KR20000007374A - Method for detecting electrode short position of plasma display panel - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A method for detecting an electrode short position of a plasma display panel is provided to detect a short generation position when a short is generated between two address electrode or maintenance electrodes. CONSTITUTION: In a plasma display panel having a first electrode formed on a substrate, and a second electrode formed on the first electrode, the method determines (S11) whether a short occurs between the first electrode or the second electrode or not. The method measures (S12) a short position detection resistance value if two electrodes are shorted. By using the short position detection resistance value and the short position detection equation, the method detects (S13) a short position. Thereby, a working time is reduced, and working efficiency is enhanced.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법Electrode short circuit position detection method of plasma display panel

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에서 인접한 두 어드레스 전극 또는 유지전극간에 단락(Short)발생시 단락이 발생한 위치를 검출하기 위한 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for detecting an electrode short circuit position of a plasma display panel for detecting a position where a short circuit occurs when a short occurs between two adjacent address electrodes or sustain electrodes in the plasma display panel.

일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널은 방전용가스 즉, 불활성가스의 방전에서 발생되는 자외선에 의해 형광체를 발광시켜 일정 영상을 디스플레이 하기 위한 장치로서, 그 구조는 도 1에 도시된 바와 같이, 광투과를 용이하게 하기 위해 유리로 이루어진 전면기판(1), 상기 전면기판(1) 상측면에 가로 방향으로 일정간격을 갖도록 형성되어 방전전압을 유지시키기 위해 투명전극(2) 및 금속전극(3)으로 이루어진 유지전극(2)(3), 상기 유지전극(2)(3)을 포함한 전면기판(1) 전면에 형성되어 유지전극(2)(3)을 보호하기 위한 유전층(4), 상기 유전층(4)을 보호하여 수명을 연장시키고 2차 전자방출효과를 향상시키며 방전특성을 변화를 줄여주기 위한 보호층(5), 배면기판(6), 상기 배면기판(6) 상부 전면에 형성된 하지막(7), 상기 하지막(7) 상측면에 상기 유지전극(2)(3)과 직교방향으로 일정간격을 갖도록 형성된 어드레스전극(8), 상기 어드레스전극(8)을 포함한 하지막(7) 전면에 형성된 화이트백(9), 상기 전면기판(1)과 배면기판(6)간의 간격을 유지하고 각 셀간의 오방전을 방지하기 위하여 하측의 각 어드레스전극(8)을 사이에 두고 어드레스전극(8)과 평행하게 형성된 격벽(10), 상기 각각의 격벽(10)사이에 형성된 적색, 녹색 및 청색(R,G,B)의 형광층(11)으로 이루어진다.In general, the plasma display panel is a device for displaying a predetermined image by emitting a phosphor by ultraviolet rays generated from the discharge gas, that is, the inert gas discharge, the structure is as shown in Figure 1, it is easy to transmit light In order to maintain a discharge voltage, a sustain electrode made of a transparent electrode 2 and a metal electrode 3 is formed to have a predetermined interval in the horizontal direction on the front substrate 1 made of glass and on the upper side of the front substrate 1. (2) (3) and a dielectric layer 4 and a dielectric layer 4 formed on the front surface of the front substrate 1 including the sustain electrodes 2 and 3 to protect the sustain electrodes 2 and 3. A protective layer (5), a back substrate (6), an underlayer (7) formed on the entire upper surface of the back substrate (6), for protection, to extend the lifespan, to improve the secondary electron emission effect, and to reduce the discharge characteristics. The sustain electrode 2 on the underside of the underlayer 7 (3) an address electrode (8) formed at regular intervals in a direction orthogonal to (3), a white back (9) formed on the entire surface of the underlayer (7) including the address electrode (8), the front substrate (1) and the back substrate ( 6) partition walls 10 formed in parallel with the address electrodes 8 with each of the lower address electrodes 8 therebetween to maintain a gap therebetween and to prevent misdischarge between cells; And a fluorescent layer 11 of red, green, and blue (R, G, B) formed thereon.

