n=1∼255 입력 가능)가 입력되어 주소신호 발생부(100)에 클럭주파수 976.6×128=12,500HZ가 공급됨으로써 주소신호 발생부(100)에서 128(0~127)개의 주소 신호가 발생되어 주메모리부(60)로 공급된다.At this time, the data input to the frequency setting unit 80 is based on the fundamental frequency (1 MHZ) x 1/2 division x 1 / n (frequency setting unit input) x 1/2 division = 976.6 HZ x 128 (1 period data). The obtained n = 2 (n = 1 to 255 can be input) is inputted and the clock frequency 976.6 × 128 = 12,500HZ is supplied to the address signal generator 100, thereby providing 128 (0 to 127) numbers in the address signal generator 100. The address signal is generated and supplied to the main memory unit 60.
그 후, 주제어부(30)에서 주메모리부(60)를 통해 128개 데이터로 구성된 정현파를 발생하기 위한 제어신호를 출력하고, 주메모리부(60)에서 그 제어신호에 의해 128개의 정현파 데이터를 0~127번지까지 세팅하여 D/A 변환부(110)로 공급하고, D/A 변환부(110)에서 정현파 데이터를 도 4a에 도시된 바와 같이 아날로그 변화하여 아날로그화한다.Thereafter, the main control unit 30 outputs a control signal for generating a sinusoidal wave composed of 128 data through the main memory unit 60, and the main memory unit 60 outputs 128 sinusoidal wave data by the control signal. 0 to 127 are set and supplied to the D / A converter 110, and the sinusoidal data is analogized by analog change as shown in FIG. 4A.
다음에, 주제어부(30)에서 전압범위 선택부(120)를 통해 아날로그화된 신호의 전압 레벨을 설정된 전압인 2Vpp로 선택하기 위한 제어신호를 출력하고, 전압범위 선택부(120)에서 그 제어신호에 의해 2Vpp의 전압을 선택하여 도 4d에 도시된 바와 같은, 신호가 버퍼(130)에 의해 임피던스 매칭된 후 필터(140)에 의해 필터링되어 검사대상(200)에 공급되게 된다.Next, the main controller 30 outputs a control signal for selecting the voltage level of the analog signal through the voltage range selection unit 120 to 2Vpp, which is the set voltage, and the voltage range selection unit 120 controls the control signal. By selecting a voltage of 2Vpp by the signal, as shown in FIG. 4D, the signal is impedance matched by the buffer 130 and then filtered by the filter 140 to be supplied to the inspection object 200.
도 5에는 본 발명에 따른 다기능 검사기의 신호발생방법의 구성이 플로우챠트로 도시된다.5 is a flowchart illustrating a signal generation method of the multifunction tester according to the present invention.
도 5의 단계(S1)에서 다기능 검사기가 온 상태인 경우 단계(S2)에서 사용자가 초기값을 설정한다.In step S1 of FIG. 5, when the multifunction tester is in an ON state, the user sets an initial value in step S2.
즉, 다기능 검사기가 온 상태인 경우 사용자가 다기능 검사기와 검사대상을 연결한 후 PC의 키입력부를 통해 검사대상의 종류와 용량에 따라 초기값을 설정한다.That is, when the multifunction tester is in the ON state, the user connects the multifunction tester and the test target and sets initial values according to the type and capacity of the test target through the key input unit of the PC.
그 단계(S2)에서 초기값이 설정된 후 단계(S3)에서 설정된 초기값에 따른 파형 데이터를 발생한다.After the initial value is set in step S2, waveform data according to the initial value set in step S3 is generated.
즉, 초기값이 설정된 후 주제어부에서 설정된 초기값에 따라 주파수 설정부와 기본주파수 발생부 및 주파수 분주부를 통해 클럭주파수를 발생하여 주소신호 발생부로 공급함으로써 주소신호 발생부에서 발생된 주소 신호가 주메모리부(60)에 공급되어 주메모리부에서 파형 데이터가 발생된다.That is, after the initial value is set, the address signal generated by the address signal generator is generated by supplying the clock frequency to the address signal generator through the frequency setting unit, the basic frequency generator, and the frequency divider according to the initial value set by the main controller. The waveform data is supplied to the main memory unit 60 to generate the waveform data.
그 단계(S3)에서 설정된 초기값에 따라 파형 데이터가 발생된 후 단계(S4)에서 발생된 파형 데이터를 아날로그 변환하여 아날로그화한다.After the waveform data is generated according to the initial value set in the step S3, the waveform data generated in the step S4 is analog-converted.
즉, 설정된 초기값에 따라 파형 데이터가 발생된 후 발생된 파형 데이터가 D/A 변환부에서 아날로그 변환되어 아날로그화된다.That is, after the waveform data is generated according to the set initial value, the generated waveform data is analog-converted by the D / A converter and analogized.
