KR100380762B1 - Testing Method for short circuit of a Plasma Display Pannel Electrode - Google Patents

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Abstract

본 발명은 프라즈마 디스플레이 패널(PLASMA DISPLAY PANNEL; 이하 "PDP"라 함) 전극 단락시험방법에 관한 것으로, 단락바와 프로브를 매개로 저항값을 측정한 후, 측정 저항값들을 상호 비교 연산하여 단락여부와 단락위치를 판단하는 방식으로 되어 있어서, 피디피 전극의 단락과 단락위치를 판별하기 위한 시험작업이 매우 단순하면서 편리하도록 된 것이다.The present invention relates to a plasma display panel (hereinafter referred to as "PDP") electrode short-circuit test method, and after measuring the resistance value through the short-bar and the probe, and compares the measured resistance values with each other whether the short circuit and Since the short circuit position is determined, the test operation for discriminating the short circuit position and the short circuit position of the PD electrode is made very simple and convenient.

Description

피디피 전극 단락시험방법{Testing Method for short circuit of a Plasma Display Pannel Electrode}Testing method for short circuit of a Plasma Display Pannel Electrode

본 발명은 프라즈마 디스플레이 패널(PLASMA DISPLAY PANNEL; 이하 "PDP"라 함) 전극의 단락시험방법에 관한 것으로, 특히 피디피 전극의 저항값을 매개로 피디피 전극의 단락과 단락위치를 판별하도록 된 피디피 전극 단락시험방법에 관한 것이다.The present invention relates to a short-circuit test method of a plasma display panel (hereinafter referred to as "PDP") electrode, and in particular, a short-circuit and a short-circuit of the PD electrode to be discriminated based on the resistance value of the PD electrode. It relates to the test method.

주지하는 바와 같이, PDP는 화상출력을 위한 무수히 많은 수평전극과 수직전극이 내설되어진 구조를 이루고 있는데, 이 수평전극들 간의 단락과, 수직전극들 간의 단락은, 화소불량에 있어서 직접적인 주요 원인이므로, 화소불량을 방지하기 위해서는 수평·수직전극들 간의 단락검사가 필수적이다.As is well known, the PDP has a structure in which a myriad of horizontal electrodes and vertical electrodes are installed for image output. Since a short circuit between the horizontal electrodes and a short circuit between the vertical electrodes is a direct main cause of pixel defects, In order to prevent pixel defects, a short circuit test between the horizontal and vertical electrodes is essential.

만일, 피디피 전극의 단락 검사가 정확하게 이루어지지 못하게 되면 제품불량으로 인한 막대한 경제적 손실이 발생된다.If the short-circuit inspection of the PD electrodes is not carried out correctly, huge economic losses due to product defects occur.

종래 피디피 전극 단락시험방법은, 전극들 간의 상호 통전여부를 측정하여, 인접 전극들 간에 전류가 통하면 단락으로 판별하고, 인접 전극들 간에 전류가 통하지 않으면 정상으로 판별하는 방식을 취하고 있지만, 이러한 방식으로는 단락 위치를 판별해 낼 수 없어서, 단락된 전극들 간의 단락 위치를 별도로 찾아내어 단락된 부분을 제거하기가 상당히 번거롭고 어려운 단점이 있다.이를 해소하기 위하여, 전극들 간의 저항값을 비교하여 단락위치를 판별하는 피디피 전극 단락시험방법이 제안되어 사용되고 있는데, 이에 의하면 단락위치를 비교적 근사하게 추정할 수 있게 되어 있어서 단락부분을 제거하는 작업이 편리하게 된다.그러나, 앞서 언급한 종래 피디피 전극 단락시험방법들은, 시험자가 양쪽 손에 각각 +극 프로브와 -극 프로브를 쥐고서, 모든 전극들 간의 상호 통전여부나 저항값들을 검출하는 방식을 취하고 있어서, 단락시험작업이 매우 번거로우면서 난이하게 되고, 단락시험에 많은 시간이 투자되야 하는 문제가 발생되었다.Conventional PD electrode short-circuit test method is to measure whether the current between the electrodes, and if the current flows between the adjacent electrodes to determine the short circuit, if the current does not flow between the adjacent electrodes to take a normal way, but this method The short-circuit position cannot be determined, which makes it very cumbersome and difficult to find out the short-circuit position between the shorted electrodes and remove the shorted part. A short-circuit test method for PD electrodes for determining the position has been proposed and used, which makes it possible to estimate the short-circuit position relatively relatively, thus making it convenient to remove the short-circuit part. The methods allow the investigator to hold the + and-pole probes in both hands, respectively. In taking the approach that detects whether or cross-conduction resistance between all electrodes, the short-circuit test operation is very cumbersome while Nan, a problem that should be a lot of time invested in the short-circuit test has occurred.

