KR20000008116A - Rod reducing method while testing signal device for relaying in exchange system - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 교환시스템의 중계용 신호장비의 시험시 로드감소방법에 관한 것으로, 특히 중계선용 신호장치를 시험할 시 프로세서의 로드를 감소시키는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for reducing a load during testing of relay signal equipment in an exchange system, and more particularly, to a method for reducing a load on a processor when testing a relay signal device.
일반적으로 교환시스템에서 신호장치의 서비스를 제공하는 제공하면 신호장비가 정상적인 서비스를 수행하고 있는 확인할 수 없으므로 이를 시험하여야 한다.In general, if a switching system provides a signaling device service, it should not be tested since the signaling equipment cannot perform normal service.
도 1은 일반적인 교환시스템의 중계용 신호장비를 시험하기 위한 블럭구성도이다.1 is a block diagram for testing the signaling equipment for relaying a general exchange system.
프로세서 110은 신호장치 112를 시험하기 위한 전반적인 제어를 수행한다. 상기 신호장치 112는 상기 프로세서 110의 제어에 따라 시험신호를 송출 또는 수신한다. 타임스위치 114는 상기 프로세서 110의 제어를 받아 스위칭 동작하여 중계선정합장치 116의 해당 중계선카드로 전송로를 연결한다. 중계선 정합장치 116은 상기 프로세서 110의 제어에 의해 상기 시험신호를 루핑하기 위한 채널을 형성한다.The processor 110 performs overall control for testing the signal device 112. The signal device 112 transmits or receives a test signal under the control of the processor 110. The time switch 114 is switched under the control of the processor 110 to connect a transmission path to a corresponding relay line card of the relay line matching device 116. The relay line matching device 116 forms a channel for looping the test signal under the control of the processor 110.
도 2는 종래의 신호장치의 시험을 위한 제어흐름도이다.2 is a control flowchart for testing a conventional signal device.
도 1 내지 도 2를 참조하여 종래의 신호장치의 시험동작을 설명하면, 101단계에서 프로세서 110은 시험명령이 입력되는지 검사하여 시험명령이 입력되면 102단계로 진행한다. 상기 102단계에서 프로세서 110은 시험을 위한 첫 번째 채널을 선택하며, 이때 중계선 정합장치 116에서 루프를 구성하여 시험데이터가 되돌아갈 수 있도록 연결한다. 그런후 103단계에서 프로세서 110은 일반 중계호를 서비스 하지 못하도록 중계선정합장치 116의 첫 번째 채널을 블록킹 시킨다. 그런후 104단계에서 프로세서 110은 타임스위치 114를 제어하여 신호장치 112와 중계선 정합장치 116이 연결되도록 한 후 상기 신호장치 112로부터 발생된 시험데이터를 송신하도록 한다. 그런후 105단계에서 프로세서 110은 시험응답데이터가 상기 신호장치 112로 수신되는지 검사하여 시험응답데이터가 수신되면 106단계로 진행한다. 상기 106단계에서 프로세서 110은 응답 시험데이터를 분석하여 시험결과를 출력하고 107단계로 진행한다. 상기 107단계에서 프로세서 110은 중계선 정합장치 116을 복구하고 108단계로 진행한다. 상기 108단계에서 프로세서 110은 다음 시험할 채널이 있는가 검사하여 시험할 채널이 있으면 109단계로 진행한다. 상기 109단계에서 프로세서 110은 다음 시험할 채널을 선택하고 103단계로 돌아가 다시 중계선 정합장치 116을 블록킹하여 다음 채널을 시험하고, 이와 같은 방법으로 모든 채널의 시험이 종료될 때 까지 반복수행한다.Referring to FIGS. 1 and 2, a test operation of a conventional signal device is described. In step 101, the processor 110 checks whether a test command is input and proceeds to step 102 when a test command is input. In step 102, the processor 110 selects the first channel for the test, and in this case, the relay line matching device 116 forms a loop and connects the test data to be returned. Thereafter, in step 103, the processor 110 blocks the first channel of the relay line matching device 116 so that the general relay call cannot be serviced. Thereafter, in step 104, the processor 110 controls the time switch 114 to connect the signal device 112 and the relay line matching device 116, and then transmits the test data generated from the signal device 112. Thereafter, in step 105, the processor 110 checks whether test response data is received by the signal device 112, and when the test response data is received, the processor 110 proceeds to step 106. In step 106, the processor 110 analyzes the response test data, outputs a test result, and proceeds to step 107. In step 107, the processor 110 recovers the relay line matching device 116 and proceeds to step 108. In step 108, the processor 110 checks whether there is a channel to be tested and if there is a channel to be tested, the processor 110 proceeds to step 109. In step 109, the processor 110 selects a channel to be tested next, and returns to step 103, blocks the relay line matching device 116 again to test the next channel, and repeats the test until all channels are finished in this manner.
이와같이 종래에는 시험장치를 중계선 정합장치의 각 채널별로 시험할 때마다 중계선 정합장치를 블록킹 하였다가 다시 복구시키는 동작을 반복 수행하므로 프로세서의 로드가 증가되어 문제가 있었다.As described above, since the test apparatus is repeatedly performed to block and restore the relay line matching device every time the test apparatus is tested for each channel of the relay line matching device, the load of the processor is increased.
