KR20000038812A - Copper foil for printed circuit and production method thereof - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A copper foil for a printed circuit and a production method thereof are provided to maintain an adhesive strength between the copper foil and an insulating substrate without performing a processing process of protrusion phase and to have a characteristic of the printed circuit. CONSTITUTION: A film for preventing a diffusion of a copper ion is formed on an upper part of a lusterless face of a copper foil without a processing of protrusion phase. An anticorrosive film is formed in both faces of the copper foil after washing and drying the copper foil formed the preventing film of copper ion diffusion. A film for processing a surface is formed by coating a composition contained an isocyanurate of a formula 1 in a single face or double faces of the copper foil after washing and drying the copper foil formed the anticorrosive film. Thereby the copper foil for a printed circuit is produced. In the formula, an A is expressed as -(CH2)aSi(R)b(OR), an a is 1 or 8, a b is 0 or 3 and an R is an alkyl group of 1 or 8 carbon numbers.

Description

인쇄회로용 동박 및 그 제조방법Copper foil for printed circuit and its manufacturing method

본 발명은 인쇄회로용 동박 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하기로는, 인쇄회로 기판에 이용되는 동박으로서, 돌기상 처리 공정을 실시하지 않고서도 동박과 절연기판과의 접착력을 양호하게 유지하면서 인쇄회로의 특성을 갖춘 인쇄회로용 동박 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a copper foil for a printed circuit and a method of manufacturing the same. More specifically, the present invention relates to a copper foil used for a printed circuit board, while maintaining good adhesion between the copper foil and the insulating substrate without performing a projection process. The present invention relates to a copper foil for a printed circuit having a characteristic of a printed circuit and a manufacturing method thereof.

인쇄회로는 텔레비젼, 라디오, 컴퓨터, 전화교환기, 무선송수신기 등과 같은 각종 전기 및 전자 통신기기의 정밀제어회로로서 널리 이용되고 있다.Printed circuits are widely used as precision control circuits of various electric and electronic communication devices such as televisions, radios, computers, telephone exchanges, and wireless transceivers.

인쇄회로용 동장적층판(銅張積層板)은, 동박을 유리-에폭시 수지 함침 기재 등과 같은 절연기판에 가열, 가압하여서 적층하고, 이를 에칭하여 회로망을 형성한 다음, 여기에 반도체장치 등의 소자를 탑재함으로써 만들어진다.Copper-clad laminates for printed circuits are laminated by heating and pressing copper foil on insulating substrates such as glass-epoxy resin-impregnated substrates, etching them to form a network, and then attaching elements such as semiconductor devices to them. It is made by mounting.

상술한 인쇄회로용 동박의 통상적인 제조과정을 살펴보면, 먼저, 전기분해방법으로 구리 이온을 금속으로 환원시키는 과정을 거쳐 동박을 얻은 다음, 이를 수세 및 건조한다. 그리고 나서, 동박의 절연기판과의 접촉면 즉, 비광택면(Matte면, 이하 M면이라고 함)상에 돌기상 처리공정을 실시한다. 여기에서 돌기상 처리공정은 산화구리 분말을 이용하여 동박의 표면상에 돌기상을 형성하여 동박과 절연기판과의 표면적을 증대시킴으로써 동박과 절연기판의 접착력을 향상시키는 과정이다.Looking at the conventional manufacturing process of the copper foil for a printed circuit described above, first, a copper foil is obtained through a process of reducing copper ions to a metal by an electrolysis method, and then washed and dried. Then, a projection processing step is performed on the contact surface of the copper foil with the insulating substrate, that is, the non-gloss surface (hereinafter referred to as M surface). Here, the projection process is a process of improving the adhesion between the copper foil and the insulating substrate by forming a projection on the surface of the copper foil using copper oxide powder to increase the surface area of the copper foil and the insulating substrate.

그 후, 거침처리공정을 거친 동박상에 금속 장벽층을 형성하여 구리 이온의 확산을 방지한 다음, 방청처리를 실시한다.Thereafter, a metal barrier layer is formed on the copper foil that has undergone the roughening step to prevent diffusion of copper ions, and then antirust treatment is performed.

마지막으로, 동박과 절연기판과의 접착력을 향상시키기 위하여 화학결합제를 이용한 화학적 접착력 향상 처리를 실시한다(일본 특개소 제63-183178호 및 일본 특개평 제2-26097호) 여기에서 화학결합제로는 비닐트리에톡시실란, 비닐트리스(메톡시)실란, 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-메르캅토프로필트리메톡시실란, 3-클로로프로필트리메톡시실란 등이 알려져 있다.Finally, in order to improve the adhesive force between the copper foil and the insulating substrate, chemical adhesion improving treatment using a chemical binder is performed (Japanese Patent Laid-Open No. 63-183178 and Japanese Patent Laid-Open No. 2-26097). Vinyltriethoxysilane, vinyltris (methoxy) silane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltri Methoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, etc. This is known.

한편, 최근에는 인쇄회로 기판의 고품질화에 따라 기판의 회로가 점차 미세화, 고집적화 및 소형화되고 있다. 따라서 동박의 낮은 조도가 요구되고, 절연기판의 절연특성이 더욱 강조되고 있는 추세이다. 그리고 동박에 회로를 구성하기 위해서는 불필요한 부분을 에칭하는 과정을 거치게 되는데, 이러한 에칭과정에서는 가능한 회로의 손실을 최소화시켜야 한다.On the other hand, in recent years, circuits of substrates have been gradually miniaturized, highly integrated, and miniaturized with high quality of printed circuit boards. Therefore, low roughness of the copper foil is required, and the insulating property of the insulating substrate is further emphasized. In order to construct a circuit on the copper foil, an unnecessary part is etched. In this etching process, the loss of the possible circuit must be minimized.

