KR19990057840A - 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법 - Google Patents

내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 다양한 기능을 갖는 칩의 전체 시간을 줄이고, 또한 보다 정확한 검증을 가능하게 하는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법을 제공하기 위한 것으로, 이를 위하여 본 발명은 칩 설계 단계에서의 기능 검증 방법에 있어서, 타겟 칩을 포함하는 타겟 시스템, 및 기능 검증을 하고자 하는 설계 단계의 칩 모델이 포함된 시스템을 하드웨어 기술 언어로 모델링한 가상 시스템을 이용하여 응용 프로그램을 각각 수행하는 제1 단계; 상기 수행되는 응용 프로그램의 명령어 단위로 상기 타겟 칩의 내부 상태를 저장하여 궤적 파일을 생성하는 제2 단계; 상기 궤적 파일에 저장된 타겟 칩의 내부 상태와 상기 기능 검증을 하고자 하는 칩 모델의 내부 상태를 명령어 단위로 비교하는 제3 단계; 및 상기 비교 결과에 따라 상기 각 내부 상태가 동일한 경우에는 상기 프로그램을 계속 수행하고, 다른 경우에는 상기 내부 상태를 출력하고 곧바로 종료하는 제4 단계를 포함한다.

Description

내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법
본 발명은 설계 단계에서의 칩 모델(마이크로컨트롤러 또는 마이크로프로세서를 설계한 모델 등과 같은)에 대한 기능 검증, 및 실제 구현된 칩의 실장 테스트에 관련된 기술로서, 특히 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법에 관한 것이다.
복잡한 기능을 갖는 마이크로컨트롤러(이하 MCU라 함) 등과 같은 칩의 설계 및 기능 검증을 위해, 종래에는 설계된 MCU 모델(model)에 테스트 벡터(test vector)를 인가하여 시뮬레이션(simulation)하거나, 또는 도 1에 도시된 바와 같이 MCU 모델이 포함된 시스템을 하드웨어 기술 언어(Hardware Description Language, 이하 HDL이라 함)로 모델링한 가상 시스템을 시뮬레이션(simulation) 한 후 예측한 최종 결과와 시뮬레이션의 최종 결과를 비교하는 방식으로 칩의 기능 검증을 실시하였다.
그러나, 이러한 종래의 검증 방법은 모든 시뮬레이션이 완료된 후에야 비로소 비교가 가능하기 때문에 검증을 위해 많은 시간이 소요된다. 이러한 문제점을 극복하기 위해, 시뮬레이션 도중에 비교하는 과정을 추가하는 방법이 제시되고 있으나, 이는 정확한 비교 데이터를 확보하기 어려운 문제가 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 다양한 기능을 갖는 칩의 전체 시간을 줄이고, 또한 보다 정확한 검증을 가능하게 하는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 종래의 기능 검증 방법을 개념적으로 도시한 블록도.
도 2는 본 발명의 칩 설계 단계에서의 기능 검증 방법을 개념적으로 도시한 블록도.
도 3은 본 발명의 칩의 실장 테스트 단계에서의 기능 검증 방법을 개념적으로 도시한 블록도.
* 도면의 주요 부분에 대한 설명
200 : 타겟 시스템 220 : 가상 시스템
201 : 타겟 MCU 221 : MCU 모델
241 : 호스트 머신 240 : MDS
260 : 상태 비교 프로그램
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 칩 설계 단계에서의 기능 검증 방법에 있어서, 타겟 칩을 포함하는 타겟 시스템, 및 기능 검증을 하고자 하는 설계 단계의 칩 모델이 포함된 시스템을 하드웨어 기술 언어로 모델링한 가상 시스템을 이용하여 응용 프로그램을 각각 수행하는 제1 단계; 상기 수행되는 응용 프로그램의 명령어 단위로 상기 타겟 칩의 내부 상태를 저장하여 궤적 파일을 생성하는 제2 단계; 상기 궤적 파일에 저장된 타겟 칩의 내부 상태와 상기 기능 검증을 하고자 하는 칩 모델의 내부 상태를 명령어 단위로 비교하는 제3 단계; 및 상기 비교 결과에 따라 상기 각 내부 상태가 동일한 경우에는 상기 프로그램을 계속 수행하고, 다른 경우에는 상기 내부 상태를 출력하고 곧바로 종료하는 제4 단계를 포함하여 이루어지는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법을 포함하여 이루어진다.