이와 같이 상기 전면기판(1) 및 배면기판(6) 구조가 완료되면 진공상태로 원하는 방전용가스를 충전하기 위하여 상기 배면기판(6)에 배기홀을 형성한다.As such, when the structure of the front substrate 1 and the rear substrate 6 is completed, an exhaust hole is formed in the rear substrate 6 to fill a desired discharge gas in a vacuum state.

이어서 상기 전면기판(1) 및 배면기판(6)의 주변부에 합착용 프릿(Frit)을 도포한 후 합착을 완료하면 전면기판(1)과 배면기판(6)사이에 방전공간이 형성된다.Subsequently, after applying the bonding frit to the periphery of the front substrate 1 and the rear substrate 6 and completing the bonding, a discharge space is formed between the front substrate 1 and the rear substrate 6.

그리고 상기 배기홀을 통해 원하는 광특성에 따른 방전용가스를 주입하여 플라즈마 디스플레이 패널 제조 전공정이 완료된다.In addition, the entire process of manufacturing the plasma display panel is completed by injecting a discharge gas according to desired optical characteristics through the exhaust hole.

이때 직류형 플라즈마 디스플레이 패널의 경우, 방전용가스로서 불활성기체인 헬륨(He: Helium)-제논(Xe: Xenon)의 2원가스를 사용하고 교류형 플라즈마 디스플레이 패널의 경우, 네온(Ne: Neon)-제논(Xe)의 2원가스를 사용하는데, 일부 직류형/교류형 구별없이 네온(Ne)-제논(Xe), 헬륨(He)-제논(Xe) 2원가스를 특성에 적합하게 사용하고 있다.At this time, in the case of the DC plasma display panel, a binary gas of helium (He: Helium) -Xenon (Xeon), which is an inert gas, is used as a discharge gas, and in the case of an AC plasma display panel, neon (Ne: Neon) is used. It uses two-way gas of xenon (Xe). Neon-Xen, Helium-Hexenon (Xe) binary gas is used for characteristics without any DC / AC distinction. have.

또한 상기 2원가스를 사용함으로 인한 수명단축, 색순도저하, 고동작전압, 발광휘도저하 등의 문제를 해소하기 위하여 헬륨(He)-네온(Ne)-제논(Xe)이 일정 조성비로 혼합된 3원가스를 사용하기도 한다.In addition, helium (He) -neon (Ne) -xenon (Xe) is mixed at a constant composition ratio in order to solve problems such as shortening of life, reduced color purity, high operating voltage, and lowered luminance due to the use of the binary gas. Raw gas may also be used.

이와 같이 제조가 완료된 플라즈마 디스플레이 패널은 배면기판(6)에 형성된 어드레스전극(8)과 전면기판(1)에 형성된 유지전극(2)(3)에 방전개시 전압 이상의 전압을 인가하면, 내부에 충전된 방전용가스가 여기되고 다시 기저상태로 천이하면서 발생하는 자외선이 형광층(11)을 자극시켜 가시광을 발생시키고 이 광을 이용하여 화면에 원하는 화상을 표시하는 것이다.The plasma display panel manufactured as described above is charged internally when a voltage equal to or higher than the discharge start voltage is applied to the address electrode 8 formed on the rear substrate 6 and the sustain electrodes 2 and 3 formed on the front substrate 1. The generated discharge gas is excited and transitions back to the ground state to generate the visible light by stimulating the fluorescent layer 11 to display a desired image on the screen.

이때 플라즈마 디스플레이 패널의 제조공정중 전극라인의 공정불량으로 인하여 어드레스전극(8) 또는 유지전극(2)(3)중 단락이 발생되는 경우 과전류로 인해 회로가 손상되어 해당 셀 및 화소가 정확한 색상을 구현하지 못하거나 화소의 밝기가 다르게되는 등의 동작에러를 유발하므로 전면기판(1) 또는 배면기판(6) 제조시 전극의 단락여부를 검사하여 단락을 제거하는 등 적절한 제반조치를 취하기 위한 과정이 제조과정의 필수요소로 수행되고 있다.At this time, if a short circuit occurs in the address electrode 8 or the sustain electrode 2 or 3 due to a poor process of the electrode line during the manufacturing process of the plasma display panel, the circuit may be damaged due to overcurrent, thereby causing the cells and pixels to display accurate colors. Since it causes an operation error such as failure to implement or the brightness of the pixel is different, the process for taking appropriate measures such as removing the short circuit by inspecting whether the electrode is shorted when manufacturing the front substrate 1 or the back substrate 6 is necessary. It is carried out as an integral part of the manufacturing process.