이에 본 발명은 상기한 바와 같은 문제를 해소하기 위해 발명된 것으로, 피디피 전극의 단락과 단락위치를 판별하기 위한 시험작업이 보다 단순하면서 편리하게 되도록 하는 피디피 전극 단락시험방법을 제공함에 그 목적이 있다.Therefore, the present invention has been invented to solve the problems described above, and an object thereof is to provide a PD electrode short circuit test method for making a test operation for discriminating a short circuit and a short circuit position of a PD electrode simpler and more convenient. .

도1 내지 도4는 본 발명에 의한 피디피 전극 단락시험방법을 설명하기 위한 도면이고,1 to 4 are diagrams for explaining a PD electrode short circuit test method according to the present invention,

도5는 본 발명에 의한 피디피 전극 단락시험방법에 있어서, 전극들간의 저항값들을 매개로 하여 피디피 전극의 단락과 단락위치를 판별하는 방법의 일예를 도시한 순서도이다.FIG. 5 is a flow chart showing an example of a method for discriminating a short circuit and a short circuit position of a PD electrode in accordance with a method for short-circuit test of a PD electrode according to the present invention.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 양극 또는 음극의 단락바를 매개로 피디피 전극들의 일측 선단부 모두를 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극의 프로브를 매개로 피디피 전극들의 타측 선단부를 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정하는 제1단계 ; 양극 또는 음극의 단락바를 매개로 피디피 전극들의 타측 선단부 모두를 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극의 프로브를 매개로 피디피 전극들의 일측 선단부를 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정하는 제2단계 ; 각 피디피 전극들의 측정 저항값을 매개로 서로 인접한 두 전극간의 단락여부를 판단하는 제3단계 ; 단락된 두 전극들 간의 측정 저항값을 매개로 단락위치를 판단하는 제4단계로 이루어지되 ; 상기 제3단계는, 제1단계 또는 제2단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값을 기준 저항값과 비교하여, 이들 측정 저항값 모두가 기준 저항값보다는 작으면서 이의 절반값보다는 큰 범위를 만족하는 경우에는, 제1단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값과, 제2단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값을 각각 상호 비교한 후에, 상호 비교되는 측정 저항값들 모두가 오차 범위 한도내에서 서로 동일하면 서로 인접한 두 전극이 단락되었다라고 판단하고, 상호 비교되는 측정 저항값들 중 어느 하나라도 오차 범위 한도내에서 서로 동일하지 않으면 서로 인접한 두 전극이 정상이라고 판단하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 방법으로 되어 있다.In order to achieve the object as described above, the present invention, while contacting all of the front end of the PD electrodes via the short-circuit bar of the anode or cathode, sequentially contacting the other ends of the PD electrodes through the probe of the cathode or anode A first step of measuring resistance values of respective PD electrodes; A second step of measuring the resistance value of each PD electrode by sequentially contacting one end of the PD electrodes with a probe of the anode or the cathode while contacting all the other ends of the PD electrodes with a shorting bar of the anode or the cathode. ; Determining whether a short circuit exists between two adjacent electrodes based on a measurement resistance value of each PD electrode; A fourth step of determining the short-circuit position based on the measured resistance value between the two short-circuited electrodes; The third step compares two measurement resistance values between two adjacent electrodes obtained by the first step or the second step with a reference resistance value so that all of these measurement resistance values are smaller than the reference resistance value and half of the values thereof. If a larger range is satisfied, two measurement resistance values between two adjacent electrodes obtained by the first step and two measurement resistance values between two adjacent electrodes obtained by the second step are compared with each other. Later, if both of the measured resistance values compared to each other are equal to each other within an error range limit, it is determined that two adjacent electrodes are short-circuited, and if any of the measured resistance values compared to each other are not equal to each other within an error range limit, And determining that two electrodes adjacent to each other are normal.