또한, 본 발명은 실장 테스트에서의 칩 검증 방법에 있어서, 타겟 칩을 포함하는 제1 타겟 시스템 및 실장 테스트 하고자 하는 칩을 장착한 제2 타겟 시스템을 이용하여 각각 응용 프로그램을 수행하는 제1 단계; 상기 수행되는 응용 프로그램의 명령어 단위로 상기 타겟 칩의 내부 상태를 저장하여 궤적 파일을 생성하는 제2 단계; 상기 궤적 파일에 저장된 타겟 칩의 내부 상태와 상기 실장 테스트 하고자 하는 칩의 내부 상태를 명령어 단위로 비교하는 제3 단계; 및 상기 비교 결과에 따라 상기 각 내부 상태가 동일한 경우에는 상기 프로그램을 계속 수행하고, 다른 경우에는 상기 내부 상태를 출력하고 곧바로 종료하는 제4 단계를 포함하여 이루어지는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법을 포함하여 이루어진다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 살펴본다.
도 2는 칩 설계 단계에서의 내부 상태 궤적 비교에 의한 기능 검증 방법을 MCU 설계 단계에 적용하여 이를 개념적으로 도시한 것이다.
목표로 하는 타겟 MCU 칩(201)을 포함하는 타겟 시스템(200)을 이용하여 응용 프로그램을 수행하고, 그 수행 결과를 MDS(Micro-processor Development System, 240) 및 호스트 머신(Host machine, 241)의 상태 궤적 추적 프로그램(state tracer)을 통해 타겟 MCU(201)의 내부 상태를 명령어 단위로 저장하여 궤적 파일(trace file, 261)을 생성한다. 이때, 내부 상태를 저장하는 궤적 파일(261)의 크기를 줄이기 위하여 초기에는 전체 내부 상태(S0)를 저장하고, 그 이후에는 명령어 단위로 이전 명령어(n-1)가 수행되었을 때의 내부 상태와 현재 명령어(n)의 수행 완료 후 상태 차이(ΔSn)만을 저장하도록 한다.
또한, 기능 검증을 하고자 하는 MCU 모델(221)이 포함된 시스템을 HDL로 모델링한 가상 시스템(220)을 동일 응용 프로그램을 사용하여 시뮬레이션한다. 시뮬레이션 수행 시 상태 비교 프로그램(state checker, 260)을 이용하여, HDL로 설계한 MCU 모델(221), 즉 검증하고자 하는 MCU 모델의 내부 상태(ΔDSn)와 타겟 MCU의 궤적 파일(261) 내용을 명령어 단위로 비교하고, 비교 결과 같을 경우에는 시뮬레이션을 계속 진행하고(262), 다를 경우에는 내부 상태를 출력하고 시뮬레이션을 종료하도록 한다(263).
도 3은 칩의 실장 테스트 단계에서의 내부 상태 궤적 비교에 의한 기능 검증 방법을 MCU 칩에 적용하여 이를 개념적으로 도시한 것이다.
도 2에서와 마찬가지로 목표로 하는 MCU를 포함하는 타겟 시스템(200)을 이용하여 응용 프로그램을 수행하고, 그 수행 결과를 MDS(Micro-processor Development System, 240) 및 호스트 머신(Host machine, 241)의 상태 궤적 추적 프로그램(state tracer)을 통해 타겟 MCU(201)의 내부 상태를 명령어 단위로 저장하여 궤적 파일(trace file, 261)을 생성한다.
또한, 실장 테스트 시 실제로 구현된 MCU 칩(281)을 타겟 시스템(280)에 장착한 후 상태 비교 프로그램(state checker, 260)을 이용하여 동일 응용 프로그램의 각 명령어를 수행함과 동시에 명령어 수행에 대응하여, 구현된 MCU 칩(281)의 내부 상태(ΔISn)와 타겟 MCU 칩(201)의 궤적 파일(261) 내용을 비교하고, 같을 경우에는 테스트를 계속 진행하고(262), 다를 경우에는 내부 상태를 출력하고 테스트를 종료한다(263).
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기와 같이 이루어지는 본 발명은, 다양한 기능을 갖는 칩 모델의 검증 시뮬레이션 혹은 구현된 칩의 실장 테스트 시 각각의 명령어가 수행된 바로 직후에 실제 타겟 시스템의 수행 결과와 비교할 수 있어 칩의 전체 설계 기간 및 칩의 검증 시간을 단축할 수 있으며, 또한 오류가 발생할 경우 발생된 바로 그 시점에서, 정확한 기준 데이터와의 비교를 가능케하여 보다 정확한 검증이 이루어진다.