이하, 종래의 기술에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극단락위치 검출방법을 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an electrode short position detection method of a plasma display panel according to the related art will be described.

종래에는 배면기판(6) 및 어드레스전극(8) 패드(Pad)의 제조공정이 완료되면 각각의 어드레스전극(8)의 패드에 개방/단락 검사기(Open/Short Checker)를 접속시켜 인접한 어드레스전극(8)간의 단락여부를 판단한다.In the related art, when the manufacturing process of the back substrate 6 and the pad of the address electrode 8 is completed, an open / short checker is connected to the pad of each address electrode 8 so that the adjacent address electrodes ( 8) Determine whether there is a short circuit between

이때 단락여부판단은 두 어드레스전극(8)중 어느 하나의 우측단과 나머지의 좌측단 또는 어느 하나의 좌측단과 나머지의 우측단에 일정 전류를 인가하여 통전여부를 파악하므로서 이루어진다.At this time, the short circuit decision is made by applying a constant current to either the right end and the left end of either of the two address electrodes 8 or the left end and the right end of any one of the two address electrodes 8 to determine whether the current is energized.

즉, 두 전극이 통전되면 단락된 것으로 판단하는 것이다.In other words, when the two electrodes are energized, it is determined that the short circuit.

이어서 두 어드레스전극(8)의 단락이 확인되면 제어장치에 의해 제어되는 고배율 카메라로 어드레스전극(8)의 전구간에 대해 스캐닝(Scanning)을 수행하여 단락위치를 검출한다.Subsequently, when a short circuit between the two address electrodes 8 is confirmed, a short-circuit position is detected by scanning the entire area of the address electrode 8 with a high magnification camera controlled by the control device.

그리고 상기 제어장치의 제어에 의해 레이저 복구장치(Laser Repair)가 해당 단락위치의 단락을 제거하고 잔여 제조공정을 수행하여 플라즈마 디스플레이 패널 제조를 완료한다.Under the control of the control device, a laser repair apparatus removes a short circuit at a corresponding short circuit position and performs a remaining manufacturing process to complete the manufacture of the plasma display panel.

한편, 유지전극(2)(3)중 투명전극의 경우 상술한 카메라 스캐닝에 의해 단락위치의 검출이 불가능하여 사람이 직접 육안으로 단락위치를 검출해야하므로 장시간이 소요된다.On the other hand, in the case of the transparent electrodes of the sustain electrodes (2) and (3), it is impossible to detect the short circuit position by the above-described camera scanning, and thus it takes a long time because a human must directly detect the short circuit position.

종래의 기술에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법은 다음과 같은 문제점이 있다.The electrode short position detection method of the conventional plasma display panel has the following problems.

첫째, 전극단락이 검출되면 전극의 전구간을 카메라로 스캐닝하여 단락위치를 검출하므로 장시간이 소요된다.First, when an electrode short is detected, a short time is detected by scanning the entire region of the electrode with a camera, which takes a long time.

둘째, 투명전극의 경우 카메라 스캐닝이 불가능하여 작업자가 직접 육안으로 단락위치검출을 수행해야 하므로 상당히 많은 시간이 소요됨과 동시에 검출의 정확도가 저하된다.Second, in the case of the transparent electrode, camera scanning is impossible, so the operator must perform the short-circuit position detection by the naked eye, which takes a considerable amount of time and decreases the accuracy of the detection.

따라서 본 발명은 상기한 종래의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 단락위치 검출의 시간을 단축시킴과 동시에 정확도를 향상시킬 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법을 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for detecting an electrode short-circuit position of a plasma display panel that can shorten the time for short-circuit position detection and improve accuracy. have.