그런데, 동박의 제조공정중 돌기상 처리공정에서 사용된 산화구리 분말이 동박과 절연기판과의 접착과정 이후에도 잔류물로 계속 존재하게 된다. 이 잔류물은 금속성이라서 특히 절연기판이 얇은 경우 회로층 사이의 절연특성을 저하시키는 문제점이 있다. 또한 다층 인쇄회로 기판을 형성하는 경우, 적층 과정이 고온에서 이루어지는데 이 적층과정중 잔류물로 존재하는 산화구리와 절연기판의 구성성분이 반응하여 절연기판안에 얼룩을 형성시키는 문제점이 있다.However, the copper oxide powder used in the projection process of the copper foil continues to remain as a residue even after the adhesion process between the copper foil and the insulating substrate. Since this residue is metallic, in particular, when the insulating substrate is thin, there is a problem of lowering the insulating properties between the circuit layers. In addition, in the case of forming a multilayer printed circuit board, the lamination process is performed at a high temperature, and there is a problem of forming a stain in the insulation substrate by reacting the copper oxide existing as a residue during the lamination process and the components of the insulation substrate.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 상기 문제점을 해결하기 위하여 동박의 돌기상 처리공정을 실시하지 않아서 돌기상 처리공정에서 비롯된 에칭 잔류물로 인하여 절연기판의 절연특성 저하를 막을 수 있을 뿐만 아니라, 동박과 절연기판과의 접착력을 향상시킬 수 있는 인쇄회로용 동박 및 그 제조방법을 제공하는 것이다.The technical problem to be solved by the present invention is not to prevent the projection process of the copper foil in order to solve the above problems can not only prevent the deterioration of the insulating properties of the insulating substrate due to the etching residue resulting from the projection process. It is to provide a copper foil for a printed circuit and a method of manufacturing the same that can improve the adhesion to the insulating substrate.

도 1 및 3은 비교예 2에 따라 제조된 인쇄회로용 동박의 표면 및 단면에 대한 전자주사현미경 사진들이고,1 and 3 are electron scanning micrographs of the surface and cross-section of the copper foil for printed circuit prepared according to Comparative Example 2,

도 2 및 4는 실시예 1 내지 2에 따라 제조된 인쇄회로용 동박의 표면 및 단면에 대한 전자주사현미경 사진들이다.2 and 4 are electron scanning micrographs of the surface and cross-section of the copper foil for printed circuit prepared according to Examples 1 to 2.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명에서는, 동박의 비광택면에 돌기상 처리 없이 구리 이온 확산 방지막이 형성되어 있으며, 구리 이온 확산 방지막이 형성된 동박의 양 면에 방청막이 형성되어 있으며, 이 방청막이 형성된 동박의 단면 또는 양면에 화학식 1의 이소시아누레이트 화합물을 포함하는 표면처리막이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박을 제공한다.In order to achieve the above technical problem, in the present invention, a copper ion diffusion barrier film is formed on the non-gloss surface of the copper foil without a protrusion treatment, and antirust films are formed on both surfaces of the copper foil on which the copper ion diffusion barrier film is formed, and the antirust film is formed. Provided is a copper foil for a printed circuit, wherein a surface treatment film containing an isocyanurate compound of the formula (1) is formed on one or both surfaces of the copper foil.

<화학식 1><Formula 1>

상기식중, A는 -(CH2)aSi(R)b(OR)3-b으로 표시되고, a는 1 내지 8이고, b는 0 내지 3이고, R은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이다.Wherein A is represented by-(CH 2 ) a Si (R) b (OR) 3-b , a is 1 to 8, b is 0 to 3, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms .

상기 표면처리막에는 화학식 2의 비스트리알콕시실릴알칸이 더 포함되기도 한다.The surface treatment film may further include bistrialkoxysilylalkane of formula (2).

(R'O)3Si(B)CSi(OR')3 (R'O) 3 Si (B) C Si (OR ') 3

상기식중, c는 1 내지 8이고, R'은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이고, B는 2가의 유기기를 나타낸다.In the formula, c is 1 to 8, R 'is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, and B represents a divalent organic group.

본 발명의 다른 기술적 과제는 (a) 동박의 비광택면 상부에 돌기상 처리 없이 구리 이온 확산 방지막을 형성하는 단계;Another technical problem of the present invention is the step of (a) forming a copper ion diffusion barrier layer on the non-gloss surface of the copper foil without a projection process;

(b) 구리 이온 확산 방지처리막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 동박의 양면에 방청막을 형성하는 단계; 및(b) washing and drying the copper foil on which the copper ion diffusion preventing film is formed, and then forming a rustproof film on both sides of the copper foil; And

(c) 방청막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 이 동박의 단면 또는 양면에 화학식 1의 이소시아누레이트를 포함하는 조성물을 코팅하여 표면처리막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박의 제조방법에 의하여 이루어진다.(c) washing and drying the copper foil on which the rust-preventive film is formed, and then coating a composition containing isocyanurate of formula 1 on one or both surfaces of the copper foil to form a surface treatment film. It is made by the manufacturing method of copper foil.

<화학식 1><Formula 1>

상기식중, A는 -(CH2)aSi(R)b(OR)3-b으로 표시되고, a는 1 내지 8이고, b는 0 내지 3이고, R은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이다.Wherein A is represented by-(CH 2 ) a Si (R) b (OR) 3-b , a is 1 to 8, b is 0 to 3, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms .

