KR19990081493A - Liquid Crystal Display with Multiple Repair Lines - Google Patents
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Abstract
다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치는 기판 위에 다수개의 데이터와 게이트 선이 기판에 대한 세로 방향과 가로 방향으로 각각 형성되고, 다수개의 데이터 선과 게이트 선의 각각에 데이터 선과 게이트 선에 일정 영역이 중첩될 수 있도록 다수개의 데이터 수리 선과 게이트 수리 선이 형성된다. 이 때, 데이터 수리 선과 게이트 수리 선은 각 해당하는 데이터 선과 게이트 선보다 다소 짧은 길이를 가지고 있다. 그로 인해, 데이터 선뿐만 아니라 게이트 선에 발생하는 결함도 수리할 수 있고, 결함의 발생 개수에 관계없이 모든 결함이 발생한 데이터 선이나 게이트 선을 수리할 수 있으므로 수율이 향상되는 효과가 발생하며, 바 형태로 수리 선이 형성되므로 신호의 이동 경로가 짧아져 신호의 지연 현상이 감소되므로 화질을 향상시킬 수 있는 효과가 발생한다.In a liquid crystal display having a plurality of repair lines, a plurality of data and gate lines are formed on the substrate in a vertical direction and a horizontal direction, respectively, and a predetermined region is overlapped with each of the plurality of data lines and gate lines. A plurality of data repair lines and a gate repair line are formed to be provided. In this case, the data repair line and the gate repair line have a somewhat shorter length than the corresponding data line and the gate line. As a result, defects occurring not only in the data lines but also in the gate lines can be repaired, and the data lines and gate lines in which all defects occur can be repaired irrespective of the number of occurrences of the defects, thereby increasing the yield. Since the repair line is formed in the shape, the signal movement path is shortened, and thus the delay of the signal is reduced, thereby improving the image quality.
Description
이 발명은 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display)에 관한 것으로, 더욱 상세하게 말하면 데이터 선과 게이트 선만큼 수리 선(repair line)이 형성되어 있는 액정 표시 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display, and more particularly, to a liquid crystal display in which a repair line is formed as much as a data line and a gate line.
일반적으로 액정 표시 장치는 박막 트랜지스터 기판과, 상기 박막 트랜지스터 기판과 마주 보는 컬러 필터 기판과, 상기 기판 사이에 주입되는 액정 물질을 포함하는 장치로써, 내부에 삽입되는 액정 물질의 전기적인 광학적 효과를 이용한 표시 장치이다.Generally, a liquid crystal display device includes a thin film transistor substrate, a color filter substrate facing the thin film transistor substrate, and a liquid crystal material injected between the substrates, and uses an electrical optical effect of the liquid crystal material inserted therein. It is a display device.
그로 인해 게이트 선과 데이터 선을 통해 해당 구동 신호와 화상 신호를 출력하여 각 화소의 동작 상태를 결정하므로 원하는 화상을 표시한다.Therefore, the operation state of each pixel is determined by outputting the corresponding drive signal and the image signal through the gate line and the data line, thereby displaying a desired image.
그러나 액정 표시 장치 공정중에 많은 데이터 선과 게이트 선을 형성해야 하는데, 데이터 선이나 게이트 선이 정확하게 형성되지 않아 형성된 선이 단선(open)되거나, 인접한 선과 쇼트(short)되는 경우가 발생한다.However, many data lines and gate lines must be formed during the liquid crystal display process, and the lines formed because the data lines or the gate lines are not formed correctly may be open or short with the adjacent lines.
이와 같이 해당 선에 결함에 의해 데이터 신호나 게이트 신호가 입력되지 못하여 화질에 영향을 미친다. 그로 인해, 이와 같은 데이터 선이 단선되거나 쇼트될 경우 발생하는 결함을 수리하기 위해 수리 선(repair line)을 형성한다.As such, the data signal or the gate signal cannot be input to the corresponding line due to a defect, thereby affecting the image quality. As a result, a repair line is formed to repair a defect that occurs when such a data line is broken or shorted.
그러면, 도 1을 참고로 하여, 종래의 수리 선의 구조를 설명한다.Then, the structure of the conventional repair line is demonstrated with reference to FIG.
도1 에 도시한 것처럼, 투명한 절연 기판(100) 위에 세로 방향으로 일정 간격을 두고 다수개의 게이트 패드(21)가 형성되고, 각 게이트 패드(21)와 접촉되는 게이트 선(20)이 가로 방향으로 길게 형성된다.As illustrated in FIG. 1, a plurality of gate pads 21 are formed on the transparent insulating substrate 100 at regular intervals in a vertical direction, and the gate lines 20 contacting the gate pads 21 are horizontally disposed. It is formed long.