도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 레이아웃도1 is a layout showing the structure of a typical plasma display panel

도 2는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법을 나타낸 플로우챠트2 is a flowchart illustrating a method of detecting an electrode short circuit position of a plasma display panel according to the present invention.

도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 따른 전극 단락위치 검출용 저항값 측정방법을 나타낸 도면3A to 3D are diagrams illustrating a resistance value measuring method for detecting an electrode short circuit position according to the present invention.

도 4a 내지 도 4d는 본 발명에 따른 전극의 액티브 영역에 대한 단락위치 검출용 저항값 측정방법을 나타낸 도면4A to 4D are diagrams illustrating a method for measuring a resistance value for detecting a short circuit position in an active region of an electrode according to the present invention.

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings

8a, 8b: 어드레스 전극8a, 8b: address electrode

본 발명은 제 1기판상에 형성된 제 1전극과 제 2기판상에 형성된 제 2전극을 갖는 플라즈마 디스플레이 패널에서, 제 1전극 또는 제 2전극중 인접한 두 전극의 단락여부를 판단하는 단계와, 그 판단결과 두 전극이 단락된 것으로 판단되면 단락위치 검출용 저항값을 측정하는 단계와, 단락위치 검출용 저항값 및 단락위치 검출식을 이용하여 단락위치를 검출하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.According to the present invention, a plasma display panel having a first electrode formed on a first substrate and a second electrode formed on a second substrate comprises the steps of: determining whether the adjacent two electrodes of the first electrode or the second electrode are short-circuited; If it is determined that the two electrodes are short-circuited, measuring the short-circuit position detection resistance value, and detecting the short-circuit position by using the short-circuit position detection resistance value and the short-circuit position detection formula. .

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법의 바람직한 일실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of an electrode short circuit position detection method of a plasma display panel according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법을 나타낸 플로우챠트, 도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 단락위치 검출용 저항값 측정방법을 나타낸 도면이고, 도 4a 내지 도 4d는 본 발명에 따른 전극의 액티브 영역에 대한 단락위치 검출용 저항값 측정방법을 나타낸 도면이다.2 is a flowchart illustrating a method for detecting an electrode short circuit position in a plasma display panel according to the present invention, and FIGS. 3A to 3D are views illustrating a method for measuring a resistance value for detecting a short circuit position in a plasma display panel according to the present invention. 4D illustrate a method of measuring a resistance value for detecting a short circuit position in an active region of an electrode according to the present invention.

본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법은 도 2에 나타낸 바와 같이, 배면기판(6) 및 어드레스전극(8) 패드의 제조공정이 완료되면 각각의 어드레스전극(8) 패드에 개방/단락 검사기를 접속시켜 인접한 어드레스전극(8) 간의 단락여부를 판단한다(S11).As shown in FIG. 2, the method of detecting the short circuit position of the electrode of the plasma display panel according to the present invention is opened / closed on each of the pads of the address electrode 8 when the manufacturing process of the pads of the back substrate 6 and the address electrode 8 is completed. A short circuit checker is connected to determine whether a short circuit between adjacent address electrodes 8 occurs (S11).

이때 단락여부판단은 종래의 기술과 마찬가지로 도 3a의 제 1어드레스전극(8a)과 제 2어드레스전극(8b)의 통전여부에 따라 수행하거나 개방/단락 검사기를 통해 제 1어드레스전극(8a)의 좌측단 또는 우측단과 제 2어드레스전극(8b)의 우측단 또는 좌측단의 선저항값을 측정하여 측정된 선저항값이 무한대인지 여부를 판단하여 수행될 수 있다.At this time, the short-circuit determination is performed according to whether the first address electrode 8a and the second address electrode 8b of FIG. 3a are energized as in the conventional art or the left side of the first address electrode 8a through the open / short tester. The resistance may be performed by measuring the line resistance of the right end or the left end of the right end and the second address electrode 8b and determining whether the measured line resistance is infinite.