Claims (4)

  1. 칩 설계 단계에서의 기능 검증 방법에 있어서,
    타겟 칩을 포함하는 타겟 시스템, 및 기능 검증을 하고자 하는 설계 단계의 칩 모델이 포함된 시스템을 하드웨어 기술 언어로 모델링한 가상 시스템을 이용하여 응용 프로그램을 각각 수행하는 제1 단계;
    상기 수행되는 응용 프로그램의 명령어 단위로 상기 타겟 칩의 내부 상태를 저장하여 궤적 파일을 생성하는 제2 단계;
    상기 궤적 파일에 저장된 타겟 칩의 내부 상태와 상기 기능 검증을 하고자 하는 칩 모델의 내부 상태를 명령어 단위로 비교하는 제3 단계; 및
    상기 비교 결과에 따라 상기 각 내부 상태가 동일한 경우에는 상기 프로그램을 계속 수행하고, 다른 경우에는 상기 내부 상태를 출력하고 곧바로 종료하는 제4 단계
    를 포함하여 이루어지는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 궤적 파일의 크기를 줄이기 위하여 초기에는 상기 타겟 칩의 내부 상태전체를 저장하고, 그 이후에는 명령어 단위로 이전 명령어가 수행되었을 때의 내부 상태와 현재 명령어의 수행 완료 후의 내부 상태 차이만을 저장하는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법.
  3. 실장 테스트에서의 칩 검증 방법에 있어서,
    타겟 칩을 포함하는 제1 타겟 시스템 및 실장 테스트 하고자 하는 칩을 장착한 제2 타겟 시스템을 이용하여 각각 응용 프로그램을 수행하는 제1 단계;
    상기 수행되는 응용 프로그램의 명령어 단위로 상기 타겟 칩의 내부 상태를 저장하여 궤적 파일을 생성하는 제2 단계;
    상기 궤적 파일에 저장된 타겟 칩의 내부 상태와 상기 실장 테스트 하고자 하는 칩의 내부 상태를 명령어 단위로 비교하는 제3 단계; 및
    상기 비교 결과에 따라 상기 각 내부 상태가 동일한 경우에는 상기 프로그램을 계속 수행하고, 다른 경우에는 상기 내부 상태를 출력하고 곧바로 종료하는 제4 단계
    를 포함하여 이루어지는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 궤적 파일의 크기를 줄이기 위하여 초기에는 상기 타겟 칩의 내부 상태전체를 저장하고, 그 이후에는 명령어 단위로 이전 명령어가 수행되었을 때의 내부 상태와 현재 명령어의 수행 완료 후의 내부 상태 차이만을 저장하는 내부 상태 궤적 비교에 의한 칩 검증 방법.
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