인쇄회로용 동박은 제조시 후에 절연기판과 접촉되는 면(M면)에 돌기상 처리공정을 실시하는 것이 통상적이다. 이러한 돌기상 처리공정을 생략하면 동박의 기계적 접착특성이 현저하게 낮아져 후에 회로 박리 등의 심각한 문제가 발생되게 된다. 본 발명에서는 이러한 문제를 해결하기 위하여 동박과 절연기판과의 접착력을 향상시키기 위하여 동박의 광택면(Shiny면, 이하 S면이라고 함)과 비광택면(M면)중 M면에 화학식 1의 표면처리제를 코팅처리한 데 그 특징이 있다.The copper foil for printed circuits is usually subjected to a projection processing step on the surface (M surface) in contact with the insulating substrate during manufacture. Omitting such a protrusion treatment step significantly lowers the mechanical adhesive properties of the copper foil, causing serious problems such as circuit peeling later. In the present invention, in order to solve this problem, in order to improve the adhesion between the copper foil and the insulating substrate, the surface of the formula (1) on the M surface of the glossy surface (Shiny surface, hereinafter referred to as S surface) and the non-gloss surface (M surface) of the copper foil It is characterized by coating the treatment agent.

<화학식 1><Formula 1>

상기식중, A는 -(CH2)aSi(R)b(OR)3-b으로 표시되고, a는 1 내지 8이고, b는 0 내지 3이고, R은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이다.Wherein A is represented by-(CH 2 ) a Si (R) b (OR) 3-b , a is 1 to 8, b is 0 to 3, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms .

바람직하게는 상기 표면처리제는 트리스-[3-(트리메톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스-[3-(트리에톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스-[3-(디메톡시실릴)프로필]이소시아누레이트 또는 트리스[-3-(메틸디메에톡시실릴)프로필]이소시아누레이트이다. 이러한 트리알콕시실릴이소시아누레이트는 여러 가지 반응 경로에 따라 합성가능하다. 예를 들어 염기성 촉매하에서 아미노실란과 유기 카보네이트의 정량 반응에 의하여 합성가능한데, 이에 대한 내용은 미국 특허 제5,218,133호에 개시되어 있다.Preferably the surface treatment agent is tris- [3- (trimethoxysilyl) propyl] isocyanurate, tris- [3- (triethoxysilyl) propyl] isocyanurate, tris- [3- (dimethicone) Methoxysilyl) propyl] isocyanurate or tris [-3- (methyldimethoxysilyl) propyl] isocyanurate. Such trialkoxysilylisocyanurates can be synthesized according to various reaction routes. For example, it can be synthesized by quantitative reaction of aminosilane and organic carbonate under basic catalyst, which is disclosed in US Pat. No. 5,218,133.

이하, 본 발명에 따른 인쇄회로용 동박의 제조방법에 대하여 살펴보기로 한다.Hereinafter, a manufacturing method of a copper foil for a printed circuit according to the present invention will be described.

먼저, 피도금소재에 구리 도금을 실시하여 동박을 제조한다. 여기에서 구리 도금은 산성 도금액 또는 알칼리성 도금액을 사용할 수 있는데, 산성 도금액으로는 황산구리, 붕불화구리 또는 술파민산 구리 도금액이 있고, 알칼리성 도금액으로는 시안화구리 또는 피로인산구리 도금액이 있다.First, copper plating is performed on a to-be-plated material and copper foil is manufactured. Here, the copper plating may use an acidic plating solution or an alkaline plating solution, and the acidic plating solution may include copper sulfate, copper borofluoride, or sulfamic acid copper plating solution, and the alkaline plating solution may be copper cyanide or copper pyrophosphate plating solution.

본 발명에서는 상술한 도금액중 산성 황산구리 도금액을 사용한다. 황산구리도금액의 기본 조성은 황산구리 200∼450g/l, 바람직하게는 250∼400g/l, 황산 80∼200g/l, 바람직하게는 90∼120g/l이다. 여기에서 황산구리 농도가 200g/l 미만이면 전착된 동박의 표면이 거칠고 표면상에 분말이 형성될 뿐만 아니라 생산성이 낮고, 450g/l를 초과하는 경우에는 도금액이 결정화되어 작업성이 불량해지므로 바람직하지 못하다. 그리고 황산농도가 80g/l 미만이면 전해 전압이 상승하여 제조비용이 상승되고, 도금액의 온도가 상승하여 동박의 기계적 강도가 저하되고, 황산 농도가 200g/l를 초과하는 경우에는 전해전압은 낮아지지만, 도금액의 부식성이 강해져서 동박을 전해하는 전극의 부식이 빨라지는 문제점이 야기된다.In the present invention, the acidic copper sulfate plating solution is used in the above-described plating solution. The basic composition of the copper sulfate plating solution is 200 to 450 g / l, preferably 250 to 400 g / l, sulfuric acid 80 to 200 g / l, preferably 90 to 120 g / l. If the copper sulfate concentration is less than 200 g / l, the surface of the electrodeposited copper foil is not only coarse and powder is formed on the surface, but also has low productivity, and when it exceeds 450 g / l, the plating solution is crystallized, which is undesirable. Can not do it. If the sulfuric acid concentration is less than 80 g / l, the electrolytic voltage increases, the manufacturing cost increases, the temperature of the plating liquid rises, the mechanical strength of the copper foil is lowered, and when the sulfuric acid concentration exceeds 200 g / l, the electrolytic voltage is lowered. In addition, the corrosion of the plating solution becomes strong, which causes a problem that the corrosion of the electrode for electrolytic copper is accelerated.

그리고 바람직한 도금조건에 대하여 살펴보면, 도금액의 온도는 50∼80℃, 음극 전류밀도는 75∼100A/dm2, 바람직하게는 75∼85A/dm2, 염소 이온은 20∼50ppm으로 유지하도록 한다.In the preferred plating conditions, the plating liquid temperature is maintained at 50 to 80 ° C., the cathode current density is 75 to 100 A / dm 2 , preferably 75 to 85 A / dm 2 , and the chlorine ion is 20 to 50 ppm.

그 후, 동박의 비광택면(M면) 상부에 아연, 니켈, 철, 코발트, 몰리브덴, 텅스텐, 주석, 인듐 및 스테인레스스틸중에서 선택된 금속, 또는 이들의 2종 내지 3종 합금을 이용하여 금속 장벽층을 형성함으로써 구리 이온 확산을 방지한다.Subsequently, a metal barrier is formed on the non-gloss surface of the copper foil by using a metal selected from zinc, nickel, iron, cobalt, molybdenum, tungsten, tin, indium and stainless steel, or two or three alloys thereof. Forming a layer prevents copper ion diffusion.