즉, 제 1어드레스전극(8a)과 제 2어드레스전극(8b)이 개방된 경우 상기 선저항값이 무한대이고 단락된 경우 선저항값이 무한대가 아니므로 단락여부를 판단할 수 있는 것이다.That is, when the first address electrode 8a and the second address electrode 8b are open, the line resistance value is infinity, and when the short circuit is shorted, it is possible to determine whether the short circuit occurs.

이어서 상기 판단결과(S11), 제 1어드레스전극(8a)과 제 2어드레스전극(8b)이 단락되었으면 도 3b 내지 도 3d와 같이, 단락위치 검출용 저항값(A',B',C')을 측정한다(S12).Subsequently, when the determination result (S11), the first address electrode (8a) and the second address electrode (8b) is short-circuited, as shown in Figs. 3b to 3d, the resistance value (A ', B', C ') for detecting the short circuit position. It is measured (S12).

이때 A'는 도 3b에 도시된 바와 같이, 제 1어드레스전극(8a)의 좌측단과 제 2어드레스전극(8b)의 우측단의 선저항값이고, B'는 도 3c에 도시된 바와 같이, 제 1어드레스전극(8a)의 좌측단과 제 2어드레스전극(8b)의 좌측단의 선저항값이며, C'는 제 1어드레스전극(8a) 또는 제 2어드레스전극(8b)자체의 선저항값으로 제 1어드레스전극(8a)과 제 2어드레스전극(8b) 자체의 선저항값은 거의 동일하므로 이하의 설명에서 동일한 것으로 설정한다.At this time, A 'is a line resistance value of the left end of the first address electrode (8a) and the right end of the second address electrode (8b), as shown in Figure 3b, B' is shown in FIG. It is the line resistance value of the left end of the first address electrode 8a and the left end of the second address electrode 8b, and C 'is the line resistance value of the first address electrode 8a or the second address electrode 8b itself. Since the line resistance values of the first address electrode 8a and the second address electrode 8b themselves are almost the same, they are set to the same in the following description.

또한 상기 선저항값(A',B',C')은 개방/단락 검사기에 의해 측정가능하다.Also, the wire resistance values A ', B', and C 'can be measured by an open / short tester.

여기서, X'는 측정기기 즉, 개방/단락 검사기 프로브(Probe)의 원점으로 부터 단락위치까지의 거리이고, L은 제 1 어드레스전극(8a) 또는 제 2어드레스전극(8b)의 액티브 영역(Active Area)의 길이이며, y는 개방/단락 검사기 프로브의 원점에 따른 좌표보상값이고, e는 B'+C'-A'값이 액티브 영역내의 선저항값이 될 수 있도록 패드부 길이에 대한 저항과 개방/단락 검사기의 접촉저항을 보정한 값이며, d는 C'값이 액티브 영역내의 선저항값이 될 수 있도록 패드부 길이에 대한 저항과 개방/단락 검사기의 접촉저항을 보정한 값이다.X 'is the distance from the origin of the measuring device, i.e., the open / short tester probe, to the short-circuit position, and L is the active area of the first address electrode 8a or the second address electrode 8b. Length), y is the coordinate compensation value according to the origin of the open / short tester probe, and e is the resistance to the pad length so that the value of B '+ C'-A' becomes the line resistance value in the active area. D is the value that corrects the contact resistance of the open / short tester, and d is a value that corrects the resistance of the pad portion length and the contact resistance of the open / short tester so that the C 'value becomes a line resistance value in the active region.

그리고 상기 저항값(A',B',C')측정 및 보정값(d,e,y)산출이 완료되면 그 값들이 제어장치에 입력되고 제어장치는 내부의 메모리에 기저장된 수학식 1 즉, 단락위치 검출식을 이용하여 전극 단락위치를 검출한다(S13).When the measurement of the resistance values A ', B', C 'and calculation of the correction values d, e, and y are completed, the values are input to a control device, and the control device is expressed in Equation 1 previously stored in an internal memory. Using the short-circuit position detection equation, the electrode short-circuit position is detected (S13).

이때 단락위치 검출식의 성립배경을 살펴보면 다음과 같다.In this case, the establishment background of the short-circuit position detection equation is as follows.