이하 본 발명을 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 피디피 전극 단락시험방법은, 양극 또는 음극의 단락바를 매개로 피디피 전극들의 일측 선단부 모두를 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극의 프로브를 매개로 피디피 전극들의 타측 선단부를 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정하는 제1단계(도 1 및 도 2 참조) ; 양극 또는 음극의 단락바를 매개로 피디피 전극들의 타측 선단부 모두를 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극의 프로브를 매개로 피디피 전극들의 일측 선단부를 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정하는 제2단계(도 3 및 도 4 참조) ; 각 피디피 전극들의 측정 저항값을 매개로 서로 인접한 두 전극간의 단락여부를 판단하는 제3단계 ; 단락된 두 전극들 간의 측정 저항값을 매개로 단락위치를 판단하는 제4단계로 이루어진다.본 발명을 도 1 내지 도 5를 참조하여 보다 상세히 설명해 보면 다음과 같다.우선, 양극 또는 음극 단락바를 피디피 전극들의 우측 선단부(Y)에 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극 프로브를 피디피 전극들의 좌측 선단부에 순차적으로 접촉시키서 각 피디피 전극들의 저항값들을 측정한다(제1단계).According to the present invention, the PD short-circuit test method comprises contacting the front ends of the PD electrodes sequentially through the probe of the negative electrode or the positive electrode, while contacting both front ends of the PD electrodes via the short-bar of the anode or cathode. A first step of measuring resistance values of PD electrodes (see FIGS. 1 and 2); A second step of measuring the resistance value of each PD electrode by sequentially contacting one end of the PD electrodes with a probe of the anode or the cathode while contacting all the other ends of the PD electrodes with a shorting bar of the anode or the cathode. (See FIGS. 3 and 4); Determining whether a short circuit exists between two adjacent electrodes based on a measurement resistance value of each PD electrode; A fourth step of determining the short-circuit position based on the measured resistance value between the two short-circuit electrodes is described in more detail with reference to FIGS. 1 to 5 as follows. In the state of contacting the right front end Y of the electrodes, the cathode or the anode probe is sequentially contacted with the left front end of the PD electrodes to measure the resistance values of the respective PD electrodes (first step).

2번째 피디피 전극과 3번째 피디피 전극이 단락되어진 경우, 도 1에 도시된 바와 같이, 음극 또는 양극 프로브를 2번째 피디피 전극의 좌측 선단부(X)에 접촉시키면, X-Y간의 저항 "R1"은 아래의 수학식 1과 같다.In the case where the second PD electrode and the third PD electrode are short-circuited, as shown in FIG. 1, when the negative electrode or the positive electrode contacts the left front end X of the second PD electrode, the resistance "R1" between XY is Equation 1

이어서 도 2에 도시된 바와 같이, 음극 또는 양극 프로브를 3번째 피디피 전극의 좌측 선단부(X')에 접촉시키면, X'-Y간의 측정 저항값 "R2"는 아래의 수학식 2와 같다. Subsequently, as shown in FIG. 2, when the negative electrode or the positive electrode contacts the left tip X 'of the third PD electrode, the measured resistance value "R2" between X'-Y is expressed by Equation 2 below.

이후, 양극 또는 음극의 단락바를 피디피 전극들의 좌측 선단부(T)에 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극 프로브를 피디피 전극들의 우측 선단부에 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정한다(제2단계).도 3에 도시된 바와 같이, 음극 또는 양극의 프로브를 2번째 피디피 전극의 우측 선단부(U)에 접촉시키면, T-U간의 측정 저항값 "R3"는 아래의 수학식 3과 같다.Thereafter, while the short bar of the positive electrode or the negative electrode is in contact with the left end portion T of the PD electrodes, the negative electrode or the positive electrode is sequentially contacted with the right end portion of the PD electrodes to measure the resistance of each PD electrode (step 2). As shown in FIG. 3, when the probe of the cathode or the anode is contacted with the right front end U of the second PD electrode, the measured resistance value “R3” between TUs is expressed by Equation 3 below.