이어서, 구리 이온 확산 방지막이 형성된 동박을 수세 및 건조한다. 그리고 나서, 이를 방청 처리 용액에 침적하여 방청막을 형성한다. 여기에서 방청 처리 용액은 특별히 한정되지는 않으나, 크롬산, 중크롬산나트륨, 중크롬산칼륨, 무수크롬산 등을 이용한다.Next, the copper foil in which the copper ion diffusion prevention film was formed is washed with water and dried. Then, it is immersed in an antirust treatment solution to form an antirust film. The anti-rust treatment solution is not particularly limited, but chromic acid, sodium dichromate, potassium dichromate, chromic anhydride, or the like is used.

방청막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 이 동박의 양 면 즉, M면과 S면에 화학식 1의 이소시아누레이트 화합물을 포함하는 조성물을 코팅하여 표면처리막을 형성한다. 이 때 화학식 1의 이소시아누레이트는 그 자체를 직접 동박에 코팅할 수도 있고, 이를 알콜 용매 또는 물에 용해한 상태로 코팅하는 것도 가능하다. 이소시아누레이트 화합물을 용매에 희석하는 경우, 이소시아누레이트 화합물의 농도는 0.001-5중량%, 바람직하게는 0.01-1중량%인 것이 바람직하다. 여기에서 이소시아누레이트의 농도가 5중량%를 초과하는 경우에는 동박의 제조비용이 상승되어 비경제적이고, 0.001중량% 미만인 경우에는 동박과 절연기판과의 접착력이 충분치 않아서 바람직하지 못하다.The copper foil on which the rust-preventive film was formed was washed with water and dried, and then a composition containing an isocyanurate compound of formula 1 was coated on both surfaces, that is, the M and S surfaces of the copper foil to form a surface treatment film. At this time, the isocyanurate of the formula (1) may be coated directly on the copper foil itself, it may also be coated in a state dissolved in an alcohol solvent or water. When the isocyanurate compound is diluted in a solvent, the concentration of the isocyanurate compound is preferably 0.001-5% by weight, preferably 0.01-1% by weight. If the concentration of isocyanurate is more than 5% by weight, the manufacturing cost of the copper foil is uneconomical, and if it is less than 0.001% by weight, the adhesion between the copper foil and the insulating substrate is not sufficient, which is not preferable.

<화학식 1><Formula 1>

상기식중, A는 -(CH2)aSi(R)b(OR)3-b으로 표시되고, a는 1 내지 8이고, b는 0 내지 3이고, R은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이다.Wherein A is represented by-(CH 2 ) a Si (R) b (OR) 3-b , a is 1 to 8, b is 0 to 3, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms .

화학식 1의 이소시아누레이트 화합물로는 특히 트리스-[3-(트리메톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스-[3-(트리에톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스-[3-(디메톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스[-3-(메틸디메에톡시실릴)프로필]이소시아누레이트가 바람직하다.The isocyanurate compounds of formula (I) include, in particular, tris- [3- (trimethoxysilyl) propyl] isocyanurate, tris- [3- (triethoxysilyl) propyl] isocyanurate, tris- [ 3- (dimethoxysilyl) propyl] isocyanurate and tris [-3- (methyldiethoxysilyl) propyl] isocyanurate are preferred.

상술한 표면처리막에는 이소시아누레이트 이외에 화학식 2의 비스트리알콕시실릴알칸 화합물을 더 부가하기도 한다. 이와 같이 비스트리알콕시실릴알칸 화합물을 이소시아누레이트와 병용하면, 방청효과가 향상됨은 물론이고 동박과 절연기판과의 접착력이 한층 더 개선된다.In addition to the isocyanurate, the bistrialkoxysilylalkane compound of the formula (2) may be further added to the surface treatment film. Thus, when the bistrialkoxy silyl alkane compound is used in combination with isocyanurate, not only the antirust effect is improved but also the adhesion between the copper foil and the insulating substrate is further improved.

<화학식 2><Formula 2>

(R'O)3Si(B)CSi(OR')3 (R'O) 3 Si (B) C Si (OR ') 3

상기식중, c는 1 내지 8의 정수이다. 그리고, B는 2가의 유기기(organic group)를 나타내는데, 구체적인 예로서 탄소수 1 내지 8의 알킬렌기, 페닐렌기과 같은 2가의 방향족기, 실록산 결합을 함유하고 있는 2가의 지방족기 또는 2가의 방향족 에스테르잔기가 있다. 그리고 R'은 탄소수 1 내지 8의 알킬기인데, 그중에서도 R'은 1 내지 4의 알킬기인 것이 바람직하다. 그 이유는 용해도와 가수분해면에서 이러한 화합물들이 유리하기 때문이다.In said formula, c is an integer of 1-8. And B represents a divalent organic group, and specific examples thereof include an alkylene group having 1 to 8 carbon atoms, a divalent aromatic group such as a phenylene group, a divalent aliphatic group containing a siloxane bond, or a divalent aromatic ester. There is a residue. And R 'is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, and R' is preferably an alkyl group having 1 to 4 among them. This is because these compounds are advantageous in terms of solubility and hydrolysis.