또한 게이트 선(20) 및 게이트 패드(21)가 형성되는 층과 절연막으로 분리되고, 절연 기판(10)의 가로 방향으로 일정 간격을 두고 다수개의 데이터 패드(11)가 형성되고, 각 데이터 패드(11)와 접촉되게 데이터 선(10)이 세로 방향으로 길게 형성된다.In addition, the gate line 20 and the gate pad 21 are separated into a layer and an insulating film, and a plurality of data pads 11 are formed at regular intervals in the horizontal direction of the insulating substrate 10, and each data pad ( The data line 10 is elongated in the vertical direction in contact with 11).
그로 인해, 데이터 선(10)과 게이트 선(20)이 교차되는 영역에 화소 영역(101)이 형성된다.Therefore, the pixel region 101 is formed in the region where the data line 10 and the gate line 20 cross each other.
화소 영역(101)이 형성되어 있는 활성 영역(active area, 102)과 데이터 패드(11) 사이의 영역에 3개의 수리 선(30)이 데이터 선(20)과의 사이에 절연층을 사이에 두고 형성된다.In the area between the active area 102 where the pixel area 101 is formed and the data pad 11, three repair lines 30 are interposed with the data line 20. Is formed.
이 때, 3개의 수리 선(30)은 데이터 선(20)이나 게이트 선(20)과 같은 전도성 물질로 형성되고, 액티브 영역(102)의 어느 한 측면만을 제외하고 나머지 면을 둘러싼 링(ring) 형태로 형성된다.In this case, the three repair lines 30 are formed of a conductive material such as the data line 20 or the gate line 20, and have a ring surrounding the other side except for one side of the active region 102. It is formed in the form.
이와 같은 형태로 3개의 수리 선(30)이 형성된 후, 다수개의 데이터 선(10)중 결함이 발생한 데이터 선(10)이 발견되면, 도 1에 도시한 것처럼, 어느 한 수리 선(30)과 결합이 발생한 데이터 선(10)의 교차점을 레이저를 이용하여 쇼트시킨다.After the three repair lines 30 are formed in this manner, if a defective data line 10 is found among the plurality of data lines 10, as shown in FIG. The intersection point of the data line 10 where the coupling has occurred is shortened using a laser.
그로 인해, 데이터 선(10)을 통해 인가되는 데이터 신호가, 해당 화소 영역(101) 중 결함이 발생한 영역만을 제외하고 레이저의 쇼트 동작에 의해 연결된 수리 선(30)을 통해 모두 인가되므로 화질의 저하를 감소시킨다.Therefore, since the data signals applied through the data line 10 are all applied through the repair line 30 connected by the short operation of the laser except for a region in which the defect occurs in the pixel area 101, the image quality is deteriorated. Decreases.
그러나 이와 같이 다수개의 수리 선(30)을 형성하여 데이터 선(10)의 결함을 수리할 경우, 대화면의 추세에 때라 패드(11,21)와 활성 영역(102) 사이의 영역이 점차로 감소되어, 수리 선(30)의 형성에 어려움이 발생한다.However, when repairing defects in the data line 10 by forming a plurality of repair lines 30 in this manner, the area between the pads 11 and 21 and the active area 102 gradually decreases due to the trend of the large screen. Difficulties arise in the formation of the repair line 30.
또한, 링 형태로 수리 선(30)이 형성되어, 수리 선(30)을 통한 신호의 전송 경로가 길어져, 수리 선(30)을 통해 신호 지연 현상이 발생하여 화질의 악화를 초래한다.In addition, the repair line 30 is formed in a ring shape, the transmission path of the signal through the repair line 30 is long, and a signal delay occurs through the repair line 30, resulting in deterioration of image quality.
그리고 다수개의 데이터 선(10)에 결함이 발생할 경우, 이용할 수 있는 수리 선(30)의 개수가 한정되므로, 모든 결함을 수리할 수 없는 경우가 발생한다.When a defect occurs in the plurality of data lines 10, the number of repair lines 30 that can be used is limited, so that all defects cannot be repaired.
더욱이, 데이터 선(10)의 결함만 수리할 수 있으므로, 게이트 선(20)이 단선되거나 쇼트될 경우 수리할 수 없는 문제가 발생한다.Moreover, since only a defect of the data line 10 can be repaired, a problem that cannot be repaired occurs when the gate line 20 is disconnected or shorted.
그로 인해, 이 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 데이터 선과 게이트 선의 결함을 모두 수리할 수 있도록 하는 것이다.Therefore, the technical problem which this invention intends to achieve is to make it possible to repair both the defect of a data line and a gate line.
이 발명이 이루고자하는 다른 기술적 과제는 결함 발생 개수에 무관하게 결함이 발생한 선을 모두 수리할 수 있도록 하는 것이다.Another technical problem to be solved by the present invention is to be able to repair all of the defective lines regardless of the number of defects.