이어서 도 4로 보인 바와 같이, 음극 또는 양극의 프로브를 3번째 피디피 전극의 우측 선단부(U')에 접촉시키면, T-U'간의 측정 저항값 "R4"는 아래의 수학식 4와 같다.Subsequently, as shown in FIG. 4, when the probe of the cathode or the anode contacts the right front end U ′ of the third PD electrode, the measurement resistance value “R4” between T—U ′ is expressed by Equation 4 below.

여기서, "Ra"는 2번째 피디피 전극에 있어서 프로브나 단락바의 접촉위치(T,X)부터 단락위치까지의 저항값이고, "Rb"는 2번째 피디피 전극에 있어서 프로브나 단락바의 접촉위치(U,Y)부터 단락위치까지의 저항값, "Rc"는 3번째 피디피 전극에 있어서 프로브나 단락바의 접촉위치(T,X')부터 단락위치까지의 저항값, "Rd"는 3번째 피디피 전극에 있어서 프로브나 단락바의 접촉위치(U',Y)부터 단락위치까지의 저항값, "Re"는 2번째 피디피 전극과 3번째 피디피 전극을 연결하는 단락부분의 저항값이다. 이들 중, "Re"는 단락여부를 판별함에 있어서는 사실상 무시될 수 있을 정도로 극히 작은 저항값이므로, 본 실시예에서는 0Ω으로 간주하였다. 한편, 이들 측정 저항값들(R1,R2,R3,R4)은 아날로그 데이타 형태이므로, 상호 비교 연산처리를 수월하게 하기 위해 디지털 데이타로 변환하여 저장한다. Here, "Ra" is the resistance value from the contact position (T, X) of the probe or the short-circuit bar to the short-circuit position in the second PD electrode, and "Rb" is the contact position of the probe or short bar in the second PD electrode. The resistance value from (U, Y) to the short-circuit position, "Rc" is the resistance value from the contact position (T, X ') to the short-circuit position of the probe or short-circuit bar in the third PD electrode, and "Rd" is the third In the PD electrode, the resistance value from the contact position (U ', Y) of the probe or the short bar to the short position, "Re", is the resistance value of the short part connecting the second PD electrode and the third PD electrode. Among them, "Re" is an extremely small resistance value that can be virtually ignored in determining whether or not a short circuit, so it was regarded as 0Ω in this embodiment. On the other hand, since these measured resistance values R1, R2, R3, and R4 are analog data types, they are converted into digital data and stored in order to facilitate mutual comparison processing.

이후, 각 피디피 전극들의 측정 저항값을 매개로 서로 인접한 두 전극간의 단락여부를 판단하는 제3단계를 수행하는데, 본 실시예의 경우에는 아래와 같은 방식으로 제3단계를 수행하였다.제1단계 또는 제2단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값(R1,R2 ; R3,R4)을 기준 저항값(Z)과 비교하여, 이들 측정 저항값(R1,R2 ; R3,R4) 모두가 기준 저항값(Z)보다는 작으면서 이의 절반값(Z/2)보다는 큰 범위를 만족하는 경우에는, 제1단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값(R1,R2 ; R3,R4)과, 제2단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값(R3,R4 ; R1,R2)을 각각 상호 비교한 후에, 상호 비교되는 측정 저항값들(R1,R2 ; R3,R4) 모두가 오차 범위 한도내에서 서로 동일하면 서로 인접한 두 전극이 단락되었다라고 판단하고, 상호 비교되는 측정 저항값들(R1,R2 ; R3,R4)중 어느 하나라도 오차 범위 한도내에서 서로 동일하지 않으면 서로 인접한 두 전극이 정상이라고 판단한다(도 5 참조).Thereafter, a third step of determining whether a short circuit between two adjacent electrodes is performed based on the measured resistance of each PDIP electrode is performed. In the present embodiment, the third step is performed in the following manner. By comparing two measured resistance values R1, R2; R3, R4 between two adjacent electrodes obtained by the second step with the reference resistance value Z, all of these measured resistance values R1, R2; R3, R4 Is smaller than the reference resistance value Z and larger than its half value Z / 2, the two measured resistance values R1, R2 between two adjacent electrodes obtained by the first step are obtained. R4 and two measurement resistance values R3, R4; R1 and R2 between two adjacent electrodes obtained by the second step are compared with each other, and then the measurement resistance values R1 and R2 are compared with each other; If both R3 and R4 are equal to each other within the margin of error, it is judged that two adjacent electrodes are shorted. And, the measured resistance value are compared; any one of (R1, R2 R3, R4), it is determined that even if you are not equal to each other within a tolerance limit of the two electrodes adjacent to each other in the normal (see Fig. 5).