즉, 개방/단락 검사기 프로브의 원점에서 단락이 발생한 위치까지의 거리가 X'이고 전극의 액티브 영역의 길이는 L이며, 제 1 및 제 2어드레스전극(8a)(8b) 각각의 단락위치간의 거리에 해당하는 저항값을 R로 설정하여 A',B',C'와의 관계식을 정의하면 다음과 같다.That is, the distance from the origin of the open / short tester probe to the position where the short circuit occurs is X ', the length of the active region of the electrode is L, and the distance between the short circuit positions of each of the first and second address electrodes 8a and 8b. If the resistance value corresponding to R 'is defined as R', B ', and C', the following equation is defined.

먼저, 계산을 용이하게 하기 위하여 제 1 및 제 2어드레스전극(8a)(8b)의 액티브 영역에 대해서 관계식을 정의한 다음 개방/단락기 프로브의 원점 좌표에 의한 거리와 접촉저항보상 및 패드부의 저항값보상을 수행하기로 한다.First, in order to facilitate the calculation, a relational expression is defined for the active regions of the first and second address electrodes 8a and 8b, and then the distance and contact resistance compensation based on the origin coordinates of the open / short-circuit probe and the resistance value of the pad part. I will perform the compensation.

도 4c에 도시된, 제 1어드레스전극(8a)과 제 2어드레스전극(8b)의 길이 및 선저항값 C는 거의 동일하므로, 도 4b와 같이, 제 1어드레스전극(8a)의 좌측단과 제 2어드레스전극(8b)의 우측단의 선저항값 A= R + C가 정의된다.Since the length and the line resistance value C of the first address electrode 8a and the second address electrode 8b shown in FIG. 4C are almost the same, as shown in FIG. 4B, the left end and the second end of the first address electrode 8a are the same. The line resistance value A = R + C at the right end of the address electrode 8b is defined.

그리고 도 4a에 도시된, X의 선저항값은 길이 L에 비례하여 XC/L가 되며, B는 도 4c와 같이, 제 1어드레스전극(8a)의 좌측단과 제 2어드레스전극(8b)의 좌측단의 선저항값으로 X의 2배가되므로 결국, B = R + 2× XC/L이 정의된다.4A, the line resistance value of X becomes XC / L in proportion to the length L, and B is the left end of the first address electrode 8a and the left side of the second address electrode 8b as shown in FIG. 4C. In the end, B = R + 2 x XC / L is defined because the wire resistance value of the stage is doubled as X.

이와 같이, A, B가 정의되면, A - B연산하여 R을 소거하고 X에 관하여 풀면 결국, 수학식 2가 성립된다.Thus, when A and B are defined, if A and B are calculated to eliminate R and solve for X, Equation 2 is established.

그리고 상기 수학식 2에 실제 개방/단락 검사기의 원점으로부터 단락위치까지의 거리보상값, 패드저항값 및 프로브 접촉저항값을 보상하기 위한 동작을 수행한다.Then, in Equation 2, an operation for compensating the distance compensation value, the pad resistance value, and the probe contact resistance value from the origin of the open / short tester to the short circuit position is performed.

먼저, 액티브영역만으로 한정한 전극에 대한 변수 X,A,B,C대신 패드부를 포함한 실제 전극에 대한 변수 X',A',B',C'를 대입하면 수학식 3이 성립된다.First, Equation 3 is established by substituting variables X ', A', B ', and C' for actual electrodes including pads instead of variables X, A, B, and C for electrodes defined only in the active region.

이어서 상기 수학식 3의 (B'+C'-A')에 대하여 각각의 패드부저항 및 접촉저항 보상값 e를 가산하면 수학식 4가 성립된다.Subsequently, the pad portion resistance and the contact resistance compensation value e are added to (B '+ C'-A') of Equation 3 to establish Equation 4.