상기 화학식 2의 비스트리알콕시실릴알칸의 구체적인 예로서 비스트리메톡시실릴에탄 (CH3O)Si(CH2)2Si(OCH3)3, 비스트리메톡시실릴프로판 (CH3O)Si(CH2)3Si(OCH3)3, 비스트리메톡시실릴부탄 (CH3O)Si(CH2)4Si(OCH3)3, 비스트리메톡시실릴헥산 (CH3O)Si(CH2)6Si(OCH3)3, 비스트리메톡시실릴벤젠 (CH3O)SiPhSi(OCH3)3이 있다.As a specific example of bistrialkoxysilylalkane of Formula 2, bistrimethoxysilylethane (CH 3 O) Si (CH 2 ) 2 Si (OCH 3 ) 3 , bistrimethoxysilylpropane (CH 3 O) Si ( CH 2 ) 3 Si (OCH 3 ) 3 , bistrimethoxysilylbutane (CH 3 O) Si (CH 2 ) 4 Si (OCH 3 ) 3 , bistrimethoxysilylhexane (CH 3 O) Si (CH 2 ) 6 Si (OCH 3 ) 3 , bistrimethoxysilylbenzene (CH 3 O) SiPhSi (OCH 3 ) 3 .

이러한 비스트리알콕시실릴알칸은 그 화합물 자체를 동박에 직접 코팅하여도 좋으나, 물, 에탄올, 메탄올, 메틸에틸케톤, 벤젠 등의 용매에 용해한 조성물을 코팅하는 것도 가능하다. 이 때 비스트리알콕시실릴알칸의 농도는 0.001 내지 5중량%, 특히 0.1 내지 1중량%인 것이 바람직하다. 여기에서 비스트리알콕시실릴알칸의 농도가 0.001중량% 미만인 경우에는 동박과 절연기판간의 접착력이 충분치 않고, 5중량%를 초과하는 경우에는 동박의 제조비용을 상승시켜 비경제적이므로 바람직하지 못하다.Such bistrialkoxysilyl alkanes may be coated directly with the compound itself on copper foil, but it is also possible to coat a composition dissolved in a solvent such as water, ethanol, methanol, methyl ethyl ketone, benzene, or the like. At this time, the concentration of bistrialkoxysilylalkane is preferably 0.001 to 5% by weight, particularly 0.1 to 1% by weight. If the concentration of bistrialkoxysilyl alkane is less than 0.001% by weight, the adhesive force between the copper foil and the insulating substrate is not sufficient, and if it exceeds 5% by weight, the manufacturing cost of the copper foil is increased, which is not economical.

이소시아누레이트 함유 및/또는 비스트리알콕시실릴알칸 함유 조성물의 코팅방법은 동박을 이소시아누레이트 및/또는 비스트리알콕시실릴알칸 함유 조성물에 침적시키는 방법, 이소시아누레이트 및/또는 비스트리알콕시실릴알칸 함유 조성물을 동박 표면에 스프레이하는 방법, 전기화학적인 도포방법 등이 가능한데, 스프레이 방법이 보다 간편한 방법이다.Coating methods for isocyanurate-containing and / or bistrialkoxysilylalkanes-containing compositions include methods for depositing copper foil on isocyanurates and / or bistrialkoxysilylalkanes-containing compositions, isocyanurates and / or bistrialkoxy A method of spraying the silyl alkane-containing composition on the surface of the copper foil, an electrochemical coating method, and the like can be used, but the spray method is a more convenient method.

상술한 방법에 따라 얻어진 동박은 고온, 고압 조건하에서 절연기판과 접착시키면 인쇄회로용 동장적층판이 완성된다. 여기에서 상기 동박은 그 두께가 9 내지 70㎛이 바람직하다. 여기에서 동박의 두께가 9㎛ 미만이면, 동박 자체 하중으로 인하여 주름이 발생함으로써 사용상의 문제점이 발생하고, 70㎛를 초과하는 경우에는 생산성이 저하되는 문제점이 있다.The copper foil obtained by the above-described method is bonded to an insulating substrate under high temperature and high pressure conditions, thereby completing a copper-clad laminate for a printed circuit. It is preferable that the thickness of the said copper foil is 9-70 micrometers here. Here, when the thickness of copper foil is less than 9 micrometers, a wrinkle arises by the copper foil itself load, and a problem arises in use, and when it exceeds 70 micrometers, there exists a problem that productivity falls.

이하, 본 발명을 하기 실시예를 들어 상세히 설명하기로 하되, 본 발명이 하기 실시예로만 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the following examples, but the present invention is not limited to the following examples.

실시예 1Example 1

65℃로 조절되어 있는 황산구리(400g/l), 황산(100g/l)을 포함하는 도금욕을 이용하여 동박을 만들었다. 이 때 전류밀도는 100A/dm2으로, 그리고 염소 이온은 20ppm으로 유지하도록 조절하였다.Copper foil was made using the plating bath containing copper sulfate (400g / l) and sulfuric acid (100g / l) adjusted to 65 degreeC. At this time, the current density was adjusted to 100A / dm 2 and the chlorine ion was maintained at 20ppm.

이렇게 얻어진 동박(두께: 35㎛)을 시안화나트륨(110g/l), 수산화나트륨(60g/l), 청화동 90g/l, 황화아연 5.3g/l을 포함하고 있는 확산 방지 처리 용액에 침적하여 동박 상부에 구리 이온 확산 방지막을 형성하였다. 이 때 확산 방지 처리 용액의 온도는 50℃, pH는 11.0-11.5. 전류밀도는 5A/dm2으로 유지하였다.The copper foil thus obtained (thickness: 35 µm) was deposited on a diffusion preventing treatment solution containing sodium cyanide (110 g / l), sodium hydroxide (60 g / l), 90 g / l of cyanide copper, and 5.3 g / l zinc sulfide. A copper ion diffusion barrier was formed on top. At this time, the diffusion preventing treatment solution had a temperature of 50 ° C. and a pH of 11.0-11.5. The current density was maintained at 5 A / dm 2 .