이후, 단락된 두 전극들 간의 측정 저항값을 매개로 단락위치를 판단하는 제4단계를 수행하여 최종적으로 단락위치를 검출하는데, 본 실시예의 경우에는 아래와 같은 방식으로 제4단계를 수행하였다.단락으로 판정된 서로 인접한 두 전극의 측정 저항값(R1,R2,R3,R4)을 기준 저항값(Z)으로 나누어서 저항비(x)를 구하고, 아래 수학식 5를 이용하여 비례적으로 단락위치를 판단한다. 여기서, "l"은 해당 피디피 전극의 전체 측정길이(X나 X'로부터 Y까지의 거리, 또는 T로부터 U나 U'까지의 거리)이고, "lx"는 기준위치(X,X' ; U,U')로부터 단락위치까지의 거리이다.Thereafter, a fourth step of determining a short circuit position is performed by measuring a resistance value between two shorted electrodes, and finally, a short circuit position is detected. In the present embodiment, the fourth step is performed in the following manner. The resistance ratio (x) is obtained by dividing the measured resistance values (R1, R2, R3, and R4) of two adjacent electrodes determined by the reference resistance value (Z), and proportionally short-circuit the position by using Equation 5 below. To judge. Here, "l" is the total measurement length (distance from X or X 'to Y, or distance from T to U or U') of the corresponding PD electrode, and "l x " is the reference position (X, X '; U, U ') is the distance from the short circuit position.

이렇게 검출되어진 단락위치는 실제 단락위치와는 다소 차이가 있을 수 있지만, 오차범위가 ±5% 정도에 불과하다.The detected short circuit position may be slightly different from the actual short circuit position, but the error range is only ± 5%.

이상 상기한 바와 같은 본 발명에 따르면, 단락바와 프로브를 매개로 저항값을 측정한 후, 측정 저항값들을 상호 비교 연산하여 단락여부와 단락위치를 판단하는 방식으로 되어 있어서, 피디피 전극의 단락과 단락위치를 판별하기 위한 시험작업이 매우 단순하면서 편리하게 된다.일예를 들어, 피디피 전극이 100개일 경우에는, 피디피 전극들의 어느 한쪽 선단부에 단락바를 접촉시킨 상태에서, 피디피 전극들의 반대쪽 선단부에 프로브를 순차적으로 접촉시켜서 저항값들을 측정한 후에, 피디피 전극들의 다른 한쪽 선단부에 단락바를 접촉시킨 상태에서, 피디피 전극들의 반대쪽 선단부에 프로브를 순차적으로 접촉시켜서 저항값들을 측정하고, 이후 이들 측정저항값을 매개로 피디피 전극의 단락여부와 단락위치를 판별하면 되므로, 프로브 접촉작업이 200번(100×2)으로 대폭 축소된다.본 발명은 상기한 바와 같은 실시예에 한정되지 않고 이하의 청구범위를 벗어나지 않는 한도 내에서 보다 다양하게 변형 실시될 수 있음은 물론이다.According to the present invention as described above, after measuring the resistance value through the short bar and the probe, the measurement resistance values are compared to each other to determine whether the short circuit and the short circuit position, so that the short circuit and short circuit of the PD electrode The test operation for determining the position is very simple and convenient. For example, when there are 100 PD electrodes, the probes are sequentially placed on the opposite ends of the PD electrodes while the short bar is in contact with one of the PD electrodes. After measuring the resistance values by contacting the electrodes, the resistance values were measured by sequentially contacting the probes to the opposite ends of the PD electrodes while the short bar was in contact with the other tip of the PD electrodes. Probe contact can be made by determining whether the PD electrode is shorted or shorted. This number is greatly reduced to 200 times (100 × 2). The present invention is not limited to the above-described embodiments, and of course, various modifications can be made without departing from the scope of the following claims.