이때 e는 각각의 변수 B',C', A'를 액티브 영역내의 값으로 한정하기 위하여 패드부저항 및 접촉저항을 보상한 값이므로 다음과 같이 정의 된다.In this case, e is a value compensated for the pad part resistance and the contact resistance in order to limit each variable B ', C', and A 'to a value in the active region.

e = -[(B'값의 패드부저항) + 2×(프로브의 접촉저항)]-[(C'값의 패드부저항) + 2×(프로브의 접촉저항)]+[2×(A'값의 패드부저항) + 2×(프로브 접촉저항)]e =-[(pad part resistance at B 'value) + 2 × (probe contact resistance)]-[(pad part resistance at C' value) + 2 × (probe contact resistance)] + [2 × (A Value of pad resistance) + 2 x (probe contact resistance)]

다음으로 수학식 3의 C'에 대하여 패드부저항 및 접촉저항 보상값으로 d를 가산하면 수학식 5가 성립된다.Next, when d is added to the pad portion resistance and the contact resistance compensation value with respect to C 'of Equation 3, Equation 5 is established.

이때 d는 C'를 액티브영역내의 값으로 한정하기 위하여 패드부저항 및 접촉저항을 보상한 값이므로 다음과 같이 정의된다.In this case, d is a value compensated for the pad part resistance and the contact resistance in order to limit C 'to a value in the active region, and is defined as follows.

d = -[(C'값의 패드부저항) + 2×(프로브의 접촉저항)]d =-[(pad resistance at C ') + 2 x (contact resistance at probe)]

마지막으로 수학식 5의 X'에 대하여 개방/단락 검사기 프로브 실제 원점의 좌표보상값으로 y를 더하면 결국, 수학식 1이 성립되는 것이다.Finally, when y is added to the coordinate of the actual origin of the open / short checker probe with respect to X 'in Equation 5, Equation 1 is established.

이어서 상기 수학식 1에 의해 단락위치가 검출되면 제어장치가 레이저 복구장치를 제어하여 해당위치의 단락이 제거되도록 한다(S14).Subsequently, when the short circuit position is detected by Equation 1, the controller controls the laser recovery apparatus to remove the short circuit at the corresponding position (S14).

본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법은 다음과 같은 효과가 있다.The electrode short circuit position detection method of the plasma display panel according to the present invention has the following effects.

첫째, 단락이 발생한 위치를 신속하게 검출하여 해당조치를 취할 수 있으므로 즉, 단락을 제거할 수 있으므로 작업시간을 단축시켜 작업효율을 향상시킬 수 있다.First, it is possible to quickly detect the location where the short circuit occurs and take the corresponding action, that is, the short circuit can be removed, thereby reducing work time and improving work efficiency.

둘째, 투명전극의 경우에도 선저항값을 이용한 관계식에 의해 제어장치가 단락위치를 검출하므로 단락위치 검출의 정확도를 향상시킬 수 있다.Second, even in the case of the transparent electrode, since the control device detects the short circuit position by the relational expression using the line resistance value, the accuracy of the short circuit position detection can be improved.

Claims (7)