이어서, 구리 이온 확산 방지막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 이 동박을 중크롬산나트륨 10g/l을 포함하고 있는 방청 처리 용액에 침적하여 방청막을 형성하였다. 여기에서 방청 처리 용액의 온도는 25℃, pH는 4.5. 전류밀도는 0.5A/dm2으로 유지하면서 방청처리를 2초동안 실시하였다.Subsequently, the copper foil in which the copper ion diffusion prevention film was formed was washed with water, and dried, and this copper foil was immersed in the antirust process solution containing 10 g / l sodium dichromate, and the antirust film was formed. The temperature of the rust-preventing solution was 25 ° C. and pH was 4.5. Antirust treatment was performed for 2 seconds while maintaining a current density of 0.5 A / dm 2 .

이와 별도로, 트리스트리메톡시실릴프로필이소시아누레이트(위트코오스에스아이제, 상품명: Y11597)를 메탄올과 물의 혼합용매(60:40 중량비)에 0.2% 농도로 희석하여 결합 촉진 처리 용액을 제조하였다.Separately, tristrimethoxysilylpropyl isocyanurate (Witscose Ise, trade name: Y11597) was diluted to a concentration of 0.2% in a mixed solvent of methanol and water (60:40 weight ratio) to prepare a bonding promoting treatment solution. .

방청막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 이 동박을 결합 촉진 처리 용액에 30초동안 침적한 다음, 110℃에서 5분동안 건조하였다.The copper foil on which the rust preventive film was formed was washed with water and dried, and the copper foil was immersed in the bond promoting treatment solution for 30 seconds, and then dried at 110 ° C. for 5 minutes.

이어서, 결합 촉진 처리된 동박을 에폭시 수지 함침 유리섬유 기재(ANSI grade CEM-1)에 175℃, 50kgf/㎠로 2시간동안 성형하여 인쇄회로용 동박을 완성하였다.Subsequently, the copper foil subjected to bonding promotion was molded on an epoxy resin-impregnated glass fiber substrate (ANSI grade CEM-1) at 175 ° C. and 50 kgf / cm 2 for 2 hours to complete a copper foil for a printed circuit.

실시예 2Example 2

결합 촉진 용액이 트리스트리메톡시실릴프로필이소시아누레이트 0.1%와 비스트리메톡시실릴에탄(Aldrich사) 0.2%를 메탄올과 물의 혼합용매(60:40 중량비)에 용해하여 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법에 따라 실시하여 인쇄회로용 동박을 완성하였다.Except the bond promoting solution was prepared by dissolving 0.1% of tristrimethoxysilylpropylisocyanurate and 0.2% of bistrimethoxysilylethane (Aldrich) in a mixed solvent of methanol and water (60:40 weight ratio). , The same procedure as in Example 1 was carried out to complete a copper foil for a printed circuit.

비교예 1Comparative Example 1

방청막이 형성된 동박 상부에 결합 촉진 용액을 코팅하지 않은 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법에 따라 실시하여 인쇄회로용 동박을 완성하였다.A copper foil for printed circuits was completed in the same manner as in Example 1, except that the bonding promoting solution was not coated on the copper foil on which the rust preventive film was formed.

비교예 2Comparative Example 2

동박의 비광택면에 구리 이온 확산 방지막을 형성하기 이전에, 산화구리를 이용한 돌기상 처리공정을 실시한 후, 실시예 1과 동일한 방법에 따라 구리 이온 확산방지막과 방청막을 형성하였다.Before forming a copper ion diffusion prevention film on the non-gloss surface of copper foil, after carrying out the process of processing a process using copper oxide, the copper ion diffusion prevention film and the rustproof film were formed in the same manner as in Example 1.

이와 별도로, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란(위트코오스에스아이제, 상품명: A187)를 물에 0.2% 농도로 희석하여 결합 촉진 처리 용액을 제조하였다.Separately, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane (Witcose Eyes, trade name: A187) was diluted in water to a concentration of 0.2% to prepare a binding promoting treatment solution.

이어서, 방청막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 이 동박을 결합 촉진 처리 용액에 30초동안 침적한 다음, 110℃에서 5분동안 건조하였다.Subsequently, the copper foil on which the rust preventive film was formed was washed with water and dried, and the copper foil was immersed in the bond promoting treatment solution for 30 seconds and then dried at 110 ° C. for 5 minutes.

그 후, 결합 촉진 처리된 동박을 에폭시 수지 함침 유리섬유 기재(ANSI grade CEM-1)에 175℃, 50kgf/㎠로 2시간동안 성형하여 인쇄회로용 동박을 완성하였다.Then, the copper foil treated for bonding promotion was molded on an epoxy resin-impregnated glass fiber substrate (ANSI grade CEM-1) at 175 ° C. and 50 kgf / cm 2 for 2 hours to complete a copper foil for a printed circuit.

상기 실시예 1-2 및 비교예 1-2에 따라 제조된 인쇄회로용 동박의 성능을 다음과 같이 평가하였다.The performance of the copper foil for printed circuits prepared according to Example 1-2 and Comparative Example 1-2 was evaluated as follows.

1) 박리강도(kgf/㎠)1) Peeling strength (kgf / ㎠)

폭 1mm의 동박을 JIS C-6481에 준하여 측정한다.Copper foil of width 1mm is measured according to JIS C-6481.

2) 내염산성(염산처리후의 열화율)(%)2) Hydrochloric acid resistance (degradation rate after hydrochloric acid treatment) (%)

6N 염산 용액(25℃)에 1시간동안 침적한 다음, 침적 초기상태와 말기 상태의 박리강도 변화를 측정한다.After immersion in 6N hydrochloric acid solution (25 ° C.) for 1 hour, the change in peel strength between the initial and late deposition phases was measured.

열화율(%)=(초기 상태의 박리강도-말기 상태의 박리강도)/(초기 상태의 박리강도)×100Degradation Rate (%) = (Peel Strength in Initial State-Peel Strength in Terminal State) / (Peel Strength in Initial State) × 100

3) 가열처리후의 박리강도(kgf/㎠)3) Peel strength after heat treatment (kgf / ㎠)

열풍순환식 건조기에서 225℃, 80분동안 유지한 후의 박리강도를 측정한다.Peel strength after holding at 225 ° C. for 80 minutes in a hot air circulation dryer is measured.