Claims (3)

양극 또는 음극의 단락바를 매개로 피디피 전극들의 일측 선단부 모두를 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극의 프로브를 매개로 피디피 전극들의 타측 선단부를 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정하는 제1단계 ;The first step of measuring the resistance value of each PD electrode by sequentially contacting the other front end portion of the PD electrodes with the cathode or anode probe in contact with all the front ends of the PD electrodes through the short bar of the anode or cathode ; 양극 또는 음극의 단락바를 매개로 피디피 전극들의 타측 선단부 모두를 접촉시킨 상태에서, 음극 또는 양극의 프로브를 매개로 피디피 전극들의 일측 선단부를 순차적으로 접촉시켜서 각 피디피 전극들의 저항값을 측정하는 제2단계 ;A second step of measuring the resistance value of each PD electrode by sequentially contacting one end of the PD electrodes with a probe of the anode or the cathode while contacting all the other ends of the PD electrodes with a shorting bar of the anode or the cathode. ; 각 피디피 전극들의 측정 저항값을 매개로 서로 인접한 두 전극간의 단락여부를 판단하는 제3단계 ;Determining whether a short circuit exists between two adjacent electrodes based on a measurement resistance value of each PD electrode; 단락된 두 전극들 간의 측정 저항값을 매개로 단락위치를 판단하는 제4단계로 이루어지되 ;A fourth step of determining the short-circuit position based on the measured resistance value between the two short-circuited electrodes; 상기 제3단계는, 제1단계 또는 제2단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값(R1,R2 ; R3,R4)을 기준 저항값(Z)과 비교하여, 이들 측정 저항값(R1,R2 ; R3,R4) 모두가 기준 저항값(Z)보다는 작으면서 이의 절반값(Z/2)보다는 큰 범위를 만족하는 경우에는, 제1단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값(R1,R2 ; R3,R4)과, 제2단계에 의해 획득된 서로 인접한 두 전극간의 2개의 측정 저항값(R3,R4 ; R1,R2)을 각각 상호 비교한 후에, 상호 비교되는 측정 저항값들(R1,R2 ; R3,R4) 모두가 오차 범위 한도내에서 서로 동일하면 서로 인접한 두 전극이 단락되었다라고 판단하고, 상호 비교되는 측정 저항값들(R1,R2 ; R3,R4)중 어느 하나라도 오차 범위 한도내에서 서로 동일하지 않으면 서로 인접한 두 전극이 정상이라고 판단하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 피디피 전극 단락시험방법.The third step is to compare the two measured resistance values (R1, R2; R3, R4) between two adjacent electrodes obtained by the first or second step with the reference resistance value (Z), If all of the values R1, R2; R3, R4 satisfy a range smaller than the reference resistance value Z and larger than the half value Z / 2 thereof, the values between the two adjacent electrodes obtained by the first step are satisfied. After comparing the two measurement resistance values R1, R2; R3, R4 and the two measurement resistance values R3, R4; R1, R2 between the two adjacent electrodes obtained by the second step, respectively, If all of the measured resistance values R1, R2 and R3 and R4 to be compared are equal to each other within the margin of error, it is determined that two adjacent electrodes are short-circuited, and the measured resistance values R1, R2 and R3, which are compared with each other, are determined. If any one of R4) is not equal to each other within the margin of error, determining that two adjacent electrodes are normal PD electrode short circuit test method, characterized in that. 삭제delete 제 1항에 있어서, 상기 제4단계는, 단락으로 판정된 서로 인접한 두 전극의 측정 저항값(R1,R2,R3,R4)을 기준 저항값(Z)으로 나누어서 저항비(x)를 구하고, 비례식을 이용하여 단락위치를 판단하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 피디피 전극 단락시험방법.The method of claim 1, wherein in the fourth step, the resistance ratio (x) is obtained by dividing the measured resistance values R1, R2, R3, and R4 of two adjacent electrodes determined as a short circuit by the reference resistance value Z. Proportional PD electrode short-circuit test method comprising the step of determining the short-circuit position using.
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