제 1기판상에 형성된 제 1전극과 제 2기판상에 형성된 제 2전극을 갖는 플라즈마 디스플레이 패널에서,In a plasma display panel having a first electrode formed on a first substrate and a second electrode formed on a second substrate, 상기 제 1전극 또는 제 2전극중 인접한 두 전극의 단락여부를 판단하는 단계;Determining whether two adjacent electrodes of the first electrode or the second electrode are short-circuited; 상기 판단결과 두 전극이 단락된 것으로 판단되면 단락위치 검출용 저항값을 측정하는 단계;Measuring a resistance value for detecting a short circuit position when it is determined that the two electrodes are short-circuited; 상기 단락위치 검출용 저항값 및 단락위치 검출식을 이용하여 단락위치를 검출하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.And detecting the short circuit position by using the short circuit position detection resistance value and the short circuit position detection equation. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 단락여부를 판단하는 단계는 상기 두 전극중 어느 하나의 일단과 나머지 하나의 일단의 선저항값이 무한대인지 여부를 판단하는 단계와,The determining whether the short circuit may include determining whether the line resistance values of one end of one of the two electrodes and one end of the other one are infinite; 상기 판단결과 선저항값이 무한대이면 개방으로 판단하는 단계와,Judging that the wire resistance value is infinity as the result of the determination; 상기 판단결과 선저항값이 무한대가 아니면 단락으로 판단하는 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.And determining the line resistance value as a short circuit if the line resistance value is not infinite, wherein the short circuit position detection method of the plasma display panel is performed. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 단락위치 검출용 저항값을 측정하는 단계는 상기 두 전극중 어느 하나의 선저항값 C'를 측정하는 단계와,The measuring of the resistance value for detecting the short circuit position may include measuring the line resistance value C ′ of any one of the two electrodes; 상기 두 전극중 제 1전극의 좌측단과 제 2전극의 우측단의 선저항값 A'를 측정하는 단계와,Measuring the line resistance value A 'of the left end of the first electrode and the right end of the second electrode of the two electrodes; 상기 두 전극중 제 1전극의 좌측단과 제 2전극의 좌측단의 선저항값 B'를 측정하는 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.And measuring the line resistance value B 'of the left end of the first electrode and the left end of the second electrode among the two electrodes. 제 1항 또는 제 3항에 있어서,The method according to claim 1 or 3, 상기 단락위치 검출식은 이고, 이때 X'는 측정기기 프로브의 원점으로 부터 단락위치까지의 거리, e는 B'+C'-A'값의 패드부저항 및 접촉저항 보상값, d는 C'값의 패드부저항 및 접촉저항 보상값이고, y는 측정기기 프로브 원점의 좌표보상값임을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.The short circuit position detection formula is Where X 'is the distance from the origin of the measuring device probe to the short-circuit position, e is the pad resistance and contact resistance compensation value of B' + C'-A 'value, d is the pad resistance of C' value and A method for detecting an electrode short circuit position in a plasma display panel, wherein a contact resistance compensation value is set and y is a coordinate compensation value of an origin of a measuring device probe. 두 개이상의 전극을 구비한 반도체소자에 있어서,In a semiconductor device having two or more electrodes, 상기 전극중 인접한 두전극의 단락여부를 판단하는 단계;Determining whether two adjacent electrodes are short-circuited; 상기 판단결과 두 전극이 단락된 것으로 판단되면 단락위치 검출용 저항값을 측정하는 단계;Measuring a resistance value for detecting a short circuit position when it is determined that the two electrodes are short-circuited; 상기 단락위치 검출용 저항값 및 단락위치 검출식을 이용하여 단락위치를 검출하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.And detecting the short circuit position by using the short circuit position detection resistance value and the short circuit position detection equation. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 단락위치 검출용 저항값을 측정하는 단계는 상기 두 전극중 어느 하나의 선저항값 C'를 측정하는 단계와,The measuring of the resistance value for detecting the short circuit position may include measuring the line resistance value C ′ of any one of the two electrodes; 상기 두 전극중 제 1전극의 좌측단과 제 2전극의 우측단의 선저항값 'A'를 측정하는 단계와,Measuring the line resistance value 'A' at the left end of the first electrode and the right end of the second electrode of the two electrodes; 상기 두 전극중 제 1전극의 좌측단과 제 2전극의 좌측단의 선저항값 'B'를 측정하는 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.And measuring the line resistance value 'B' at the left end of the first electrode and the left end of the second electrode among the two electrodes. 제 5항 또는 제 6항에 있어서,The method according to claim 5 or 6, 상기 단락위치 검출식은 이고, 이때 X'는 측정기기 프로브의 원점으로 부터 단락위치까지의 거리, e는 B'+C'-A'값의 패드부저항 및 접촉저항 보상값, d는 C'값의 패드부저항 및 접촉저항 보상값이고, y는 측정기기 프로브 원점의 좌표보상값임을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 단락위치 검출방법.The short circuit position detection formula is Where X 'is the distance from the origin of the measuring device probe to the short-circuit position, e is the pad resistance and contact resistance compensation value of B' + C'-A 'value, d is the pad resistance of C' value and A method for detecting an electrode short circuit position in a plasma display panel, wherein a contact resistance compensation value is set and y is a coordinate compensation value of an origin of a measuring device probe.
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