4) 에칭성(에칭후 잔류물) 시험4) Etchability (resistance after etching) test

염화구리 6.6g/l, 염산 69.4g/l 및 과산화수소 5g/l 수용액을 혼합하여 에칭액을 제조한다. 얻어진 에칭액의 온도를 30℃로 조절한 다음, 여기에 동박-에폭시 수지 함침 유리 섬유 기재 적층판을 4분동안 침적한다. 이어서, 상기 결과물을 수세하여 기재 표면의 구리 잔류물 유무를 관찰한다.An etching solution is prepared by mixing copper chloride 6.6 g / l, hydrochloric acid 69.4 g / l, and hydrogen peroxide 5 g / l aqueous solution. After adjusting the temperature of the obtained etching liquid to 30 degreeC, the copper foil-epoxy resin impregnated glass fiber base laminated board is dipped here for 4 minutes. The resultant is then washed with water to observe the presence of copper residues on the surface of the substrate.

상기 실시예 1-2 및 비교예 1-2에 따라 제조된 인쇄회로용 동박의 박리강도, 염산처리후 열화율, 가열처리후 박리강도 및 에칭후 잔류물 유무를 측정하여 하기 표 1에 나타내었다.The peel strength of the copper foil for printed circuits prepared according to Examples 1-2 and Comparative Examples 1-2, the degradation rate after hydrochloric acid treatment, the peel strength after heat treatment, and the presence or absence of residue after etching are shown in Table 1 below. .

구분division 박리강도(kgf/㎠)Peel Strength (kgf / ㎠) 염산처리후 열화율(%)Degradation rate after hydrochloric acid treatment (%) 가열처리후 박리강도(kgf/㎠)Peel strength after heat treatment (kgf / ㎠) 에칭후 잔류물유무No residue after etching 실시예 1Example 1 1.801.80 5.25.2 1.241.24 없음none 실시예 2Example 2 1.921.92 5.55.5 1.421.42 없음none 비교예 1Comparative Example 1 0.780.78 25.025.0 0.660.66 없음none 비교예 2Comparative Example 2 1.891.89 6.36.3 1.401.40 있음has exist

상기 표 1로부터, 실시예 1 및 2에 따라 제조된 동장적층판은 비교예 1의 경우에 비하여 초기상태, 염산처리후 그리고 가열처리후 동박과 에폭시 수지 함침 유리섬유 기재와의 접착력이 매우 향상됨을 알 수 있었으며, 비교예 2에 따라 제조된 동박보다 에칭성이 향상됨을 확인할 수 있었다.Table 1 shows that the copper-clad laminates prepared according to Examples 1 and 2 have significantly improved adhesion between the copper foil and the epoxy resin-impregnated glass fiber substrate after the initial state, hydrochloric acid treatment and heat treatment, as compared with Comparative Example 1. It was able to confirm that the etching property improved compared with the copper foil manufactured according to the comparative example 2.

한편, 상기 실시예 및 비교예에 따라 제조된 인쇄회로용 동박을 전자현미경을 이용하여 그 표면 상태를 조사하였으며, 그 결과는 도 1 내지 4에 도시된 바와 같다.Meanwhile, the surface state of the copper foil for printed circuits manufactured according to the above Examples and Comparative Examples was examined using an electron microscope, and the results are shown in FIGS. 1 to 4.

도 1과 3은 비교예 2에 따라 제조된 동박의 표면과 단면에 대한 전자주사현미경 사진들이고, 도 2 및 4는 실시예 1 내지 3에 대한 것이다.1 and 3 are electron scanning micrographs of the surface and cross section of the copper foil prepared according to Comparative Example 2, Figures 2 and 4 are for Examples 1 to 3.

도 1을 참조하면, 동박 표면에 돌기상이 형성되어 있어서, 후에 절연기판과의 접착성이 양호하게 유지됨을 알 수 있었다.Referring to FIG. 1, it was found that protrusions were formed on the surface of the copper foil, so that adhesion to the insulating substrate was maintained well later.

반면, 실시예 1 내지 2에 따라 제조된 동박은 이러한 돌기상이 형성되어 있지 않음에도 불구하고, 절연기판과의 접착력이 상기 표 1에서 알 수 있는 바와 같이 비교예 1 및 2의 경우에 비하여 오히려 우수하였다. 또한, 비교예 2와 같이 돌기상에서 비롯된 잔류물로 인하여 인쇄회로용 기판의 절연특성이 저하되는 것도 효과적으로 방지할 수 있었다.On the other hand, the copper foil prepared according to Examples 1 to 2, although the protrusion is not formed, the adhesive force with the insulating substrate is rather excellent as compared with the case of Comparative Examples 1 and 2 as can be seen in Table 1 above It was. In addition, as in Comparative Example 2, it was also possible to effectively prevent the insulation characteristics of the printed circuit board from deteriorating due to residues originating from the projections.

본 발명에 따른 인쇄회로용 동박은 절연기판과의 접착면에 돌기상 처리공정을 실시하지 않고서도 절연기판과의 접착력이 우수하다. 그리고 이러한 동박을 제조하는 과정은 종래의 경우에 비하여 단순화되어 생산성이 향상된다.The copper foil for printed circuits according to the present invention is excellent in adhesive strength with an insulating substrate without performing a protrusion treatment process on the adhesive surface with the insulating substrate. And the process of manufacturing this copper foil is simplified compared with the conventional case, and productivity is improved.