도 1은 종래의 링 형태의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치의 평면도이고,1 is a plan view of a liquid crystal display having a repair line in a conventional ring shape,
도 2는 이 발명의 실시예에 따른 다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치의 평면도이고,2 is a plan view of a liquid crystal display having a plurality of repair lines according to an embodiment of the present invention;
도 3은 이 발명의 실시예에 따른 다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치의 단면도이다.3 is a cross-sectional view of a liquid crystal display having a plurality of repair lines according to an embodiment of the present invention.
이러한 과제를 해결하기 위하여 이 발명은In order to solve this problem, the present invention
데이터 선과 게이트 선의 형성 방향과 각각 동일하고, 일정 영역이 데이터 선과 게이트 선에 각각 중첩될 수 있도록 다수개의 데이터 수리 선과 게이트 수리 선을 형성한다.A plurality of data repair lines and gate repair lines are formed in the same direction as that of the data line and the gate line, respectively, so that a predetermined region may overlap the data line and the gate line, respectively.
바람직하게 수리 선은 게이트 선과 데이터 선에 각각 하나씩 형성되고, 해당 게이트 선과 데이터 선의 길이보다 짧게 형성한다.Preferably, one repair line is formed in each of the gate line and the data line, and shorter than the length of the gate line and the data line.
그러면, 첨부한 도면을 참고로 하여 이 발명의 실시예에 따른 다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치에 대하여 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이 발명을 용이하게 실시할 수 있는 가장 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 종래의 기술과 동일한 기능을 실행하는 부분은 종래의 도면 부호와 같은 부호를 부여한다.Then, the liquid crystal display device having a plurality of repair lines according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Preferred embodiments are described in detail. The part which performs the same function as a conventional technique attaches | subjects the code | symbol same as a conventional reference numeral.
도 2는 이 발명의 실시예에 따른 다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치의 평면도이고, 도 3은 이 발명의 실시예에 따른 다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치의 단면도이다.2 is a plan view of a liquid crystal display having a plurality of repair lines according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a liquid crystal display having a plurality of repair lines according to an embodiment of the present invention.
도 2 및 도 3에 도시한 것처럼, 투명한 절연 기판(100) 위에 세로 방향으로 일정 간격을 두고 다수개의 게이트 패드(21)가 형성되고, 각 게이트 패드(21)와 접촉되는 게이트 선(20)이 가로 방향으로 길게 형성된다.2 and 3, a plurality of gate pads 21 are formed on the transparent insulating substrate 100 at regular intervals in the vertical direction, and the gate lines 20 in contact with each gate pad 21 are formed. It is formed long in the horizontal direction.
또한 게이트 선(20) 및 게이트 패드(21)가 형성되는 층과 절연막으로 분리되고, 절연 기판(10)의 가로 방향으로 일정 간격을 두고 다수개의 데이터 패드(11)가 형성되고, 각 데이터 패드(11)와 접촉되게 데이터 선(10)이 세로 방향으로 길게 형성된다.In addition, the gate line 20 and the gate pad 21 are separated into a layer and an insulating film, and a plurality of data pads 11 are formed at regular intervals in the horizontal direction of the insulating substrate 10, and each data pad ( The data line 10 is elongated in the vertical direction in contact with 11).
데이터 선(10)과 절연층을 사이에 두고 데이터 수리 선(31)이 각 데이터 선(10)과 일정 영역이 중첩될 수 있도록 세로 방향으로 길게 형성되고, 게이트 선(20)과 절연층을 사이에 두고 게이트 수리 선(32)이 각 게이트 선(20)과 일정 영역이 중첩될 수 있도록 가로 방향으로 길게 형성된다.The data repair line 31 is formed long in the vertical direction so that each data line 10 and a predetermined region overlap each other with the data line 10 and the insulating layer interposed therebetween, and between the gate line 20 and the insulating layer. The gate repair line 32 is formed long in the horizontal direction so that each gate line 20 and a predetermined region may overlap.
이 때, 데이터 수리 선(31)과 게이트 수리 선(32)은 데이터 선(10)과 게이트 선(20)에 절연층을 사이에 두고 일정 영역이 겹칠 수 있도록 형성되지만, 데이터 선(10)과 게이트 선(20) 보다는 길이가 다소 짧게 형성된다.At this time, the data repair line 31 and the gate repair line 32 are formed so that a predetermined area may overlap the data line 10 and the gate line 20 with an insulating layer interposed therebetween. The length is somewhat shorter than that of the gate line 20.
또한, 하나의 데이터 선(10)과 게이트 선(20)마다 각 하나씩의 데이터 수리 선(31)과 게이트 수리 선(32)이 각각 형성된다.In addition, one data repair line 31 and one gate repair line 32 are formed for each data line 10 and gate line 20.