따라서 본 발명의 목적은 교환시스템의 신호장치 시험 시 프로세서의 로드를 줄일수 있는 방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for reducing the load on a processor when testing a signal device of an exchange system.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 교환시스템의 신호장치 시험 시 모든 채널의 시험이 끝날 때 까지 중계선 정합장치를 블록킹 시키고, 모든 채널 시험이 종료될 때 중계선 정합장치를 복구시켜 프로세서의 로드를 감시시킴을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention, in the signaling device test of the switching system, blocks the relay line matching device until the test of all channels is completed, and monitors the load of the processor by restoring the relay line matching device when all the channel tests are completed. It is characterized by.
도 1은 일반적인 교환시스템의 중계용 신호장비를 시험하기 위한 블록구성도1 is a block diagram for testing the signal equipment for relaying a general exchange system
도 2는 종래의 신호장치의 시험을 위한 제어흐름도2 is a control flow diagram for the test of the conventional signal device
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 신호장치 시험을 위한 제어흐름도3 is a control flowchart for testing a signal device according to an embodiment of the present invention;
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예의 동작을 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the operation of the preferred embodiment of the present invention.
본 발명의 실시예에 따른 하드웨어블럭 구성은 도 1과 같으며, 참조부호도 동일하다.The hardware block configuration according to the embodiment of the present invention is the same as that of FIG.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 신호장치 시험을 위한 제어흐름도이다.3 is a control flowchart for testing a signal device according to an embodiment of the present invention.
상술한 도 1 및 도 3을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 3 described above.
201단계에서 프로세서 110은 시험명령이 입력되는지 검사하여 시험명령이 입력되면 102단계로 진행한다. 상기 202단계에서 프로세서 110은 시험을 위한 첫 번째 채널을 선택하며, 이때 중계선 정합장치 116에서 루프를 구성하여 시험데이터가 되돌아갈 수 있도록 연결한다. 그런후 203단계에서 프로세서 110은 일반 중계호를 서비스 하지 못하도록 중계선정합장치 116의 모든 채널을 블록킹 시킨다. 그런후 204단계에서 프로세서 110은 타임스위치 114를 제어하여 신호장치 112와 중계선 정합장치 116이 연결되도록 한 후 상기 신호장치 112로부터 발생된 시험데이터를 송신하도록 한다. 그런후 205단계에서 프로세서 110은 시험응답데이터가 상기 신호장치 112로 수신되는지 검사하여 시험응답데이터가 수신되면 206단계로 진행한다. 상기 206단계에서 프로세서 110은 응답 시험데이터를 분석하여 시험결과를 출력하고 207단계로 진행한다. 상기 207단계에서 프로세서 110은 다음 시험할 채널이 있는가 검사하여 시험할 채널이 있으면 208단계로 진행한다. 상기 209단계에서 프로세서 110은 다음 시험할 채널을 선택하고 204단계로 돌아가 시험데이터를 송신하여 다음 채널을 시험한다. 이와같은 동작을 반복수행하여 마지막 채널까지 시험이 완료되어 시험할 채널이 없으면 209단계로 진행하여 프로세서 110은 중계선 정합장치 116의 모든 채널을 복구하여 일반중계호 서비스가 가능하도록 한다.In step 201, the processor 110 checks whether a test command is input, and if the test command is input, the processor 110 proceeds to step 102. In step 202, the processor 110 selects the first channel for the test, and in this case, the relay line matching device 116 forms a loop and connects the test data to be returned. Thereafter, in step 203, the processor 110 blocks all channels of the relay line matching device 116 so that the general relay call cannot be serviced. Thereafter, in step 204, the processor 110 controls the time switch 114 to connect the signal device 112 and the relay line matching device 116, and then transmits the test data generated from the signal device 112. Thereafter, in step 205, the processor 110 checks whether test response data is received by the signal device 112, and when the test response data is received, the processor 110 proceeds to step 206. In step 206, the processor 110 analyzes the response test data, outputs a test result, and proceeds to step 207. In step 207, the processor 110 checks whether there is a channel to be tested and if there is a channel to be tested, the processor 110 proceeds to step 208. In step 209, the processor 110 selects a channel to be tested next, and returns to step 204 to test the next channel by transmitting test data. If the test is completed until the last channel and there is no channel to test, the processor 110 proceeds to step 209 and the processor 110 recovers all channels of the relay line matching device 116 to enable general relay call service.
상술한 바와 같이 본 발명은, 교환시스템에서 중계용 신호장치 시험시 시험을 시작할 때 모든 중계선 정합장치의 채널을 블록킹하고, 모든 채널의 시험이 종료될 시 블록킹한 채널을 복구하므로써 중계용 신호장치 시험 시 프로세서의 로드를 줄일수 있는 이점이 있다.As described above, the present invention provides a signaling device test by blocking the channels of all the relay line matching devices when the test is started during the signaling device test in the switching system, and restoring the blocked channels when the testing of all the channels ends. There is an advantage to reduce the load on the processor.
Claims (1)
Priority Applications (1)
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KR1019980027798A KR20000008116A (en) | 1998-07-10 | 1998-07-10 | Rod reducing method while testing signal device for relaying in exchange system |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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KR1019980027798A KR20000008116A (en) | 1998-07-10 | 1998-07-10 | Rod reducing method while testing signal device for relaying in exchange system |
Country Status (1)
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1998
- 1998-07-10 KR KR1019980027798A patent/KR20000008116A/en not_active Application Discontinuation
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