또한, 상술한 동박을 이용하여 인쇄회로 기판을 제조하면 에칭후 잔류물로 인하여 절연기판의 절연특성이 저하되는 것을 막을 수 있을 뿐만 아니라 에칭속도를 향상시킬 수 있게 된다. 그 결과, 인쇄회로 기판의 생산성을 향상시키는 동시에 인쇄회로 기판의 불량률을 현저하게 줄일 수 있다.In addition, when the printed circuit board is manufactured using the above-described copper foil, not only the insulating property of the insulating substrate may be prevented from being lowered due to the residue after etching, but also the etching speed may be improved. As a result, the productivity of the printed circuit board can be improved and the defective rate of the printed circuit board can be significantly reduced.

Claims (7)

동박의 비광택면에 돌기상 처리 없이 구리 이온 확산 방지막이 형성되어 있으며, 구리 이온 확산 방지막이 형성된 동박의 양면에 방청막이 형성되어 있으며, 이 방청막이 형성된 동박의 단면 또는 양면에 화학식 1의 이소시아누레이트 화합물을 포함하는 표면처리막이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박.A copper ion diffusion barrier film is formed on the non-gloss surface of the copper foil without a protrusion treatment, and an rust preventive film is formed on both sides of the copper foil on which the copper ion diffusion barrier film is formed. The surface treatment film containing an anurate compound is formed, Copper foil for printed circuits characterized by the above-mentioned. <화학식 1><Formula 1> 상기식중, A는 -(CH2)aSi(R)b(OR)3-b으로 표시되고, a는 1 내지 8이고, b는 0 내지 3이고, R은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이다.Wherein A is represented by-(CH 2 ) a Si (R) b (OR) 3-b , a is 1 to 8, b is 0 to 3, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms . 제1항에 있어서, 상기 화학식 1의 이소시아누레이트 화합물이 트리스-[3-(트리메톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스-[3-(트리에톡시실릴)프로필]이소시아누레이트, 트리스-[3-(디메톡시실릴)프로필]이소시아누레이트 또는 트리스[-3-(메틸디메에톡시실릴)프로필]이소시아누레이트인 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박.The isocyanurate compound of Formula 1, wherein the isocyanurate compound of Formula 1 is tris- [3- (trimethoxysilyl) propyl] isocyanurate, tris- [3- (triethoxysilyl) propyl] isocyanu A copper foil for a printed circuit characterized by the above-mentioned, tris- [3- (dimethoxysilyl) propyl] isocyanurate or tris [-3- (methyldiethoxysilyl) propyl] isocyanurate. 제1항에 있어서, 상기 표면처리막에 화학식 2의 비스트리알콕시실릴알칸이 더 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박.The copper foil for a printed circuit according to claim 1, wherein the surface treatment film further comprises bistrialkoxysilylalkane of the formula (2). <화학식 2><Formula 2> (R'O)3Si(B)CSi(OR')3 (R'O) 3 Si (B) C Si (OR ') 3 상기식중, c는 1 내지 8이고, R'은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이고, B는 2가의 유기기를 나타낸다.In the formula, c is 1 to 8, R 'is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, and B represents a divalent organic group. 제3항에 있어서, 상기 B는 탄소수 1 내지 8의 알킬렌기, 2가의 방향족기, 실록산결합을 함유하고 있는 2가의 지방족기 또는 2가의 방향족 에스테르잔기인 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박.The copper foil for a printed circuit according to claim 3, wherein B is an alkylene group having 1 to 8 carbon atoms, a divalent aromatic group, a divalent aliphatic group containing a siloxane bond, or a divalent aromatic ester residue. 제3항에 있어서, 상기 화학식 2의 비스트리알콕시실릴알칸이 비스트리메톡시실릴에탄, 비스트리메톡시실릴프로판, 비스트리메톡시실릴부탄, 비스트리메톡실릴헥산 또는 비스트리메톡시실릴벤젠인 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박.The bistrialkoxysilyl alkane of Formula 2 is bistrimethoxysilylethane, bistrimethoxysilylpropane, bistrimethoxysilylbutane, bistrimethoxysilylhexane or bistrimethoxysilylbenzene. Copper foil for printed circuits, characterized in that. (a) 동박의 비광택면 상부에 돌기상 처리 없이 구리 이온 확산 방지막을 형성하는 단계;(a) forming a copper ion diffusion barrier layer on the non-gloss surface of the copper foil without protrusion treatment; (b) 구리 이온 확산 방지처리막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 동박의 양면에 방청막을 형성하는 단계; 및(b) washing and drying the copper foil on which the copper ion diffusion preventing film is formed, and then forming a rustproof film on both sides of the copper foil; And (c) 방청막이 형성된 동박을 수세 및 건조한 다음, 이 동박의 단면 또는 양면에 화학식 1의 이소시아누레이트를 포함하는 조성물을 코팅하여 표면처리막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박의 제조방법.(c) washing and drying the copper foil on which the rust-preventive film is formed, and then coating a composition containing isocyanurate of formula 1 on one or both surfaces of the copper foil to form a surface treatment film. Copper foil manufacturing method. <화학식 1><Formula 1> 상기식중, A는 -(CH2)aSi(R)b(OR)3-b으로 표시되고, a는 1 내지 8이고, b는 0 내지 3이고, R은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이다.Wherein A is represented by-(CH 2 ) a Si (R) b (OR) 3-b , a is 1 to 8, b is 0 to 3, and R is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms . 제6항에 있어서, 상기 (c) 단계의 이소시아누레이트 함유 조성물에 화학식 2의 비스트리알콕시실릴알칸이 더 부가되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로용 동박의 제조방법.The method of manufacturing a copper foil for a printed circuit according to claim 6, wherein bistrialkoxysilylalkane of the formula (2) is further added to the isocyanurate-containing composition of step (c). <화학식 2><Formula 2> (R'O)3Si(B)CSi(OR')3 (R'O) 3 Si (B) C Si (OR ') 3 상기식중, c는 1 내지 8이고, R'은 탄소수 1 내지 8의 알킬기이고, B는 2가의 유기기를 나타낸다.In the formula, c is 1 to 8, R 'is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, and B represents a divalent organic group.
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