그 단계(S4)에서 발생된 파형 데이터가 아날로그화된 후 단계(S5)에서 설정된 전압을 선택하고, 그 단계(S5)에서 설정된 전압이 선택된 후 단계(S6)서 선택된 전압의 신호를 필터링하고, 그 단계(S6)에서 선택된 전압의 신호가 필터링된 후 단계(S7)에서 필터링된 신호를 검사대상에 공급한다.After the waveform data generated in step S4 is analogized, the voltage set in step S5 is selected, the voltage set in step S5 is selected, and then the signal of the voltage selected in step S6 is filtered. After the signal of the voltage selected in the step S6 is filtered, the filtered signal is supplied to the inspection object in the step S7.
즉, 발생된 파형 데이터가 아날로그화된 후 주제어부에서 전압범위 선택부를 통해 설정된 전압을 선택하기 위한 제어신호를 출력하고, 전압범위 선택부에서 그 제어신호에 의해 설정된 전압을 선택하여 선택된 전압의 신호가 버퍼에 공급된 후 버퍼에서 임피던스 매칭되고, 필터에서 필터링되어 검사대상에 공급된다.That is, after the generated waveform data is analogized, the main controller outputs a control signal for selecting the voltage set through the voltage range selector, and selects the voltage set by the control signal in the voltage range selector to select the signal of the selected voltage. Is supplied to the buffer and then impedance-matched in the buffer, filtered by the filter, and supplied to the inspection object.
그 단계(S7)에서 필터링된 신호가 검사대상에 공급된 후 단계(S8)에서 초기값이 재설정되었는가를 판단하여 초기값이 재설정된 경우 단계(S2)로 복귀하는 한편, 초기값이 재설정되지 않은 경우 단계(S9)에서 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하여 다기능 검사기가 오프 상태인 경우 다기능 검사기의 동작을 종료한다.After the filtered signal is supplied to the inspection target in step S7, it is determined whether the initial value is reset in step S8, and when the initial value is reset, the process returns to step S2 while the initial value is not reset. If it is determined in step S9 whether the multi-function checker is in the off state, the operation of the multi-function checker is terminated when the multi-function checker is in the off state.
즉, 필터링된 신호가 검사대상에 공급된 후 주제어부에서 사용자에 의해 초기값이 재설정되었는가를 판단하여 초기값이 재설정된 경우 초기값을 설정하는 동작을 수행하는 한편, 초기값이 재설정되지 않은 경우 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하여 다기능 검사기가 오프 상태인 경우 주제어부에 의해 다기능 검사기의 동작이 종료된다.That is, after the filtered signal is supplied to the inspection target, the main controller determines whether the initial value is reset and performs an operation of setting the initial value when the initial value is reset while not initializing the initial value. It is determined whether the multifunction tester is in the off state, and when the multifunction tester is in the off state, the operation of the multifunction tester is terminated by the main controller.
한편, 본 발명에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치 및 방법은 검사대상을 검사하는 다기능 검사기에 신호발생장치가 사용된 것을 예로서 설명하였지만 이에 한정되는 것이 아니라, 다른 장치에 구성되어 신호를 발생하도록 구성될 수도 있다.On the other hand, the signal generating device and method of the multi-function tester according to the present invention has been described as an example that the signal generating device is used in the multi-function tester for inspecting the test object, but is not limited to this, it is configured in another device to generate a signal May be
이상에서 설명한 본 발명의 실시예에 따른 다기능 검사기의 신호발생장치 및 방법의 구성과 작용에 의하면, 사용자의 설정에 따라 저장되어 있는 파형 데이터를 아날로그화하여 신호를 발생함으로써 다양한 파형과 전압의 신호를 발생할 수 있는 효과가 있다.According to the configuration and operation of the signal generator and method of the multifunction tester according to the embodiment of the present invention described above, by generating a signal by analogizing the waveform data stored according to the user's setting to generate a signal of various waveforms and voltages There is an effect that can occur.
또한, 메모리를 통해 신호를 발생하여 다양한 파형과 전압의 신호를 고속으로 제어하거나 공급함으로써 구성이 간단하고, 고속으로 부품의 검사를 할 수 있는 등의 효과가 있다.In addition, by generating a signal through the memory to control or supply signals of various waveforms and voltages at high speed, the configuration is simple, and the parts can be inspected at high speed.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980059003A KR20000042725A (en) | 1998-12-26 | 1998-12-26 | Signal generating device of multi-function tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980059003A KR20000042725A (en) | 1998-12-26 | 1998-12-26 | Signal generating device of multi-function tester |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20000042725A true KR20000042725A (en) | 2000-07-15 |
Family
ID=19565979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019980059003A KR20000042725A (en) | 1998-12-26 | 1998-12-26 | Signal generating device of multi-function tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20000042725A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100463649B1 (en) * | 2002-01-28 | 2004-12-29 | 삼홍엔지니어링 주식회사 | Signal generation apparatus for diagonasis a state of engine |
-
1998
- 1998-12-26 KR KR1019980059003A patent/KR20000042725A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100463649B1 (en) * | 2002-01-28 | 2004-12-29 | 삼홍엔지니어링 주식회사 | Signal generation apparatus for diagonasis a state of engine |
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