도 3에 도시한 것처럼, 투명한 절연 기판(100) 위에 바로 데이터 수리 선(31)을 형성한 후 절연층(201)을 형성하고 절연층(201) 위에 게이트 수리 선(32)을 형성하고 그 위에 절연층(202)을 형성하여, 데이터 수리 선(31)과 게이트 수리 선(32)을 먼저 형성한 후 일반적으로 공지된 박막 트랜지스터(TFT)의 공정을 진행할 수도 있고, 반대로 박막 트랜지스터의 공정을 먼저 실행하여 박막 트랜지스터를 형성한 후, 그 위에 데이터 수리 선(31)과 게이트 수리 선(32)을 각각 형성할 수도 있다.As shown in FIG. 3, after forming the data repair line 31 directly on the transparent insulating substrate 100, an insulating layer 201 is formed, and a gate repair line 32 is formed on the insulating layer 201 and thereon. The insulating layer 202 may be formed to form the data repair line 31 and the gate repair line 32 first, and then a generally known thin film transistor (TFT) process may be performed. After the formation of the thin film transistor, the data repair line 31 and the gate repair line 32 may be formed thereon, respectively.
따라서 데이터 선(10)이나 게이트 선(20)이 단선되어 결함이 발생할 경우, 각 해당하는 데이터 수리 선(31)이나 게이트 수리 선(32)의 양끝단 부분(A, B)을 레이저 등을 이용하여 해당 데이터 선(10)이나 게이트 선(20)과 쇼트시킨다.Therefore, when a defect occurs due to disconnection of the data line 10 or the gate line 20, lasers or the like are used at both ends A and B of the corresponding data repair line 31 or the gate repair line 32. And short with the data line 10 or the gate line 20.
그로 인해, 새롭게 연결된 데이터 수리 선(31)이나 게이트 수리 선(21)을 통해, 해당 데이터 신호나 게이트 신호가 인가되어, 단선된 부분만을 제외한 모든 화소가 정상적으로 작동할 수 있도록 한다.Therefore, the data signal or gate signal is applied through the newly connected data repair line 31 or the gate repair line 21 so that all pixels except the disconnected part can operate normally.
각 데이터 선(10)과 게이트 선(20) 마다 하나씩의 데이터 수리 선(31)과 게이트 수리 선(32)이 형성되어 있으므로, 결함이 발생한 데이터 선(10)이나 게이트 선(20)의 개수에 관계없이 모든 결함을 수리할 수 있다.Since one data repair line 31 and one gate repair line 32 are formed for each data line 10 and gate line 20, the number of defective data line 10 or gate line 20 is determined. All faults can be repaired regardless.
따라서 이와 같이 동작하는 이 발명의 효과는, 데이터 선뿐만 아니라 게이트 선에 발생하는 결함도 수리할 수 있고, 결함의 발생 개수에 관계없이 모든 결함이 발생한 데이터 선이나 게이트 선을 수리할 수 있으므로 수율이 향상된다.Therefore, the effects of the present invention operating as described above can repair not only the data line but also the defects occurring in the gate line, and the data line or the gate line in which all the defects occur can be repaired regardless of the number of defects. Is improved.
또한 링의 형태가 아니라 바(bar)의 형태로 수리 선이 형성되어 신호 이동 경로가 링 형태보다 짧으므로, 신호 지연 현상이 감소되어 화질을 향상시킬 수 있다.In addition, since a repair line is formed in the form of a bar rather than a ring, and a signal movement path is shorter than that of the ring, signal delay may be reduced to improve image quality.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010004900A (en) * | 1999-06-30 | 2001-01-15 | 김영환 | Liquid Crystal Display with redundancy line |
KR100686232B1 (en) * | 2000-04-11 | 2007-02-22 | 삼성전자주식회사 | a liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
Family Cites Families (5)
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---|---|---|---|---|
JPS58189615A (en) * | 1982-04-28 | 1983-11-05 | Toshiba Corp | Liquid crystal display |
KR940001404B1 (en) * | 1991-04-15 | 1994-02-21 | 금성일렉트론 주식회사 | Dummy hccd structure |
KR0151269B1 (en) * | 1995-02-21 | 1998-10-15 | 구자홍 | Lcd device |
JP3970351B2 (en) * | 1996-04-19 | 2007-09-05 | シャープ株式会社 | Liquid crystal display device and bus line disconnection processing method |
KR980003751A (en) * | 1996-06-29 | 1998-03-30 | 구자홍 | Method for forming repair line of liquid crystal display device |
-
1998
- 1998-04-30 KR KR1019980015492A patent/KR100529562B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010004900A (en) * | 1999-06-30 | 2001-01-15 | 김영환 | Liquid Crystal Display with redundancy line |
KR100686232B1 (en) * | 2000-04-11 | 2007-02-22 | 삼성전자주식회사 | a liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
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